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JP2003201363A - Porous polyimide film, its wiring board, its manufacturing method and its use - Google Patents

Porous polyimide film, its wiring board, its manufacturing method and its use

Info

Publication number
JP2003201363A
JP2003201363A JP2002002000A JP2002002000A JP2003201363A JP 2003201363 A JP2003201363 A JP 2003201363A JP 2002002000 A JP2002002000 A JP 2002002000A JP 2002002000 A JP2002002000 A JP 2002002000A JP 2003201363 A JP2003201363 A JP 2003201363A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
porous
layer
porous polyimide
polyimide film
porous layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002002000A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Ishikawa
敬郎 石川
Shinji Yamada
真治 山田
Toshiyuki Kawashima
敏行 川島
Shinji Tawara
伸治 田原
Kenichi Ikeda
健一 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Nitto Denko Corp filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2002002000A priority Critical patent/JP2003201363A/en
Publication of JP2003201363A publication Critical patent/JP2003201363A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Landscapes

  • Manufacture Of Porous Articles, And Recovery And Treatment Of Waste Products (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、誘電率及び誘電正接が小さい
多孔質ポリイミドフィルム及びその配線基板とその製造
法並びにそれを用いた各種用途を提供することにある。 【解決手段】本発明は、多孔質層と、該多孔質層の両面
に形成され多孔質層より緻密なスキン層とを有し、前記
多孔質層は大部分が10μm以上の長さを有する孔を有
し、誘電率が2.0以下、誘電正接が0.003以下であること
を特徴とする多孔質ポリイミドフィルム及び、それを用
いた配線基板とその製造法並びにそれを用いた電子部
品、携帯電話及び高周波送受信装置にある。
(57) Abstract: An object of the present invention is to provide a porous polyimide film having a small dielectric constant and a small dielectric loss tangent, a wiring board thereof, a method of manufacturing the same, and various uses using the same. The present invention has a porous layer and skin layers formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer, and the porous layer has a length of at least 10 μm or more. Having a hole, a dielectric constant of 2.0 or less, a porous polyimide film characterized by a dielectric loss tangent of 0.003 or less, a wiring board using the same, a method of manufacturing the same, and an electronic component using the same, a mobile phone, and the like. It is in a high-frequency transceiver.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、新規な多孔質ポリ
イミドフィルムとその配線基板及びその製造法並びにそ
れを用いた電子部品、携帯電話並びに高周波送受信装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a novel porous polyimide film, a wiring board for the same, a method for manufacturing the same, an electronic component using the same, a mobile phone, and a high-frequency transceiver.

【0002】[0002]

【従来の技術】エレクトロニクスや通信機器に使用され
る周波数は、近年ギガヘルツの領域にシフトしている。
このような高周波帯域では伝送損失が大きくなるため、
基板材料に使用される材料には低誘電率、低誘電正接が
求められる。高周波回路基板用の低誘電材料としては、
ポリテトラフルオロエチレン、ポリエチレンなどが用い
られているが、配線に用いられる銅と熱膨張係数が一致
せず配線の切断等の問題がある。
2. Description of the Related Art In recent years, frequencies used in electronics and communication equipment have shifted to the GHz band.
In such a high frequency band, the transmission loss becomes large, so
The material used for the substrate material is required to have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. As a low dielectric material for high frequency circuit boards,
Polytetrafluoroethylene, polyethylene and the like are used, but the coefficient of thermal expansion does not match that of copper used for wiring, and there is a problem such as cutting of wiring.

【0003】配線材料と熱膨張係数がよく一致するポリ
イミドなどの材料の誘電特性は、その分子構造により決
定されるため各材料に固有の値を持ち、制御するには限
界がある。そこで、誘電率が1と低い空気を材料に含ま
せ多孔質化し、材料の誘電特性を制御した多孔質材料が
多く報告されている。多孔質材料はその構造により分類
される。例えば、小さな空孔が均一に分散したスポンジ
構造、上下のフィルム層と内部の構造体で囲まれた空間
が空孔となるボイド構造がある。スポンジ構造として、
特開2000-154273号公報には、空孔径がナノサイズであ
るスポンジ構造で超臨界炭酸ガスを用いてナノポアーで
400μm2/g以上の高表面積を有する多孔質材を用い低誘
電特性を得ると報告されている。
The dielectric properties of a material such as polyimide whose thermal expansion coefficient closely matches that of the wiring material are determined by the molecular structure of the material, and thus have a value unique to each material and there is a limit to control. Therefore, many porous materials have been reported in which air having a low dielectric constant of 1 is included in the material to make it porous and the dielectric properties of the material are controlled. Porous materials are classified by their structure. For example, there are a sponge structure in which small pores are uniformly dispersed, and a void structure in which the space surrounded by the upper and lower film layers and the internal structure is a pore. As a sponge structure,
Japanese Patent Laid-Open No. 2000-154273 discloses a nanopore using a supercritical carbon dioxide gas with a sponge structure having a pore size of nanosize.
It has been reported that a low dielectric property is obtained by using a porous material having a high surface area of 400 μm2 / g or more.

【0004】又、多孔質ポリイミド材として、特開平6-
293834号公報、特開2001-151929号公報、特開2001-2249
34号公報、特開2001-294704号公報等多く知られてい
る。
Further, as a porous polyimide material, Japanese Unexamined Patent Publication No.
293834, JP 2001-151929, JP 2001-2249
Many are known, such as JP-A-34-34, JP-A-2001-294704 and the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記技術にはまだ十分
でない点がいくつかある。多孔質化し多孔質層が連続孔
である場合、エッチングし配線を作成する際に多孔質層
にエッチング液が浸透し、配線をフィルム側からもエッ
チングすることになり、配線を形成することが困難とな
る。
There are some drawbacks to the above technique. When it is made porous and the porous layer has continuous pores, the etching solution penetrates into the porous layer when etching and creating wiring, and the wiring is also etched from the film side, making it difficult to form wiring Becomes

【0006】本発明の目的は、誘電率及び誘電正接が小
さい多孔質ポリイミドフィルムとその配線基板及びその
製造法並びにそれを用いた各種用途を提供することにあ
る。
It is an object of the present invention to provide a porous polyimide film having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent, a wiring board for the same, a method for producing the same, and various applications using the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、多孔質材料の
空孔径及び空孔の形状を特定の形、大きさにすることで
達成できることを見出しなされたものである。
The present invention has been found to be achieved by making the pore diameter and the shape of the pores of the porous material to be a specific shape and size.

【0008】本発明は、多孔質層と、該多孔質層の両面
に形成され多孔質層より緻密なスキン層とを有し、前記
多孔質層は大部分が10μm以上の長さを有する孔を有
し、誘電率が2.0以下、誘電正接が0.003以下であること
を特徴とする多孔質ポリイミドフィルムにある。
The present invention has a porous layer and skin layers formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer, and most of the porous layer has pores having a length of 10 μm or more. And has a dielectric constant of 2.0 or less and a dielectric loss tangent of 0.003 or less.

【0009】又、本発明は、多孔質層と、該多孔質層の
両面に形成され多孔質層より緻密なスキン層とを有し、
前記多孔質層は大部分が棒状の孔を有し、該孔は厚さ方
向に対して傾斜していること、又は前記多孔質層は楕円
形状の孔と、厚さ方向に対して径の大きい孔とを有する
こと、又はスキン層はその一方に孔を有し、他方が一方
の層より緻密な層を有することを特徴とする多孔質ポリ
イミドフィルムにある。
The present invention also has a porous layer and skin layers formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer.
Most of the porous layer has rod-shaped pores, and the pores are inclined with respect to the thickness direction, or the porous layer has elliptical pores and diameters with respect to the thickness direction. The porous polyimide film is characterized in that it has large pores, or that the skin layer has pores in one side and the other side has a denser layer than one layer.

【0010】更に、本発明は、導体箔上にポリアミド酸
溶液の膜を形成し、次いで前記導体箔と共に凝固溶液中
に浸漬させて前記ポリアミド酸溶液を凝固させた後、乾
燥し、次いで加熱処理によるイミド化処理すること、又
は、銅箔上に芳香族ジアミンと芳香族テトラカルボン酸
二無水物とを有するポリアミド酸溶液の膜を形成し、次
いで前記銅箔と共に水中に浸漬させて前記ポリアミド酸
溶液を凝固させた後、乾燥し、次いで加熱処理によるイ
ミド化処理することを特徴とする多孔質ポリイミド配線
用基板の製造法にある。
Further, according to the present invention, a film of a polyamic acid solution is formed on a conductor foil, which is then immersed in a coagulating solution together with the conductor foil to coagulate the polyamic acid solution, followed by drying and then heat treatment. Imidization treatment by, or to form a film of a polyamic acid solution having an aromatic diamine and an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride on a copper foil, then immersed in water together with the copper foil to the polyamic acid The method for producing a porous polyimide wiring substrate is characterized in that the solution is solidified, dried, and then imidized by heat treatment.

【0011】本発明の多孔質ポリイミドフィルムは、上
下のスキン層にスポンジ状の構造体が結合しており、ま
た、スキン層は0.01〜0.5μmの穴が存在し内部の空孔と
外部が連結し、さらに、スキン層とスポンジ状の構造体
で囲まれた空間が、楕円形、フィンガーボイド型、イン
クボトル型あるいはこれらが混在した形状であって、孔
の長軸が10μm以上の大孔径を有し、その誘電特性は、
誘電率が2.0以下、誘電正接が0.003以下であるのが好ま
しい。
In the porous polyimide film of the present invention, sponge-like structures are bonded to the upper and lower skin layers, and the skin layer has holes of 0.01 to 0.5 μm so that the inner pores and the outer pores are connected to each other. In addition, the space surrounded by the skin layer and the sponge-like structure has an elliptical shape, a finger void type, an ink bottle type, or a shape in which these are mixed, and the long axis of the hole has a large diameter of 10 μm or more. And its dielectric properties are
It is preferable that the dielectric constant is 2.0 or less and the dielectric loss tangent is 0.003 or less.

【0012】本発明の多孔質ポリイミド配線基板は、銅
箔上に多孔質層が積層されており、銅箔と多孔質層の間
には緻密層を形成してもよい。又、多孔質層は上下のス
キン層とスポンジ状の構造体が結合した構造を有し、ス
キン層は0.01〜0.5μmの穴が存在し、内部の空孔と外部
とが連結した多孔質ポリイミド配線基板である。さら
に、緻密層とスポンジ状の構造体で囲まれた空間が、楕
円形、フィンガーボイド型、インクボトル型あるいはこ
れらが混在した形状であって、孔の長軸が10μm以上の
大孔径を有する多孔質ポリイミド配線基板である。本発
明の配線基板の誘電特性は、誘電率が2.0以下、誘電正
接が0.003以下である。また、コプレーナラインやマイ
クロストリップラインのような伝送線路を形成した場合
に、10GHzの伝送損失が12dB/m以下である。
In the porous polyimide wiring board of the present invention, the porous layer is laminated on the copper foil, and a dense layer may be formed between the copper foil and the porous layer. Further, the porous layer has a structure in which upper and lower skin layers are bonded to a sponge-like structure, and the skin layer has pores of 0.01 to 0.5 μm, and a porous polyimide in which internal pores are connected to the outside. It is a wiring board. Furthermore, the space surrounded by the dense layer and the sponge-like structure has an elliptical shape, a finger void type, an ink bottle type, or a mixed shape thereof, and the long axis of the pores has a large pore diameter of 10 μm or more. Polyimide wiring board. Regarding the dielectric characteristics of the wiring board of the present invention, the dielectric constant is 2.0 or less and the dielectric loss tangent is 0.003 or less. Moreover, when a transmission line such as a coplanar line or a microstrip line is formed, the transmission loss at 10 GHz is 12 dB / m or less.

【0013】本発明は、多孔質ポリイミド配線基板を各
種電子部品、携帯電話のアンテナ板、ミリ波レーダのア
ンテナ板に適用したものである。
The present invention applies the porous polyimide wiring substrate to various electronic components, antenna plates for mobile phones, and antenna plates for millimeter-wave radar.

【0014】本発明の多孔質ポリイミドにおいて、ポリ
イミドは芳香族ジアミンと芳香族テトラカルボン酸二無
水物とからポリアミック酸を経由し、イミド化して合成
される。用いられる芳香族ジアミン及び芳香族テトラカ
ルボン酸二無水物は多数の組み合わせがある。特に限定
はされないが、芳香族ジアミンにはPPD(パラフェニレ
ンジアミン)及びDDE(4,4-ジアミノジフェニルエーテ
ル)またはこれらの混合物、芳香族テトラカルボン酸二
無水物にはsBPDA(3,3'-4,4'-ビフェニルテトラカルボ
ン酸無水物)が好ましい。また、これらの混合比は組成
はおよそ芳香族ジアミンと芳香族テトラカルボン酸二無
水物が等モルとし、PPDとDDEのモル比は70/30〜100/0の
範囲が好ましい。このような組成のものであれば、低熱
膨張ポリイミドを得ることができ、配線材料であるCuと
熱膨張係数が一致し、信頼性の回路基板が得られる。
In the porous polyimide of the present invention, the polyimide is synthesized from an aromatic diamine and an aromatic tetracarboxylic dianhydride via a polyamic acid and imidized. There are numerous combinations of aromatic diamines and aromatic tetracarboxylic dianhydrides used. Although not particularly limited, PPD (paraphenylenediamine) and DDE (4,4-diaminodiphenyl ether) or a mixture thereof for the aromatic diamine, and sBPDA (3,3'-4) for the aromatic tetracarboxylic dianhydride. 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid anhydride) is preferred. The mixing ratio of these is preferably such that the aromatic diamine and the aromatic tetracarboxylic dianhydride are equimolar, and the molar ratio of PPD and DDE is in the range of 70/30 to 100/0. With such a composition, a low thermal expansion polyimide can be obtained, a thermal expansion coefficient of which is the same as that of Cu which is a wiring material, and a reliable circuit board can be obtained.

【0015】溶媒としては、前記芳香族ジアミン及び芳
香族テトラカルボン酸二無水物を溶解するものであれ
ば、特に限定されないが、例えば、トルエン、キシレン
等の芳香族炭化水素、N−メチルピロリドン等の有機溶
媒が挙げられる。
The solvent is not particularly limited as long as it can dissolve the aromatic diamine and the aromatic tetracarboxylic dianhydride, and examples thereof include aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and N-methylpyrrolidone. The organic solvent of.

【0016】多孔質層の形成は、湿式凝固法、乾式凝固
法、延伸法など種々の製膜法が挙げられるが、湿式凝固
法によれば連続気泡多孔質膜が得られ好ましい。湿式凝
固法では、一般的に、溶剤に樹脂と添加剤等を溶解した
製膜原液(ドープ)を調製し、これを基材に塗布(キャ
スト)したものを凝固液に浸漬して溶剤置換させること
で、樹脂を凝固(ゲル化)させ、その後、凝固液等を乾
燥除去するなどして多孔質層を得る。
The porous layer can be formed by various film forming methods such as a wet coagulation method, a dry coagulation method and a stretching method. The wet coagulation method is preferable because an open cell porous film can be obtained. In the wet coagulation method, generally, a film-forming stock solution (dope) is prepared by dissolving a resin, an additive, etc. in a solvent, which is applied (cast) to a substrate and immersed in a coagulating solution to replace the solvent. As a result, the resin is coagulated (gelled), and then the coagulation liquid or the like is dried and removed to obtain a porous layer.

【0017】この際、ポリマー溶液を銅箔上に塗布し、
多孔質化していないフィルム層や多孔質層を直接銅箔上
に形成させる事も可能である。
At this time, the polymer solution was applied onto the copper foil,
It is also possible to directly form a non-porous film layer or porous layer on the copper foil.

【0018】なお、ポリマー溶液を湿式凝固法における
ドープは、好ましくは-20〜40℃の温度範囲で塗布され
る。また、凝固液としては用いる樹脂を溶解せずに、上
記溶剤と相溶性を有するものであれば、限定されない
が、水やメタノール、エタノール、イソプロピルアルコ
ール等のアルコール類及びこれらの混合液が用いられ、
特に水が好適に用いられる。浸漬時の凝固液の温度は特
に限定されないが、好ましくは0〜50℃の温度である。
The dope of the polymer solution in the wet coagulation method is preferably applied in the temperature range of -20 to 40 ° C. The coagulating liquid is not limited as long as it does not dissolve the resin used and is compatible with the above-mentioned solvent, but water, methanol, ethanol, alcohols such as isopropyl alcohol, and mixed liquids thereof are used. ,
Water is particularly preferably used. The temperature of the coagulating liquid during immersion is not particularly limited, but is preferably 0 to 50 ° C.

【0019】製膜原液のポリマー濃度は、5重量%から2
5重量%の範囲が好ましく、特に、より優れた強度を有
する多孔質成型体を得るためには、7重量%以上であり
高空孔率を有する多孔質成型体を得るためには、20重量
%以下がより好ましい。濃度が高すぎると、粘度が高く
なりすぎて取り扱いが困難になるし、濃度が低すぎると
多孔質膜が形成できないからである。
The polymer concentration of the film-forming stock solution is from 5% by weight to 2
The range of 5% by weight is preferable, and in particular, in order to obtain a porous molded body having more excellent strength, it is 7% by weight or more, and in order to obtain a porous molded body having a high porosity, 20% by weight is preferable. The following is more preferable. This is because if the concentration is too high, the viscosity becomes too high and handling becomes difficult, and if the concentration is too low, the porous film cannot be formed.

【0020】孔径形状や孔径コントロールのために硝酸
リチウムのような無機物やポリビニルピロリドンのよう
な有機物を添加することもできる。添加物の濃度は溶液
中に1重量%から10重量%まで添加するのが好ましい。
硝酸リチウムを添加すると溶剤と凝固液との置換速度が
速く、スポンジ構造の中にフィンガーボイド構造(指状
にボイドを有する構造)を形成できる。ポリビニルピロ
リドンのような凝固スピードを遅くする添加剤を加える
と、スポンジ構造が均一に広がった多孔質層を得ること
ができる。
Inorganic substances such as lithium nitrate and organic substances such as polyvinylpyrrolidone can be added to control the shape and size of the pores. The concentration of the additive is preferably 1 wt% to 10 wt% in the solution.
When lithium nitrate is added, the substitution speed of the solvent and the coagulating liquid is high, and a finger void structure (a structure having finger-like voids) can be formed in the sponge structure. By adding an additive such as polyvinylpyrrolidone that slows the coagulation speed, a porous layer having a sponge structure uniformly spread can be obtained.

【0021】ドープは一定の厚みに塗布し、水等の凝固
液中に浸積して凝固させたり、水蒸気雰囲気下に放置し
て凝固した後、水中に浸積するなどして、脱溶され多孔
質層となる。多孔質層の形成後、凝固液から取り出した
後、乾燥する。乾燥温度は特に制限されないが、200℃
以下での乾燥が望ましい。
The dope is applied to a certain thickness and immersed in a coagulating liquid such as water to coagulate, or left to stand in a steam atmosphere to coagulate and then immersed in water to be dissolved. It becomes a porous layer. After forming the porous layer, the porous layer is taken out from the coagulating liquid and then dried. The drying temperature is not particularly limited, but is 200 ° C.
The following drying is desirable.

【0022】形成した多孔質層、フィルム層は、最終的
に200〜500℃で熱処理して、前駆体(ポリアミド酸)を
加熱閉環させてポリイミド化する。
The formed porous layer and film layer are finally heat-treated at 200 to 500 ° C. to heat-ring-close the precursor (polyamic acid) to form a polyimide.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】(実施例1)窒素フローが可能な
グローブボックス中で、モル比85:15で混合した芳香族
ジアミンであるPPD及びDDEを、N−メチルピロリドンに
加え室温で撹拌した。次いで、芳香族ジアミン1molに対
し、酸無水物であるsBPDAを1mol加え1時間ほど窒素フ
ロー中で撹拌し、10wt%のポリアミド酸溶液を得た。得
られたポリアミド酸溶液を厚さ18μmの銅箔1に塗布し、
水の入った凝固槽中に浸漬し水と接触させゲル化(凝
固)させた。これを取り出し、120℃で十分に乾燥を行
ない、さらに400℃で30分処理しイミド化させ多孔質
ポリイミドフィルム2を銅箔1上に形成し、銅箔付き多孔
質ポリイミドフィルム3を作成した。図1は本実施例に
よって得られた銅箔付多孔質積層板3の断面図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (Example 1) In a glove box capable of nitrogen flow, aromatic diamines PPD and DDE mixed at a molar ratio of 85:15 were added to N-methylpyrrolidone and stirred at room temperature. . Next, 1 mol of sBPDA, which is an acid anhydride, was added to 1 mol of aromatic diamine, and the mixture was stirred for 1 hour in a nitrogen flow to obtain a 10 wt% polyamic acid solution. The obtained polyamic acid solution was applied to a copper foil 1 having a thickness of 18 μm,
It was immersed in a coagulation tank containing water and brought into contact with water to cause gelation (coagulation). This was taken out, sufficiently dried at 120 ° C., further treated at 400 ° C. for 30 minutes and imidized to form a porous polyimide film 2 on the copper foil 1, and a porous polyimide film 3 with a copper foil was prepared. FIG. 1 is a cross-sectional view of a porous laminated plate 3 with a copper foil obtained in this example.

【0024】本実施例における銅箔1へのポリアミド酸
溶液の塗付後、凝固槽中に浸漬させることによる凝固は
銅箔1を回転する複数のロールによって連続的に送給す
ることによって行うことができる。
After the polyamic acid solution is applied to the copper foil 1 in this embodiment, the coagulation by immersing it in the coagulation tank is performed by continuously feeding the copper foil 1 by a plurality of rotating rolls. You can

【0025】(実施例2)実施例1で作成したポリアミ
ド酸溶液を用い、ポリアミド酸溶液を厚さ18μmの銅箔1
に塗布し、水中に浸漬し水と接触させゲル化させた。こ
の時凝固槽中の水温は実施例1より高くして行った。得
られたゲルは実施例1同様の操作で銅箔付き多孔質積層
板3を作成した。多孔質積層板の構成は実施例1に図1
と同様である。
Example 2 Using the polyamic acid solution prepared in Example 1, the polyamic acid solution was added to a copper foil 1 having a thickness of 18 μm.
Was applied to, and immersed in water to bring into contact with water to cause gelation. At this time, the water temperature in the coagulation tank was set higher than in Example 1. The obtained gel was processed in the same manner as in Example 1 to prepare a porous laminate 3 with a copper foil. The structure of the porous laminate is shown in FIG.
Is the same as.

【0026】(実施例3)窒素フローが可能なグローブ
ボックス中で、K.J.Olioier,J.Polymer Sci.,A-1,3,137
3(1965)に記載された方法で、PPD及びDDEを、モル比8
5:15となるように加え、次いで芳香族ジアミンに対
し、酸無水物であるsBPDAを等mol加え1時間ほど窒素フ
ロー中で撹拌し、10wt%のポリアミド酸溶液を得た。こ
れを厚さ18μmの銅箔1に塗布してフィルム層4を形成し
た(この段階ではイミド化していない)。次いで実施例
1同様な操作により、フィルム層4上に多孔質ポリイミ
ドフィルム2を得(多孔質層を形成する際熱処理をし、
フィルム層、多孔質層ともにイミド化する。)、多孔質
層及びフィルム層が積層した銅箔付フィルム層積層多孔
質積層板5を作成した。図2は本実施例によって得られ
た銅箔付フィルム層積層多孔質積層板5の断面図であ
る。
(Example 3) KJOlioier, J. Polymer Sci., A-1,3,137 in a glove box capable of nitrogen flow.
3 (1965), PPD and DDE in a molar ratio of 8
The mixture was added in an amount of 5:15, and then sBPDA, which is an acid anhydride, was added to the aromatic diamine in an amount of 1 mol, and the mixture was stirred in a nitrogen flow for about 1 hour to obtain a 10 wt% polyamic acid solution. This was applied to a copper foil 1 having a thickness of 18 μm to form a film layer 4 (not imidized at this stage). Then, by the same operation as in Example 1, a porous polyimide film 2 is obtained on the film layer 4 (heat treatment is performed when forming the porous layer,
Both the film layer and the porous layer are imidized. ), And a copper foil-attached film layer-laminated porous laminate 5 in which a porous layer and a film layer were laminated. FIG. 2 is a cross-sectional view of the film layer-laminated porous laminate 5 with a copper foil obtained in this example.

【0027】(実施例4)窒素フローが可能なグローブ
ボックス中で、K.J.Olioier,J.Polymer Sci.,A-1,3,137
3(1965)に記載された方法で、PPD及びDDEを、モル比8
5:15となるように加え、次いで芳香族ジアミンに対
し、酸無水物であるsBPDAを等mol加え1時間ほど窒素フ
ロー中で撹拌し、10wt%のポリアミド酸溶液を得た。こ
れを厚さ18μmの銅箔1に塗布してフィルム層4を形成し
た(この段階ではイミド化していない)。次いで実施例
2同様な操作により、フィルム層4上に多孔質ポリイミ
ドフィルム2を得(多孔質層を形成する際熱処理をし、
フィルム層、多孔質層ともにイミド化する。)、多孔質
層及びフィルム層が積層した銅箔付フィルム層積層多孔
質ポリイミドフィルム5を作成した。銅箔付フィルム層
積層多孔質ポリイミドフィルムの構成は実施例3の図2
と同様である。
Example 4 KJOlioier, J. Polymer Sci., A-1,3,137 in a glove box capable of nitrogen flow.
3 (1965), PPD and DDE in a molar ratio of 8
The mixture was added in an amount of 5:15, and then sBPDA, which is an acid anhydride, was added to the aromatic diamine in an amount of 1 mol, and the mixture was stirred in a nitrogen flow for about 1 hour to obtain a 10 wt% polyamic acid solution. This was applied to a copper foil 1 having a thickness of 18 μm to form a film layer 4 (not imidized at this stage). Then, by the same operation as in Example 2, a porous polyimide film 2 was obtained on the film layer 4 (heat treatment was performed when forming the porous layer,
Both the film layer and the porous layer are imidized. ), A copper foil-attached film layer-laminated porous polyimide film 5 in which a porous layer and a film layer were laminated. The structure of the film layer laminated porous polyimide film with copper foil is shown in FIG.
Is the same as.

【0028】(実施例5)実施例1〜4により作成した
本発明の多孔質ポリイミドフィルムをFeCl3/HClエッチ
ング液(和光純薬社製)を用いて、銅箔をエッチアウト
し多孔質フィルムを作成した。
(Example 5) The porous polyimide film of the present invention prepared in Examples 1 to 4 was etched out of a copper foil using an FeCl 3 / HCl etching solution (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) to form a porous film. It was created.

【0029】実施例1〜4及び比較例1の表面及び断面
の構造をSEMにより観察した。図3は実施例1で作成し
たフィルムの断面写真(a)及びその表面(b)、図4
は実施例2で作成したフィルムの断面写真(a)及びそ
の表面(b)を示すものである。図3は棒状の孔のフィ
ンガーボイド孔8が厚さ方向に対して傾斜して形成さ
れ、スキン層6は銅箔側(紙面下)がその表面側(紙面
上)より緻密なものであり、表面側には表面孔11が径約
1μm以下の孔を有する。又、フィンガーボイド孔8は銅
箔側でその上よりも厚さ方向に対して大きく傾斜し、銅
箔側が大き径を有している。その表面は凹凸があり、波
打った模様を有する。図4の孔はインクボトル孔9と楕
円形孔10の混在型を有し、インクボトル孔9は銅箔側
(紙面下)の径がその表面側(紙面上)より大きく、
又、表面側には表面孔11が径約1μm以下の孔を有する。
いずれの形状においても長軸aが10μm以上の大孔径の空
孔が存在し、上下のスキン層6と直径0.01〜0.5μmの連
続孔からなるスポンジ状の構造体7から構成されてい
る。
The structures of the surface and cross section of Examples 1 to 4 and Comparative Example 1 were observed by SEM. FIG. 3 is a cross-sectional photograph (a) of the film prepared in Example 1 and its surface (b), and FIG.
3A shows a cross-sectional photograph (a) of the film prepared in Example 2 and its surface (b). In FIG. 3, the finger void holes 8 of rod-like holes are formed to be inclined with respect to the thickness direction, and the skin layer 6 is denser on the copper foil side (below the paper surface) than on the surface side (above the paper surface). On the front side, surface hole 11 has a diameter of about
It has pores of 1 μm or less. The finger void holes 8 are inclined on the copper foil side with respect to the thickness direction more than on the copper foil side, and have a large diameter on the copper foil side. The surface is uneven and has a wavy pattern. The hole of FIG. 4 has a mixed type of an ink bottle hole 9 and an elliptical hole 10, and the diameter of the ink bottle hole 9 is larger on the copper foil side (below the paper surface) than on the surface side (above the paper surface).
Further, the surface side has a surface hole 11 having a diameter of about 1 μm or less.
In any of the shapes, there is a large hole having a major axis a of 10 μm or more, and the upper and lower skin layers 6 and a sponge-like structure 7 composed of continuous holes having a diameter of 0.01 to 0.5 μm.

【0030】前述のフィンガーボイド型の断面は指のよ
うな形状であり、長軸aが直線、曲線あるいは屈曲した
形状であってもよい。インクボトル型の断面は長軸aの
垂直方向に対し入り口が小さな孔径で、内部が大きな孔
径になっているものである。
The above-mentioned finger void type cross section has a finger-like shape, and the major axis a may be straight, curved or bent. The cross section of the ink bottle type is such that the entrance has a small hole diameter and the inside has a large hole diameter with respect to the direction perpendicular to the major axis a.

【0031】表面すなわちスキン層はフィンガーボイ
ド、インクボトル型いずれの場合も0.01〜0.5μmの表面
孔11があいている。表面孔は内部の大孔径の空孔(イン
クボトル孔9、フィンガーボイド孔8、楕円形孔10)と連
続している。
The surface, that is, the skin layer, has a surface void 11 of 0.01 to 0.5 μm in both the finger void type and the ink bottle type. The surface holes are continuous with large holes (ink bottle holes 9, finger void holes 8, elliptical holes 10) inside.

【0032】実施例3,4のフィルムはそれぞれ実施例
1,2のフィルムに緻密層が積層しているものであり、
多孔質の構造は実施例1,2と同様であった。
The films of Examples 3 and 4 are obtained by laminating a dense layer on the films of Examples 1 and 2, respectively.
The porous structure was the same as in Examples 1 and 2.

【0033】次に、実施例1〜4の各種物性評価を行っ
た。なお、物性評価法は以下のように行った。 [空孔率];多孔化しない試料(NP)及び多孔質体(p)
の片面の面積S(cm2)、厚みd(cm)及び重量m(g)と
その形成材料の比重D(g/cm3)とから、下式により算出
できる。 全空孔率(%)=[1-(Dp/DNP)]*100 ={1-[mp/(Sp*dp)]/[mNP/(SNP*dNP)])×100 [孔径];多孔質体の断面の走査電子顕微鏡写真より測定
した。 [厚み];5/100mm精度のノギスにより測定した。 [誘電特性];アジレントテクノロジー社製ネットワーク
アナライザーに関東電子社製共振器を接続し、10GHzの
誘電率及び誘電特性を測定した。
Next, various physical properties of Examples 1 to 4 were evaluated. In addition, the physical property evaluation method was performed as follows. [Porosity]; non-porous sample (NP) and porous body (p)
From the area S (cm 2 ) on one side, the thickness d (cm) and the weight m (g), and the specific gravity D (g / cm 3 ) of the forming material thereof, the following formula can be used. Total porosity (%) = [1- (Dp / DNP)] * 100 = {1- [mp / (Sp * dp)] / [mNP / (SNP * dNP)]) x 100 [pore diameter]; It was measured from a scanning electron micrograph of a cross section of the body. [Thickness]: Measured with a caliper having an accuracy of 5/100 mm. [Dielectric property]: A network analyzer manufactured by Agilent Technologies was connected to a resonator manufactured by Kanto Electronics Co., Ltd., and the dielectric constant and the dielectric property at 10 GHz were measured.

【0034】表1は各種物性評価結果を示したものであ
る。実施例1〜4いずれのサンプルにおいても誘電率は
2以下で、誘電正接が0.003以下の低誘電特性を有するフ
ィルムを得ることができた。
Table 1 shows the evaluation results of various physical properties. The dielectric constant of each of the samples of Examples 1 to 4 is
A film having a low dielectric constant of less than 2 and a dielectric loss tangent of 0.003 or less could be obtained.

【0035】[0035]

【表1】 [Table 1]

【0036】(実施例6)図5は、実施例3,4で作成
した銅箔付積層板を用いて、フォトリソグラフィーによ
り銅箔をエッチングすることにより配線を形成する工程
図である。多孔質ポリイミドフィルム2、フィルム層4、
銅箔1からなる多孔質ポリイミドフィルムを用いた配線
用基板の銅箔面に、ステップ1のように東京応化工業製
フィルムレジスト(HR-130)を100℃、3kg/cm2でラミネ
ートし、銅箔1上にレジストフィルム12を積層した。つ
いで40μmのライン/スペースで配線を描いたマスクを装
着し超高圧水銀ランプで30mJ/cm2で露光し、0.5%Na2CO3
水溶液を用いスプレーで現像し、ステップ2のように銅
箔8上にレジストフィルム12を加工しマスクを形成し
た。
(Embodiment 6) FIG. 5 is a process diagram of forming wiring by etching the copper foil by photolithography using the copper foil-clad laminates prepared in Examples 3 and 4. Porous polyimide film 2, film layer 4,
On the copper foil surface of the wiring board using the porous polyimide film made of copper foil 1, the film resist (HR-130) manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. is laminated at 100 ° C. and 3 kg / cm 2 as in Step 1, A resist film 12 was laminated on the foil 1. Then, attach a mask with wiring drawn at 40 μm lines / spaces, expose with a super-high pressure mercury lamp at 30 mJ / cm 2 , and apply 0.5% Na 2 CO 3
It was developed by spraying with an aqueous solution, and as in step 2, the resist film 12 was processed on the copper foil 8 to form a mask.

【0037】次にマスク面にスプレーを用いて、和光純
薬社製FeCl3/HClエッチング液を拭きつけ、ステップ3
に示すように銅箔をエッチングした。エッチング後配線
基板は流水で1分間洗浄し、希HClに2分間浸漬し、さ
らに流水で1分間洗浄した。その後、2%NaOH水溶液に浸
漬しレジストフィルムを剥離させた。レジスト剥離後に
流水で2分間洗浄し、120℃で60分乾燥してステップ
4のようなフィルム層4上に銅配線13とスペース14を形
成した回路基板15を得た。
Next, using a spray on the mask surface, the FeCl 3 / HCl etching liquid manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd. is wiped, and step 3
The copper foil was etched as shown in FIG. After the etching, the wiring board was washed with running water for 1 minute, immersed in diluted HCl for 2 minutes, and further washed with running water for 1 minute. Then, the resist film was peeled off by immersing in a 2% NaOH aqueous solution. After removing the resist, it was washed with running water for 2 minutes and dried at 120 ° C. for 60 minutes to obtain a circuit board 15 in which copper wirings 13 and spaces 14 were formed on the film layer 4 as in step 4.

【0038】このように作成した回路基板は、本発明の
多孔質ポリイミドフィルムを使用しているため、伝播速
度が大きく情報処理速度が向上し、また低損失で消費電
力を小さくした回路基板を得ることができる。
Since the circuit board thus prepared uses the porous polyimide film of the present invention, a circuit board having a large propagation speed, an improved information processing speed, a low loss and a small power consumption is obtained. be able to.

【0039】(実施例7)配線基板の伝送特性を評価す
るために、実施例2で作成した配線用基板を実施例5の
プロセスに従いフォトリソグラフィーにより銅箔をエッ
チングし、コプレーナ及びマイクロストリップラインを
作成した。なお、伝送特性の評価はカットバック法を用
いて、10GHzの伝送損失を測定した。
(Embodiment 7) In order to evaluate the transmission characteristics of the wiring board, the wiring board prepared in Example 2 was etched with a copper foil by photolithography according to the process of Example 5 to form a coplanar and a microstrip line. Created. The transmission characteristic was evaluated by measuring the transmission loss at 10 GHz by using the cutback method.

【0040】(実施例8)配線基板の伝送特性を評価す
るために、実施例4で作成した配線用基板を用いて実施
例6同様にコプレーナ及びマイクロストリップラインを
形成し、カットバック法を用いて10GHzの伝送損失を測
定した。
(Embodiment 8) In order to evaluate the transmission characteristics of a wiring board, a coplanar and a microstrip line are formed in the same manner as in Embodiment 6 using the wiring board prepared in Embodiment 4, and a cutback method is used. Transmission loss at 10 GHz was measured.

【0041】(比較例1)配線基板の伝送特性を評価す
るために、実施例2で作成した配線用基板の銅箔と反対
側のスキン層面にフィルムレジストを張り付けたサンプ
ルを作成した。実施例6と異なり表面のスキン層に存在
する穴をなくしたフィルムを模擬したサンプルである。
スキン層面に張り付けたフィルムレジストは最終工程の
NaOH水溶液浸漬により剥離した。その他は実施例5のプ
ロセスに従いフォトリソグラフィーにより銅箔をエッチ
ングし、コプレーナ及びマイクロストリップラインを作
成した。なお、伝送特性の評価は実施例6同様にカット
バック法を用いて、10GHzの伝送損失を測定した。
(Comparative Example 1) In order to evaluate the transmission characteristics of the wiring board, a sample was prepared by pasting a film resist on the skin layer surface of the wiring board prepared in Example 2 on the side opposite to the copper foil. Unlike in Example 6, this is a sample simulating a film in which the holes present in the skin layer on the surface are eliminated.
The film resist attached to the skin layer surface is the final step.
It was peeled off by immersion in a NaOH aqueous solution. Otherwise, the copper foil was etched by photolithography according to the process of Example 5 to form a coplanar and a microstrip line. The transmission characteristics were evaluated by using the cutback method as in Example 6 and measuring the transmission loss at 10 GHz.

【0042】(比較例2)配線基板の伝送特性を評価す
るために、実施例4で作成した配線用基板を用いて比較
例2同様に銅箔と反対側の表面スキン層の穴をふさいだ
状態で、コプレーナ及びマイクロストリップラインを形
成し、カットバック法を用いて10GHzの伝送損失を測定
した。
(Comparative Example 2) In order to evaluate the transmission characteristics of the wiring board, the wiring board prepared in Example 4 was used to close the holes in the surface skin layer on the side opposite to the copper foil in the same manner as in Comparative Example 2. In this state, coplanar and microstrip lines were formed, and the transmission loss at 10 GHz was measured using the cutback method.

【0043】表2は、実施例6、7及び比較例1、2の
伝送特性を評価した結果を示したものである。実施例
6,7はスキン層面にフィルムレジストを貼り付け表面
の穴をふさいだ比較例1,2に比べ伝送損失が小さな値
となっている。スキン層表面に内部の空孔と連続した穴
があいていることにより、エッチング液の残存を防止す
ることができる。
Table 2 shows the results of evaluating the transmission characteristics of Examples 6 and 7 and Comparative Examples 1 and 2. In Examples 6 and 7, the transmission loss was smaller than that of Comparative Examples 1 and 2 in which a film resist was attached to the skin layer surface to close the holes on the surface. Since the surface of the skin layer has a hole continuous with the inner hole, the etching solution can be prevented from remaining.

【0044】多孔質層が連続孔である場合、エッチング
し配線を作成する際に多孔質層にエッチング液が浸透
し、エッチング液が空孔内に残存しやすく、十分な洗浄
が必要である。本発明の多孔質ポリイミドは、表面層で
あるスキン層と内部のスポンジ状の構造体で形成された
ボイド構造を有する。スキン層は0.01〜0.5μmの穴があ
いており、この穴の存在により内部に侵入したエッチン
グ液が排出しやすくなっており、洗浄が容易となる。ま
た、伝送損失が12dB/μm以下の小さな値を得られ、高速
情報処理化、低消費電力化した伝送線路を有した基板を
得ることができる。
When the porous layer has continuous pores, the etching solution permeates into the porous layer when the wiring is formed by etching, and the etching solution tends to remain in the pores, which requires sufficient cleaning. The porous polyimide of the present invention has a skin layer which is a surface layer and a void structure formed of an internal sponge-like structure. The skin layer has a hole of 0.01 to 0.5 μm, and the presence of this hole facilitates the discharge of the etching solution that has penetrated into the skin layer, which facilitates cleaning. Also, a small value of transmission loss of 12 dB / μm or less can be obtained, and a substrate having a transmission line with high-speed information processing and low power consumption can be obtained.

【0045】[0045]

【表2】 [Table 2]

【0046】(実施例9)本実施例では、実施例1、2
により作成した低誘電特性を有する多孔質ポリイミド配
線板を、携帯通信機器用の内臓アンテナに適用した例を
示すものである。低誘電特性を有する多孔質ポリイミド
配線板は、高周波を使用する回路において伝送損失を低
減することができ、携帯通信機器のアンテナ板に適用す
ることで低電力化が可能となる。
(Embodiment 9) In this embodiment, Embodiments 1 and 2 are used.
2 shows an example in which the porous polyimide wiring board having a low dielectric property produced by the method is applied to a built-in antenna for a mobile communication device. A porous polyimide wiring board having a low dielectric property can reduce transmission loss in a circuit using high frequency, and can be applied to an antenna board of a mobile communication device to reduce power consumption.

【0047】図6はこの発明の一の実施の形態にかかる
携帯電話機の内蔵アンテナ構造を示した要部の側面図で
ある。携帯電話機(携帯通信機)は、受話器、液晶表示
部、各種の機能キー、数字キー、送話器および送信用の
伸縮可能なロッドアンテナ等を本体ケースに備える。図
示しないが、本体ケース内には、周知の制御回路基板、
バッテリ、インターフェース基板、受信回路基板、送信
回路基板およびRF回路基板等が収容され、このRF回路基
板がRFパックケーシング内に収容される。
FIG. 6 is a side view of the essential part showing the built-in antenna structure of the mobile phone according to the embodiment of the present invention. A mobile phone (portable communication device) includes a receiver, a liquid crystal display, various function keys, numeric keys, a transmitter, an extendable rod antenna for transmission, and the like in a main body case. Although not shown, a well-known control circuit board,
A battery, an interface board, a receiving circuit board, a transmitting circuit board, an RF circuit board, and the like are housed, and the RF circuit board is housed in the RF pack casing.

【0048】RFパックケーシング16は、鉄板等の導電材
の板材を直方体形状に接合して構成されている。図示し
ないが、このRFパックケーシング16は、メッキが施され
た給電部を有し、この給電部が同軸ケーブル等によって
上述した制御回路基板に接続される。
The RF pack casing 16 is constructed by joining plate members made of a conductive material such as an iron plate into a rectangular parallelepiped shape. Although not shown, the RF pack casing 16 has a plated power feeding portion, and the power feeding portion is connected to the control circuit board described above by a coaxial cable or the like.

【0049】アンテナ板17は、多孔質ポリイミドフィル
ム18とアンテナパターン19からなり、RFパッケーシング
16にエポキシ樹脂を用いて貼り付けられている。このア
ンテナ板17は、給電部20に同軸ケーブルが熱圧着等によ
り接続し、RFパックケーシング16面との間に静電容量を
確保して受信用の内蔵アンテナを構成する。同軸ケーブ
ルは制御回路基板に結線され、アンテナ板17を制御回路
基板と接続する。
The antenna plate 17 comprises a porous polyimide film 18 and an antenna pattern 19, and is an RF package casing.
It is attached to 16 using epoxy resin. The antenna plate 17 has a coaxial cable connected to the power feeding unit 20 by thermocompression bonding or the like, and secures a capacitance between itself and the surface of the RF pack casing 16 to form a built-in antenna for reception. The coaxial cable is connected to the control circuit board to connect the antenna plate 17 to the control circuit board.

【0050】この実施の形態にあっては、RFパックケー
シング16とアンテナ板17とにより受信用の内蔵アンテナ
が構成され、この受信用の内蔵アンテナが図6に示すよ
うな低誘電特性を有する多孔質ポリイミドを誘電体層と
して用いているため、損失が小さいアンテナ板を作成す
ることができる。このように作成したアンテナ板は、前
述の本発明の多孔質ポリイミドフィルムを使用すること
により、伝播速度が大きく情報処理速度が向上し、また
低損失で消費電力を小さくしたアンテナ板を得ることが
できる。
In this embodiment, the RF pack casing 16 and the antenna plate 17 constitute a built-in antenna for reception, and this built-in antenna for reception is a porous body having a low dielectric property as shown in FIG. Since high quality polyimide is used as the dielectric layer, an antenna plate with low loss can be produced. The antenna plate prepared in this manner can obtain an antenna plate having a large propagation speed, a high information processing speed, and a low loss and a small power consumption by using the above-described porous polyimide film of the present invention. it can.

【0051】(実施例10)本実施例は、同じく実施例
1、2により作成した低誘電特性を有する多孔質ポリイ
ミド配線板を、自動車用の車載レーダのアンテナ等に適
用した高周波送受信装置の例を示すものである。低誘電
特性を有する多孔質ポリイミド配線板は、高周波特にミ
リ波を使用する回路において伝送損失を低減することが
重要で、車載レーダのアンテナ板に適用することで低電
力化、高信頼性化が可能となる。
(Embodiment 10) This embodiment is an example of a high frequency transmitter / receiver in which the porous polyimide wiring board having low dielectric properties similarly prepared in Embodiments 1 and 2 is applied to an antenna of an in-vehicle radar for an automobile or the like. Is shown. It is important to reduce transmission loss in a circuit using high frequencies, especially millimeter waves, in a porous polyimide wiring board with low dielectric properties, and by applying it to an antenna plate of a vehicle-mounted radar, low power consumption and high reliability can be achieved. It will be possible.

【0052】図7は本実施例の高周波送受信装置の断面
図である。金属性のベースプレート21の上面にアンテナ
を構成する多孔質ポリイミドから成るアンテナ基板22
を、下面に送受信回路を構成する誘電体から成る回路基
板23と半導体チップ(MMIC)24を接着する。回路基板23
の表面に設けられた回路パタン導体30とアンテナ基板22
の表面に設けられたアンテナパターン導体27とは同軸線
路の中心導体26により接続されている。MMICはパッケー
ジされていないため、送受信回路は金属で作られた送受
信回路カバー25により気密封止されている。送受信回路
カバー25の一部分に電源やIF信号用の外部端子32が設け
られ、これらは絶縁物28、29により、それぞれ導体板
(ベースプレート)とカバーとから電気的に絶縁されて
いる。外部端子32及び送受信回路と回路パタン導体及び
半導体チップとはボンディングワイヤワイヤ31により接
続されている。なお、半導体チップ24は、回路基板23上
に直接接続される、いわゆるフリップチップ実装された
構造でも良い。また、ベースプレート21と送受信回路カ
バー25は、プラスチック等の非金属で形成し、その表面
を金属のメッキや蒸着等により覆ったものでも良い。
FIG. 7 is a sectional view of the high frequency transmitting / receiving apparatus of this embodiment. Antenna substrate 22 made of porous polyimide that forms an antenna on the upper surface of metallic base plate 21.
A semiconductor substrate (MMIC) 24 and a circuit board 23 made of a dielectric material that constitutes a transmission / reception circuit are bonded to the lower surface. Circuit board 23
Circuit pattern conductor 30 and antenna board 22 provided on the surface of
An antenna pattern conductor 27 provided on the surface of is connected by a central conductor 26 of the coaxial line. Since the MMIC is not packaged, the transceiver circuit is hermetically sealed by the transceiver circuit cover 25 made of metal. External terminals 32 for power supply and IF signals are provided in a part of the transmission / reception circuit cover 25, and these are electrically insulated from the conductor plate (base plate) and the cover by insulators 28 and 29, respectively. The external terminal 32, the transmission / reception circuit, the circuit pattern conductor, and the semiconductor chip are connected by a bonding wire wire 31. The semiconductor chip 24 may have a so-called flip-chip mounted structure that is directly connected to the circuit board 23. Further, the base plate 21 and the transmission / reception circuit cover 25 may be formed of non-metal such as plastic and the surfaces thereof may be covered by metal plating, vapor deposition or the like.

【0053】図8は高周波送受信装置の裏面から見た図
である。点線は表面に接着されたアンテナ基板22を示
す。この実施の形態にあっては、この高周波送受信装置
のアンテナ基板が図6に示すような低誘電特性及び高信
頼性を有する多孔質ポリイミドを誘電体層として用いて
いるため、伝播速度が大きく情報処理速度が向上し、ま
た低損失で消費電力を小さくしたミリ波用アンテナ板を
作成することができる。
FIG. 8 is a view of the high-frequency transmitting / receiving apparatus as viewed from the back side. The dotted line shows the antenna substrate 22 adhered to the surface. In this embodiment, since the antenna substrate of this high-frequency transmitting / receiving device uses porous polyimide having low dielectric properties and high reliability as shown in FIG. 6 as the dielectric layer, the propagation speed is large. A millimeter-wave antenna plate with improved processing speed, low loss, and low power consumption can be produced.

【0054】[0054]

【発明の効果】本発明によれば、強度の高い高空孔率を
有する多孔質ポリイミドフィルムとその配線基板及びそ
れを用いた電子部品、携帯電話並びに高周波送受信装置
を提供することができる。特に、その基板は高周波回路
基板として、電子機器などのプリント配線基板や衛星通
信、移動体無線及びミリ波レーダーに利用できるもので
ある。
According to the present invention, it is possible to provide a porous polyimide film having high porosity and high strength, a wiring board for the same, an electronic component using the same, a mobile phone, and a high-frequency transceiver. In particular, the substrate can be used as a high-frequency circuit substrate for printed wiring boards for electronic devices, satellite communications, mobile radio and millimeter wave radar.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の多孔質ポリイミドフィルムの断面
図。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a porous polyimide film of the present invention.

【図2】 本発明のフィルム層を有する多孔質ポリイミ
ドフィルムの断面図。
FIG. 2 is a sectional view of a porous polyimide film having a film layer of the present invention.

【図3】 本発明のフィンガー型ボイドを有する多孔質
ポリイミドフィルムの断面写真。
FIG. 3 is a cross-sectional photograph of a finger-type void-containing porous polyimide film of the present invention.

【図4】 本発明のインクボトル型ボイドを有する多孔
質ポリイミドフィルムの断面写真。
FIG. 4 is a cross-sectional photograph of a porous polyimide film having an ink bottle type void of the present invention.

【図5】 本発明の多孔質ポリイミド配線基板の製造工
程を示す断面図。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the porous polyimide wiring board of the present invention.

【図6】 本発明の多孔質ポリイミドフィルムを用いた
内蔵アンテナを有する携帯電話機の側面図。
FIG. 6 is a side view of a mobile phone having a built-in antenna using the porous polyimide film of the present invention.

【図7】 本発明の多孔質ポリイミドフィルムを用いた
アンテナ板を有する高周波送受信装置の断面図。
FIG. 7 is a cross-sectional view of a high frequency transmitter / receiver having an antenna plate using the porous polyimide film of the present invention.

【図8】 図7の高周波送受信装置の裏面の上面図。8 is a top view of the back surface of the high frequency transmitting / receiving device of FIG. 7. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…銅箔、2…多孔質ポリイミドフィルム、3…銅箔付き
多孔質積層板、4…フィルム層、5…銅箔付きフィルム層
積層多孔質積層板、6…スキン層、7…スポンジ状の構造
体、8…フィンガーボイド孔、9…インクボトル孔、10…
楕円形孔、11…表面孔、12…レジストフィルム、13…銅
配線、14…スペース、15…回路基板、16…RFパックケー
シング、17…アンテナ板、18…多孔質ポリイミドフィル
ム、19…アンテナパターン、20…給電部、21…ベースプ
レート、22…アンテナ基板、23…回路基板、24…半導体
チップ(MMIC)、25…送受信回路カバー、26…中心導
体、27…アンテナパターン導体、28,29…絶縁物、30…
回路パタン導体、31…ボンディングワイヤワイヤ、32…
IF信号用の外部端子。
1 ... Copper foil, 2 ... Porous polyimide film, 3 ... Copper foil-attached porous laminate, 4 ... Film layer, 5 ... Copper foil-attached film layer laminated porous laminate, 6 ... Skin layer, 7 ... Sponge-like Structure, 8 ... Finger void hole, 9 ... Ink bottle hole, 10 ...
Elliptical hole, 11 ... Surface hole, 12 ... Resist film, 13 ... Copper wiring, 14 ... Space, 15 ... Circuit board, 16 ... RF pack casing, 17 ... Antenna plate, 18 ... Porous polyimide film, 19 ... Antenna pattern , 20 ... Feed unit, 21 ... Base plate, 22 ... Antenna board, 23 ... Circuit board, 24 ... Semiconductor chip (MMIC), 25 ... Transceiver cover, 26 ... Center conductor, 27 ... Antenna pattern conductor, 28, 29 ... Insulation Things, 30 ...
Circuit pattern conductor, 31 ... Bonding wire Wire, 32 ...
External terminal for IF signal.

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 1/03 630 H05K 1/03 670A 670 3/00 R 3/00 C08L 79:08 // C08L 79:08 H01L 23/14 R (72)発明者 山田 真治 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 川島 敏行 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 (72)発明者 田原 伸治 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 (72)発明者 池田 健一 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 Fターム(参考) 4F074 AA74 CB37 CB43 CB45 DA03 DA13 DA47 4F100 AB01B AB10 AB33B AK49A BA42A DJ00A EH462 GB43 JG01B JG05A YY00A Front page continuation (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05K 1/03 630 H05K 1/03 670A 670 3/00 R 3/00 C08L 79:08 // C08L 79:08 H01L 23 / 14 R (72) Shinji Yamada, Inventor Shinji Yamachome 1-1-1, Omika-cho, Hitachi City, Ibaraki Hitachi Ltd. Hitachi Research Laboratory (72) Inventor Toshiyuki Kawashima 1-2-1, Shimohozumi, Ibaraki-shi, Osaka Nitto Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Shinji Tahara 1-2-2 Shimohozumi, Ibaraki-shi, Osaka Nitto Electric Works Co., Ltd. (72) Kenichi Ikeda 1-2-1, Shimohozumi, Ibaraki-shi, Osaka Nitto Denko Shares In-house F-term (reference) 4F074 AA74 CB37 CB43 CB45 DA03 DA13 DA47 4F100 AB01B AB10 AB33B AK49A BA42A DJ00A EH462 GB43 JG01B JG05A YY00A

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】多孔質層と、該多孔質層の両面に形成され
多孔質層より緻密なスキン層とを有し、前記多孔質層は
大部分が10μm以上の長さを有する孔を有し、誘電率が
2.0以下、誘電正接が0.003以下であることを特徴とする
多孔質ポリイミドフィルム。
1. A porous layer and a skin layer which is formed on both sides of the porous layer and is denser than the porous layer. Most of the porous layer has pores having a length of 10 μm or more. The dielectric constant
A porous polyimide film having a dielectric loss tangent of 2.0 or less and 0.003 or less.
【請求項2】多孔質層と、該多孔質層の両面に形成され
多孔質層より緻密なスキン層とを有し、前記多孔質層は
大部分が棒状の孔を有し、該孔は厚さ方向に対して傾斜
していることを特徴とする多孔質ポリイミドフィルム。
2. A porous layer, and a skin layer formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer, the porous layer having mostly rod-shaped pores. A porous polyimide film characterized by being inclined with respect to the thickness direction.
【請求項3】多孔質層と、該多孔質層の両面に形成され
多孔質層より緻密なスキン層とを有し、前記多孔質層は
楕円形状の孔と、厚さ方向に対して径の大きい孔とを有
することを特徴とする多孔質ポリイミドフィルム。
3. A porous layer, and a skin layer formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer, wherein the porous layer has elliptical pores and a diameter in the thickness direction. A porous polyimide film having large pores.
【請求項4】多孔質層と、該多孔質層の両面に形成され
多孔質層より緻密なスキン層とを有し、該スキン層の一
方は孔を有し、他方は前記一方の層より緻密な層を有す
ることを特徴とする多孔質ポリイミドフィルム。
4. A porous layer and a skin layer formed on both sides of the porous layer and denser than the porous layer, one of the skin layers having pores, and the other of the skin layers having the pores. A porous polyimide film having a dense layer.
【請求項5】請求項1〜4いずれかにおいて、前記スキ
ン層の一方と接触する部位に0.01〜0.5μmの穴が存在し
外部と連結した構造を特徴とする多孔質ポリイミドフィ
ルム。
5. A porous polyimide film according to any one of claims 1 to 4, which has a structure in which a hole of 0.01 to 0.5 μm is present at a portion in contact with one of the skin layers and is connected to the outside.
【請求項6】請求項1〜5のいずれかにおいて、前記孔
は、楕円形、フィンガーボイド型、インクボトル型又は
これらが混在した形状であることを特徴とする多孔質ポ
リイミドフィルム。
6. The porous polyimide film according to claim 1, wherein the holes have an elliptical shape, a finger void type, an ink bottle type, or a shape in which these are mixed.
【請求項7】導体箔上に樹脂層を有する多孔質ポリイミ
ド配線基板において、前記樹脂層が請求項1〜7のいず
れかに記載の多孔質ポリイミドフィルムからなることを
特徴とする多孔質ポリイミド配線基板。
7. A porous polyimide wiring board having a resin layer on a conductor foil, wherein the resin layer comprises the porous polyimide film according to any one of claims 1 to 7. substrate.
【請求項8】請求項1〜6のいずれかにおいて、一方の
表面に樹脂フィルムからなる伝送線路を有し、10GHzの
伝送損失が12dB/m以下であることを特徴とする多孔質ポ
リイミド基板。
8. A porous polyimide substrate according to claim 1, which has a transmission line made of a resin film on one surface thereof and has a transmission loss of 12 dB / m or less at 10 GHz.
【請求項9】導体箔上にポリアミド酸溶液の膜を形成
し、次いで前記導体箔と共に凝固溶液中に浸漬させて前
記ポリアミド酸溶液を凝固させた後、乾燥し、次いで加
熱処理によるイミド化処理することを特徴とする多孔質
ポリイミド配線用基板の製造法。
9. A film of a polyamic acid solution is formed on a conductor foil, which is then immersed in a coagulating solution together with the conductor foil to coagulate the polyamic acid solution, which is then dried and then imidized by heat treatment. A method of manufacturing a substrate for porous polyimide wiring, comprising:
【請求項10】銅箔上に芳香族ジアミンと芳香族テトラ
カルボン酸二無水物とを有するポリアミド酸溶液の膜を
形成し、次いで前記銅箔と共に水中に浸漬させて前記ポ
リアミド酸溶液を凝固させた後、乾燥し、次いで加熱処
理によるイミド化処理することを特徴とする多孔質ポリ
イミド配線用基板の製造法。
10. A film of a polyamic acid solution containing an aromatic diamine and an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride is formed on a copper foil, and then immersed in water together with the copper foil to coagulate the polyamic acid solution. A method for manufacturing a substrate for porous polyimide wiring, which comprises: drying, and then imidizing treatment by heat treatment.
【請求項11】請求項9又は10において、前記イミド
化処理後に前記導体箔又は銅箔をエッチングによって除
去することを特徴とする多孔質ポリイミドフィルムの製
造法。
11. The method for manufacturing a porous polyimide film according to claim 9, wherein the conductor foil or the copper foil is removed by etching after the imidization treatment.
【請求項12】請求項7又は8に記載の多孔質ポリイミ
ド配線基板、又は請求項9又は10に記載の多孔質ポリ
イミド配線用基板の製造法によって形成された多孔質ポ
リイミド配線基板を有することを特徴とする電子部品。
12. A porous polyimide wiring board according to claim 7 or 8, or a porous polyimide wiring board formed by the method for manufacturing a substrate for porous polyimide wiring according to claim 9 or 10. Characteristic electronic parts.
【請求項13】請求項7又は8に記載の多孔質ポリイミ
ド配線基板、又は請求項9又は10に記載の多孔質ポリ
イミド配線用基板の製造法によって形成された多孔質ポ
リイミド配線基板に導体が形成されたアンテナ板を有す
ることを特徴とする携帯電話。
13. A conductor is formed on the porous polyimide wiring board according to claim 7 or 8, or the porous polyimide wiring board formed by the method for manufacturing a porous polyimide wiring board according to claim 9 or 10. A mobile phone having a fixed antenna plate.
【請求項14】基板の一方の面にアンテナ板と、他方の
面に半導体素子を有する回路基板とが形成された高周波
送受信装置において、前記アンテナ板は請求項1〜6の
いずれかに記載の多孔質ポリイミドフィルム表面、又は
請求項10に記載の多孔質ポリイミドフィルムの製造法
によって形成された多孔質ポリイミドフィルムの表面に
導体が形成されていることを特徴とする高周波送受信装
置。
14. A high frequency transmitting / receiving device having an antenna plate on one surface of a substrate and a circuit board having a semiconductor element on the other surface thereof, wherein the antenna plate is according to any one of claims 1 to 6. A high frequency transmitting / receiving device, wherein a conductor is formed on the surface of the porous polyimide film or on the surface of the porous polyimide film formed by the method for producing a porous polyimide film according to claim 10.
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7022373B2 (en) * 2003-02-27 2006-04-04 Nitto Denko Corporation Method of forming composite insulating layer and process of producing wiring board
CN1293129C (en) * 2004-10-14 2007-01-03 北京化工大学 Method for preparing Nano film of multiporous polyimide in low dielectric constant
JP2007119573A (en) * 2005-10-27 2007-05-17 Nippon Steel Chem Co Ltd Low dielectric polyimide film, its production method, and laminate for wiring board
CN100445322C (en) * 2006-08-21 2008-12-24 浙江大学 A kind of ultra-low dielectric constant polyimide film and preparation method thereof
JPWO2007097249A1 (en) * 2006-02-20 2009-07-09 ダイセル化学工業株式会社 Porous film and laminate using porous film
WO2012033168A1 (en) * 2010-09-11 2012-03-15 日東電工株式会社 Porous resin sheet and method for producing same
JP2012101438A (en) * 2010-11-10 2012-05-31 Unitika Ltd Laminate and method for manufacturing the same, and substrate for low-permitivity printed wiring board including the laminate
EP2354180A4 (en) * 2008-10-02 2013-02-20 Ube Industries POROUS POLYIMIDE MEMBRANE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
JP2017148986A (en) * 2016-02-23 2017-08-31 東京応化工業株式会社 Laminate for wiring board, wiring board, and method for manufacturing laminate for wiring board
KR101814225B1 (en) * 2010-04-07 2018-01-02 우베 고산 가부시키가이샤 Porous polyimide membrane and process for production thereof
CN109496223A (en) * 2016-07-25 2019-03-19 日东电工株式会社 Porous low-dielectric polymer film and millimeter wave antenna film
JP2020124925A (en) * 2020-04-27 2020-08-20 東京応化工業株式会社 Laminate for wiring board, wiring board, and method for manufacturing laminate for wiring board
KR20210119955A (en) * 2019-01-24 2021-10-06 닛토덴코 가부시키가이샤 Low dielectric substrate material and manufacturing method thereof

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7022373B2 (en) * 2003-02-27 2006-04-04 Nitto Denko Corporation Method of forming composite insulating layer and process of producing wiring board
CN1293129C (en) * 2004-10-14 2007-01-03 北京化工大学 Method for preparing Nano film of multiporous polyimide in low dielectric constant
JP2007119573A (en) * 2005-10-27 2007-05-17 Nippon Steel Chem Co Ltd Low dielectric polyimide film, its production method, and laminate for wiring board
JPWO2007097249A1 (en) * 2006-02-20 2009-07-09 ダイセル化学工業株式会社 Porous film and laminate using porous film
CN100445322C (en) * 2006-08-21 2008-12-24 浙江大学 A kind of ultra-low dielectric constant polyimide film and preparation method thereof
US8420211B2 (en) 2008-10-02 2013-04-16 Ube Industries, Ltd. Porous polyimide membrane and process for production of same
JP5636960B2 (en) * 2008-10-02 2014-12-10 宇部興産株式会社 Porous polyimide membrane and method for producing the same
EP2354180A4 (en) * 2008-10-02 2013-02-20 Ube Industries POROUS POLYIMIDE MEMBRANE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
KR101680391B1 (en) 2008-10-02 2016-11-28 우베 고산 가부시키가이샤 Porous polyimide membrane and process for production of same
KR101814225B1 (en) * 2010-04-07 2018-01-02 우베 고산 가부시키가이샤 Porous polyimide membrane and process for production thereof
WO2012033168A1 (en) * 2010-09-11 2012-03-15 日東電工株式会社 Porous resin sheet and method for producing same
JP2012101438A (en) * 2010-11-10 2012-05-31 Unitika Ltd Laminate and method for manufacturing the same, and substrate for low-permitivity printed wiring board including the laminate
JP2017148986A (en) * 2016-02-23 2017-08-31 東京応化工業株式会社 Laminate for wiring board, wiring board, and method for manufacturing laminate for wiring board
CN109496223A (en) * 2016-07-25 2019-03-19 日东电工株式会社 Porous low-dielectric polymer film and millimeter wave antenna film
EP3489292A4 (en) * 2016-07-25 2020-03-04 Nitto Denko Corporation LOW DIELECTRIC CONSTANT POLYMER FILM AND MILLIMETER WAVE ANTENNA FILM
CN109496223B (en) * 2016-07-25 2022-05-24 日东电工株式会社 Porous low dielectric polymer film and film for millimeter wave antenna
KR20210119955A (en) * 2019-01-24 2021-10-06 닛토덴코 가부시키가이샤 Low dielectric substrate material and manufacturing method thereof
KR102796493B1 (en) * 2019-01-24 2025-04-15 닛토덴코 가부시키가이샤 Low dielectric substrate material and its manufacturing method
JP2020124925A (en) * 2020-04-27 2020-08-20 東京応化工業株式会社 Laminate for wiring board, wiring board, and method for manufacturing laminate for wiring board

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