JP2002526766A - キャビティ内レーザの出力強度を測定することによる汚染種の同定及び濃度決定 - Google Patents
キャビティ内レーザの出力強度を測定することによる汚染種の同定及び濃度決定Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Abstract
(57)【要約】
ガス試料中の較正された範囲内にある特定の濃度のガス種の存在を検出するための方法及び装置が開示される。発明のILSガス検出システム(10)は単にILSレーザ(12)及び光検出器(16)を含む。しかし、ILSレーザ(12)のとり得るすなわち動作波長バンド幅は測定されているキャビティ内ガス種に起因する吸収帯すなわち領域の1つの内に完全に含まれることが好ましい。すなわち、較正された範囲内で、ガス種の存在によりILSレーザ(12)のレーザ出力強度が変わる。したがって、発明のILSレーザ法を用いる場合に、吸収を行っているガス種の濃度を定量的に決定するために測定する必要があるのは、ILSレーザ(12)の出力強度のみである。
Description
【0001】関連出願の説明 本出願は、本出願と同日に出願された米国特許出願第09/166,003号に
関連する。前記出願は、ILSレーザをセンサの出力スペクトルにおける変化を
測定するための波長選択性光素子とともに用いる、ガス試料内での特定の濃度の
ガス種の存在を検出するための方法に関する。本出願は、いかなる波長選択性光
素子も用いず、よって全レーザ出力強度がガス種濃度の決定に用いられる、IL
Sレーザの使用に向けられる。
関連する。前記出願は、ILSレーザをセンサの出力スペクトルにおける変化を
測定するための波長選択性光素子とともに用いる、ガス試料内での特定の濃度の
ガス種の存在を検出するための方法に関する。本出願は、いかなる波長選択性光
素子も用いず、よって全レーザ出力強度がガス種濃度の決定に用いられる、IL
Sレーザの使用に向けられる。
【0002】発明の分野 本発明は概ねガス中の汚染種の検出に関し、さらに詳しくは、キャビティ内レ
ーザ分光法と一般に称されるレーザ手法による、ガス分子、原子、ラジカル及び
/またはイオンの高感度検出に関する。
ーザ分光法と一般に称されるレーザ手法による、ガス分子、原子、ラジカル及び
/またはイオンの高感度検出に関する。
【0003】発明の背景 レーザは、その最も簡単な形態において、2つのミラーの間に配置された利得
媒体を含むとして図式的に示すことができる。レーザキャビティ内の光はミラー
の間で繰返し反射され、その都度、光利得を生みだす利得媒体を通過する。第1
のミラーの鏡面コーティングは全反射性とすることができ、一方第2のミラーの
鏡面コーティングは半透過性とすることができて、よっていくらかの光がレーザ
キャビティから漏れ出ることができる。ミラーの反射面間の空間領域は、レーザ
共振器すなわちキャビティを定め、本発明に関してはいわゆる“キャビティ内領
域”に関わる。
媒体を含むとして図式的に示すことができる。レーザキャビティ内の光はミラー
の間で繰返し反射され、その都度、光利得を生みだす利得媒体を通過する。第1
のミラーの鏡面コーティングは全反射性とすることができ、一方第2のミラーの
鏡面コーティングは半透過性とすることができて、よっていくらかの光がレーザ
キャビティから漏れ出ることができる。ミラーの反射面間の空間領域は、レーザ
共振器すなわちキャビティを定め、本発明に関してはいわゆる“キャビティ内領
域”に関わる。
【0004】 レーザ出力強度は利得媒体が動作する波長領域及び反射器素子の反射率の両者
の関数である。通常、この出力はバンド幅が広く、また尖鋭で判然とした分光的
特徴はもたない。
の関数である。通常、この出力はバンド幅が広く、また尖鋭で判然とした分光的
特徴はもたない。
【0005】 レーザ分光法によるガス種、例えば原子、分子、ラジカルまたはイオンの同定
には、そのようなガス種が吸収を行う波長範囲にレーザ出力があることが必要で
ある。ガス種の検出への従来のレーザ適用においては、レーザ外部にあるガス試
料を励起してイオン化または蛍光のような2次信号をつくるために、レーザ光が
用いられる。あるいは、従来の吸収分光法においては、レーザ光にレーザの外部
にあるガス試料を通過させて、波長により変化する減衰を測定する。
には、そのようなガス種が吸収を行う波長範囲にレーザ出力があることが必要で
ある。ガス種の検出への従来のレーザ適用においては、レーザ外部にあるガス試
料を励起してイオン化または蛍光のような2次信号をつくるために、レーザ光が
用いられる。あるいは、従来の吸収分光法においては、レーザ光にレーザの外部
にあるガス試料を通過させて、波長により変化する減衰を測定する。
【0006】 約20年前、別の検出方法論であるキャビティ内レーザ分光法(ILS)が初め
て探究された;例えば、“ジャーナル・オブ・ケミカル・フィジックス(Journal
of Chemical Physics)”誌,第59巻(1973年7月1日),350〜354
ページのジー・アトキンソン(G. Atkinson)等による「キャビティ内ダイレーザ
手法による自由ラジカルの検出」を参照されたい。ILSでは、レーザ自体が検
出器として用いられる。分析されるべきガス試料が、多モードの、バンド幅が均
等に拡張されたレーザの光共振器に挿入される。上掲のアトキンソン等は、基底
状態及び励起状態にあるガス分子、原子、ラジカル、及び/またはイオンを光共
振器内に入れることにより、レーザ出力を変化させ得ることを示した。詳しくは
、キャビティ内のガス種の吸収スペクトルがレーザの出力スペクトルに現れる。
て探究された;例えば、“ジャーナル・オブ・ケミカル・フィジックス(Journal
of Chemical Physics)”誌,第59巻(1973年7月1日),350〜354
ページのジー・アトキンソン(G. Atkinson)等による「キャビティ内ダイレーザ
手法による自由ラジカルの検出」を参照されたい。ILSでは、レーザ自体が検
出器として用いられる。分析されるべきガス試料が、多モードの、バンド幅が均
等に拡張されたレーザの光共振器に挿入される。上掲のアトキンソン等は、基底
状態及び励起状態にあるガス分子、原子、ラジカル、及び/またはイオンを光共
振器内に入れることにより、レーザ出力を変化させ得ることを示した。詳しくは
、キャビティ内のガス種の吸収スペクトルがレーザの出力スペクトルに現れる。
【0007】 レーザ出力における弁別的な特性吸収は、吸収を行っているガス種によって導
入されるキャビティ内損失により生じる(本明細書に用いられるように、“特性
吸収”とは、光強度対波長のグラフにおいて光強度が単独の極小値に達する一連
の波長系列に該当する)。多モードレーザにおいて、キャビティ内吸収損失は基
準モードダイナミクスによるレーザ利得と競合する。この結果、キャビティ内の
特性吸収が競合するレーザ利得より実効的に強い波長で、レーザ出力強度の減衰
を観測することができる。特性吸収が強くなるほど、上記の波長におけるレーザ
出力強度は大きく減少する。
入されるキャビティ内損失により生じる(本明細書に用いられるように、“特性
吸収”とは、光強度対波長のグラフにおいて光強度が単独の極小値に達する一連
の波長系列に該当する)。多モードレーザにおいて、キャビティ内吸収損失は基
準モードダイナミクスによるレーザ利得と競合する。この結果、キャビティ内の
特性吸収が競合するレーザ利得より実効的に強い波長で、レーザ出力強度の減衰
を観測することができる。特性吸収が強くなるほど、上記の波長におけるレーザ
出力強度は大きく減少する。
【0008】 ILSでは、吸収を行うガス種をレーザ共振器内に挿入することにより、従来
の分光法より高められた検出感度が得られる。ILS手法の高められた検出感度
は、(1)レーザ利得媒体で生みだされる利得と(2)吸収体損失との間の非線形的
競合により得られる。この結果、ILSは弱い吸収及び/または極めて低い吸収
体濃度のいずれの検出にも利用することができる。
の分光法より高められた検出感度が得られる。ILS手法の高められた検出感度
は、(1)レーザ利得媒体で生みだされる利得と(2)吸収体損失との間の非線形的
競合により得られる。この結果、ILSは弱い吸収及び/または極めて低い吸収
体濃度のいずれの検出にも利用することができる。
【0009】 光共振器内のそれぞれのガス種は、それぞれの吸収スペクトルすなわち識別特
性により一意的に同定することができる。さらに、分光識別特性における1つま
たは複数の特定の特性吸収の強度は、センサを適切に較正しさえすれば、ガス種
濃度の決定に用いることができる(本明細書に用いられるように、“分光識別特
性”とは、ガス種を一意的に同定する、吸収強度すなわち吸光度に対してプロッ
トされた波長に該当する)。
性により一意的に同定することができる。さらに、分光識別特性における1つま
たは複数の特定の特性吸収の強度は、センサを適切に較正しさえすれば、ガス種
濃度の決定に用いることができる(本明細書に用いられるように、“分光識別特
性”とは、ガス種を一意的に同定する、吸収強度すなわち吸光度に対してプロッ
トされた波長に該当する)。
【0010】 ガス種の分光識別特性はILSレーザ出力を波長に関して分散することにより
得ることができる。ILSレーザ出力を分散し、よってガス種の分光識別特性を
得るためには、2種類の検出手法が一般に用いられる。ILSレーザ出力を波長
が固定された分散分光計に通し、この分光計により分解された特定のスペクトル
領域を多チャネル検出器を用いて記録することができる;名称を「キャビティ内
レーザ分光法(ILS)による超高感度ガス検出のためのダイオードレーザでポン
ピングされるレーザシステム」とする、1998年5月5日に発行された、ジー
・エイチ・アトキンソン等への米国特許第5,747,807号を参照されたい。
あるいは、単チャネル検出器で記録される様々なスペクトル領域を選択的に分解
するために、波長をスキャンできる分光計を用いることができる(上記特許を参
照されたい)。
得ることができる。ILSレーザ出力を分散し、よってガス種の分光識別特性を
得るためには、2種類の検出手法が一般に用いられる。ILSレーザ出力を波長
が固定された分散分光計に通し、この分光計により分解された特定のスペクトル
領域を多チャネル検出器を用いて記録することができる;名称を「キャビティ内
レーザ分光法(ILS)による超高感度ガス検出のためのダイオードレーザでポン
ピングされるレーザシステム」とする、1998年5月5日に発行された、ジー
・エイチ・アトキンソン等への米国特許第5,747,807号を参照されたい。
あるいは、単チャネル検出器で記録される様々なスペクトル領域を選択的に分解
するために、波長をスキャンできる分光計を用いることができる(上記特許を参
照されたい)。
【0011】 従来技術のILS検出システムは、検出されるべきキャビティ内ガス種の吸収
スペクトルにおける特性吸収のバンド幅よりもかなり広いスペクトルバンド幅を
有するILSレーザを用いる;名称を「汚染種の高感度検出のためのキャビティ
内レーザ分光器」とする、1997年11月18日に発行された、ジー・エイチ
・アトキンソン等への米国特許第5,689,334号を参照されたい。詳しくは
、そのようなレーザシステムは測定されているガス種の特性吸収のバンド幅より
少なくとも3倍は広い動作波長バンド幅を有している。
スペクトルにおける特性吸収のバンド幅よりもかなり広いスペクトルバンド幅を
有するILSレーザを用いる;名称を「汚染種の高感度検出のためのキャビティ
内レーザ分光器」とする、1997年11月18日に発行された、ジー・エイチ
・アトキンソン等への米国特許第5,689,334号を参照されたい。詳しくは
、そのようなレーザシステムは測定されているガス種の特性吸収のバンド幅より
少なくとも3倍は広い動作波長バンド幅を有している。
【0012】 しかし従来技術のILS実施方法は、実験室では実際の使用に成功してはいる
が、多くの市場向け用途には大きすぎ、また複雑すぎる。特に、レーザの分光出
力を分散するために分光計に課せられる要件だけでなく、特性吸収を分析するた
めにコンピュータに課せられる要件も、検出システムをさらに大きく、また複雑
にする。対照的に、市場の現実的制約により、ガス検出器は使いやすい大きさに
つくられ、比較的安価で、信頼性が高くなければならない。
が、多くの市場向け用途には大きすぎ、また複雑すぎる。特に、レーザの分光出
力を分散するために分光計に課せられる要件だけでなく、特性吸収を分析するた
めにコンピュータに課せられる要件も、検出システムをさらに大きく、また複雑
にする。対照的に、市場の現実的制約により、ガス検出器は使いやすい大きさに
つくられ、比較的安価で、信頼性が高くなければならない。
【0013】 すなわち、例えば分光計及びコンピュータの必要を排除することにより、(1)
ILS測定法の複雑性を大きく低減し、(2)ILS装置の大きさを相当に縮小す
る方法論が必要とされている。
ILS測定法の複雑性を大きく低減し、(2)ILS装置の大きさを相当に縮小す
る方法論が必要とされている。
【0014】発明の概要 本発明にしたがえば、ガス試料内の特定の濃度のガス種の存在を検出するため
の方法が開示される。本方法は: (a)少なくとも1つの単一連続波長バンド内の光をガス種が吸収することを決
定し、較正された範囲内でガス種の濃度を決定するステップ; (b) (i)レーザキャビティ;及び (ii)利得媒体; を含むILSレーザを準備するステップ;ここでILSレーザは、ガス種が吸収
を行っており、ガス種により誘起された吸収が較正された範囲内でレーザの総出
力強度を変化させるのに十分な大きさである、連続波長のバンド内に完全に含ま
れる波長においてのみ動作するように構成される; (c)レーザキャビティを出る前にレーザキャビティに入れられるガス試料を通
る方向に、利得媒体からの出力ビームが向けられるような位置に利得媒体を置く
ステップ;及び (d)レーザの絶対出力パワーまたは出力パワーの相対変化のいずれかを定量的
に測定するために、ILSレーザを出てくる出力を検出するような位置に検出器
を置くステップ; を含む。
の方法が開示される。本方法は: (a)少なくとも1つの単一連続波長バンド内の光をガス種が吸収することを決
定し、較正された範囲内でガス種の濃度を決定するステップ; (b) (i)レーザキャビティ;及び (ii)利得媒体; を含むILSレーザを準備するステップ;ここでILSレーザは、ガス種が吸収
を行っており、ガス種により誘起された吸収が較正された範囲内でレーザの総出
力強度を変化させるのに十分な大きさである、連続波長のバンド内に完全に含ま
れる波長においてのみ動作するように構成される; (c)レーザキャビティを出る前にレーザキャビティに入れられるガス試料を通
る方向に、利得媒体からの出力ビームが向けられるような位置に利得媒体を置く
ステップ;及び (d)レーザの絶対出力パワーまたは出力パワーの相対変化のいずれかを定量的
に測定するために、ILSレーザを出てくる出力を検出するような位置に検出器
を置くステップ; を含む。
【0015】 さらに、ガス試料中の較正された範囲内の特定の濃度のガス種の存在を検出す
るためのガス検出システムが提供され、ここで、ガス種は少なくとも1つの単一
連続波長バンド内の光を吸収し、よってILSレーザを出てくる出力強度を特定
の量だけ変化させる。本ガス検出システムは: (a) (i)レーザキャビティ;及び (ii)利得媒体; を含むILSレーザ;ILSレーザは、ガス種が吸収を行っており、ガス種によ
り誘起される吸収が較正された範囲内でレーザの総出力強度を変化させるのに十
分な大きさである、連続波長バンド内に完全に含まれる波長においてのみ動作す
るように構成される; (b)レーザキャビティ内にガス試料を入れるための容器;この容器により、利
得媒体から出てくる出力ビームがレーザキャビティを出る前にガス試料を通過で
きる;及び (c)ILSレーザを出てくる出力強度を決定し、よってレーザの絶対出力パワ
ーまたは出力パワーの相対変化のいずれかを定量的に測定するための検出器; を含む。
るためのガス検出システムが提供され、ここで、ガス種は少なくとも1つの単一
連続波長バンド内の光を吸収し、よってILSレーザを出てくる出力強度を特定
の量だけ変化させる。本ガス検出システムは: (a) (i)レーザキャビティ;及び (ii)利得媒体; を含むILSレーザ;ILSレーザは、ガス種が吸収を行っており、ガス種によ
り誘起される吸収が較正された範囲内でレーザの総出力強度を変化させるのに十
分な大きさである、連続波長バンド内に完全に含まれる波長においてのみ動作す
るように構成される; (b)レーザキャビティ内にガス試料を入れるための容器;この容器により、利
得媒体から出てくる出力ビームがレーザキャビティを出る前にガス試料を通過で
きる;及び (c)ILSレーザを出てくる出力強度を決定し、よってレーザの絶対出力パワ
ーまたは出力パワーの相対変化のいずれかを定量的に測定するための検出器; を含む。
【0016】 本発明にしたがい、本発明は、従来技術で開示されたいずれのILSレーザシ
ステムよりも小さく、簡単で、組立費用が少ない、市場向けの汚染種センサシス
テムを創出した。
ステムよりも小さく、簡単で、組立費用が少ない、市場向けの汚染種センサシス
テムを創出した。
【0017】 本発明のその他の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な説明及び添付図面の考
察により明らかになるであろう。添付図面を通して、同じ参照数字は同じ要素を
表す。
察により明らかになるであろう。添付図面を通して、同じ参照数字は同じ要素を
表す。
【0018】好ましい実施形態の説明 本説明に参照される図面は、特に注記した場合を除き、正確な比で描かれては
いないことは当然である。
いないことは当然である。
【0019】 本発明の実施に関して発明者等が現在考えている最良の態様を示す、本発明の
特定の実施形態をここで詳細に参照する。別の実施形態も実施可能な範囲で簡単
に説明する。
特定の実施形態をここで詳細に参照する。別の実施形態も実施可能な範囲で簡単
に説明する。
【0020】 本発明はILSセンサを用いる極めて高感度のガス種検出に向けられる。本明
細書に用いられるように、“ガス種”とは、シリコン膜製造に用いられるような
ガス材料中に存在し得る、分子、原子、ラジカル及び/またはイオン種を指す。
したがって、本発明のILSガス検出システムはガス材料(例えば窒素)中の汚
染種(例えば水)の存在を検出するために用いることができる。あるいは、ガス
配管(例えば窒素ガス配管)がガス材料(例えば窒素)で十分パージされたか否
かを決定するためにILS検出を用いることができる。
細書に用いられるように、“ガス種”とは、シリコン膜製造に用いられるような
ガス材料中に存在し得る、分子、原子、ラジカル及び/またはイオン種を指す。
したがって、本発明のILSガス検出システムはガス材料(例えば窒素)中の汚
染種(例えば水)の存在を検出するために用いることができる。あるいは、ガス
配管(例えば窒素ガス配管)がガス材料(例えば窒素)で十分パージされたか否
かを決定するためにILS検出を用いることができる。
【0021】 図1a及び1bは、従来技術のILS検出実施方法を簡略に示す。詳しくは、
図1aには、ILSレーザ12,集成分光計装置14,光検出器16及び光検出
器からの電気的出力を分析するためのコンピュータ18を含む、ILSガス検出
システム10が示されている。
図1aには、ILSレーザ12,集成分光計装置14,光検出器16及び光検出
器からの電気的出力を分析するためのコンピュータ18を含む、ILSガス検出
システム10が示されている。
【0022】 図1aに描かれるILSレーザ12には、利得媒体20及び、ミラー26及び
28の間の全光路長により定められる光共振器24内に置かれた、ガス試料セル
22が含まれる。ILSレーザ12にはさらに、利得媒体20に放射光を与え、
よってILSレーザ12を駆動する光ポンピング源のような、ポンピング源(図
示せず)が必要であることは当然である。
28の間の全光路長により定められる光共振器24内に置かれた、ガス試料セル
22が含まれる。ILSレーザ12にはさらに、利得媒体20に放射光を与え、
よってILSレーザ12を駆動する光ポンピング源のような、ポンピング源(図
示せず)が必要であることは当然である。
【0023】 図1aは、利得媒体20内で発生されたレーザ光がガス試料セル22に向けら
れ、セル内のガス試料を通過することを示す。上述したように、光共振器すなわ
ちレーザキャビティ24内及び、特に、ガス試料セル22内のガス種は、ILS
レーザ12が動作する波長範囲に特性吸収が位置していれば、吸収損失を導入し
得る。したがって、ILSレーザ12の出力ビーム32を分析して、ILSレー
ザを出てくる出力ビームがガス種の分光識別特性と同じ特性吸収を含んでいるか
否かを決定することにより、レーザキャビティ24内で吸収を行っているガス種
の存在を識別することができる。分光識別特性には強度及び波長に関する情報が
含まれることに注意されたい。
れ、セル内のガス試料を通過することを示す。上述したように、光共振器すなわ
ちレーザキャビティ24内及び、特に、ガス試料セル22内のガス種は、ILS
レーザ12が動作する波長範囲に特性吸収が位置していれば、吸収損失を導入し
得る。したがって、ILSレーザ12の出力ビーム32を分析して、ILSレー
ザを出てくる出力ビームがガス種の分光識別特性と同じ特性吸収を含んでいるか
否かを決定することにより、レーザキャビティ24内で吸収を行っているガス種
の存在を識別することができる。分光識別特性には強度及び波長に関する情報が
含まれることに注意されたい。
【0024】 本明細書で用いられるように、特性吸収は吸収線、すなわち、光強度対波長の
グラフに見ることができる、光強度の単独の極小(すなわち、吸収が極大に達す
る点)及びそのまわりを含む連続波長領域に対応する。吸収線のそれぞれは有限
のバンド幅及び吸収が極大に達する(すなわち出力強度が極小に達する)点を有
する。本発明に関しては、特性吸収を構成する波長の全てが、ガス種が吸収を行
っている波長であるから、特性吸収が重要である。
グラフに見ることができる、光強度の単独の極小(すなわち、吸収が極大に達す
る点)及びそのまわりを含む連続波長領域に対応する。吸収線のそれぞれは有限
のバンド幅及び吸収が極大に達する(すなわち出力強度が極小に達する)点を有
する。本発明に関しては、特性吸収を構成する波長の全てが、ガス種が吸収を行
っている波長であるから、特性吸収が重要である。
【0025】 さらに、本明細書に用いられるように、“吸収帯”とは、吸収がそれぞれの波
長で生じている吸収スペクトルの単一の連続波長領域として定義される。したが
って、吸収が見られない領域Bで隔てられた2本の吸収線A1及びA2を吸収ス
ペクトルが含んでいれば、2本の吸収線A1及びA2は別々の吸収帯に対応する
。しかし2本の吸収線A1及びA2が極小吸収(すなわち極大出力)で隔てられ
ているだけであれば、2本の吸収線A1及びA2は単一の吸収帯に対応する。例
えば第1の濃度では分離されて明瞭な吸収線が、第2の、より高い濃度では会合
して合体し、単一の吸収帯を形成することがある。温度、生成時間及びポンピン
グパワーも出力スペクトル及び測定される吸収スペクトルに影響することは当然
である。したがって測定される吸収スペクトルにおける吸収帯の数も、温度、生
成時間及びポンピングパワーにより変化する。
長で生じている吸収スペクトルの単一の連続波長領域として定義される。したが
って、吸収が見られない領域Bで隔てられた2本の吸収線A1及びA2を吸収ス
ペクトルが含んでいれば、2本の吸収線A1及びA2は別々の吸収帯に対応する
。しかし2本の吸収線A1及びA2が極小吸収(すなわち極大出力)で隔てられ
ているだけであれば、2本の吸収線A1及びA2は単一の吸収帯に対応する。例
えば第1の濃度では分離されて明瞭な吸収線が、第2の、より高い濃度では会合
して合体し、単一の吸収帯を形成することがある。温度、生成時間及びポンピン
グパワーも出力スペクトル及び測定される吸収スペクトルに影響することは当然
である。したがって測定される吸収スペクトルにおける吸収帯の数も、温度、生
成時間及びポンピングパワーにより変化する。
【0026】 ILSレーザ12の分光出力を分析するため、ILSレーザからのILS出力
ビーム32は、出力ビームを波長に関して分散する、集成分光計装置14に送ら
れる。図1aでは、ILSレーザ12を出てくる出力ビーム32を分散するため
に、回折格子38及び40が用いられる。回折格子38及び40に入射する前に
レンズ34及び36が出力ビーム32を拡大する。レンズ42が、集成分光計装
置14の出力を光検出器16に集束する。
ビーム32は、出力ビームを波長に関して分散する、集成分光計装置14に送ら
れる。図1aでは、ILSレーザ12を出てくる出力ビーム32を分散するため
に、回折格子38及び40が用いられる。回折格子38及び40に入射する前に
レンズ34及び36が出力ビーム32を拡大する。レンズ42が、集成分光計装
置14の出力を光検出器16に集束する。
【0027】 従来技術の方法の1つでは、(1)集成分光計装置14が波長に関してスキャン
させることができる分散光学素子を含み、また(2)光検出器16が単チャネル検
出器を含む。図1aは、このスキャンを行う分散光学素子を回折格子38として
描いている。
させることができる分散光学素子を含み、また(2)光検出器16が単チャネル検
出器を含む。図1aは、このスキャンを行う分散光学素子を回折格子38として
描いている。
【0028】 レーザキャビティ24内のガス種の分光識別特性は、集成分光計装置14を通
して送られる光が(単チャネル)光検知器16の前面に置かれた適切なアパーチ
ャ46を通過している間に、分散光学素子(回折格子38)をスキャンさせるこ
とにより得られる(アパーチャ46は単にスリットからなっていてよい)。回折
格子38をスキャンさせている間に集成分光計装置14を通して送られた光の強
度は、光検出器16で測定される。光検出器16はこの強度を表す電気信号を出
力する(例えば、電気信号をILSレーザ強度に比例させることができる)。さ
らに、分光計はそれぞれの波長を表す電気信号をコンピュータ18に送る。この
ようにして、コンピュータ18は光検出器16で決定された強度を集成分光計装
置14で決定された波長と相関させる。すなわち、集成分光計装置14及び光検
出器16はコンピュータ18とともに動作して、ILSレーザ12から出てくる
出力ビーム32のスペクトル分布の測定を可能にする。
して送られる光が(単チャネル)光検知器16の前面に置かれた適切なアパーチ
ャ46を通過している間に、分散光学素子(回折格子38)をスキャンさせるこ
とにより得られる(アパーチャ46は単にスリットからなっていてよい)。回折
格子38をスキャンさせている間に集成分光計装置14を通して送られた光の強
度は、光検出器16で測定される。光検出器16はこの強度を表す電気信号を出
力する(例えば、電気信号をILSレーザ強度に比例させることができる)。さ
らに、分光計はそれぞれの波長を表す電気信号をコンピュータ18に送る。この
ようにして、コンピュータ18は光検出器16で決定された強度を集成分光計装
置14で決定された波長と相関させる。すなわち、集成分光計装置14及び光検
出器16はコンピュータ18とともに動作して、ILSレーザ12から出てくる
出力ビーム32のスペクトル分布の測定を可能にする。
【0029】 図1bは従来技術のILS検出法から得られたその種のデータを簡略に示す。
曲線48は、波長をスキャンし、集成分光計装置14を通して送られた光の強度
を測定することにより得られた、典型的な分光分散ILSレーザ出力スペクトル
(すなわち吸収スペクトル)を表す。特性吸収が位置する波長において、ILS
レーザ12の強度が減衰している。矢印49が5つのそのような特性吸収を示し
ている(曲線50は吸収を行ういかなるガス種も存在しないILSレーザ12の
スペクトル分布を示す)。
曲線48は、波長をスキャンし、集成分光計装置14を通して送られた光の強度
を測定することにより得られた、典型的な分光分散ILSレーザ出力スペクトル
(すなわち吸収スペクトル)を表す。特性吸収が位置する波長において、ILS
レーザ12の強度が減衰している。矢印49が5つのそのような特性吸収を示し
ている(曲線50は吸収を行ういかなるガス種も存在しないILSレーザ12の
スペクトル分布を示す)。
【0030】 コンピュータ18はガス種を同定するために曲線48で示される吸収スペクト
ルを用いることができる。詳しくは、ILSレーザ12の出力スペクトル内に数
多くの特性吸収を含む吸収スペクトルが測定されて、測定されるべきガス種の既
知の分光識別特性と比較される。検出されるべきガス種を一意的に同定するため
に、そのガス種の特定の特性吸収の位置及び相対強度を利用することができる。
レーザキャビティ24内にあるキャビティ内ガス種の濃度または量は、吸収の大
きさが前もって既知の濃度で較正されていれば、吸収スペクトルに見られる特性
吸収の大きさから決定することができる。
ルを用いることができる。詳しくは、ILSレーザ12の出力スペクトル内に数
多くの特性吸収を含む吸収スペクトルが測定されて、測定されるべきガス種の既
知の分光識別特性と比較される。検出されるべきガス種を一意的に同定するため
に、そのガス種の特定の特性吸収の位置及び相対強度を利用することができる。
レーザキャビティ24内にあるキャビティ内ガス種の濃度または量は、吸収の大
きさが前もって既知の濃度で較正されていれば、吸収スペクトルに見られる特性
吸収の大きさから決定することができる。
【0031】 従来技術の別の方法では、(1)ILSレーザ12から出てくる出力ビーム32
に固定分散光学素子を有する(すなわち回折格子38及び40がスキャンされな
い)分光計を通過させ、(2)光検出器16が多チャネル検出器アレイを含む。I
LSレーザ12が動作するスペクトル領域は集成分光計装置14により与えられ
て、(多チャネルアレイ)光検出器16の面上で空間的に変位させられる。光検
出器46の前面に置かれるアパーチャ46は(もしあれば)検出器アレイの複数
の検出器を照射できるように十分大きく、よって多数の波長が検出器アレイの多
数の検出器により同時に観測される。
に固定分散光学素子を有する(すなわち回折格子38及び40がスキャンされな
い)分光計を通過させ、(2)光検出器16が多チャネル検出器アレイを含む。I
LSレーザ12が動作するスペクトル領域は集成分光計装置14により与えられ
て、(多チャネルアレイ)光検出器16の面上で空間的に変位させられる。光検
出器46の前面に置かれるアパーチャ46は(もしあれば)検出器アレイの複数
の検出器を照射できるように十分大きく、よって多数の波長が検出器アレイの多
数の検出器により同時に観測される。
【0032】 したがって、集成分光計装置14により分解される特定のスペクトル領域は、
(多チャネルアレイ)光検出器16で同時に測定される。コンピュータ18は、
(多チャネルアレイ)光検出器16を操作し、光検出器の多数の検出器から測定
された強度を読み込む。さらに、集成分析計装置14は集成分析計装置14によ
り分解された波長を表す電気信号をコンピュータ18に送る。コンピュータ18
は(多チャネルアレイ)光検出器16及び集成分光計装置14からの電気信号を
それぞれ強度及び波長に変換するようにプログラムされる。このようにして、コ
ンピュータは光検出器16で決定された強度を集成分光計装置14で決定された
波長と相関させる。
(多チャネルアレイ)光検出器16で同時に測定される。コンピュータ18は、
(多チャネルアレイ)光検出器16を操作し、光検出器の多数の検出器から測定
された強度を読み込む。さらに、集成分析計装置14は集成分析計装置14によ
り分解された波長を表す電気信号をコンピュータ18に送る。コンピュータ18
は(多チャネルアレイ)光検出器16及び集成分光計装置14からの電気信号を
それぞれ強度及び波長に変換するようにプログラムされる。このようにして、コ
ンピュータは光検出器16で決定された強度を集成分光計装置14で決定された
波長と相関させる。
【0033】 すなわち、集成分光計装置14及び(多チャネルアレイ)光検出器16はコン
ピュータ18とともに動作して、ILSレーザ12から出てくる出力ビーム32
のスペクトル分布を測定して記録する。図1bに示したものと同様の吸収識別特
性を得ることができる。
ピュータ18とともに動作して、ILSレーザ12から出てくる出力ビーム32
のスペクトル分布を測定して記録する。図1bに示したものと同様の吸収識別特
性を得ることができる。
【0034】 上述したように、レーザキャビティ24内のガス種を同定するために分光識別
特性が用いられる。コンピュータは、ILSレーザ12の出力スペクトル内に数
多くの特性吸収すなわち吸収線を含む測定された吸収帯を記録し、測定されるべ
きガス種の既知の分光識別特性とこれらを比較する。吸収の大きさが既知の濃度
を用いて較正されてさえいれば、分光識別特性に見られる特性吸収の大きさから
キャビティ内ガス種の濃度を決定することができる。
特性が用いられる。コンピュータは、ILSレーザ12の出力スペクトル内に数
多くの特性吸収すなわち吸収線を含む測定された吸収帯を記録し、測定されるべ
きガス種の既知の分光識別特性とこれらを比較する。吸収の大きさが既知の濃度
を用いて較正されてさえいれば、分光識別特性に見られる特性吸収の大きさから
キャビティ内ガス種の濃度を決定することができる。
【0035】 しかし、従来技術の上記の方法は、特性吸収に対応する波長を含む複数の波長
におけるだけではなく、吸収が極大の特性吸収のまわりの波長領域においても、
強度を測定して記録することにより強度対波長のグラフを効率よく生成するため
にコンピュータ18を必要とすることは当然である。
におけるだけではなく、吸収が極大の特性吸収のまわりの波長領域においても、
強度を測定して記録することにより強度対波長のグラフを効率よく生成するため
にコンピュータ18を必要とすることは当然である。
【0036】 対照的に、本発明の方法は上記の従来技術の手法より概念的にかなり単純であ
る。本発明の方法は、複数の波長にわたる強度分布を測定するのではなく、既定
の波長領域内で、ILSレーザ12により動作時に、すなわち光発生時にどれだ
けの大きさの出力強度が与えられるかの決定だけを必要とする。本発明の方法は
本質的に、ILSレーザ12が動作している全波長領域にわたる吸収の総変化を
利用する。すなわち、レーザ出力を分散することによる従来技術の方法で測定さ
れていた特性吸収が、本発明の方法ではILSレーザ12の総出力強度への影響
に利用される。ILSレーザ12のスペクトル内の多数の特性吸収を測定して記
録することは必要ではない。
る。本発明の方法は、複数の波長にわたる強度分布を測定するのではなく、既定
の波長領域内で、ILSレーザ12により動作時に、すなわち光発生時にどれだ
けの大きさの出力強度が与えられるかの決定だけを必要とする。本発明の方法は
本質的に、ILSレーザ12が動作している全波長領域にわたる吸収の総変化を
利用する。すなわち、レーザ出力を分散することによる従来技術の方法で測定さ
れていた特性吸収が、本発明の方法ではILSレーザ12の総出力強度への影響
に利用される。ILSレーザ12のスペクトル内の多数の特性吸収を測定して記
録することは必要ではない。
【0037】 本発明の方法は、別の観点において、ILSガス検出のための従来技術の方法
とは概念的に異なる;すなわち、本発明に用いられるILSレーザ12は、関係
する特性吸収のバンド幅と同程度なバンド幅を有することが好ましい。従来技術
のILS検出方法は、検出されるべきキャビティ内ガス種にともなう個々の特性
吸収のバンド幅よりかなり広いスペクトルバンド幅を有する、ILSレーザ12
を用いる。詳しくは、従来技術のILSレーザ12では、測定されているガス種
の特性吸収のバンド幅より少なくとも3倍は広い動作波長バンド幅を有すること
が好ましい。
とは概念的に異なる;すなわち、本発明に用いられるILSレーザ12は、関係
する特性吸収のバンド幅と同程度なバンド幅を有することが好ましい。従来技術
のILS検出方法は、検出されるべきキャビティ内ガス種にともなう個々の特性
吸収のバンド幅よりかなり広いスペクトルバンド幅を有する、ILSレーザ12
を用いる。詳しくは、従来技術のILSレーザ12では、測定されているガス種
の特性吸収のバンド幅より少なくとも3倍は広い動作波長バンド幅を有すること
が好ましい。
【0038】 いくつかの理由により、ガス種により与えられる特性吸収のバンド幅よりかな
り広い波長バンド幅を有するILSレーザ12の使用が好まれる。上述したよう
に、分光識別特性の様々な特性吸収が、検出されるべき特定のガス種の同定に際
してコンピュータ18の役に立つ。すなわち、吸収を行っているガス種の従来技
術の同定方法は、1つより多い特性吸収を含むのに十分な広さのスペクトルバン
ド幅を有するILSレーザ12に依存する。さらに、ILS手法の高められた検
出感度は主に多モードレーザの非線形利得と損失との競合から得られるため、多
数の縦モードを有するILSレーザ12が最も有利である。したがって、従来技
術の方法は多数の縦モードを含むのに十分な広さのスペクトルバンド幅を有する
ILSレーザ12を用いる。
り広い波長バンド幅を有するILSレーザ12の使用が好まれる。上述したよう
に、分光識別特性の様々な特性吸収が、検出されるべき特定のガス種の同定に際
してコンピュータ18の役に立つ。すなわち、吸収を行っているガス種の従来技
術の同定方法は、1つより多い特性吸収を含むのに十分な広さのスペクトルバン
ド幅を有するILSレーザ12に依存する。さらに、ILS手法の高められた検
出感度は主に多モードレーザの非線形利得と損失との競合から得られるため、多
数の縦モードを有するILSレーザ12が最も有利である。したがって、従来技
術の方法は多数の縦モードを含むのに十分な広さのスペクトルバンド幅を有する
ILSレーザ12を用いる。
【0039】 しかし、本発明の第1の実施形態のILSレーザは、測定されているキャビテ
ィ内ガス種にともなう吸収帯の内の1つのバンド幅と同程度かまたはそれより狭
い動作バンド幅を有することが好ましい。さらに、本発明の方法を用いて好結果
を得るためには、ILSレーザ12の動作バンド幅が吸収帯に正に重なるように
同調されなければならない(上で論じたように、吸収帯は単一の特性吸収または
複数の連続する特性吸収を含み得る)。
ィ内ガス種にともなう吸収帯の内の1つのバンド幅と同程度かまたはそれより狭
い動作バンド幅を有することが好ましい。さらに、本発明の方法を用いて好結果
を得るためには、ILSレーザ12の動作バンド幅が吸収帯に正に重なるように
同調されなければならない(上で論じたように、吸収帯は単一の特性吸収または
複数の連続する特性吸収を含み得る)。
【0040】 ILSレーザ12のとり得るバンド幅すなわち動作バンド幅(Δνレーザ)は
、利得媒体20が動作し得る波長領域、ミラー26及び28の分光特性、及び光
共振器24内の光素子のそれぞれが伝えている光の波長領域により定められる。
詳しくは、Δνレーザは利得媒体20のバンド幅並びにミラー26及び28のバ
ンド幅、さらにその他の全ての個々のキャビティ内光素子、例えばレーザキャビ
ティ24内のペリクルまたは複屈折同調素子のバンド幅の、たたみこみにより定
められる。
、利得媒体20が動作し得る波長領域、ミラー26及び28の分光特性、及び光
共振器24内の光素子のそれぞれが伝えている光の波長領域により定められる。
詳しくは、Δνレーザは利得媒体20のバンド幅並びにミラー26及び28のバ
ンド幅、さらにその他の全ての個々のキャビティ内光素子、例えばレーザキャビ
ティ24内のペリクルまたは複屈折同調素子のバンド幅の、たたみこみにより定
められる。
【0041】 好ましくは、ILSレーザの動作バンド幅の、(例えば、1つの特性吸収また
は複数の連続する特性吸収を含む)吸収帯の前記重なり部分のバンド幅に対する
比は1対1である。ILSレーザの動作バンド幅は、(1)多モード動作を維持す
るには十分に広いが、(2)注目するガス種にともなう吸収帯にしか重なり得ない
ように十分に狭いことがさらに好ましい。以降、吸収帯の重なり部分はW吸収と
、またそのバンド幅はΔν吸収と表される。
は複数の連続する特性吸収を含む)吸収帯の前記重なり部分のバンド幅に対する
比は1対1である。ILSレーザの動作バンド幅は、(1)多モード動作を維持す
るには十分に広いが、(2)注目するガス種にともなう吸収帯にしか重なり得ない
ように十分に狭いことがさらに好ましい。以降、吸収帯の重なり部分はW吸収と
、またそのバンド幅はΔν吸収と表される。
【0042】 上述したように、多モード動作が可能な十分に広いバンド幅を有するILSレ
ーザ12を用いれば、ILSで達成可能な高められた検出感度が維持される。し
かし、ILSレーザ12の動作バンド幅は検出されるべきガス種にともなう吸収
帯にしか重なり得ないように十分に狭いから、レーザからの光出力の強度はガス
種の濃度が変化するとともに量的に変化するであろう。
ーザ12を用いれば、ILSで達成可能な高められた検出感度が維持される。し
かし、ILSレーザ12の動作バンド幅は検出されるべきガス種にともなう吸収
帯にしか重なり得ないように十分に狭いから、レーザからの光出力の強度はガス
種の濃度が変化するとともに量的に変化するであろう。
【0043】 吸収を行っているガス種のバンド幅の重なり部分,Δν吸収と、ILSレーザ
12のバンド幅,Δνレーザが同程度である(すなわち、W吸収がWレーザに完
全に重なる)場合には、キャビティ内ガス種による吸収がレーザで発生される光
の量を制限することができる。ILSレーザ12は吸収損失が見られる波長領域
では効率よく動作することができない。吸収を行っているガス種が存在すれば、
ILSレーザ12が動作し得る唯一の領域が吸収帯に占有され、レーザの動作が
妨げられる。
12のバンド幅,Δνレーザが同程度である(すなわち、W吸収がWレーザに完
全に重なる)場合には、キャビティ内ガス種による吸収がレーザで発生される光
の量を制限することができる。ILSレーザ12は吸収損失が見られる波長領域
では効率よく動作することができない。吸収を行っているガス種が存在すれば、
ILSレーザ12が動作し得る唯一の領域が吸収帯に占有され、レーザの動作が
妨げられる。
【0044】 ガス種の濃度が高くなるほど、吸収損失が大きくなり、その損失に打ち勝つの
に十分な光(すなわち利得)を利得媒体20で発生させるという課題がますます達
成困難になる。すなわち、キャビティ内ガス種の濃度が高くなるにつれて、IL
Sレーザ12からの光出力の強度は低下するであろう。キャビティ内吸収体濃度
の関数としての光出力強度は、ILSセンサの較正に用いることができる。この
アイデアは、非線形光学特性、複屈折フィルタ及びこれらの併用の上で、有効で
あり得る。
に十分な光(すなわち利得)を利得媒体20で発生させるという課題がますます達
成困難になる。すなわち、キャビティ内ガス種の濃度が高くなるにつれて、IL
Sレーザ12からの光出力の強度は低下するであろう。キャビティ内吸収体濃度
の関数としての光出力強度は、ILSセンサの較正に用いることができる。この
アイデアは、非線形光学特性、複屈折フィルタ及びこれらの併用の上で、有効で
あり得る。
【0045】 したがって、本発明のILS法を用いる場合、吸収を行っているガス種の濃度
を定量的に決定するためには、ILSレーザ12の出力の強度だけを測定すれば
よい。
を定量的に決定するためには、ILSレーザ12の出力の強度だけを測定すれば
よい。
【0046】 図2a及び2bは、ガス試料中のガス種の検出に向けられる、本発明の方法及
び装置を簡略に示す。詳しくは、図2aは本発明にしたがって組み立てられたI
LSガス検知システム10の断面を示し、図2bはILSレーザの2つの相異な
る動作条件についての本発明のILSレーザの総出力パワーの、強度及び濃度を
座標とする、グラフである。
び装置を簡略に示す。詳しくは、図2aは本発明にしたがって組み立てられたI
LSガス検知システム10の断面を示し、図2bはILSレーザの2つの相異な
る動作条件についての本発明のILSレーザの総出力パワーの、強度及び濃度を
座標とする、グラフである。
【0047】 本発明のILSガス検知システム10は単に、ILSレーザ12及び絶対レー
ザ出力強度またはレーザ出力強度の相対変化のいずれかを定量的に測定する光検
出器16を含む。
ザ出力強度またはレーザ出力強度の相対変化のいずれかを定量的に測定する光検
出器16を含む。
【0048】 図2aに示される本発明の実施形態に描かれているように、ILSレーザ12
は利得媒体20,ガス試料セル22,及び波長選択性光素子52を含み、これら
は全てミラー26と28との間に形成される光共振器24内に置かれる。
は利得媒体20,ガス試料セル22,及び波長選択性光素子52を含み、これら
は全てミラー26と28との間に形成される光共振器24内に置かれる。
【0049】 図2aに示されるレーザキャビティ24は線型キャビティであるが、別のキャ
ビティ構造も本発明にしたがって用い得ることは当然である。そのような別のキ
ャビティ構造は、ILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波長バンド幅,Δ
νレーザが、検出されるべきガス種にともなう吸収帯の重なり部分のバンド幅,
Δν吸収と同程度である、すなわち1対1に整合するかあるいはΔν吸収内にち
ょうど収まる限り、許容される。
ビティ構造も本発明にしたがって用い得ることは当然である。そのような別のキ
ャビティ構造は、ILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波長バンド幅,Δ
νレーザが、検出されるべきガス種にともなう吸収帯の重なり部分のバンド幅,
Δν吸収と同程度である、すなわち1対1に整合するかあるいはΔν吸収内にち
ょうど収まる限り、許容される。
【0050】 図2aに示されるILSレーザでは、波長選択性光素子52が、(1)バンド幅
を狭め、(2)ILSレーザの波長を同調するはたらきをする。詳しくは、ILS
レーザ12が吸収帯の重なり部分のバンド幅以下の動作バンド幅を確実に有する
ように、波長選択性光素子52が選ばれる。さらに、波長選択性光素子52は、
ILSレーザ12の動作バンド幅が、例えば1つの特性吸収または複数の連続す
る特性吸収を含む吸収帯と一致するように同調されることを保証する。
を狭め、(2)ILSレーザの波長を同調するはたらきをする。詳しくは、ILS
レーザ12が吸収帯の重なり部分のバンド幅以下の動作バンド幅を確実に有する
ように、波長選択性光素子52が選ばれる。さらに、波長選択性光素子52は、
ILSレーザ12の動作バンド幅が、例えば1つの特性吸収または複数の連続す
る特性吸収を含む吸収帯と一致するように同調されることを保証する。
【0051】 図2aに示される波長選択性光素子52は、所要の狭バンド同調が得られる薄
い高反射率ファブリー−ペローエタロンとしてはたらく金属化ペリクルを含む。
金属化により、エタロンの仕上精度が向上し、バンド幅が狭められ、よって狭帯
域バンドパスフィルタがつくられる。ILSレーザ12の適切な波長への同調は
所望の波長を通過させる角度までエタロンを回転することにより達成できる。本
発明に適切に用い得るその他の波長選択性光素子52の例には、光バンドパスフ
ィルタ、回折格子、プリズム、電気光学バンドパスフィルタ、単板及び多板複屈
折フィルタ、及びこれらの組合せがある。
い高反射率ファブリー−ペローエタロンとしてはたらく金属化ペリクルを含む。
金属化により、エタロンの仕上精度が向上し、バンド幅が狭められ、よって狭帯
域バンドパスフィルタがつくられる。ILSレーザ12の適切な波長への同調は
所望の波長を通過させる角度までエタロンを回転することにより達成できる。本
発明に適切に用い得るその他の波長選択性光素子52の例には、光バンドパスフ
ィルタ、回折格子、プリズム、電気光学バンドパスフィルタ、単板及び多板複屈
折フィルタ、及びこれらの組合せがある。
【0052】 ILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波長バンド,Wレーザ (及びバン
ド幅,Δνレーザ)が利得媒体20及び、レーザキャビティ24内に置かれる光コ
ンポーネント上に形成されるいかなる光学コーティングにも、ミラー26及び2
8上に形成されるいかなる光学コーティングにも、依存することは当然である。
したがって、レーザキャビティ24内に波長選択性光素子52を入れる代わりに
、利得媒体20及びILSレーザ12に用いられる光コンポーネント、例えばミ
ラー26及び28、あるいはガス試料セル22の窓のいかなるコーティングも、
あるいは利得媒体20のコーティングも、上述した態様で測定されるべきガス種
にともなう吸収帯だけに重なるように、ILSレーザのとり得る(すなわち動作)
バンド幅,Wレーザを狭めて同調するために構成することができる。
ド幅,Δνレーザ)が利得媒体20及び、レーザキャビティ24内に置かれる光コ
ンポーネント上に形成されるいかなる光学コーティングにも、ミラー26及び2
8上に形成されるいかなる光学コーティングにも、依存することは当然である。
したがって、レーザキャビティ24内に波長選択性光素子52を入れる代わりに
、利得媒体20及びILSレーザ12に用いられる光コンポーネント、例えばミ
ラー26及び28、あるいはガス試料セル22の窓のいかなるコーティングも、
あるいは利得媒体20のコーティングも、上述した態様で測定されるべきガス種
にともなう吸収帯だけに重なるように、ILSレーザのとり得る(すなわち動作)
バンド幅,Wレーザを狭めて同調するために構成することができる。
【0053】 さらに、ILSレーザ12がその閾値でまたは閾値より若干上でILSレーザ
を駆動するためのポンピング源(図示せず)を必要とすることも当然である。例え
ば、利得媒体20に放射光を与える光ポンピング源を用いることができる。しか
し図2aに描かれるILSレーザについては、ILSレーザ12のとり得る(す
なわち動作)波長バンド,Wレーザは、利得媒体20が動作し得る波長バンド、
ミラー26及び28が反射している波長バンド、ミラー28が透過させている波
長バンド、さらにレーザキャビティ24内のその他のいずれのキャビティ内光素
子(例えば波長選択性光素子)もがそれぞれ伝えている波長バンドのたたみこみに
より定められる。
を駆動するためのポンピング源(図示せず)を必要とすることも当然である。例え
ば、利得媒体20に放射光を与える光ポンピング源を用いることができる。しか
し図2aに描かれるILSレーザについては、ILSレーザ12のとり得る(す
なわち動作)波長バンド,Wレーザは、利得媒体20が動作し得る波長バンド、
ミラー26及び28が反射している波長バンド、ミラー28が透過させている波
長バンド、さらにレーザキャビティ24内のその他のいずれのキャビティ内光素
子(例えば波長選択性光素子)もがそれぞれ伝えている波長バンドのたたみこみに
より定められる。
【0054】 図2aは、利得媒体20内で発生したレーザ光がガス試料セル22に向けられ
て、その中のガス試料を通過することを示す。上述したように、レーザキャビテ
ィ24内及び、特にガス試料セル22内のガス種が、吸収損失をもたらし得る。
しかし本発明にしたがえば、ILSレーザ12のとり得るバンド幅,Δνレーザ
は測定されているガス種にともなう吸収帯,W吸収の重なり部分のバンド幅,Δν 吸収 と同程度である。よって、キャビティ内ガス種による損失はILSレーザ1
2の出力パワーを減少させるであろう。したがって、ガス種の濃度を決定するた
めには、明確に定められた動作条件内でILSレーザ12が較正されなければな
らない。レーザから出てくる出力ビーム32は光検出器16で直接に検出される
。
て、その中のガス試料を通過することを示す。上述したように、レーザキャビテ
ィ24内及び、特にガス試料セル22内のガス種が、吸収損失をもたらし得る。
しかし本発明にしたがえば、ILSレーザ12のとり得るバンド幅,Δνレーザ
は測定されているガス種にともなう吸収帯,W吸収の重なり部分のバンド幅,Δν 吸収 と同程度である。よって、キャビティ内ガス種による損失はILSレーザ1
2の出力パワーを減少させるであろう。したがって、ガス種の濃度を決定するた
めには、明確に定められた動作条件内でILSレーザ12が較正されなければな
らない。レーザから出てくる出力ビーム32は光検出器16で直接に検出される
。
【0055】 最も簡単な形態において、光検出器16はフォトダイオード、光伝導体、また
は光電子増倍管のような単チャネル検出器である。その他の検出器も本発明に適
切に用いることができる。光検出器16の唯一の要件は、検出器がILSレーザ
ビーム32を検知し、結果としての電気信号をつくりだすことができなければな
らないことである。したがって、光検出器16から伸びる電気出力端子54が図
2aに描かれている。
は光電子増倍管のような単チャネル検出器である。その他の検出器も本発明に適
切に用いることができる。光検出器16の唯一の要件は、検出器がILSレーザ
ビーム32を検知し、結果としての電気信号をつくりだすことができなければな
らないことである。したがって、光検出器16から伸びる電気出力端子54が図
2aに描かれている。
【0056】 本発明のガス検出システム10は、集成分光計装置14もコンピュータ18も
用いられていない点が、図1aに示される従来技術のシステムと異なる。図2a
に描かれるガス検出システム10は、走査を行う分散光学素子も、多チャネル検
出器アレイも、光検出器16の前面に置かれるスリットも必要としない。
用いられていない点が、図1aに示される従来技術のシステムと異なる。図2a
に描かれるガス検出システム10は、走査を行う分散光学素子も、多チャネル検
出器アレイも、光検出器16の前面に置かれるスリットも必要としない。
【0057】 さらに、従来技術に示される光検出システム10は、検出されるべきガス種に
ともなう吸収帯にのみ一致させるためにILSレーザ12の動作バンド幅を狭め
て同調する波長選択性光素子52を、レーザキャビティ24内に含んでいない。
ともなう吸収帯にのみ一致させるためにILSレーザ12の動作バンド幅を狭め
て同調する波長選択性光素子52を、レーザキャビティ24内に含んでいない。
【0058】 ILSレーザ12の動作バンド幅が、重ねられる吸収帯のバンド幅よりかなり
広い従来技術の方法では、高濃度の吸収を行っているガス種がレーザキャビティ
24内に存在する場合にもレーザは動作し続けるであろう。ILSレーザ12の
とり得る全利得バンド幅より狭い光損失により、吸収損失が無いかまたは低めら
れる波長領域への光エネルギーの再分布がレーザに生じるであろう。すなわち、
レーザは別の波長においてのみ動作を続けるであろう。
広い従来技術の方法では、高濃度の吸収を行っているガス種がレーザキャビティ
24内に存在する場合にもレーザは動作し続けるであろう。ILSレーザ12の
とり得る全利得バンド幅より狭い光損失により、吸収損失が無いかまたは低めら
れる波長領域への光エネルギーの再分布がレーザに生じるであろう。すなわち、
レーザは別の波長においてのみ動作を続けるであろう。
【0059】 対照的に、吸収損失がILSレーザ12の全動作バンド幅,Δνレーザの大部
分を確実に占めることにより、本発明は別の波長への光エネルギーの再分布を抑
制する。
分を確実に占めることにより、本発明は別の波長への光エネルギーの再分布を抑
制する。
【0060】 ILSは従来技術の方法より高められた感度を提供するから、かつては測定さ
れなかった弱い遷移が本発明のガス検出システム10により初めて測定可能とな
り得る。様々な特性吸収のスペクトル上の位置を示す、ILSレーザ12をどこ
に同調させるべきかについての知識を、注目するガス種の分光学的研究から得な
ければならない。ILSレーザ12の分光出力を1つ(または複数の)特性吸収に
整合させるためには、ILSレーザ12の波長及び動作バンド幅をいかにして光
学的に制御するべきかについての理解も必要である。
れなかった弱い遷移が本発明のガス検出システム10により初めて測定可能とな
り得る。様々な特性吸収のスペクトル上の位置を示す、ILSレーザ12をどこ
に同調させるべきかについての知識を、注目するガス種の分光学的研究から得な
ければならない。ILSレーザ12の分光出力を1つ(または複数の)特性吸収に
整合させるためには、ILSレーザ12の波長及び動作バンド幅をいかにして光
学的に制御するべきかについての理解も必要である。
【0061】 さらに、誤って真と読み取られる信号を生じさせ得るスペクトル干渉がおこる
可能性を排除するために、ある与えられたガス試料に存在する可能性があるいか
なる付加的ガス種についても分光学的研究が必要である。そのような付加的ガス
種が検出されてはならない場合には、ILSレーザ12の分光出力をそのような
ほかのガス種でつくられるいかなる特性吸収からも離して同調させなければなら
ない。そうすれば、その他のガス種による特性吸収からの潜在的寄与は、ILS
レーザ12が光を放射する波長領域に存在しないであろう。すなわちILSレー
ザ12の動作波長は、(1)検出されるべきガス種にともなう特性吸収に一致し、
(2)注目していないガス種からのスペクトル干渉を避けるように選ばれなければ
ならない。上述の要件が満足されれば、ILSレーザ12の出力とのスペクトル
相互作用は測定されるべきガス種による吸収のみに帰するであろう。したがって
ILSレーザ12の出力強度により、較正されていれば、検出されるガス種の濃
度が正確に測定されるであろう。
可能性を排除するために、ある与えられたガス試料に存在する可能性があるいか
なる付加的ガス種についても分光学的研究が必要である。そのような付加的ガス
種が検出されてはならない場合には、ILSレーザ12の分光出力をそのような
ほかのガス種でつくられるいかなる特性吸収からも離して同調させなければなら
ない。そうすれば、その他のガス種による特性吸収からの潜在的寄与は、ILS
レーザ12が光を放射する波長領域に存在しないであろう。すなわちILSレー
ザ12の動作波長は、(1)検出されるべきガス種にともなう特性吸収に一致し、
(2)注目していないガス種からのスペクトル干渉を避けるように選ばれなければ
ならない。上述の要件が満足されれば、ILSレーザ12の出力とのスペクトル
相互作用は測定されるべきガス種による吸収のみに帰するであろう。したがって
ILSレーザ12の出力強度により、較正されていれば、検出されるガス種の濃
度が正確に測定されるであろう。
【0062】 ILSレーザ12が動作する、選ばれたスペクトル領域は、測定されているガ
ス種にともなう吸収帯のみに一致するから、ガス種が何であるかがわかる。
ス種にともなう吸収帯のみに一致するから、ガス種が何であるかがわかる。
【0063】 明確に定められた動作条件の下でILSレーザ12の出力強度をレーザキャビ
ティ24内の既知のガス種濃度で較正することにより、ガス種の濃度がわかる。
この濃度は、温度、圧力、レーザ利得、生成時間(tg)すなわちキャビティ内モ
ードの許容競合時間、及びILSレーザ12の出力強度を変えるその他のいかな
るパラメータも含む、特定の動作パラメータの組合せに依存する。ガス検出シス
テム10が較正された状態にあることを保証するためには、上記の動作パラメー
タが一定に保たれなければならないことは当然である。あるいは、上記の動作パ
ラメータを変えることにより、ガス検出システムの較正された感度が変わり、よ
ってガス検出システムのダイナミックレンジを拡げるための、様々な明確に定め
られた動作条件の下での多重較正が可能になる。いずれにしても、広範囲な使用
で較正を維持するガス検出システム10を構成するためには、ILSレーザ12
の出力強度に影響する特定の動作パラメータについての知識が必要である。
ティ24内の既知のガス種濃度で較正することにより、ガス種の濃度がわかる。
この濃度は、温度、圧力、レーザ利得、生成時間(tg)すなわちキャビティ内モ
ードの許容競合時間、及びILSレーザ12の出力強度を変えるその他のいかな
るパラメータも含む、特定の動作パラメータの組合せに依存する。ガス検出シス
テム10が較正された状態にあることを保証するためには、上記の動作パラメー
タが一定に保たれなければならないことは当然である。あるいは、上記の動作パ
ラメータを変えることにより、ガス検出システムの較正された感度が変わり、よ
ってガス検出システムのダイナミックレンジを拡げるための、様々な明確に定め
られた動作条件の下での多重較正が可能になる。いずれにしても、広範囲な使用
で較正を維持するガス検出システム10を構成するためには、ILSレーザ12
の出力強度に影響する特定の動作パラメータについての知識が必要である。
【0064】 ここで図2bを参照すると、汚染種濃度に対するILSレーザ12の出力強度
が異なる2つの動作条件について示されている。曲線56は、閾値近くで動作し
ているILSレーザ12に対応し、汚染種濃度の小さな変化に対してレーザ出力
強度はより感度の高い変化を示している。レーザがもはや閾値に達せず、レーザ
動作が停止する点まで汚染種濃度が増加する、特殊な事例も表されている。曲線
58は、閾値のはるか上で(すなわちより高利得で)動作しているILSレーザ
12に対応し、汚染種濃度のある与えられた変化に応答するレーザ出力の変化は
曲線56で実証された動作条件での場合よりも小さい。しかし、曲線58で実証
された動作条件の下では、ガス検出システムのダイナミックレンジが広くなって
いる。曲線58はまた、レーザがもはや閾値に達せず、レーザ動作が停止する点
まで汚染種濃度が高くなる特殊な事例も表している。しかし、曲線58で実証さ
れる動作条件に対しては、汚染種濃度がより高くなるまで、レーザ出力は閾値ま
で下がらない。
が異なる2つの動作条件について示されている。曲線56は、閾値近くで動作し
ているILSレーザ12に対応し、汚染種濃度の小さな変化に対してレーザ出力
強度はより感度の高い変化を示している。レーザがもはや閾値に達せず、レーザ
動作が停止する点まで汚染種濃度が増加する、特殊な事例も表されている。曲線
58は、閾値のはるか上で(すなわちより高利得で)動作しているILSレーザ
12に対応し、汚染種濃度のある与えられた変化に応答するレーザ出力の変化は
曲線56で実証された動作条件での場合よりも小さい。しかし、曲線58で実証
された動作条件の下では、ガス検出システムのダイナミックレンジが広くなって
いる。曲線58はまた、レーザがもはや閾値に達せず、レーザ動作が停止する点
まで汚染種濃度が高くなる特殊な事例も表している。しかし、曲線58で実証さ
れる動作条件に対しては、汚染種濃度がより高くなるまで、レーザ出力は閾値ま
で下がらない。
【0065】 次に図3を参照すると、本発明の別の実施形態が示される。本発明にしたがえ
ば、図3に描かれるILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波長バンド幅
(Δνレーザ)は、測定されるべきガス種にともなう吸収帯すなわち領域(W吸 収 )に排他的に一致するのに十分に狭い。したがって、波長選択性光素子52は
レーザキャビティ24内に挿入されていない。
ば、図3に描かれるILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波長バンド幅
(Δνレーザ)は、測定されるべきガス種にともなう吸収帯すなわち領域(W吸 収 )に排他的に一致するのに十分に狭い。したがって、波長選択性光素子52は
レーザキャビティ24内に挿入されていない。
【0066】 上で論じたように、“吸収帯”は吸収がそれぞれの波長でおこる吸収スペクト
ルにおける単一の連続波長領域として定義される。したがって、吸収が見られな
い領域,Bにより隔てられた2本の吸収線,A1及びA2を吸収スペクトルが含ん
でいれば、2本の吸収線,A1及びA2は別々の吸収帯に対応する。しかし、2
本の吸収線,A1及びA2が極小吸収(すなわち極大強度)で隔てられているだ
けであれば、2本の吸収線,A1及びA2は単一の吸収帯に対応する。
ルにおける単一の連続波長領域として定義される。したがって、吸収が見られな
い領域,Bにより隔てられた2本の吸収線,A1及びA2を吸収スペクトルが含ん
でいれば、2本の吸収線,A1及びA2は別々の吸収帯に対応する。しかし、2
本の吸収線,A1及びA2が極小吸収(すなわち極大強度)で隔てられているだ
けであれば、2本の吸収線,A1及びA2は単一の吸収帯に対応する。
【0067】 本発明にしたがえば、図3に描かれるガス検出システム10は、ILSレーザ
12及び光検出器16を含む。ILSレーザ12はミラー26及び28で定めら
れるレーザキャビティ24内に位置する利得媒体20を含む。レーザキャビティ
24は線型キャビティであり、利得媒体20はイオンドープ結晶を含む。第1の
ミラー26はイオンドープ結晶の一端60上に反射コーティングを被着すること
により形成される。第2のミラー28は曲面反射器を含む。
12及び光検出器16を含む。ILSレーザ12はミラー26及び28で定めら
れるレーザキャビティ24内に位置する利得媒体20を含む。レーザキャビティ
24は線型キャビティであり、利得媒体20はイオンドープ結晶を含む。第1の
ミラー26はイオンドープ結晶の一端60上に反射コーティングを被着すること
により形成される。第2のミラー28は曲面反射器を含む。
【0068】 図3に示されるレーザキャビティ24は線型キャビティであるが、別のキャビ
ティ構造も本発明にしたがって用い得ることがことは当然である。そのような別
のキャビティ構造は、ILSレーザ12の動作バンド幅,Δνレーザが、検出さ
れるべきガス種にともなう吸収帯の重なり部分のバンド幅と同程度である限り、
すなわち1対1で整合するかあるいはその中にちょうど収まる限り、許容できる
。
ティ構造も本発明にしたがって用い得ることがことは当然である。そのような別
のキャビティ構造は、ILSレーザ12の動作バンド幅,Δνレーザが、検出さ
れるべきガス種にともなう吸収帯の重なり部分のバンド幅と同程度である限り、
すなわち1対1で整合するかあるいはその中にちょうど収まる限り、許容できる
。
【0069】 本発明のこの第2の実施形態において、利得媒体20として用いられるイオン
ドープ結晶は、Tm3+:Tb3+:YLF結晶である。しかし、考えられる用途
に適したその他のイオンドープ結晶も用い得ることは当然である。したがって、
以下に列挙されるイオンドープ結晶を含む、本明細書に特定的に開示されるイオ
ンドープ結晶が全てを網羅しているはずであるとは考えていない。
ドープ結晶は、Tm3+:Tb3+:YLF結晶である。しかし、考えられる用途
に適したその他のイオンドープ結晶も用い得ることは当然である。したがって、
以下に列挙されるイオンドープ結晶を含む、本明細書に特定的に開示されるイオ
ンドープ結晶が全てを網羅しているはずであるとは考えていない。
【0070】 本発明の方法及び装置に適切に用い得るイオンドープ結晶の例には、Cr:T
m:Ho:YAG,Cr4+:YSO,Cr4+:YAG,Cr4+:YSAG,E
r3+:GSGG,Er3+:YSGG,Er3+:YLF,Er3+:Yb3+:
ガラス,Ho3+:YSGG,Ho3+:Tm3+:LUAG,Tm3+:Ho3+ :YLF,Tm3+:Ho3+:YAG,Tm3+:Ca Y SOP,Tm3+:Y
LF,Tm3+:ガラス,Tm3+:Ca La SOP,Tm3+:YOS,Tm
3+:YSGG,Tm3+:YAG,Tm3+:YVO4,Yb3+:YAG,Cr
:ケイ酸マグネシウム,Er:Yg:ガラス,CO2:MgF2,Cr2+:ZnS
e,及びCr2+:ZnS/ZnSe/ZnTeがある。その他の材料も、ガスで
あろうと、液体であろうと、あるいは固体であろうとも、利得媒体20として用
いることができる。
m:Ho:YAG,Cr4+:YSO,Cr4+:YAG,Cr4+:YSAG,E
r3+:GSGG,Er3+:YSGG,Er3+:YLF,Er3+:Yb3+:
ガラス,Ho3+:YSGG,Ho3+:Tm3+:LUAG,Tm3+:Ho3+ :YLF,Tm3+:Ho3+:YAG,Tm3+:Ca Y SOP,Tm3+:Y
LF,Tm3+:ガラス,Tm3+:Ca La SOP,Tm3+:YOS,Tm
3+:YSGG,Tm3+:YAG,Tm3+:YVO4,Yb3+:YAG,Cr
:ケイ酸マグネシウム,Er:Yg:ガラス,CO2:MgF2,Cr2+:ZnS
e,及びCr2+:ZnS/ZnSe/ZnTeがある。その他の材料も、ガスで
あろうと、液体であろうと、あるいは固体であろうとも、利得媒体20として用
いることができる。
【0071】 図3はさらに、レーザキャビティ24内に位置するガス試料セル22を示す。
ガス試料セル22はレーザコンポーネントからガス試料を隔離する。非腐食性ガ
ス試料に対してはガス試料セル22が必要でないことは当然であり、この場合に
は、ガス試料を全レーザキャビティ24内に入れることができる。
ガス試料セル22はレーザコンポーネントからガス試料を隔離する。非腐食性ガ
ス試料に対してはガス試料セル22が必要でないことは当然であり、この場合に
は、ガス試料を全レーザキャビティ24内に入れることができる。
【0072】 ガス試料セル22には流入導管62及び流出導管64が設けられる。セルの窓
66及び68のそれぞれはガス試料セル22の両遠位端に取り付けられ、ビーム
70に分析されるべきガス試料を通過させる。また、窓66及び68はガス試料
セル22を封止する。
66及び68のそれぞれはガス試料セル22の両遠位端に取り付けられ、ビーム
70に分析されるべきガス試料を通過させる。また、窓66及び68はガス試料
セル22を封止する。
【0073】 ガス試料セル22がILSレーザ12を収めるチャンバ72内に存在する場合
には、検出されるべきガス種がチャンバから除去または排除される必要がある。
チャンバ72からガス種を除去することにより、ガス検出システム10を用いて
得られるシステム応答は、ガス試料セル22内に入れられたガス種の存在及び量
を正確に示す。チャンバ72からガス種をパージするか排気した後に、(例えば
ガス試料が腐食性ガスを含む場合には)ガス試料が流入導管62及び流出導管6
4を介してガス試料セル22に供給される。しかし、ガス試料がレーザコンポー
ネントと化学的な反応をおこさないような場合には、ガス試料をチャンバ72に
通すことができる。
には、検出されるべきガス種がチャンバから除去または排除される必要がある。
チャンバ72からガス種を除去することにより、ガス検出システム10を用いて
得られるシステム応答は、ガス試料セル22内に入れられたガス種の存在及び量
を正確に示す。チャンバ72からガス種をパージするか排気した後に、(例えば
ガス試料が腐食性ガスを含む場合には)ガス試料が流入導管62及び流出導管6
4を介してガス試料セル22に供給される。しかし、ガス試料がレーザコンポー
ネントと化学的な反応をおこさないような場合には、ガス試料をチャンバ72に
通すことができる。
【0074】 上で論じたように、ILSレーザ12には利得媒体20を励起するためのポン
ピング源74が必要である。イオンドープ結晶利得媒体20の光励起は、半導体
ダイオードレーザ76を含むポンピング源74により与えられる。
ピング源74が必要である。イオンドープ結晶利得媒体20の光励起は、半導体
ダイオードレーザ76を含むポンピング源74により与えられる。
【0075】 ポンピング源74は、ILSレーザ12を駆動する、コヒーレントであるかイ
ンコヒーレントであるか、連続波かパルス波かの、適当ないかなる光ポンピング
源も含み得ることは当然である。例えばポンピング源74はその代わりに、固体
結晶レーザ(例えばNd:YAG)、ガスレーザ、1つないしそれ以上のフラッ
シュランプ、ファイバレーザ、またはILSレーザ12のポンピングに適当なそ
の他のいかなるポンピング源も含み得る。
ンコヒーレントであるか、連続波かパルス波かの、適当ないかなる光ポンピング
源も含み得ることは当然である。例えばポンピング源74はその代わりに、固体
結晶レーザ(例えばNd:YAG)、ガスレーザ、1つないしそれ以上のフラッ
シュランプ、ファイバレーザ、またはILSレーザ12のポンピングに適当なそ
の他のいかなるポンピング源も含み得る。
【0076】 図3は、電源78により電力が与えられ、また熱電冷却器80により冷却され
ている半導体ダイオードレーザ76を示す。半導体ダイオードレーザ76及び熱
電冷却器80は、半導体ダイオードレーザで発生する熱を放散するために与えら
れたヒートシンク82に搭載される。
ている半導体ダイオードレーザ76を示す。半導体ダイオードレーザ76及び熱
電冷却器80は、半導体ダイオードレーザで発生する熱を放散するために与えら
れたヒートシンク82に搭載される。
【0077】 しかし、ポンピング源74として半導体ダイオードレーザ76を使用すると、
半導体ダイオードレーザ76とILSレーザ12との間の光整合を容易にするた
めのビーム整形光学系84が一般に必要である。ビーム整形光学系の例には、回
折光学系、屈折光学系、屈折率が軸方向で変化する分布屈折率光学系、屈折率が
径方向で変化する分布屈折率光学系、微小光学系、及びこれらの組合せがある。
図3は、一対のアナモルフィックプリズム86及び一対のレンズ88を含む、巨
視的光学系からなるビーム整形光学系84を示す。あるいは、ビーム拡大望遠鏡
または半導体ダイオードレーザ76から数μm以内に置かれた微小光学系を用い
ることもできる。
半導体ダイオードレーザ76とILSレーザ12との間の光整合を容易にするた
めのビーム整形光学系84が一般に必要である。ビーム整形光学系の例には、回
折光学系、屈折光学系、屈折率が軸方向で変化する分布屈折率光学系、屈折率が
径方向で変化する分布屈折率光学系、微小光学系、及びこれらの組合せがある。
図3は、一対のアナモルフィックプリズム86及び一対のレンズ88を含む、巨
視的光学系からなるビーム整形光学系84を示す。あるいは、ビーム拡大望遠鏡
または半導体ダイオードレーザ76から数μm以内に置かれた微小光学系を用い
ることもできる。
【0078】 図3はさらに、ビーム整形光学系84と利得媒体20との間に挿入された第1
の変調器90を示す。第1の変調器90は変調器ドライバ92により電力が与え
られ、制御される。第1の変調器90は半導体ダイオードレーザ76から出てく
るポンピングビーム96を交互に減衰及び透過し、よってポンピングビームによ
る利得媒体20のポンピングを周期的に妨げる。このようにして、第1の変調器
90はポンピングビーム96に利得媒体20の再帰的なポンピングをおこさせ、
よってILSレーザ12がオンとオフの間で切り換えられる。
の変調器90を示す。第1の変調器90は変調器ドライバ92により電力が与え
られ、制御される。第1の変調器90は半導体ダイオードレーザ76から出てく
るポンピングビーム96を交互に減衰及び透過し、よってポンピングビームによ
る利得媒体20のポンピングを周期的に妨げる。このようにして、第1の変調器
90はポンピングビーム96に利得媒体20の再帰的なポンピングをおこさせ、
よってILSレーザ12がオンとオフの間で切り換えられる。
【0079】 第2の変調器94が、ILSレーザ12を出てくる出力ビーム32の行路に挿
入される。第2の変調器94はレーザキャビティ24を出てくる出力ビームを交
互に減衰及び透過し、よって、出力を光検出器16に通すことによるILSレー
ザ12からの出力ビームの周期的なサンプリングを行う。
入される。第2の変調器94はレーザキャビティ24を出てくる出力ビームを交
互に減衰及び透過し、よって、出力を光検出器16に通すことによるILSレー
ザ12からの出力ビームの周期的なサンプリングを行う。
【0080】 第1の変調器90がポンピングビーム96の全強度を周期的に利得媒体20に
到達させ、一方第2の変調器94が出力ビーム32の全強度を周期的に光検出器
16に到達させるように、第2の変調器94は第1の変調器90と同期される。
両変調器90及び94を用いることにより、利得媒体20における利得がガス種
により生じる吸収損失と競合する時間の長さの制御が与えられる。詳しくは、生
成時間,tgの値を2つの変調器94及び94を用いて調節することができる。
本明細書で用いられるように、“生成時間”は、測定の前にILSレーザ12内
でモード競合が生じている時間として定義される。(あるいはポンピング源74
の出力をパルス化し、よってポンピングビーム96を低強度値と高強度値との間
で交互させて、利得媒体20を交互に閾値の下及び上(または閾値)におくこと
により、第1の変調器90及び/または第2の変更器94を使用せずに、生成時
間,tgを変えることができる)。
到達させ、一方第2の変調器94が出力ビーム32の全強度を周期的に光検出器
16に到達させるように、第2の変調器94は第1の変調器90と同期される。
両変調器90及び94を用いることにより、利得媒体20における利得がガス種
により生じる吸収損失と競合する時間の長さの制御が与えられる。詳しくは、生
成時間,tgの値を2つの変調器94及び94を用いて調節することができる。
本明細書で用いられるように、“生成時間”は、測定の前にILSレーザ12内
でモード競合が生じている時間として定義される。(あるいはポンピング源74
の出力をパルス化し、よってポンピングビーム96を低強度値と高強度値との間
で交互させて、利得媒体20を交互に閾値の下及び上(または閾値)におくこと
により、第1の変調器90及び/または第2の変更器94を使用せずに、生成時
間,tgを変えることができる)。
【0081】 ポンピングの中断は、機械的に動作するチョッパ、電気光学または音響光学変
調器及びシャッタの使用を含むが、これらには限定されない、様々な手段を用い
て達成することができる。あるいはポンピング源74(例えば半導体ダイオード
レーザ76)に供給される電力を変え、よってレーザ動作に必要な閾値のすぐ上
及びすぐ下に利得媒体20を周期的におく、高強度値及び低強度値との間の変動
を半導体ダイオードレーザの出力に生じさせることができる。
調器及びシャッタの使用を含むが、これらには限定されない、様々な手段を用い
て達成することができる。あるいはポンピング源74(例えば半導体ダイオード
レーザ76)に供給される電力を変え、よってレーザ動作に必要な閾値のすぐ上
及びすぐ下に利得媒体20を周期的におく、高強度値及び低強度値との間の変動
を半導体ダイオードレーザの出力に生じさせることができる。
【0082】 さらに、第2の変調器94は音響光学変調器を含むが、機械的に動作するチョ
ッパまたはシャッタのようなその他の器具も本発明の方法及び装置に適切に用い
得ることは当然である。あるいは、第2の変調器94を用いる代わりに、光検出
器16をオンとオフの間で交互に切り換えて、ILSレーザ12の出力を周期的
にサンプリングすることもできる。
ッパまたはシャッタのようなその他の器具も本発明の方法及び装置に適切に用い
得ることは当然である。あるいは、第2の変調器94を用いる代わりに、光検出
器16をオンとオフの間で交互に切り換えて、ILSレーザ12の出力を周期的
にサンプリングすることもできる。
【0083】 図3は光検出器16に向けられているILSレーザ12からの出力ビーム32
を描いている。その代わりに、ILSレーザ12からの光出力を光ファイバリン
ク、すなわち光ファイバまたは光ファイバ束を介して、光検出器16が置かれて
いる離れた場所に送り得ることは当然である。
を描いている。その代わりに、ILSレーザ12からの光出力を光ファイバリン
ク、すなわち光ファイバまたは光ファイバ束を介して、光検出器16が置かれて
いる離れた場所に送り得ることは当然である。
【0084】 上で論じたように、本発明のILSレーザ12のとり得る(すなわち動作)波
長バンド,Wレーザは、測定されるべきガス種の吸収スペクトルの単一吸収帯す
なわち領域に排他的に一致するのに十分に狭いことが好ましい。利得媒体20が
Tm3+:Tb3+:YLFを含む、図3に示されるILSレーザ12については
、その波長バンド幅が水蒸気の吸収スペクトルの単一吸収帯に直接に重なる。
長バンド,Wレーザは、測定されるべきガス種の吸収スペクトルの単一吸収帯す
なわち領域に排他的に一致するのに十分に狭いことが好ましい。利得媒体20が
Tm3+:Tb3+:YLFを含む、図3に示されるILSレーザ12については
、その波長バンド幅が水蒸気の吸収スペクトルの単一吸収帯に直接に重なる。
【0085】 水蒸気についての吸収データを、第1の変調器90が用いられていないことを
除き、図3に簡略に示したものと同様のILSレーザ12を用いて得た。その代
わりに、半導体ダイオードレーザ76への電力を変調した。さらに、ILSレー
ザ12の出力を分散し、よって図4に描かれるグラフをつくるために、図1aに
示したものと同様の集成分光計装置14が必要であった。ただし、ILSレーザ
12は、半導体ダイオードレーザ76で光励起された、Tm3+:Tb3+:YL
Fからなるイオンドープ結晶を含んでいた。
除き、図3に簡略に示したものと同様のILSレーザ12を用いて得た。その代
わりに、半導体ダイオードレーザ76への電力を変調した。さらに、ILSレー
ザ12の出力を分散し、よって図4に描かれるグラフをつくるために、図1aに
示したものと同様の集成分光計装置14が必要であった。ただし、ILSレーザ
12は、半導体ダイオードレーザ76で光励起された、Tm3+:Tb3+:YL
Fからなるイオンドープ結晶を含んでいた。
【0086】 図4は窒素ガス中の高濃度の水蒸気についての正規化レーザ強度/水の吸収対
波長のグラフを示す。図4は1450nmから1455nmの波長領域での水蒸
気の分光識別特性を示している。1452.5nm及び1452.1nmにある水
の吸収線がそれぞれ矢印98及び100で示されている。これらの2本の吸収線
は極小吸収により隔てられた特性吸収と考えられる。これらの2本の吸収線は合
同し、よってダイオードでポンピングされたTm3+:Tb3+:YLFのバンド
幅内で一致する単一の吸収帯すなわち領域を形成する。図4は、ダイオードレー
ザでポンピングされたTm3+:Tb3+:YLF ILSレーザのバンド幅が2
本の水の吸収線によりつくられる水の吸収帯とおおよそ同程度である(実際には
水の吸収帯より若干広い)ことを示す。濃度が十分高い場合には、これらの2本
の吸収線を含む吸収帯すなわち領域はILSレーザ12の動作バンド幅に重なり
、これを包含する(すなわち、少なくともILSレーザ12の動作バンド幅より
広い)。したがって、ILSレーザ12からの出力強度は低下されるかまたは失
われる。
波長のグラフを示す。図4は1450nmから1455nmの波長領域での水蒸
気の分光識別特性を示している。1452.5nm及び1452.1nmにある水
の吸収線がそれぞれ矢印98及び100で示されている。これらの2本の吸収線
は極小吸収により隔てられた特性吸収と考えられる。これらの2本の吸収線は合
同し、よってダイオードでポンピングされたTm3+:Tb3+:YLFのバンド
幅内で一致する単一の吸収帯すなわち領域を形成する。図4は、ダイオードレー
ザでポンピングされたTm3+:Tb3+:YLF ILSレーザのバンド幅が2
本の水の吸収線によりつくられる水の吸収帯とおおよそ同程度である(実際には
水の吸収帯より若干広い)ことを示す。濃度が十分高い場合には、これらの2本
の吸収線を含む吸収帯すなわち領域はILSレーザ12の動作バンド幅に重なり
、これを包含する(すなわち、少なくともILSレーザ12の動作バンド幅より
広い)。したがって、ILSレーザ12からの出力強度は低下されるかまたは失
われる。
【0087】 レーザ強度/水の吸収対窒素ガス中の水の濃度(単位:体積で1兆分の1)の
グラフが図5に示される(インライン型ガス純化器を窒素ガスからの水分除去に
用いた)。図5は、濃度が高くなるにつれて吸収線におけるILSレーザ12か
らの光出力の強度がどのように低下するかを示している。
グラフが図5に示される(インライン型ガス純化器を窒素ガスからの水分除去に
用いた)。図5は、濃度が高くなるにつれて吸収線におけるILSレーザ12か
らの光出力の強度がどのように低下するかを示している。
【0088】 実験データに基づく曲線102は、水蒸気濃度が高くなるとともにILSレー
ザ12の出力強度が減少する傾向を確証している。曲線102にフィッティング
させた曲線104は、水蒸気濃度を曲線102で示されるより高い濃度まで外挿
したときのILSレーザ12の強度を示す。曲線104は、十分高い水蒸気濃度
ではILSレーザ12の出力が完全に消失するであろうことを示している。
ザ12の出力強度が減少する傾向を確証している。曲線102にフィッティング
させた曲線104は、水蒸気濃度を曲線102で示されるより高い濃度まで外挿
したときのILSレーザ12の強度を示す。曲線104は、十分高い水蒸気濃度
ではILSレーザ12の出力が完全に消失するであろうことを示している。
【0089】 すなわち、ILSレーザ12がとり得るすなわち動作バンド幅,Δνレーザが
測定されているキャビティ内ガス種に起因する吸収帯の重なり部分のバンド幅,
Δν吸収と同程度である場合には、本発明の方法及び装置を前記ガス種の同定及
び濃度測定のいずれにも利用することができる。
測定されているキャビティ内ガス種に起因する吸収帯の重なり部分のバンド幅,
Δν吸収と同程度である場合には、本発明の方法及び装置を前記ガス種の同定及
び濃度測定のいずれにも利用することができる。
【0090】 本発明の方法を利用することにより、ILSレーザ12の出力の波長分散のマ
ッピングに依存する従来技術のILS検出器よりも、かなり小さく、単純で、安
価であり、使用が容易なILSガス検出システム10が得られる。より小さく、
より低コストで、操作が簡単であることの結果として、本発明のガス検出システ
ム10を、ガス検出において全く別個の様々な用途に向けることができる。
ッピングに依存する従来技術のILS検出器よりも、かなり小さく、単純で、安
価であり、使用が容易なILSガス検出システム10が得られる。より小さく、
より低コストで、操作が簡単であることの結果として、本発明のガス検出システ
ム10を、ガス検出において全く別個の様々な用途に向けることができる。
【0091】 以上、既定の濃度のガス種の存在を検出するための方法及び装置を開示した。
特許請求の範囲に表明される本発明の範囲を逸脱することなく、本明細書に述べ
られた要素の構成及び配置に様々な改変がなされ得ることが、当業者には容易に
明らかであろう。さらに、ガス検出システム10の適用対象も、例えば半導体製
造ラインのような、ILSガス検出器の設置場所も、所望に応じて変えることが
できる。例えば、ILSチャンバ72内の様々な要素の特定の配置及びガス検出
システム10自体を、それらの構成及び配置がILSレーザ12の光励起を容易
に再現可能な態様で適切に可能にする限り、改変することができる。現在知られ
ているかまたは今後当業者により案出される、本発明の構成、配置及び適用にお
ける上記及びその他の改変は、特許請求の範囲で考慮されている。
特許請求の範囲に表明される本発明の範囲を逸脱することなく、本明細書に述べ
られた要素の構成及び配置に様々な改変がなされ得ることが、当業者には容易に
明らかであろう。さらに、ガス検出システム10の適用対象も、例えば半導体製
造ラインのような、ILSガス検出器の設置場所も、所望に応じて変えることが
できる。例えば、ILSチャンバ72内の様々な要素の特定の配置及びガス検出
システム10自体を、それらの構成及び配置がILSレーザ12の光励起を容易
に再現可能な態様で適切に可能にする限り、改変することができる。現在知られ
ているかまたは今後当業者により案出される、本発明の構成、配置及び適用にお
ける上記及びその他の改変は、特許請求の範囲で考慮されている。
【図1a】 ILSレーザ、集成分光計装置、光検出器、及び光検出器からの電気的出力を
分析するためのコンピュータを含む、従来技術のガス検出システムを描いた断面
図である
分析するためのコンピュータを含む、従来技術のガス検出システムを描いた断面
図である
【図1b】 従来技術のILSレーザの、(i)吸収を行うガス種がレーザキャビティ内に存
在する場合及び(ii)吸収を行うガス種がレーザキャビティ内に存在しない場合の
スペクトル分解された出力の、強度及び波長を座標とするグラフである
在する場合及び(ii)吸収を行うガス種がレーザキャビティ内に存在しない場合の
スペクトル分解された出力の、強度及び波長を座標とするグラフである
【図2a】 ILSレーザ及び光検出器を含む、本発明のガス検出システムを描いた断面図
である
である
【図2b】 2種類の相異なるILSレーザ動作条件に対する、本発明のILSレーザの総
出力パワーの、強度及び濃度を座標とするグラフである
出力パワーの、強度及び濃度を座標とするグラフである
【図3】 本発明のILSレーザの別の実施形態を簡略に示す
【図4】 高水蒸気濃度に対する、1450nmから1455nmの波長にかけての吸収
スペクトルを示す、レーザ強度/水の吸収(任意単位)及び波長(単位:nm)を座
標とするグラフである
スペクトルを示す、レーザ強度/水の吸収(任意単位)及び波長(単位:nm)を座
標とするグラフである
【図5】 窒素ガスから水分を除去するために用いられるインライン型ガス純化器により
定められた、窒素ガス中の水濃度に対するレーザ強度を示す、レーザ強度/水の
吸収(任意単位)及び濃度(単位:pptv)を座標とするグラフである
定められた、窒素ガス中の水濃度に対するレーザ強度を示す、レーザ強度/水の
吸収(任意単位)及び濃度(単位:pptv)を座標とするグラフである
10 ILSガス検知システム 12 ILSレーザ 16 光検出器 20 利得媒体 22 ガス試料セル 24 レーザキャビティ 26,28 ミラー 32 レーザ出力ビーム 52 波長選択性光素子 54 電気出力端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01J 3/32 G01J 3/32 3/42 3/42 U 3/45 3/45 G01N 21/01 G01N 21/01 D H01S 3/00 H01S 3/00 F (72)発明者 ピルグリム,ジェフリー エス アメリカ合衆国 ニューメキシコ州 87505 サンタフェ エスカイナ ロード 19 Fターム(参考) 2G020 AA03 BA02 BA03 BA12 CA02 CB04 CB06 CB07 CB23 CB42 CB51 CC02 CC13 CC23 CC27 CC30 CC31 CC48 CC55 CD03 CD13 CD22 2G059 AA01 BB01 CC02 DD12 DD13 EE01 EE12 GG01 GG02 GG07 HH01 JJ05 JJ11 JJ13 JJ24 KK04 MM01 MM09 5F072 AB01 AB15 AB20 HH09 MM03 MM06 PP01 PP07 YY11
Claims (10)
- 【請求項1】 ガス試料中の較正された範囲内にある特定の濃度のガス種の
存在を検出するためのガス検出システム(10)において、前記ガス種が少なくと
も1つの単一連続波長バンド内の光を吸収し、前記システムが: (a) (i)レーザキャビティ(24)と; (ii)イオンドープ結晶を含む利得媒体(20)と; を含むILSレーザ(12);前記ILSレーザ(12)は前記ガス種が吸収を行う
前記少なくとも1つの単一連続波長バンド内に完全に含まれる波長においてのみ
動作するように構成され、前記ガス種により誘起される前記吸収は較正された範
囲内で前記ILSレーザ(12)の総出力強度を変えるのに十分な大きさである; (b)前記ガス試料を前記レーザキャビティ(24)内に入れるための容器(22)
;前記容器(22)により、前記利得媒体(20)から出てくる出力ビーム(32)が
前記レーザキャビティ(24)を出る前に前記ガス試料を通過できる;及び (c)絶対レーザ出力パワーまたはレーザ出力パワーの相対変化のいずれかを定
量的に測定するための検出器(16); を含むことを特徴とするガス検出システム(10)。 - 【請求項2】 前記ILSレーザ(12)が1つの単一連続波長領域内でのみ
動作するように構成されていることを特徴とする請求項1記載のガス検出システ
ム(10)。 - 【請求項3】 前記ILSレーザ(12)が、前記ガス種が吸収を行っている
前記バンドの外側の波長における前記ILSレーザ(12)の動作を防止するコン
ポーネントを含むことを特徴とする請求項1記載のガス検出システム(10)。 - 【請求項4】 波長選択性光素子(52)が前記レーザキャビティ(24)内に
置かれ、前記波長選択性光素子(52)が、前記ガス種が吸収を行っている前記バ
ンドの外側の波長における前記ILSレーザ(12)の動作を防止することを特徴
とする請求項3記載のガス検出システム(10)。 - 【請求項5】 前記利得媒体(20)が、前記ガス種が吸収を行っている前記
バンドの外側の波長における前記ILSレーザ(12)の動作を防止するのに十分
に狭いバンド幅を有するか、あるいは前記ガス種が吸収を行っている前記バンド
の外側の波長における前記ILSレーザ(12)の動作を防止する光学コーティン
グをその上に有することを特徴とする請求項3記載のガス検出システム(10)。 - 【請求項6】 前記容器(22)が前記レーザキャビティ(24)内に置かれた
ガス試料セル(22)を含み、前記ガス試料セル(22)は前記利得媒体(20)から
の前記出力ビーム(32)に前記ガス試料を通過させ得る窓(66,68)を有し、
前記窓(66,68)の内の少なくとも1つは、前記ガス種が吸収を行っている前
記バンドの外側の波長における前記ILSレーザ(12)の動作を防止する光学コ
ーティングをその上に有することを特徴とする請求項3記載のガス検出システム
(10)。 - 【請求項7】 前記レーザキャビティ(24)が少なくとも2つのミラー(2
6,28)で形成され、前記ミラー(26,28)の内の少なくとも1つが、前記
ガス種が吸収を行っている前記バンドの外側の波長における前記ILSレーザ(
12)の動作を防止する光学コーティングをその上に有することを特徴とする請
求項3記載のガス検出システム(10)。 - 【請求項8】 光ポンピング源(74)が前記利得媒体(20)に放射光を与え
、よって前記ILSレーザ(12)を駆動することを特徴とする請求項1記載のガ
ス検出システム(10)。 - 【請求項9】 前記ガス種が吸収を行っている前記バンドが(a)単一の特性
吸収を含み、前記ILSレーザ(12)が多モード動作を維持するのに十分に広く
、前記単一の特性吸収の波長のみに重なるのに十分に狭い動作バンド幅を有する
か、あるいは(b)複数の特性吸収を含み、前記ILSレーザ(12)が多モード動
作を維持するのに十分に広く、前記複数の特性吸収の内の少なくとも1つの波長
のみに重なるのに十分に狭い動作バンド幅を有することを特徴とする請求項1記
載のガス検出システム(10)。 - 【請求項10】 請求項1記載の前記ガス検出システム(10)を用いる、ガ
ス試料中の較正された範囲内にある特定の濃度のガス種の存在を検出するための
方法において、前記方法が: (a)前記ガス種が前記較正された範囲内の量で前記ガス試料中に存在する場合
に、前記ガス種が少なくとも1つの単一連続波長バンド内の光を吸収することを
決定するステップ; (b)請求項1記載の前記ILSレーザ(12)を提供するステップ; (c)利得媒体(20)からの出力ビーム(32)が、レーザキャビティ(24)を出
る前に、前記レーザキャビティ(24)内に入れられる前記ガス試料を通る方向に
向けられるように、前記利得媒体(20)を位置させるステップ;及び (d)前記ILSレーザ(12)を出てくる出力の強度を検出し、それによって前
記ILSレーザ(12)の絶対出力パワーまたは出力パワーの相対変化のいずれか
を定量的に測定するように検出器(16)を位置させるステップ; を含むことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/165,884 | 1998-10-02 | ||
| US09/165,884 US5991032A (en) | 1998-10-02 | 1998-10-02 | Contaminant identification and concentration determination by monitoring the intensity of the output of an intracavity laser |
| PCT/US1999/022722 WO2000020845A1 (en) | 1998-10-02 | 1999-09-30 | Contaminant identification and concentration determination by monitoring the intensity of the output of an intracavity laser |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002526766A true JP2002526766A (ja) | 2002-08-20 |
Family
ID=22600879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000574912A Pending JP2002526766A (ja) | 1998-10-02 | 1999-09-30 | キャビティ内レーザの出力強度を測定することによる汚染種の同定及び濃度決定 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5991032A (ja) |
| EP (1) | EP1129335A4 (ja) |
| JP (1) | JP2002526766A (ja) |
| KR (1) | KR20010090739A (ja) |
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| CA (1) | CA2346050A1 (ja) |
| TW (1) | TW504572B (ja) |
| WO (1) | WO2000020845A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
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|---|---|---|---|---|
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