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JP2003101220A - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents

多層プリント配線板の製造方法

Info

Publication number
JP2003101220A
JP2003101220A JP2001287783A JP2001287783A JP2003101220A JP 2003101220 A JP2003101220 A JP 2003101220A JP 2001287783 A JP2001287783 A JP 2001287783A JP 2001287783 A JP2001287783 A JP 2001287783A JP 2003101220 A JP2003101220 A JP 2003101220A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
resin
printed wiring
wiring board
multilayer printed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001287783A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Inagaki
靖 稲垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP2001287783A priority Critical patent/JP2003101220A/ja
Publication of JP2003101220A publication Critical patent/JP2003101220A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 薄膜導体層表面の均一化および清浄化を図る
こと、また、薄膜導体層表面の濡れ性が向上することに
より薄膜導体層と感光性ドライフィルムとの親和性が向
上し、薄膜導体層に密着した矩形状のめっきレジストを
形成することができ、さらに、断面が矩形状の接続信頼
性に優れる導体回路を形成することができる多層プリン
ト配線板の製造方法を提供する。 【解決手段】 1)薄膜導体層112が形成された層間
樹脂絶縁層102上に感光性ドライフィルム18を貼り
付ける工程、2)上記感光性ドライフィルム18に露光、
現像処理を施すことによりめっきレジスト103を形成
する工程、および、3)めっきレジスト非形成部に導体回
路113を形成する工程を含む多層プリント配線板の製
造方法であって、上記1)の工程において、上記薄膜導体
層112表面にドライ処理を施した後、感光性ドライフ
ィルム18を貼り付けることを特徴とする多層プリント
配線板の製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼
ばれる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等に
より製造されており、コアと呼ばれる0.6〜1.5m
m程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、
銅等による導体回路と層間樹脂絶縁層とを交互に積層す
ることにより作製される。この多層プリント配線板の層
間樹脂絶縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホー
ルにより行われている。
【0003】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号公報等に開示さ
れた方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔
が貼り付けられた銅張積層板に貫通孔を形成し、続いて
無電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形
成する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチ
ング処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面に
無電解めっきやエッチング等により粗化面を形成し、そ
の粗化面を有する導体回路上に層間樹脂絶縁層を形成し
た後、露光、現像処理を行うか、レーザ処理によりバイ
アホール用開口を形成し、その後、UV硬化、本硬化を
経て層間樹脂絶縁層を形成する。
【0004】さらに、層間樹脂絶縁層に粗化形成処理を
施した後、形成された粗化面に薄い無電解めっき膜を形
成し、この無電解めっき膜上にめっきレジストを形成し
た後、電気めっきにより厚付けを行い、めっきレジスト
剥離後にエッチングを行って、下層の導体回路とバイア
ホールにより接続された導体回路を形成する。
【0005】これを繰り返した後、最外層として導体回
路を保護するためのソルダーレジスト層を形成し、ソル
ダーレジスト層に開口を形成し、開口部分の導体層にめ
っき等を施してパッドとした後、半田バンプを形成する
ことにより、ビルドアップ多層プリント配線板を製造す
る。
【0006】このような多層プリント配線板の製造方法
において、めっきレジストは、薄い無電解めっき膜等の
薄膜導体層上に感光性ドライフィルムを貼り付け、該感
光性ドライフィルムに露光、現像処理を施すことにより
形成していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように、表面に薄
膜導体層を有する層間樹脂絶縁層上に直接感光性ドライ
フィルムを貼り付ける場合、該薄膜導体層は、その表面
の一部が酸化されている等により変性していることがあ
り、薄膜導体層表面の物性が均一ではなく、また、一般
に金属に対する樹脂の濡れ性は悪いため、図7に示すよ
うに、薄膜導体層112上に直接感光性ドライフィルム
18を貼り付けた際に、感光性ドライフィルム18に膨
れ等が発生し易かった(図7(a)参照)。そのため、
露光、現像処理を施すことにより、めっきレジスト10
3を形成した際に、この膨れに起因してめっきレジスト
103の表面が波状となって、その底部に空隙が形成さ
れる場合があり(図7(b)参照)、この後、電気めっ
き層113を形成すると、電気めっき層113はこの空
隙部分にも形成されてしまい(図7(c)参照)、めっ
きレジスト103および薄膜導体層112の除去を行う
ことにより形成する導体回路105は、底部が広がった
形状となることがあった(図7(d)参照)。なお、図
7(a)における符号21は、マスクを示す。
【0008】このような形状の導体回路では、隣接する
導体回路同士の底部の間隔が狭く、隣接する導体回路間
で短絡が発生しやすいという問題点があった。特に、L
/S=35/35のような幅の狭い導体回路間では、上
記のような問題が起こり易かった。なお、上記L/Sと
は、導体配線の幅と導体配線間の距離との比のことであ
り、これを本明細書においては、以下、単にL/Sとい
う。また、このような形状の導体回路では、多層プリン
ト配線板のインピーダンスの整合が図りにくく、信号遅
延や信号エラーが発生することがあった。
【0009】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたものであり、その目的は、底部に空隙が形
成されることがなく、表面が平坦なめっきレジストを形
成することができるため、隣接する導体回路間で短絡の
発生するおそれがなく、信号遅延や信号エラーが発生せ
ず、ヒートサイクル条件下や高温高湿下において接続信
頼性に優れる多層プリント配線板を製造する方法を提供
することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、薄膜導体層表面にドラ
イ処理を施すことにより、表面に付着している不純物等
が除去されるか、または、表面に新たな層が形成され
る。その結果、薄膜導体層表面の均一化および清浄化を
図ることができ、また、薄膜導体層表面の濡れ性が向上
することにより薄膜導体層と感光性ドライフィルムとの
親和性が向上し、該薄膜導体層に感光性ドライフィルム
が密着するため、該薄膜導体層上に感光性ドライフィル
ムを貼り付けた際に、感光性ドライフィルムに膨れ等が
発生せず、薄膜導体層と密着した矩形状のめっきレジス
トを形成することできることを見いだし、以下に示す内
容を要旨構成とする本発明に想到した。
【0011】すなわち、本発明の多層プリント配線板の
製造方法は、1)薄膜導体層が形成された層間樹脂絶縁層
上に感光性ドライフィルムを貼り付ける工程、2)上記感
光性ドライフィルムに露光、現像処理を施すことにより
めっきレジストを形成する工程、および、3)めっきレジ
スト非形成部に導体回路を形成する工程を含む多層プリ
ント配線板の製造方法であって、上記1)の工程におい
て、前記薄膜導体層表面にドライ処理を施した後、感光
性ドライフィルムを貼り付けることを特徴とする。
【0012】上記多層プリント配線板の製造方法におい
て、上記ドライ処理はプラズマ処理であることが望まし
い。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板の製
造方法は、1)薄膜導体層が形成された層間樹脂絶縁層上
に感光性ドライフィルムを貼り付ける工程、2)上記感光
性ドライフィルムに露光、現像処理を施すことによりめ
っきレジストを形成する工程、および、3)めっきレジス
ト非形成部に導体回路を形成する工程を含む多層プリン
ト配線板の製造方法であって、上記1)の工程において、
上記薄膜導体層表面にドライ処理を施した後、感光性ド
ライフィルムを貼り付けることを特徴とする。
【0014】このような本発明の多層プリント配線板の
製造方法によれば、薄膜導体層表面にドライ処理を施す
ことにより、表面に付着している不純物等が除去される
か、または、表面に新たな層が形成される。その結果、
薄膜導体層表面の均一化および清浄化を図ることがで
き、また、薄膜導体層表面の濡れ性が向上することによ
り薄膜導体層と感光性ドライフィルムとの親和性が向上
し、該薄膜導体層に感光性ドライフィルムが密着するた
め、該薄膜導体層上に感光性ドライフィルムを貼り付け
た際に、感光性ドライフィルムに膨れ等が発生せず、薄
膜導体層と密着した矩形状のめっきレジストを形成する
ことができる。
【0015】そのため、めっきレジストを形成した後、
めっきレジスト非形成部に導体回路を形成すると、その
断面が矩形状の導体回路を形成することができ、隣接す
る導体回路間で短絡の発生するおそれがなく、信号遅延
や信号エラーが発生せず、ヒートサイクル条件下や高温
高湿下において、接続信頼性に優れる多層プリント配線
板を製造することができる。
【0016】本発明の製造方法では、薄膜導体層が形成
された層間樹脂絶縁層上に感光性ドライフィルムを貼り
付ける工程において、上記薄膜導体層表面にドライ処理
を施した後、感光性ドライフィルムを貼り付ける。
【0017】上記ドライ処理としては、例えば、プラズ
マ処理、コロナ処理、レーザ処理、UV洗浄等が挙げら
れる。これらのなかでは、プラズマ処理が望ましい。
【0018】上記プラズマ処理としては、例えば、酸
素、窒素、炭酸ガス、四塩化炭素等や、これらの混合ガ
ス等の気体を用いたプラズマ処理が挙げられる。これら
のなかでは、酸素を用いたプラズマ処理が望ましい。酸
素を用いたプラズマ処理を行った場合には、薄膜導体層
表面に付着していた不純物が除去されるとともに、薄膜
導体層表面に薄い酸化膜が形成されるため、薄膜導体層
表面の物性が均一となる。さらに、このとき形成される
薄い酸化膜は、通常、めっきレジストを形成する工程で
使用する現像液により除去される。そのため、電気めっ
きを施す等の後の製造工程に悪影響を及ぼすことがな
い。
【0019】上記プラズマ処理を行う条件としては、5
00〜1000Wのプラズマ放出量、100〜500秒
/Mの気体供給量、30〜900秒の処理時間で行うこ
とが望ましい。このような条件でプラズマ処理を行うこ
とにより、上記薄膜導体層表面の均一化および清浄化を
確実に行うことができ、また、めっきレジストの剥離や
電気めっき等を行う後の製造工程に悪影響を及ぼすこと
がないからである。
【0020】上記コロナ処理としては、従来公知のコロ
ナ処理を用いることができる。すなわち、絶縁された電
極間に高周波高圧を印加し、電極間の気体を絶縁破壊し
てイオン化することにより、コロナ放電を起こし、この
放電空間に薄膜導体層の形成された層間樹脂絶縁層を通
過させることにより上記薄膜導体層表面にコロナ処理を
施すことができる。
【0021】上記レーザ処理において用いるレーザ光と
しては、例えば、エキシマレーザ、炭酸ガス(CO2
レーザ、紫外線レーザ等が挙げられる。これらのなかで
は、感光性ドライフィルムの全面にレーザ光を照射する
ことができ、一括してレーザ処理を施すことができる点
からエキシマレーザが望ましい。
【0022】上記UV洗浄を行う方法としては、例え
ば、低圧水銀ランプを用いて紫外線を照射する方法等が
挙げられる。
【0023】図1(a)〜(d)は、本発明の製造方法
を用いた多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断
面図である。このような本発明の多層プリント配線板の
製造方法では、図1に示すように、薄膜導体層112表
面にドライ処理を施した後、その上に感光性ドライフィ
ルム18を貼り付けているため、ドライ処理面22と感
光性ドライフィルム18との密着性が高く、感光性ドラ
イフィルム18に膨れ等が発生しない(図1(a)参
照)。そのため、マスク21を用いて露光した後、現像
処理を施すことにより、底部に空隙が形成されることが
なく、断面が矩形状のめっきレジスト103を形成する
ことができる(図1(b)参照)。従って、この後、電
気めっきを施すと、薄膜導体層との密着性に優れ、断面
が矩形状の電気めっき層113を形成することができ
(図1(c)参照)、さらに、めっきレジスト103を
剥離し、エッチング処理により薄膜導体層を除去するこ
とにより、隣接する導体回路間で短絡の発生するおそれ
がなく、層間樹脂絶縁層やソルダーレジスト層との密着
性に優れる導体回路105を形成することができる(図
1(d)参照)。
【0024】次に、このような本発明の多層プリント配
線板の製造方法について、工程順に簡単に説明する。
【0025】(1) まず、樹脂基板の表面に下層導体回路
を有する配線基板を作製する。樹脂基板としては、無機
繊維を有する樹脂基板が望ましく、具体的には、例え
ば、ガラス布エポキシ基板、ガラス布ポリイミド基板、
ガラス布ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、ガラス
布フッ素樹脂基板等が挙げられる。また、上記樹脂基板
の両面に銅箔を貼った銅張積層板を用いてもよい。
【0026】通常、この樹脂基板にドリルで貫通孔を設
け、該貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっきを施
してスルーホールを形成する。無電解めっきとしては銅
めっきが好ましい。さらに、銅箔の厚付けのために電気
めっきを行ってもよい。この電気めっきとしては銅めっ
きが好ましい。この後、スルーホール内壁等に粗化処理
を施し、スルーホールを樹脂ペースト等で充填し、その
表面を覆う導電層を無電解めっきもしくは電気めっきに
て形成してもよい。
【0027】上記粗化処理の方法としては、例えば、黒
化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶
液によるスプレー処理、Cu−Ni−P針状合金めっき
による処理等が挙げられる。上記工程を経て、基板上の
全面に形成された銅のベタパターン上にフォトリソグラ
フィーの手法を用いてエッチングレジストを形成し、続
いて、エッチングを行うことにより、下層導体回路を形
成する。この後、必要に応じて、導体回路の形成によ
り、エッチングされ、凹部となった部分に樹脂等を充填
してもよい。
【0028】(2) 次に、形成された下層導体回路に、必
要により粗化処理を施す。粗化処理の方法としては、上
記した方法、すなわち、黒化(酸化)−還元処理、有機
酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処理、Cu
−Ni−P針状合金めっきによる処理等が挙げられる。
また、下層導体回路に粗化処理を施さず、下層導体回路
が形成された基板を樹脂成分を溶解した溶液に浸漬する
ことにより、下層導体回路の表面に樹脂からなる層を形
成し、その上に形成する層間樹脂絶縁層との密着性を確
保してもよい。
【0029】(3) 次に、上記(2) で作製した下層導体回
路を有する配線基板の両面に、層間樹脂絶縁層を形成す
る。上記層間樹脂絶縁層の材料としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の一部を感光化した樹
脂またはこれらの複合樹脂を使用することができる。層
間樹脂絶縁層は、未硬化の樹脂を塗布して形成してもよ
く、また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧着して形成して
もよい。さらに、未硬化の樹脂フィルムの片面に銅箔な
どの金属層が形成された樹脂フィルムを貼付してもよ
い。このような樹脂フィルムを使用する場合は、バイア
ホール形成部分の金属層をエッチングした後、レーザ光
を照射して開口を設ける。金属層が形成された樹脂フィ
ルムとしては、樹脂付き銅箔などを使用することができ
る。
【0030】これらの層間樹脂絶縁層を形成する材料の
具体例としては、例えば、ポリオレフィン系樹脂、ポリ
フェニレン系樹脂(PPE、PPO等)、フッ素系樹脂
等が挙げられる。上記ポリオレフィン系樹脂としては、
例えば、上記ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソ
ブチレン、ポリブタジエン、ポリイソプレン、2−ノル
ボルネン、5−エチリデン−2−ノルボルネン、これら
の樹脂の共重合体等が挙げられ、上記フッ素系樹脂とし
ては、例えば、エチル/テトラフルオロエチレン共重合
樹脂(ETFE)、ポリクロロトリフルオロエチレン
(PCTFE)等が挙げられる。
【0031】また、上記材料以外に、例えば、無電解め
っき用接着剤も使用することができる。この無電解めっ
き用接着剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可溶
性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未
硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが最適であ
る。酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成することができるからである。
【0032】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された上記耐熱性樹脂粒子としては、(a) 平均
粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(b) 平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
(c) 平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒
径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、(d) 平均
粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径
が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれ
か少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、(e)平均
粒径が0.1〜0.8μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平均
粒径が0.8μmを超え、2μm未満の耐熱性樹脂粉末
との混合物、(f) 平均粒径が0.1〜1.0μmの耐熱
性粉末樹脂粉末を用いることが望ましい。これらは、よ
り複雑なアンカーを形成することができるからである。
【0033】上記酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹
脂としては、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からな
る樹脂複合体」または「感光性樹脂および熱可塑性樹脂
からなる樹脂複合体」などが望ましい。前者については
耐熱性が高く、後者についてはバイアホール用開口をフ
ォトリソグラフィーにより形成することができるからで
ある。
【0034】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂などを使用
することができる。また、感光化した樹脂としては、メ
タクリル酸やアクリル酸などと熱硬化基をアクリル化反
応させたものが挙げられる。特にエポキシ樹脂をアクリ
レート化したものが最適である。エポキシ樹脂として
は、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック
型、などのノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変成した脂環式エポキシ樹脂などを使用すること
ができる。
【0035】熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキ
シ樹脂、ポリエーテルスルフォン(PES)、ポリスル
フォン(PSF)、ポリフェニレンスルフォン(PP
S)、ポリフェニレンサルファイド(PPES)、ポリ
フェニルエーテル(PPE)、ポリエーテルイミド(P
I)、フッ素樹脂などを使用することができる。熱硬化
性樹脂(感光性樹脂)と熱可塑性樹脂の混合割合は、熱
硬化性樹脂(感光性樹脂)/熱可塑性樹脂=95/5〜
50/50が望ましい。耐熱性を損なうことなく、高い
靱性値を確保できるからである。
【0036】上記耐熱性樹脂粒子の混合重量比は、耐熱
性樹脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%が
望ましく、10〜40重量%がさらに望ましい。耐熱性
樹脂粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グ
アナミン樹脂)、エポキシ樹脂などが望ましい。
【0037】(4) 次に、層間樹脂絶縁層を硬化する一方
で、その層間樹脂絶縁層に露光および現像処理、もしく
は、レーザ処理を行うことによりバイアホール用開口を
形成する。層間樹脂絶縁層の開口は、無電解めっき用接
着剤の樹脂マトリックスが熱硬化樹脂、ポリオレフィン
系樹脂、シクロオレフィン系樹脂等の場合は、レーザー
光や酸素プラズマ等を用いて行い、感光性樹脂である場
合には、露光現像処理にて行う。なお、露光現像処理
は、バイアホール用開口形成のための円パターンが描画
されたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パター
ン側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載置し
た後、露光し、現像処理液に浸漬するか、現像処理液を
スプレーすることにより行う。充分な凹凸形状の粗化面
を有する導体回路上に形成された層間樹脂絶縁層を硬化
させることにより、導体回路との密着性に優れた層間樹
脂絶縁層を形成することができる。
【0038】上記レーザ光を用いて、バイアホール用開
口を設ける場合、使用するレーザ光としては、例えば、
炭酸ガス(CO2 )レーザ、紫外線レーザ、エキシマレ
ーザ、YAGレーザ等が挙げられる。これらのなかで
は、エキシマレーザや短パルスの炭酸ガスレーザが好ま
しい。
【0039】エキシマレーザは、後述するように、バイ
ヤホール用開口を形成する部分に貫通孔が形成されたマ
スク等を用いることにより、一度に多数のバイヤホール
用開口を形成することができ、また、短パルスの炭酸ガ
スレーザは、開口内の樹脂残りが少なく、開口周縁の樹
脂に対するダメージが小さいからである。
【0040】また、エキシマレーザのなかでも、ホログ
ラム方式のエキシマレーザを用いることが望ましい。ホ
ログラム方式とは、レーザ光をホログラム、集光レン
ズ、レーザマスク、転写レンズ等を介して目的物に照射
する方式であり、この方式を用いることにより、一度の
照射で層間樹脂絶縁層に多数の開口を効率的に形成する
ことができる。
【0041】また、炭酸ガスレーザを用いる場合、その
パルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口を形成するためのレーザを照射する時間
は、10〜500μ秒であることが望ましい。バイアホ
ール用開孔を形成する部分に貫通孔が形成されたマスク
の貫通孔は、レーザ光のスポット形状を真円にするため
に、真円である必要があり、上記貫通孔の径は、0.1
〜2mm程度が望ましい。
【0042】レーザ光にて開口を形成した場合、特に炭
酸ガスレーザを用いた場合には、デスミア処理を行うこ
とが望ましい。上記デスミア処理は、クロム酸、過マン
ガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使用して行うこと
ができる。また、酸素プラズマ、CF4 と酸素の混合プ
ラズマやコロナ放電等で処理してもよい。また、低圧水
銀ランプを用いて紫外線を照射することにより、表面改
質することもできる。
【0043】(5) 次に、必要により、バイアホール用開
口を設けた層間樹脂絶縁層の表面を粗化する。無電解め
っき用接着剤を用いて層間樹脂絶縁層を形成した場合、
層間樹脂絶縁層の粗化は、無電解めっき用接着剤層の表
面に存在する耐熱性樹脂粒子を酸または酸化剤で溶解除
去することにより行う。酸処理等により形成する粗化面
の高さは、Rmax=0.01〜20μmが望ましい。
導体回路との密着性を確保するためである。特にセミア
ディティブ法では、0.1〜5μmが望ましい。密着性
を確保しつつ、金属層を除去することができるからであ
る。
【0044】上記酸処理を行う際には、リン酸、塩酸、
硫酸、または、蟻酸や酢酸などの有機酸を用いることが
でき、特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化形成処理
した場合に、バイアホールから露出する金属導体層を腐
食させにくいからである。上記酸化処理は、クロム酸、
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用いるこ
とが望ましい。
【0045】(6) 次に、層間樹脂絶縁層およびバイアホ
ールの開口部の表面にCu、Ni、P、Pd、Coおよ
びW等の金属からなる薄膜導体層を形成する。上記薄膜
導体層は単独の金属からなるものであってもよいし、2
種以上の金属からなるものであってもよい。また、上記
薄膜導体層は、1層であってもよいし、2層以上であっ
てもよい。この薄膜導体層の厚さは、0.1〜5μmが
望ましく、0.5〜2μmがより望ましい。また、上記
薄膜導体層は、スパッタリング、めっき、もしくは、ス
パッタリングおよびめっきを行うことにより形成するこ
とが望ましい。
【0046】(7) 次に、上記薄膜導体層表面にドライ処
理を施す。上記ドライ処理としては、上述したようにプ
ラズマ処理、コロナ処理、レーザ処理、UV洗浄等を使
用することができる。 (8) 続いて、上記(7) でドライ処理を施された薄膜導体
層上にめっきレジストを形成する。このめっきレジスト
は、感光性ドライフィルムを薄膜導体層上に貼り付けた
後、露光、現像処理を施すことにより形成される。
【0047】(9) 次に、層間樹脂絶縁層上に形成した薄
膜導体層をめっきリードとして電気めっきを行い、導体
回路を厚付けする。電気めっき膜の膜厚は、5〜30μ
mが好ましい。上記電気めっきとしては、銅めっきを用
いることが望ましい。この時、バイアホール用開口を電
気めっきで充填してフィルドビア構造としてもよい。
【0048】(10)電気めっき膜を形成した後、めっきレ
ジストを剥離し、めっきレジストの下に存在していた薄
膜導体層をエッチングにより除去し、独立した導体回路
とする。エッチング液としては、例えば、硫酸−過酸化
水素水溶液、過硫酸アンモニウム、過硫酸ナトリウム、
過硫酸カリウム等の過硫酸塩水溶液、塩化第二鉄、塩化
第二銅の水溶液、塩酸、硝酸、熱希硫酸等が挙げられ
る。また、前述した第二銅錯体と有機酸とを含有するエ
ッチング液を用いて、導体回路間のエッチングと同時に
粗化面を形成してもよい。
【0049】(11)必要により、(3) 〜(10)の工程を繰り
返し、さらに、必要により、最上層の導体回路に上記
(3) の工程と同様の条件で無電解めっきやエッチング等
を施し、最上層の導体回路上に粗化層または粗化面を形
成する。
【0050】次に、最上層の導体回路を含む基板面にロ
ールコータ法等によりソルダーレジスト樹脂組成物を塗
布し、レーザ処理、露光、現像処理等による開口処理を
行い、硬化処理等を行うことにより、ソルダーレジスト
層を形成する。そしてこの後、ソルダーレジスト層の開
口部分に半田バンプを形成することによりプリント配線
板の製造を終了する。
【0051】また、この工程で、製品認識文字などを形
成するための文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質
のために、酸素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時
行ってもよい。以上の方法は、セミアディティブ法によ
るものであるが、フルアディティブ法を採用してもよ
い。
【0052】
【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。
【0053】(実施例1) A.ポリオレフィン系樹脂組成物からなる樹脂フィルム
の作製 (i) 500mlのn−ヘプタン中に、スチレン104g
およびブチルリチウム10.8gを溶解させ、70℃で
3時間加熱した。 (ii)上記処理を行った溶液中に、エチレン:ブタジエン
の容量比が3:1の混合ガスを吹き込みながら、70℃
で5時間放置した。
【0054】(iii) この後、さらにI2 を添加し、10
0℃で1時間放置することにより、n−ヘプタンを除去
した。 (iv) 残った生成物をアセトンにて洗浄し、未反応物お
よびLiIを除去した。その後、粒径が0.1μmで球
状のメラニンと粒径が0.05μmの球状のメラニンを
2:1の割合で配合し、凝集せずに分散するように混合
した。
【0055】(v) (iv)の工程で得られた混合物のうち、
50gを再度500mlのn−ヘプタンに溶解させ、さ
らに1gの過酸化ベンゾイルを溶かした後、この溶液を
ポリエチレンテレフタレートフィルム上に薄く広げ、こ
のフィルム状物を50℃まで加熱した後、さらに1℃/
分でゆっくりと加熱し、100℃に達した後、30分放
置することにより溶剤を除去した。このようにして、4
0μmの厚さの半硬化状態のポリオレフィンオリゴマー
からなる樹脂フィルムが得られた。
【0056】B.樹脂充填材の調製 (i) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドマテックス社製、CRS 11
01−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノ
プコ社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にと
り、攪拌混合することにより、その粘度が23±1℃で
40〜50Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬
化剤として、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E
4MZ−CN)6.5重量部を用いた。
【0057】C.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図2(a)参照)。まず、この銅
張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
【0058】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図2(b)参照)。
【0059】(3) 上記Bに記載した樹脂充填材を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内にスルホー
ル9内、および、基板1の片面の導体回路非成形部と導
体回路4の外縁部とに樹脂充填材10の層を形成した。
すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール内に樹
脂充填材を押しこんだ後、100℃、20分の条件で乾
燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分が開
口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて、凹
部となっている導体回路非形成部に樹脂充填材10の層
を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図2
(c)参照)。
【0060】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、導体回路外縁部に形成さ
れた樹脂充填材10の層や導体回路非形成部に形成され
た樹脂充填材10の層の上部を研磨し、ついで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行った。このような一連の研磨を基板の他方の面につい
ても同様に行った。なお、必要に応じて、研磨の前後に
エッチングを行い、スルーホール9のランド9aおよび
下層導体回路4に形成された粗化面4aを平坦化しても
よい。この後、100℃で1時間、150℃で1時間の
加熱処理を行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
【0061】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図2(d)参照)。
【0062】(5) 次に、上記(4) の処理を終えた基板の
両面に、エッチング液をスプレーで吹きつけ、一旦平坦
化された下層導体回路4の表面とスルーホール9のラン
ド表面とをエッチングすることにより、下層導体回路4
の全表面に粗化面4a、9aを形成した(図3(a)参
照)。エッチング液として、イミダゾール銅(II)錯
体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5
重量部からなるエッチング液(メック社製、メックエッ
チボンド)を使用した。
【0063】(6) 次に、基板の両面に、上記Aにおいて
作製した厚さ40μmのポリオレフィン系樹脂組成物か
らなるフィルムを温度160℃、圧力10kg/cm2
で圧着、積層し、上記ポリオレフィン系樹脂組成物から
なる層間樹脂絶縁層2を形成した(図3(b)参照)。
形成された層間樹脂絶縁層の厚さは、30μmであっ
た。
【0064】(7) 次に、波長0.248μmのエキシマ
レーザにて、ポリオレフィン系樹脂組成物からなる層間
樹脂絶縁層2に直径80μmのバイアホール用開口6を
設けた(図3(c)参照)。この後、酸素プラズマを用
いてデスミア処理を行った。
【0065】(8) 次に、日本真空技術株式会社製のSV
−4540を用い、Niをターゲットにしたスパッタリ
ングを、気圧0.6Pa、温度80℃、電力200W、
時間5分間の条件で行い、Ni金属層12aを層間樹脂
絶縁層2の表面に形成した(図3(d)参照)。このと
き、形成されたNi金属層12aの厚さは0.1μmで
あった。
【0066】(9) 次に、上記SV−4540を用いて、
Cuをターゲットにしたスパッタリングを、気圧0.6
Pa、温度80℃、電力4500W、時間7分間の条件
で行い、Ni金属層12aの表面に厚さ0.2μmのC
u金属層12bを形成した。(図4(a)参照)。
【0067】(10) 続いて、Cu金属層12bの表面
に、プラズマクリーニング装置(九州松下社製、PC1
2F−G型)を用い、真空下、プラズマ放射量800
W、酸素供給量300秒/M、酸素供給圧0.15MP
a、処理時間1分間の条件で酸素プラズマ処理を施すド
ライ処理を行った。
【0068】(11)次に、市販の感光性ドライフィルムを
ドライ処理を施したCu金属層12bに貼り付け、マス
クを載置して、100mJ/cm2 で露光し、0.8%
炭酸ナトリウム水溶液で現像処理を行うことより、厚さ
15μmのめっきレジスト3を設けた(図4(b)参
照)。
【0069】(12)ついで、レジスト非形成部に以下の条
件で電気銅めっきを施し、厚さ15μmの電気銅めっき
膜13を形成した(図4(c)参照)。 〔電気めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電気めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
【0070】(13)さらにめっきレジストを5%KOH水
溶液で剥離除去した後、そのめっきレジスト下のCu金
属層12bおよびNi金属層12aを硫酸と過酸化水素
の混合液でエッチング処理して溶解除去し、独立の上層
導体回路5(バイアホール7を含む)とした(図4
(d)参照)。
【0071】(14)続いて、上記(5) 〜(13)の工程を繰り
返すことにより、さらに上層の導体回路を形成した(図
5(a)〜図6(a)参照)。さらに、上記した工程
(5) で用いたエッチング液と同様のエッチング液を用い
て、導体回路(バイアホール7を含む)5の表面をエッ
チングすることにより導体回路(バイアホール7を含
む)5の表面に粗化面を形成した(図6(b)参照)。
【0072】(15)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.
6重量部、感光性モノマーである多官能アクリルモノマ
ー(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じ
く多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DP
E6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社
製、商品名:S−65)0.71重量部を容器にとり、
攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成物に
対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化学社
製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン
(関東化学社製)0.2重量部を加えて、粘度を25℃
で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト樹脂組成
物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社
製、DVL−B型)で60min-1(rpm)の場合はロ
ーターNo.4、6min-1(rpm)の場合はロータ
ーNo.3によった。
【0073】(16)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DM
TG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成
した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそ
れぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化さ
せ、半田パッド部分が開口した、その厚さが20μmの
ソルダーレジスト層(有機層間樹脂絶縁層)14を形成
した。
【0074】(17)次に、ソルダーレジスト層(有機層間
樹脂絶縁層)14を形成した基板を、塩化ニッケル
(2.3×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム
(2.8×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム
(1.6×10-1mol/l)を含むpH=4.5の無
電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚
さ5μmのニッケルめっき層15を形成した。さらに、
その基板をシアン化金カリウム(7.6×10-3mol
/l)、塩化アンモニウム(1.9×10-1mol/
l)、クエン酸ナトリウム(1.2×10-1mol/
l)、次亜リン酸ナトリウム(1.7×10-1mol/
l)を含む無電解めっき液に80℃の条件で7.5分間
浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚さ0.03μ
mの金めっき層16を形成した。
【0075】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口に半田ペーストを印刷して、200℃でリフローする
ことにより半田バンプ17を形成し、半田バンプ17を
有する多層プリント配線板を製造した(図6(c)参
照)。
【0076】(実施例2)上記(10)の工程において、酸
素ブラズマ処理に代えて、コロナ放電処理を行った以外
は実施例1と同様にして多層プリント配線板を製造し
た。
【0077】(比較例1)上記(10)の工程において、ド
ライ処理を施さなかった以外は実施例1と同様にして多
層プリント配線板を製造した。なお、感光性ドライフィ
ルムを露光、現像処理した後、めっきレジスト3の設け
られた基板の断面を顕微鏡で観察したところ、めっきレ
ジストの形状は、底部に空隙を有するアンダーカット形
状であった。
【0078】実施例1、2および比較例1で得られた多
層プリント配線板について、該多層プリント配線板をカ
ッターで切断し、その断面を顕微鏡で観察したところ、
実施例1、2の多層プリント配線板では、断面が台形状
の導体回路はみられなかったのに対し、比較例1の多層
プリント配線板では、一部に底部が広がっている導体回
路がみられた。
【0079】さらに、実施例1、2および比較例1で得
られた多層プリント配線板について、−55℃で30分
間保持した後、125℃で30分間保持するヒートサイ
クルを1000回繰り返すヒートサイクル試験を実施し
た後、多層プリント配線板をカッターで切断し、その断
面を顕微鏡で観察した。その結果、実施例1、2の多層
プリント配線板では、導体回路の剥離はなく、層間樹脂
絶縁層にクラックの発生もみられなかったの対し、比較
例1の多層プリント配線板では、一部に剥離している導
体回路が見られ、また、層間樹脂絶縁層の一部にクラッ
クの発生がみられた。
【0080】さらに、実施例1、2および比較例1で得
られた多層プリント配線板について、ヒートサイクル試
験を実施した後、導通試験を行ったところ、実施例1、
2の多層プリント配線板では、導通不良が発生していな
かったのに対し、比較例1の多層プリント配線板では、
一部に導通不良が発生していた。
【0081】
【発明の効果】以上説明したように本発明の多層プリン
ト配線板の製造方法によれば、薄膜導体層表面にドライ
処理を施すことにより、表面に付着している不純物等が
除去されるか、または、表面に新たな層が形成される。
その結果、薄膜導体層表面の均一化および清浄化を図る
ことができ、また、薄膜導体層表面の濡れ性が向上する
ことにより薄膜導体層と感光性ドライフィルムとの親和
性が向上し、該薄膜導体層に感光性ドライフィルムが密
着するため、該薄膜導体層上に感光性ドライフィルムを
貼り付けた際に、感光性ドライフィルムに膨れ等が発生
せず、薄膜導体層との密着性に優れた矩形状のめっきレ
ジストを形成することができる。そのため、めっきレジ
ストを形成した後、めっきレジスト非形成部に導体回路
を形成すると、その断面が矩形状の導体回路を形成する
ことができ、隣接する導体回路間で短絡の発生するおそ
れがなく、信号遅延や信号エラーが発生せず、ヒートサ
イクル条件下や高温高湿下において、接続信頼性に優れ
る多層プリント配線板を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(d)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図2】(a)〜(d)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図3】(a)〜(d)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図4】(a)〜(d)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図5】(a)〜(c)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図6】(a)〜(c)は、本発明の製造方法を用いた
多層プリント配線板の製造工程の一部を示す断面図であ
る。
【図7】(a)〜(d)は、従来の多層プリント配線板
の製造工程の一部を示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2、102 層間樹脂絶縁層 3 めっきレジスト 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 12a Ni金属層 12b Cu金属層 13 電気めっき膜 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 はんだバンプ 18 感光性ドライフィルム 21 マスク 22 ドライ処理面 105 導体回路 112 薄膜導体層 113 電気めっき層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E343 AA02 AA15 AA17 AA18 AA19 BB16 BB24 CC62 DD43 EE37 EE53 ER16 ER26 GG03 GG08 5E346 AA12 CC04 CC08 CC09 CC10 CC13 CC32 CC54 DD02 DD03 DD25 DD33 DD44 EE33 FF03 FF07 FF15 GG15 GG17 GG22 GG27 HH26 HH33

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1)薄膜導体層が形成された層間樹脂絶縁
    層上に感光性ドライフィルムを貼り付ける工程、2)前記
    感光性ドライフィルムに露光、現像処理を施すことによ
    りめっきレジストを形成する工程、および、3)めっきレ
    ジスト非形成部に導体回路を形成する工程を含む多層プ
    リント配線板の製造方法であって、前記1)の工程におい
    て、前記薄膜導体層表面にドライ処理を施した後、感光
    性ドライフィルムを貼り付けることを特徴とする多層プ
    リント配線板の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記ドライ処理は、プラズマ処理である
    請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。
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