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JP2003179040A - 熱処理装置 - Google Patents

熱処理装置

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Publication number
JP2003179040A
JP2003179040A JP2001375717A JP2001375717A JP2003179040A JP 2003179040 A JP2003179040 A JP 2003179040A JP 2001375717 A JP2001375717 A JP 2001375717A JP 2001375717 A JP2001375717 A JP 2001375717A JP 2003179040 A JP2003179040 A JP 2003179040A
Authority
JP
Japan
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plate
heating
rotating
heat treatment
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001375717A
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English (en)
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JP2003179040A5 (ja
Inventor
Yuji Ueda
裕司 上田
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
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Publication of JP2003179040A publication Critical patent/JP2003179040A/ja
Publication of JP2003179040A5 publication Critical patent/JP2003179040A5/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パーティクルが発生せず、保守の手間が低減
され、半導体ウエハ前面を均一に加熱することができる
熱処理装置を提供する。 【解決手段】 プレート100は、磁性体である。この
磁性体はコイル800、880による高周波磁界中で渦
電流を発生して、高周波誘導加熱を生じさせるため、表
皮厚δが小さく表皮抵抗が大きい鉄や磁性ステンレス
(18−0ステンレス)が好適である。また、プレート
100の外周3ヶ所には、ウエハWを保持する爪500
が設けられている。浮上手段は、同一極を対峙させた一
対の永久磁石であり、そのひとつ300aを上記プレー
ト100に取り付けるとともに他の一つ300bを上記
床部材400に固定する。回転手段は、上記プレート1
00に取り付けた複数の永久磁石からなるロータ200
aと、図示しないコイルで励磁される複数のコアからな
るステータ200bとを含むモータである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板に層間絶縁膜等の膜を形成するために用いられる熱
処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程においては、
例えば、ゾル−ゲル法、シルク法、スピードフィルム
法、フォックス法等により、半導体ウエハ上に塗布膜を
スピンコートし、化学的処理または加熱処理等を施して
層間絶縁膜を形成している。このうち、シルク法、スピ
ードフィルム法、フォックス法により層間絶縁膜を形成
する際には、冷却した半導体ウエハに塗布液を塗布し、
加熱処理し冷却処理し、さらに低酸素濃度雰囲気におい
て加熱処理および冷却処理を施す硬化処理によって塗布
膜を硬化(キュア)させ、層間絶縁膜を得ている。
【0003】また、フォトリソグラフィー工程において
は、洗浄処理された半導体ウエハに対して、まずアドヒ
ージョン処理ユニットにて疎水化処理を施し、クーリン
グユニットにて冷却した後、レジスト塗布ユニットにて
フォトレジスト膜を塗布形成する。
【0004】このフォトレジスト膜が形成された半導体
ウエハに対し、加熱処理を行うホットプレートユニット
にてプリベーク処理を施した後、クーリングユニットに
て冷却し、露光装置にて所定のパターンを露光する。引
き続き、露光後の半導体ウエハに対してホットプレート
ユニットにてポストエクスポージャーベーク処理を施し
た後、クーリングユニットにて冷却し、現像ユニットに
て現像液を塗布して露光パターンを現像する。そして、
最後に、ホットプレートユニットにてポストベーク処理
を施して高分子化のための熱変成、半導体ウエハとパタ
ーンとの密着性を強化する。これらの加熱処理を行うた
め、半導体ウエハは、たとえば、ヒータを備えた加熱プ
レート上で加熱している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ヒータのパタ
ーンやランプの配置パターンのために、半導体ウエハの
面内で加熱温度にムラが生じる。このような加熱ムラを
防止するために、特開平6−236844号公報におい
ては、半導体ウエハ載置台を更に設けて、加熱プレート
に近接させ、半導体ウエハ載置台だけを回転させてい
る。しかし、半導体ウエハ載置台を介して半導体ウエハ
を加熱するために、加熱効率が低い。また、半導体ウエ
ハ載置台の外周にローラ等を係合しモータで回転させた
りすると、係合部からパーティクルが発生して半導体ウ
エハ上に堆積する虞がある。
【0006】一方、半導体ウエハ載置台を固定して加熱
プレートを回転させるとすると、回転するヒータ端子に
ブラシ電極から給電しなければならないため、回転する
ヒータ端子とブラシ電極との接触によってパーティクル
が発生し、更に、ブラシ電極が消耗すれば接触が不完全
となって供給電流が不安定となり加熱温度も不安定にな
る。また、消耗したブラシ電極を交換する手間も必要と
なる。
【0007】そこで、本発明は、パーティクルが発生せ
ず、保守の手間が不要であり、半導体ウエハ前面を均一
に加熱することができる熱処理装置を提供することを課
題としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明は、基板を載置するプレートと、前記プレー
トを浮上させる浮上手段と、前記プレートを回転させる
回転手段と、前記プレートと離隔して設けられ前記プレ
ートを加熱する加熱手段とを備え、前記プレートを回転
させつつ加熱する熱処理装置であり、加熱手段は、発熱
体又はランプである。
【0009】具体的には、第1の発明は、基板を載置す
るプレートと、上記プレートを浮上させる浮上手段と、
上記プレートを回転させる回転手段と、上記プレートを
加熱する加熱手段と、床部材とを備え、上記枠体を回転
させつつ加熱する熱処理装置であって、上記プレートは
磁性体であり、上記浮上手段は同一極を対峙させた一対
の永久磁石であり、そのひとつを上記プレートに取り付
けるとともに他の一つを上記床部材に固定し、上記回転
手段は上記プレートに取り付けた複数の永久磁石からな
るロータとコイルで励磁される複数のコアからなるステ
ータとを含むモータであり、上記ロータを上記プレート
に取り付けるとともに上記ステータを上記床部材に固定
し、上記加熱手段はコイルであり、上記コアを励磁して
上記プレートを回転させつつ、上記加熱手段であるコイ
ルに流す電流によって上記プレートに発生する渦電流で
上記プレートを加熱して上記基板を加熱する。
【0010】また、第2発明は、基板を載置する枠体
と、上記枠体を浮上させる浮上手段と、上記枠体を回転
させる回転手段と、上記基板を加熱する加熱手段と、床
部材とを備え、上記枠体を回転させつつ加熱する熱処理
装置であって、上記浮上手段は同一極を対峙させた一対
の永久磁石であり、そのひとつを上記プレートに取り付
けるとともに他の一つを上記床部材に固定し、上記回転
手段は上記プレートに取り付けた複数の永久磁石からな
るロータとコイルで励磁される複数のコアからなるステ
ータとを含むモータであり、上記ロータを上記プレート
に取り付けるとともに上記ステータを上記床部材に固定
し、上記加熱手段はランプであり、上記コアを励磁して
上記枠体を回転させつつ、上記ランプからの輻射熱によ
って上記基板を加熱する。
【0011】また、第3発明は、基板を載置するプレー
トと、上記プレートを浮上させる浮上手段と、上記プレ
ートを回転させる回転手段と、上記プレートを加熱する
加熱手段と、床部材とを備え、上記プレートを回転させ
つつ加熱する熱処理装置であって、上記プレートは磁性
体であり、上記浮上手段は同一極を対峙させた一対の永
久磁石であり、そのひとつを上記プレートに取り付ける
とともに他の一つを上記床部材に固定し、上記回転手段
は上記枠体の外周に取り付けられた複数の羽と上記枠体
の上記羽に気体を吹き付けるためのノズルとを含み、上
記加熱手段はコイルであり、上記気流によって上記枠体
を回転させつつ、上記加熱手段であるコイルに流す電流
によって上記プレートに発生する渦電流で上記プレート
を加熱して上記基板を加熱する。
【0012】また、第4発明は、基板を載置する枠体
と、上記枠体を浮上させる浮上手段と、上記枠体を回転
させる回転手段と、上記枠体を加熱する加熱手段と、床
部材とを備え、上記枠体を回転させつつ加熱する熱処理
装置であって、上記浮上手段は同一極を対峙させた一対
の永久磁石であり、そのひとつを上記枠体に取り付ける
とともに他の一つを上記床部材に固定し、上記回転手段
は上記枠体の外周に取り付けられた複数の羽と上記枠体
の上記羽に気体を吹き付けるためのノズルとを含み、上
記加熱手段はランプであり、上記気流によって上記枠体
を回転させつつ、上記ランプからの輻射熱によって上記
基板を加熱する。
【0013】すなわち、第1発明においては、永久磁石
同士の反発力でプレートを浮上させ、別の永久磁石群に
よるロータとステータ群によりプレートを回転させ、電
磁誘導加熱でプレートを加熱する。したがって、基板が
浮上して回転するので、プレートの渦電流パターンにか
かわらず基板が一様に加熱される。
【0014】また、第2発明においては、永久磁石同士
の反発力で枠体を浮上させ、別の永久磁石群によるロー
タとステータ群によりプレートを回転させ、ランプの輻
射熱で枠体に載置された基板を加熱する。したがって、
基板が浮上して回転するので、ランプの配置にかかわら
ず基板が一様に加熱される。しかも、基板だけを直接加
熱するためか熱効率が高い。
【0015】また、第3発明においては、永久磁石同士
の反発力で羽根付きのプレートを浮上させ、気流を吹き
付けてプレートを回転させ、電磁誘導加熱でプレートを
加熱する。したがって、基板が浮上して回転するので、
プレートの渦電流パターンにかかわらず基板が一様に加
熱される。しかも、モータがないために電力消費を低減
することができる。
【0016】また、第4発明においては、永久磁石同士
の反発力で羽根付の枠体を浮上させ、気流を吹き付けて
プレートを回転させ、ランプの輻射熱で枠体に載置され
た基板を加熱する。したがって、基板が浮上して回転す
るので、ランプの配置にかかわらず基板が一様に加熱さ
れる。しかも、基板だけを直接加熱するためか熱効率が
高い。更に、モータがないために電力消費を低減するこ
とができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の熱処理装置の実施
の形態について説明するが、本実施の形態においては、
半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)の表面に層間絶
縁膜を形成する際に使用される熱処理装置であって、窒
素ガス等の不活性ガスを供給しながら熱処理を行う硬化
処理ユニット(dielectric low oxygen controlled cur
e unit;DLC)およびベーク処理ユニット(dielectric
low oxygen controlled bake unit;DLB)を例とし、こ
れら硬化処理ユニット(DLC)とベーク処理ユニット
(DLB)を用いた塗布膜形成装置(spin on dielectr
ic(SOD)システム)について、図面を参照しながら説
明する。
【0018】図1のSODシステムの上面図に示すよう
に、このSODシステムは、処理部1と、サイドキャビ
ネット2と、キャリアステーション(CSB)3とを有
している。処理部1は、その手前側の上段に設けられた
塗布処理ユニット(SCT)11・12とを有する。さ
らに、図2のSODシステムの正面図に示すように、さ
らに、処理部1は、その手前側の下段に設けられた薬品
等を内蔵したケミカル室13・14とを有する。
【0019】処理部1の中央部には、複数の処理ユニッ
トを多段に積層してなる処理ユニット群16・17が設
けられ、これらの間に、昇降して半導体ウエハ(ウエ
ハ)Wを搬送するためのウエハ搬送機構(PRA)18
が設けられている。サイドキャビネット2は、その上段
に薬液を供給するためのバブラー(Bub)27と、排
気ガスの洗浄のためのトラップ(TRAP)28とを有
し、その下段に、電源29や、廃液を排出するためのド
レイン31を有している。
【0020】図3は処理部1の正面図であり、左側の処
理ユニット群16は、その上側から順に低温用のホット
プレート(LHP)19と、2個の硬化(キュア)処理
ユニット(DLC)20と、2個のエージングユニット
(DAC)21とが積層されて構成されている。また、
右側の処理ユニット群17は、その上から順に2個のベ
ーク処理ユニット(DLB)22と、低温用のホットプ
レート(LHP)23と、2個のクーリングプレート
(CPL)24と、受渡部(TRS)25と、クーリン
グプレート(CPL)26とが積層されて構成されてい
る。なお、受渡部(TRS)25は、クーリングプレー
トの機能を兼ね備えることが可能である。
【0021】ウエハ搬送機構(PRA)18は、Z方向
に延在し、垂直壁51a・51bおよびこれらの間の側
面開口部51cを有する筒状支持体51と、その内側に
筒状支持体51に沿ってZ方向に昇降自在に設けられた
ウエハ搬送体52とを有している。筒状支持体51はモ
ータ53の回転駆動力によって回転可能となっており、
それに伴ってウエハ搬送体52も一体的に回転されるよ
うになっている。
【0022】ウエハ搬送体52は、搬送基台54と、搬
送基台54に沿って前後に移動可能な3本のウエハ搬送
アーム55・56・57とを備えており、ウエハ搬送ア
ーム55・56・57は、筒状支持体51の側面開口部
51cを通過可能な大きさを有している。これらウエハ
搬送アーム55・56・57は、搬送基台54内に内蔵
されたモータおよびベルト機構によりそれぞれ独立して
進退移動することが可能となっている。ウエハ搬送体5
2は、モータ58によってベルト59を駆動させること
により昇降するようになっている。なお、符号40は駆
動プーリー、41は従動プーリーである。
【0023】このようなSODシステムにおいて、例え
ば、ゾル−ゲル法により層間絶縁膜を形成する場合に
は、処理ユニットを塚する順序は、クーリングプレート
(CPL)24・26、塗布処理ユニット(SCT)1
1・12、エージングユニット(DAC)21、低温用
のホットプレート(LHP)19・23、ベーク処理ユ
ニット(DLB)22のようになる。
【0024】また、シルク法およびスピードフィルム法
により層間絶縁膜を形成する場合には、処理ユニットを
通過する順序は、クーリングプレート(CPL)24・
26、塗布処理ユニット(SCT)11・12(アドヒ
ージョンプロモータの塗布)、低温用のホットプレート
(LHP)19・23、塗布処理ユニット(SCT)1
1・12(本薬液の塗布)、低温用のホットプレート
(LHP)19・23、ベーク処理ユニット(DLB)
22、硬化処理ユニット(DLC)20のようになる。
【0025】さらに、フォックス法により層間絶縁膜を
形成する場合には、処理ユニットを通過する順序は、ク
ーリングプレート(CPL)24・26、塗布処理ユニ
ット(SCT)11・12、低温用のホットプレート
(LHP)19・23、ベーク処理ユニット(DLB)
22、硬化処理ユニット(DLC)20のようになる。
なお、これら各種の方法によって形成される塗布膜の材
質には制限はなく、有機系、無機系およびハイブリッド
系の各種材料を用いることが可能である。
【0026】次に、本発明の熱処理装置の一実施形態で
あるベーク処理ユニット(DLB)22について、説明
する。図4、図5は、ベーク処理ユニット(DLB)2
2の一例を示した断面図である。ここに、図4は図示し
ない爪で保持されたウエハWの処理中の状態を示す。ま
た、図5は、図示しないウエハ搬送アームに保持された
ウエハWを受け渡すときの状態をそれぞれ示する。以
下、図4及び図5を同時に参照して、ベーク処理ユニッ
ト(DLB)22について説明する。
【0027】ベーク処理ユニット(DLB)22は、ケ
ーシング61と、ウエハWを載置して加熱する加熱部6
2と、加熱部62の外周を囲繞するように設けられたサ
ポートリング63と、昇降機構66dにより昇降自在な
蓋体66と、蓋体66の側壁66aに設けられたガス供
給路66bに所定のガスを供給するガス供給管67と、
蓋体66の中央部に設けられた排気機構68と、蓋体6
6と同時昇降可能に配置されたガス拡散機構69とを有
している。
【0028】ケーシング61の上面には開口部61aが
形成され、また、側面にはユニット内の排気を行うため
の排気口61bが形成され、さらに別の側面にはウエハ
搬送機構(PRA)18との間でウエハWの受け渡しを
可能とする図示しない開閉自在なシャッターが形成され
ている。
【0029】サポートリング63の上部端面には段差が
形成され、その下段部にはシールリング65が配設され
ており、蓋体66はその側壁66aが開口部61aを閉
塞し、蓋体66が処理位置にある場合には、側壁66a
の下面がシールリング65に当接することで処理室70
が形成される。ガス供給管67は蓋体66の中心に対し
て点対称な2箇所に設けられており、ガス供給路66b
へ供給された不活性ガス(以下、窒素ガスを例示するも
のとする)がガス供給路66bから処理室70へ向けて
吐出可能なように、側壁66aの内周面には4箇所にガ
ス吐出口66cが形成されている。
【0030】ガス拡散機構69は、回転モータ38と、
蓋体66に回転モータ38を固定している固定治具39
と、回転モータ38に取り付けられた回転軸(枢軸)3
7と、ウエハWを囲繞するように設けられたバッフルリ
ング35と、バッフルリング35と回転軸37とを連結
する連結部材36から構成されており、バッフルリング
35には、8箇所(後に示す図10参照)に窒素ガスの
吹き出し口35aが形成されている。なお、排気機構6
8から排気されるガスは回転モータ38に当たらないよ
うに図示しない排気経路が設けられている。
【0031】従って、回転モータ38を回転駆動させた
場合や、所定角度の時計回りの回動と所定角度の反時計
回りの回動とを交互に繰り返す反転回動運動を行った場
合には、回転モータ38の動きに合わせてバッフルリン
グ35が回転し、または反転回動し、このとき、吹き出
し口35aの位置もバッフルリング35の運動に合わせ
て移動し、ガス吐出口66cから吐出された窒素ガス
は、位置が移動する吹き出し口35aを通って、処理室
70内に供給される。
【0032】以上、層間絶縁膜を形成するSODシステ
ムのベーク処理ユニット(DLB)について説明してき
たが、本発明はこのようなベーク処理ユニット(DL
B)に使用されるのみならず、ベーク処理ユニット(D
LB)より高温で塗布幕効果処理を行う硬化処理ユニッ
ト(DLC)や、ベーク処理ユニット(DLB)より低
温で熱処理を行う低温用のホットプレート(LHP)や
その他の処理ユニットにも使用することができる。
【0033】次に、DLB、DLC、LHP等に使用す
る加熱部62について説明する。図6に示す加熱部62
は、永久磁石同士の反発力でプレートを浮上させ、別の
永久磁石群によるロータとステータ群によりプレートを
回転させ、電磁誘導加熱でプレートを加熱する。この加
熱部62は、基板を載置するプレート100と、プレー
トを浮上させる浮上手段300a,300bと、プレー
ト100を回転させる回転手段200a,200bと、
プレート100を加熱する加熱手段800、880と、
床部材400とを備えている。
【0034】ここに、上記プレート100は、磁性体で
ある。この磁性体は高周波磁界中で渦電流を発生して、
高周波誘導加熱を生じさせるため、表皮厚δが小さく表
皮抵抗が大きい鉄や磁性ステンレス(18−0ステンレ
ス)が好適である。具体的には、周波数20kHZの高
周波磁界中において、鉄のδは0.11mm、18−0
ステンレスのδは0.28mmであるから、プレート1
00の厚さは、略0.1乃至0.3mm程度となる。ま
た、プレート100の外周3ヶ所には、ウエハWを保持
する爪500が設けられている。さらに、このプレート
100の外周は、ウエハWの外周より小さくして、ウエ
ハWを搬送することができるようにしている。
【0035】また、浮上手段は、同一極を対峙させた一
対の永久磁石であり、そのひとつ300aを上記プレー
ト100に取り付けるとともに他の一つ300bを上記
床部材400に固定する。この一対の永久磁石を小型の
ものとし、反発力を高めるためには、磁束密度の高いサ
マリウムコバルト、ネオジウム鉄等が好適である。した
がって、プレート100、回転手段のロータ200a、
浮上手段の永久磁石300aは一体となって浮上体を形
成する。永久磁石300aは、これと対をなす永久磁石
300bの溝330の中で、これらの磁石の反発力によ
って、浮上している。溝330の底部からの浮上量は、
ウエハ及び浮上体にかかる重力と磁石の反発力との釣り
合いで決まる。また、溝330の側壁と永久磁石300
aは相互に反発するため、接触することはない。
【0036】上記回転手段は、上記プレート100に取
り付けた複数の永久磁石からなるロータ200aと、コ
イルで励磁される複数のコアからなるステータ200b
とを含むモータであり、上記ロータ200aを上記プレ
ート100に取り付けるとともに上記ステータ200b
を上記床部材400に固定する。尚、図6では、ステー
タ200bに巻かれたコイルを図示していない。
【0037】また、上記加熱手段はコイル880であ
る。コイルは少なくともひとつ設ければよい。コイル8
80は適宜の手段で、上記プレートと上記床部材の間又
は上記プレートに載置された上記基板の上方のうち一方
の位置又は双方の位置に配置する。コイル880には、
0.300乃至0.400mm程度の銅線を14乃至6
0本巻いて表皮抵抗を低減したリッツ線を用いるとよ
い。このコイルを駆動するには、発振回路からの信号で
高周波高電圧スイッチングトランジスタをオンオフし、
コイル端子に、たとえば、24kHz、600乃至70
0ボルトの高電圧を印加するとよい。このような加熱部
62においては、上記コアを励磁して上記プレート10
0を回転させつつ、上記コイル880に流す電流によっ
て上記プレートに発生する渦電流で上記プレート100
を加熱して上記基板Wを加熱する。
【0038】図7は、浮上体(100、200a、30
0a)をAA’から見た平面図である。プレート100
の外周にはリング状のロータ200aが取り付けられ、
その内周にはリング状の永久磁石300aが取り付けら
れている。ロータ200aは、たとえば、同一磁極を突
合せてリング状に配列した6つの永久磁石からなるが、
永久磁石の個数は任意である。永久磁石300aは、リ
ングの厚さ方向に着磁しており、図中永久磁石300a
のAA‘面はN極とされているが、S極であってもよ
い。また、プレート外周の爪500によって、ウエハW
を保持する。
【0039】図8は、浮上手段の断面図である。浮上手
段300aは浮上手段300bの案内溝330中で磁気
的反発極によって浮上している。この案内溝330は浮
上体(100、200a、300a)を回転軸周りに案
内する。尚、図8では、ステータ200bに巻かれたコ
イルを図示していない。
【0040】図9は、ステータ200bの斜視図であ
る。ステータ200bは、6つのコア220をリング状
に配置し、各コア220に励磁コイルを巻いたものであ
る。ここに、コアの数は、ステータの永久磁石の数と同
じにする。このステータ200bでは、図示しない光学
式や磁気式のセンサによってロータ200aの磁極を検
知し、検知結果に基づいて、2相又は3相でコイル23
0を励磁し、ロータ200aを回転させる。
【0041】図10は、ウエハWをプレート100に運
び込み、運び去るための機構の一例を示す平面図であ
る。ウエハ搬送機構(PRA)18のウエハ搬送体52
のアーム55、56、57に対応するアーム650は、
3つの切り欠き510と3つの爪505を供えている。
ウエハWをプレート100に運び込むときには、ウエハ
Wを爪505で支持してプレート100に上方から接近
し、ウエハWをプレート100に載置した後、切り欠き
510によってプレート100の爪500を回避しつ
つ、永久磁石300aまで下降させてから、水平方向に
アーム650を加熱部62から退避させればよい。過熱
処理後のウエハWを回収するには、この逆にアーム65
0を操作する。
【0042】図11に示す加熱部62は、永久磁石同士
の反発力で枠体を浮上させ、別の永久磁石群によるロー
タとステータ群によりプレートを回転させ、ランプの輻
射熱で枠体に載置された基板を加熱する。この加熱部6
2は、基板を載置する枠体700と、プレートを浮上さ
せる浮上手段300a,300bと、プレート100を
回転させる回転手段200a,200bと、プレート1
00を加熱する加熱手段810と、床部材400とを備
えている。加熱手段810は、1本又は2本以上からな
るランプであり、輻射熱によって枠体700上のウエハ
Wを加熱する。その他の構成要素は、図6と同様であ
る。なお、加熱手段は、ランプに限らず、ヒータやヒー
タを埋め込んだ赤外線源、遠赤外線源等を用いてもよ
い。
【0043】図12は、図11の浮上体(700、20
0a、300a)をAA’から見た平面図である。プレ
ート100が枠体700に変更されたことを除けば、図
7と同様である。
【0044】図13に示す加熱部62は、永久磁石同士
の反発力で羽根付きのプレートを浮上させ、気流を吹き
付けてプレートを回転させ、電磁誘導加熱でプレートを
加熱する。この加熱部62は、基板を載置するプレート
100と、上記プレート100を浮上させる浮上手段3
00a、300bと、上記プレート100を回転させる
回転手段と、上記プレートを加熱する加熱手段880
と、床部材400とを備えている。浮上手段、加熱手段
は図6に示したものと同様である。上記回転手段は、上
記プレート100の外周に取り付けられた複数の羽60
0と、上記枠体700の上記羽600に気流を吹き付け
るためのノズル900とを含む。1又は2以上のノズル
900は、たとえば床部材400から立ち上げ、適宜の
配管からN 等の圧縮空気をそのノズル900に供給す
ればよい。
【0045】図14は、図13の浮上体(100、30
0a)をAA’から見た平面図である。プレート100
の外周には複数の羽600が取り付けられ、その内周に
はリング状の永久磁石300aが取り付けられている。
永久磁石300aのAA‘面はN極とされているが、S
極であってもよい。また、プレート外周の爪500によ
って、ウエハWを保持する。
【0046】図15に示す加熱部62は、永久磁石同士
の反発力で羽根付の枠体を浮上させ、気流を吹き付けて
枠体を回転させ、ランプの輻射熱で枠体に載置された基
板を加熱する。この加熱部62は、基板を載置する枠体
700と、上記枠体700を浮上させる浮上手段300
a、300bと、上記枠体を回転させる回転手段と、上
記プレートを加熱する加熱手段810と、床部材400
とを備えている。この加熱部は62は、加熱手段800
がランプ810に変更されていることを除けば、図13
と同様である。
【0047】図16は、浮上体(700、300a)を
AA’から見た平面図である。プレート100を枠体7
00に変更したことを除けば、図14と同様である。
【0048】加熱部62の実施形態は以上の説明に限定
されず、たとえば、爪500の形状を変更して、ウエハ
Wがプレート100に直接接触するようにしてもよい。
また、浮上手段の上部永久磁石300aと下部永久磁石
300bの高さをステータ200bとほぼ同じ高さとし
て、加熱装置全体の高さを低減してもよい。また、加熱
時間に応じて、基板回転数を最適化するために、ロータ
200aの磁極一を検出するセンサの出力に基づいて、
ロータ200aの位置、速度、加速度を、コンピュータ
によってフィードバック制御してもよい。更に、上記実
施形態においては、円形基板であるウエハを使用した
が、加熱部62の形状を変えることにより、レチクル基
板やガラス基板等の矩形基板についても本発明を適用す
ることができる。
【0049】
【発明の効果】以上説明した本発明の熱処理装置によれ
ば、基板を載置したプレートや枠体が回転手段と接触せ
ずに浮上しているのでパーティクルが発生せず、パーテ
ィクルによって基板に欠陥は生じることもない。また、
基板を載置したプレートが浮上しているので、熱が熱処
理ユニットの壁や床等に伝わりにくくなり、隣接した他
のユニットへの悪影響を低減することができる。
【0050】また、基板を回転させるため、基板を均一
に過熱することができる。特に、従来のように、ホット
プレートを貫通する昇降ピン穴がないので、温度の均一
性はさらに向上する。また、N雰囲気中で処理してい
る場合には、雰囲気のムラによる膜質根の影響も低減す
ることができる。また、回転手段に機械的接触部分がな
いので、保守の手間が低減される。
【図面の簡単な説明】
【図1】ベーク処理ユニット(DLB)および硬化処理
ユニット(DLC)を含む塗布膜形成装置(SODシス
テム)の上段の上面図
【図2】ベーク処理ユニット(DLB)および硬化処理
ユニット(DLC)を含む塗布膜形成装置(SODシス
テム)の正面図
【図3】塗布膜形成装置(SODシステム)の処理部の
正面図
【図4】ウエハを熱処理中のベーク処理ユニット(DL
B)の一例の断面図
【図5】ウエハを搬送中のベーク処理ユニット(DL
B)の一例の断面図
【図6】本発明の熱処理装置の第1の加熱部の断面図。
ステータ200bに巻かれた励磁コイルは省略されてい
る。
【図7】図6のAA‘平面図
【図8】図6の加熱部の浮上手段が回転手段から浮上す
る様子を説明するための断面図。ステータ200bに巻
かれた励磁コイルは省略されている。
【図9】図6の回転手段のステータの斜視図
【図10】ウエハ搬送アームの平面図
【図11】本発明の熱処理装置の第2の加熱部の断面図
【図12】図11のAA‘平面図
【図13】本発明の熱処理装置の第3の加熱部の断面図
【図14】図13のAA‘平面図
【図15】本発明の熱処理装置の第4の加熱部の断面図
【図16】図15のAA‘平面図
【符号の説明】
100 プレート 200a ロータ 200b ステータ 220 コア 230 励磁コイル 300a、300b 浮上手段 330 案内溝 400 床部材 500、505 爪 510 切り欠き 600 羽 800、880 高周波磁界発生用コイル 810 ランプ 900 ノズル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F031 CA02 CA05 CA07 FA01 FA02 FA04 FA07 GA06 GA47 GA49 HA02 HA37 HA50 HA59 JA21 JA31 JA51 LA07 LA13 MA26 MA30 NA04 PA26 5F045 BB10 BB15 DP28 EB19 EE14 EF01 EK02 EK11 EM10 EN04

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を載置するプレートと、前記プレー
    トを浮上させる浮上手段と、前記プレートを回転させる
    回転手段と、前記プレートと離隔して設けられ前記プレ
    ートを加熱する加熱手段とを備え、 前記プレートを回転させつつ加熱することを特徴とする
    熱処理装置。
  2. 【請求項2】 前記加熱手段は、発熱体であることを特
    徴とする請求項1記載の熱処理装置。
  3. 【請求項3】 前記加熱手段は、ランプであることを特
    徴とする請求項1記載の熱処理装置。
  4. 【請求項4】 前記プレートは、磁性体であり、 前記加熱手段はコイルであり、 前記加熱手段であるコイルに流す電流によって前記プレ
    ートに発生する渦電流で前記プレートを加熱して前記基
    板を加熱することを特徴とする熱処理装置。
  5. 【請求項5】 基板を載置するプレートと、前記プレー
    トを浮上させる浮上手段と、前記プレートを回転させる
    回転手段と、前記プレートを加熱する加熱手段と、床部
    材とを備え、前記プレートを回転させつつ加熱する熱処
    理装置であって、 前記プレートは、磁性体であり、 前記浮上手段は、同一極を対峙させた一対の永久磁石で
    あり、そのひとつを前記プレートに取り付けるとともに
    他の一つを前記床部材に固定し、 前記回転手段は、前記プレートに取り付けた複数の永久
    磁石からなるロータと、コイルで励磁される複数のコア
    からなるステータとを含むモータであり、前記ロータを
    前記プレートに取り付けるとともに前記ステータを前記
    床部材に固定し、 前記加熱手段はコイルであり、 前記コアを励磁して前記プレートを回転させつつ、前記
    加熱手段であるコイルに流す電流によって前記プレート
    に発生する渦電流で前記プレートを加熱して前記基板を
    加熱することを特徴とする熱処理装置。
  6. 【請求項6】 基板を載置する枠体と、前記枠体を浮上
    させる浮上手段と、前記枠体を回転させる回転手段と、
    前記基板を加熱する加熱手段と、床部材とを備え、前記
    枠体を回転させつつ加熱する熱処理装置であって、 前記浮上手段は、同一極を対峙させた一対の永久磁石で
    あり、そのひとつを前記プレートに取り付けるとともに
    他の一つを前記床部材に固定し、 前記回転手段は、前記プレートに取り付けた複数の永久
    磁石からなるロータと、コイルで励磁される複数のコア
    からなるステータとを含むモータであり、前記ロータを
    前記プレートに取り付けるとともに前記ステータを前記
    床部材に固定し、 前記加熱手段はランプであり、 前記コアを励磁して前記枠体を回転させつつ、前記ラン
    プからの輻射によって前記基板を加熱することを特徴と
    する熱処理装置。
  7. 【請求項7】 基板を載置するプレートと、前記プレー
    トを浮上させる浮上手段と、前記プレートを回転させる
    回転手段と、前記プレートを加熱する加熱手段と、床部
    材とを備え、前記プレートを回転させつつ加熱する熱処
    理装置であって、 前記プレートは、磁性体であり、 前記浮上手段は、同一極を対峙させた一対の永久磁石で
    あり、そのひとつを前記プレートに取り付けるとともに
    他の一つを前記床部材に固定し、 前記回転手段は、前記枠体の外周に取り付けられた複数
    の羽と、前記枠体の前記羽に気流を吹き付けるためのノ
    ズルとを含み、 前記加熱手段はコイルであり、 前記気流によって前記枠体を回転させつつ、前記加熱手
    段であるコイルに流す電流によって前記プレートに発生
    する渦電流で前記プレートを加熱して前記基板を加熱す
    ることを特徴とする熱処理装置。
  8. 【請求項8】 基板を載置する枠体と、前記枠体を浮上
    させる浮上手段と、前記枠体を回転させる回転手段と、
    前記枠体を加熱する加熱手段と、床部材とを備え、前記
    枠体を回転させつつ加熱する熱処理装置であって、 前記浮上手段は、同一極を対峙させた一対の永久磁石で
    あり、そのひとつを前記枠体に取り付けるとともに他の
    一つを前記床部材に固定し、 前記回転手段は、前記枠体の外周に取り付けられた複数
    の羽と、前記枠体の前記羽に気流を吹き付けるためのノ
    ズルとを含み、 前記加熱手段はランプであり、 前記気流によって前記枠体を回転させつつ、前記ランプ
    からの輻射によって前記基板を加熱することを特徴とす
    る熱処理装置。
  9. 【請求項9】 前記浮上手段の一対の永久磁石は、溝を
    有する永久磁石と、その溝の幅より小さい幅を有する永
    久磁石であることを特徴とする請求項5乃至8記載の熱
    処理装置。
  10. 【請求項10】 前記プレートは円板であり、前記浮上
    手段の前記ひとつの永久磁石と前記回転手段のロータと
    を同心状に前記プレートに取り付け、 これらに対向して、前記浮上手段の前記他の永久磁石と
    前記回転手段のステータとを同心状に固定することを特
    徴とする請求項5又は6記載の熱処理装置。
  11. 【請求項11】 前記枠体は段の付いたリングであり、
    その段の上面に前記基板を載置し、前記浮上手段の前記
    ひとつの永久磁石をその段の下面に取り付け、 これに対向して、前記浮上手段の前記ひとつの永久磁石
    を固定することを特徴とする請求項7又は8記載の熱処
    理装置。
  12. 【請求項12】 前記加熱手段を、前記プレートと前記
    床部材の間又は前記プレートに載置された前記基板の上
    方のうち一方の位置又は双方の位置に配置することを特
    徴とする請求項5又は7記載の熱処理装置。
  13. 【請求項13】 前記ランプを、前記枠体に載置された
    前記基板の上方に配置することを特徴とする請求項6又
    は8記載の熱処理装置。
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