JP2002039975A - 蛍光ｘ線分析計 - Google Patents
蛍光ｘ線分析計Info
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- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011850 initial investigation Methods 0.000 description 1
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 取り扱いが簡便な蛍光Ｘ線分析計を得られる
ようにすること。 【解決手段】 蛍光Ｘ線法を原理とし、装置外部にある
被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ線分析計
において、一次Ｘ線照射方向に光束を照射するよう光源
１を分析計筐体２に設けた
ようにすること。 【解決手段】 蛍光Ｘ線法を原理とし、装置外部にある
被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ線分析計
において、一次Ｘ線照射方向に光束を照射するよう光源
１を分析計筐体２に設けた
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は考古学資料調査、犯
罪現場捜査、火災初動捜査等における屋外での元素分析
を主目的とした可搬型の蛍光Ｘ線分析計のような装置外
部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ
線分析計に関する。
罪現場捜査、火災初動捜査等における屋外での元素分析
を主目的とした可搬型の蛍光Ｘ線分析計のような装置外
部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ
線分析計に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的な蛍光Ｘ線分析計の場合、測定対
象物を密閉遮蔽型の試料室構造体内部に包含させること
ができるため、装置外部へのＸ線の漏洩の防御は試料室
ドアの状態検出によるセフティーインターロック手段で
簡単に実現できた。一方、屋外等不特定の場所で使用さ
れることが多い可搬型の蛍光Ｘ線分析計の場合は、装置
外部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射することがあ
り、この場合にはＸ線照射は測定対象物方向に完全オー
プンとなるため測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人
々の安全確保のために複雑なセフティーインターロック
手段が必要であった。例えば特開平１１−３０４７３３
号公報のように蛍光Ｘ線分析計測定部筐体および取手部
にマイクロスイッチを有し、前者がオン、後者がオフの
条件かでのみＸ線が発生する、すなわち、Ｘ線シャッタ
が開状態となるセフティーインターロック手段を有して
いた。
象物を密閉遮蔽型の試料室構造体内部に包含させること
ができるため、装置外部へのＸ線の漏洩の防御は試料室
ドアの状態検出によるセフティーインターロック手段で
簡単に実現できた。一方、屋外等不特定の場所で使用さ
れることが多い可搬型の蛍光Ｘ線分析計の場合は、装置
外部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射することがあ
り、この場合にはＸ線照射は測定対象物方向に完全オー
プンとなるため測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人
々の安全確保のために複雑なセフティーインターロック
手段が必要であった。例えば特開平１１−３０４７３３
号公報のように蛍光Ｘ線分析計測定部筐体および取手部
にマイクロスイッチを有し、前者がオン、後者がオフの
条件かでのみＸ線が発生する、すなわち、Ｘ線シャッタ
が開状態となるセフティーインターロック手段を有して
いた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記特開平１１−３０
４７３３号公報のようなセフティーインターロック手段
によれば測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人々の安
全確保が実現できたが、この場合測定の際に分析計測定
部筐体に取り付けたマイクロスイッチがオンになるよう
に被測定試料と分析計測定部の位置を調整しなければな
らず、設置作業に手間がかかる事が多い。Ｘ線が可視で
あれば測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人々にとっ
て被爆防御は容易であるが、Ｘ線は肉眼では観測不可能
なため取り扱いの簡便さを犠牲にしてまでもあえてこの
ような手段を採らざるをえなかったのである。本発明は
上記の問題点を解消して取り扱いが簡便な蛍光Ｘ線分析
計を得ることを目的とする。
４７３３号公報のようなセフティーインターロック手段
によれば測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人々の安
全確保が実現できたが、この場合測定の際に分析計測定
部筐体に取り付けたマイクロスイッチがオンになるよう
に被測定試料と分析計測定部の位置を調整しなければな
らず、設置作業に手間がかかる事が多い。Ｘ線が可視で
あれば測定者や蛍光Ｘ線分析計の周囲に居る人々にとっ
て被爆防御は容易であるが、Ｘ線は肉眼では観測不可能
なため取り扱いの簡便さを犠牲にしてまでもあえてこの
ような手段を採らざるをえなかったのである。本発明は
上記の問題点を解消して取り扱いが簡便な蛍光Ｘ線分析
計を得ることを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために、本発明は、蛍光Ｘ線分析計において測定時即ち
一次Ｘ線照射時にＸ線照射方向に光束を照射するための
光源を分析計筐体に設けた。
ために、本発明は、蛍光Ｘ線分析計において測定時即ち
一次Ｘ線照射時にＸ線照射方向に光束を照射するための
光源を分析計筐体に設けた。
【０００５】測定者が測定開始を指示すると、一次Ｘ線
が照射される方向に肉眼で観測可能な１本以上の光束が
走る。この光束は、測定者を始め分析計周囲の人々に光
束の走っている周囲の空間が電磁気的に危険な場になっ
ていることを視覚的に知らせる。
が照射される方向に肉眼で観測可能な１本以上の光束が
走る。この光束は、測定者を始め分析計周囲の人々に光
束の走っている周囲の空間が電磁気的に危険な場になっ
ていることを視覚的に知らせる。
【０００６】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 （１）第一実施例 図１は本発明の構成図で、ちょうど蛍光Ｘ線分析計が測
定を実施している状態を表わす図である。分析計筐体２
のＸ線照射口２ａの近傍に１つの光源１が備え付けられ
ている。ここでは光源として小型レーザ発振ユニットを
使用している。測定開始が指示されるとＸ線照射口２ａ
からは被測定試料４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、
この時同時に該小型レーザ発振ユニット１からレーザが
照射される。レーザの輝線１ａは一次Ｘ線束３と同一の
方向に観測される。測定者を始め分析計周囲の人々は該
レーザの輝線１ａ周囲の空間が電磁気的に危険な場にな
っていることを視覚的に知らされ警戒心を喚起される。
第一実施例で使用するレーザは本質的に安全なもの、あ
るいは１ｍＷ以下の低パワー品であり確実に安全が確保
できるものである。レーザを使用すると鮮明な輝線が得
られる。測定終了が指示され一次Ｘ線の照射が停止され
ると該レーザの照射も停止する。 （２）第二実施例 図２に示す第二の実施例では分析計筐体２２のＸ線照射
口２２ａの周囲に４つの小型レーザ発振ユニット２１
ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄが備え付けられている。測
定開始が指示されるとＸ線照射口２２ａからは被測定試
料２４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、この時同時に
該小型レーザ発振ユニット２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２
１ｄからレーザが照射される。４本のレーザの輝線は一
次Ｘ線束２３と同一の方向に、かつ一次Ｘ線束２３を中
心にこれを取り囲むようにして照射される。測定者を始
め分析計周囲の人々は該レーザの輝線周囲の空間が電磁
気的に危険な場になっていることを視覚的に知らされ警
戒心を喚起される。複数本の輝線があると、より広い範
囲で危険な空間をイメージさせることが可能である。第
二実施例において使用するレーザは第一実施例で使用す
るレーザ同様安全確保が確実にできるものである。測定
終了が指示され一次Ｘ線の照射が停止されると該レーザ
の照射も停止する。 （３）第三実施例 図３に示す第三の実施例では分析計筐体３２のＸ線照射
口３２ａの近傍に１つの照明ユニット３１が備え付けら
れている。この照明ユニットは例えば電球とレンズから
構成され、指向性を持った光束を発生させることができ
る。測定開始が指示されるとＸ線照射口３２ａからは被
測定試料３４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、この時
該照明ユニット３１から光束３１ａが発生する。該光束
３１ａは一次Ｘ線束３３と同一の方向に発生する。測定
者を始め分析計周囲の人々は該光束３１ａの周囲の空間
が電磁気的に危険な場になっていることを視覚的に知ら
され警戒心を喚起される。該照明ユニットは安価に構成
することが可能である。また光束自体がある程度広がり
を持ったものなので広い範囲で危険な空間をイメージさ
せることが可能である。光束の色は赤にすると視認性が
よく、注意を喚起するのに適している。測定終了が指示
され一次Ｘ線の照射が停止されると該照明ユニットによ
る光照射も停止する。
する。 （１）第一実施例 図１は本発明の構成図で、ちょうど蛍光Ｘ線分析計が測
定を実施している状態を表わす図である。分析計筐体２
のＸ線照射口２ａの近傍に１つの光源１が備え付けられ
ている。ここでは光源として小型レーザ発振ユニットを
使用している。測定開始が指示されるとＸ線照射口２ａ
からは被測定試料４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、
この時同時に該小型レーザ発振ユニット１からレーザが
照射される。レーザの輝線１ａは一次Ｘ線束３と同一の
方向に観測される。測定者を始め分析計周囲の人々は該
レーザの輝線１ａ周囲の空間が電磁気的に危険な場にな
っていることを視覚的に知らされ警戒心を喚起される。
第一実施例で使用するレーザは本質的に安全なもの、あ
るいは１ｍＷ以下の低パワー品であり確実に安全が確保
できるものである。レーザを使用すると鮮明な輝線が得
られる。測定終了が指示され一次Ｘ線の照射が停止され
ると該レーザの照射も停止する。 （２）第二実施例 図２に示す第二の実施例では分析計筐体２２のＸ線照射
口２２ａの周囲に４つの小型レーザ発振ユニット２１
ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄが備え付けられている。測
定開始が指示されるとＸ線照射口２２ａからは被測定試
料２４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、この時同時に
該小型レーザ発振ユニット２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２
１ｄからレーザが照射される。４本のレーザの輝線は一
次Ｘ線束２３と同一の方向に、かつ一次Ｘ線束２３を中
心にこれを取り囲むようにして照射される。測定者を始
め分析計周囲の人々は該レーザの輝線周囲の空間が電磁
気的に危険な場になっていることを視覚的に知らされ警
戒心を喚起される。複数本の輝線があると、より広い範
囲で危険な空間をイメージさせることが可能である。第
二実施例において使用するレーザは第一実施例で使用す
るレーザ同様安全確保が確実にできるものである。測定
終了が指示され一次Ｘ線の照射が停止されると該レーザ
の照射も停止する。 （３）第三実施例 図３に示す第三の実施例では分析計筐体３２のＸ線照射
口３２ａの近傍に１つの照明ユニット３１が備え付けら
れている。この照明ユニットは例えば電球とレンズから
構成され、指向性を持った光束を発生させることができ
る。測定開始が指示されるとＸ線照射口３２ａからは被
測定試料３４に向けて一次Ｘ線が照射されるが、この時
該照明ユニット３１から光束３１ａが発生する。該光束
３１ａは一次Ｘ線束３３と同一の方向に発生する。測定
者を始め分析計周囲の人々は該光束３１ａの周囲の空間
が電磁気的に危険な場になっていることを視覚的に知ら
され警戒心を喚起される。該照明ユニットは安価に構成
することが可能である。また光束自体がある程度広がり
を持ったものなので広い範囲で危険な空間をイメージさ
せることが可能である。光束の色は赤にすると視認性が
よく、注意を喚起するのに適している。測定終了が指示
され一次Ｘ線の照射が停止されると該照明ユニットによ
る光照射も停止する。
【０００７】
【発明の効果】本発明は蛍光Ｘ線法を原理とし、装置外
部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ
線分析計において、一次Ｘ線照射方向に光束を照射する
よう光源を分析計筐体に設けたことにより測定者を始め
分析計周囲の人々に一次Ｘ線照射方向側空間が電磁気的
に危険な場になっていることを視覚的に知らせ警戒心を
有効に喚起することができる。したがって被測定試料と
分析計測定部の位置を微妙に調整するといった煩雑な手
続きが不要で取り扱いが簡便な蛍光Ｘ線分析計を得るこ
とができる。
部にある被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ
線分析計において、一次Ｘ線照射方向に光束を照射する
よう光源を分析計筐体に設けたことにより測定者を始め
分析計周囲の人々に一次Ｘ線照射方向側空間が電磁気的
に危険な場になっていることを視覚的に知らせ警戒心を
有効に喚起することができる。したがって被測定試料と
分析計測定部の位置を微妙に調整するといった煩雑な手
続きが不要で取り扱いが簡便な蛍光Ｘ線分析計を得るこ
とができる。
【図１】本発明の蛍光Ｘ線分析計の構成を示す図であ
る。
る。
【図２】本発明の蛍光Ｘ線分析計の第二の実施例を示す
図である。
図である。
【図３】本発明の蛍光Ｘ線分析計の第三の実施例を示す
図である。
図である。
１ 光源 １ａ レーザの輝線 ２、２２、３２ 分析計筐体 ２ａ、２２ａ、３２ａ Ｘ線照射口 ３、２３、３３ 一次Ｘ線束 ４、２４、３４ 被測定試料 ２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄ 小型レーザ発振ユ
ニット ３１ 照明ユニット ３１ａ 照明ユニットからの光束
ニット ３１ 照明ユニット ３１ａ 照明ユニットからの光束
Claims (1)
- 【請求項１】 蛍光Ｘ線法を原理とし、装置外部にある
被測定試料に一次Ｘ線を照射する方式の蛍光Ｘ線分析計
において、 一次Ｘ線照射方向に光束を照射するよう光源１を分析計
筐体２に設けたことを特徴とする蛍光Ｘ線分析計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000227377A JP2002039975A (ja) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | 蛍光ｘ線分析計 |
| US09/915,447 US6535573B2 (en) | 2000-07-27 | 2001-07-26 | X-ray fluorescence analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000227377A JP2002039975A (ja) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | 蛍光ｘ線分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002039975A true JP2002039975A (ja) | 2002-02-06 |
Family
ID=18720839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000227377A Withdrawn JP2002039975A (ja) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | 蛍光ｘ線分析計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6535573B2 (ja) |
| JP (1) | JP2002039975A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105403583A (zh) * | 2014-09-09 | 2016-03-16 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 荧光x射线分析装置以及其测定位置调整方法 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1744151B1 (en) * | 2004-04-28 | 2012-02-22 | Panasonic Corporation | Fluorescent x-ray analysis method and equipment |
| JP5356241B2 (ja) | 2006-11-11 | 2013-12-04 | アミール・ベルソン | Ｘ線透視技術者防護装置 |
| RU2578554C1 (ru) * | 2015-02-03 | 2016-03-27 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ, НИ ТГУ) | Способ определения источников сырья для археологических керамических артефактов |
| KR102663563B1 (ko) | 2015-11-09 | 2024-05-03 | 레디액션 엘티디. | 방사선 차폐 장치 및 그 적용 |
| US10641718B2 (en) | 2016-07-29 | 2020-05-05 | Bruker Handheld Llc | X-ray fluorescence analyzer |
| WO2020142556A1 (en) | 2019-01-02 | 2020-07-09 | Yifat Jonathan | Radiation protection apparatus and materials therefor |
| KR102838675B1 (ko) | 2019-01-02 | 2025-07-24 | 레디액션 엘티디. | 환자 머리 보호 장치 |
| KR20220059467A (ko) | 2019-07-02 | 2022-05-10 | 레디액션 엘티디. | 전개형 방사선 차폐부 커버 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE68907924T2 (de) * | 1988-01-20 | 1993-11-11 | Horiba Ltd | Röntgenstrahlvorrichtung, ausgestattet mit einem Strahlungsbereich-Monitor. |
-
2000
- 2000-07-27 JP JP2000227377A patent/JP2002039975A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-07-26 US US09/915,447 patent/US6535573B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105403583A (zh) * | 2014-09-09 | 2016-03-16 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 荧光x射线分析装置以及其测定位置调整方法 |
| KR20160030356A (ko) * | 2014-09-09 | 2016-03-17 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스 | 형광 x 선 분석 장치 및 그 측정 위치 조정 방법 |
| JP2016057139A (ja) * | 2014-09-09 | 2016-04-21 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光ｘ線分析装置及びその測定位置調整方法 |
| TWI655425B (zh) * | 2014-09-09 | 2019-04-01 | 日商日立高新技術科學股份有限公司 | Fluorescent X-ray analysis device and measurement position adjustment method thereof |
| KR102354765B1 (ko) * | 2014-09-09 | 2022-01-21 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스 | 형광 x 선 분석 장치 및 그 측정 위치 조정 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020015471A1 (en) | 2002-02-07 |
| US6535573B2 (en) | 2003-03-18 |
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