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JP2005351635A - プログラマブルロジックデバイス及び観測信号測定システム - Google Patents

プログラマブルロジックデバイス及び観測信号測定システム Download PDF

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JP2005351635A
JP2005351635A JP2004169388A JP2004169388A JP2005351635A JP 2005351635 A JP2005351635 A JP 2005351635A JP 2004169388 A JP2004169388 A JP 2004169388A JP 2004169388 A JP2004169388 A JP 2004169388A JP 2005351635 A JP2005351635 A JP 2005351635A
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Japan
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signal
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observation
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selection unit
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JP2004169388A
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Susumu Tanaka
進 田中
Naoyuki Hoshi
直之 星
Sei Tomikawa
聖 冨川
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

【課題】 一つのFPGAにおいて、出力端子の数よりも多い複数の観測信号を切換えて出力するFPGAを提供する。また、複数のFPGAの中から指定した所定のFPGAについて、内部の観測信号をコネクタに出力させ測定するシステムを提供する。
【解決手段】 制御信号153は、出力選択部11が入力する複数の観測信号のうち所定の観測信号を、出力選択部11に選択させるべき指示を含む。さらに制御信号153は所定のIDを含む。制御部123は、制御信号153を入力し、付与ID格納部31に格納している付与IDと所定のIDとを比較する。制御部123はIDが一致する場合は、入力する複数の観測信号のうち所定の観測信号を選択するべき指示を出力選択部11に与えて所定の観測信号を選択させる。両方のIDが一致しない場合には、出力選択部11に観測信号の選択指示を行わない。
【選択図】 図7

Description

この発明は、デジタル回路設計/検証時に使用するPLD(Programmable Logic Device)、例えばFPGA(Field Programmable Gate Array)に関する。例えば複数の観測信号を内部で切り換えて所定の観測信号を出力可能なFPGAに関する。
従来のFPGAは、あらかじめ選択された観測用信号が観測用端子に接続されている。また、観測したいFPGAが複数存在する場合は、FPGA毎にコネクタが設置されている(例えば、特許文献1)。
従来の技術によるFPGA内部信号の観測方法と回路は以上のように構成されているので、FPGAの内部信号を観測することができる。
しかしながら、従来の方法では観測用端子(出力端子)と観測信号が固定しているため、観測用端子数より多くの信号を観測することができなかった。このため、観測用端子に接続していない他の観測信号を観測しようとする場合には、観測用端子に接続している回路を修正したり、再合成等を行う必要があった。そのため、その手間や時間がかかるといった課題あった。
また、複数の観測対象FPGAが存在する場合は、FPGA毎にコネクタを設置する必要があり、観測FPGAを変えるたびにコネクタの接続を変更しなくてはならず、コストや手間がかかるといった課題があった。
特開平11−296403
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、FPGA内に信号を選択する出力選択手段を備えることで観測用端子数より多くの信号を観測可能とするFPGAを提供する。また、出力選択手段を自動的に切換える自動切換手段を備えることで、観測用端子数より多くの信号を自動的に切換えて観測可能とするFPGAを提供する。さらに、IDを持たせた複数のFPGAをバス接続し、所望のFPGAをIDにて選択することにより、1つのコネクタを利用して多くのFPGAの信号を観測可能とするFPGA内部信号の観測信号測定システムを提供する。
本発明に係るPLDは、
論理回路をプログラム可能であり、かつ、プログラムした論理回路により観測対象の信号を示す複数の観測信号を生成するPLDにおいて、
プログラムした論理回路の生成した複数の観測信号を入力し、入力した複数の観測信号から所定の観測信号を選択し、選択した所定の観測信号を選択信号として出力する出力選択部を備えたことを特徴とする。
本発明は、FPGA内に観測信号を選択する出力選択部を備えるので、観測用端子数よりも多くの信号を観測することができる。
実施の形態1.
図1、図2を用いて実施の形態1を説明する。実施の形態1は、自己の内部に、複数の観測信号の中から所定の観測信号を選択して出力する出力選択部を備えるFPGA(PLDの一例)に関する。以下では、設計したい論理回路を現場で組み込み可能なハードウェアであるPLDの一例として、FPGAを例に説明する。
図1は、実施の形態1に係るFPGA100の構成図である。FPGA100は、出力選択部11、解析部12(制御部の一例)を備えている。出力選択部11と解析部12はセレクタ回路101を構成している。
出力選択部11は、プログラムした論理回路であるユーザ回路8a,8bの出力する複数の観測信号を入力し、入力した複数の観測信号から所定の観測信号を選択して観測信号出力161(選択信号の一例)として出力する。出力選択部11は、チャンネル(ch)0〜チャンネルnの、n+1チャンネル(nは自然数)の観測信号から所定の観測信号を選択する。
解析部12は、制御信号151を入力して解析し、入力した制御信号151に基づいて出力選択部11に複数の観測信号の中から所定の観測信号を選択させる。
次に、動作について説明する。図2は、出力選択部11が所定の観測信号を選択する動作を示すフローチャートである。図2を参照して説明する。
S11において、FPGA100の外部より制御信号151が入力される。制御信号151は、出力選択部11に選択させるべき観測信号の情報を有している。
S12において、解析部12は、入力した制御信号151の内容を解析する。その解析結果に基づき、出力選択部11に選択させるべきチャンネル番号(観測信号)を出力する。
S13において、出力選択部11は、解析部12の出力したチャンネル番号に従って、該当チャンネルに入力されているユーザー回路からの観測信号を選択し、出力端子10を介してFPGA100の外部へ観測信号出力161(選択信号の一例)として出力する。
なお、制御信号151についてはシリアル、パラレル、その他、どのような形態であっても構わない。また、FPGA100の外部からの入力でなく、内部で生成したものを入力しても構わない。また、制御信号151の内容はセレクトすべきチャンネル番号だけでなく、出力端子10の制御等、その他の機能を含んでいても構わない。
以上のように、この実施の形態1によれば、FPGA100内に出力選択部を備えたので、観測用端子数より多くの信号を観測することが出来る。
実施の形態2.
次に、図3〜図5を用いて実施の形態2を説明する。実施の形態2は、図1に示した実施の形態1に係るFPGA100に、さらに、自動切換部20を追加した構成であるFPGA200に関する。
図3は、実施の形態2に係るFPGA200の構成図である。FPGA200において、自動切換部20と解析部12とにより制御部122を構成する。また、制御部122と出力選択部11とによりセレクタ回路102を構成する。
次に、自動切換部20を備えたFPGA200の動作を説明する。図4は、FPGA200が所定の観測信号を「自動的」に選択する動作を示すフローチャートである。図4を参照して説明する。
S21において、FPGA200の外部より制御信号152が入力される。
S22において、解析部12は、制御信号152の内容を解析し、自動的に切り換えするべきチャンネル番号を自動切換部20に出力する。制御信号152の内容は、出力選択部11の入力する複数の観測信号の中から、選択信号として選択して、順次切り換えて出力するべき2以上の観測信号を出力選択部11に選択させる指示である。図5により具体的に説明する。制御信号152は例えば、図5に示すタイミングチャートの内容の情報を有する。このタイミングチャートを解析部12が解析し、自動切換部20に出力する。自動切換部20は、出力選択部11が入力する複数の観測信号の中から2以上の観測信号を選択させて選択信号として順次切り換えて出力させる。図5では、nチャンネル中の0チャンネル,1チャンネル,4チャンネルを自動的に切り換えて出力させる場合を示している。すなわち出力選択部11は、入力する各観測信号のうち、0チャンネル,1チャンネル,4チャンネルに入力する観測信号をタイミングチャートに基づき順次切り換えて選択し、選択した観測信号を選択信号として出力端子10から出力する。
S23において、自動切換部20は、S22で説明したように出力選択部11へクロック等の指定されたタイミングで、自動的にセレクトすべきチャンネル番号を切替えながら出力する。すなわち、自動切換部20は出力選択部11に対して、図5に示すタイミングチャートによるタイミングで、CH0,CH1,CH4・・・と、選択し出力するべきチャンネル番号を出力する。
S24において、出力選択部11は、S22で説明したように、自動切換部20から入力したチャンネル番号に従って該当チャンネルに入力されているユーザー回路からの観測信号を選択し、出力端子10に観測信号出力として出力する。
実施の形態2に係るFPGA200によれば、内部に出力選択部11の選択する選択信号を自動的に切換える自動切換部20を備えたので、出力端子よりも多くの観測信号を自動的に切換えて出力端子から出力して観測することができる。
実施の形態3.
次に、図6〜図9を用いて、実施の形態3を説明する。実施の形態3は、付与IDとしてIDを持たせた複数のFPGAをバス接続し、所望のFPGAを制御信号に含ませたIDによって選択することにより、1つのコネクタから、多くのFPGAの信号を観測可能とするFPGA内部信号の観測信号測定システム33に関する。
図6は、この実施の形態3に係るFPGA内部信号の観測信号測定システムを示す図である。図6では、後述のFPGA300がm個(mは自然数)、バス17を介してバス接続されている。m個のFPGA300のうち一つだけが観測信号出力163の出力を認められる。どのFPGA300に出力を認めるかは、制御信号153(出力可否信号の一例)にIDを含めることにより行う。例えば、制御信号153の中にID=1のFPGA300にのみ出力を認める情報を含めることにより、ID=1のFPGA300にのみ出力を認め、それ以外のFPGA300からの出力はさせないようにする。
図7は、実施の形態3に係るFPGA300の構成図である。FPGA300は、図3に示した実施の形態2に係るFPGA200に、さらに、付与ID格納部31とID判定部30を追加した構成である。FPGA300において、解析部12とID判定部30と自動切換部20とにより制御部123を構成する。また、制御部123と出力選択部11とによりセレクタ回路103を構成する。
付与ID格納部31は、付与IDを格納する。また、ID判定部30は、所定のIDを含む制御信号153(出力可否信号)を入力し、前記所定のIDと付与ID格納部31に格納される付与IDとを比較する。
次に、実施の形態3に係る観測信号測定システム33の動作を説明する。図8は観測信号測定システム33の動作を説明するフローチャートである。図8を参照して説明する。
S31において、FPGA300の外部より制御信号153が入力される。この制御信号153には所定のIDが含まれている。
S32において、解析部12は、所定のIDを含む制御信号153の内容を解析し、その結果をID判定部30へ出力する。
S33において、ID判定部30は、制御信号153に含まれた所定のIDが付与IDと一致するかを確認する。一致しない場合は、出力選択部11に出力の指示をすることなく動作を終了する。一致する場合には、ID判定部30は、解析部12から入力した解析結果としての自動切り換えすべきチャンネルを自動切換部20に出力する。これは、実施の形態2の場合と同様である。
S34において、自動切換部20は、実施の形態2の場合と同様に、出力選択部11に対して、制御信号に基づく指定されたタイミングで自動的にセレクトすべきチャンネル番号を切替えながら出力する。
S35において、出力選択部11は、実施の形態2の場合と同様に、自動切換部20の出力したチャンネル番号(観測信号の出力要求の一例)を入力し、入力したチャンネル番号に従って該当チャンネルに入力されているユーザー回路からの観測信号を選択し、出力端子10から出力する。そして、この観測信号出力163はコネクタ9から出力される。
以上により、観測信号出力163はID判定部30において出力可能と判定された唯一のFPGA300からのみ出力されるため、バス17上における信号の衝突は発生しない。
なお、制御信号153は唯一のFPGA300のみに有効な信号の他に、複数のFPGA300や、全てのFPGA300に対して有効な情報を含むことができる。例えば、出力をOFFするべき情報のような場合である。
また、付与IDは、FPGA300の付与ID格納部31に格納されているが、予め付与ID格納部31に格納していてもよいし、FPGA300の外部から入力し付与ID格納部31に格納する構成でもよい。
図7に示すようにFPGA300は、自動切換部20を備えた構成であるが、自動切換部20を持たない構成も可能である。すなわち、自動切換部20を備える場合は、実施の形態2に係るFPGA200に対しID判定部30、付与ID格納部31を追加した構成である。これに対して、自動切換部20を持たない場合は、実施の形態1に係るFPGA100に、ID判定部30、付与ID格納部31を追加した構成に相当する。図9は、自動切換部20を持たないFPGA400構成を示す図である。
実施の形態3に係る観測信号測定システムによれば、付与IDを持たせた複数のFPGAをバス接続し、制御信号153に含めた所定のIDによって所望のFPGAを選択するようにしたので、1つのコネクタを利用して多くのFPGAの信号を観測することができる。
実施の形態1に係るFPGA100の構成図である。 実施の形態1に係るFPGA100の動作を示すフローチャートである。 実施の形態2に係るFPGA200の構成図である。 実施の形態2に係るFPGA200の動作を示すフローチャートである。 実施の形態2における制御信号152に含まれる情報を説明するタイミングチャートである。 実施の形態3に係る観測信号測定システム33の構成を示す図である。 実施の形態3に係るFPGA300の構成図である。 実施の形態3に係る観測信号測定システム33の動作を説明するフローチャートである。 実施の形態3に係るFPGA400の構成図である。
符号の説明
8a,8b ユーザ回路、9 コネクタ、10 出力端子、11 出力選択部、12 解析部、17 バス、20 自動切換部、30 ID判定部、31 付与ID格納部、33 観測信号測定システム、100,200,300,400 FPGA、101,102,103,104 セレクタ回路、122,123,124 制御部、151,152,153,154 制御信号、161,162,163,164 観測信号出力。

Claims (6)

  1. 論理回路をプログラム可能であり、かつ、プログラムした論理回路により観測対象の信号を示す複数の観測信号を生成するPLD(Programmable Logic Device)において、
    プログラムした論理回路の生成した複数の観測信号を入力し、入力した複数の観測信号から所定の観測信号を選択し、選択した所定の観測信号を選択信号として出力する出力選択部を備えたことを特徴とするPLD。
  2. 前記PLDは、さらに、
    前記出力選択部の入力する複数の観測信号から所定の観測信号の選択を指示する制御信号を入力し、入力した制御信号に基づいて前記出力選択部に複数の観測信号から所定の観測信号を選択させる制御部を備えたことを特徴とする請求項1記載のPLD。
  3. 前記制御部は、
    前記出力選択部の入力する複数の観測信号から選択信号として順次切り換えて出力するべき2以上の観測信号を前記出力選択部に選択させる指示を示す制御信号を入力し、入力した制御信号に基づいて、前記出力選択部に2以上の観測信号を選択させて選択信号として順次切り換えて出力させることを特徴とする請求項2記載のPLD。
  4. 論理回路をプログラム可能であり、かつ、プログラムした論理回路により観測対象の信号を示す観測信号を生成する複数のPLDと、前記複数のPLDから信号を入力するコネクタとを備えた観測信号測定システムにおいて、
    前記PLDのそれぞれは、
    プログラムした論理回路の生成した観測信号を入力し、入力した観測信号の出力を要求された場合に、入力した観測信号を前記コネクタへ出力する出力選択部と、
    前記出力選択部の入力する観測信号について前記出力選択部からの出力の可否を示す出力可否信号を入力し、入力した出力可否信号が前記出力選択部から観測信号の出力を認める信号かどうかを判断し、出力を認める信号と判断した場合に、前記出力選択部に対して観測信号を前記コネクタへ出力するよう要求する制御部と
    を備えたことを特徴とする観測信号測定システム。
  5. 論理回路をプログラム可能であり、かつ、プログラムした論理回路により観測対象の信号を示す観測信号を生成するPLDにおいて、
    プログラムした論理回路の生成した観測信号を入力し、入力した観測信号の出力を要求された場合に、入力した観測信号を出力する出力選択部と、
    前記出力選択部の入力する観測信号について前記出力選択部からの出力の可否を示す出力可否信号を入力し、入力した出力可否信号が前記出力選択部から観測信号の出力を認める信号かどうかを判断し、出力を認める信号と判断した場合に、前記出力選択部に観測信号の出力を要求する制御部と
    を備えたことを特徴とするPLD。
  6. 前記PLDは、さらに、
    自己に付与されたID(IDentification)を付与IDとして格納する付与ID格納部を備え、
    前記制御部は、
    所定のIDを含む出力可否信号を入力し、前記所定のIDと前記付与ID格納部に格納される付与IDとを比較し、比較した結果に基づいて、入力した出力可否信号が前記出力選択部から観測信号の出力を認める信号かどうかを判断することを特徴とする請求項5記載のPLD。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8281277B2 (en) 2006-09-29 2012-10-02 Nec Corporation Signal selecting apparatus, circuit amending apparatus, circuit simulator, circuit emulator, method of signal selection and program
CN103064006A (zh) * 2012-12-26 2013-04-24 中国科学院微电子研究所 集成电路的测试装置

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