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JP2003186067A - モード同期レーザ発振を生じる光干渉計、全光スイッチ、全光反多重化器、全光パルス整形器 - Google Patents

モード同期レーザ発振を生じる光干渉計、全光スイッチ、全光反多重化器、全光パルス整形器

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Publication number
JP2003186067A
JP2003186067A JP2001383725A JP2001383725A JP2003186067A JP 2003186067 A JP2003186067 A JP 2003186067A JP 2001383725 A JP2001383725 A JP 2001383725A JP 2001383725 A JP2001383725 A JP 2001383725A JP 2003186067 A JP2003186067 A JP 2003186067A
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JP
Japan
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optical
interferometer
waveguides
light
mode
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001383725A
Other languages
English (en)
Inventor
Taketeru Mukai
剛輝 向井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2001383725A priority Critical patent/JP2003186067A/ja
Priority to US10/319,515 priority patent/US6856716B2/en
Publication of JP2003186067A publication Critical patent/JP2003186067A/ja
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    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
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    • HELECTRICITY
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    • H01S3/1106Mode locking
    • H01S3/1112Passive mode locking
    • H01S3/1115Passive mode locking using intracavity saturable absorbers
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 小型で簡素化された構成を有し、全光スイッ
チ、全光信号波形整形素子あるいは全光反多重化器を構
成できる光干渉計を提供する。 【解決手段】 マッハツェンダ型光干渉計の2本のアー
ム71A,71Bのそれぞれに、位置をずらして非線形
利得領域71a,71bを形成し、さらに前記2本のア
ームを結合する第1および第2のマルチモード干渉計7
2A,72Bそれぞれにおいて、一つの光入出力ポート
にミラー73A、73Bを設け、光キャビティを形成す
る。さらに前記一方のマルチモード光干渉計の前記ミラ
ー形成部分に可飽和吸収領域73を配置し、モード同期
レーザ発振を誘起する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は一般に光通信技術に
係り、特に大容量光通信に使われ、構成が簡単で安定な
動作を示す光素子を提供する。
【0002】近年の大容量光通信技術においては、大容
量トラヒックを扱うのにWDM (波長分割多重)方式
が使われている。WDM方式では、多数の信号に対応し
て波長の異なった光信号成分を形成し、これらの光信号
成分を多重化して単一の波長多重化光信号を形成してい
る。
【0003】一方、このようなWDM方式の通信容量を
さらに増大させるべく、個々の波長成分を時分割多重化
するOTDM(光時分割多重)光通信方式、あるいはT
WDM(時間波長分割多重)光通信方式とよばれる光通
信技術が提唱されている。
【0004】このようなOTMDやTWDMとよばれる
光時分割多重化方式は、信号光を波長多重することで信
号密度を上げるWDM方式に対して、個々の成分波長に
おいて非常に狭いスペクトル幅を持ったパルス光の信号
密度をさらに向上させ、究極的には160Gbit/s
以上の伝送速度を実現することを目指す。
【0005】従来利用可能な技術でこのようなOTDM
方式による光信号伝送を実現しようとすると、例えば1
60Gbit/sあるいはそれ以上の伝送速度で入来す
る光信号をいったん光電変換処理により電気信号に変換
し、タイミング抽出や波形整形、あるいは信号再生等の
処理を行い、得られた電気信号を電光変換処理により光
信号に変換する必要があるが、電気信号の応答速度は光
電変換に使われるフォトダイオード中におけるキャリア
の移動時間で制限されており、高速のPINフォトダイ
オードを使ったとしても、光信号検出に必要な応答速度
は得られない。
【0006】現時点における電気信号検出の速度限界は
40Gbit/s程度であり、この速度以上の速度を有
するOTDM信号を処理するためには、最終的には光信
号を高速の光信号処理によって分割して、電気処理可能
なビットレートに落とす光反多重化処理を行う必要があ
る。
【0007】
【従来の技術】こうした背景を踏まえて最近、電気信号
へ変換することなく、光によって光信号を処理するデバ
イスが研究されている。光制御による光反多重化スイッ
チや、光のままで光信号波形を整形する全光信号波形整
形素子等が、その代表的なものである。以下、これらの
従来技術について説明する。
【0008】図1は、現時点で利用できる技術を使って
構築された光反多重化信号処理システム10の例を示
す。
【0009】光反多重化処理にまず必要となる技術は、
信号光に処理を同期させるためのタイミング抽出であ
る。図1の例では、タイミング抽出を、一部電子素子を
用いて行っている。
【0010】図1を参照するに、入来信号光はビームス
プリッタ11により第1および第2の分枝11A,11
Bにそれぞれ分岐され、第1の分枝11Aの信号光はそ
のまま光スイッチ12に送られる。一方、第2の分枝1
1Bの信号光はフォトダイオード13で光電変換され、
得られた電気信号をPLL(フェーズロックループ)回
路14に通すことでPLL回路14を前記電気信号中の
同期信号に同期させ、前記PLL回路14に同期したタ
イミング発生器15Aの出力により制御光発生用のパル
スレーザ15を発振させる。このようにして形成された
制御光を前記光スイッチ12に供給し、前記光スイッチ
12により前記分枝11A中の信号光をスイッチするこ
とで、所望のDEMUXが達成される。
【0011】しかし、この方法では入来光信号を一旦電
気信号に変換する過程が含まれるため、構成が複雑にな
り、装置が大型化し、コストの面から望ましくない。ま
たこのような構成で必要とされる、160Gbit/s
に達する高速光信号を検出する受光素子を実現するのは
困難である。
【0012】図2は、図1の上記の課題を解決すべく提
案されている、モード同期レーザを用いた構成10Aを
示す。ただし図2中、図1に対応する部分には統一の参
照符号を付し、説明を省略する。
【0013】図2を参照するに、この方法では、前もっ
て信号光をビームスプリッタ11により分枝11Aおよ
び11Bに分岐するのは同じであるが、前記分枝11B
に分岐した信号光を直接モード同期レーザ16に導入す
る。この前記モード同期レーザ16では、信号光のタイ
ミングに引き込まれてモード同期が生じ、必要なタイミ
ングのパルス発振が得られる。このため、このようにし
てモード同期発振を行っているモード同期レーザ16の
出力光を前記光スイッチ12に導入し、所望のDEMU
X動作を行う。
【0014】図2の構成では光電変換および電子回路で
の処理がなく、全て光信号処理により行うことが可能で
ある。このため、図2の例では装置構成を簡素化するこ
とが可能になる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】一方、図2の構成にお
いても、信号光をあらかじめビームスプリッタ11によ
り分岐する必要があり、また光スイッチ12とモード同
期レーザ16の2つの部品を組み合わせる必要がある。
実際の使用に際してはこれら部品の集積化に困難が伴う
のは明らかである。
【0016】この問題に関連して、以下では光スイッチ
12とモード同期レーザ16について、従来の技術、お
よびその課題を説明する。
【0017】従来より、光スイッチ12として図3
(A)に示す非線形ループミラー(NOLM)型の光ス
イッチ20、図3(B)に示すマッハツェンダ型の光ス
イッチ30、図3(C)に示す偏光分離型の光スイッチ
40などの、全光干渉型デバイスが提案されている。
【0018】図3(A)を参照するに、NOLM型光ス
イッチ20では、信号光が注入される光ファイバ21A
がループ21を形成し、注入された信号光は、光ファイ
バーループ21内において互いに逆方向に伝搬する光信
号成分に分割される。光ファイバループ21には、前記
信号光が注入される位置に対して非対称な位置に非線形
屈折率変化を起こす導波路21B(以下、非線形導波路
という)が設けられており、前記非線形導波路21B
は、外部からの制御光により制御されて屈折率変化を生
じる。そこで、前記それぞれの信号光成分を前記ループ
21中に逆方向に伝搬させると、信号光がかかる導波路
を互いに反対方向に通過する際のタイミングのずれによ
って差分位相シフトが生じる。そこで、これら二つの信
号光を合波すると、それらが合波する際の位相差によっ
て信号光のスイッチングがなされる。
【0019】このようにNOLM型光スイッチ20は比
較的簡単な構成で全光スイッチ12を構成できる。一
方、NOLM型光スイッチ20が動作するためには、第
1のパルスが前記非線形導波路21Bを構成する利得媒
質を通過し、その後で制御光が入来し、さらにその後で
第2のパルスが前記利得媒質を通過しなければならな
い。このように、このループ21中の光信号の通過時間
により、スイッチ処理できるビットレートが制限され
る。また、NOLM型で一般的な光ファイバーループを
使っている限り、装置の小型化には限界がある。
【0020】一方、図3(B)のマッハツェンダ型光ス
イッチ30は、マッハツェンダ干渉計を構成するそれぞ
れのアーム31A,31Bに非線形導波路32A,32
Bをそれぞれ配置した構成を有し、導波路33Aから入
来する信号光は前記アーム31A,31Bに分岐されて
それぞれの非線形導波路32A,32Bに導入される。
一方、導波路33Bから入来する制御光は、それぞれの
アーム31A,31Bの非線形導波路32A,32Bに
互いに異なったタイミングで入力され、その結果、前記
アーム31A,31Bを通過する信号光の間に差分位相
シフトが形成される。そこで、前記アーム31Aおよび
31Bを通過した信号光を合波することにより、前記差
分位相シフトに起因するスイッチングがなされる。
【0021】このマッハツェンダ型光スイッチ30では
NOLM型光スイッチ20のように光通過時間による動
作速度の制限は生じないが、非線形導波路が組み込まれ
た平行に配置されたアームが2本必要であり、またその
各々のアーム上に制御光を合波する部品が必要となるこ
とから、構成が大きくなってしまう。
【0022】偏光分離型光スイッチ40は、例えば図3
(C)に示すように導波路41Aから入来する光信号の
一方の偏光成分を複屈折結晶(偏光分離遅延回路)42
で遅らせ、同一の光軸上にある非線形導波路43で、光
信号の2つの偏光成分を同時に位相シフトさせ、さらに
偏光分離遅延回路44で元に戻し、偏光成分によって位
相が異なるパルスだけを偏光子45で取り出すものであ
る。前記非線形導波路43は、導波路41Bからの制御
光により制御される。この方式ではマッハツェンダ型デ
バイスと異なり、干渉計のアームは1つだけであり、構
成を簡素化することができる。しかし、光ファイバー中
を伝送される光信号は偏光成分がランダムであるため、
この偏光分離型光スイッチ40を光ファイバ通信システ
ムに応用するのは困難である。
【0023】次に、図2のDEMUX処理システム10
Bで使われるモード同期レーザ50について、図4を参
照しながら説明する。
【0024】図4は、レーザダイオードにより構成され
る一般的なモード同期レーザ50の例を示す。
【0025】図4を参照するに、モード同期レ−ザ50
は軸方向に延在する光キャビティ中に利得領域50Aと
50Bとが形成されており、間には可飽和吸収領域50
Cが形成されている。また前記利得領域50A,50B
および可飽和吸収領域50Cの各々に対応して電極51
A,51Bおよび51Cが形成されており、前記電極5
1A,51Bには順バイアス極性で駆動電流が注入さ
れ、一方、前記電極51Cには逆バイアス電圧が印加さ
れる。
【0026】図4のレ−ザダイオ−ドは、光キャビティ
の軸方向中央部に可飽和吸収領域50Cが形成された構
造を有しており、衝突モード同期と呼ばれるパルス光が
素子中央の可飽和吸収領域50Cにおいて重畳されるこ
とで光飽和効果を高める構造を採用している。すなわ
ち、光キャビティの中を往復している光は、この可飽和
吸収体で周期的な変調を受け、その結果、キャビティ長
によって決まる特定の周波数での発振が生じる。これが
この系で生じるモード同期動作である。
【0027】図5は、図4のレ−ザダイオ−ドを真中で
折り返した構造をしており、片端面に高反射ミラー52
を形成することでキャビティ長を半分にしているが、実
質的には図4のレ−ザダイオ−ドと等価なものである。
従って図5中、図4に対応する部分には同一の参照符号
を付し、説明を省略する。
【0028】これら以外に、光ファイバを用いたモード
同期レーザも提案されている。
【0029】以上に説明したように、光スイッチ、モー
ド同期レーザとも、多様な形態が提案されているが、こ
れらを組み合わるには、たとえ半導体素子同士であって
も高度な技術が必要とされ、従って、これら既存の技術
を使って光DEMUXシステムの全体サイズを小さくす
るのは極めて困難であることが、明らかである。
【0030】次に、本発明が対象とするもう一つの技
術、すなわち光のままで光信号波形を整形する技術につ
いて、従来提案されている技術を、図6(A)〜(C)
および図7を参照しながら説明する。この技術は極めて
困難であり、最有力と目されるような方法はまだ学会レ
ベルでも見出されていないのが現状である。
【0031】光信号は、光ファイバを通過するうちに劣
化する。その劣化モードの修正を、特徴的な英語の頭文
字を取って「3R」と一般的に呼ぶ。「3R」とは、図6
(A)に示すリシェイピング(乱れた光信号強度を修正
し、”0”/”1”の区別を回復させる)処理、図6
(B)に示すリタイミング(光信号のタイミングを修正
する)処理、および図6(C)に示すリジェネレイショ
ン(弱くなった光信号を回復させる)処理を意味する。
【0032】図7に、このような3R処理を行うための
波長変換を使った光信号波形整形素子60についての提
案を示す。
【0033】図7を参照するに、光導波路61Aから入
来する光信号λsは別の波長λpを有する連続波(CW)
光源61Bからの光と共に、波長変換器62に供給され
る。波長変換器62は可飽和吸収を生じる光素子であ
り、通常は前記CW光源61Bの光を全て吸収するが、
前記導波路61Aから信号光が入ると、信号光により吸
収飽和を生じる。その結果、前記CW光源61Bからの
波長がλpの光は吸収されず、出力される。このよう
に、前記波長変換器62の光出力には、前記入来光信号
が転写される。
【0034】このような前記波長変換器62における吸
収飽和動作の際、前記CW光源61Bの出力や、波長変
換器62の飽和特性により、信号光の強度ばらつきが、
ある程度解消される。すなわち、図6(A)のリシェイ
ピングが生じる。前記波長変換器62を出た出力光信号
は、その後、光ファイバ増幅器63を通る際に増幅され
る。その結果、図6(B)の信号再生がなされる。
【0035】一方、前記波長変換器62において光信号
の入来により生起されたキャリア密度の変動に対応する
電気信号がPLL回路64に供給され、PLL回路64
は前記光信号のタイミングに動作を同期させる。前記P
LL回路64は電界吸収(EA)変調器65を駆動して
おり、前記EA変調器65には、別の連続波光源66か
らの連続光が供給されている。そこで、前記EA変調器
65は、前記入来光信号のタイミングに同期した変調
を、前記光源66からのCW光に対して行う。
【0036】この光源66が形成する連続光の波長λs
は、例えば信号光と同じに設定することができる。この
ようにして前記EA変調器65により形成されたパルス
光は、信号光に対応した、理想的な波形とタイミングを
持っている。
【0037】前記ファイバアンプ63で増幅された光源
61Bからの光信号と、前記EA変調器65で変調され
た前記光源66からの光信号は、可飽和吸収動作を行う
波長変換器67に供給される。前記波長変換器67は、
前記EA変調器65からの光信号が存在しない状態では
前記ファイバアンプ63からの光信号を吸収するように
設定されているが、前記EA変調器65からの光信号が
入来すると、吸収飽和動作により、前記ファイバアンプ
63からの光を通過させる。
【0038】その結果、前記ファイバアンプ63の出力
光信号は、EA変調器65からの光クロック信号のタイ
ミングおよび波形により修正(Re- timing とRe- shapi
ng)され、図6(A)のリシェイピングおよび図6
(B)のリタイミングがなわれる。
【0039】このように、図7の構成は確かに波長がλ
sの信号光に対して前記3R処理を施すことができるが、
上記の説明からもわかるように非常に構成が複雑で、ま
た微妙な光強度の制御を必要とし、現実的な解となりう
るものではなかった。
【0040】そこで本発明は上記の課題を解決した、新
規で有用な光デマルチプレクサを提供することを概括的
課題とする。
【0041】本発明のより具体的な課題は、小型で信頼
性が高く、容易に製作でき、動作速度に光通過時間等に
よる構造的な制限が課せられることがなく、さらに偏波
無依存動作を行う光デマルチプレクサ、およびかかる光
デマルチプレクサに使われる光干渉計を提供することに
ある。
【0042】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題
を、各々第1の側からこれに対向する第2の側に向って
延在し、前記第1の側および前記第2の側において相互
に光学的に結合された第1および第2の光導波路と、前
記第1および第2の光導波路を含み、前記第1の側に形
成された第1の端面と前記第2の側に形成された第2の
端面との間を延在する光キャビティとを備えた光干渉計
であって、前記光キャビティは、前記第1の側に、前記
第1および第2の光導波路の双方に対して光学的に結合
して設けられた光出力ポートを、また前記第2の側に、
前記第1および第2の光導波路の双方に対して光学的に
結合して設けられた光入力ポートを備え、前記第1およ
び第2の光導波路中には、光学的に屈折率変化が誘起さ
れる第1および第2の非線形利得媒質がそれぞれ設けら
れており、さらに前記光キャビティは、前記第1の側
に、前記第1および第2の光導波路の双方に対して光学
的に結合して設けられた可飽和吸収領域を含み、前記光
キャビティ中においてモード同期レーザ発振を生じるこ
とを特徴とする光干渉計により、解決する。
【0043】本発明はまた上記の課題を、各々第1の側
からこれに対向する第2の側に向って延在し、前記第1
の側および前記第2の側において相互に光学的に結合さ
れた第1および第2の光導波路と、前記第1および第2
の光導波路を含み、前記第1の側に形成された第1の端
面と前記第2の側に形成された第2の端面との間を延在
する光キャビティとを備えた光干渉計を含み、前記光キ
ャビティは、前記第1の側に、前記第1および第2の光
導波路の双方に対して光学的に結合して設けられた光出
力ポートを、また前記第2の側に、前記第1および第2
の光導波路の双方に対して光学的に結合して設けられた
光入力ポートを備え、前記第1および第2の光導波路中
には、光学的に屈折率変化が誘起される第1および第2
の非線形利得媒質がそれぞれ設けられており、さらに前
記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1および第
2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設けられ
た可飽和吸収領域を含み、前記光入力ポート供給された
外部パルス光の前記光出力ポートへの転送をスイッチン
グする全光スイッチであって、前記光キャビティ中にお
いてモード同期レーザ発振を生じ、前記モード同期レー
ザ発振のパルス周波数が、前記外部パルス光のパルス周
波数よりも小さいことを特徴とする、全光スイッチによ
り、解決する。
【0044】本発明はまた、各々第1の側からこれに対
向する第2の側に向って延在し、前記第1の側および前
記第2の側において相互に光学的に結合された第1およ
び第2の光導波路と、前記第1および第2の光導波路を
含み、前記第1の側に形成された第1の端面と前記第2
の側に形成された第2の端面との間を延在する光キャビ
ティとを備えた光干渉計を含み、前記光キャビティは、
前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路の双方
に対して光学的に結合して設けられた光出力ポートを、
また前記第2の側に、前記第1および第2の光導波路の
双方に対して光学的に結合して設けられた光入力ポート
を備え、前記第1および第2の光導波路中には、光学的
に屈折率変化が誘起される第1および第2の非線形利得
媒質がそれぞれ設けられており、さらに前記光キャビテ
ィは、前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路
の双方に対して光学的に結合して設けられた可飽和吸収
領域を含み、前記光入力ポート供給された外部パルス光
に対応したパルス光を前記光出力ポートより出力する全
光パルス整形器であって、前記光キャビティ中において
モード同期レーザ発振を生じ、前記モード同期レーザ発
振のパルス周波数が、前記外部パルス光のパルス周波数
よりも小さいことを特徴とする全光パルス整形器によ
り、解決する。
【0045】本発明はまた上記の課題を、第1の光入力
ポートと第1および第2の光出力ポートとを有し、前記
第1の光入力ポートにおいて第1のビットレートの光信
号を供給され、前記第1の光出力ポートより第1の反多
重化光信号を出力する第1の光干渉計と、第2および第
3の光入力ポートと第3および第4の光出力ポートとを
有し、前記第2の光入力ポートにおいて前記第1のビッ
トレートの光信号を供給され、前記第3の光出力ポート
より第2の反多重化光信号を出力する第2の光干渉計と
よりなり、前記第1の光干渉計は、第1の端部および第
2の端部において相互に結合された第1および第2の光
導波路と、前記第1の端部に前記第1および第2の光導
波路に光学的に結合して設けられ、前記第1および第2
の光導波路中を伝搬した光信号を反射する高反射率面
と、前記第1の端部に前記第1の光導波路および前記第
2の光導波路に光学的に結合して設けられた可飽和吸収
媒質と、前記第1の光導波路中に設けられた第1の非線
形利得媒質と、前記第2の光導波路中に設けられた第2
の非線形利得媒質とよりなり、前記第1の光出力ポート
は前記第1の端部において前記第1および第2の光導波
路に光学的に結合して設けられ、前記第2の光出力ポー
トは前記第2の端部において前記第1および第2の光導
波路に光学的に結合して設けられ、前記第1の光入力ポ
ートは前記第2の端部において前記第1および第2の光
導波路に光学的に結合して設けられ、前記第2の光干渉
計は、第3の端部および第4の端部において相互に結合
された第3および第4の光導波路と、前記第3の光導波
路中に設けられた第3の非線形利得媒質と、前記第4の
光導波路中に設けられた第4の非線形利得媒質とよりな
り、前記第2の光入力ポートは前記第4の端部において
前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して設け
られ、前記第3の光入力ポートは前記第3の端部におい
て前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して設
けられ、前記第3の光出力ポートは前記第3の端部にお
いて前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して
設けられ、前記第4の光出力ポートは前記第4の端部に
おいて前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して
設けられ前記第2の光出力ポートは前記第3の光入力ポ
ートに光学的に結合され、前記第1および第2の光干渉
計中においてモード同期レーザ発振が生じることを特徴
とする全光反多重化器により、解決する。
【0046】
【発明の実施の形態】[第1実施例]図8(A),
(B)は、本発明の第1実施例による光干渉計70およ
びその動作を示す図である。
【0047】図8(A)を参照するに、光干渉計70は
2つの光導波路71A,71Bを一対のマルチモード光
干渉計(MMI)72A,72Bで結合した、いわゆる
マッハツェンダ型の構成を有し、前記光導波路71A,
71Bの各々には、非線形利得媒質71a,71bが、
軸方向上の位置をずらして形成されている。
【0048】前記マルチモード光干渉計72A,72B
はいずれも2入力・2出力型のものであり、前記マルチ
モード光干渉計72Aは前記光導波路71Aに結合され
た光入出力ポート72Aaと前記光導波路71Bに結合
された光入出力ポート72Abとを有し、一方前記マル
チモード干渉計72Bは前記光導波路71Aに結合され
た光入出力ポート72Baと前記光導波路71Bに結合
された光入出力ポート72Bbとを有する。
【0049】前記マルチモード光干渉計72Aの光入出
力ポート72Acおよび72Adのうち、一方の光入出
力ポート72Acは前記光干渉計70の光入出力ポート
を形成し、一方、他方の光入出力ポート72Adには、
可飽和吸収媒質73を介して高反射率ミラー73Aが設
けられる。さらに前記マルチモード干渉計72Bの光入
出力ポート72Bcおよび72Bdのうち、一方の光入
出力ポート72Bcは前記光干渉計70の光入力ポート
を形成し、一方、他方の光入出力ポート72Bdには、
高反射率ミラー73Bが設けられる。その結果,図8
(A)の光干渉計70では、前記高反射率ミラー73A
と73Bとの間に、光キャビティ74が形成される。
【0050】このように、図8(A)の光干渉器70で
は高反射率ミラー73A,73Bにより光キャビティ7
4が形成され、しかも前記光キャビティ74中に非線形
利得媒質71a,71bが含まれるため、前記ミラー7
3A,73B間を往復する光によりレーザ発振が生じ
る。その際、前記ミラー73Aに隣接して可飽和吸収領
域73が形成されているため、前記光ポート72Bcか
ら外部光パルス信号が入来した場合、前記干渉計70中
におけるレーザ発振には前記外部光パルス信号のタイミ
ングに対応したモード同期がかかる。
【0051】前記光干渉計70中においてこのようなモ
ード同期レーザ発振が生じた場合、前記光導波路71
A,71B中に設けられた非線形利得媒質71a,71
bが位相変調器として作用し、これを利用して外部光パ
ルス信号の反多重化や光信号成型を行うことが可能にな
る。すなわち、本発明の光干渉器70を使うことによ
り、外部光パルス信号の反多重化および信号波形整形
を、同時に実行することが可能になる。
【0052】以下、図8(A)の光キャビティ74中に
生じるモード同期レーザ発振について説明する。
【0053】図8(B)は、モード同期光の前記ミラー
73A,73B間における往復光路を示す。
【0054】図8(B)を参照するに、モード同期光は
前記ミラー73Aで反射された後、可飽和吸収媒体73
に入射し、さらに光入出力ポート72Adを通って前記
マルチモード光干渉計72Aに入射し、二つの光線に分
離される。このうち一方の光線は前記光入出力ポート7
2Aaから前記光導波路71Aに入り、非線形利得媒質
71aを通過し光増幅および位相変調を受けた後、マル
チモード光干渉計72Bに入射する。他方の光線は、前
記光入出力ポート72Abから光導波路71Bに入り、
非線形利得媒質71bを通過し、同様に光増幅および位
相変調を受けた後、同じマルチモード光干渉計72Bに
入射する。
【0055】前記マルチモード光干渉計72Bにおい
て、前記二つの光線はともに前記光入出力ポート72B
dに形成されたミラー73Bに導かれ、反射された後、
前記マルチモーと光干渉計72Bにおいて再び二つの光
線に分離され、前記光入出力ポート72Baおよび72
Bbにおいて前記光導波路71Aおよび71Bにそれぞ
れ入射し、前記非線形利得領域71aおよび71bを通
過して光増幅および位相変調を受けた後、前記マルチモ
ード光干渉計72Aに戻り、前記光ポート72Adに集
められる。さらにこのように前記入出力光ポート72A
dに集められた光は前記可飽和吸収領域73を通った
後、ミラー73Aで反射される。
【0056】このように、前記光干渉計70の光キャビ
ティ74に形成されるモード同期光は、往路・復路とも
に常に可飽和吸収体73に入射し、かつ2つの非線形利
得媒質71a、71bを通過する。このような光路は、
前記マルチモード光干渉計72A,72Bを左右対称に
配置することで実現できる。
【0057】図9(A)〜(C)に、本発明におけるモ
ード同期の動作を示す。このうち、図9(A)は図8
(A)の光キャビティ74を等価的に示している。
【0058】図9(A)を参照するに、前記光パルスは
前記ミラー73Aと73Bとの間を往復しているが、一
つの光パルスがミラー73Aで反射され、可飽和吸収媒
質73に入射すると、可飽和吸収媒質73が生じる光損
失は、吸収飽和現象により、図9(B)に示すように鋭
く落ち込み、光パルスが通過した後、徐々に回復する。
ただし図9(B)中、横軸は時間を示す。
【0059】一方、図9(A)の非線形利得媒質71
a,71bは、入射光に応じて誘導放出現象によりそれ
ぞれ利得Ga,Gbを生じるが、非線形利得媒質71
a,71bの光キャビティ74の軸方向上における位置
が可飽和吸収媒質73の位置からずれており、このた
め、光パルスが前記可飽和吸収媒体73を通過し、可飽
和吸収媒体73が生じる光損失が減少したタイミング
で、図9(B)に示すように利得GaとGbの和Ga+
Gbが立ち上がると、このタイミングで光増幅が生じ、
図9(C)に示すような光パルスが繰り返し形成され
る。これがこの系におけるモード同期発振である。
【0060】以上を念頭に、図10(A),(B)を参
照しながら、図8(A)の光干渉計70において生じる
光スイッチング動作を説明する。
【0061】図10(A)を参照するに、このようなモ
ード同期発振が生じている光干渉計70中に、マルチモ
ード光干渉計72Aからのモード同期光が光導波路71
A,71B中をマルチモード光干渉計72Bへと進行し
ている状態で外部光信号パルス列を、前記光入出力ポー
ト72Bcを介して注入した場合、前記光導波路71A
では、前記マルチモード光干渉計72Aに近い位置にあ
る非線形利得媒質71aにおいてモード同期光により誘
導放出およびこれに伴うキャリアの枯渇が直ちに生じる
のに対し、光導波路71Bでは、非線形利得媒質71b
がマルチモード光干渉計72Aから遠い位置にあるた
め、前記非線形利得媒質71bにおける誘導放出は、前
記非線形利得媒質71aにおける誘導放出よりも遅れて
生じる。
【0062】そこで、前記マルチモード光干渉計72B
から光導波路71A,71Bに入射する光信号パルス
は、光導波路71Bにおいては誘導放出によるキャリア
の枯渇が生じていない状態の非線形利得媒質71bを通
過するのに対し、光導波路71Aにおいては、既にキャ
リアの枯渇が生じている非線形利得媒質71aを通過す
ることになる。
【0063】非線形利得媒質71a,71bにおいてキ
ャリアの枯渇が生じると光導波路の屈折率が変化し、そ
の結果、前記光導波路71A,71Bを通過する光信号
パルスの間に位相差が発生する。
【0064】図10(A),(B)の構成において、前
記マルチモード光干渉計72Aは、前記光導波路72
A,72B中を通って入来する光信号パルスの位相が同
相である場合、光入出力ポート72Acに光出力が生じ
るように、また逆相である場合、光入出力ポート72A
dに光出力が生じるように設計されており、従って、図
10(A)の場合には、前記光入出力ポート72Adに
光出力が生じるが、記光入出力ポート72Adには可飽
和吸収媒体73が形成されている。この場合、光入出力
ポート72Acには光出力は生じない。
【0065】一方、図10(B)の場合で、前記ミラー
73Bで反射されたモード同期光が前記マルチモード光
干渉計72Aに向って前記光導波路71A,71B中を
進行している場合、前記光入出力ポート72Bcから入
来する光信号パルスも同じ速度で同一方向に進行するた
め、モード同期光により前記非線形利得媒質71a,7
1bにおいて吸収飽和が生じても、前記マルチモード光
干渉計72Aに到達した時点では、前記光導波路71A
および71B中を伝搬する光信号パルスの間に位相差は
発生せず、その結果、前記入来光信号パルスに対応した
光出力パルスが、前記マルチモード光干渉計72Aの光
入出力ポート72Acに発生する。
【0066】このように、図8(A)の光干渉計70
は、入来する光信号パルスをスイッチングする全光スイ
ッチとして動作することができる。
【0067】また前記図10(A)の状態においては、
先にも説明したように光信号パルスに対応した光出力が
前記光入出力ポート72Adに生じ、前記可飽和吸収媒
質73に入射するが、特に前記入射光信号パルスの波長
が前記モード同期光の波長と同じである場合、入射光信
号パルスにより前記モード同期発振に引き込みが生じ、
その結果、上記光スイッチング動作の際にモード同期同
期が、自動的に達成される。
【0068】図11〜図13は、図10(A)の光干渉
計70のより詳細な構造を示す。ただし図11は平面図
を、一方図12は図11中、断面Aに沿った断面図を、
さらに図13は図11中、断面Bに沿った断面図を示
す。図中、差器に説明した部分には対応する参照符号を
付し、説明を省略する。
【0069】図11の平面図を参照するに、前記非線形
利得領域71aは、光導波路71A上に電極701aを
形成することにより形成されており、同様に非線形利得
領域71bは、光導波路71B上に電極701bを形成
することにより形成されていう。さらに前記可飽和吸収
領域73も、前記光入出力ポート72Adからミラー7
3Aに延在する光導波路上に電極703を形成すること
により、形成されている。
【0070】図12の断面図を参照するに、前記光干渉
計70は裏面にAu電極701Aが一様に形成されたn
型InP基板701上に形成されており、前記基板70
1上にはn型InPよりなる下部クラッド層702A,
702Bが、それぞれ前記導波路71Aおよび71Bに
対応して、1.0μmの厚さで形成されている。
【0071】前記光導波路71Aにおいては前記n型I
nP下部クラッド層702A上に、InGaAs量子井
戸層とInGaAsPバリア層とを繰り返し形成したM
QW構造703A2を、0.05μmの厚さを有する一
対の非ドープInGaAsP光導波層703A1により
上下方向に挟持した光コア層704Aが形成されてお
り、前記光コア層704A上にはp型InPよりなる第
1の上部クラッド層705Aが0.5μmの厚さに形成
されている。前記n型InPクラッド層702A,光導
波層703A,MQW構造704Aおよびp型第1上部
クラッド層705Aは、前記第1の光導波路71A中に
おいてメサ構造MAを形成している。さらに前記メサ構
造MAの両側には、p型InP埋込層706A1および
706A2が形成されており、前記p型InP埋込層7
06A1および706A2上には、それぞれn型InP埋
込層707A1および707A2と、p型InP埋込層7
08A 1および708A2とが、順次形成されている。
【0072】さらに前記メサ構造MA上には、p型In
Pよりなる第2の上部クラッド層709Aが3.0μm
の厚さに形成されており、前記第2の上部クラッド層7
09A上にはp型InGaAsコンタクト層710Aが
0.5μmの厚さに形成されている。前記コンタクト層
710Aおよび第2上部クラッド層709Aは、前記埋
込層706A1〜708A1および706A2〜708A2
とともに、前記メサ構造MAを含み前記光導波路71A
を構成するメサ構造を形成する。
【0073】なお、前記光導波路71Aのうち、前記電
極701aに対応する部分以外では、前記コア層704
Aは図12のコア層704Bと同じ、単一のInGaA
s層により形成される。同様に、前記光導波層71Bの
うち、前記電極701bにより覆われている部分では、
前記コア層704Bは図12のコア層704Aと同様
な、MQW層を含む構成を有する。さらに前記光導波路
71Aを構成する第1上部クラッド層705Aも、前記
電極701a直下の領域を除くとn型InPより形成さ
れており、同様に前記光導波路71Bを構成する第1上
部クラッド層705Bも、前記電極701b直下の領域
は電流路を形成するp型InPにより形成されている。
前記InGaAsコア層704A,704Bは約3.2
5の屈折率を有し、これに対し前記InPクラッド層7
02A,705A,709A、あるいはInPクラッド
層702B,705Bあるいは709Bは約3.18の
屈折率を有する。
【0074】図12の断面図では、前記光導波路71A
は、前記コンタクト層710Aを露出する開口部711
Aを形成されたSiO2パッシベーション膜711によ
り覆われており、前記開口部711Aにおいて前記コン
タクト層710AにAuZnオーミック電極701a1
がオーミック接触して形成される。前記オーミック電極
701a1上には、さらにAu電極701a2が電解めっ
き法により形成される。前記オーミック電極701a1
およびAu電極701a2は、全体として図11に示し
た電極701aを形成する。
【0075】同様に前記光導波路71Bにおいては前記
n型InPクラッド層702B上に非ドープInGaA
sコア層704Bが0.2μmの厚さに形成されてお
り、前記コア層704B上にはn型InPよりなる第1
クラッド層705Bが0.5μmの厚さに形成されてい
る。前記InPクラッド層702B,光コア層704B
および第1クラッド層705Bは前記光導波路71Bに
おいてメサ構造MBを形成しており、前記メサ構造MB
の両側には、p型InP埋込層706B1および706
2が形成されており、前記p型InP埋込層70BA1
および706B2の上には、それぞれn型InP埋込層
707B1および707B2と、p型InP埋込層708
1および708B2とが、順次形成されている。
【0076】さらに前記メサ構造MB上にはp型InP
よりなる第2の上部クラッド層709Bが形成され、前
記上部クラッド層709Bは、前記埋込層706B1
708B1および706B2〜708B2とともに、前記
メサ構造MBを含み前記光導波路71Bを構成するメサ
構造を形成する。前記光導波路71Bを構成するメサ構
造は、前記SiO2パッシベーション膜711により覆
われている。
【0077】なお、同様な断面構造が、半導体光増幅器
よりなる前記非線形利得領域71bや、可飽和吸収領域
73にも形成される。ただし前記非線形利得領域71b
では、電極701bは光導波路71Bに設けられてい
る。前記可飽和吸収領域73も、同様な断面構造を有し
ている。
【0078】図13は、図11の光干渉計70のうち、
マルチモード光干渉計72Bを切断した断面Bに沿った
断面図を示す。
【0079】図13を参照するに、前記n型InP基板
701上にはn型InP下部クラッド層702が1.0
μmの厚さで、前記下部クラッド層702A,702B
の延在部として形成されており、さらに前記下部クラッ
ド層702上には非ドープInGaAsコア層704が
2.0μmの厚さで、前記コア層704Aおよび704
Bの延在部として形成されている。さらに前記コア層7
04上には、n型InPよりなる第1の上部クラッド層
が、前記第1上部クラッド層705Aおよび705Bの
延在部として0.5μmの厚さに形成され、前記第1上
部クラッド層705上にはp型InPよりなる第2の上
部クラッド層709が、前記第2上部クラッド層709
Aおよび709Bの延在部として形成されており、前記
下部クラッド層702,コア層704および第1上部ク
ラッド層705よりなるメサ構造の一方の側には、前記
p型InP埋込層706A1の延在部に対応するp型埋
込層706Aと、前記n型InP埋込層707A1の延
在部に対応するn型埋込層707Aと、前記p型InP
埋込層708A1の延在部に対応するp型埋込層708
Aとを積層した積層構造が形成されており、また他方の
側には、前記p型InP埋込層706Bの延在部に対
応するp型埋込層706Bと、前記n型InP埋込層7
07B2の延在部に対応するn型埋込層707Bと、前
記p型InP埋込層708Bの延在部に対応するp型
埋込層708Bとを積層した積層構造が形成されてい
る。
【0080】図11の光干渉計70においては、前記電
極701aおよび701bに順方向バイアス電圧を印加
することにより、前記非線形利得領域71aおよび71
bがそれぞれ形成され、また前記電極703に逆方向バ
イアス電圧を印加することにより、前記可飽和吸収領域
73が形成される。
【0081】なお、図11の構成において可飽和吸収領
域73では、コア層はInGaAsPにより形成され
る。その際、前記可飽和吸収領域73は、例えば幅が1
μmで、光導波方向への長さが75μmになるように形
成することができる。一方、前記マルチモード光干渉計
72A,72Bは、例えば幅が15μmで光の入射方向
への長さが330μmになるように形成する。さらに前
記非線形利得領域71a,71bを構成する半導体光増
幅器は、幅が1μmの光導波路上において330μmの
長さを有するように形成する。ただし、前記半導体光増
幅器の長さは、注入電流の値次第で変化し、例えば30
0μmとすることもできる。
【0082】図14は、図8(A)の光干渉器70に等
価な一変形例による光干渉器70Aの構成を示す。
【0083】図14を参照するに、前記光干渉計70A
は前記光干渉計70と同一構成の光干渉計701に、同
じく同一構成の光干渉計702を、前記可飽和吸収媒体
73において左右反転して結合した構成を有し、前記光
入出力ポート72Bcに対応する光入出力ポート(72
Bc)1に入来した光信号パルスの、同じく前記光入出
力ポート72Bcに対応する光入出力ポート(72B
c)2への伝送をスイッチングする。
【0084】図15は図8(A)の光干渉計70の別の
変形例70Bを示す。
【0085】図15を参照するに、光干渉計70Bは図
11〜13で説明したInP基板701上に形成されて
おり、前記高反射率ミラー73AがInP基板701の
出射側端面全体にわたり形成されている。
【0086】かかる構成の光干渉計70Bでは、このよ
うに前記出射側端面前面に高反射ミラー73Aが形成さ
れているため、出力光信号パルスが得られる光入出力ポ
ート72Acを光導波路により基板701の側面に引き
出している。
【0087】図15の光干渉計70Bのその他の特徴お
よび動作は先に説明したものと同じであり、説明を省略
する。 [第2実施例]図16(A)〜(C)は、前記光干渉計
70を使って構成した本発明の第2実施例による全光反
多重化器80の構成および動作を示す。ただし図中、先
に説明した部分には同一の参照符号を付し、説明を省略
する。
【0088】図16(C)を参照するに、全光反多重化
器80は先に図11で説明した光干渉計70を基に構成
されており、前記ミラー73Aからミラー73Bまでの
光キャビティ長が2300μmに設定されている。
【0089】このような光干渉計中において前記光キャ
ビティのキャビティ長を2300μmに設定することに
より、前記光キャビティ中には図16(A)に示すよう
に40Gbit/sの速度のモード同期光が、基本モー
ド同期光の2次高調波として形成され、一方前記非線形
利得媒質71a,71bの間の間隔を1140μmに設
定することにより、前記非線形利得媒質71a,71b
の間の間隔が80Git/sの光信号のパルス間隔に一
致させられる。
【0090】そこで、前記光入出力ポート72Bcに8
0Gbit/sの光信号パルスを供給する場合、前記モ
ード同期光が前記光キャビティ中を1往復する間に、図
16(B)に示すように二つの光信号パルスが入来する
ことになる。このうち、モード同期光の進行に対向する
ようなタイミングで入射した光信号は、図10(A)で
説明したように光導波路71A,71B間において差分
位相シフトを生じ、その結果、前記マルチモード光干渉
計72Aにおいて前記可飽和吸収媒体72Adが設けら
れた光入出力ポート72Adに導かれる。
【0091】一方、前記モード同期光の進行に対向する
ようなタイミングで入射した光信号は、図10(B)で
説明したように光導波路71A,71B間において差分
位相シフトが生じることがなく、従って前記光信号は光
入出力ポート72Acに導かれる。その結果、80Gb
it/sの光入力信号から、40Gbit/sの光信号
を抽出することが可能になる。その際、前記モード同期
光には、前記可飽和吸収媒質73に入来する光信号パル
スによるタイミング引き込みが生じ、その結果前記入来
光信号とモード同期光とのタイミング同期が、自動的に
達成される。 [第3実施例]図17(A)〜(C)は、本発明の第3
実施例による全光反多重化器90の構成を示す。ただし
図中、先に説明した部分には同一の参照符号を付し、説
明を省略する。
【0092】図17(A)〜(C)を参照するに、全光
反多重化器90は図16の全光反多重化器80と同様
に、先に図11で説明した光干渉計70を基本として構
成されており、前記非線形利得領域71aと71bとの
間の間隔が1710ミクロンに設定されている。また前
記ミラー73Aからミラー73Bまでのキャビティ長が
3400μmに設定されている。
【0093】このような光干渉計中において光キャビテ
ィ長を3420μmに設定することにより、前記光キャ
ビティ中には図17(A)に示す40Gbit/sの速
度のモード同期光が、基本モード同期光の3次高調波と
して形成され、また前記非線形利得媒質71a,71b
の間の間隔を1140μmに設定することにより、前記
非線形利得媒質71a,71bの間の間隔が160Gb
it/sの光信号パルス3つ分に一致させられる。
【0094】そこで、前記光入出力ポート72Bcに図
17(B)に示す160Gbit/sの光信号パルスを
供給すると、先の場合と同様にして3つの光信号パルス
は前記可飽和吸収領域73に導かれ、一つの光信号パル
スだけが光入出力ポート72Acに導かれる。この場合
にも、前記モード同期光のタイミングは、前記光信号パ
ルスのタイミングに、自動的に引き込まれる。 [第4実施例]図18(A)〜(C)は、本発明の第4
実施例による全光反多重化器100の構成を示す。ただ
し図中、先に説明した部分には同一の参照符号を付し、
説明を省略する。
【0095】図18(A)〜(C)を参照するに、光反
多重化器100は図16の光反多重化器80と同様に、
先に図11で説明した光干渉計70を基本として構成さ
れており、前記非線形利得領域71aと71bとの間の
間隔が2710ミクロンに設定されている。また前記ミ
ラー73Aからミラー73Bまでのキャビティ長が45
60μmに設定されている。
【0096】このような光干渉計中において光キャビテ
ィ長を4560μmに設定することにより、前記光キャ
ビティ中には図18(A)に示す40Gbit/sの速
度のモード同期光が、基本モード同期光の4次高調波と
して形成され、また前記非線形利得媒質71a,71b
の間の間隔を2710μmに設定することにより、前記
非線形利得媒質71a,71bの間の間隔が400Gb
it/sの光信号パルス9つ分に一致させられる。
【0097】そこで、前記光入出力ポート72Bcに図
18(B)に示す400Gbit/sの光信号パルスを
供給すると、先の場合と同様にして9つの光信号パルス
は前記可飽和吸収領域73に導かれ、一つの光信号パル
スだけが光入出力ポート72Acに導かれる。この場合
にも、前記モード同期光のタイミングは、前記光信号パ
ルスのタイミングに、自動的に引き込まれる。
【0098】なお、以上の実施例による光反多重化器7
0〜100においては出力光信号はいずれも40Gbi
t/sの速度を有するが、本発明は決してこの特定の信
号速度に限定されるものではなく、これよりも高速な光
信号が得られるようにも、また低速な光信号が得られる
ようにも設計することが可能である。
【0099】また以上の各実施例による光反多重化器7
0〜100において、光信号パルスとモード同期光と
は、光信号のみをモード同期光からフィルタにより容易
に分離できるように、互いに異なった波長を有するのが
好ましい。特に、前記光信号パルスは前記非線形利得領
域71a,71bを構成する半導体光増幅器に対して透
明な波長を有するのが好ましい。これは、光信号パルス
が非線形利得領域71a,71bにおいて利得が発生す
るような波長を有すると、光信号パルスの入来によって
光増幅作用およびこれに伴うキャリア密度の変動が生
じ、先に説明した光スイッチング動作がかく乱されてし
まうためである。また前記非線形利得領域71a,71
bを構成する半導体光増幅器では自然放出による発光が
生じ、これが増幅されてノイズを生じるが、このような
自然放出光は半導体光増幅器が利得を生じるような波長
を有しており、光信号波長をモード同期光の波長とずら
しておくことにより、換言すると、非線形利得領域71
a,71bが透明になるような光信号波長を使うことに
より、光信号をモード同期光からフィルタにより容易に
分離することができる。このように非線形利得領域71
a,71bに対して透明な光信号波長を使った場合で
も、前記モード同期光による非線形利得領域71a,7
1bにおける屈折率変化は同様に生じる。従って、この
ような光信号波長においても光信号パルス相互間の差分
位相シフトによる光スイッチングは同様に有効である。 [第5実施例]図19(A)〜(C)は、本発明の第5
実施例による全光パルス整形素子(3R素子)110の
構成を示す。ただし図中、先に説明した部分に対応する
部分には同一の参照符号を付し、説明を省略する。
【0100】本実施例の全光3R素子110は、波長が
1.55μmで160Gbit/sの信号速度で入来す
る光信号パルスを、光信号パルスのままで再生(regene
rate)し、整形(reshape)し、タイミング合わせ(ret
iming)する素子である。
【0101】図19(A)〜(C)を参照するに、光3
R素子110は、先の実施例で説明した全光反多重化器
80〜100と同様に、図11で説明した光干渉計70
を基本として構成されており、前記非線形利得領域71
aと71bとの間の間隔が280ミクロンに設定されて
いる。また前記ミラー73Aからミラー73Bまでのキ
ャビティ長が1680μmに設定されている。
【0102】このような光干渉計中において光キャビテ
ィ長を1680μmに設定することにより、前記光キャ
ビティ中には図19(A)に示す160Gbit/sの
速度のモード同期光が、基本モード同期光の6次高調波
として形成され、また前記非線形利得媒質71a,71
bの間の間隔を280μmに設定することにより、前記
非線形利得媒質71a,71bの間の間隔が、160G
bit/sの光信号パルス間隔の1/2になる。
【0103】そこで、前記光入出力ポート72Bcに図
19(B)に示す160Gbit/sの光信号パルスを
供給すると、モード同期光の速度と光信号パルスの速度
とが一致しているため、前記非線形利得媒質71a,7
1bのいずれにおいても光信号パルスが、前記光信号パ
ルスに対向する向きに進行しているモード同期光と重な
るタイミングが存在し、このようなタイミングに対応す
る光信号パルス部分が選択的に光入出力ポート72Ac
へとスイッチングされる。その際、前記非線形利得領域
71aおよび71bの位置を、位相差が光信号パルスの
ピーク部分においてではなく、次の光信号パルスとの境
界部分において生じるように設定しておくことにより、
光信号パルスの広がり部分あるいは次の光信号パルスと
重なる部分を切り捨てること、すなわち光パルス整形お
よびタイミング合わせが可能になる。 [第6実施例]次に、本発明において使われるモード同
期高調波の制御する方法、およびこれを使った本発明の
第6実施例による光反多重化器について説明する。
【0104】通常のモード同期レーザでは、モード同期
光の高調波次数は、利得領域に注入する電流を大きくす
るのに従って増大する。従って特別な構造を用いること
なく所望のモード同期次数を得ることが可能であるが、
一方、意図的にモード同期次数を制御する構造を使うこ
とで、モード同期レーザの動作を安定させることができ
る。
【0105】図20(A),(B)は、衝突モード同期
を用いたモード同期レーザにおけるモード次数の制御に
ついて、それぞれ光キャビティ端面が高反射(HR)膜で覆
われている場合とそうでない場合について示す。ただし
衝突モード同期とは、対向する向きに進行するモード同
期光が可飽和吸収媒体で重なるように可飽和吸収媒質の
位置を設定することで、飽和の発生効率を向上させる技
術である。特に図20(B)の高反射膜を用いる場合
は、自己衝突モード同期とよばれる。
【0106】図20(A),(B)を参照するに、可飽
和吸収媒質SAは長さがxで利得領域GAINを含む光
キャビティの中央部に形成されており、この位置におい
て利得をクランプすることにより、周波数fがnv/x
のモード同期光を形成することができる。ただしvは前
記光キャビティ中における光速、nは高調波次数であ
る。図20(A)は、2次高調波の場合を示す。
【0107】図20(B)のように光キャビティの両端
面に高反射率ミラーHRを形成した場合には、光キャビ
ティの物理的な長さは図20(A)の半分になるが、こ
のような光キャビティの中央部に可飽和吸収媒質SAを
形成することにより、図20(A)と同様な高調波モー
ド同期光を形成することが可能になる。
【0108】これに対し、従来より可飽和吸収媒質を、
図21(A)あるいは(B)に示すように、光キャビテ
ィ中のモード次数に対応した非対称な位置に挿入するこ
とにより、所望のモード次数制御を行う技術が提案され
ている(T. Shimizu et al.,Electronics Letters vol.
33, pp.1869, 1997)。ただし図21(A)は光キャビ
ティの両端に高反射率膜が形成されていない場合を、ま
た図21(B)は光キャビティの両端に高反射率膜が形
成されている場合を示す。このように光キャビティを構
成することにより、モード同期レーザの発振周波数を増
大させることができる。
【0109】ところで、前記図21(A),(B)の構
成は、単にモード同期レーザに用いている限り、発振周
波数の増大にしか効果がないが、本発明における光干渉
器に用いた場合には、光機能素子の性能向上という新し
い効果を発現することが可能である。
【0110】図22(A)〜(C)は、このような可飽
和吸収媒質を光キャビティ中に非対称に設けた本発明の
第6実施例による全光反多重化器120の構成および動
作を示す。ただし図中、先に説明した部分には同一の参
照符号を付し、説明を省略する。
【0111】図22(A)〜(C)を参照するに、光反
多重化器120は先に図11で説明した光干渉計70を
基本として構成されており、前記非線形利得領域71a
と71bとの間の間隔が1710μmに設定されてい
る。また前記ミラー73Aからミラー73Bまでのキャ
ビティ長が4560μmに設定されている。
【0112】さらに前記光反多重化器120において
は、前記マルチモード光干渉計72Aの光入出力ポート
72Adに光導波路72ADが接続されており、前記ミ
ラー73Aはかかる光導波路72ADの端面に形成され
ている。また本実施例では、前記可飽和吸収媒体73
が、前記光導波路73AD中の、前記ミラー73Aから
測って1140nmの位置に形成されている。また前記
マルチモード光干渉計72Bの光入出力ポート72Bc
には、160Gbit/sの光信号パルスが供給され
る。
【0113】このような光干渉計中において光キャビテ
ィ長を4560μmに設定することにより、前記光キャ
ビティ中には図22(A)に示す40Gbit/sの速
度のモード同期光が、基本モード同期光の4次高調波と
して安定に形成される。また前記非線形利得媒質71
a,71bの間の間隔を1710μmに設定することに
より、前記非線形利得媒質71a,71bの間の間隔が
160Gbit/sの光信号パルス3つ分に一致させら
れる。
【0114】そこで、前記光入出力ポート72Bcに図
22(B)に示す160Gbit/sの光信号パルスを
供給すると、先の場合と同様にして3つの光信号パルス
は前記可飽和吸収領域73に導かれ、一つの光信号パル
スだけが光入出力ポート72Acに導かれる。この場合
にも、前記モード同期光のタイミングは、前記光信号パ
ルスのタイミングに、自動的に引き込まれる。 [第7実施例]次に、図17の光反多重化器90を例
に、2つの非線形利得媒質71a,71bに要求される
位相変化、およびそのタイミングについて、詳しく説明
する。
【0115】図17の実施例のように160Gbit/
sの速度で入来する光信号パルスのうち、4つに一つを
取り出す場合、前記非線形利得媒質71a,71b間の
位置ずれは、先にも説明したように光信号パルス3個分
必要である。その際、光スイッチング動作のために求め
られる位相変化量は、光信号パルス3個分については光
導波路71A,71B間での位相差が理想的にはπであ
り、残りの1個の光信号パルスについては同位相となる
ことが要求される。
【0116】図23は、図17の光反多重化器90にお
いて光導波路71A,71B間に生じる差分位相シフト
の時間変化を示す図である。ただし図22では、信号光
とモード同期光が同方向に進む場合は、スイッチングに
寄与しないことから無視している。
【0117】図23を参照するに、それぞれの非線形利
得媒質71a,71bにおける位相変化量AおよびB
は、いずれも光が入射した直後には急速に増加するが、
その後のキャリア密度の回復が比較的ゆっくりと生じる
ため、位相変化量の時間変化を見ると、A,Bともにの
こぎり型の形状となる。また、2つの光導波路71A,
71B間でモード同期光が非線形導波路71A,71B
に入射するタイミングが異なるため、図22に示される
ように位相変化Aのタイミングは位相変化Bのタイミン
グに対してずれている。
【0118】また図23よりわかるように、各非線形利
得媒質71a,71bにおけるモード同期光入射による
位相変化量の変化幅はπよりも若干小さいが、左右の光
導波路71A,71Bの間の位相差を見ると、ちょうど
信号3個分についてπ、それ以外はほぼ0に設定できて
おり、従って所望の光スイッチング動作を得ることがで
きる。
【0119】図24は、前記非線形利得媒質71a,7
1bとして半導体光増幅器を使った場合における、光パ
ルス入力に引き続き生じる位相変化の時間発展を計算し
た例を示す。ただし図24は、前記半導体装置光増幅器
の活性層幅を1μm、長さを1000μm、厚さを50
nm、入射光波長を1.55μm、入射光強度を5mW
とし、半導体光増幅器のバンド端波長を1.65μmと
した場合について、前記バンド端前後の波長を持つ信号
光が半導体光増幅器中で受ける位相変化量を、信号光強
度が0.1mWである場合と1mWである場合について
計算している。
【0120】図24を参照するに、信号光の入射開始か
ら光干渉計の動作が安定するまでには、約200ps程
度の時間が必要であることが分かる。位相変化は、先に
説明した理由から、のこぎり形状をしている。信号光波
長がバンド端波長よりも短い場合には、信号光によって
前記半導体光増幅器中にキャリア密度の変動が誘起され
るため、信号光の強度によって位相変化量も変化する。
しかし、信号光波長がバンド端波長程度あるいはこれよ
りも長い場合には、信号光の強度によって位相変化量が
変わることはない。
【0121】図25(A),(B)は、図23に示した
光スイッチングを実現する条件を、実際にシミュレーシ
ョンによって実現した本発明の第7実施例による光反多
重化器の動作例を示す。ただし図25(A),(B)
中、計算に用いた半導体光増幅器の構成は先の図24の
場合とほぼ同じであるが、バイアス電流を60mAに設
定し、半導体光増幅器71a,71bの長さを1800
μmとしている。
【0122】図25(A)は、前記2つの非線形利得媒
質71a,71bを構成する半導体光増幅器の位置を光
信号パルス3つ分だけずらした場合について求めた、光
信号パルスが光導波路71A,71Bを通過する際に受
ける差分位相シフトの時間変化を示す。
【0123】図25(A)を参照するに、光信号パルス
3つは、ほぼπの位相変化を受けるが、残る1つの光信
号パルスでは、差分位相シフトがほぼゼロとなっている
のがわかる。そこで、この状態において図25(B)下
のような光信号パルスを導入すると、素子通過後は、図
25(B)上に示すように、反多重化動作が得られるこ
とがわかる。 [第8実施例]以上に説明した反多重化器では、時分割
多重化光信号から一つのチャネルの光信号成分を抽出す
るものであるが、一方、同じ時分割多重化光信号から、
各チャネルの光信号成分を一括して抽出できる素子を実
現することも可能である。
【0124】図26は、このような一括反多重化を行う
光反多重化器130の構成を示す。
【0125】図26を参照するに、光反多重化器130
は各々前記光干渉計70に類似した構成を有する光干渉
計130A〜130Dを縦続接続した構成を有し、各々
の光干渉計130A〜130Dには160Gbit/s
の時分割多重化光信号が、マルチモード光干渉計よりな
る光分配器131A〜131Cを介して供給される。
【0126】前記光干渉計130Aは、前記光干渉計7
0と、高反射率反射ミラー73Bが半透明ミラー73
B’に置き換えられた点で異なっており、前記ミラー7
3Aと半透明ミラー73B’とは、モード同期レーザの
光キャビティを形成する。
【0127】一方、前記光干渉計130B〜130Dの
各々では可飽和吸収媒質73およびミラー73A,73
Bが省略されており、従って、前記光干渉計130Aの
光キャビティで形成されたモード同期光は、前記半透明
ミラー73B’を通って前記光干渉計130B〜130
Dに順次供給される。
【0128】そこで前記光干渉計130に160Gbi
t/sの時分割多重化光信号が供給されると、光干渉計
130Dにおいてチャネル1の光信号成分が分離され、
次に光干渉計130Cにおいてチャネル2の光信号成分
が分離され、さらに光干渉計130Bにおおいてチャネ
ル3の光信号成分が分離され、最後に光干渉計130A
においてチャネル4の光信号成分が分離される。
【0129】図26の構成では、先にも説明したように
可飽和吸収媒質73は光干渉計130Aしか設けられて
おらず、またモード同期レーザの光キャビティも前記光
干渉計130Aにしか設けられていない。このような構
成を採用することで、光反多重化処理におけるタイミン
グの制御が容易になり、また複数のモード同期光が発振
することで反多重化動作の混乱が抑制される。各光干渉
計130A〜130Dでの信号分離シーケンスは、光干
渉計相互間を結合する導波路長を調整することによって
設計できる。
【0130】なお本発明は、以上に説明した光干渉計を
構成する特定の材料系に限定されるものではなく、他の
様々な材料系を使って実施できることは、当業者には明
らかである。例えば前記光導波路71A,71Bを光フ
ァイバや石英系材料、あるいはSi単結晶,さらには様
々な光学結晶等により構成することが可能である。ま
た、これらを可飽和吸収媒質とともに集積化することも
可能である。また、空間伝搬光を使う光干渉器を、ハー
フミラー等を用いて構成することも可能である。
【0131】さらに前記マルチモード光干渉計72A,
72Bの代わりに光方向性結合器を使うことも可能であ
る。
【0132】以上、本発明を好ましい実施例について説
明したが、本発明は上記の特定の構成に限定されるもの
ではなく、特許請求の範囲に記載した要旨内において様
々な変形・変更が可能である。
【0133】(付記1) 各々第1の側からこれに対向
する第2の側に向って延在し、前記第1の側および前記
第2の側において相互に光学的に結合された第1および
第2の光導波路と、前記第1および第2の光導波路を含
み、前記第1の側に形成された第1の端面と前記第2の
側に形成された第2の端面との間を延在する光キャビテ
ィとを備えた光干渉計であって、前記光キャビティは、
前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路の双方
に対して光学的に結合して設けられた光出力ポートを、
また前記第2の側に、前記第1および第2の光導波路の
双方に対して光学的に結合して設けられた光入力ポート
を備え、前記第1および第2の光導波路中には、光学的
に屈折率変化が誘起される第1および第2の非線形利得
媒質がそれぞれ設けられており、さらに前記光キャビテ
ィは、前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路
の双方に対して光学的に結合して設けられた可飽和吸収
領域を含み、前記光キャビティ中においてモード同期レ
ーザ発振を生じることを特徴とする光干渉計。
【0134】(付記2) 前記第1の光導波路と前記第
2の光導波路とは、前記第1および第2の側において固
体光学素子により光学的に結合されることを特徴とする
付記1記載の光干渉計。
【0135】(付記3) 前記固体光学素子は、光マル
チモード干渉計および方向性結合器のいずれかよりなる
ことを特徴とする、付記2記載の光干渉計。
【0136】(付記4) 前記光キャビティは、前記第
1の端部に設けられた第1の反射面と、前記第2の端部
に設けられた第2の反射面とを含むことを特徴とする付
記1〜4のうち、いずれか一項記載の光干渉計。
【0137】(付記5) 前記可飽和光吸収媒質は、前
記第1の端部において、前記第1の反射面に接して形成
されていることを特徴とする付記4記載の光干渉計。
【0138】(付記6) 前記可飽和吸収媒質は、前記
第1の端部において、前記第1の反射面から離間して形
成されていることを特徴とする付記4記載の光干渉計。
【0139】(付記7) 前記非線形利得媒質は、半導
体光増幅器であることを特徴とする、付記1〜6のう
ち、いずれか一項記載の光干渉計。
【0140】(付記8) 前記第1および第2の非線形
利得媒質は、前記第1の側と第2の側とを結ぶ干渉計光
軸方向上において互いに異なった第1および第2の位置
にそれぞれ形成されていることを特徴とする付記1〜7
のうち、いずれか一項記載の光干渉計。
【0141】(付記9) 前記第1および第2の位置
は、前記第1の光導波路を通過する第1の光波と前記第
2の光導波路を通過する第2の光波との間に、前記第1
および第2の非線形利得媒質が誘起する光路差が、前記
光入力ポートに入来する外部光パルスのパルス幅と、倍
数の関係になるように設定されていることを特徴とす
る、付記8記載の光干渉計。
【0142】(付記10) 前記光入力ポートに外部光
パルスを入力され、前記モード同期レーザ発振は、前記
外部光パルスの周期に同期して生じることを特徴とする
付記1〜9のうち、いずれか一項記載の光干渉計。
【0143】(付記11) 前記モード同期レーザ発振
は、2次以上の高調周波数で生じることを特徴とする付
記10記載の光干渉計。
【0144】(付記12) 前記第1および第2の非線
形利得媒質は、前記第1および第2の端部に対し、前記
モード同期レーザ発振の高調波が制御されるような位置
に形成されていることを特徴とする付記10または11
記載の光干渉計。
【0145】(付記13) 前記光入力ポートには外部
光が、前記モード同期レーザ発振の波長とは異なる波長
で供給されることを特徴とする、付記1〜12のうち、
いずれか一項記載の光干渉計。
【0146】(付記14) 該非線形利得媒質は、前記
外部光の波長に対して透明であることを特徴とする、付
記13記載の光干渉計。
【0147】(付記15) 前記第1および第2の光導
波路は、前記可飽和光吸収媒質および前記第1および第
2の非線形利得媒質とともに、共通の基板上に集積され
ていることを特徴とする、付記1〜14のうち、いずれ
か一項記載の光干渉計。
【0148】(付記16) 前記基板はInP基板より
なり、前記第1および第2の光導波路,前記固体光学素
子は、InP層で埋め込まれたInGaAsコア層を有
し、前記非線形光学媒体は、InP層で埋め込まれたI
nGaAs活性層を有することを特徴とする、付記2〜
16のうち、いずれか一項記載の光干渉計。
【0149】(付記17) 前記光出力ポートは、前記
第1の端部と前記第2の端部との間の位置で出力光を光
干渉計外部に出射させる光導波路を形成することを特徴
とする付記1〜16のうち、いずれか一項記載の光干渉
計。
【0150】(付記18) 各々第1の側からこれに対
向する第2の側に向って延在し、前記第1の側および前
記第2の側において相互に光学的に結合された第1およ
び第2の光導波路と、前記第1および第2の光導波路を
含み、前記第1の側に形成された第1の端面と前記第2
の側に形成された第2の端面との間を延在する光キャビ
ティとを備えた光干渉計を含み、前記光キャビティは、
前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路の双方
に対して光学的に結合して設けられた光出力ポートを、
また前記第2の側に、前記第1および第2の光導波路の
双方に対して光学的に結合して設けられた光入力ポート
を備え、前記第1および第2の光導波路中には、光学的
に屈折率変化が誘起される第1および第2の非線形利得
媒質がそれぞれ設けられており、さらに前記光キャビテ
ィは、前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路
の双方に対して光学的に結合して設けられた可飽和吸収
領域を含み、前記光入力ポート供給された外部パルス光
の前記光出力ポートへの転送をスイッチングする全光ス
イッチであって、前記光キャビティ中においてモード同
期レーザ発振を生じ、前記モード同期レーザ発振のパル
ス周波数が、前記外部パルス光のパルス周波数よりも小
さいことを特徴とする、全光スイッチ。
【0151】(付記19) 各々第1の側からこれに対
向する第2の側に向って延在し、前記第1の側および前
記第2の側において相互に光学的に結合された第1およ
び第2の光導波路と、前記第1および第2の光導波路を
含み、前記第1の側に形成された第1の端面と前記第2
の側に形成された第2の端面との間を延在する光キャビ
ティとを備えた光干渉計を含み、前記光キャビティは、
前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路の双方
に対して光学的に結合して設けられた光出力ポートを、
また前記第2の側に、前記第1および第2の光導波路の
双方に対して光学的に結合して設けられた光入力ポート
を備え、前記第1および第2の光導波路中には、光学的
に屈折率変化が誘起される第1および第2の非線形利得
媒質がそれぞれ設けられており、さらに前記光キャビテ
ィは、前記第1の側に、前記第1および第2の光導波路
の双方に対して光学的に結合して設けられた可飽和吸収
領域を含み、前記光入力ポート供給された外部パルス光
に対応したパルス光を前記光出力ポートより出力する全
光パルス整形器であって、前記光キャビティ中において
モード同期レーザ発振を生じ、前記モード同期レーザ発
振のパルス周波数が、前記外部パルス光のパルス周波数
よりも小さいことを特徴とする全光パルス整形器。
【0152】(付記20) 第1の光入力ポートと第1
および第2の光出力ポートとを有し、前記第1の光入力
ポートにおいて第1のビットレートの光信号を供給さ
れ、前記第1の光出力ポートより第1の反多重化光信号
を出力する第1の光干渉計と、第2および第3の光入力
ポートと第3および第4の光出力ポートとを有し、前記
第2の光入力ポートにおいて前記第1のビットレートの
光信号を供給され、前記第3の光出力ポートより第2の
反多重化光信号を出力する第2の光干渉計とよりなり、
前記第1の光干渉計は、第1の端部および第2の端部に
おいて相互に結合された第1および第2の光導波路と、
前記第1の端部に前記第1および第2の光導波路に光学
的に結合して設けられ、前記第1および第2の光導波路
中を伝搬した光信号を反射する高反射率面と、前記第1
の端部に前記第1の光導波路および前記第2の光導波路
に光学的に結合して設けられた可飽和吸収媒質と、前記
第1の光導波路中に設けられた第1の非線形利得媒質
と、前記第2の光導波路中に設けられた第2の非線形利
得媒質とよりなり、前記第1の光出力ポートは前記第1
の端部において前記第1および第2の光導波路に光学的
に結合して設けられ、前記第2の光出力ポートは前記第
2の端部において前記第1および第2の光導波路に光学
的に結合して設けられ、前記第1の光入力ポートは前記
第2の端部において前記第1および第2の光導波路に光
学的に結合して設けられ、前記第2の光干渉計は、第3
の端部および第4の端部において相互に結合された第3
および第4の光導波路と、前記第3の光導波路中に設け
られた第3の非線形利得媒質と、前記第4の光導波路中
に設けられた第4の非線形利得媒質とよりなり、前記第
2の光入力ポートは前記第4の端部において前記第3お
よび第4の光導波路に光学的に結合して設けられ、前記
第3の光入力ポートは前記第3の端部において前記第3
および第4の光導波路に光学的に結合して設けられ、前
記第3の光出力ポートは前記第3の端部において前記第
3および第4の光導波路に光学的に結合して設けられ、
前記第4の光出力ポートは前記第4の端部において前記
第3および第4の光導波路に光学的に結合して設けられ前
記第2の光出力ポートは前記第3の光入力ポートに光学
的に結合され、前記第1および第2の光干渉計中におい
てモード同期レーザ発振が生じることを特徴とする全光
反多重化器。
【0153】
【発明の効果】本発明によれば、2入力・2出力の光マ
ルチモード干渉計を少なくとも2つ使ってマッハツェン
ダ型の干渉計を構成し、前記マッハツェンダ型光干渉計
の2本のアームを構成する光導波路のそれぞれに光学的
に屈折率変化が誘起される非線形利得媒質を設け、さら
に前記出力先光マルチモード干渉計の出力ポートの少な
くとも一方に可飽和光吸収媒質を結合し、前記可飽和光
吸収媒質と前記非線形利得媒質によって、この干渉系内
部で受動モード同期レーザ発振を発生させることによ
り、全光スイッチ、全光反多重化器あるいは光信号波形
整形器として使うことのできる光干渉器を実現すること
ができる。
【0154】本発明によって実現される光干渉計は高速
に偏波無依存動作をし、小型・堅牢で、しかもモード同
期レーザを内蔵するため、別途外部のモード同期レーザ
と組み合わせる必要がない。また、共通の基板上に集積
化することにより、複数の装置を組み合わせる際に必要
となる複雑かつ微妙な調整等の問題点を解決することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の光反多重化器の構成を示す図である。
【図2】従来の別の光反多重化器の構成を示す図であ
る。
【図3】(A)〜(C)は、それぞれ従来の光反多重化
器の例を示す図である。
【図4】従来のモード同期レーザの構成を示す図であ
る。
【図5】図4のモード同期レーザの構成を示す別の図で
ある。
【図6】(A)〜(C)は、光信号パルスの整形、タイ
ミング抽出および信号再生の例を示す図である。
【図7】従来の光信号整形回路の構成を示す図である。
【図8】(A),(B)は、本発明第1実施例による光
干渉計の構成および動作を示す図である。
【図9】(A),(B)は、本発明第1実施例による光
干渉計の動作を説明する別の図である。
【図10】(A),(B)は、本発明第1実施例による
光干渉計の動作を説明する別の図である。
【図11】本発明第1実施例による光干渉計の構成をよ
り詳細に示す図である。
【図12】図11の光干渉計の断面図である。
【図13】図11の光干渉計の別の断面図である。
【図14】本発明第1実施例による光干渉計の一変形例
を示す図である。
【図15】本発明第1実施例による光干渉計の別の変形
例を示す図である。
【図16】(A)〜(C)は、本発明第2実施例による
光干渉計の構成および動作を示す図である。
【図17】(A)〜(C)は、本発明第3実施例による
光干渉計の構成および動作を示す図である。
【図18】(A)〜(C)は、本発明第4実施例による
光干渉計の構成および動作を示す図である。
【図19】(A)〜(C)は、本発明第5実施例による
光干渉計の構成および動作を示す図である。
【図20】(A),(B)は、従来の衝突モード同期レ
ーザの動作を説明する図である。
【図21】(A),(B)は、別の衝突モード同期レー
ザの動作を説明する図である。
【図22】本発明第6実施例による光干渉計の構成を示
す図である。
【図23】本発明第7実施例の光干渉計の動作を説明す
る図である。
【図24】本発明第7実施例の光干渉計の動作を説明す
る別の図である。
【図25】(A),(B)は、本発明第7実施例の光干
渉計の動作を説明するさらに別の図である。
【図26】本発明第8実施例による多チャネル全光反多
重化器の構成を示す図である。
【符号の説明】
10,10A 光反多重化信号処理システム 11 ビームスプリッタ 11A,11B 光分枝 12 光スイッチ 13 フォトダイオード 14,64 PLL回路 15 レーザ 15A タイミング発生器 16 モード同期レーザ 20,30,40 全光スイッチ 21 光ファイバループ 21A 光ファイバ 21B,32A,32B,43 非線形導波路 31A,31B 光干渉計アーム 33A,33B,41A,41B,61A 光導波路 42,44 複屈折結晶 45 偏光子 50 モード同期レーザ 51A,51B 利得領域 50C 可飽和吸収領域 52 高反射率ミラー 60 光信号波形整形素子 61B,66 光源 62,67 波長変換器 63 ファイバアンプ 65 電界吸収変調器 70,70A,70B 光干渉計(全光スイッチ) 701,702 光干渉計 71A,71B 光導波路 71a,71b 非線形利得媒質 72A,72B マルチモード光干渉計 72Aa〜72Ad,72Ba〜72Bd,(73B
c)1,(73Bc)2 光入出力ポート 73 可飽和吸収媒質 73A,73B 高反射率ミラー 74 光キャビティ 110 全光パルス整形素子 80,90,100、120,130 全光反多重化器 131A〜131D 光信号分配器 701 n型InP基板 702A,702B n型InP下部クラッド層 703A1 非ドープInGaAsP層 703A2 InGaAs/InGaAsP−MQW層 704A,704B コア層 705A p型InP第1上部クラッド層 705B n型InP第1上部クラッド層 706A1,706A2,706B1,706B2 p型I
nP埋込層 707A1,707A2,707B1,707B2 n型I
nP埋込層 708A1,708A2,708B1,708B2 p型I
nP埋込層 709A,709B p型InP第2上部クラッド層 710A,710B p型InGaAs コンタクト層 711 SiO2パッシベーション膜 701A Au裏面電極 701a 電極 701a1 オーミック電極 701a2 Au層
フロントページの続き Fターム(参考) 2H079 AA02 AA08 AA12 AA14 BA03 CA05 DA16 EA05 EA28 EB15 GA03 HA07 HA08 HA09 KA20 2K002 AA02 AB04 AB40 BA02 CA13 DA08 DA12 DA20 EA03 EB09 HA16 5F073 AA74 AA83 AB21 AB22 AB25 BA01 BA03 CA12 EA29

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各々第1の側からこれに対向する第2の
    側に向って延在し、前記第1の側および前記第2の側に
    おいて相互に光学的に結合された第1および第2の光導
    波路と、 前記第1および第2の光導波路を含み、前記第1の側に
    形成された第1の端面と前記第2の側に形成された第2
    の端面との間を延在する光キャビティとを備えた光干渉
    計であって、 前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1および
    第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設けら
    れた光出力ポートを、また前記第2の側に、前記第1お
    よび第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設
    けられた光入力ポートを備え、 前記第1および第2の光導波路中には、光学的に屈折率
    変化が誘起される第1および第2の非線形利得媒質がそ
    れぞれ設けられており、 さらに前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1
    および第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して
    設けられた可飽和吸収領域を含み、 前記光キャビティ中においてモード同期レーザ発振を生
    じることを特徴とする光干渉計。
  2. 【請求項2】 前記第1および第2の非線形利得媒質
    は、前記第1の側と第2の側とを結ぶ干渉計光軸方向上
    において互いに異なった第1および第2の位置にそれぞ
    れ形成されていることを特徴とする請求項1記載の光干
    渉計。
  3. 【請求項3】 前記第1および第2の位置は、前記第1
    の光導波路を通過する第1の光波と前記第2の光導波路
    を通過する第2の光波との間に、前記第1および第2の
    非線形利得媒質が誘起する光路差が、前記光入力ポート
    に入来する外部光パルスのパルス幅と、倍数の関係にな
    るように設定されていることを特徴とする、請求項2記
    載の光干渉計。
  4. 【請求項4】 前記光入力ポートに外部光パルスを入力
    され、前記モード同期レーザ発振は、前記外部光パルス
    の周期に同期して生じることを特徴とする請求項1〜3
    のうち、いずれか一項記載の光干渉計。
  5. 【請求項5】 前記モード同期レーザ発振は、2次以上
    の高調周波数で生じることを特徴とする請求項4記載の
    光干渉計。
  6. 【請求項6】 前記可飽和吸収領域は、前記第1および
    第2の端部に対し、前記モード同期レーザ発振の高調波
    が制御されるような位置に形成されていることを特徴と
    する請求項4または5記載の光干渉計。
  7. 【請求項7】 前記光入力ポートには外部光が、前記モ
    ード同期レーザ発振の波長とは異なる波長で供給される
    ことを特徴とする、請求項1〜6のうち、いずれか一項
    記載の光干渉計。
  8. 【請求項8】 各々第1の側からこれに対向する第2の
    側に向って延在し、前記第1の側および前記第2の側に
    おいて相互に光学的に結合された第1および第2の光導
    波路と、 前記第1および第2の光導波路を含み、前記第1の側に
    形成された第1の端面と前記第2の側に形成された第2
    の端面との間を延在する光キャビティとを備えた光干渉
    計を含み、 前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1および
    第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設けら
    れた光出力ポートを、また前記第2の側に、前記第1お
    よび第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設
    けられた光入力ポートを備え、 前記第1および第2の光導波路中には、光学的に屈折率
    変化が誘起される第1および第2の非線形利得媒質がそ
    れぞれ設けられており、 さらに前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1
    および第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して
    設けられた可飽和吸収領域を含み、 前記光入力ポート供給された外部パルス光の前記光出力
    ポートへの転送をスイッチングする全光スイッチであっ
    て、 前記光キャビティ中においてモード同期レーザ発振を生
    じ、 前記モード同期レーザ発振のパルス周波数が、前記外部
    パルス光のパルス周波数よりも小さいことを特徴とす
    る、全光スイッチ。
  9. 【請求項9】 各々第1の側からこれに対向する第2の
    側に向って延在し、前記第1の側および前記第2の側に
    おいて相互に光学的に結合された第1および第2の光導
    波路と、 前記第1および第2の光導波路を含み、前記第1の側に
    形成された第1の端面と前記第2の側に形成された第2
    の端面との間を延在する光キャビティとを備えた光干渉
    計を含み、 前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1および
    第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設けら
    れた光出力ポートを、また前記第2の側に、前記第1お
    よび第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して設
    けられた光入力ポートを備え、 前記第1および第2の光導波路中には、光学的に屈折率
    変化が誘起される第1および第2の非線形利得媒質がそ
    れぞれ設けられており、 さらに前記光キャビティは、前記第1の側に、前記第1
    および第2の光導波路の双方に対して光学的に結合して
    設けられた可飽和吸収領域を含み、 前記光入力ポート供給された外部パルス光に対応したパ
    ルス光を前記光出力ポートより出力する全光パルス整形
    器であって、 前記光キャビティ中においてモード同期レーザ発振を生
    じ、 前記モード同期レーザ発振のパルス周波数が、前記外部
    パルス光のパルス周波数よりも小さいことを特徴とする
    全光パルス整形器。
  10. 【請求項10】 第1の光入力ポートと第1および第2
    の光出力ポートとを有し、前記第1の光入力ポートにお
    いて第1のビットレートの光信号を供給され、前記第1
    の光出力ポートより第1の反多重化光信号を出力する第
    1の光干渉計と、 第2および第3の光入力ポートと第3および第4の光出
    力ポートとを有し、前記第2の光入力ポートにおいて前
    記第1のビットレートの光信号を供給され、前記第3の
    光出力ポートより第2の反多重化光信号を出力する第2
    の光干渉計とよりなり、 前記第1の光干渉計は、第1の端部および第2の端部に
    おいて相互に結合された第1および第2の光導波路と、
    前記第1の端部に前記第1および第2の光導波路に光学
    的に結合して設けられ、前記第1および第2の光導波路
    中を伝搬した光信号を反射する高反射率面と、前記第1
    の端部に前記第1の光導波路および前記第2の光導波路
    に光学的に結合して設けられた可飽和吸収媒質と、前記
    第1の光導波路中に設けられた第1の非線形利得媒質
    と、前記第2の光導波路中に設けられた第2の非線形利
    得媒質とよりなり、 前記第1の光出力ポートは前記第1の端部において前記
    第1および第2の光導波路に光学的に結合して設けら
    れ、前記第2の光出力ポートは前記第2の端部において
    前記第1および第2の光導波路に光学的に結合して設け
    られ、 前記第1の光入力ポートは前記第2の端部において前記
    第1および第2の光導波路に光学的に結合して設けら
    れ、 前記第2の光干渉計は、第3の端部および第4の端部に
    おいて相互に結合された第3および第4の光導波路と、
    前記第3の光導波路中に設けられた第3の非線形利得媒
    質と、前記第4の光導波路中に設けられた第4の非線形
    利得媒質とよりなり、 前記第2の光入力ポートは前記第4の端部において前記
    第3および第4の光導波路に光学的に結合して設けら
    れ、前記第3の光入力ポートは前記第3の端部において
    前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して設け
    られ、 前記第3の光出力ポートは前記第3の端部において前記
    第3および第4の光導波路に光学的に結合して設けら
    れ、前記第4の光出力ポートは前記第4の端部において
    前記第3および第4の光導波路に光学的に結合して設けら
    れ前記第2の光出力ポートは前記第3の光入力ポートに
    光学的に結合され、 前記第1および第2の光干渉計中においてモード同期レ
    ーザ発振が生じることを特徴とする全光反多重化器。
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