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JP2003064278A - Core-shell type semiconductor nanoparticles - Google Patents

Core-shell type semiconductor nanoparticles

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Publication number
JP2003064278A
JP2003064278A JP2001252847A JP2001252847A JP2003064278A JP 2003064278 A JP2003064278 A JP 2003064278A JP 2001252847 A JP2001252847 A JP 2001252847A JP 2001252847 A JP2001252847 A JP 2001252847A JP 2003064278 A JP2003064278 A JP 2003064278A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
core
semiconductor
shell type
shell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001252847A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Manabu Kawa
学 加和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Chemical Corp filed Critical Mitsubishi Chemical Corp
Priority to JP2001252847A priority Critical patent/JP2003064278A/en
Publication of JP2003064278A publication Critical patent/JP2003064278A/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光触媒能の減殺と有機物マトリクスへの分散
性を兼備した半導体ナノ粒子及びそれを用いた樹脂組成
物を提供する。 【解決手段】 半導体ナノ結晶コアと導電体シェルとか
らなる数平均粒径が2〜50nmのコアシェル型粒子表
面に表面修飾分子が結合してなるコアシェル型半導体ナ
ノ粒子。
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide semiconductor nanoparticles having both reduced photocatalytic activity and dispersibility in an organic matrix, and a resin composition using the same. SOLUTION: Core-shell type semiconductor nanoparticles comprising surface-modified molecules bonded to the surface of a core-shell type particle having a number average particle diameter of 2 to 50 nm comprising a semiconductor nanocrystal core and a conductive shell.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ナノ結晶の
コア(内核)と導電体のシェル(外殻)とからなるコア
シェル構造を有する半導体ナノ粒子に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to semiconductor nanoparticles having a core-shell structure composed of a core (inner core) of semiconductor nanocrystals and a shell (outer shell) of a conductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ナノ結晶粒子の高屈折率性や吸発
光能等の有用な性質を生かす目的で、高分子マトリクス
にこれを分散する方法が報告されている。特開平8−1
10401号公報には、ボールミルなどの機械的粉砕混
合装置を使用して酸化亜鉛などの半導体ナノ結晶を硬化
性樹脂モノマー(エポキシ系やアクリル系など)や有機
溶媒とともに組成物化し次いで硬化製膜工程を行うこと
により、50μm程度の膜厚においてヘーズ(濁度)が
0.2程度の透明性を有するフィルムを得る技術が開示
されている。しかしながら、該ヘーズ値はフィルム用途
においては実用可能なものであるが、バルクでの非常に
高度の光学的透明性を有する組成物(例えば、半導体ナ
ノ結晶の数平均分散粒径が高々50nmでありヘーズ値
が測定誤差範囲において零となる組成物)はこの方法の
ような機械的粉砕混合法では得られない。
2. Description of the Related Art A method for dispersing semiconductor nanocrystal particles in a polymer matrix has been reported for the purpose of utilizing useful properties such as high refractive index and absorption / emission of light. JP-A-8-1
No. 10401 discloses that a semiconductor nanocrystal such as zinc oxide is formed into a composition with a curable resin monomer (such as an epoxy-based or acrylic-based) or an organic solvent by using a mechanical pulverizing / mixing device such as a ball mill, and then a curing film-forming step. By performing the above, a technique for obtaining a transparent film having a haze (turbidity) of about 0.2 at a film thickness of about 50 μm is disclosed. However, although the haze value is practical for film applications, a composition having a very high optical transparency in bulk (for example, the number average dispersed particle diameter of semiconductor nanocrystals is 50 nm at most). A composition having a haze value of zero in the measurement error range cannot be obtained by a mechanical grinding and mixing method such as this method.

【0003】一方、平均1次粒径が1〜150nm程度
である半導体結晶粒子等の無機微粒子を高分子マトリク
スに分散して高屈折率膜を作成する方法が、例えば特開
2000−47004号公報に開示されている。この公
報には、例えば、1次粒子の平均粒径が50nmの酸化
チタンをアルコキシアルミニウム等の有機表面処理剤存
在下に光硬化型エポキシ樹脂モノマーと溶液中で混合
し、これを塗布した後に光硬化させ、屈折率が2.0
0、膜厚が127nmの硬化エポキシ樹脂組成物膜(酸
化チタン含量は40〜50体積%程度)を作成した例が
記載されている。そして、この公報には、該無機微粒子
表面をシランカップリング剤等の公知の有機表面処理剤
により改質しても構わず、ヘーズが5%以下程度の被膜
が作成可能である旨教示されている。しかし、該無機微
粒子の1次粒子の凝集による粗大2次粒子の生成を十分
に抑制できず、特に好ましく製造された50〜200n
m程度の超薄膜においてすらヘーズが1%程度は存在す
る点に課題を残していた。つまり、この方法により得ら
れる最も優れた分散状態の組成物も、超薄膜用途におい
ては実用可能なものであるが、バルク状態における非常
に高度の光学的透明性を有するものではなかった。
On the other hand, a method of dispersing inorganic fine particles such as semiconductor crystal particles having an average primary particle diameter of about 1 to 150 nm in a polymer matrix to form a high refractive index film is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-47004. Is disclosed in. In this publication, for example, titanium oxide having an average primary particle diameter of 50 nm is mixed with a photo-curable epoxy resin monomer in a solution in the presence of an organic surface treatment agent such as alkoxyaluminum, and the mixture is coated and then exposed to light. Cured, refractive index 2.0
0, a cured epoxy resin composition film having a film thickness of 127 nm (titanium oxide content is about 40 to 50% by volume) is described. Then, this publication teaches that the surface of the inorganic fine particles may be modified with a known organic surface treatment agent such as a silane coupling agent, and a coating film having a haze of about 5% or less can be formed. There is. However, generation of coarse secondary particles due to aggregation of primary particles of the inorganic fine particles cannot be sufficiently suppressed, and particularly preferably manufactured 50 to 200 n
Even in an ultra-thin film of about m, there is a problem in that haze is present at about 1%. In other words, the composition in the best dispersed state obtained by this method is also practical for ultrathin film applications, but it does not have a very high optical transparency in the bulk state.

【0004】上記2つの公報に代表される従来の半導体
ナノ結晶の樹脂マトリクスへの分散技術におけるもう1
つの問題点として、酸化亜鉛や酸化チタンなどの半導体
結晶の光触媒能(半導体結晶が光を吸収して電子と正孔
の対を生じ、これらが半導体表面の有機物を酸化還元的
に分解する能力)を低減する手段が何ら講じられていな
いことが指摘される。
Another one of the conventional techniques for dispersing semiconductor nanocrystals in a resin matrix represented by the above two publications.
One of the problems is the photocatalytic ability of semiconductor crystals such as zinc oxide and titanium oxide (the ability of semiconductor crystals to absorb light to generate electron-hole pairs, which decomposes organic substances on the semiconductor surface redoxly). It is pointed out that no measures have been taken to reduce this.

【0005】かかる半導体結晶粒子の光触媒能を減殺す
る技術としてシリカによる被覆が提案されている。例え
ば、石井伸晃ら;Fragrance Journa
l,2001−1巻,74−80(2001)にあるよ
うに、化粧品用途において酸化チタンや酸化亜鉛等の半
導体ナノ結晶のシリカ被覆が検討されている。しかし、
この従来技術で得られるシリカ被覆半導体粒子の粒径は
最小でも88nm程度であり、アクリル系樹脂などの透
明樹脂マトリクスの透明性を損なわない程度の粒径(例
えば50nm以下程度)を得ることはできなかった。こ
れは、25nm程度の1次粒径を有する粒子が2次凝集
している半導体ナノ結晶を原料とし、湿式解砕機を使用
してシリカ原料であるアルコキシシランを被覆するとい
う機械的な粉砕混合原理を用いているためである。しか
も、かかるシリカ被覆技術は、サンスクリーン化粧品用
途が要求する程度の光触媒能の減殺に2.8nm程度の
理論被膜厚のシリカ層を必要とするので、より高度の耐
光性を必要とする透明樹脂組成物の光学部品用途におい
ては更に厚いシリカ層を形成したコアシェル型粒子とす
る必要がある。従って、前記の透明樹脂マトリクスの透
明性を損なわない程度の粒径(50nm以下程度)を有
するシリカ被覆コアシェル型粒子とする場合、1つの粒
子中の半導体結晶の体積分率の上限に制限が生じ、透明
樹脂組成物における半導体結晶の特性(紫外線吸収性や
高屈折率性等)が不十分となるという問題があった。
As a technique for reducing the photocatalytic activity of such semiconductor crystal particles, coating with silica has been proposed. For example, Nobuaki Ishii et al .; Fragrance Journal
1, 2001-1, Vol. 74-80 (2001), silica coating of semiconductor nanocrystals such as titanium oxide and zinc oxide has been investigated in cosmetic applications. But,
The particle diameter of the silica-coated semiconductor particles obtained by this conventional technique is at least about 88 nm, and it is possible to obtain a particle diameter (for example, about 50 nm or less) that does not impair the transparency of a transparent resin matrix such as an acrylic resin. There wasn't. This is a mechanical pulverization and mixing principle in which semiconductor nanocrystals in which particles having a primary particle diameter of about 25 nm are secondarily aggregated are used as raw materials, and a silica alkoxide, which is a silica raw material, is coated using a wet disintegrator. This is because you are using. Moreover, since the silica coating technology requires a silica layer having a theoretical film thickness of about 2.8 nm to reduce the photocatalytic activity to the extent required for sunscreen cosmetics, a transparent resin requiring higher light resistance. In the use of the composition for optical parts, it is necessary to use core-shell type particles having a thicker silica layer. Therefore, in the case of silica-coated core-shell type particles having a particle size (about 50 nm or less) that does not impair the transparency of the transparent resin matrix, the upper limit of the volume fraction of semiconductor crystals in one particle is limited. However, there has been a problem that the characteristics of the semiconductor crystal in the transparent resin composition (such as ultraviolet absorption and high refractive index) are insufficient.

【0006】半導体結晶粒子を他物質で被覆する技術と
して、半導体結晶(例えば酸化チタン)等の無機質粒子
の表面に金属を被覆する技術が特開昭62−37301
号公報に開示されている。この技術は、化学メッキ法や
その前処理法である金属塩水溶液中において還元剤等を
加えて金属陽イオンを還元し0価金属を生成する反応に
より、1次粒子の粒径が10mμ〜10μ程度の無機質
粒子の表面に、パラジウム、金、銀、白金、ニッケル、
コバルト、鉄、銅などの金属を被覆するものである。か
かる反応はG.Schmid編;”Clusters
and Colloids”,VCH社(Weinhe
im,1994)等に総説されている。同様の金属被覆
無機質粒子を分散媒質(溶媒)に分散したコーティング
液が特開平7−304616号公報に開示されており、
ここでは無機質粒子として無色の無機酸化物超微粒子
(平均粒径が80nm以下)を使用し金属銀被覆により
平均粒径100nm以下の複合微粒子としている。しか
しながら、これら2つの技術により得られる金属被覆さ
れた無機質粒子においては、調製に使用した有機還元剤
以外の有機化合物をその粒子表面に意図的に結合させて
いないため、特に50nm以下程度の平均粒径を有する
超微粒子とした場合に容易に2次凝集して樹脂マトリク
スへの分散性が極端に悪化する問題があった。
As a technique for coating semiconductor crystal particles with another substance, there is a technique for coating the surface of inorganic particles such as semiconductor crystals (for example, titanium oxide) with a metal.
It is disclosed in the publication. This technique is a chemical plating method or a pretreatment method thereof, in which a reducing agent or the like is added in a metal salt aqueous solution to reduce a metal cation to generate a zero-valent metal, and the primary particle diameter is 10 mμ to 10 μm. On the surface of the inorganic particles, palladium, gold, silver, platinum, nickel,
It coats a metal such as cobalt, iron, or copper. Such a reaction is described in G.W. Schmid Edition; "Clusters
and Colloids ", VCH (Weinhe
Im, 1994). A coating liquid in which similar metal-coated inorganic particles are dispersed in a dispersion medium (solvent) is disclosed in JP-A-7-304616.
Here, colorless inorganic oxide ultrafine particles (having an average particle size of 80 nm or less) are used as the inorganic particles, and metal silver coating is used to form composite particles having an average particle size of 100 nm or less. However, in the metal-coated inorganic particles obtained by these two techniques, an organic compound other than the organic reducing agent used for the preparation is not intentionally bound to the surface of the particles, and therefore the average particle size of about 50 nm or less is particularly preferable. When the ultrafine particles having a diameter are used, there is a problem that secondary aggregation easily occurs and the dispersibility in the resin matrix is extremely deteriorated.

【0007】有機高分子や有機溶媒への良好な分散性を
有すると期待される表面修飾分子を表面に結合した半導
体ナノ結晶粒子の合成方法が、例えばJ.E.B.Ka
tariら;J.Phys.Chem.,98巻,41
09−4117(1994)に報告されている。この方
法で得られる半導体ナノ結晶粒子は、例えばトリオクチ
ルホスフィン(以下、TOPOと略記)等の表面修飾分
子がセレン化カドミウム(CdSe)等の化合物半導体
結晶粒子の表面に結合した構造を有する。そして、トル
エンや塩化メチレン等の有機溶剤への優れた溶解性を有
するだけでなく、粒径分布が極めて狭く制御される特徴
をも有するものである。しかし、この方法で得られる半
導体ナノ結晶粒子は、ポリメチルメタクリレート(通称
PMMA)に代表されるアクリル系樹脂、ポリスチレン
に代表されるスチレン系樹脂、あるいはビスフェノール
Aポリカーボネートに代表される芳香族ポリカーボネー
ト樹脂等の汎用非晶性樹脂への分散性が不十分であるた
め不透明な樹脂組成物を与えるという欠点があった。ま
た、適用可能な半導体ナノ結晶種がセレン化亜鉛(Zn
Se)、硫化カドミウム(CdS)、上記CdSe、テ
ルル化カドミウム(CdTe)等のII−VI族化合物半導
体に限られるという制限があった。
A method for synthesizing semiconductor nanocrystal particles in which surface-modifying molecules, which are expected to have good dispersibility in organic polymers and organic solvents, are bound to the surface is described in, for example, J. E. B. Ka
tari et al .; Phys. Chem. , Volume 98, 41
09-4117 (1994). The semiconductor nanocrystal particles obtained by this method have a structure in which a surface modifying molecule such as trioctylphosphine (hereinafter abbreviated as TOPO) is bonded to the surface of a compound semiconductor crystal particle such as cadmium selenide (CdSe). It not only has excellent solubility in organic solvents such as toluene and methylene chloride, but also has the characteristic that the particle size distribution is controlled to be extremely narrow. However, the semiconductor nanocrystal particles obtained by this method are acrylic resin typified by polymethylmethacrylate (commonly called PMMA), styrene resin typified by polystyrene, or aromatic polycarbonate resin typified by bisphenol A polycarbonate. However, the dispersibility in the general-purpose amorphous resin is insufficient, resulting in a drawback that an opaque resin composition is provided. In addition, applicable semiconductor nanocrystal species are zinc selenide (Zn
Se), cadmium sulfide (CdS), the above CdSe, cadmium telluride (CdTe), and other II-VI group compound semiconductors.

【0008】かかる欠点を改良した技術として、最近
J.Leeら;Adv.Mater.,12巻,110
2頁(2000)に前記のTOPOを配位子として有す
る半導体ナノ結晶粒子をポリラウリルメタクリレート
(PLMAと略)樹脂中に分散した発光材料が報告され
ている。しかし、炭素数12の側鎖を有するPLMAと
いう特殊なアクリル系樹脂マトリクスを必要とするた
め、耐熱性や機械的強度に劣るという問題があった。
As a technique for improving such a defect, J. Lee et al .; Adv. Mater. , 12 volumes, 110
On page 2 (2000), there is reported a light emitting material in which the semiconductor nanocrystal particles having TOPO as a ligand are dispersed in a polylauryl methacrylate (abbreviated as PLMA) resin. However, since a special acrylic resin matrix called PLMA having a side chain of 12 carbon atoms is required, there is a problem that heat resistance and mechanical strength are poor.

【0009】その他の半導体ナノ結晶を含有する樹脂組
成物としては、例えば欧州特許928245号明細書
(1999)にCdSe超微粒子をポリ(4−ビニルピ
リジン)のマトリクス中に10体積%程度分散した材料
が、S.W.Haggataら;J.Mater.Ch
em.,7巻,1969頁(1997)にCdSe及び
ZnSe超微粒子をそれぞれ31重量%及び25重量%
程度分散した材料が、S.W.Haggataら;J.
Mater.Chem.,6巻,1771頁(199
6)にCdS及び硫化亜鉛(ZnS)超微粒子をそれぞ
れ25重量%及び18重量%程度分散した材料が、それ
ぞれ報告されている。しかしいずれも、ピリジン環を含
有する特殊な高分子マトリクスを必要とするため、耐光
性(例えば耐変色性)に乏しいという課題を残してい
た。
As a resin composition containing other semiconductor nanocrystals, for example, a material in which CdSe ultrafine particles are dispersed in a matrix of poly (4-vinylpyridine) in an amount of about 10% by volume is described in EP 928245 (1999). But S. W. Haggata et al .; Mater. Ch
em. , Vol. 7, p. 1969 (1997), containing 31% by weight and 25% by weight of CdSe and ZnSe ultrafine particles, respectively.
The material dispersed to the extent that S. W. Haggata et al .;
Mater. Chem. , 6, 1771 (199
In 6), materials in which CdS and zinc sulfide (ZnS) ultrafine particles are dispersed by about 25% by weight and about 18% by weight, respectively, are reported. However, each of them requires a special polymer matrix containing a pyridine ring, and thus has a problem of poor light resistance (for example, color fastness).

【0010】以上の従来技術からわかるように、半導体
ナノ結晶を高分子マトリクスに分散するに当たり、バル
ク材料としての本質的な高度透明性はないがフィルムや
薄膜として使用可能な程度の透明性を与える分散技術、
半導体含有量を減じるシリカ被覆による半導体ナノ結晶
の光触媒能の減殺技術、並びに特殊な高分子マトリクス
にのみ適用可能なナノ結晶分散技術が知られているが、
いずれも優れた透明性と効率的な光触媒能の減殺とを両
立するものではなかった。
As can be seen from the above-mentioned prior art, when dispersing semiconductor nanocrystals in a polymer matrix, there is no essential high transparency as a bulk material, but transparency that can be used as a film or thin film is provided. Distributed technology,
There are known techniques for reducing the photocatalytic activity of semiconductor nanocrystals by silica coating that reduces the semiconductor content, and nanocrystal dispersion techniques applicable only to special polymer matrices.
None of them were excellent in both transparency and efficient reduction of photocatalytic activity.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、半導体ナノ
結晶を含有しながらもバルク状態において高度の透明性
を有すると共に該半導体ナノ結晶由来の紫外線吸収性や
高屈折率性に代表される機能を具備し、且つ該半導体ナ
ノ結晶の光触媒能が減殺されているため優れた耐光性を
有する透明樹脂組成物を与えることのできる半導体ナノ
粒子及びこれを用いた樹脂組成物を提供することを課題
とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has a high degree of transparency in a bulk state even though it contains a semiconductor nanocrystal and has a function typified by ultraviolet absorption and high refractive index derived from the semiconductor nanocrystal. It is intended to provide semiconductor nanoparticles and a resin composition using the same, which can provide a transparent resin composition having excellent light resistance because the photocatalytic activity of the semiconductor nanocrystals is diminished. And

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明者は上記目的を達
成するため鋭意検討を重ねた結果、半導体ナノ結晶の表
面を金や銀などの遷移金属に代表される導電体で被覆し
てコアシェル型粒子とすることにより該半導体ナノ結晶
の光触媒能が顕著に減殺され、同時に該コアシェル型粒
子に樹脂モノマーとの共重合性又は樹脂マトリクスへの
相溶性を有する有機化合物を表面修飾分子として結合さ
せたコアシェル型半導体ナノ粒子とすることにより、こ
れを樹脂に分散させた場合に非常に透明性の良い樹脂組
成物を製造可能であることを見出して、本発明に到達し
た。即ち、本発明の要旨は、以下の3点に存する。 1.半導体ナノ結晶コアと導電体シェルとからなる数平
均粒径が2〜50nmのコアシェル型粒子表面に表面修
飾分子が結合してなる半導体ナノ粒子。 2.上記半導体ナノ粒子を灰分量として0.01〜80
重量%含有してなる樹脂組成物。 3.上記樹脂組成物からなり膜厚が0.05〜3000
μmである薄膜状成形体。
Means for Solving the Problems As a result of extensive studies made by the present inventors in order to achieve the above object, as a result of coating the surface of a semiconductor nanocrystal with a conductor represented by a transition metal such as gold or silver, a core shell The photocatalytic activity of the semiconductor nanocrystals is remarkably diminished by forming the shaped particles, and at the same time, an organic compound having copolymerizability with the resin monomer or compatibility with the resin matrix is bound to the core-shell type particles as a surface-modifying molecule. The present invention has been accomplished by finding that by using the core-shell type semiconductor nanoparticles, it is possible to produce a resin composition having excellent transparency when the core-shell type semiconductor nanoparticles are dispersed in a resin. That is, the gist of the present invention lies in the following three points. 1. A semiconductor nanoparticle in which a surface-modifying molecule is bonded to the surface of a core-shell type particle having a number average particle diameter of 2 to 50 nm composed of a semiconductor nanocrystal core and a conductor shell. 2. The semiconductor nanoparticles are 0.01 to 80 in terms of ash content.
A resin composition containing 100% by weight. 3. Made of the above resin composition and having a film thickness of 0.05 to 3000
A thin film shaped article having a thickness of μm.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明につき詳細に説明す
る。 [半導体ナノ粒子]本発明の半導体ナノ粒子は、半導体
ナノ結晶のコア(内核)と金属等導電体のシェル(外
殻)とからなるコアシェル型粒子が、その粒子表面に表
面修飾分子を結合してなるものである。かかる半導体ナ
ノ粒子は、該表面修飾分子の効果により樹脂マトリクス
に良好に分散し、後述する本発明の樹脂組成物を与える
ものである。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below. [Semiconductor Nanoparticles] The semiconductor nanoparticles of the present invention are core-shell type particles composed of a core (inner core) of semiconductor nanocrystals and a shell (outer shell) of a conductor such as a metal. It will be. Such semiconductor nanoparticles are well dispersed in the resin matrix due to the effect of the surface-modifying molecules to give the resin composition of the present invention described later.

【0014】該コアシェル型粒子の数平均粒径は2〜5
0nmである。該数平均粒径が小さすぎると、半導体の
体積分率が小さくなる、もしくは半導体の結晶性が極端
に低下するといった理由により、半導体結晶の特徴であ
る吸発光特性や高屈折率性といった物性の発現が不十分
となる場合がある。従って、該下限値は好ましくは3n
m、更に好ましくは4nmである。一方、該数平均粒径
が大きすぎると、本発明の樹脂組成物の透明性が極端に
低下する場合がある。従って、該上限値は好ましくは4
0nm、更に好ましくは30nmである。
The number average particle diameter of the core-shell type particles is 2-5.
It is 0 nm. If the number average particle diameter is too small, the volume fraction of the semiconductor becomes small, or the crystallinity of the semiconductor becomes extremely low. Expression may be insufficient. Therefore, the lower limit is preferably 3n
m, more preferably 4 nm. On the other hand, if the number average particle size is too large, the transparency of the resin composition of the present invention may be extremely reduced. Therefore, the upper limit is preferably 4
It is 0 nm, more preferably 30 nm.

【0015】本発明における数平均粒径の決定には、与
えられた粒子の透過型電子顕微鏡(TEM)観察像より
測定される数値を用いる。即ち、観察される粒子像と同
面積の円の直径を該粒子像の粒径と定義する。こうして
決定される粒径を用い、例えば公知の画像データの統計
処理手法により該数平均粒径を算出するが、かかる統計
処理に使用する粒子像の数(統計処理データ数)は可及
的多いことが当然望ましく、本発明においては、再現性
の点で無作為に選ばれた該粒子像の個数として最低でも
50個以上、好ましくは80個以上、更に好ましくは1
00個以上とする。
In determining the number average particle diameter in the present invention, a numerical value measured from a transmission electron microscope (TEM) observation image of a given particle is used. That is, the diameter of a circle having the same area as the observed particle image is defined as the particle size of the particle image. The number average particle diameter is calculated, for example, by a known statistical processing method of image data using the thus determined particle diameter. The number of particle images used for the statistical processing (the number of statistically processed data) is as large as possible. Naturally, it is desirable in the present invention that the number of the particle images randomly selected from the viewpoint of reproducibility is at least 50 or more, preferably 80 or more, more preferably 1 or more.
00 or more.

【0016】上記コアシェル型粒子における導電体シェ
ルの厚さは、通常0.5〜10nm程度である。該シェ
ルの厚さの下限値が小さすぎると半導体ナノ結晶の光触
媒能減殺の効果が極端に低下する場合があるので、好ま
しくは1nm、更に好ましくは2nmである。一方、該
シェルの厚さの上限値が大きすぎると半導体の体積分率
が小さくなり半導体結晶の特徴である吸発光特性や高屈
折率性といった物性の発現が不十分となる場合があるの
で、好ましくは8nm、更に好ましくは5nmである。
該シェルの厚さは、上記TEM観察により可能であり、
必要に応じて与えられた粒子の元素分析値から算出され
るコア半導体との量比も加味して精度良く決定すること
ができる。
The thickness of the conductor shell in the core-shell type particles is usually about 0.5 to 10 nm. If the lower limit of the thickness of the shell is too small, the effect of reducing the photocatalytic activity of the semiconductor nanocrystals may be extremely reduced. Therefore, the thickness is preferably 1 nm, more preferably 2 nm. On the other hand, when the upper limit of the thickness of the shell is too large, the volume fraction of the semiconductor becomes small, which may result in insufficient expression of physical properties such as absorption and emission characteristics and high refractive index characteristics of semiconductor crystals. It is preferably 8 nm, more preferably 5 nm.
The thickness of the shell can be determined by the above TEM observation,
If necessary, the quantitative ratio with the core semiconductor, which is calculated from the elemental analysis value of the given particles, can be taken into account to determine with high accuracy.

【0017】本発明の半導体ナノ粒子における導電体シ
ェルの主な効果は、半導体ナノ結晶コアの光触媒能の減
殺である。その機構は定かではないが、半導体ナノ結晶
が光を吸収して生成する電子と正孔の対が半導体ナノ結
晶の表面に達した場合に、該導電体シェルがこれらを効
率よく再結合させて失活させる機構が推測される。本発
明の半導体ナノ粒子の吸収スペクトルに制限はないが、
紫外領域等特定波長範囲の光を吸収する用途において
は、該吸収スペクトルの吸収端波長が300〜600n
mの範囲内にあることが好ましい。この吸収端波長の範
囲の下限値は合成樹脂等の有機物マトリクスを変質させ
る紫外領域を吸収させる目的でより好ましくは330n
m、更に好ましくは370nmであり、一方、該上限値
は可視領域における透明性の点でより好ましくは550
nm、更に好ましくは500nm、最も好ましくは45
0nmである。
The main effect of the conductor shell in the semiconductor nanoparticles of the present invention is to reduce the photocatalytic activity of the semiconductor nanocrystal core. The mechanism is not clear, but when an electron-hole pair generated by absorption of light by the semiconductor nanocrystal reaches the surface of the semiconductor nanocrystal, the conductor shell efficiently recombines them. The deactivating mechanism is speculated. Although the absorption spectrum of the semiconductor nanoparticles of the present invention is not limited,
In applications where light in a specific wavelength range such as the ultraviolet region is absorbed, the absorption edge wavelength of the absorption spectrum is 300 to 600 n.
It is preferably within the range of m. The lower limit value of the absorption edge wavelength range is more preferably 330 n for the purpose of absorbing the ultraviolet region which deteriorates the organic matrix such as synthetic resin.
m, more preferably 370 nm, while the upper limit is more preferably 550 in view of transparency in the visible region.
nm, more preferably 500 nm, most preferably 45 nm
It is 0 nm.

【0018】本発明の半導体ナノ粒子における前記の表
面修飾分子の含有量は、該分子の分子量にもよるが通常
5〜70重量%である。前記コアシェル型粒子の分散を
最小重量の表面修飾分子により効率よく行う観点から、
該表面修飾分子の含有量の上限値は好ましくは50重量
%、更に好ましくは40重量%であり、一方その下限値
はナノ粒子の分散性の点で好ましくは10重量%、更に
好ましくは15重量%である。かかる表面修飾分子の含
有量は、与えられた半導体ナノ粒子を、窒素雰囲気にお
いて600℃で90分以上加熱する熱重量分析により決
定される。
The content of the surface-modifying molecule in the semiconductor nanoparticles of the present invention depends on the molecular weight of the molecule, but is usually 5 to 70% by weight. From the viewpoint of efficiently dispersing the core-shell type particles with the minimum weight of the surface-modifying molecule,
The upper limit of the content of the surface modification molecule is preferably 50% by weight, more preferably 40% by weight, while the lower limit thereof is preferably 10% by weight, more preferably 15% by weight in view of dispersibility of nanoparticles. %. The content of such surface-modifying molecules is determined by thermogravimetric analysis in which the given semiconductor nanoparticles are heated at 600 ° C. for 90 minutes or more in a nitrogen atmosphere.

【0019】[半導体ナノ結晶]本発明の半導体ナノ粒
子のコア構成する半導体ナノ結晶の組成には、それが半
導体結晶である限りにおいて制限はない。該半導体組成
が結晶性を有することは、例えば、前記TEM観察像に
おける半導体結晶格子に由来する格子状の模様の存在、
もしくはエックス線散乱スペクトルにおいて既知の半導
体結晶回折ピークに相当する回折ピークを与えることか
ら確認される。
[Semiconductor Nanocrystal] The composition of the semiconductor nanocrystal constituting the core of the semiconductor nanoparticle of the present invention is not limited as long as it is a semiconductor crystal. The fact that the semiconductor composition has crystallinity means that, for example, the presence of a lattice pattern derived from the semiconductor crystal lattice in the TEM observation image,
Alternatively, it is confirmed by giving a diffraction peak corresponding to a known semiconductor crystal diffraction peak in the X-ray scattering spectrum.

【0020】本発明における半導体ナノ結晶を構成する
半導体組成を、以下具体例を組成式で表すと、C、S
i、Ge、Sn等の周期表第14族元素の単体、P(黒
リン)等の周期表第15族元素の単体、SeやTe等の
周期表第16族元素の単体、SiC等の複数の周期表第
14族元素からなる化合物、SnO2、Sn(II)Sn(I
V)S3、SnS2、SnS、SnSe、SnTe、Pb
S、PbSe、PbTe等の周期表第14族元素と周期
表第16族元素との化合物、BN、BP、BAs、Al
N、AlP、AlAs、AlSb、GaN、GaP、G
aAs、GaSb、InN、InP、InAs、InS
b等の周期表第13族元素と周期表第15族元素との化
合物(あるいはIII−V族化合物半導体)、Al23
Al2Se3、Ga23、Ga2Se3、Ga2Te3、In
23、In23、In2Se3、In2Te3等の周期表第
13族元素と周期表第16族元素との化合物、TlC
l、TlBr、TlI等の周期表第13族元素と周期表
第17族元素との化合物、ZnO、ZnS、ZnSe、
ZnTe、CdO、CdS、CdSe、CdTe、Hg
S、HgSe、HgTe等の周期表第12族元素と周期
表第16族元素との化合物(あるいはII−VI族化合物半
導体)、As23、As2Se3、As2Te3、Sb
23、Sb2Se3、Sb2Te3、Bi23、Bi2
3、Bi2Te3等の周期表第15族元素と周期表第1
6族元素との化合物、Cu2O、Cu2Se等の周期表第
11族元素と周期表第16族元素との化合物、CuC
l、CuBr、CuI、AgCl、AgBr等の周期表
第11族元素と周期表第17族元素との化合物、NiO
等の周期表第10族元素と周期表第16族元素との化合
物、CoO、CoS等の周期表第9族元素と周期表第1
6族元素との化合物、α−Fe23、γ−Fe23、F
34等の酸化鉄類、FeS等の周期表第8族元素と周
期表第16族元素との化合物、MnO等の周期表第7族
元素と周期表第16族元素との化合物、MoS2、WO2
等の周期表第6族元素と周期表第16族元素との化合
物、VO、VO2、Ta25等の周期表第5族元素と周
期表第16族元素との化合物、TiO2、Ti25、T
23、Ti59等の酸化チタン類(結晶型はルチル
型、ルチル/アナタースの混晶型、アナタース型のいず
れでも構わない)、ZrO2等の周期表第4族元素と周
期表第16族元素との化合物、Y23、La23等の周
期表第3族元素(ランタノイド元素を含む)と周期表第
16族元素との化合物、MgS、MgSe等の周期表第
2族元素と周期表第16族元素との化合物、CdCr2
4、CdCr2Se4、CuCr24、HgCr2Se4
等のカルコゲンスピネル類、あるいはBaTiO3等が
挙げられる。なお、G.Schmidら;Adv.Ma
ter.,4巻,494頁(1991)に報告されてい
る(BN)75(BF21515や、D.Fenske
ら;Angew.Chem.Int.Ed.Eng
l.,29巻,1452頁(1990)に報告されてい
るCu 146Se73(トリエチルホスフィン)22のように
構造の確定されている半導体クラスターも同様に例示さ
れる。
Constituting the semiconductor nanocrystal in the present invention
The semiconductor composition is represented by C, S when the following specific examples are represented by composition formulas.
i, Ge, Sn, etc. Periodic Table Group 14 element simple substance, P (black
(Phosphorus) etc. Periodic Table Group 15 element simple substance, such as Se and Te
Periodic table Group 16 element simple substance, multiple periodic table such as SiC
Compound consisting of Group 14 element, SnO2, Sn (II) Sn (I
V) S3, SnS2, SnS, SnSe, SnTe, Pb
Periodic table group 14 elements such as S, PbSe, PbTe and the period
Table Compounds with Group 16 elements, BN, BP, BAs, Al
N, AlP, AlAs, AlSb, GaN, GaP, G
aAs, GaSb, InN, InP, InAs, InS
Conversion of elements of Group 13 of the periodic table such as b to elements of Group 15 of the periodic table
Compound (or III-V compound semiconductor), Al2S3,
Al2Se3, Ga2S3, Ga2Se3, Ga2Te3, In
2O3, In2S3, In2Se3, In2Te3Periodic table number such as
Compound of Group 13 element and Group 16 element of the periodic table, TlC
Periodic table of the 13th group elements of the periodic table such as l, TlBr, and TlI
Compounds with Group 17 elements, ZnO, ZnS, ZnSe,
ZnTe, CdO, CdS, CdSe, CdTe, Hg
Periodic table group 12 elements such as S, HgSe, HgTe, etc.
Table Compounds with Group 16 elements (or II-VI group compounds)
Conductor), As2S3, As2Se3, As2Te3, Sb
2S3, Sb2Se3, Sb2Te3, Bi2S3, Bi2S
e3, Bi2Te3Periodic table group 15 elements and the periodic table first
Compound with Group 6 element, Cu2O, Cu2Periodic table such as Se
CuC, a compound of Group 11 element and Group 16 element of the periodic table
Periodic table of l, CuBr, CuI, AgCl, AgBr, etc.
NiO, a compound of Group 11 element and Group 17 element of the periodic table
Of periodic table group 10 elements and other periodic table group 16 elements
, Group 9 elements of the periodic table such as CoO, CoS and the first of the periodic table
Compound with Group 6 element, α-Fe2O3, Γ-Fe2O3, F
e3OFourOxides such as FeS, and elements of Group 8 of the periodic table such as FeS
Periodic Table Group 7 compounds such as compounds with Group 16 elements in the Periodic Table, MnO, etc.
Compounds of elements with elements of Group 16 of the periodic table, MoS2, WO2
Of periodic table group 6 element and other periodic table group 16 element
Thing, VO, VO2, Ta2OFivePeriodic Table Group 5 elements such as
Compounds with Group 16 elements, TiO2, Ti2OFive, T
i2O3, TiFiveO9Titanium oxides such as rutile (crystal type is rutile
Type, rutile / anatase mixed crystal type, anatase type
It doesn't matter), ZrO2Periodic table group 4 elements such as
Compounds with Group 16 elements in the periodic table, Y2O3, La2O3Circumference
Periodic Table Group 3 elements (including lanthanoid elements) and Periodic Table No.
Periodic table of compounds such as MgS, MgSe with group 16 elements
CdCr, a compound of Group 2 element and Group 16 element of the periodic table2
OFour, CdCr2SeFour, CuCr2SFour, HgCr2SeFour
Such as chalcogen spinel, or BaTiO3Etc.
Can be mentioned. In addition, G. Schmid et al .; Adv. Ma
ter. , Vol. 4, p. 494 (1991).
(BN)75(BF2)15F15, D. Fenske
Angew. Chem. Int. Ed. Eng
l. , 29, p. 1452 (1990).
Cu 146Se73(Triethylphosphine)twenty twolike
Semiconductor clusters whose structure is well defined are also exemplified.
Be done.

【0021】これらのうち実用的に重要なものは、例え
ばSnO2、SnS2、SnS、SnSe、SnTe、P
bS、PbSe、PbTe等の周期表第14族元素と周
期表第16族元素との化合物、GaN、GaP、GaA
s、GaSb、InN、InP、InAs、InSb等
のIII−V族化合物半導体、Ga23、Ga23、Ga2
Se3、Ga2Te3、In23、In23、In2
3、In2Te3等の周期表第13族元素と周期表第1
6族元素との化合物、ZnO、ZnS、ZnSe、Zn
Te、CdO、CdS、CdSe、CdTe、HgO、
HgS、HgSe、HgTe等のII−VI族化合物半導
体、As23、As23、As2Se3、As2Te3、S
23、Sb23、Sb2Se3、Sb2Te3、Bi
23、Bi23、Bi2Se3、Bi2Te3等の周期表第
15族元素と周期表第16族元素との化合物、α−Fe
23、γ−Fe23、Fe34等の酸化鉄類やFeS等
の周期表第8族元素と周期表第16族元素との化合物、
前記の酸化チタン類やZrO2等の周期表第4族元素と
周期表第16族元素との化合物、Y23、La23等の
周期表第3族元素(ランタノイド元素を含む)と周期表
第16族元素との化合物である。
Of these, those practically important are, for example, SnO 2 , SnS 2 , SnS, SnSe, SnTe, P.
Compounds of periodic table group 14 element and periodic table group 16 element such as bS, PbSe, PbTe, GaN, GaP, GaA
s, GaSb, InN, InP, InAs, III-V group compound semiconductor such as InSb, Ga 2 O 3, Ga 2 S 3, Ga 2
Se 3 , Ga 2 Te 3 , In 2 O 3 , In 2 S 3 , In 2 S
e 3 and In 2 Te 3 etc. Periodic Table Group 13 elements and Periodic Table 1
Compounds with Group 6 elements, ZnO, ZnS, ZnSe, Zn
Te, CdO, CdS, CdSe, CdTe, HgO,
II-VI group compound semiconductors such as HgS, HgSe, and HgTe, As 2 O 3 , As 2 S 3 , As 2 Se 3 , As 2 Te 3 , and S.
b 2 O 3 , Sb 2 S 3 , Sb 2 Se 3 , Sb 2 Te 3 , Bi
2 O 3 , Bi 2 S 3 , Bi 2 Se 3 , Bi 2 Te 3 and other compounds of periodic table group 15 element and periodic table group 16 element, α-Fe
2 O 3 , γ-Fe 2 O 3 , iron oxides such as Fe 3 O 4 and compounds of periodic table group 8 element such as FeS and periodic table group 16 element,
Compounds of periodic table group 4 elements and periodic table group 16 elements such as titanium oxides and ZrO 2 described above, and periodic table group 3 elements (including lanthanoid elements) such as Y 2 O 3 and La 2 O 3 And a compound of Group 16 element of the periodic table.

【0022】これらの中でも、SnO2、GaN、Ga
P、In23、InN、InP、Ga23、Ga23
In23、In23、ZnO、ZnS、CdO、Cd
S、前記の酸化鉄類、ルチル型やアナタース型二酸化チ
タン、ZrO2、Y23、MgS等は毒性の高い陰性元
素を含まないので耐環境汚染性や生物への安全性の点で
好ましく、この観点ではSnO2、In23、ZnO、
ZnS、α−Fe23、ルチル型二酸化チタン、ZrO
2、Y23等の毒性の高い陽性元素を含まない組成は更
に好ましい。
Among these, SnO 2 , GaN, Ga
P, In 2 O 3 , InN, InP, Ga 2 O 3 , Ga 2 S 3 ,
In 2 O 3 , In 2 S 3 , ZnO, ZnS, CdO, Cd
S, the above-mentioned iron oxides, rutile-type or anatase-type titanium dioxide, ZrO 2 , Y 2 O 3 , MgS and the like do not contain a highly toxic negative element, and are therefore preferable in terms of environmental pollution resistance and safety to living organisms. From this viewpoint, SnO 2 , In 2 O 3 , ZnO,
ZnS, α-Fe 2 O 3 , rutile titanium dioxide, ZrO
A composition that does not contain a highly toxic positive element such as 2 , Y 2 O 3 is more preferable.

【0023】ZnO、α−Fe23、ルチル型二酸化チ
タン、Y23等の金属酸化物半導体結晶は、光吸収能、
高い屈折率、安全性、安価であることから、紫外線吸収
材料や高屈折率コーティング等の用途に最も好ましいも
のである。また、α−Fe23等の酸化鉄類等、可視領
域に吸収能のある着色した半導体結晶は、顔料等の色材
用途に重要である。
Metal oxide semiconductor crystals such as ZnO, α-Fe 2 O 3 , rutile type titanium dioxide and Y 2 O 3 have a light absorption capacity
Since it has a high refractive index, safety and low cost, it is most preferable for applications such as an ultraviolet absorbing material and a high refractive index coating. In addition, colored semiconductor crystals having absorptivity in the visible region, such as iron oxides such as α-Fe 2 O 3 are important for coloring materials such as pigments.

【0024】半導体ナノ結晶の発光能を利用する場合に
は、可視領域とその近傍に発光帯を有するGaN、Ga
P、GaAs、InN、InP等のIII−V族化合物半
導体、ZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdO、
CdS、CdSe、CdTe、HgO、HgS等のII−
VI族化合物半導体、In23、In23等が重要であ
り、中でも半導体結晶の粒径の制御性と発光能から好適
なのはZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdO、
CdS、CdSe等のII−VI族化合物半導体であり、特
にZnO、ZnS、ZnSe、CdS、CdSe等がこ
の目的では更に好適に用いられる。
In the case of utilizing the light emitting ability of semiconductor nanocrystals, GaN and Ga having an emission band in the visible region and its vicinity are used.
III-V group compound semiconductors such as P, GaAs, InN, InP, ZnO, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdO,
II- such as CdS, CdSe, CdTe, HgO and HgS
Group VI compound semiconductors, In 2 O 3 , In 2 S 3, etc. are important, and among them, ZnO, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdO
It is a II-VI group compound semiconductor such as CdS or CdSe, and ZnO, ZnS, ZnSe, CdS, CdSe and the like are more preferably used for this purpose.

【0025】前記で例示した任意の半導体結晶の組成に
は、必要に応じて微量のドープ物質(故意に添加する不
純物の意味)として例えばAl、Mn、Cu、Zn、A
g、Cl、Ce、Eu、Tb、Er等の元素を加えても
構わない。本発明における半導体ナノ結晶は、例えば
A.R.Kortanら;J.Am.Chem.So
c.,112巻,1327頁(1990)あるいは米国
特許5985173号公報(1999)に報告されてい
るように、内核(コア)と外殻(シェル)からなるいわ
ゆるコアシェル構造であってもよく、この場合は後述す
る導電体シェルと合わせて2層シェル構造を有する本発
明の半導体ナノ粒子を与えることになる。
In the composition of any of the semiconductor crystals exemplified above, Al, Mn, Cu, Zn, A, etc. may be added as a trace amount of a doping substance (meaning impurities intentionally added) if necessary.
Elements such as g, Cl, Ce, Eu, Tb and Er may be added. The semiconductor nanocrystal according to the present invention is, for example, A. R. Kortan et al .; Am. Chem. So
c. 112, p. 1327 (1990) or US Pat. No. 5,985,173 (1999), a so-called core shell structure composed of an inner core (core) and an outer shell (shell) may be used. Together with the conductor shell described below, the semiconductor nanoparticles of the present invention having a two-layer shell structure will be provided.

【0026】かかるコアシェル型半導体ナノ結晶では、
エキシトン吸発光帯を利用する用途に好適な場合があ
る。この場合、シェルの半導体結晶の組成として、禁制
帯幅(バンドギャップ)がコアよりも大きなものを起用
することによりエネルギー的な障壁を形成せしめること
が一般に有効である。これは、外界の影響や結晶表面で
の結晶格子欠陥等の理由による望ましくない表面準位等
の影響を抑制する機構によるものと推測される。
In such a core-shell type semiconductor nanocrystal,
It may be suitable for applications using the exciton absorption / emission band. In this case, it is generally effective to form an energy barrier by using a semiconductor crystal composition of the shell having a band gap (band gap) larger than that of the core. It is presumed that this is due to a mechanism that suppresses the influence of an undesired surface level or the like due to the influence of the external environment or the crystal lattice defect on the crystal surface.

【0027】かかる半導体シェルに好適に用いられる半
導体結晶の組成としては、コア半導体結晶のバンドギャ
ップにもよるが、バルク状態のバンドギャップが温度3
00Kにおいて2.0電子ボルト以上であるもの、例え
ばBN、BAs、GaNやGaP等のIII−V族化合物
半導体、ZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe、Cd
O、CdS等のII−VI族化合物半導体、MgSやMgS
e等の周期表第2族元素と周期表第16族元素との化合
物等が好適に用いられる。これらのうちより好ましいシ
ェルとなる半導体結晶組成は、BN、BAs、GaN等
のIII−V族化合物半導体、ZnO、ZnS、ZnS
e、CdS等のII−VI族化合物半導体、MgS、MgS
e等の周期表第2族元素と周期表第16族元素との化合
物等のバルク状態のバンドギャップが温度300Kにお
いて2.3電子ボルト以上のものであり、最も好ましい
のはBN、BAs、GaN、ZnO、ZnS、ZnS
e、MgS、MgSe等のバルク状態のバンドギャップ
が温度300Kにおいて2.5電子ボルト以上のもので
あり、化学合成上ZnSは最も好適に使用される。
The composition of the semiconductor crystal preferably used for such a semiconductor shell depends on the band gap of the core semiconductor crystal, but the band gap in the bulk state has a temperature of 3 ° C.
Those having a voltage of 2.0 eV or more at 00K, for example, BN, BAs, III-V group compound semiconductors such as GaN and GaP, ZnO, ZnS, ZnSe, ZnTe, Cd.
II-VI group compound semiconductors such as O and CdS, MgS and MgS
A compound of a group 2 element of the periodic table and a group 16 element of the periodic table such as e is preferably used. Among these, the semiconductor crystal composition which is more preferable as the shell is a III-V group compound semiconductor such as BN, BAs, and GaN, ZnO, ZnS, and ZnS.
II-VI group compound semiconductors such as e and CdS, MgS, MgS
The band gap of the bulk state of the compound of the periodic table group 2 element such as e and the periodic table group 16 element is 2.3 eV or more at a temperature of 300 K, and BN, BAs, and GaN are most preferable. , ZnO, ZnS, ZnS
The bandgap of e, MgS, MgSe and the like in the bulk state is 2.5 eV or more at a temperature of 300 K, and ZnS is most preferably used in chemical synthesis.

【0028】本発明の半導体ナノ結晶に用いられる特に
好適なコア−シェル組成の組み合わせ例を組成式で表現
すると、CdSe−ZnS、CdSe−ZnO、CdS
e−CdS、CdS−ZnS、CdS−ZnO等が挙げ
られる。本発明の半導体ナノ粒子を紫外領域等特定波長
範囲の光を吸収する用途に使用する場合、そのコアを構
成する半導体ナノ結晶の吸収スペクトルの吸収端波長が
300〜600nmの範囲内にあることが好ましい。こ
の吸収端波長の範囲の下限値は合成樹脂等の有機物マト
リクスを変質させる紫外領域を吸収させる目的でより好
ましくは330nm、更に好ましくは370nmであ
り、一方、該上限値は可視領域における透明性の点でよ
り好ましくは550nm、更に好ましくは500nm、
最も好ましくは450nmである。
A particularly preferred combination example of the core-shell composition used for the semiconductor nanocrystal of the present invention is expressed by a composition formula, CdSe-ZnS, CdSe-ZnO, CdS.
Examples thereof include e-CdS, CdS-ZnS, CdS-ZnO and the like. When the semiconductor nanoparticles of the present invention are used for the purpose of absorbing light in a specific wavelength range such as the ultraviolet region, the absorption edge wavelength of the absorption spectrum of the semiconductor nanocrystals constituting the core may be in the range of 300 to 600 nm. preferable. The lower limit of the range of the absorption edge wavelength is more preferably 330 nm, further preferably 370 nm for the purpose of absorbing the ultraviolet region that deteriorates the organic matrix such as synthetic resin, while the upper limit is the transparency in the visible region. From the viewpoint, it is more preferably 550 nm, further preferably 500 nm,
Most preferably, it is 450 nm.

【0029】[半導体ナノ結晶の製造方法]半導体ナノ
結晶の製造方法に制限はないが、例えば以下の3つの液
相法が例示される。 (1)原料水溶液を非極性有機溶媒中の逆ミセルとして
存在させ該逆ミセル相中にて結晶成長させる方法(以下
「逆ミセル法」という)であり、例えばB.S.Zou
ら;Int.J.Quant.Chem.,72巻,4
39(1999)に報告されている方法である。汎用的
な反応釜において公知の逆ミセル安定化技術が利用で
き、比較的安価かつ化学的に安定な塩を原料とすること
ができ、しかも水の沸点を超えない比較的低温で行われ
るため工業生産に適した方法である。但し、下記のホッ
トソープ法の場合に比べて現状技術では発光特性に劣る
場合がある。 (2)熱分解性原料を高温の液相有機媒体に注入して結
晶成長させる方法(以下、ホットソープ法という)であ
り、例えば前記のJ.E.B.Katariら著の文献
に報告されている方法である。前記逆ミセル法に比べて
粒径分布と純度に優れた半導体結晶粒子が得られ、生成
物は発光特性に優れ有機溶媒に通常可溶である特徴があ
る。ホットソープ法における液相での結晶成長の過程の
反応速度を望ましく制御する目的で、半導体構成元素に
適切な配位力のある配位性有機化合物が液相成分(溶媒
と配位子を兼ねる)として選択される。かかる配位性有
機化合物の例としては、前記トリアルキルホスフィン
類、前記トリアルキルホスフィンオキシド類、ドデシル
アミン、テトラデシルアミン、ヘキサデシルアミン、オ
クタデシルアミン等のω−アミノアルカン類等が挙げら
れる。これらのうち、前記TOPO等のトリアルキルホ
スフィンオキシド類やヘキサデシルアミン等のω−アミ
ノアルカン類等が好適である。 (3)酸塩基反応を駆動力として半導体結晶やその前駆
体を、水やエタノールなどのプロトン性溶媒中において
100℃以下程度の比較的低い温度で生成させる工業生
産に適した方法(以下「ゾル−ゲル法」という)であ
る。例えば、酸化チタンナノ結晶の合成例が伊藤征司郎
ら;色材,57巻6号,305−308(1984)
に、酸化亜鉛ナノ結晶の合成例がL.Spanhel
ら;J.Am.Chem.Soc.,113巻,282
6頁(1991)にそれぞれ報告されている。ゾル−ゲ
ル法における好適な原料として、例えば酸化チタンナノ
結晶の合成には硫酸チタニルが、酸化亜鉛ナノ結晶の合
成には酢酸亜鉛や硝酸亜鉛等の亜鉛塩が、それぞれ例示
される。テトラエチルオルソシリケート(略称TEO
S)やテトライソプロポキシオルソチタネート等の金属
アルコキシド類も原料として好適に使用可能である。特
にゾル−ゲル法により酸化物ナノ結晶を合成する場合に
おいては、例えば硫酸チタニルを原料として用いる酸化
チタンナノ結晶の合成のように、水酸化物等の前駆体を
経由し次いで酸やアルカリにより(好ましくは酸によ
り)これを脱水縮合又は解膠してヒドロゾルを生成させ
る手順も可能である。かかる前駆体を経由する手順で
は、該前駆体を、濾過や沈殿分離(必要であれば遠心分
離)等の任意の方法で単離精製することが最終製品の純
度の点で好適である。該ヒドロゾルにドデシルベンゼン
スルホン酸ナトリウム(略称DBS)等の適当な界面活
性剤を加えて、ゾル粒子(即ち半導体又はその前駆体の
ナノ粒子)を非水溶化させて単離してもよい。
[Manufacturing Method of Semiconductor Nanocrystal] The manufacturing method of the semiconductor nanocrystal is not limited, but the following three liquid phase methods are exemplified. (1) A method of allowing a raw material aqueous solution to exist as a reverse micelle in a non-polar organic solvent and growing crystals in the reverse micelle phase (hereinafter referred to as "reverse micelle method"). S. Zou
Int. J. Quant. Chem. , Volume 72, 4
39 (1999). A well-known reverse micelle stabilization technology can be used in a general-purpose reaction kettle, a relatively inexpensive and chemically stable salt can be used as a raw material, and it is performed at a relatively low temperature that does not exceed the boiling point of water. This method is suitable for production. However, the current state of the art may be inferior to the light emission characteristics as compared with the case of the hot soap method described below. (2) A method of injecting a thermally decomposable raw material into a high temperature liquid-phase organic medium for crystal growth (hereinafter referred to as a hot soap method), for example, the method described in J. E. B. This is the method reported in the literature by Katari et al. Compared with the reverse micelle method, semiconductor crystal particles having an excellent particle size distribution and purity can be obtained, and the product has excellent light emitting characteristics and is usually soluble in an organic solvent. In order to desirably control the reaction rate of the crystal growth process in the liquid phase in the hot soap method, a coordinating organic compound having an appropriate coordinating force for a semiconductor constituent element is used as a liquid phase component (also serves as a solvent and a ligand). ) Is selected as. Examples of the coordinating organic compound include the trialkylphosphines, the trialkylphosphine oxides, ω-aminoalkanes such as dodecylamine, tetradecylamine, hexadecylamine, and octadecylamine. Of these, preferred are trialkylphosphine oxides such as TOPO and ω-aminoalkanes such as hexadecylamine. (3) A method suitable for industrial production in which a semiconductor crystal or a precursor thereof is generated at a relatively low temperature of about 100 ° C. or lower in a protic solvent such as water or ethanol by using an acid-base reaction as a driving force (hereinafter referred to as “sol. -"Gel method"). For example, a synthesis example of titanium oxide nanocrystals is Seijiro Ito et al .; Coloring Material, Vol. 57, No. 6, 305-308 (1984).
A synthetic example of zinc oxide nanocrystals is described in L. et al. Spanhel
J. et al. Am. Chem. Soc. , Volume 113, 282
Each is reported on page 6 (1991). Examples of suitable raw materials in the sol-gel method include titanyl sulfate for the synthesis of titanium oxide nanocrystals, and zinc salts such as zinc acetate and zinc nitrate for the synthesis of zinc oxide nanocrystals. Tetraethyl orthosilicate (abbreviation TEO)
Metal alkoxides such as S) and tetraisopropoxy orthotitanate can also be preferably used as a raw material. In particular, in the case of synthesizing oxide nanocrystals by the sol-gel method, for example, as in the synthesis of titanium oxide nanocrystals using titanyl sulfate as a raw material, a precursor such as hydroxide is used, and then acid or alkali (preferably It is also possible to use dehydration condensation or deflocculation of this to form a hydrosol. In the procedure via such a precursor, it is preferable in terms of purity of the final product to isolate and purify the precursor by an arbitrary method such as filtration or precipitation separation (centrifugation if necessary). A suitable surfactant such as sodium dodecylbenzene sulfonate (abbreviated as DBS) may be added to the hydrosol to make the sol particles (that is, the nanoparticles of the semiconductor or its precursor) water-insoluble and then isolated.

【0030】[導電体シェル]本発明の半導体ナノ粒子
においてシェルを構成する導電体とは、温度300Kに
おけるバルク状態での電気伝導率σが1,000S/c
m以上である物質であり、この電気伝導度の値は好まし
くは10,000S/cm以上、更に好ましくは10
0,000S/cm以上である。かかる導電体の物質例
としては、金、白金、銀、パラジウム、ロジウム、亜
鉛、銅、ニッケル、鉄等の遷移金属単体、これら遷移金
属の合金、あるいは黒鉛、カーボンブラック、C60に代
表されるフラーレン類やカーボンナノチューブ等の炭素
材料、チタン酸バリウムなどの導電性無機物質等が挙げ
られる。これら導電体の例示のうち導電体シェルを均質
かつ制御された膜厚で形成させる点で好ましく用いられ
るものは、銅、周期表第5及び第6周期の遷移金属単
体、即ち金、白金、銀、パラジウム等であり、中でも
銀、銅、金、白金等は導電性、化学的安定性、及び後述
する表面修飾分子の結合しやすさの点でも更に好まし
く、最も好ましいのは銀である。これら遷移金属の合金
も同様の理由で好ましく用いられる。
[Conductor Shell] The conductor which constitutes the shell in the semiconductor nanoparticles of the present invention has an electric conductivity σ of 1,000 S / c in a bulk state at a temperature of 300K.
It is a substance of m or more, and its electric conductivity value is preferably 10,000 S / cm or more, more preferably 10
It is at least 10,000 S / cm. Examples of the substance of such a conductor are represented by transition metals such as gold, platinum, silver, palladium, rhodium, zinc, copper, nickel and iron, alloys of these transition metals, graphite, carbon black and C 60. Examples thereof include carbon materials such as fullerenes and carbon nanotubes, and conductive inorganic substances such as barium titanate. Among these conductors, those preferably used in order to form a conductor shell with a uniform and controlled film thickness are copper, simple transition metals of the fifth and sixth periods of the periodic table, that is, gold, platinum, silver. , Palladium and the like, and among them, silver, copper, gold, platinum and the like are more preferable in terms of conductivity, chemical stability, and easiness of binding surface-modifying molecules to be described later, and most preferable is silver. Alloys of these transition metals are also preferably used for the same reason.

【0031】かかる導電体シェルは、半導体ナノ結晶コ
アの表面を必ずしも完全に被覆していなくてもよいが、
かかる被覆率は通常、半導体ナノ結晶コア表面の50%
以上、好ましくは70%以上、更に好ましくは90%以
上である。かかる被覆率は、前記TEM観察や表面元素
分析などの分析手法を組み合わせて決定される。この被
覆率が小さすぎると、前記光触媒能の減殺効果が不十分
となる場合がある。
The conductor shell does not necessarily completely cover the surface of the semiconductor nanocrystal core,
Such coverage is usually 50% of the surface of the semiconductor nanocrystal core.
The above is preferably 70% or more, more preferably 90% or more. The coverage is determined by combining the TEM observation and analysis techniques such as surface elemental analysis. If this coverage is too small, the effect of reducing the photocatalytic activity may be insufficient.

【0032】前記導電体シェルは、半導体ナノ結晶コア
の光触媒能を減殺する効果を発揮する限りにおいて該シ
ェルの化学組成の純度に制限はなく、例えば2種類以上
の金属の合金であってもよく、遷移金属シェルである場
合にはその表面が酸化物や硫化物等のカルコゲニド組成
を含有していてもよい。特に好適な半導体ナノ粒子とし
て、紫外線吸収能に優れた酸化チタン類(例えばルチル
型又はアナタース型チタニア)や酸化亜鉛をコアとし、
銀や金などの電気伝導率と化学的安定性に優れた遷移金
属シェルを有するものが例示される。
There is no limitation on the purity of the chemical composition of the conductor shell as long as it exerts the effect of diminishing the photocatalytic activity of the semiconductor nanocrystal core, and it may be, for example, an alloy of two or more kinds of metals. In the case of a transition metal shell, the surface thereof may contain a chalcogenide composition such as an oxide or a sulfide. As particularly suitable semiconductor nanoparticles, titanium oxides (for example, rutile-type or anatase-type titania) and zinc oxide having excellent ultraviolet absorption ability are used as cores,
Examples thereof include those having a transition metal shell such as silver and gold having excellent electrical conductivity and chemical stability.

【0033】[導電体シェルの形成方法]前記導電体の
シェルを半導体ナノ結晶コアの表面に形成させる方法に
制限はないが、代表的な導電体である金や銀等の遷移金
属のシェルは、例えば、前記従来技術で述べた化学メッ
キ法やその前処理法である金属塩水溶液中において還元
剤等を加えて金属陽イオンを還元し0価金属を生成する
反応により形成可能である。例えば、塩化金酸又はその
塩(例えば塩化金酸ナトリウム)、硝酸銀、過塩素酸
銀、塩化銅等の遷移金属イオン化合物又はその塩を、ク
エン酸又はその塩(例えばクエン酸ナトリウム)、酒石
酸やその塩(例えば酒石酸ナトリウム)、水素化ホウ素
ナトリウムや水素化ホウ素リチウム等の水素化ホウ素
塩、アセトアルデヒドやホルムアルデヒド等のアルデヒ
ド類、エタノールやメチルセロソルブ等のアルコール類
等の還元剤と接触させる還元反応により可能である。か
かる還元反応は光の照射により促進してもよい。
[Method for Forming Conductor Shell] There is no limitation on the method for forming the above-mentioned conductor shell on the surface of the semiconductor nanocrystal core, but a typical conductor shell of transition metal such as gold or silver is used. For example, it can be formed by a reaction of adding a reducing agent or the like in the metal salt aqueous solution which is the chemical plating method or the pretreatment method thereof described in the above-mentioned prior art to reduce a metal cation and generate a zero-valent metal. For example, chloroauric acid or a salt thereof (for example, sodium chloroaurate), silver nitrate, silver perchlorate, a transition metal ion compound such as copper chloride or a salt thereof, citric acid or a salt thereof (for example sodium citrate), tartaric acid or By a reduction reaction in which the salt (for example, sodium tartrate), a borohydride salt such as sodium borohydride or lithium borohydride, an aldehyde such as acetaldehyde or formaldehyde, or an alcohol such as ethanol or methylcellosolve is contacted. It is possible. Such reduction reaction may be accelerated by irradiation with light.

【0034】かかる還元反応は、水、メタノール、エタ
ノール、プロパノール、ブタノール等のプロトン性溶媒
中で好適に行われ、ここにトルエンやキシレン等の疎水
性有機溶媒が共存してもよく、これら任意の溶媒は2種
類以上を混合して用いてもよい。かかる溶媒は上記還元
剤を兼ねてもよい。これら溶媒のうち原料の溶解性の点
で好ましいのはメタノール、エタノール、n−プロパノ
ール、イソプロピルアルコール等の炭素数3以下のアル
コール類、及び水である。該還元反応を水相で行う際に
トルエンやヘキサン等の水と混和しない有機溶媒との2
相系とし、該有機溶媒に表面修飾分子を溶解させてお
き、2相の界面反応で該表面修飾分子をコアシェル型粒
子の表面に結合させながら有機相に抽出してもよい。
The reduction reaction is preferably carried out in a protic solvent such as water, methanol, ethanol, propanol or butanol, and a hydrophobic organic solvent such as toluene or xylene may coexist therewith. Two or more kinds of solvents may be mixed and used. Such a solvent may also serve as the reducing agent. Among these solvents, alcohols having 3 or less carbon atoms such as methanol, ethanol, n-propanol, and isopropyl alcohol, and water are preferable from the viewpoint of solubility of raw materials. When the reduction reaction is carried out in an aqueous phase, it is necessary to use an organic solvent such as toluene or hexane which is immiscible with water.
Alternatively, the surface modification molecule may be dissolved in the organic solvent, and the surface modification molecule may be extracted into the organic phase while being bound to the surface of the core-shell type particle by a two-phase interfacial reaction.

【0035】かかる還元反応の温度条件は、通常0〜1
00℃程度であり、反応の制御性の点で好ましくは10
〜80℃、更に好ましくは20〜60℃程度である。一
方、該反応時間は通常1分〜24時間、好ましくは5分
〜12時間、更に好ましくは10分〜6時間である。 [表面修飾分子]本発明の半導体ナノ粒子における表面
修飾分子とは、半導体ナノ結晶コアと導電体シェルとか
らなるコアシェル型粒子の表面に結合する有機分子であ
って、該コアシェル型粒子の2次凝集を防ぐ効果及び樹
脂など所望の有機物マトリクスへの分散性を付与する効
果を主に発揮するものである。かかる効果を発揮する限
りにおいて該表面修飾分子の構造に制限はないが、炭素
−炭素二重結合、炭素−炭素三重結合、カルボニル基
(エステル結合、アミド結合、カーボネート結合、ウレ
タン結合、尿素結合、ケトン基等を含む)、エーテル結
合、カルボキシル基、酸無水物基、アミノ基、水酸基、
エポキシ基及び脂肪族環からなる群から任意に選ばれる
少なくとも1つの化学構造(かかる化学構造を、以下
「マトリクス親和構造」と称する)をその分子構造中に
有するものであることが好ましい。
The temperature condition of the reduction reaction is usually 0 to 1
It is about 00 ° C., and is preferably 10 from the viewpoint of reaction controllability.
-80 degreeC, More preferably, it is about 20-60 degreeC. On the other hand, the reaction time is usually 1 minute to 24 hours, preferably 5 minutes to 12 hours, and more preferably 10 minutes to 6 hours. [Surface-modifying molecule] The surface-modifying molecule in the semiconductor nanoparticles of the present invention is an organic molecule bonded to the surface of a core-shell type particle composed of a semiconductor nanocrystal core and a conductor shell, and is a secondary molecule of the core-shell type particle. It mainly exhibits the effect of preventing aggregation and the effect of imparting dispersibility to a desired organic matrix such as a resin. There is no limitation on the structure of the surface-modifying molecule as long as it exerts such an effect, but a carbon-carbon double bond, a carbon-carbon triple bond, a carbonyl group (ester bond, amide bond, carbonate bond, urethane bond, urea bond, (Including ketone group), ether bond, carboxyl group, acid anhydride group, amino group, hydroxyl group,
It is preferable to have at least one chemical structure arbitrarily selected from the group consisting of an epoxy group and an aliphatic ring (hereinafter, such a chemical structure is referred to as “matrix affinity structure”) in its molecular structure.

【0036】ここに例示したマトリクス親和構造は、樹
脂などの有機物マトリクスとの化学反応や該有機物マト
リクスの前駆体(例えば重合性モノマー)との化学反応
(例えば共重合)、又は該有機物マトリクスとの物理化
学的親和力(例えば、配位結合やイオン結合等の比較的
強い化学結合、水素結合、疎水−疎水相互作用、π電子
相互作用、ファンデアワールス力等の比較的弱い引力相
互作用等)等の機構により上記コアシェル型粒子と樹脂
などの有機物マトリクスとの親和性を付与する。これら
例示のマトリクス親和構造のうち、化学反応性の点で好
ましいのは炭素−炭素二重結合、エステル結合、カルボ
キシル基、酸無水物基、アミノ基、水酸基及びエポキシ
基であり、中でも炭素−炭素二重結合はメチルメタクリ
レートやスチレン等の重要なラジカル重合性モノマーと
の共重合性の点で特に有用であり、エステル結合、カル
ボキシル基、水酸基及びエポキシ基は、ビスフェノール
Aポリカーボネート樹脂(PC樹脂)やポリメチルメタ
クリレート樹脂(PMMA樹脂)あるいは一部の非晶性
ポリオレフィン樹脂等のエステル基を分子構造中に含有
する透明樹脂との化学反応性(例えばエステル交換反応
や高分子末端基によるエポキシ基の開環反応等)の点で
特に有用である。
The matrix-affinity structure exemplified here is a chemical reaction with an organic matrix such as a resin, a chemical reaction with a precursor of the organic matrix (for example, a polymerizable monomer) (for example, copolymerization), or with the organic matrix. Physicochemical affinity (for example, relatively strong chemical bond such as coordination bond or ionic bond, hydrogen bond, hydrophobic-hydrophobic interaction, π electron interaction, relatively weak attractive interaction such as van der Waals force) The above mechanism imparts affinity between the core-shell type particles and an organic matrix such as a resin. Among these exemplified matrix affinity structures, carbon-carbon double bond, ester bond, carboxyl group, acid anhydride group, amino group, hydroxyl group and epoxy group are preferable from the viewpoint of chemical reactivity, and among them, carbon-carbon. The double bond is particularly useful in terms of copolymerizability with important radically polymerizable monomers such as methyl methacrylate and styrene, and the ester bond, the carboxyl group, the hydroxyl group and the epoxy group are bisphenol A polycarbonate resin (PC resin) or Chemical reactivity with transparent resins containing ester groups such as polymethylmethacrylate resin (PMMA resin) or some amorphous polyolefin resins in the molecular structure (for example, transesterification reaction and opening of epoxy groups by polymer end groups). It is particularly useful in terms of ring reaction).

【0037】前記の脂肪族環とは、非芳香族炭素原子の
連結のみから構成される炭化水素環状構造であり、単
環、ビシクロ環又はトリシクロ環等の多環等、任意数の
環単位から構成されるものである。かかる脂肪族環は、
非晶性ポリオレフィン樹脂等の疎水性の大きな透明樹脂
マトリクスへの相溶性に優れる特徴を有する。上記脂肪
族環は、疎水性の大きな透明樹脂マトリクスへの相溶性
を極端に損なわない限りにおいて、これが有する水素原
子が任意の置換基(例えば、メチル基やエチル基等のア
ルキル基、フェニル基等のアリール基、メトキシ基等の
アルコキシ基、フェノキシ基等のアリールオキシ基、水
酸基、アミノ基、カルボキシル基、エステル基、アミド
基、酸無水物基、ニトリル基、カルボニル基等)で置換
されていてもよい。上記脂肪族環が含有する炭素数は、
上記置換基を除いた環構造を構成する炭素原子のみとし
て、通常3〜10、化学的安定性から好ましくは5〜1
0、疎水性の大きな透明樹脂マトリクスへの相溶性の点
でより好ましくは5〜9、更に好ましくは5〜7であ
る。具体例としては、シクロプロパン環、シクロブタン
環、シクロペンタン環、シクロヘキサン環、シクロヘプ
タン環及びシクロオクタン環等の単環構造、アダマンタ
ン環、ノルアダマンタン環、ノルボルナン環、ノルボル
ネン環、ジシクロペンタジエン環等の多環構造等が挙げ
られ、中でも前記炭素数から好ましいものはシクロペン
タン環、シクロヘキサン環等の単環構造、ノルアダマン
タン環、ノルボルナン環等の多環構造である。
The above-mentioned aliphatic ring is a hydrocarbon cyclic structure composed only of non-aromatic carbon atoms, and is composed of an arbitrary number of ring units such as a monocyclic ring, a bicyclic ring or a polycyclic ring such as a tricyclo ring. It is composed. Such an aliphatic ring is
It has excellent compatibility with a highly hydrophobic transparent resin matrix such as an amorphous polyolefin resin. The above-mentioned aliphatic ring has a hydrogen atom which has an arbitrary substituent (for example, an alkyl group such as a methyl group or an ethyl group, a phenyl group, etc.) as long as the compatibility with a highly hydrophobic transparent resin matrix is not extremely impaired. Aryl group, alkoxy group such as methoxy group, aryloxy group such as phenoxy group, hydroxyl group, amino group, carboxyl group, ester group, amide group, acid anhydride group, nitrile group, carbonyl group, etc.) Good. The number of carbon atoms contained in the aliphatic ring is
As a carbon atom constituting the ring structure excluding the above-mentioned substituents, it is usually 3 to 10, and preferably 5 to 1 from the viewpoint of chemical stability.
0, more preferably 5 to 9 and still more preferably 5 to 7 in terms of compatibility with a highly hydrophobic transparent resin matrix. Specific examples include a monocyclic structure such as a cyclopropane ring, a cyclobutane ring, a cyclopentane ring, a cyclohexane ring, a cycloheptane ring and a cyclooctane ring, an adamantane ring, a noradamantane ring, a norbornane ring, a norbornene ring, a dicyclopentadiene ring and the like. And the like. Among them, preferred are the monocyclic structures such as cyclopentane ring and cyclohexane ring, and the polycyclic structures such as noradamantane ring and norbornane ring.

【0038】本発明において用いる表面修飾分子は、前
述したマトリクス親和構造と共に前記コアシェル型粒子
の表面に結合する化学構造(以下「粒子結合構造」と称
する)を有する。かかる粒子結合構造に制限はなくその
結合様式にも制限はないが、例えば、アミノ基、ピリジ
ン環及びニトリル基等の窒素含有官能基、メルカプト基
(又はチオール基)、メチルスルフィド基(−SC
3)、メチルジスルフィド基(−S−S−CH3)、チ
オ酸基(−COSH)、ジチオ酸基(−CSSH)、キ
サントゲン酸基、キサンテート基、イソチオシアネート
基、チオカルバメート基及びチオフェン環等の硫黄含有
官能基、カルボキシル基、スルホン酸基、ホスホン酸
基、ホスフィン酸基、ホスホン酸部分エステル基及びホ
スフィン酸部分エステル基等の酸性基、カルボン酸アミ
ド基、スルホン酸アミド基、ホスホン酸アミド基及びホ
スフィン酸アミド基等のアミド基、カルボン酸塩基、ス
ルホン酸塩基、ホスホン酸塩基及びホスフィン酸塩基等
の酸性基の塩、ホスフィン基やホスフィンオキシド基等
の3つのリン−炭素結合を有する基、並びに水酸基等が
例示される。これらのうち遷移金属シェルへの結合性の
点で好ましく利用されるのは、アミノ基、ピリジン環等
の窒素含有官能基、メルカプト基等の硫黄含有官能基、
カルボキシル基、スルホン酸基及びホスホン酸基等の酸
性基、ホスフィン基やホスフィンオキシド基等の3つの
リン−炭素結合を有する基であり、中でもメルカプト
基、アミノ基、ホスホン酸基、ホスフィン基及びホスフ
ィンオキシド基はより好ましく、メルカプト基、アミノ
基、ホスホン酸基は更に好ましく、メルカプト基は遷移
金属元素への配位力の点で最も好ましく用いられる。
The surface-modifying molecule used in the present invention has a chemical structure (hereinafter referred to as “particle-bonding structure”) that binds to the surface of the core-shell type particle together with the above-mentioned matrix-affinity structure. The particle binding structure is not limited, and the binding mode is also not limited. For example, a nitrogen-containing functional group such as an amino group, a pyridine ring and a nitrile group, a mercapto group (or a thiol group), a methylsulfide group (-SC
H 3), methyl disulfide group (-S-S-CH 3) , thio groups (-COSH), dithio group (-CSSH), xanthate, xanthate group, isothiocyanate group, thiocarbamate group, and a thiophene ring Sulfur-containing functional groups such as, carboxyl group, sulfonic acid group, phosphonic acid group, phosphinic acid group, acidic group such as phosphonic acid partial ester group and phosphinic acid partial ester group, carboxylic acid amide group, sulfonic acid amide group, phosphonic acid Amido group such as amide group and phosphinic acid amide group, salt of acidic group such as carboxylate group, sulfonate group, phosphonate group and phosphinate group, and three phosphorus-carbon bonds such as phosphine group and phosphine oxide group Examples thereof include a group and a hydroxyl group. Among these, preferably used in terms of binding to the transition metal shell, amino group, nitrogen-containing functional group such as pyridine ring, sulfur-containing functional group such as mercapto group,
An acid group such as a carboxyl group, a sulfonic acid group and a phosphonic acid group, and a group having three phosphorus-carbon bonds such as a phosphine group and a phosphine oxide group, and among them, a mercapto group, an amino group, a phosphonic acid group, a phosphine group and a phosphine The oxide group is more preferable, the mercapto group, the amino group and the phosphonic acid group are further preferable, and the mercapto group is most preferably used from the viewpoint of the coordination power to the transition metal element.

【0039】具体的な表面修飾分子を以下例示する。 (1)メルカプト基を粒子結合構造として有する化合物
・・・1−メルカプトブタン、1−メルカプトオクタ
ン、1−メルカプトドデカン及びメルカプトシクロヘキ
サン等のアルカンチオール類、チオフェノール、4−ヒ
ドロキシチオフェノール等のアリールチオール類、メル
カプト酢酸、3−メルカプトプロパン酸及び11−メル
カプトウンデカン酸等のメルカプト脂肪酸類、2−メル
カプトエタノールや6−メルカプト−1−ヘキサノール
等のメルカプトアルコール類、1−アミノ−2−メルカ
プトエタン等のアミノ基とメルカプト基とを有する化合
物、システイン等のアミノ基、カルボキシル基及びメル
カプト基を有する化合物、3−メルカプトプロパン酸グ
リシジルエステルや11−メルカプトウンデカン酸グリ
シジルエステル等のメルカプト脂肪酸類のグリシジルエ
ステル類のようなエポキシ基とメルカプト基とを有する
化合物、3−メルカプトプロパン酸ビニルエステルや1
1−メルカプトウンデカン酸ビニルエステル等のメルカ
プト脂肪酸類のビニルエステル類、3−メルカプトプロ
パン酸アリルエステルや11−メルカプトウンデカン酸
アリルエステル等のメルカプト脂肪酸類のアリルエステ
ル類、3−メルカプトプロパン酸トリエチレングリコー
ルモノメチルエーテルエステル、11−メルカプトウン
デカン酸トリエチレングリコールモノメチルエーテルエ
ステル及び11−メルカプトウンデカン酸トリエチレン
グリコールエステル等のメルカプト脂肪酸類のポリアル
キレングリコールエステル類、あるいは4−(メルカプ
トメチル)ビニルベンゼンや2−メルカプトエチルメタ
クリレート等の炭素−炭素二重結合とメルカプト基とを
有する化合物等。なお、1H,1H,2H,2H−パー
フルオロオクチル−1−チオール、1H,1H,2H,
2H−パーフルオロデシル−1−チオール、1H,1
H,2H,2H−パーフルオロドデシル−1−チオール
等の1H,1H,2H,2H−パーフルオロアルキル−
1−チオール類、1H,1H,2H,2H−パーフルオ
ロデカノールの3−メルカプトプロパン酸エステル、1
H,1H,2H,2H−パーフルオロブタノールの11
−メルカプトウンデカン酸エステル、1H,1H,2
H,2H−パーフルオロドデカノールの11−メルカプ
トウンデカン酸エステル等のメルカプト脂肪酸類の1
H,1H,2H,2H−パーフルオロアルキル−1−オ
ールエステル類などのフッ化アルキル基とメルカプト基
とを有する化合物はポリ(パーフルオロエチレン)(商
標名テフロン)などのフッ素原子含有高分子への相溶性
を付与する場合に好適に用いられる。 (2)アミノ基を粒子結合構造として有する化合物・・
・1−アミノヘキサン、1−アミノドデカン、1−アミ
ノヘキサデカン等のω−アミノアルカン類、シクロヘキ
シルアミン、ラロミン、イソホロンジアミン等の脂肪族
環を有するアミノアルカン類、2−アミノエタノール、
ジエタノールアミン及びトリス(ヒドロキシメチル)ア
ミノメタン等の水酸基とアミノ基とを有する化合物、4
−ビニルアニリン、2−アミノエチルメタクリレート、
1,6−ジアミノヘキサンのモノマレイミド等の炭素−
炭素二重結合とアミノ基とを有する化合物、6−アミノ
ヘキサン酸、12−アミノドデカン酸、α−アミノ酸
(例えばアルギニンやリシン)等のカルボキシル基とア
ミノ基とを有する化合物、6−アミノヘキサン酸グリシ
ジルエステル、12−アミノドデカン酸グリシジルエス
テル等のエポキシ基とアミノ基とを有する化合物等。 (3)ホスホン酸基を粒子結合構造として有する化合物
・・・n−ブチルホスホン酸、n−ヘキシルホスホン
酸、ドデシルホスホン酸、ヘキサデシルホスホン酸等の
鎖状アルキルホスホン酸類、シクロヘキシルホスホン
酸、シクロヘキシルメチルホスホン酸等の脂肪族環を有
するアルキルホスホン酸類、p−ブチルフェニルホスホ
ン酸、p−ヘキシルフェニルホスホン酸、p−ドデシル
フェニルホスホン酸等の鎖状アルキル基を有するフェニ
ルホスホン酸類、p−シクロヘキシルフェニルホスホン
酸等の脂肪族環を有するフェニルホスホン酸類、ヒドロ
キシメチルホスホン酸や1−ヒドロキシエチルホスホン
酸等の水酸基を有するアルキルホスホン酸類、(4−ビ
ニルフェノキシ)メチルホスホン酸、ホスホノメチルア
クリレート、ホスホノメチルメタクリレート等の炭素−
炭素二重結合を有するアルキルホスホン酸類、グリシジ
ルオキシメチルホスホン酸や1−(グリシジルオキシ)
エチルホスホン酸等のエポキシ基を有するアルキルホス
ホン酸類等。
Specific examples of the surface modifying molecule are shown below. (1) Compound having a mercapto group as a particle-bonding structure ... Alkanethiols such as 1-mercaptobutane, 1-mercaptooctane, 1-mercaptododecane and mercaptocyclohexane, arylthiols such as thiophenol and 4-hydroxythiophenol Mercapto fatty acids such as mercaptoacetic acid, 3-mercaptopropanoic acid and 11-mercaptoundecanoic acid, mercaptoalcohols such as 2-mercaptoethanol and 6-mercapto-1-hexanol, and 1-amino-2-mercaptoethane Compounds having an amino group and a mercapto group, compounds having an amino group such as cysteine, a carboxyl group and a mercapto group, 3-mercaptopropanoic acid glycidyl ester and 11-mercaptoundecanoic acid glycidyl ester Compounds having an epoxy group and a mercapto group, such as glycidyl esters of mercapto fatty acids, 3-mercapto propanoic acid vinyl ester and 1
Vinyl esters of mercapto fatty acids such as 1-mercaptoundecanoic acid vinyl ester, allyl esters of mercapto fatty acids such as 3-mercaptopropanoic acid allyl ester and 11-mercaptoundecanoic acid allyl ester, 3-mercaptopropanoic acid triethylene glycol Polyalkylene glycol esters of mercapto fatty acids such as monomethyl ether ester, 11-mercaptoundecanoic acid triethylene glycol monomethyl ether ester and 11-mercaptoundecanoic acid triethylene glycol ester, or 4- (mercaptomethyl) vinylbenzene or 2-mercapto Compounds having a carbon-carbon double bond such as ethyl methacrylate and a mercapto group. 1H, 1H, 2H, 2H-perfluorooctyl-1-thiol, 1H, 1H, 2H,
2H-perfluorodecyl-1-thiol, 1H, 1
1H, 1H, 2H, 2H-perfluoroalkyl- such as H, 2H, 2H-perfluorododecyl-1-thiol
1-thiols, 1H, 1H, 2H, 2H-perfluorodecanol 3-mercaptopropanoic acid ester, 1
11 of H, 1H, 2H, 2H-perfluorobutanol
-Mercaptoundecanoic acid ester, 1H, 1H, 2
1 of mercapto fatty acids such as 11-mercaptoundecanoic acid ester of H, 2H-perfluorododecanol
A compound having a fluorinated alkyl group such as H, 1H, 2H, 2H-perfluoroalkyl-1-ol esters and a mercapto group can be converted into a fluorine atom-containing polymer such as poly (perfluoroethylene) (trade name Teflon). It is preferably used when imparting the compatibility of. (2) A compound having an amino group as a particle-bonding structure ...
Ω-aminoalkanes such as 1-aminohexane, 1-aminododecane and 1-aminohexadecane, aminoalkanes having an aliphatic ring such as cyclohexylamine, laromine and isophoronediamine, 2-aminoethanol,
Compounds having a hydroxyl group and an amino group such as diethanolamine and tris (hydroxymethyl) aminomethane, 4
-Vinylaniline, 2-aminoethylmethacrylate,
Carbon such as monomaleimide of 1,6-diaminohexane
Compounds having a carbon double bond and an amino group, 6-aminohexanoic acid, 12-aminododecanoic acid, compounds having a carboxyl group such as α-amino acid (eg, arginine and lysine) and an amino group, 6-aminohexanoic acid Compounds having an epoxy group and an amino group, such as glycidyl ester and 12-aminododecanoic acid glycidyl ester. (3) Compounds having a phosphonic acid group as a particle-bonding structure: n-butylphosphonic acid, n-hexylphosphonic acid, dodecylphosphonic acid, hexadecylphosphonic acid and other chain alkylphosphonic acids, cyclohexylphosphonic acid, cyclohexylmethylphosphonic acid Alkylphosphonic acids having aliphatic rings such as acids, p-butylphenylphosphonic acid, p-hexylphenylphosphonic acid, phenylphosphonic acids having chain alkyl groups such as p-dodecylphenylphosphonic acid, p-cyclohexylphenylphosphonic acid Such as phenylphosphonic acids having an aliphatic ring, hydroxymethylphosphonic acids, alkylphosphonic acids having a hydroxyl group such as 1-hydroxyethylphosphonic acid, (4-vinylphenoxy) methylphosphonic acid, phosphonomethylacrylate, phosphono Carbon atoms, such as chill methacrylate -
Alkylphosphonic acids having a carbon double bond, glycidyloxymethylphosphonic acid and 1- (glycidyloxy)
Alkylphosphonic acids having an epoxy group such as ethylphosphonic acid.

【0040】[樹脂組成物]本発明の樹脂組成物は、後
述するマトリクス樹脂に本発明の半導体ナノ粒子が分散
したもので、該半導体ナノ粒子を灰分量として0.01
〜80重量%含有するものである。樹脂組成物中におけ
る半導体ナノ粒子の分散状態に制限はないが、好ましく
は樹脂組成物の透明性として、50μmの光路長におけ
る光線透過率が450〜650nmの入射光波長範囲に
おいて70%以上である。
[Resin Composition] The resin composition of the present invention is a matrix resin described below in which the semiconductor nanoparticles of the present invention are dispersed, and the semiconductor nanoparticles are 0.01 in terms of ash content.
-80% by weight. There is no limitation on the dispersion state of the semiconductor nanoparticles in the resin composition, but preferably, as the transparency of the resin composition, the light transmittance at an optical path length of 50 μm is 70% or more in the incident light wavelength range of 450 to 650 nm. .

【0041】上記灰分量が少なすぎると、樹脂組成物に
おける半導体の性質(例えば、吸発光特性、高屈折率
性、非吸水性、非ガス透過性、耐加水分解性、耐熱分解
性、耐熱変形性、難燃性、表面硬度、高弾性率等)がほ
とんど反映されない場合があるので、該灰分量の下限値
は好ましくは0.1重量%、更に好ましくは1重量%で
ある。一方、上記灰分量が多すぎると、樹脂組成物の機
械的物性(特に耐衝撃性等の靱性)が極端に低下する場
合があるので、該灰分量の上限値は好ましくは70重量
%、更に好ましくは60重量%である。上記灰分量は、
与えられた樹脂組成物を大気圧下窒素雰囲気中で600
℃に加熱して得る残渣から算出される。
If the ash content is too small, the properties of the semiconductor in the resin composition (for example, light absorption and emission characteristics, high refractive index, non-water absorption, non-gas permeability, hydrolysis resistance, heat decomposition resistance, heat deformation). Properties, flame retardancy, surface hardness, high elastic modulus, etc.) are hardly reflected, so the lower limit of the ash content is preferably 0.1% by weight, more preferably 1% by weight. On the other hand, if the ash content is too large, the mechanical properties of the resin composition (particularly the toughness such as impact resistance) may be extremely deteriorated, so the upper limit of the ash content is preferably 70% by weight, It is preferably 60% by weight. The above ash content is
600 given resin composition in a nitrogen atmosphere at atmospheric pressure
Calculated from the residue obtained by heating to ℃.

【0042】上記光線透過率が小さすぎると、光学部材
やフィルム等の透明性が要求される用途に不都合が生じ
る場合があるのでこの値は大きいほど望ましく、好まし
くは80%以上、更に好ましくは85%以上である。上
記樹脂組成物に用いられるマトリクス樹脂とは、前記の
半導体ナノ粒子を分散する連続相をなす高分子材料であ
る。その種類に制限はないが、透明性を必要とする用途
においては非晶性樹脂が好ましく用いられる。本発明に
おける非晶性樹脂とは、3mmの光路長におけるナトリ
ウムD線の光線透過率が80%以上の樹脂材料であり、
単一組成又は複数種高分子の混合物(いわゆるポリマー
アロイ)のいずれでもよい。
If the light transmittance is too small, it may cause inconvenience in applications requiring transparency such as optical members and films. Therefore, a larger value is desirable, preferably 80% or more, and more preferably 85. % Or more. The matrix resin used in the resin composition is a polymer material that forms a continuous phase in which the semiconductor nanoparticles are dispersed. The type is not limited, but an amorphous resin is preferably used in applications requiring transparency. The amorphous resin in the present invention is a resin material having a light transmittance of 80% or more of sodium D rays in an optical path length of 3 mm,
It may be a single composition or a mixture of plural kinds of polymers (so-called polymer alloy).

【0043】かかる非晶性樹脂の具体例は、熱可塑性樹
脂としては、アクリル酸エステル類又はメタクリル酸エ
ステル類を単量体主成分とするアクリル系樹脂(例えば
ポリメチルメタクリレート又は略称PMMA)、ビスフ
ェノールAに代表されるビスフェノール類と炭酸誘導体
(例えばホスゲンやジフェニルカーボネート等)とを単
量体主成分とする芳香族ポリカーボネート樹脂(略称P
C)、スチレンを単量体主成分とするスチレン系樹脂
(例えばポリスチレン又は略称PS)、脂肪族環を有す
るビニル化合物を単量体主成分とする非晶性ポリオレフ
ィン樹脂(例えばアートン、アペル、ゼオネックスなど
の商標名で当業者に知られているもの)等が挙げられ
る。架橋性樹脂としては、熱重合開始剤を使用して硬化
させる熱硬化性樹脂及び光重合開始剤を使用して硬化さ
せる光硬化性樹脂が例示され、かかる架橋性樹脂の化学
組成としては、アクリル酸エステル類やメタクリル酸エ
ステル類等のアクリル酸誘導体を単量体主成分とするア
クリル系硬化樹脂や、エポキシ基の開環重合によるエポ
キシ系硬化樹脂等が挙げられる。これらのうち耐熱変形
性の点で好ましいのは、芳香族ポリカーボネート樹脂、
非晶性ポリオレフィン樹脂及び上記架橋性樹脂であり、
吸水寸法変化が小さい点で更に好ましいのは非晶性ポリ
オレフィン樹脂である。光線透過率の点で好ましいのは
PMMA樹脂であるが、ガラス転位点が100℃程度で
あるので、より立体障害の大きなエステル基を有する単
量体を共重合して耐熱変形性を改良したアクリル系樹脂
も使用可能である。
Specific examples of such an amorphous resin include, as the thermoplastic resin, an acrylic resin containing acrylic acid ester or methacrylic acid ester as a main monomer component (for example, polymethylmethacrylate or abbreviated PMMA), bisphenol. Aromatic polycarbonate resin containing bisphenols represented by A and a carbonic acid derivative (for example, phosgene, diphenyl carbonate, etc.) as monomer main components (abbreviated as P
C), a styrene-based resin containing styrene as a monomer main component (for example, polystyrene or abbreviated as PS), and an amorphous polyolefin resin containing a vinyl compound having an aliphatic ring as a monomer main component (for example, Arton, Apel, Zeonex). (Trademarks known to those skilled in the art) and the like. Examples of the crosslinkable resin include a thermosetting resin that is cured using a thermal polymerization initiator and a photocurable resin that is cured using a photopolymerization initiator.The chemical composition of the crosslinkable resin is acrylic. Examples thereof include acrylic curable resins containing acrylic acid derivatives such as acid esters and methacrylic acid esters as a monomer main component, and epoxy curable resins obtained by ring-opening polymerization of epoxy groups. Among these, aromatic polycarbonate resin is preferable in terms of heat distortion resistance,
An amorphous polyolefin resin and the above crosslinkable resin,
Amorphous polyolefin resins are more preferable in that the dimensional change in water absorption is small. PMMA resin is preferable from the viewpoint of light transmittance, but since the glass transition point is about 100 ° C., acrylic having improved heat distortion resistance by copolymerizing a monomer having an ester group with greater steric hindrance. A system resin can also be used.

【0044】本発明の樹脂組成物には、本発明の目的を
著しく逸脱しない限りにおいて、任意の添加剤、例えば
熱安定剤、酸化防止剤、光吸収剤、色素や顔料等の色
剤、可塑剤、離型剤、難燃剤、帯電防止剤、反応開始剤
等、あるいは任意のフィラー、例えば、ガラス繊維、ガ
ラスフレーク、ガラス粉、中空ガラス球、多孔性シリ
カ、ナノポアを有するシリカ、タルク、モンモリロナイ
トに代表される粘土鉱物、金属粉、金属繊維、金属ウイ
スカー、セラミクス粉、セラミクスウイスカー、炭素繊
維、カーボンブラック、黒鉛、カーボンナノチューブ等
を混合してもよい。
The resin composition of the present invention may contain any additives such as heat stabilizers, antioxidants, light absorbers, coloring agents such as dyes and pigments, and plasticizers, as long as they do not significantly deviate from the object of the present invention. Agents, mold release agents, flame retardants, antistatic agents, reaction initiators, etc., or arbitrary fillers such as glass fibers, glass flakes, glass powder, hollow glass spheres, porous silica, silica having nanopores, talc, montmorillonite Clay minerals represented by, metal powders, metal fibers, metal whiskers, ceramic powders, ceramic whiskers, carbon fibers, carbon black, graphite, carbon nanotubes and the like may be mixed.

【0045】[樹脂組成物の製造方法]本発明の樹脂組
成物の製造方法に制限はないが、例えば、前記半導体ナ
ノ粒子とマトリクス樹脂とを溶融混合又は溶液混合する
方法、前記半導体ナノ粒子をマトリクス樹脂を形成する
重合性単量体とまず混合し次いで該単量体を重合する方
法(以下「内添重合法」という)等が例示される。
[Production Method of Resin Composition] Although the production method of the resin composition of the present invention is not limited, for example, a method of melt mixing or solution mixing the semiconductor nanoparticles and the matrix resin, Examples thereof include a method of first mixing with a polymerizable monomer forming a matrix resin and then polymerizing the monomer (hereinafter referred to as “internal addition polymerization method”).

【0046】上記溶融混合には公知の溶融混合装置、例
えば単軸押出機、2軸押出機、ブラベンダー、ロールな
どが使用可能である。かかる溶融混合は、マスターバッ
チを予め作製して行ってもよい。上記溶液混合は、使用
するマトリクス樹脂の溶液中で半導体ナノ粒子を分散
(好ましくは溶解)し、次いで溶媒を除去して行う。こ
の時使用する溶媒はマトリクス樹脂と半導体ナノ粒子の
共通溶媒であることが望ましい。前記の代表的な非晶性
樹脂を使用する場合、例えばテトラヒドロフラン(略称
THF)等のエーテル系溶媒、塩化メチレンやクロロホ
ルム等のハロゲン系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミ
ドやN−メチルピロリドン等のアミド系溶媒、トルエ
ン、キシレン、クロロベンゼンあるいはクロロナフタレ
ン等の芳香族溶媒等が好適に使用される。上記溶媒の除
去は、例えば蒸留や蒸発など溶媒の気化による方法、マ
トリクス樹脂を溶解しない溶媒中への溶液の投入による
再沈殿法等により行われる。
For the melt mixing, a known melt mixing apparatus such as a single screw extruder, a twin screw extruder, a Brabender, a roll can be used. Such melt mixing may be performed by preparing a master batch in advance. The solution mixing is performed by dispersing (preferably dissolving) the semiconductor nanoparticles in a solution of the matrix resin used, and then removing the solvent. The solvent used at this time is preferably a common solvent for the matrix resin and the semiconductor nanoparticles. When the representative amorphous resin is used, for example, an ether solvent such as tetrahydrofuran (abbreviated as THF), a halogen solvent such as methylene chloride or chloroform, an amide such as N, N-dimethylformamide or N-methylpyrrolidone. A system solvent, an aromatic solvent such as toluene, xylene, chlorobenzene, or chloronaphthalene is preferably used. The solvent is removed by, for example, a method such as distillation or evaporation by vaporizing the solvent, a reprecipitation method by adding the solution into a solvent that does not dissolve the matrix resin, or the like.

【0047】上記内添重合法は、任意の重合形式(例え
ば、ラジカル重合、アニオン重合、カチオン重合、配位
重合、開環重合、縮重合等)により実施してよく、使用
する半導体ナノ粒子の溶解性や分散性を極端に悪化させ
ない限りにおいて用いられる重合性単量体にも特に制限
はない。また、必要に応じて非重合性の溶媒を添加して
該重合を実施してもよい。かかる内添重合法に好適な重
合性単量体としては、例えばメチルメタクリレートやス
チレン等のラジカル重合により直鎖状高分子を与えるも
の、ビスフェノールAと炭酸誘導体(例えばホスゲンや
ジフェニルカーボネート等)の組み合わせのように界面
重合法(例えば塩化メチレン/水系)や溶融重合法によ
り芳香族ポリカーボネート樹脂を与えるもの、架橋性単
量体として下記一般式(1)で表される脂環骨格を有す
るビス(メタ)アクリレート類や下記一般式(2)で表
される硫黄原子を有する(メタ)アクリレート類等が例
示される。上記のラジカル重合を行う場合、通常、ラジ
カル開始剤として熱ラジカル開始剤及び/又は光ラジカ
ル開始剤を使用する。
The internal polymerization method may be carried out by any polymerization method (eg, radical polymerization, anionic polymerization, cationic polymerization, coordination polymerization, ring-opening polymerization, condensation polymerization, etc.). The polymerizable monomer used is not particularly limited as long as the solubility and dispersibility are not extremely deteriorated. If necessary, a non-polymerizable solvent may be added to carry out the polymerization. As the polymerizable monomer suitable for the internal addition polymerization method, for example, a linear polymer such as methyl methacrylate or styrene that gives a linear polymer, or a combination of bisphenol A and a carbonic acid derivative (for example, phosgene or diphenyl carbonate) is used. As described above, which gives an aromatic polycarbonate resin by an interfacial polymerization method (for example, methylene chloride / water system) or a melt polymerization method, and a bis (meth) having an alicyclic skeleton represented by the following general formula (1) as a crosslinkable monomer. ) Acrylates and (meth) acrylates having a sulfur atom represented by the following general formula (2) are exemplified. When performing the above radical polymerization, a thermal radical initiator and / or a photo radical initiator is usually used as a radical initiator.

【0048】[0048]

【化1】 [Chemical 1]

【0049】但し一般式(1)において、RaおよびRb
はそれぞれ独立して水素原子またはメチル基を,Rc
よびRdはそれぞれ独立して炭素数6以下のアルキレン
基を,xは1または2を,yは0または1を、ぞれぞれ
表す。
However, in the general formula (1), R a and R b
Each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, R c and R d each independently represent an alkylene group having 6 or less carbon atoms, x represents 1 or 2, and y represents 0 or 1. .

【0050】[0050]

【化2】 [Chemical 2]

【0051】但し一般式(2)において、RaおよびRb
は前記一般式(1)の場合と同一であり、Reは炭素数
1〜6のアルキレン基を、Arは炭素数がいずれも6〜
30であるアリーレン基又はアラルキレン基あるいはフ
ッ素をのぞくハロゲン原子で水素原子が置換されたこれ
らの基を、Xは酸素原子又は硫黄原子をそれぞれ表し、
Yについては、Xが酸素原子の場合は硫黄原子又はスル
ホニル基(−SO2−)を、Xが硫黄原子の場合は硫黄
原子、スルホニル基、カルボニル基(−CO−)、炭素
数がいずれも1〜12であるアルキレン基、アラルキレ
ン基、アルキレンエーテル基、アラルキレンエーテル
基、アルキレンチオエーテル基、アラルキレンチオエー
テル基のいずれかをそれぞれ表し、j及びpはそれぞれ
独立して1〜5の整数を、kは0〜10の整数をそれぞ
れ表す。また,kが0の時はXは硫黄原子を表す。
However, in the general formula (2), R a and R b
Is the same as in the case of the general formula (1), R e is an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms, and Ar is 6 to 6 carbon atoms.
An arylene group or an aralkylene group which is 30, or a group in which a hydrogen atom is replaced with a halogen atom except fluorine, X represents an oxygen atom or a sulfur atom,
Regarding Y, when X is an oxygen atom, a sulfur atom or a sulfonyl group (—SO 2 —) is used, and when X is a sulfur atom, a sulfur atom, a sulfonyl group, a carbonyl group (—CO—), or a carbon number is 1 to 12 represents an alkylene group, an aralkylene group, an alkylene ether group, an aralkylene ether group, an alkylene thioether group, or an aralkylene thioether group, and j and p each independently represent an integer of 1 to 5, k represents an integer of 0 to 10, respectively. When k is 0, X represents a sulfur atom.

【0052】[薄膜状成形体]本発明の樹脂組成物から
なり膜厚が0.05〜3000μmである薄膜状成形体
は、例えば、耐光性に優れた光学パネルあるいは紫外線
等の光線吸収コーティング層として有用である。該膜厚
の下限値は、機械的強度や光線吸収能の点で好ましくは
0.1μm、更に好ましくは0.5μmである。一方、
該膜厚の上限値は、薄膜の成形加工性や費用対効果バラ
ンスの点で好ましく2000μm、更に好ましくは10
00μmである。
[Thin Film Molded Product] The thin film molded product comprising the resin composition of the present invention and having a film thickness of 0.05 to 3000 μm is, for example, an optical panel excellent in light resistance or a light absorbing coating layer for ultraviolet rays and the like. Is useful as The lower limit of the film thickness is preferably 0.1 μm, more preferably 0.5 μm in terms of mechanical strength and light absorption ability. on the other hand,
The upper limit of the film thickness is preferably 2000 μm, more preferably 10 μm, in view of moldability and cost-effectiveness balance of the thin film.
It is 00 μm.

【0053】かかる薄膜状成形体は通常フィルムや薄い
板状(即ちシート状)の形状で、用途に応じて紙パル
プ、木材、樹脂、有機物結晶、ダイヤモンド、ガラス、
セラミクス、無機物結晶、金属、半導体等の任意の固体
素材基板上に密着して成形されたものである。本発明の
薄膜状成形体は必ずしも平面状でなくてもよく、例えば
球面状、非球面曲面状、円柱状、円錐状、あるいはペッ
トボトル等のボトル状等の任意の形状の基板上に成形さ
れていても構わない。また、紙パルプ、木材、あるいは
樹脂等の可撓性基板による薄膜状成形体は、成形作業の
前あるいは後に折り曲げ、延伸、圧縮等により物理的な
変形を受けていてもよい。
Such a thin-film molded product is usually in the form of a film or a thin plate (that is, a sheet), and depending on the application, paper pulp, wood, resin, organic crystals, diamond, glass,
It is molded in close contact with any solid material substrate such as ceramics, inorganic crystals, metals, and semiconductors. The thin film shaped product of the present invention does not necessarily have to be flat, and is formed on a substrate of any shape such as a spherical shape, an aspherical curved surface shape, a cylindrical shape, a conical shape, or a bottle shape such as a PET bottle. It doesn't matter. Further, the thin-film molded body made of a flexible substrate such as paper pulp, wood, or resin may be physically deformed by bending, stretching, compressing or the like before or after the molding operation.

【0054】かかる薄膜状成形体には、必要に応じて該
塗布面を被覆する層、例えば摩擦や摩耗による塗布面の
機械的損傷を防止する保護層、半導体結晶粒子や基材等
の劣化原因となる望ましくない波長の光線を吸収する光
線吸収層、水分や酸素ガス等の反応性低分子の透過を抑
制あるいは防止する透過遮蔽層、防眩層、反射防止層、
低屈折率層等や、基材と塗布面との接着性を改善する下
引き層、電極層等、任意の付加機能層を設けて多層構造
としても構わない。
If necessary, the thin film-shaped molded product may have a layer for coating the coating surface, for example, a protective layer for preventing mechanical damage to the coating surface due to friction or abrasion, a cause of deterioration of semiconductor crystal particles, a base material or the like. A light absorbing layer that absorbs light having an undesired wavelength, a transmission blocking layer that suppresses or prevents the transmission of reactive low molecules such as water and oxygen gas, an antiglare layer, an antireflection layer,
A multilayer structure may be provided by providing an optional additional functional layer such as a low refractive index layer or the like, an undercoat layer for improving the adhesiveness between the base material and the coated surface, an electrode layer or the like.

【0055】[0055]

【実施例】以下、実施例により本発明の具体的態様を更
に詳細に説明するが、本発明はその要旨を越えない限
り、これらの実施例によって限定されるものではない。 [測定装置] (1)透過型電子顕微鏡(TEM):日立製作所(株)
製、H−9000UHR型透過電子顕微鏡(加速電圧3
00kV、観察時の真空度約7.6×10-9Tor
r)。 (2)吸収スペクトル:ヒューレットパッカード社製H
P8453型紫外・可視吸光光度計。
EXAMPLES Specific examples of the present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples as long as the gist thereof is not exceeded. [Measuring device] (1) Transmission electron microscope (TEM): Hitachi, Ltd.
H-9000UHR transmission electron microscope (accelerating voltage 3
00kV, vacuum degree during observation: 7.6 × 10 -9 Tor
r). (2) Absorption spectrum: Hewlett Packard H
P8453 UV / Visible absorptiometer.

【0056】[半導体ナノ結晶の合成例] 合成例1:酸化亜鉛ナノ結晶 市販の硝酸亜鉛水和物(1当量)をエタノール中に分散
し、乾燥窒素雰囲気下で撹拌しながら大気圧において加
熱還流を3時間行った。次いで、大気圧において溶媒の
一部を蒸留除去して得た濃縮液を乾燥窒素雰囲気下0〜
−5℃程度に冷却した。ここに水酸化リチウム1水和物
(1当量)を加え、氷水を入れた超音波洗浄機中で緩や
かに振り混ぜながら超音波照射してほとんどの水酸化リ
チウム1水和物を溶解し、更に30分間氷浴中で攪拌を
継続して水酸化リチウム1水和物を完全に溶解したとこ
ろ、透明感のあるエタノールゾルを得た。このエタノー
ルゾルをエタノールで希釈し吸収スペクトルを測定した
ところ、320nm付近にピークを持つZnO結晶の吸
収スペクトルを与えた。吸収ピークの波長から、得られ
たZnOナノ結晶の数平均粒径は約3.5nmと推定さ
れた。
[Synthesis Example of Semiconductor Nanocrystals] Synthesis Example 1: Zinc oxide nanocrystals Commercially available zinc nitrate hydrate (1 equivalent) is dispersed in ethanol, and heated under reflux at atmospheric pressure with stirring under a dry nitrogen atmosphere. Was carried out for 3 hours. Then, the concentrated liquid obtained by distilling off a part of the solvent at atmospheric pressure is dried under a nitrogen atmosphere to
It was cooled to about -5 ° C. Lithium hydroxide monohydrate (1 equivalent) was added to this, and most of the lithium hydroxide monohydrate was dissolved by irradiating with ultrasonic waves while gently shaking in an ultrasonic cleaner containing ice water, and further. When stirring was continued in an ice bath for 30 minutes to completely dissolve lithium hydroxide monohydrate, a transparent ethanol sol was obtained. When this ethanol sol was diluted with ethanol and the absorption spectrum was measured, the absorption spectrum of a ZnO crystal having a peak near 320 nm was given. From the wavelength of the absorption peak, the number average particle size of the obtained ZnO nanocrystals was estimated to be about 3.5 nm.

【0057】合成例2:酸化チタンナノ結晶 前記の伊藤征司郎ら著の文献記載の方法を参考として行
った。以下、手順を説明する。0.1モル/Lの濃度の
塩化チタニル水溶液を攪拌しながら、同容量の1.5モ
ル/Lの濃度の炭酸ナトリウム水溶液を室温で25分か
けて滴下した。こうして得た白色の超微粒子の懸濁液
を、遠心分離(4000rpm)、上澄み液のデカンテ
ーションによる除去及び水洗の3工程をこの順に繰り返
す操作により精製した。但し、該精製は、上澄み液に水
酸化バリウム水溶液を加えても硫酸バリウムの白色の濁
りが目視観察されなくなるまで行った。こうして得た白
色沈殿を0.3モル/Lの濃度の希塩酸中に攪拌分散し
ながら60℃で約1時間加熱して透明感のある酸性ヒド
ロゾルを得た。
Synthetic Example 2: Titanium Oxide Nanocrystal The method described in the literature by Seishiro Ito et al. Was used as a reference. The procedure will be described below. While stirring an aqueous solution of titanyl chloride having a concentration of 0.1 mol / L, the same volume of an aqueous solution of sodium carbonate having a concentration of 1.5 mol / L was added dropwise at room temperature over 25 minutes. The thus-obtained suspension of white ultrafine particles was purified by an operation in which three steps of centrifugation (4000 rpm), removal of the supernatant by decantation, and washing with water were repeated in this order. However, the purification was carried out until the white turbidity of barium sulfate was not visually observed even if an aqueous barium hydroxide solution was added to the supernatant. The white precipitate thus obtained was stirred and dispersed in dilute hydrochloric acid having a concentration of 0.3 mol / L and heated at 60 ° C. for about 1 hour to obtain a transparent acidic hydrosol.

【0058】この酸性ヒドロゾルに氷冷し、ドデシルベ
ンゼンスルホン酸ナトリウム(略称DBS)の水溶液
(0.05モル/L濃度)を加えたところ白色沈殿を生
じたので、これをトルエンで抽出し濃縮した。この濃縮
残渣のTEM観察より、上記酸化チタンヒドロゾルに含
有されている酸化チタンナノ結晶は数平均粒径が5nm
であることがわかった。
This acidic hydrosol was ice-cooled, and an aqueous solution of sodium dodecylbenzenesulfonate (abbreviated as DBS) (concentration of 0.05 mol / L) was added. As a white precipitate was formed, this was extracted with toluene and concentrated. . The TEM observation of this concentrated residue revealed that the titanium oxide nanocrystals contained in the titanium oxide hydrosol had a number average particle size of 5 nm.
I found out.

【0059】上記酸性ヒドロゾルをエタノールで希釈
し、次いで陰イオン交換樹脂と接触させて塩化物イオン
を除去精製して酸化チタンヒドロゾルを得る。 [表面修飾分子の合成] 合成例3:ω−メルカプトヘキシルメタクリレート Aldrich社から供給された6−メルカプト−1−
ヘキサノールにメタクリル酸を加え、触媒量の2,6−
ジ−t−ブチル−4−メチルフェノールをラジカル禁止
剤として加え、更に触媒量の濃硫酸を加えて減圧加熱す
ることにより脱水エステル化を促進して、目的物である
6’−メルカプト−n−ヘキシルメタクリレート(以下
MHMと略記する)を生成させる。MHMの精製は、シ
リカゲルカラムクロマトグラフィにより行い、エステル
基の存在が赤外吸収スペクトルにより確認される。
The above acidic hydrosol is diluted with ethanol and then contacted with an anion exchange resin to remove and purify chloride ions to obtain a titanium oxide hydrosol. [Synthesis of Surface Modification Molecule] Synthesis Example 3: 6-mercapto-1-supplied from ω-mercaptohexyl methacrylate Aldrich.
Methacrylic acid was added to hexanol to give a catalytic amount of 2,6-
Di-t-butyl-4-methylphenol was added as a radical inhibitor, and further a catalytic amount of concentrated sulfuric acid was added to the mixture to accelerate dehydration esterification by heating under reduced pressure, and 6'-mercapto-n- which was the target product. Hexyl methacrylate (hereinafter abbreviated as MHM) is generated. Purification of MHM is performed by silica gel column chromatography, and the presence of ester groups is confirmed by infrared absorption spectrum.

【0060】[金属シェルを有する半導体ナノ粒子の合
成] 実施例1:銀シェルを有する酸化亜鉛ナノ粒子 合成例1の酸化亜鉛ナノ結晶を含むエタノールゾルに硝
酸銀のエタノール溶液を加えて金属銀への還元反応を行
い、銀シェルを有する酸化亜鉛ナノ結晶の分散液を得
る。ここに合成例3で得るMHMを表面修飾分子として
加えて、MHMで被覆された銀シェルを有する酸化亜鉛
ナノ粒子を得る(これを以下MHM−Ag−ZnOと略
記する)。MHM−Ag−ZnOの精製は、これを溶解
したトルエンによる抽出液を水洗し、次いでメタノール
中に投入して得る沈殿を遠心分離し再度トルエンに溶解
し、このトルエン再溶解液を再度メタノール中に投入す
る再沈殿により行う。かかる再溶解と再沈殿の繰返しで
所望の精製度とする。
[Synthesis of Semiconductor Nanoparticles Having a Metal Shell] Example 1: Zinc Oxide Nanoparticles having a Silver Shell To the ethanol sol containing the zinc oxide nanocrystals of Example 1, an ethanol solution of silver nitrate was added to obtain metallic silver. A reduction reaction is performed to obtain a dispersion liquid of zinc oxide nanocrystals having a silver shell. The MHM obtained in Synthesis Example 3 is added thereto as a surface-modifying molecule to obtain zinc oxide nanoparticles having a silver shell coated with MHM (hereinafter abbreviated as MHM-Ag-ZnO). Purification of MHM-Ag-ZnO was performed by washing the extract solution with toluene in which this was dissolved, then throwing it into methanol, centrifuging the precipitate obtained, dissolving it again in toluene, and re-dissolving this toluene in methanol again. Perform by re-precipitation. A desired degree of purification is obtained by repeating such redissolution and reprecipitation.

【0061】[樹脂組成物] 実施例2:アクリル系架橋樹脂組成物 遮光条件下、下記式3の2官能性アクリレート(94重
量%)に、実施例1で得るMHM−Ag−ZnO(5重
量%)と光ラジカル開始剤として2,4,6−トリメチ
ルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド(1重量
%)を遮光条件下溶解し、次いで厚さ0.1mmのスペ
ーサーを挟んだガラス板の隙間に注液後に露光して光硬
化させると、透明な架橋樹脂組成物の薄膜状成形体を得
る。この薄膜状成形体は含有する酸化亜鉛ナノ結晶の紫
外線吸収特性を保持したものである。
[Resin Composition] Example 2: Acrylic Cross-Linked Resin Composition Under dimming conditions, the bifunctional acrylate of formula 3 (94% by weight) was mixed with MHM-Ag-ZnO (5% by weight) obtained in Example 1. %) And 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide (1% by weight) as a photo-radical initiator were dissolved under light-shielding conditions, and then poured into a gap between glass plates with a spacer having a thickness of 0.1 mm. When exposed and photocured, a thin film-shaped molded product of a transparent crosslinked resin composition is obtained. This thin film-shaped molded product retains the ultraviolet absorbing property of the zinc oxide nanocrystals contained therein.

【0062】[0062]

【化3】 [Chemical 3]

【0063】実施例3:PMMA樹脂組成物 メチルメタクリレート(89重量%)に、実施例1で得
るMHM−Ag−ZnO(10重量%)と熱ラジカル開
始剤としてN,N’−アゾビスイソブチロニトリル(1
重量%)を溶解し、次いで厚さ3mmのスペーサーを挟
んだガラス板の隙間に注液後に70℃に加熱すると、厚
さが3mmで透明なPMMA樹脂組成物の薄膜状成形体
を得る。この薄膜状成形体は含有する酸化亜鉛ナノ結晶
の紫外線吸収特性を保持したものである。
Example 3: PMMA resin composition Mmethacrylate (89% by weight) was added to MHM-Ag-ZnO (10% by weight) obtained in Example 1 and N, N'-azobisisobutyi as a thermal radical initiator. Ronitrile (1
(% By weight), and then poured into a gap between glass plates with a spacer having a thickness of 3 mm and then heated to 70 ° C. to obtain a transparent thin PMMA resin composition having a thickness of 3 mm. This thin film-shaped molded product retains the ultraviolet absorbing property of the zinc oxide nanocrystals contained therein.

【0064】[0064]

【発明の効果】本発明のコアシェル型半導体ナノ粒子
は、導電体シェルを半導体ナノ結晶コアの表面に有する
ため、半導体結晶表面が有する光触媒能が顕著に減殺さ
れる特徴を有する。従って、本発明の半導体ナノ粒子を
合成樹脂などの有機物マトリクスに分散した場合、該光
触媒能による有機物マトリクスの分解が極めて抑制され
る。また、本発明の半導体ナノ粒子はその表面に表面修
飾分子を結合しているので、有機物マトリクスへの分散
性が極めて良好である。かかる光触媒能の減殺と有機物
マトリクスへの分散性の特徴により、本発明の半導体ナ
ノ粒子を分散した透明樹脂組成物は該半導体の特性であ
る紫外線吸収性や高屈折率等を高度の耐光性とともに具
備したものとなるので、プロジェクタやディスプレイな
どの光学デバイスの部品材料として利用される。
Since the core-shell type semiconductor nanoparticles of the present invention have the conductor shell on the surface of the semiconductor nanocrystal core, the photocatalytic ability of the semiconductor crystal surface is remarkably reduced. Therefore, when the semiconductor nanoparticles of the present invention are dispersed in an organic matrix such as a synthetic resin, decomposition of the organic matrix due to the photocatalytic ability is extremely suppressed. Moreover, since the semiconductor nanoparticles of the present invention have surface-modifying molecules bound to their surfaces, the dispersibility in an organic matrix is extremely good. Due to the characteristics of the photocatalytic activity and the dispersibility in the organic matrix, the transparent resin composition in which the semiconductor nanoparticles of the present invention are dispersed has a high light resistance such as ultraviolet absorption and high refractive index which are the characteristics of the semiconductor. Since it is provided, it is used as a component material for optical devices such as projectors and displays.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H048 CA05 CA13 4J037 AA02 AA04 AA08 AA11 AA12 AA15 AA22 CA02 CA03 CA14 CB16 CB21 CB22 CB26 DD05 DD13 EE04 EE18 EE19 EE28 EE43 FF02 FF15 FF22    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 2H048 CA05 CA13                 4J037 AA02 AA04 AA08 AA11 AA12                       AA15 AA22 CA02 CA03 CA14                       CB16 CB21 CB22 CB26 DD05                       DD13 EE04 EE18 EE19 EE28                       EE43 FF02 FF15 FF22

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ナノ結晶コアと導電体シェルとか
らなる数平均粒径が2〜50nmのコアシェル型粒子表
面に表面修飾分子が結合してなるコアシェル型半導体ナ
ノ粒子。
1. A core-shell type semiconductor nanoparticle in which a surface-modifying molecule is bonded to the surface of a core-shell type particle composed of a semiconductor nanocrystal core and a conductor shell and having a number average particle size of 2 to 50 nm.
【請求項2】 吸収スペクトルの吸収端波長が300〜
600nmの範囲内にある請求項1に記載のコアシェル
型半導体ナノ粒子。
2. The absorption edge wavelength of the absorption spectrum is 300 to
The core-shell type semiconductor nanoparticles according to claim 1, which are in the range of 600 nm.
【請求項3】 半導体ナノ結晶コアが金属酸化物である
請求項1又は2に記載のコアシェル型半導体ナノ粒子。
3. The core-shell type semiconductor nanoparticles according to claim 1, wherein the semiconductor nanocrystal core is a metal oxide.
【請求項4】 導電体シェルが遷移金属の単体又は合金
である請求項1〜3のいずれかに記載のコアシェル型半
導体ナノ粒子。
4. The core-shell type semiconductor nanoparticles according to claim 1, wherein the conductor shell is a transition metal simple substance or an alloy.
【請求項5】 表面修飾分子が、炭素−炭素二重結合、
炭素−炭素三重結合、カルボニル基、エーテル結合、カ
ルボキシル基、酸無水物基、アミノ基、水酸基、エポキ
シ基及び脂肪族環からなる群から選ばれる少なくとも1
種の化学構造を有するものである請求項1〜4のいずれ
かに記載のコアシェル型半導体ナノ粒子。
5. The surface-modifying molecule is a carbon-carbon double bond,
At least one selected from the group consisting of carbon-carbon triple bond, carbonyl group, ether bond, carboxyl group, acid anhydride group, amino group, hydroxyl group, epoxy group and aliphatic ring.
The core-shell type semiconductor nanoparticles according to any one of claims 1 to 4, which have different chemical structures.
【請求項6】 表面修飾分子が、メルカプト基、アミノ
基、ホスホン酸基、ホスフィン基及びホスフィンオキシ
ド基から選ばれる基を有するものである請求項1〜5の
いずれかに記載のコアシェル型半導体ナノ粒子。
6. The core-shell type semiconductor nanoparticle according to claim 1, wherein the surface modification molecule has a group selected from a mercapto group, an amino group, a phosphonic acid group, a phosphine group and a phosphine oxide group. particle.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれかに記載の半導体
ナノ粒子を灰分量として0.01〜80重量%含有して
なる樹脂組成物。
7. A resin composition containing the semiconductor nanoparticles according to claim 1 in an ash content of 0.01 to 80% by weight.
【請求項8】 50μmの光路長における光線透過率が
450〜650nmの入射光波長範囲において70%以
上である請求項7に記載の樹脂組成物。
8. The resin composition according to claim 7, wherein the light transmittance in an optical path length of 50 μm is 70% or more in an incident light wavelength range of 450 to 650 nm.
【請求項9】 請求項8に記載の樹脂組成物からなり膜
厚が0.05〜3000μmである薄膜状成形体。
9. A thin-film molded body comprising the resin composition according to claim 8 and having a film thickness of 0.05 to 3000 μm.
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