JP2003327551A - インダンの製造方法 - Google Patents
インダンの製造方法Info
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Landscapes
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Low-Molecular Organic Synthesis Reactions Using Catalysts (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】3a、4、7、7a−テトラヒドロインデン
(THI)の脱水素によりインダンを得るには、従来の
高温反応では副反応が多かった。低い反応温度で高収率
でインダンを得たい。 【解決手段】Si/Al原子比が50以上であって主空
洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオラ
イト担体に金属系脱水素化触媒を担持触させた脱水素触
媒を使用してTHIを脱水素してインダンを得る。 【効果】副反応を抑制して高収率でTHIからインダン
が得られる。
(THI)の脱水素によりインダンを得るには、従来の
高温反応では副反応が多かった。低い反応温度で高収率
でインダンを得たい。 【解決手段】Si/Al原子比が50以上であって主空
洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオラ
イト担体に金属系脱水素化触媒を担持触させた脱水素触
媒を使用してTHIを脱水素してインダンを得る。 【効果】副反応を抑制して高収率でTHIからインダン
が得られる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は3a、4、7、7a
−テトラヒドロインデン(以下「THI」と略す)を脱
水素することにより医薬・化学品の合成原料、あるいは
メタロセン触媒成分として有用なインダンを取得する方
法に関するものである。
−テトラヒドロインデン(以下「THI」と略す)を脱
水素することにより医薬・化学品の合成原料、あるいは
メタロセン触媒成分として有用なインダンを取得する方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】THIを脱水素することによりインダン
を製造する方法の研究は、従来からインダンを取得する
目的およびさらにインダンを脱水素してインデンを取得
する目的で行われてきた。例えば、米国特許4,29
2,455号では2段階の脱水素ゾーンを設け、第1脱
水素ゾーンではTHIから反応中間体を合成し、第2脱
水素ゾーンでこれをインデンに変換する方法が開示され
ている。反応中間体にインデンおよびインダン等が含ま
れているがインダンを高収率で得るに至っていない。
を製造する方法の研究は、従来からインダンを取得する
目的およびさらにインダンを脱水素してインデンを取得
する目的で行われてきた。例えば、米国特許4,29
2,455号では2段階の脱水素ゾーンを設け、第1脱
水素ゾーンではTHIから反応中間体を合成し、第2脱
水素ゾーンでこれをインデンに変換する方法が開示され
ている。反応中間体にインデンおよびインダン等が含ま
れているがインダンを高収率で得るに至っていない。
【0003】また、特開2000−63298公報 で
はニッケル、モリブデンおよびコバルトの酸化物等の金
属系の脱水素触媒を用いた2段階の反応によりTHIを
原料としてインデンを製造する方法が開示されており、
第1段階の反応でインダンを70%以上の濃度で取得す
る一方、インデンを10%以下に抑えることを特徴とし
ている。この理由としてはインデンの濃度が上昇すると
コーキングによる触媒の活性低下が激しくなり、長時間
の連続運転が困難になるから、と記載されている。この
目的を達成するために第1段階の反応をインダンの脱水
素を行う第2段階より低い温度に設定しているものの、
用いているような一般的な脱水素触媒では低温での触媒
活性が低いので、400〜600℃、好ましくは450
〜520℃という高い温度にしているこのようにインダ
ンの濃度を向上させるため高温にすると、どうしてもあ
る程度の量のインデンが生成する結果となっている(実
施例では450℃の反応で回収油中に77.9〜84.
0%のインダンと3.2〜4.7%のインデンを取得し
ている)。これは明細書に記述されているように触媒の
活性低下を引き起こすことにつながる。
はニッケル、モリブデンおよびコバルトの酸化物等の金
属系の脱水素触媒を用いた2段階の反応によりTHIを
原料としてインデンを製造する方法が開示されており、
第1段階の反応でインダンを70%以上の濃度で取得す
る一方、インデンを10%以下に抑えることを特徴とし
ている。この理由としてはインデンの濃度が上昇すると
コーキングによる触媒の活性低下が激しくなり、長時間
の連続運転が困難になるから、と記載されている。この
目的を達成するために第1段階の反応をインダンの脱水
素を行う第2段階より低い温度に設定しているものの、
用いているような一般的な脱水素触媒では低温での触媒
活性が低いので、400〜600℃、好ましくは450
〜520℃という高い温度にしているこのようにインダ
ンの濃度を向上させるため高温にすると、どうしてもあ
る程度の量のインデンが生成する結果となっている(実
施例では450℃の反応で回収油中に77.9〜84.
0%のインダンと3.2〜4.7%のインデンを取得し
ている)。これは明細書に記述されているように触媒の
活性低下を引き起こすことにつながる。
【0004】さらに、特開2001−220359公報
には、THIからインダンを取得することを目的とし
て、脱水素触媒の存在下で50〜250℃で反応を行う
方法が開示されている。インダンを生成する反応の選択
性を向上させるために反応温度を低下させているが、通
常の脱水素触媒を使用しているために、実施例に記述さ
れているように、この方法では200℃以下の反応温度
では反応時間として6ないし7時間という非常に長い時
間をかけてもインダンの収量は70%台にすぎない。ま
た反応温度を220℃に上昇させることにより流通方式
の反応を行っているが、THI蒸気を窒素ガスで5倍に
も希釈した条件でも選択率は70%台の数値にとどまっ
ている。
には、THIからインダンを取得することを目的とし
て、脱水素触媒の存在下で50〜250℃で反応を行う
方法が開示されている。インダンを生成する反応の選択
性を向上させるために反応温度を低下させているが、通
常の脱水素触媒を使用しているために、実施例に記述さ
れているように、この方法では200℃以下の反応温度
では反応時間として6ないし7時間という非常に長い時
間をかけてもインダンの収量は70%台にすぎない。ま
た反応温度を220℃に上昇させることにより流通方式
の反応を行っているが、THI蒸気を窒素ガスで5倍に
も希釈した条件でも選択率は70%台の数値にとどまっ
ている。
【0005】以上のように脱水素触媒の存在下でTHI
をインダンに変換することは公知であるが、これまでの
技術ではインダンの収量を増加させようとすると高い温
度での反応が必要となり、インデンにまで脱水素される
ものが増加するためにインデンの重合により触媒活性が
低下したり、THIの分解が起こるという問題があっ
た。またインダンを生成する反応の選択性を向上させる
ために反応温度を低下させると、非常に長い反応時間を
かけてもインダン収量が低い値にとどまっているという
問題を生じていた。そのためにこれまでの技術ではTH
Iからインダンを経済的に効率よく製造する工業的な方
法は確立されていない状況にある。
をインダンに変換することは公知であるが、これまでの
技術ではインダンの収量を増加させようとすると高い温
度での反応が必要となり、インデンにまで脱水素される
ものが増加するためにインデンの重合により触媒活性が
低下したり、THIの分解が起こるという問題があっ
た。またインダンを生成する反応の選択性を向上させる
ために反応温度を低下させると、非常に長い反応時間を
かけてもインダン収量が低い値にとどまっているという
問題を生じていた。そのためにこれまでの技術ではTH
Iからインダンを経済的に効率よく製造する工業的な方
法は確立されていない状況にある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、低い
反応温度でも、THIからインダンへの生成反応が十分
に進行して、高い収率でインダンが取得可能な方法を提
供することにある。
反応温度でも、THIからインダンへの生成反応が十分
に進行して、高い収率でインダンが取得可能な方法を提
供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明の第1
は、THIを、Si/Al原子比が50以上であって主
空洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオ
ライト担体に白金やパラジウムなどの金属系脱水素触媒
を担持させた脱水素触媒の存在下で、脱水素反応させる
ことを特徴とするインダンの製造方法である。
は、THIを、Si/Al原子比が50以上であって主
空洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオ
ライト担体に白金やパラジウムなどの金属系脱水素触媒
を担持させた脱水素触媒の存在下で、脱水素反応させる
ことを特徴とするインダンの製造方法である。
【0008】本発明の第2は、本発明の第1において、
ゼオライト担体が、未焼成または焼成処理後のゼオライ
トを脱アルミニウム処理したものであることを特徴とす
るインダンの製造方法である。本発明の第3は、本発明
の第1または第2において、金属系脱水素触媒の金属が
白金、パラジウム、ニッケル、ロジウムおよびルテニウ
ムからなる群から選ばれたものであることを特徴とする
インダンの製造方法である。本発明の第4は、本発明の
第1〜第3のいずれかにおいて、反応温度が200℃以
上350℃以下であることを特徴とするインダンの製造
方法である。
ゼオライト担体が、未焼成または焼成処理後のゼオライ
トを脱アルミニウム処理したものであることを特徴とす
るインダンの製造方法である。本発明の第3は、本発明
の第1または第2において、金属系脱水素触媒の金属が
白金、パラジウム、ニッケル、ロジウムおよびルテニウ
ムからなる群から選ばれたものであることを特徴とする
インダンの製造方法である。本発明の第4は、本発明の
第1〜第3のいずれかにおいて、反応温度が200℃以
上350℃以下であることを特徴とするインダンの製造
方法である。
【0009】
【発明実施の形態】以下本発明の実施の形態を詳細に説
明する。 (ゼオライト担体)本発明で金属系脱水素触媒に使用す
る単体は、Si/Al原子比が50以上であって、主空
洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオラ
イトである。ゼオライトは、SiO4四面体と(AlO
4)−四面体が3次元網目状に結合した多孔質の結晶体
である。ゼオライト担体の細孔構造が反応に重要な影響
を及ぼすが、細孔径は細孔入口の構造によって決定す
る。本発明の目的には、主空洞の入口が12員酸素環以
上の細孔構造を有するものであることが好ましい。12
員酸素環の細孔構造を有するゼオライトの好ましい例は
β型ゼオライト、Y型ゼオライトである。主空洞の入り
口が8員酸素環または10員酸素環の場合は、THIが
細孔内に進入できないため好ましくない。
明する。 (ゼオライト担体)本発明で金属系脱水素触媒に使用す
る単体は、Si/Al原子比が50以上であって、主空
洞の入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオラ
イトである。ゼオライトは、SiO4四面体と(AlO
4)−四面体が3次元網目状に結合した多孔質の結晶体
である。ゼオライト担体の細孔構造が反応に重要な影響
を及ぼすが、細孔径は細孔入口の構造によって決定す
る。本発明の目的には、主空洞の入口が12員酸素環以
上の細孔構造を有するものであることが好ましい。12
員酸素環の細孔構造を有するゼオライトの好ましい例は
β型ゼオライト、Y型ゼオライトである。主空洞の入り
口が8員酸素環または10員酸素環の場合は、THIが
細孔内に進入できないため好ましくない。
【0010】(Si/Al原子比)細孔内の酸点がTH
Iに含まれる5−ビニルノルボルネンや5−エチリデン
ノルボルネン等の不純物の異性化、分解および重合に深
く関与しており、触媒活性を長時間持続させる上で障害
となることを見いだした。酸点の濃度はSi/Al原子
比に対応している。本発明の目的に適するSi/Al原
子比の範囲は50以上であるが、さらに好ましい範囲は
100以上、特に好ましい範囲は200以上である。S
i/Al原子比が50未満の場合は副反応によりインダ
ンの収率が低下するので好ましくない。Si/Al原子
比の上限は特にないが、後述する脱アルミニウム処理に
要する手間とインダン収量の向上の経済性のバランスを
考慮して決定するのが好ましい。
Iに含まれる5−ビニルノルボルネンや5−エチリデン
ノルボルネン等の不純物の異性化、分解および重合に深
く関与しており、触媒活性を長時間持続させる上で障害
となることを見いだした。酸点の濃度はSi/Al原子
比に対応している。本発明の目的に適するSi/Al原
子比の範囲は50以上であるが、さらに好ましい範囲は
100以上、特に好ましい範囲は200以上である。S
i/Al原子比が50未満の場合は副反応によりインダ
ンの収率が低下するので好ましくない。Si/Al原子
比の上限は特にないが、後述する脱アルミニウム処理に
要する手間とインダン収量の向上の経済性のバランスを
考慮して決定するのが好ましい。
【0011】(脱アルミニウム処理)ゼオライトのSi
/Al原子比が好ましい範囲であればそのまま担体とし
て使用できるが、脱アルミニウム処理を施すことによっ
て好ましい範囲に調整することが可能である。脱アルミ
ニウム処理はSi/Al原子比が50未満のものおよび
50以上のものの何れに対しても行うことが可能であ
る。脱アルミニウム処理の方法としては特に限定される
ものではないが、酸による処理が好ましい。酸としては
硝酸、塩酸、硫酸等が好ましく使用できる。酸の濃度、
処理温度、処理時間等の酸処理条件は目的とするSi/
Al原子比に応じて適宜選択する。処理温度を高温に
し、かつ処理時間を長くすることにより、Si/Al原
子比を高めることができる。さらにメソ孔容積を増加さ
せて、触媒活性を向上させるために、脱アルミニウム処
理を行う前に、焼成処理をしたゼオライトを担体として
用いることが可能である。
/Al原子比が好ましい範囲であればそのまま担体とし
て使用できるが、脱アルミニウム処理を施すことによっ
て好ましい範囲に調整することが可能である。脱アルミ
ニウム処理はSi/Al原子比が50未満のものおよび
50以上のものの何れに対しても行うことが可能であ
る。脱アルミニウム処理の方法としては特に限定される
ものではないが、酸による処理が好ましい。酸としては
硝酸、塩酸、硫酸等が好ましく使用できる。酸の濃度、
処理温度、処理時間等の酸処理条件は目的とするSi/
Al原子比に応じて適宜選択する。処理温度を高温に
し、かつ処理時間を長くすることにより、Si/Al原
子比を高めることができる。さらにメソ孔容積を増加さ
せて、触媒活性を向上させるために、脱アルミニウム処
理を行う前に、焼成処理をしたゼオライトを担体として
用いることが可能である。
【0012】(金属系脱水素触媒)あらかじめ用意した
適切なSi/Al原子比を有するゼオライト担体に金属
系脱水素触媒を担持させることにより、本発明で使用す
る触媒を調製することができる。この際に使用する金属
系脱水素触媒としてはパラジウム、白金、ニッケル、ロ
ジウム、ルテニウムなどの金属を用いることが可能であ
る。これらの金属の内パラジウムと白金とが特に優れた
性能を示すので好ましい。金属担持触媒の調製方法は一
般的な方法を用いることが可能であり、特に限定される
ものではない。一例としては、用意した担体を金属塩の
水溶液に浸せきすることにより金属を含浸担持させ、そ
れを空気中で130℃で乾燥させた後、さらに400℃
で焼成することにより金属系脱水素触媒を担持させた触
媒を取得することができる。上記のゼオライト担体への
金属系脱水素触媒の担持量は、特に限定されるものでは
ないが、転化率および選択率の点から特に1〜7質量%
が好ましい。
適切なSi/Al原子比を有するゼオライト担体に金属
系脱水素触媒を担持させることにより、本発明で使用す
る触媒を調製することができる。この際に使用する金属
系脱水素触媒としてはパラジウム、白金、ニッケル、ロ
ジウム、ルテニウムなどの金属を用いることが可能であ
る。これらの金属の内パラジウムと白金とが特に優れた
性能を示すので好ましい。金属担持触媒の調製方法は一
般的な方法を用いることが可能であり、特に限定される
ものではない。一例としては、用意した担体を金属塩の
水溶液に浸せきすることにより金属を含浸担持させ、そ
れを空気中で130℃で乾燥させた後、さらに400℃
で焼成することにより金属系脱水素触媒を担持させた触
媒を取得することができる。上記のゼオライト担体への
金属系脱水素触媒の担持量は、特に限定されるものでは
ないが、転化率および選択率の点から特に1〜7質量%
が好ましい。
【0013】(原料THI)原料であるTHIは、5−
エチリデンノルボルネン製造の際の副生物として多量に
生成しているほか、5−エチリデンノルボルネン製造の
際の中間体として多量に製造されている5−ビニルノル
ボルネンの異性化により取得することが可能である。
エチリデンノルボルネン製造の際の副生物として多量に
生成しているほか、5−エチリデンノルボルネン製造の
際の中間体として多量に製造されている5−ビニルノル
ボルネンの異性化により取得することが可能である。
【0014】(脱水素反応)上記の触媒を用いてTHI
からインダンを製造する脱水素反応は以下のようにして
行う。反応形式は気相または液相でのバッチ式反応、触
媒固定床を使用した常圧気相流通反応もしくは液相流通
反応、触媒流動層を使用した反応等の工業用の各種の触
媒反応技術を採用して行うことができる。バッチ式にお
ける触媒の使用量および流通式におけるLHSV等の条
件は適宜選択できる。実施例においては常圧固定床流通
式反応装置を使用しているがこれに限定されるものでは
ない。
からインダンを製造する脱水素反応は以下のようにして
行う。反応形式は気相または液相でのバッチ式反応、触
媒固定床を使用した常圧気相流通反応もしくは液相流通
反応、触媒流動層を使用した反応等の工業用の各種の触
媒反応技術を採用して行うことができる。バッチ式にお
ける触媒の使用量および流通式におけるLHSV等の条
件は適宜選択できる。実施例においては常圧固定床流通
式反応装置を使用しているがこれに限定されるものでは
ない。
【0015】その他の条件は反応形式に応じて適宜選択
できるが、反応温度については本発明において重要な条
件となる。すなわち、従来の方法では好ましいインダン
収率を得ようとすると400℃以上の反応温度を必要と
した。しかしながら400℃以上の温度で反応を行った
場合には反応生成物がインダンにとどまらずにインデン
や熱分解物を生成するために、これらの重合しやすい物
質が触媒表面を被覆して炭化するために、触媒活性を短
時間で低下させることを避けることができなかった。ま
た、コーキングの問題を避けるために反応温度を低くし
た場合には、反応速度が低下するために低い収率となる
か、あるいは目的のインダン収率を得るために反応時間
が極めて長くなり、何れも経済性の面で工業的には不適
当であった。本発明の方法では脱水素触媒が低い温度で
も高い活性を有するので、コーキングの問題を生じな
い、触媒活性が長期間安定した温度条件において効率よ
く反応を行うことが可能になった。好ましい反応温度と
しては、200〜350℃である。200℃未満では反
応速度が遅いので経済的に不利である。また、350℃
を超えるとインデンの生成およびTHIの分解が促進さ
れるため好ましくない。特に好ましい反応温度は250
℃〜300℃である。
できるが、反応温度については本発明において重要な条
件となる。すなわち、従来の方法では好ましいインダン
収率を得ようとすると400℃以上の反応温度を必要と
した。しかしながら400℃以上の温度で反応を行った
場合には反応生成物がインダンにとどまらずにインデン
や熱分解物を生成するために、これらの重合しやすい物
質が触媒表面を被覆して炭化するために、触媒活性を短
時間で低下させることを避けることができなかった。ま
た、コーキングの問題を避けるために反応温度を低くし
た場合には、反応速度が低下するために低い収率となる
か、あるいは目的のインダン収率を得るために反応時間
が極めて長くなり、何れも経済性の面で工業的には不適
当であった。本発明の方法では脱水素触媒が低い温度で
も高い活性を有するので、コーキングの問題を生じな
い、触媒活性が長期間安定した温度条件において効率よ
く反応を行うことが可能になった。好ましい反応温度と
しては、200〜350℃である。200℃未満では反
応速度が遅いので経済的に不利である。また、350℃
を超えるとインデンの生成およびTHIの分解が促進さ
れるため好ましくない。特に好ましい反応温度は250
℃〜300℃である。
【0016】
【実施例】以下の実施例によって、本発明をさらに詳細
に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるも
のではない。 (実施例1)Y型ゼオライトと同じ12員酸素環細孔構
造を有する触媒化成社製USYゼオライト触媒を空気中
で650℃3時間焼成した後、5.0gを容積300m
lの丸底フラスコに入れ、これに6規定濃度の硝酸10
0mlを加えオイルバスで100℃に加熱し、20時間
脱アルミニウム処理を行った。処理後は水洗してから、
一晩乾燥の後、マッフル炉にて500℃、3時間焼成し
て吸着水を完全に除去した。この処理によって当初は
7.4であったSi/Al原子比が400になった。次
に、このようにして変性したUSYゼオライトを担体と
して、下記の方法により金属脱水素触媒として5質量%
の白金を担持させた。すなわち、変性USYゼオライト
9.12gを200mlの蒸発皿に採取し、これに濃度
0.170mol/lのヘキサクロロ白金(IV)酸の水
溶液29.3gを撹拌しながら添加し、湯浴上で撹拌し
ながら乾燥させ白金を含浸担持した。空気中130℃で
1時間乾燥した後、さらに空気中300℃で2時間、3
50℃で3時間、450℃で4時間焼成することによ
り、本発明で使用するための脱水素触媒を得た。脱水素
反応は固定床流通式反応装置を用いて行った。反応管に
は内径12.5mm、加熱部の長さ300mmの管を用い、
反応管加熱部の中央に約3mmの触媒層を設けた。反応管
を電気炉により400℃に加熱して、水素ガスを2時間
流通させて、触媒の前処理を行った。反応を行う際には
温度を275℃として、反応原料のTHIを毎時1.5
gの速度で供給した。反応生成物をガスクロマト分析し
てその組成を求めた。結果は、転化率100%であり、
インダンの選択率が95.8%と極めて高いにもかかわ
らず、インデンが全く認められなかった。また分解生成
物も確認されなかった。
に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるも
のではない。 (実施例1)Y型ゼオライトと同じ12員酸素環細孔構
造を有する触媒化成社製USYゼオライト触媒を空気中
で650℃3時間焼成した後、5.0gを容積300m
lの丸底フラスコに入れ、これに6規定濃度の硝酸10
0mlを加えオイルバスで100℃に加熱し、20時間
脱アルミニウム処理を行った。処理後は水洗してから、
一晩乾燥の後、マッフル炉にて500℃、3時間焼成し
て吸着水を完全に除去した。この処理によって当初は
7.4であったSi/Al原子比が400になった。次
に、このようにして変性したUSYゼオライトを担体と
して、下記の方法により金属脱水素触媒として5質量%
の白金を担持させた。すなわち、変性USYゼオライト
9.12gを200mlの蒸発皿に採取し、これに濃度
0.170mol/lのヘキサクロロ白金(IV)酸の水
溶液29.3gを撹拌しながら添加し、湯浴上で撹拌し
ながら乾燥させ白金を含浸担持した。空気中130℃で
1時間乾燥した後、さらに空気中300℃で2時間、3
50℃で3時間、450℃で4時間焼成することによ
り、本発明で使用するための脱水素触媒を得た。脱水素
反応は固定床流通式反応装置を用いて行った。反応管に
は内径12.5mm、加熱部の長さ300mmの管を用い、
反応管加熱部の中央に約3mmの触媒層を設けた。反応管
を電気炉により400℃に加熱して、水素ガスを2時間
流通させて、触媒の前処理を行った。反応を行う際には
温度を275℃として、反応原料のTHIを毎時1.5
gの速度で供給した。反応生成物をガスクロマト分析し
てその組成を求めた。結果は、転化率100%であり、
インダンの選択率が95.8%と極めて高いにもかかわ
らず、インデンが全く認められなかった。また分解生成
物も確認されなかった。
【0017】(実施例2)実施例1の白金のかわりにパ
ラジウムを5質量%担持した脱水素触媒を使用し、実施
例1と同様にしてTHIの脱水素反応を行った。反応温
度300℃において、転化率95.2%であり、インダ
ンの選択率が85.8%と高いにもかかわらず、インデ
ンが全く認められなかった。また分解生成物選択率も
3.4%と低い値であった。
ラジウムを5質量%担持した脱水素触媒を使用し、実施
例1と同様にしてTHIの脱水素反応を行った。反応温
度300℃において、転化率95.2%であり、インダ
ンの選択率が85.8%と高いにもかかわらず、インデ
ンが全く認められなかった。また分解生成物選択率も
3.4%と低い値であった。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、特定のゼオライト担体
に金属系脱水素触媒を担持させた脱水素触媒を用いるこ
とにより、温和な条件下で、既存の脱水素触媒では達成
できない高い収率でインダンを製造することが可能とな
る。
に金属系脱水素触媒を担持させた脱水素触媒を用いるこ
とにより、温和な条件下で、既存の脱水素触媒では達成
できない高い収率でインダンを製造することが可能とな
る。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Fターム(参考) 4H006 AA02 AC12 BA21 BA23 BA24
BA25 BA26 BA55 BA71 BC10
DA25 DA46 DA50
4H039 CA41 CC10
Claims (4)
- 【請求項1】 3a、4、7、7a−テトラヒドロイン
デンを、Si/Al原子比が50以上であって主空洞の
入口が12員酸素環以上の細孔構造を有するゼオライト
担体に金属系脱水素触媒を担持させた脱水素触媒の存在
下で、脱水素反応させることを特徴とするインダンの製
造方法。 - 【請求項2】 前記ゼオライト担体が、未焼成または焼
成処理後のゼオライトを脱アルミニウム処理したもので
あることを特徴とする請求項1に記載のインダンの製造
方法。 - 【請求項3】 前記金属系脱水素触媒の金属が白金、パ
ラジウム、ニッケル、ロジウムおよびルテニウムからな
る群から選ばれたものであることを特徴とする請求項1
または請求項2に記載のインダンの製造方法。 - 【請求項4】 反応温度が200℃以上、350℃以下
である請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のイン
ダンの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002136131A JP2003327551A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | インダンの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002136131A JP2003327551A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | インダンの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003327551A true JP2003327551A (ja) | 2003-11-19 |
Family
ID=29698263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002136131A Pending JP2003327551A (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | インダンの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003327551A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019176247A1 (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | Jxtgエネルギー株式会社 | インダンの製造方法 |
| JP2020083810A (ja) * | 2018-11-22 | 2020-06-04 | Jxtgエネルギー株式会社 | インデン組成物 |
| WO2021132239A1 (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-01 | 公立大学法人北九州市立大学 | インデンの製造方法 |
| JPWO2022154048A1 (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-21 |
-
2002
- 2002-05-10 JP JP2002136131A patent/JP2003327551A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019176247A1 (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | Jxtgエネルギー株式会社 | インダンの製造方法 |
| JP2020083810A (ja) * | 2018-11-22 | 2020-06-04 | Jxtgエネルギー株式会社 | インデン組成物 |
| CN113039171A (zh) * | 2018-11-22 | 2021-06-25 | 引能仕株式会社 | 茚组合物 |
| JP7278060B2 (ja) | 2018-11-22 | 2023-05-19 | Eneos株式会社 | インデン組成物 |
| WO2021132239A1 (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-01 | 公立大学法人北九州市立大学 | インデンの製造方法 |
| JPWO2022154048A1 (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-21 | ||
| WO2022154048A1 (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-21 | Eneos株式会社 | インダン及びヒドリンダンの製造方法 |
| JP7692005B2 (ja) | 2021-01-15 | 2025-06-12 | Eneos株式会社 | インダン及びヒドリンダンの製造方法 |
| US12331013B2 (en) | 2021-01-15 | 2025-06-17 | Eneos Corporation | Production method for indan and hydrindane |
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