JP2006046993A - Impact testing machine - Google Patents
Impact testing machine Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006046993A JP2006046993A JP2004225333A JP2004225333A JP2006046993A JP 2006046993 A JP2006046993 A JP 2006046993A JP 2004225333 A JP2004225333 A JP 2004225333A JP 2004225333 A JP2004225333 A JP 2004225333A JP 2006046993 A JP2006046993 A JP 2006046993A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impact
- stopper
- air cylinder
- restraint
- pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000009863 impact test Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims description 35
- 230000003116 impacting effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 42
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 11
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 6
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 3
- 239000003721 gunpowder Substances 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 235000015842 Hesperis Nutrition 0.000 description 1
- 235000012633 Iberis amara Nutrition 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
Description
本発明は、電子機器等の製品に対する衝撃試験機に関し、特にエアシリンダを用いた衝撃試験機に関する。 The present invention relates to an impact tester for products such as electronic devices, and more particularly to an impact tester using an air cylinder.
従来において、電子機器等の製品に衝撃を加えて、その製品が衝撃に耐えられるかどうかを試験するために衝撃試験機が用いられている。
例えば、非特許文献１には、振り子式の衝撃試験装置が開示されている。図１９に示されるように、この衝撃試験装置は振り子２２を備えている。振り子２２は、一端が回転中心Ｏに回転可能に固定された回転腕２３と、回転腕２３の他端に取り付けられた供試品固定台２４と、衝撃試験対象である電子機器等の供試品１を供試品固定台２４に固定する供試品ホルダ２５とを有している。供試品１を供試品ホルダ２５により供試品固定台２４に固定して、所望の高さに設定した振り子２２を重力により回転中心Ｏの周りを回転するように落下させ、これにより、供試品１を衝撃試験装置の下部に設けられた緩衝体２６に衝突させる。この時、供試品１に与えられる衝撃パルスは、正弦半波となる。
2. Description of the Related Art Conventionally, an impact tester is used to apply an impact to a product such as an electronic device and test whether the product can withstand the impact.
For example, Non-Patent Document 1 discloses a pendulum type impact test apparatus. As shown in FIG. 19, the impact test apparatus includes a pendulum 22. The pendulum 22 includes a rotating arm 23 having one end rotatably fixed to the rotation center O, a specimen fixing base 24 attached to the other end of the rotating arm 23, and a test of an electronic device or the like that is an object of an impact test. It has a specimen holder 25 for fixing the article 1 to the specimen fixing base 24. The specimen 1 is fixed to the specimen fixing base 24 by the specimen holder 25, and the pendulum 22 set at a desired height is dropped so as to rotate around the rotation center O by gravity. The specimen 1 is caused to collide with a shock absorber 26 provided at the lower part of the impact test apparatus. At this time, the shock pulse applied to the specimen 1 is a sine half wave.
また、他の装置として、例えば非特許文献１に開示された落下式衝撃試験装置がある。この落下式衝撃試験装置では、供試品１を取り付けた取付台を緩衝体上に自由落下させ供試品１に衝撃パルスを与える。この落下式衝撃試験装置により供試品１に正弦半波、のこぎり波を与えることができる。 As another device, for example, there is a drop impact test device disclosed in Non-Patent Document 1. In this drop-type impact test apparatus, the mounting base on which the specimen 1 is attached is freely dropped on the buffer body, and an impact pulse is applied to the specimen 1. This drop impact test apparatus can give a half-sine wave and a sawtooth wave to the specimen 1.
地球から宇宙空間へ打ち上げられるロケットや人口衛星に搭載される電子機器は、打ち上げ時に使用される火薬の爆発による衝撃に耐えられなければならない。また、打ち上げられた多段式のロケットを分離するための火薬の爆発にも耐えられなければならない。 Electronic devices mounted on rockets and artificial satellites that are launched from the earth into outer space must be able to withstand the impact of an explosion of explosives used at the time of launch. It must also be able to withstand the explosion of gunpowder to separate the launched multistage rocket.
上述の振り子式衝撃試験装置と同様の仕組みであるが、材料試験に用いられるシャルピー試験機を利用して宇宙空間で使用される電子機器のために火薬の爆発に対する衝撃試験を図２０の方法で行われている（非特許文献１も参照）。シャルピー試験機は、例えば特許文献１に開示されている。シャルピー試験機を利用した図２０の方法では、本来の用い方とは違って、衝撃台３２を吊るしておき、供試品１を衝撃台３２に固定し、シャルピー試験機の振り子であるハンマ３４を所定の高さから重力により回転中心Ｏの周りを回転するように落下させ、ハンマ３４を衝撃台３２に衝突させてその上に固定された供試品１に間接的に衝撃を与える。電子機器に直接打撃を与えたのでは、電子機器が破壊されてしまうからである。また、ロケットに搭載される電子機器は厳しい衝撃試験に耐えることができるものではなければならないため、材料のじんせい試験に使用されるシャルピー試験機が用いられている。 Although the mechanism is the same as that of the above-described pendulum type impact test apparatus, an impact test against an explosion of explosives is performed by the method of FIG. 20 for an electronic device used in outer space using a Charpy tester used for a material test. (See also Non-Patent Document 1). A Charpy tester is disclosed in Patent Document 1, for example. In the method of FIG. 20 using the Charpy tester, unlike the original method, the impact table 32 is suspended, the specimen 1 is fixed to the impact table 32, and the hammer 34, which is the pendulum of the Charpy tester. Is dropped from a predetermined height so as to rotate around the rotation center O by gravity, and the hammer 34 is caused to collide with the impact table 32 to indirectly apply the impact to the specimen 1 fixed thereon. This is because if the electronic device is directly hit, the electronic device is destroyed. In addition, since the electronic equipment mounted on the rocket must be able to withstand severe impact tests, Charpy testing machines used for material dust tests are used.
この方法により供試品１に与えられる衝撃は図２１に示される波形となる。図２１の波形において、衝撃試験に大きな影響を与える部分は最初の山の部分である。この最初の山の部分は、図２１に示したように正弦半波であり、図中の点線に関して対称となっている。図２２は、図２１の衝撃応答スペクトル（Ｓｈｏｃｋ Ｒｅｓｏｎｓｅ Ｓｐｅｃｔｒｕｍ）を示している。図２２に示されるように、シャルピー試験機を利用した衝撃試験によって得られる衝撃波応答スペクトルの傾きは、６ｄＢ／Ｏｃｔ程度である。 The shock applied to the specimen 1 by this method has the waveform shown in FIG. In the waveform of FIG. 21, the part that greatly affects the impact test is the first peak part. This first peak portion is a sine half wave as shown in FIG. 21, and is symmetric with respect to the dotted line in the figure. FIG. 22 shows the shock response spectrum of FIG. As shown in FIG. 22, the slope of the shock wave response spectrum obtained by the impact test using the Charpy tester is about 6 dB / Oct.
しかし、火薬の爆発によって電子機器に与えられる衝撃は、シャルピー試験機を用いて与えられる衝撃とは異なり、火薬の爆発によって電子機器が受ける衝撃は正弦半波ではなく、より周波数の小さい成分が大きい。即ち、低周波数領域において、図２２に示される衝撃波応答スペクトルよりも大きい傾きを持つ衝撃波応答スペクトルが、ロケットや人口衛星等に搭載された電子機器の衝撃試験に適している。従って、低周波数領域において、より大きな傾きを持つ衝撃波応答スペクトルが得られる衝撃試験機が望まれる。 However, the impact given to the electronic equipment by the explosion of gunpowder is different from the shock given by using the Charpy tester, and the impact received by the electronic equipment by the explosion of gunpowder is not a sine half wave, but a component with a smaller frequency is large. . That is, a shock wave response spectrum having a larger slope than the shock wave response spectrum shown in FIG. 22 in the low frequency region is suitable for an impact test of an electronic device mounted on a rocket, an artificial satellite, or the like. Therefore, an impact tester capable of obtaining a shock wave response spectrum having a larger inclination in the low frequency region is desired.
また、図２０の方法による衝撃試験機では、衝撃加速度は１５０Ｇから１５００Ｇと印加可能な衝撃力の範囲が小さく、衝撃印加方法の応用性が無い。さらに、操作を振り子の側近で行うために、操作者が危険にさらされる。 Further, in the impact tester according to the method of FIG. 20, the impact acceleration range from 150 G to 1500 G is small, and there is no applicability of the impact application method. Furthermore, since the operation is performed near the pendulum, the operator is at risk.
そこで、本発明の目的は、楽に正弦半波以外の衝撃を印加することができ、低周波数領域においてより大きい傾き持つ衝撃波応答スペクトルが得られ、印加可能な衝撃力の範囲が大きく、衝撃印加方法に応用性があり多種多様な衝撃を与えることができる衝撃試験機を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to easily apply an impact other than a sine half wave, to obtain a shock wave response spectrum having a larger inclination in a low frequency region, to have a large range of impact force that can be applied, and to an impact application method. It is to provide an impact testing machine that has applicability and can give a wide variety of impacts.
本発明によると、供試品が固定される衝撃台と、該衝撃台の一方の側に設けられ、衝撃台に打撃を与えるエアシリンダ式打撃装置と、前記衝撃台の他方の側に設けられ、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台が衝突するストッパと、を備えることを特徴とする衝撃試験機が提供される。 According to the present invention, an impact base on which the specimen is fixed, an air cylinder type striking device which is provided on one side of the impact base and strikes the impact base, and provided on the other side of the impact base. There is provided an impact tester comprising: a stopper that collides with the impact table when the impact table is hit.
この構成によると、エアシリンダ式打撃装置により打撃を受けた衝撃台がストッパに衝突することで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域において傾きが６ｄＢ／Ｏｃｔよりも大きい衝撃波形のスペクトルを得ることが可能となる。 According to this configuration, the impact base hit by the air cylinder impact device collides with the stopper, so that an impact other than a half sine wave can be given to the test sample, and the inclination is 6 dB / Oct in the low frequency region. It is possible to obtain a spectrum having a larger impact waveform.
本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃試験機は前記衝撃台を吊るす手段をさらに備える。 According to a preferred embodiment of the present invention, the impact tester further comprises means for suspending the impact table.
本発明の好ましい実施形態によると、前記ストッパは取り外し可能である。この構成によると、ストッパの有無により簡単に衝撃波形を変えることができる。 According to a preferred embodiment of the present invention, the stopper is removable. According to this configuration, the impact waveform can be easily changed depending on the presence or absence of the stopper.
本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突することにより、拘束物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼす。 According to a preferred embodiment of the present invention, a restraint is attached to the impact base or the stopper, and when the impact base is hit, the impact base collides with the stopper via the restraint. The restraint affects the shock waveform applied to the specimen.
本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与えることにより、当て物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼす。 According to a preferred embodiment of the present invention, a pad is attached to the impact table or the air cylinder type striking device, and the air cylinder type striking device hits the shock table via the pad, so that the pad is provided. Affects the impact waveform on the sample.
本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、前記拘束物と当て物は、供試品に所望の衝撃を与えることができるように、その厚さ及び種類を変更することができる。 According to a preferred embodiment of the present invention, a pad is attached to the impact table or the air cylinder type striking device, and the air cylinder type striking device strikes the shock table through the pad, and the shock table or the stopper A restraint is attached to the impact table, and when the impact base is hit, the impact base collides with the stopper via the restraint, and the restraint and the pad apply a desired impact to the specimen. The thickness and type can be changed so that it can.
この構成により、拘束物と当て物の厚さ及び種類を変更することで、所望の衝撃波形を得ることができる。 With this configuration, a desired impact waveform can be obtained by changing the thickness and type of the restraint and the pad.
前記エアシリンダ式打撃装置は、エア供給源からエアシリンダ式打撃装置への圧縮空気の供給をその開閉により制御する電磁弁と、操作者が操作することにより電磁弁に動作信号を送り電磁弁の開閉を制御する操作部と、前記エア供給源から前記電磁弁を介して圧縮空気が送られてくることにより衝撃台に打撃を与える打撃部と、を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の衝撃試験機。 The air cylinder-type impact device includes an electromagnetic valve that controls the supply of compressed air from an air supply source to the air cylinder-type impact device by opening and closing thereof, and an operation signal sent to the electromagnetic valve by an operator to send an operation signal to the solenoid valve. 7. An operation unit that controls opening and closing, and a striking unit that strikes a shock table when compressed air is sent from the air supply source via the solenoid valve. The impact tester according to any one of the above.
この構成により、エアシリンダ式打撃装置から離れた位置に配置される操作部を操作するだけで衝撃試験を行えるので、操作者が危険にさらされない。 With this configuration, the impact test can be performed only by operating the operation unit arranged at a position distant from the air cylinder-type impact device, so that the operator is not exposed to danger.
また、本発明によると、衝撃台を吊るすステップと、該衝撃台に供試品を固定するステップと、エアシリンダ式打撃装置を衝撃台の一方の側に配置するステップと、ストッパを衝撃台の他方の側に配置するステップと、前記エアシリンダ式打撃装置により、衝撃台に打撃を与えることで衝撃台を前記ストッパに衝突させて供試品に衝撃を与えるステップと、を有することを特徴とする衝撃試験方法が提供される。 According to the present invention, the step of suspending the impact table, the step of fixing the specimen to the impact table, the step of disposing the air cylinder hitting device on one side of the impact table, and the stopper of the impact table A step of disposing on the other side, and a step of impacting the test piece by causing the impact base to collide with the stopper by hitting the impact base with the air cylinder impact device. An impact test method is provided.
この衝撃試験方法によると、エアシリンダ式打撃装置により打撃を受けた衝撃台がストッパに衝突することで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域において傾きが６ｄＢよりも大きい衝撃波形のスペクトルを得ることが可能になる。 According to this impact test method, the impact base hit by the air cylinder impact device collides with the stopper, so that an impact other than a sine half-wave can be given to the specimen, and the inclination is 6 dB in the low frequency region. It is possible to obtain a spectrum having a larger shock waveform than the above.
本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃試験方法は、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置に当て物を取り付けるステップと、前記衝撃台またはストッパに拘束物を取り付けるステップと、をさらに有し、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、前記拘束物と当て物の厚さ及び種類が、供試品に所望の衝撃を与えることができるように決定される。 According to a preferred embodiment of the present invention, the impact test method further includes a step of attaching a pad to the impact base or the air cylinder type hitting device, and a step of attaching a restraint to the impact base or the stopper. The cylinder-type striking device strikes the impact table through the pad, and when the impact table is hit, the shock table collides with the stopper through the restraint, and the thickness of the restraint and the pad The type is determined so that a desired impact can be given to the specimen.
これにより、拘束物と当て物の厚さ及び種類を変更することで、所望の衝撃波形を得ることができる。 Thereby, a desired impact waveform can be obtained by changing the thickness and type of the restraint and the pad.
本発明によると、当て物の種類、拘束物の種類及びストッパ有無により様々な衝撃を供試品に与えることができる。特に、ストッパを用いることで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域のスペクトルの傾きを大きくすることができる。従って、宇宙空間で使用される電子機器が火薬の爆発による衝撃により適した衝撃応答スペクトルを得ることができる。また、エアシリンダ式打撃装置の空気圧を調整することで、衝撃力を１００Ｇから３０００Ｇにすることができる。 According to the present invention, various impacts can be given to the specimen depending on the type of the pad, the type of restraint, and the presence or absence of the stopper. In particular, by using a stopper, an impact other than a sine half wave can be applied to the test sample, and the slope of the spectrum in the low frequency region can be increased. Therefore, it is possible to obtain an impact response spectrum that is more suitable for an impact caused by an explosion of explosives in an electronic device used in outer space. Further, the impact force can be changed from 100 G to 3000 G by adjusting the air pressure of the air cylinder impact device.
以下本発明の好ましい実施形態を添付の図面を参照して説明する。
図１は、本発明の実施形態による衝撃試験機１０を示している。図１の衝撃試験機１０は、供試品１が固定される衝撃台２と、衝撃台２の一方の側に設けられ衝撃台２に衝撃を与えるエアシリンダ式打撃装置４と、衝撃台２の他方の側に設けられるストッパ６とを備える。図１に示されるように衝撃台２にはロープ７が接続されており、このロープ７がフック８に掛けられて衝撃台２が吊るされる。なお、衝撃台２を吊るすためにロープ７とフック８以外の他の適切な手段を用いてもよい。衝撃台２には、エアシリンダ式打撃装置４からの衝撃を受ける当て物１１が取り付けられる。この当て物１１は、例えばゴムや銅や鉛であり、後述するようにこの当て物１１を変えることで、衝撃波形を変化させることができる。上述では、当て物１１を衝撃台２に取り付ける場合を説明したが、当て物１１はエアシリンダ式打撃装置４に取り付けられてもよい。この場合には、エアシリンダ式打撃装置４は、当て物１１を介して衝撃台２に打撃を与える。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 shows an impact testing machine 10 according to an embodiment of the present invention. 1 includes an impact table 2 on which a specimen 1 is fixed, an air cylinder-type impact device 4 provided on one side of the impact table 2 for impacting the impact table 2, and an impact table 2 And a stopper 6 provided on the other side. As shown in FIG. 1, a rope 7 is connected to the impact base 2, and the rope 7 is hung on a hook 8 and the impact base 2 is suspended. Note that other appropriate means other than the rope 7 and the hook 8 may be used to suspend the impact table 2. A pad 11 that receives an impact from the air cylinder impact device 4 is attached to the impact table 2. The pad 11 is rubber, copper, or lead, for example, and the shock waveform can be changed by changing the pad 11 as will be described later. Although the case where the pad 11 is attached to the impact table 2 has been described above, the pad 11 may be attached to the air cylinder hitting device 4. In this case, the air cylinder striking device 4 strikes the impact table 2 via the pad 11.
図１に示されるように、ストッパ６には、エアシリンダ式打撃装置４により衝撃台２に衝撃が与えられた時に、衝撃台２が衝突する被衝突部である拘束物１８が設けられている。衝撃台２が、ストッパ６の拘束物１８に衝突することで、衝撃台２の図中左側方向の運動が拘束、制限される。この拘束物１８は、例えばゴムであってよいが、これに限定されない。後述するように、拘束物１８の厚さを変化させることで衝撃応答スペクトルを変化させることができる。上述では、拘束物１８をストッパ６に取り付ける場合を説明したが、拘束物１８は衝撃台２に取り付けられてもよい。この場合には、衝撃台２に打撃が与えられた時に、衝撃台２は拘束物１８を介してストッパ６に衝突する。 As shown in FIG. 1, the stopper 6 is provided with a restraint 18 that is a collided portion with which the impact base 2 collides when an impact is applied to the impact base 2 by the air cylinder impact device 4. . When the impact base 2 collides with the restraint 18 of the stopper 6, the motion of the impact base 2 in the left direction in the figure is restrained and restricted. The restraint 18 may be rubber, for example, but is not limited thereto. As will be described later, the impact response spectrum can be changed by changing the thickness of the restraint 18. Although the case where the restraint 18 is attached to the stopper 6 has been described above, the restraint 18 may be attached to the impact table 2. In this case, when the impact table 2 is hit, the impact table 2 collides with the stopper 6 via the restraint 18.
ストッパ６は、衝撃台２が衝突した時に、動かないように固定しておくことが好ましいが、衝突時に多少は動くようにしておいてもよい。さらに、ストッパ６は取り外し可能である。後述するようにストッパ６がある場合には、供試品１に与える衝撃波形は正弦半波以外の波形となり、ストッパ６が無い場合には、供試品１に与える衝撃波形は正弦半波となる。 The stopper 6 is preferably fixed so that it does not move when the impact table 2 collides, but it may be moved somewhat during the collision. Furthermore, the stopper 6 is removable. As will be described later, when the stopper 6 is present, the shock waveform applied to the sample 1 is a waveform other than a sine half wave, and when the stopper 6 is not provided, the shock waveform applied to the sample 1 is a sine half wave. Become.
エアシリンダ式打撃装置４は、図１に示されるように安定させるためにエアシリンダ式打撃装置取付壁に固定されている。
エアシリンダ式打撃装置４には、アキュームレータ（補助タンク）１２と電磁弁１３を介してエア供給源１４から圧縮空気が供給される。アキュームレータ１２は、エア供給源１４から送られてきた空気を圧縮し、電磁弁１３は、開閉動作によりアキュームレータ１２から送られてくる圧縮空気のエアシリンダ式打撃装置４への供給を制御する。また、電磁弁１３の開閉を制御する操作部１５が設けられる。操作者が操作部１５を操作することにより、操作部１５から電磁弁１３に動作信号が送られて電磁弁１３の開閉が制御される。
The air cylinder hitting device 4 is fixed to the air cylinder hitting device mounting wall for stabilization as shown in FIG.
The air cylinder impact device 4 is supplied with compressed air from an air supply source 14 via an accumulator (auxiliary tank) 12 and an electromagnetic valve 13. The accumulator 12 compresses the air sent from the air supply source 14, and the solenoid valve 13 controls the supply of the compressed air sent from the accumulator 12 to the air cylinder striking device 4 by the opening / closing operation. Further, an operation unit 15 that controls opening and closing of the electromagnetic valve 13 is provided. When the operator operates the operation unit 15, an operation signal is sent from the operation unit 15 to the electromagnetic valve 13 to control the opening and closing of the electromagnetic valve 13.
電磁弁１３を開くことでエアシリンダ式打撃装置４に圧縮空気が供給されて、エアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６が図中の矢印方向に移動して衝撃台２の当て物１１に衝突して供試品１に衝撃を与える。
本実施形態で用いられるエアシリンダ式打撃装置４は、一例であるので、本発明の衝撃試験機１０に適切などのような公知のエアシリンダ式打撃装置４を用いてもよい。
Compressed air is supplied to the air cylinder-type striking device 4 by opening the solenoid valve 13, and the striking portion 16 of the air cylinder-type striking device 4 moves in the direction of the arrow in the figure and collides with the pad 11 of the impact table 2. Shock the specimen 1.
Since the air cylinder type striking device 4 used in the present embodiment is an example, a known air cylinder type striking device 4 suitable for the impact tester 10 of the present invention may be used.
次に、上述した本発明の実施形態による衝撃試験機１０の動作について説明する。
まず、試験対象である電子機器などの供試品１を衝撃台２の上に適切な固定具により固定し、エア供給源１４から供給される空気をアキュームレータ１２により所望の圧力に圧縮する。次に、操作者が操作部１５を操作することにより、動作信号が電磁弁１３に送られて電磁弁１３が開けられる。電磁弁１３が開くと、圧縮空気がアキュームレータ１２からエアシリンダ式打撃装置４へ供給されエアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６が図１の矢印方向に高速で移動する。これにより、エアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６は、衝撃台２に設けられた当て物１１を介して図１の右側から衝撃台２に衝撃を与える。従って、ストッパ６を用いた場合には、衝撃台２は、ストッパ６の拘束物１８に衝突するので、図２０の衝撃印加方法と異なり衝撃台２は飛ばされない。なお、ストッパ６は固定されていてよく、衝撃台２が衝突した時に動かないようになっている。
Next, the operation of the impact tester 10 according to the above-described embodiment of the present invention will be described.
First, a test sample 1 such as an electronic device to be tested is fixed on an impact table 2 with an appropriate fixture, and air supplied from an air supply source 14 is compressed to a desired pressure by an accumulator 12. Next, when the operator operates the operation unit 15, an operation signal is sent to the electromagnetic valve 13 to open the electromagnetic valve 13. When the electromagnetic valve 13 is opened, compressed air is supplied from the accumulator 12 to the air cylinder type striking device 4, and the striking portion 16 of the air cylinder type striking device 4 moves at a high speed in the direction of the arrow in FIG. Thereby, the striking part 16 of the air cylinder type striking device 4 gives an impact to the impact base 2 from the right side of FIG. 1 through the pad 11 provided on the impact base 2. Therefore, when the stopper 6 is used, the impact table 2 collides with the restraint 18 of the stopper 6, and therefore, unlike the impact application method of FIG. The stopper 6 may be fixed so that it does not move when the impact table 2 collides.
即ち、衝撃台２はエアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６により図１の右側から衝撃を受け、その直後に図１の衝撃台２の左側に設けられたストッパ６に衝突することで、図１の左側からも衝撃を受ける。このため、衝撃台２の上に固定された供試品１が受ける衝撃は、正弦半波ではなく図２のような波形を持つ衝撃を受けることになる。即ち、図２の衝撃波形において、最初の山（衝撃波）の後に、符号が逆の山（衝撃波）が発生し正弦波と異なる波形が得られる。 That is, the impact table 2 receives an impact from the right side of FIG. 1 by the striking portion 16 of the air cylinder type striking device 4, and immediately collides with the stopper 6 provided on the left side of the impact table 2 of FIG. The impact is also received from the left side of 1. For this reason, the impact received by the specimen 1 fixed on the impact table 2 is not an sine half wave but an impact having a waveform as shown in FIG. That is, in the shock waveform of FIG. 2, a mountain (shock wave) having a reverse sign is generated after the first mountain (shock wave), and a waveform different from the sine wave is obtained.
図２の衝撃波形の衝撃応答スペクトルは図３の実線で示される。図３の実線で示されるように、本発明の実施形態による衝撃試験機１０においてストッパ６を使用して衝撃試験を行うと、低周波領域で８ｄＢと大きい傾きを持つスペクトルを得ることが可能になる。なお、図３の破線は、対比のために図のシャルピー衝撃試験機１０を用いた場合のスペクトルを示している。 The impact response spectrum of the impact waveform in FIG. 2 is shown by the solid line in FIG. As shown by the solid line in FIG. 3, when the impact test is performed using the stopper 6 in the impact tester 10 according to the embodiment of the present invention, it is possible to obtain a spectrum having a large slope of 8 dB in the low frequency region. Become. In addition, the broken line of FIG. 3 has shown the spectrum at the time of using the Charpy impact tester 10 of a figure for the comparison.
図４から図８は、本発明の実施形態による衝撃試験機１０において、当て物１１、拘束物１８及び打撃力を変化させて衝撃試験の実験を行って得られ波形のスペクトルを示している。図４から図８は、いずれも拘束物１８としてゴムを使用して得られた実験結果であるが、図４から図８は、それぞれ拘束物１８であるゴムの厚さを１ｍｍ、３ｍｍ、６ｍｍ、９ｍｍ、１２ｍｍとして実験を行った結果である。また、各図においてＧ１，Ｇ２，Ｇ３は、それぞれ衝撃台２の異なる位置において、シリンダ式打撃装置から受けた衝撃のスペクトルを示している。また、各図において、大きい方の長方形内の傾きの値は得られた傾きの大まかな平均値である。 FIGS. 4 to 8 show the spectrum of the waveform obtained by conducting the impact test experiment by changing the pad 11, the restraint 18 and the impact force in the impact test machine 10 according to the embodiment of the present invention. 4 to 8 are experimental results obtained by using rubber as the restraint 18, but FIGS. 4 to 8 show the thickness of the rubber that is the restraint 18 as 1 mm, 3 mm, and 6 mm, respectively. , 9 mm, and 12 mm. Moreover, in each figure, G1, G2, G3 has shown the spectrum of the impact received from the cylinder-type striking device in the different position of the impact stand 2, respectively. In each figure, the slope value in the larger rectangle is a rough average value of the obtained slopes.
図４から図８の各図において、（Ａ）、（Ｂ）は、衝撃台２に与える打撃力を１ｋｇ／ｃｍ２とした結果であり、（Ｃ）、（Ｄ）は、衝撃台２に与える打撃力を２．５ｋｇ／ｃｍ２とした結果であり、（Ｅ），（Ｆ）は衝撃台２に与える打撃力を５ｋｇ／ｃｍ２とした結果である。また、図４から図８の各図において、（Ａ）、（Ｃ）、（Ｅ）は、当て物１１として厚さ３ｍｍのゴムを用いた場合の結果であり、（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）は、当て物１１として厚さ３ｍｍの銅板を用いた場合の実験結果である。 4A to 8B, (A) and (B) are the results of setting the impact force applied to the impact table 2 to 1 kg / cm 2, and (C) and (D) are the results for the impact table 2. The impact force applied is 2.5 kg / cm 2, and (E) and (F) are the results of impact force applied to the impact table 2 being 5 kg / cm 2 . Moreover, in each figure of FIGS. 4-8, (A), (C), (E) is a result at the time of using rubber | gum of thickness 3mm as the pad 11, and (B), (D), (F) is an experimental result when a copper plate having a thickness of 3 mm is used as the pad 11.
図４から図８の結果により、打撃力を変化させることで図９のスペクトルの点Ａの位置を上下に変化させることができ、特に拘束物１８ゴムの厚さが１ｍｍと３ｍｍの場合には、当て物１１をゴムから銅板に変えることでスペクトルの傾きを大きくすることができる。このように、打撃力と当て物１１を変えることで、供試品１に与える衝撃を変化させることができ、ロケットに搭載される電子機器の衝撃試験に必要とされる低周波数領域において傾きの大きいスペクトルを持つ衝撃を得ることができる。特に図４には、低周波数領域において傾きが１０ｄＢ／Ｏｃｔのスペクトルが得られた。 4 to 8, the position of the point A in the spectrum of FIG. 9 can be changed up and down by changing the striking force, especially when the thickness of the restraint 18 rubber is 1 mm and 3 mm. The inclination of the spectrum can be increased by changing the pad 11 from rubber to a copper plate. Thus, by changing the impact force and the pad 11, the impact applied to the specimen 1 can be changed, and the inclination is large in the low frequency region required for the impact test of the electronic device mounted on the rocket. A shock with a spectrum can be obtained. In particular, in FIG. 4, a spectrum with a slope of 10 dB / Oct was obtained in the low frequency region.
また、本発明の実施形態による衝撃試験機１０では、ストッパ６を取り外すことができ、図１の衝撃試験機１０においてストッパ６のみを取り除いた状態で、供試品１に衝撃試験を行うことができる。ストッパ６を用いないで、図１の衝撃試験機１０により衝撃台２に与えた衝撃は正弦半波になる。 Moreover, in the impact tester 10 according to the embodiment of the present invention, the stopper 6 can be removed, and the impact test can be performed on the specimen 1 with only the stopper 6 removed in the impact tester 10 of FIG. it can. Without using the stopper 6, the impact applied to the impact table 2 by the impact tester 10 of FIG.
図１０から図１５は、ストッパ６を取り外した図１の衝撃試験機１０が供試品１に与えた衝撃のスペクトルを示している。各図においてＧ１，Ｇ２，Ｇ３は、それぞれ衝撃台２の異なる位置において、シリンダ式打撃装置から受けた衝撃のスペクトルを示している。各図において、低周波数領域におけるスペクトルの傾きは、６ｄＢ／Ｏｃｔ程度である。図１０から図１５は、それぞれ当て物１１として厚さ１ｍｍの銅板、厚さ３ｍｍの銅板、厚さ１ｍｍのゴム、厚さ３ｍｍのゴム、厚さ１ｍｍの鉛、厚さ３ｍｍの鉛を用いた場合の結果を示している。図１０から図１５の各図において、（Ａ），（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ），（Ｅ）はそれぞれ、シリンダ式打撃装置が衝撃台２に与える打撃力を１ｋｇ／ｃｍ２、１．５ｋｇ／ｃｍ２、２．５ｋｇ／ｃｍ２、５ｋｇ／ｃｍ２、７．５ｋｇ／ｃｍ２とした場合の結果を示している。 FIGS. 10 to 15 show the spectrum of the impact applied to the specimen 1 by the impact tester 10 of FIG. 1 with the stopper 6 removed. In each figure, G1, G2, and G3 indicate the spectra of impacts received from the cylinder-type impact device at different positions of the impact table 2, respectively. In each figure, the slope of the spectrum in the low frequency region is about 6 dB / Oct. FIGS. 10 to 15 show a case where a 1 mm thick copper plate, a 3 mm thick copper plate, a 1 mm thick rubber, a 3 mm thick rubber, a 1 mm thick lead, and a 3 mm thick lead are used as the padding 11, respectively. Shows the results. 10 to 15, (A), (B), (C), (D), and (E) respectively indicate the impact force that the cylinder-type impact device applies to the impact table 2 at 1 kg / cm 2 , The results for 1.5 kg / cm 2 , 2.5 kg / cm 2 , 5 kg / cm 2 and 7.5 kg / cm 2 are shown.
図１０から図１５のすべてにおいて、衝撃レベルは圧力と当て物の組み合わせに対して相関があり安定していることが分かる。
当て物１１として厚さ１ｍｍの銅板を用いた場合は、図１０に示されるように、包絡周波数は１０００Ｈｚ近辺になる。包絡周波数の位置は、図９の点Ａで示される。なお、同じ厚さのアルミ板に変えることで衝撃レベルを維持して包絡周波数を上げることができる。
In all of FIGS. 10 to 15, it can be seen that the impact level is correlated and stable with respect to the combination of pressure and padding.
When a 1 mm thick copper plate is used as the pad 11, the envelope frequency is around 1000 Hz as shown in FIG. 10. The position of the envelope frequency is indicated by point A in FIG. By changing to an aluminum plate of the same thickness, the envelope level can be increased while maintaining the impact level.
当て物１１として厚さ３ｍｍの銅板を用いた場合は、図１１に示されるように、包絡周波数は１０００Ｈｚ近辺になる。当て物１１が厚さ３ｍｍの銅板の場合には、厚さ１ｍｍの銅板に比べて高周波成分が入り過ぎないので波形が綺麗になる。なお、同じ厚さのアルミ板に変えることで衝撃レベルを維持して包絡周波数を上げることができる。 When a 3 mm thick copper plate is used as the pad 11, the envelope frequency is around 1000 Hz as shown in FIG. 11. When the pad 11 is a copper plate having a thickness of 3 mm, a high-frequency component does not enter excessively as compared with a copper plate having a thickness of 1 mm, so that the waveform is beautiful. By changing to an aluminum plate of the same thickness, the envelope level can be increased while maintaining the impact level.
当て物１１として厚さ１ｍｍのゴム及び厚さ３ｍｍのゴムを用いた場合は、図１２及び図１３に示されるように、包絡周波数はそれぞれ８００Ｈｚ及び４００Ｈｚ近辺になる。当て物１１を厚さ１ｍｍの鉛板及び厚さ３ｍｍの鉛板を用いた場合には、図１４及び図１５に示されるように、包絡周波数はそれぞれ９００Ｈｚ及び６００Ｈｚ近辺となり、ゴム板に比べて若干衝撃レベルが高くなる傾向がある。 When rubber having a thickness of 1 mm and rubber having a thickness of 3 mm is used as the pad 11, the envelope frequencies are around 800 Hz and 400 Hz, respectively, as shown in FIGS. 12 and 13. When a 1 mm thick lead plate and a 3 mm thick lead plate are used as the pad 11, the envelope frequencies are around 900 Hz and 600 Hz, respectively, as shown in FIG. 14 and FIG. The impact level tends to be high.
図１６、図１７及び図１８は、図１の衝撃試験機１０においてストッパ６を用いて供試品１を衝撃台２に固定して衝撃試験を行って得られた具体的なデータを示している。図１６、図１７及び図１８は、それぞれ一つの衝撃試験における衝撃台の異なる位置Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３における衝撃波形を示している。図１６から図１８の各々において、（Ａ）は、横軸を周波数（Ｈｚ）とし縦軸を衝撃（Ｇ）とした衝撃のスペクトルを示し、（Ｂ）は、横軸を時間（ｓｅｃ）とし縦軸を衝撃（Ｇ）とした（Ａ）に対応する衝撃波を示している。即ち、各図において、（Ａ）は（Ｂ）の波形のスペクトルを示している。図１６（Ａ）、１７（Ａ）、１８（Ａ）のそれぞれのスペクトルの低周波数領域における傾きは９ｄＢ／Ｏｃｔである。なお、図１６から図１８において、衝撃波形を測定するセンサの向きの関係上、図２と衝撃波形の正負が逆になっている。 16, FIG. 17 and FIG. 18 show specific data obtained by performing the impact test by fixing the specimen 1 to the impact table 2 using the stopper 6 in the impact tester 10 of FIG. Yes. FIGS. 16, 17 and 18 show impact waveforms at different positions G1, G2 and G3 of the impact table in one impact test, respectively. In each of FIGS. 16 to 18, (A) shows an impact spectrum in which the horizontal axis is frequency (Hz) and the vertical axis is impact (G), and (B) is the time (sec) on the horizontal axis. The shock wave corresponding to (A) with the vertical axis representing impact (G) is shown. That is, in each figure, (A) shows the spectrum of the waveform of (B). The slopes of the spectra in FIGS. 16A, 17A, and 18A in the low frequency region are 9 dB / Oct. 16 to 18, the sign of the impact waveform is opposite to that of FIG. 2 due to the orientation of the sensor for measuring the impact waveform.
このように、本発明の実施形態の衝撃試験機１０によると、当て物１１の種類、拘束物１８の種類及びストッパ６の有無により様々な衝撃を供試品１に与えることができる。特に、ストッパ６を用いることで、正弦半波以外の衝撃を供試品１に与えることができ、低周波数領域のスペクトルの傾きを大きくすることができる。また、エアシリンダ式打撃装置４の空気圧を調整することで、衝撃力を１００Ｇから３０００Ｇにすることができる。 Thus, according to the impact tester 10 of the embodiment of the present invention, various impacts can be applied to the specimen 1 depending on the type of the pad 11, the type of the restraint 18, and the presence or absence of the stopper 6. In particular, by using the stopper 6, an impact other than a sine half wave can be applied to the specimen 1, and the slope of the spectrum in the low frequency region can be increased. Further, the impact force can be changed from 100 G to 3000 G by adjusting the air pressure of the air cylinder impact device 4.
なお、本発明は上述した実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得ることは勿論である。 In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, Of course, a various change can be added in the range which does not deviate from the summary of this invention.
１ 供試品
２ 衝撃台
４ エアシリンダ式打撃装置
６ ストッパ
７ ロープ
８ フック
１０ 衝撃試験機
１１ 当て物
１２ アキュームレータ（補助タンク）
１３ 電磁弁
１４ エア供給源
１５ 操作部
１６ 打撃部
１８ 拘束物
２２ 振り子
２３ 回転腕
２４ 供試品固定台
２５ 供試品ホルダ
２６ 緩衝体
３２ 衝撃台
３４ ハンマ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Specimen 2 Impact table 4 Air cylinder type striking device 6 Stopper 7 Rope 8 Hook 10 Impact tester 11 Padding object 12 Accumulator (auxiliary tank)
13 Solenoid valve 14 Air supply source 15 Operation unit 16 Blowing unit 18 Restraint 22 Pendulum 23 Rotating arm 24 Specimen fixing base 25 Specimen holder 26 Buffer 32 Impact base 34 Hammer
Claims (9)
該衝撃台の一方の側に設けられ、衝撃台に打撃を与えるエアシリンダ式打撃装置と、
前記衝撃台の他方の側に設けられ、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台が衝突するストッパと、を備えることを特徴とする衝撃試験機。 An impact table on which the specimen is fixed;
An air cylinder-type striking device that is provided on one side of the impact base and that strikes the impact base;
An impact tester, comprising: a stopper provided on the other side of the impact table, and a stopper that the impact table collides with when the impact table is hit.
前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、
前記拘束物と当て物は、供試品に所望の衝撃を与えることができるように、その厚さ及び種類を変更することができることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の衝撃試験機。 A pad is attached to the impact table or the air cylinder type striking device, and the air cylinder type striking device strikes the shock table through the pad,
A restraint is attached to the impact table or the stopper, and when the impact table is hit, the impact table collides with the stopper via the restraint,
4. The impact test according to claim 1, wherein the thickness and type of the restraint and the pad are changeable so that a desired impact can be given to the specimen. Machine.
該衝撃台に供試品を固定するステップと、
エアシリンダ式打撃装置を衝撃台の一方の側に配置するステップと、
ストッパを衝撃台の他方の側に配置するステップと、
前記エアシリンダ式打撃装置により、衝撃台に打撃を与えることで衝撃台を前記ストッパに衝突させて供試品に衝撃を与えるステップと、を有することを特徴とする衝撃試験方法。 A step of hanging the impact table;
Fixing the sample to the impact table;
Placing the air cylinder striking device on one side of the impact table;
Placing a stopper on the other side of the impact table;
And a step of impacting the specimen by causing the impact base to collide with the stopper by hitting the impact base with the air cylinder impact device.
前記衝撃台またはストッパに拘束物を取り付けるステップと、をさらに有し、
エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、
前記拘束物と当て物の厚さ及び種類が、供試品に所望の衝撃を与えることができるように決定されること特徴とする請求項８に記載の衝撃試験方法。
Attaching a pad to the impact table or air cylinder type striking device;
Attaching a restraint to the impact table or stopper; and
The air cylinder type hitting device hits the impact table through the pad, and when the impact table is hit, the impact table collides with the stopper through the restraint,
The impact test method according to claim 8, wherein the thickness and type of the restraint and the pad are determined so that a desired impact can be given to the specimen.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004225333A JP4437944B2 (en) | 2004-08-02 | 2004-08-02 | Impact testing machine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004225333A JP4437944B2 (en) | 2004-08-02 | 2004-08-02 | Impact testing machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006046993A true JP2006046993A (en) | 2006-02-16 |
| JP4437944B2 JP4437944B2 (en) | 2010-03-24 |
Family
ID=36025722
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004225333A Expired - Lifetime JP4437944B2 (en) | 2004-08-02 | 2004-08-02 | Impact testing machine |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4437944B2 (en) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013234942A (en) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Impact testing machine and impact test method |
| CN103954513A (en) * | 2014-05-13 | 2014-07-30 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | High-drop precision drop hammer impact test device of explosive and other materials |
| JP2016061702A (en) * | 2014-09-19 | 2016-04-25 | 日本電気株式会社 | Vibration analysis device and vibration analysis method |
| CN105784585A (en) * | 2016-05-05 | 2016-07-20 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | Variable-load regulating and controlling device for explosive drop impact test |
| JP2016173337A (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-29 | 日本電気株式会社 | Impact testing machine and impact testing method |
| WO2020049675A1 (en) * | 2018-09-06 | 2020-03-12 | 神栄テクノロジー株式会社 | Horizontal shock testing device |
| CN110954289A (en) * | 2019-12-31 | 2020-04-03 | 青岛航天瑞莱海检科技有限公司 | Automatic brake oil supplying device for mechanical impact platform brake system |
| CN111289204A (en) * | 2020-04-02 | 2020-06-16 | 苏州东菱科技有限公司 | A gripping device for a pneumatic impact table and a pneumatic impact table |
| JP2020159701A (en) * | 2019-03-25 | 2020-10-01 | 日本電気株式会社 | Impact testing device and impact testing method |
-
2004
- 2004-08-02 JP JP2004225333A patent/JP4437944B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013234942A (en) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Impact testing machine and impact test method |
| CN103954513A (en) * | 2014-05-13 | 2014-07-30 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | High-drop precision drop hammer impact test device of explosive and other materials |
| JP2016061702A (en) * | 2014-09-19 | 2016-04-25 | 日本電気株式会社 | Vibration analysis device and vibration analysis method |
| JP2016173337A (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-29 | 日本電気株式会社 | Impact testing machine and impact testing method |
| CN105784585A (en) * | 2016-05-05 | 2016-07-20 | 中国工程物理研究院化工材料研究所 | Variable-load regulating and controlling device for explosive drop impact test |
| WO2020049675A1 (en) * | 2018-09-06 | 2020-03-12 | 神栄テクノロジー株式会社 | Horizontal shock testing device |
| JP2020159701A (en) * | 2019-03-25 | 2020-10-01 | 日本電気株式会社 | Impact testing device and impact testing method |
| JP7367315B2 (en) | 2019-03-25 | 2023-10-24 | 日本電気株式会社 | Impact test equipment, impact test method and impact test program |
| CN110954289A (en) * | 2019-12-31 | 2020-04-03 | 青岛航天瑞莱海检科技有限公司 | Automatic brake oil supplying device for mechanical impact platform brake system |
| CN111289204A (en) * | 2020-04-02 | 2020-06-16 | 苏州东菱科技有限公司 | A gripping device for a pneumatic impact table and a pneumatic impact table |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4437944B2 (en) | 2010-03-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4437944B2 (en) | Impact testing machine | |
| CN107796716B (en) | Impact test device | |
| EP2887048B1 (en) | Pendulum device for low-energy impact testing | |
| RU2595322C2 (en) | System and method for simulating high-intensity pyrotechnic shock | |
| US20090090166A1 (en) | Shock simulation generator | |
| JP2012137299A (en) | Door handle testing device | |
| US5400640A (en) | Pyrotechnic shock machine | |
| CN108254270A (en) | A kind of impact test apparatus | |
| JP6459672B2 (en) | Impact tester and impact test method | |
| JP2022096584A (en) | Cast sand dropping device | |
| JPH02236435A (en) | Impulsive acceleration tester | |
| JPH10274576A (en) | Loading test device and loading test method | |
| US3842665A (en) | Pulse press tester | |
| US6655189B1 (en) | Explosive excitation device and method | |
| JP6302105B1 (en) | Sounding device and inspection method using the same | |
| Seah et al. | Understanding and testing for drop impact failure | |
| KR102825169B1 (en) | Shock test device | |
| JP6648582B2 (en) | Impact tester and impact test method | |
| US2959049A (en) | Shock tester | |
| KR100411045B1 (en) | Door trim impact test system | |
| CN113188743A (en) | Automobile bumper application detects instrument | |
| JP2020157312A (en) | Cast sand removing device | |
| US20050092060A1 (en) | Methods and apparatus for conducting high g-force testing | |
| SU1105782A1 (en) | Material impact testing plant | |
| RU2813247C1 (en) | High-intensity impact test method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070723 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091006 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091009 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091203 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091225 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091225 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130115 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4437944 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140115 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |