JP2003106871A - 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置 - Google Patents
発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置Info
- Publication number
- JP2003106871A JP2003106871A JP2001302436A JP2001302436A JP2003106871A JP 2003106871 A JP2003106871 A JP 2003106871A JP 2001302436 A JP2001302436 A JP 2001302436A JP 2001302436 A JP2001302436 A JP 2001302436A JP 2003106871 A JP2003106871 A JP 2003106871A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- reflecting member
- light
- reflecting
- scale
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 122
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
向上する光学式変位検出装置を提供する。 【解決手段】 光学格子43を有するスケール41と、
スケール41に光を照射し、その反射光を受光する発光
受光ユニット2とを備える光学式変位検出装置1であっ
て、発光受光ユニット2は透明樹脂体の本体22と、本
体22内に設けられスケール41とは反対側に発光面を
有する発光素子25と、本体22に設けられ発光素子2
5の発光面と対向する面に反射面を有し焦点からの光を
平行光として反射する第1反射部材23と、スケール4
1からの光を受光する受光素子32とを備え、発光素子
25は第1反射部材23の焦点に配置され、本体22に
は第1反射部材23の光軸とは交差する反射平面を有し
第1反射部材23からの光を発光素子25の側で、か
つ、発光素子25を挟んで第1反射部材23とは反対側
へ反射する第2反射部材24が設けられている。
Description
光受光ユニットおよび光学式変位検出装置に関するもの
である。
て光学格子が形成されたスケールを挟んで発光素子およ
び受光素子を配置し、発光素子からの光をスケールに照
射し、そのスケールの透過光を受光素子で受光する透過
型と、スケールの片側に発光素子および受光素子を配置
し、発光素子からの光をスケールに照射し、そのスケー
ルからの反射光を受光素子で受光する反射型とが知られ
ている。
は、スケールの片側に発光素子および受光素子を配置で
きるため、透過型の光学式エンコーダに比べ、小型化が
可能である。しかし、現在のところ、実用されている反
射型の光学式エンコーダは、受光素子や発光素子の精密
位置決めが求められる構造が必要であるうえ、信号配線
を形成する配線基板を必要とするなど複雑であり、小型
化が充分ではない。
ックを用いてセンサヘッドを小型化する技術(特開20
00−321018)を提案している。これは、図5に
示されるように、反射型スケール41と、この反射型ス
ケール41と相対移動可能に配置されて反射型スケール
41に光照射して反射光を受光して変位信号を出力する
センサヘッド2とを有する。前記センサヘッド2は、リ
ードフレーム26と、このリードフレーム26に発光面
を上向きにして搭載された、前記反射型スケール41に
光照射するためのLEDチップ25と、前記リードフレ
ーム26に受光面を下向きにして搭載された、前記スケ
ール41からの反射光を受光する受光素子チップ32
と、前記リードフレーム26に搭載されたLEDチップ
25及び受光素子チップ32を内部に封入するようにモ
ールド成形してなる透明樹脂22とを備える。透明樹脂
22の前記LEDチップ25の上部に、光軸が前記LE
Dチップ25位置より前記受光素子チップ32側にずれ
た凸型球面23が形成されて、この凸型球面23に反射
膜が形成されている。
て、LEDチップ25から発光された光は、LEDチッ
プ25の直上から受光素子チップ32側にずれた凸型球
面23によって斜め方向に反射されて、スケール41に
入射されている。しかしながら、図6に示されるよう
に、LEDチップ25は凸型球面23の焦点から外れて
いるので、反射光は平行光線とはならない。そのため、
測定精度が低減されるという問題があった。
型化を図ることができ、かつ、測定精度が向上する発光
ユニット、発光受光ユニット、光学式変位検出装置を提
供することにある。
ニットは、透明樹脂体からなる本体と、前記本体内に設
けられた発光素子と、前記本体に設けられ前記発光素子
の発光面と対向する面に反射面を有し、焦点からの光を
平行光として反射する第1反射部材とを備える発光ユニ
ットにおいて、前記発光素子は前記第1反射部材の焦点
に配置され、前記本体には、前記第1反射部材の光軸と
は交差する反射平面を有し、前記第1反射部材からの平
行光を前記発光素子の側で、かつ、前記発光素子を挟ん
で前記第1反射部材とは反対側へ反射する第2反射部材
が設けられていることを特徴とする。
1反射部材に光が発射される。すると、この光は、第1
反射部材の焦点から発射されているので、第1反射部材
によって平行光として第2反射部材に向かって反射され
る。この反射光は、第2反射部材によって平行光の状態
で反射される。このとき、第2反射部材から反射された
光は、発光素子の側で、かつ、発光素子を挟んで第1反
射部材とは反対の側に向かい、本体の外部に発射され
る。よって、従来技術においては、発光素子が第1反射
部材の焦点に存在していなかったので、第1反射部材か
らの反射光を平行光とできなかったのに対し、本発明に
よれば、平行光を得ることができる。また、第2反射部
材を設けることによって、この第2反射部材の反射面と
第1反射部材の光軸との角度を変えることにより、本体
から外部に発射される光の方向を調整することができ
る。
1に記載の発光ユニットにおいて、前記第2反射部材の
反射平面を含む面は、前記第1反射部材の光軸と略45
度の角度をなしていることを特徴とする。
射された光は、第1反射部材によって平行光として反射
される。すると、反射光は光軸に対して平行に反射され
るので、第2反射部材に対して略45度の角度で入射
し、また略45度の角度で反射されて、本体の外部に発
射される。つまり、本体から発射される光は、第2反射
部材の反射面に対して略45度の角度となる。この発光
ユニットからの光を、例えば、スケールなどに照射する
場合、スケールに対する光の入射角を45度以内にする
と測定精度が向上する。そこで、第2反射部材の反射面
に対して略90度にスケールを配置すれば、スケールに
対して入射角略45度で光を照射することができる。そ
の結果、光学式変位検出装置などに本発明の発光ユニッ
トを利用すれば測定精度を向上させることができる。ま
た、光学式変位検出装置を組み付ける際に光学経路を調
節することが容易となる。
1または2に記載の発光ユニットにおいて、前記第1反
射部材は、前記第1反射部材の光軸を含む平面と前記第
2反射部材の反射平面を含む平面に挟まれる空間に存在
することを特徴とする。
光軸を含む面と第2反射部材の反射面で挟まれる空間に
ある第1反射部材によって反射される光を第2反射部材
で反射し、発光ユニットの外部へ発射する。本発明によ
れば、第1反射部材は第1反射部材の光軸を含む面と第
2反射部材の反射面で挟まれる空間にある部分だけでよ
い。また、第1反射部材からの反射光は、前記空間内を
通る光だけなので、第2反射部材も第1反射部材の縁か
ら光軸を含む面まであればよい。その結果、発光ユニッ
トを小型化できる。
1〜3のいずれかに記載の発光ユニットにおいて、前記
第2反射部材には、光学格子が設けられていることを特
徴とする。
よって反射された光は、光学格子によって、一定のピッ
チで明線部と暗線部を有する光となる。よって、本発明
の発光ユニットから発射された光を、例えば、光学格子
を備えたスケールで反射させ、または、光学的に明線部
と暗線部を検出できる受光素子で検出することにより、
高精度の光学式変位検出をすることができる。
明樹脂体からなる本体と、前記本体内に設けられた発光
素子と、前記本体に設けられ前記発光素子の発光面と対
向する面に反射面を有し、焦点からの光を平行光として
反射する第1反射部材と、本体の外側方向からの光を受
光する受光素子とを備える発光受光ユニットにおいて、
前記発光素子は前記第1反射部材の焦点に配置され、前
記本体には、前記第1反射部材に対して前記発光素子を
挟んで反対側で、かつ、前記第1反射部材の光軸とは交
差する反射平面を有する第2反射部材が設けられている
ことを特徴とする。
の発明と同様の作用効果を奏することができる。加え
て、受光素子を備えていることから、本発明の発光受光
ユニットから発射された光を、例えば、別に用意された
光学格子を備えるスケールによって反射させ、この反射
光を受光素子で受光することによって、光学式変位検出
を行うことができる。このとき、従来の光学式変位検出
装置によれば、発光受光ユニットから発射された光は、
発光素子とは反対方向へ発射されていた。そのため、こ
の光がスケールによって反射されたのち、この反射光を
受光素子で受光するためには、受光素子を発光素子から
離れた位置に配置しなければならず、発光受光ユニット
は大型なものとなっていた。しかし、本発明において
は、第2反射部材が設けられているので、第1反射部材
からの反射光が更に反射され、発光受光ユニットから発
射される光が発光素子の方向へ向かうようにされてい
る。よって、スケールによる反射光を受光するための受
光素子は発光素子の近くに配置することが可能となるの
で、その結果、発光受光ユニットを小型化することがで
きる。
求項5に記載の発光受光ユニットにおいて、前記第2反
射部材の反射平面を含む面は、前記第1反射部材の光軸
と略45度の角度をなしていることを特徴とする。この
ような構成によれば、請求項2に記載の発明と同様の作
用効果を奏することができる。つまり、光学式変位検出
装置などに本発明の発光受光ユニットを利用すれば測定
精度を向上させることができる。また、光学式変位検出
装置を組み付ける際に光学経路を調節することが容易と
なる。
求項5または6に記載の発光受光ユニットにおいて、前
記第1反射部材は、前記第1反射部材の光軸を含む平面
と前記第2反射部材の反射平面を含む平面に挟まれる空
間に存在することを特徴とする。このような構成によれ
ば、請求項3に記載の発明と同様の作用効果を奏するこ
とができる。つまり、第1反射部材からの反射光は、前
記空間内を通る光だけなので、第2反射部材も第1反射
部材の縁から光軸を含む面まであればよく、その結果、
発光受光ユニットを小型化できる。
求項5〜7のいずれかに記載の発光受光ユニットにおい
て、前記第1反射部材には、光学格子が設けられている
ことを特徴とする。このような構成によれば、請求項4
に記載の発明と同様の作用効果を奏することができる。
つまり、発光受光ユニットから発射された光を、光学格
子を備えたスケールで反射させ、受光素子で検出するこ
とにより、高精度の光学式変位検出をすることができ
る。
測定軸に沿って光学格子が形成された反射型のスケール
と、前記反射型スケールの測定軸に沿って相対移動可能
に設けられ前記スケールに対して光を照射し、前記スケ
ールからの反射光を受光して変位信号を出力する発光受
光ユニットとを備える光学式変位検出装置であって、前
記発光受光ユニットは、透明樹脂体からなる本体と、前
記本体内に設けられ前記スケールのスケール面とは反対
側に発光面を有する発光素子と、前記本体に設けられ前
記発光素子の発光面と対向する面に反射面を有し、焦点
からの光を平行光として反射する第1反射部材と、前記
スケールからの光を受光する受光素子とを備え、前記発
光素子は、前記第1反射部材の焦点に配置され、前記本
体には、前記第1反射部材の光軸とは交差する反射平面
を有し、前記第1反射部材からの平行光を前記発光素子
の側で、かつ、前記発光素子を挟んで前記第1反射部材
とは反対側へ反射する第2反射部材が設けられているこ
とを特徴とする。
請求項5に記載の発明と同様の作用効果を奏することが
できる。加えて、発光受光ユニットから発射された光を
スケールで反射すると、この反射光は明線部と暗線部か
らなる光となる。この明線部と暗線部のピッチはスケー
ルの光学格子と発光受光ユニットの相対位置によって変
化されるので、この光を受光素子で受光し、変位信号を
検出することによって、発光受光ユニットとスケールの
相対移動距離を計測することができる。
は、請求項9に記載の光学式変位検出装置において、前
記第2反射部材の反射平面は、前記第1反射部材の光軸
と略45度の角度をなし、かつ、前記スケールは、前記
第2反射部材の反射と略90度の角度をなしていること
を特徴とする。このような構成によれば、請求項2また
は請求項6に記載の発明と同様の作用効果を奏すること
ができる。つまり、発光受光ユニットから発射される光
は略45度の角度でスケールに照射され、また、略45
度の角度で反射されて受光素子で受光されるので、光学
式変位検出装置の測定精度が向上する。
は、請求項9または10に記載の光学式変位検出装置に
おいて、前記第1反射部材は、前記第1反射部材の光軸
を含む平面と前記第2反射部材の反射平面を含む平面に
挟まれる空間に存在することを特徴とする。このような
構成によれば、請求項3に記載の発明と同様の作用効果
を奏することができる。つまり、発光受光ユニットを小
型化することができるので、光学式変位検出装置を小型
化することができる。
は、請求項9〜11のいずれかに記載の光学式変位検出
装置において、前記第2反射部材には、光学格子が設け
られていることを特徴とする。このような構成によれ
ば、請求項4に記載の発明と同様の作用効果を奏するこ
とができる。つまり、第2反射部材によって反射された
光は、光学格子によって、一定のピッチで明線部と暗線
部を有する光となり、この光が、光学格子を備えたスケ
ールで反射されると、スケールと発光受光ユニットの相
対位置によって、この暗線部と明線部のピッチが変化さ
れるので、スケールからの反射光を受光素子で検出する
ことにより、発光受光ユニットとスケールの相対移動距
離を高精度で計測することができる。
を参照して説明する。図1は本実施形態の光学式変位検
出装置1の平面図である。図2は、前記実施形態の断面
図である。同光学式変位検出装置1は、測定軸に沿って
光学格子43が形成された反射型のスケール41と、ス
ケール41の測定軸に沿って相対移動可能に設けられス
ケール41に対して光を照射し、スケール41からの反
射光を受光して変位信号を出力する発光受光ユニット2
とを備える。
(例えばガラス)などによって長尺帯状に形成されたス
ケール基板42と、このスケール基板42の表面に、測
定軸方向である長尺方向に沿って形成された光学格子4
3とから構成されている。ここで、光学格子43は測定
軸方向に沿って、光反射部と光非反射部とが一定のピッ
チで交互に配列されて形成されている。
して光を発射する発光ユニット21とスケール41から
の反射光を受光する受光ユニット31とからなる。発光
ユニット21は、透明樹脂体からなる本体22、本体2
2内に設けられた発光素子としての半導体発光素子(L
EDチップ)25、本体22に設けられ発光素子25の
発光面と対向する面に反射面を有する第1反射部材2
3、第1反射部材23からの反射光を反射する第2反射
部材24およびLEDチップ25と外部の電源を連結す
るためのリードフレーム26とからなる。
発光面とは対向する本体22の端面に反射膜をコーティ
ングすることによって形成されている。第1反射部材2
3は焦点からの光をその光軸Aに平行に反射する球面ま
たは非球面の反射面を有している。第1反射部材23
は、LEDチップ25の発光面の側であって、光軸Aを
含む平面とこの平面から45度の角度を有する平面との
間にある。LEDチップ25は、図3に模式的に示され
るように、第1反射部材23の焦点に配置されていて、
第1反射部材23の光軸AとLEDチップ25の発光面
の法線とが45度の角度をなすようにされる。第2反射
部材24は、その反射平面を含む面が第1反射部材23
の光軸Aと45度の角度をなし、第1反射部材23から
の平行光をLEDチップ25の側で、かつ、LEDチッ
プ25を挟んで第1反射部材23とは反対側に反射する
ように配置されている。第2反射部材24の反射平面
は、図4に示されるように、ただの平面((a)参照)で
もよく、また光学格子241が形成((b)参照)されて
いてもよい。このとき、第2反射部材24の光学格子2
41において、反射部と非反射部が並ぶ方向は、スケー
ル41の光学格子43の方向と同じである。
ォトダイオードがスケール41の光学格子43方向へ配
列された受光素子アレイ32と、この受光素子アレイ3
2を載置するためのステージ33とからなる。
光ユニット31の受光素子アレイ32は平行に配置され
る。このとき、受光ユニット31の受光素子アレイ32
の受光面はスケール41の側を向くように配置される。
発光ユニット21は、受光ユニット31を挟んでスケー
ル41とは反対側に、LEDチップ25の発光面がスケ
ール41とは反対側を向き、かつ、スケール41の光学
格子43と第2反射部材24が90度となるように配置
される。
ば、まず、LEDチップ25から発射された光は、第1
反射部材23によって光軸Aに平行に反射され、入射角
45度で第2反射部材24に入射される。すると、この
光は、第2反射部材24によって平行光の状態で反射角
45度で反射される。このとき、この反射光は、第2反
射部材24の光学格子241によって一定のピッチで明
線部と暗線部を有する光となる。第2反射部材24から
反射された光は、発光ユニット21から発射されて、ス
ケール41に入射される。スケール41に入射された光
は、スケール41で反射されて受光素子アレイ32によ
って受光される。このとき、スケール41で反射された
光はスケール41の光学格子43と第2反射部材24の
光学格子241の相対位置の違いによって、明線部と暗
線部のピッチが入射光の状態から変化される。よって、
このスケール41からの反射光を受光素子アレイで受光
して、受光素子アレイ32からの出力信号を検出するこ
とによって、発光ユニット21とスケール41との相対
移動距離を計測することができる。
1による効果を説明する。LEDチップ25は、第1反
射部材23の焦点に配置されているので、第1反射部材
23による反射光を平行光とすることができる。従来技
術においては、発光LEDチップ25が第1反射部材2
3の焦点に存在していなかったので、第1反射部材23
からの反射光を平行光とできなかったのに対し、本発明
によれば、平行光を得ることができる。よって、この平
行光をもちいて、高精度の光学変位検出をすることがで
きる。
第1反射部材23の光軸Aと45度の角度をなしている
ので、LEDチップ25から発射された光は、第1反射
部材23よって反射されたのち、第2反射部材24の反
射面に対して45度の角度で入射し、また45度の角度
で反射され、発光ユニット21から発射される。よっ
て、第2反射部材24の反射面に対して90度にスケー
ル41を配置することで、スケール41に対して45度
の入射角で光を照射することができる。このような構成
により、光学経路の調整が容易となるので、光学式変位
検出装置1の組み付けが容易となる。
光軸Aを含む面と第2反射部材24の反射面で挟まれる
空間にのみにあることから、第1反射部材23からの反
射光は、前記空間内を通る光だけとなる。よって、第2
反射部材24も第1反射部材23の縁から光軸Aを含む
面まであればよい。その結果、発光ユニット21を小型
化できる。
第1反射部材23からの反射光が更に反射され、発光ユ
ニット21から発射される光がLEDチップ25の方向
へ向かうようにされている。よって、スケール41によ
る反射光を受光するための受光素子アレイ32はLED
チップ25の近くに配置することが可能となるので、そ
の結果、光学式変位検出装置1を小型化することができ
る。
241が設けられているので、第2反射部材24によっ
て反射された光は、この光学格子241によって、一定
のピッチで明線部と暗線部を有する光となる。この明線
部と暗線部のピッチは、スケール41で反射したとき、
発光ユニット21とスケール41の相対位置によって変
化されるので、光学的に明線部と暗線部を検出できる受
光素子アレイ32で検出することにより、高精度の光学
変位検出をすることができる。
ユニット2および光学式変位検出装置1は、上述の実施
形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸
脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論
である。
5に限らず、レーザー光源など種種の光源を使用しても
よい。本実施形態においては、LEDチップ25の発光
面の法線と第1反射部材23の角度は45度で、第2反
射部材24の反射面と第1反射部材23の光軸Aとの角
度は45度であるが、必ずしも45度でなくとも、任意
の角度を取ってもよい。本実施形態においては、発光ユ
ニット21と受光ユニット31は別体であるが、これら
を一体的に形成して発光受光ユニット2としてもよい。
このようにすれば、光学式変位検出装置1を組み付ける
際に、組み付け工数が低減できるとともに、光軸調整を
行わなくてもよく、また光学経路がずれにくいという利
点がある。
ット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置によ
れば、小型化を図ることができ、かつ、測定精度が向上
するという優れた効果を奏し得る。
す平面図である。
部材および光学経路を模式的に示す図である。
射部材と(b)光学格子が形成された第2反射部材を示
す図である。
である。
Claims (12)
- 【請求項1】 透明樹脂体からなる本体と、前記本体内
に設けられた発光素子と、前記本体に設けられ前記発光
素子の発光面と対向する面に反射面を有し、焦点からの
光を平行光として反射する第1反射部材とを備える発光
ユニットにおいて、 前記発光素子は前記第1反射部材の焦点に配置され、 前記本体には、前記第1反射部材の光軸とは交差する反
射平面を有し、前記第1反射部材からの平行光を前記発
光素子の側で、かつ、前記発光素子を挟んで前記第1反
射部材とは反対側へ反射する第2反射部材が設けられて
いることを特徴とする発光ユニット。 - 【請求項2】 請求項1に記載の発光ユニットにおい
て、 前記第2反射部材の反射平面を含む面は、前記第1反射
部材の光軸と略45度の角度をなしていることを特徴と
する発光ユニット。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の発光ユニット
において、 前記第1反射部材は、前記第1反射部材の光軸を含む平
面と前記第2反射部材の反射平面を含む平面に挟まれる
空間に存在することを特徴とする発光ユニット。 - 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の発光ユ
ニットにおいて、 前記第2反射部材には、光学格子が設けられていること
を特徴とする発光ユニット。 - 【請求項5】 透明樹脂体からなる本体と、前記本体内
に設けられた発光素子と、前記本体に設けられ前記発光
素子の発光面と対向する面に反射面を有し、焦点からの
光を平行光として反射する第1反射部材と、本体の外側
方向からの光を受光する受光素子とを備える発光受光ユ
ニットにおいて、 前記発光素子は前記第1反射部材の焦点に配置され、 前記本体には、前記第1反射部材の光軸とは交差する反
射平面を有し、前記第1反射部材からの平行光を前記発
光素子の側で、かつ、前記発光素子を挟んで前記第1反
射部材とは反対側へ反射する第2反射部材が設けられて
いることを特徴とする発光受光ユニット。 - 【請求項6】 請求項5に記載の発光受光ユニットにお
いて、 前記第2反射部材の反射平面を含む面は、前記第1反射
部材の光軸と略45度の角度をなしていることを特徴と
する発光受光ユニット。 - 【請求項7】 請求項5または6に記載の発光受光ユニ
ットにおいて、 前記第1反射部材は、前記第1反射部材の光軸を含む平
面と前記第2反射部材の反射平面を含む平面に挟まれる
空間に存在することを特徴とする発光受光ユニット。 - 【請求項8】 請求項5〜7のいずれかに記載の発光受
光ユニットにおいて、 前記第1反射部材には、光学格子が設けられていること
を特徴とする発光受光ユニット。 - 【請求項9】 測定軸に沿って光学格子が形成された反
射型のスケールと、前記反射型スケールの測定軸に沿っ
て相対移動可能に設けられ前記スケールに対して光を照
射し、前記スケールからの反射光を受光して変位信号を
出力する発光受光ユニットとを備える光学式変位検出装
置であって、 前記発光受光ユニットは、透明樹脂体からなる本体と、
前記本体内に設けられ前記スケールのスケール面とは反
対側に発光面を有する発光素子と、前記本体に設けられ
前記発光素子の発光面と対向する面に反射面を有し、焦
点からの光を平行光として反射する第1反射部材と、前
記スケールからの光を受光する受光素子とを備え、 前記発光素子は、前記第1反射部材の焦点に配置され、 前記本体には、前記第1反射部材の光軸とは交差する反
射平面を有し、前記第1反射部材からの平行光を前記発
光素子の側で、かつ、前記発光素子を挟んで前記第1反
射部材とは反対側へ反射する第2反射部材が設けられて
いることを特徴とする光学式変位検出装置。 - 【請求項10】 請求項9に記載の光学式変位検出装置
において、 前記第2反射部材の反射平面を含む面は、前記第1反射
部材の光軸と略45度の角度をなしていることを特徴と
する光学式変位検出装置。 - 【請求項11】 請求項9または10に記載の光学式変
位検出装置において、 前記第1反射部材は、前記第1反射部材の光軸を含む平
面と前記第2反射部材の反射平面を含む平面に挟まれる
空間に存在することを特徴とする光学式変位検出装置。 - 【請求項12】 請求項9〜11のいずれかに記載の光
学式変位検出装置において、 前記第2反射部材には、光学格子が設けられていること
を特徴とする光学式変位検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001302436A JP2003106871A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001302436A JP2003106871A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003106871A true JP2003106871A (ja) | 2003-04-09 |
Family
ID=19122676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001302436A Pending JP2003106871A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003106871A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008170366A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Disco Abrasive Syst Ltd | チャックテーブルに保持された被加工物の計測装置およびレーザー加工機 |
| US7592584B2 (en) | 2006-11-15 | 2009-09-22 | Mitutoyo Corporation | Crosstalk preventing optical encoder |
| US10234310B2 (en) | 2016-05-27 | 2019-03-19 | Mitutoyo Corporation | Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197813A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Mitsutoyo Corp | 光学式変位検出器 |
| JPH07167676A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-07-04 | Philips Electron Nv | 可動物体の変位測定装置 |
-
2001
- 2001-09-28 JP JP2001302436A patent/JP2003106871A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197813A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Mitsutoyo Corp | 光学式変位検出器 |
| JPH07167676A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-07-04 | Philips Electron Nv | 可動物体の変位測定装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7592584B2 (en) | 2006-11-15 | 2009-09-22 | Mitutoyo Corporation | Crosstalk preventing optical encoder |
| JP2008170366A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Disco Abrasive Syst Ltd | チャックテーブルに保持された被加工物の計測装置およびレーザー加工機 |
| US10234310B2 (en) | 2016-05-27 | 2019-03-19 | Mitutoyo Corporation | Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4021382B2 (ja) | 光学式エンコーダ及びその製造方法並びに光学レンズモジュール | |
| JP4280447B2 (ja) | 反射スケールおよびそれを用いた変位検出装置 | |
| CN101655350B (zh) | 光学式测距传感器和电子仪器 | |
| JP5064049B2 (ja) | バックグラウンドノイズを低減した反射型エンコーダ | |
| JPH10132612A (ja) | 光学式変位検出装置 | |
| JPH0560673B2 (ja) | ||
| CN100580369C (zh) | 距离测量传感器及装备有该距离测量传感器的电子设备 | |
| CN109443219B (zh) | 带有折射镜的新型位移传感器及其测量方法 | |
| US6410911B1 (en) | Optical displacement detecting apparatus | |
| WO1987005693A1 (fr) | Detecteur photoelectrique de deplacement | |
| US7784694B2 (en) | Reflective encoder with lens on code strip | |
| US6885455B2 (en) | Self-calibration of an optical-based sensor using a total internal reflection (TIR) signature | |
| JP4226340B2 (ja) | 発光装置及び光センサ | |
| JP2003106871A (ja) | 発光ユニット、発光受光ユニットおよび光学式変位検出装置 | |
| JP7660179B2 (ja) | 光モジュール及び反射型エンコーダ | |
| JP2002228491A (ja) | 光学式エンコーダ用発光光源装置 | |
| JP2001201369A (ja) | 光電子システム | |
| JP3828755B2 (ja) | 変位光量変換装置 | |
| JPH0197813A (ja) | 光学式変位検出器 | |
| CN109141257B (zh) | 带有折射镜的可提高放大倍数的位移传感器及其测量方法 | |
| JPS63217222A (ja) | 光電式変位検出装置 | |
| JPS60209128A (ja) | 感圧センサ | |
| JP2000019110A (ja) | 屈折率測定装置 | |
| JP4694677B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
| JPS63217223A (ja) | 光電式変位検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070703 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070809 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080808 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110426 |