JP2001201362A - 回転検出装置 - Google Patents
回転検出装置Info
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Landscapes
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- Magnetic Bearings And Hydrostatic Bearings (AREA)
- Connection Of Motors, Electrical Generators, Mechanical Devices, And The Like (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 最大軸振れが大きく、回転体の回転情報検出
に優れ、且つ耐蝕性、低発塵性、長寿命、信頼性に優
れ、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位置、回
転速度検出が可能で、ロータ側ターゲット材に磁性材、
非磁性材どちらも使用可能な回転検出装置を提供するこ
と。 【解決手段】 回転体1の回転を非接触で検出する回転
検出器4と、回転体1の軸振れを検出する軸振れ検出器
8を具備し、回転検出器4からの回転検出信号と軸振れ
検出器8からの軸振検出信号とを処理し、該回転検出信
号の信号成分から軸振れ成分を除去する信号処理手段
(演算器11)を設けた。
に優れ、且つ耐蝕性、低発塵性、長寿命、信頼性に優
れ、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位置、回
転速度検出が可能で、ロータ側ターゲット材に磁性材、
非磁性材どちらも使用可能な回転検出装置を提供するこ
と。 【解決手段】 回転体1の回転を非接触で検出する回転
検出器4と、回転体1の軸振れを検出する軸振れ検出器
8を具備し、回転検出器4からの回転検出信号と軸振れ
検出器8からの軸振検出信号とを処理し、該回転検出信
号の信号成分から軸振れ成分を除去する信号処理手段
(演算器11)を設けた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転体、特に磁気
軸受により浮上支持された最大軸振れ量の大きい回転体
の回転情報(単純に回転数ではなく、回転方向、回転角
度位置、回転速度)を非接触で検出する回転検出装置に
関するもので、特に、例えば半導体製造装置等の耐蝕
性、低発塵性が望まれる環境で使用するのに好適な回転
検出装置に関するものである。
軸受により浮上支持された最大軸振れ量の大きい回転体
の回転情報(単純に回転数ではなく、回転方向、回転角
度位置、回転速度)を非接触で検出する回転検出装置に
関するもので、特に、例えば半導体製造装置等の耐蝕
性、低発塵性が望まれる環境で使用するのに好適な回転
検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、転がり軸受などに支持された回転
体の回転情報を検出する回転検出装置は多数開発、提案
されている。例えば、光学式エンコーダ、磁気式エンコ
ーダ、レゾルバ、単純に回転数を検出するもの等があ
る。
体の回転情報を検出する回転検出装置は多数開発、提案
されている。例えば、光学式エンコーダ、磁気式エンコ
ーダ、レゾルバ、単純に回転数を検出するもの等があ
る。
【0003】光学式エンコーダは、ステータ側には発光
部と受光部を備え、ロータに薄いターゲットを備えてい
る。ターゲットには2種類あり、一つはターゲット円盤
をガラス材で、その表面にNiなど光を遮る部材を蒸着
などで付け、光を透過する部分と透過しない部分を交互
に形成したものである。もう一つは、ターゲット円盤は
ステンレス鋼板で、その表面にエッチングによりスリッ
トを形成したものである。出力としては、1回転に数百
〜数千パルス(一般的範囲)のA相信号とA相信号に対
して位相が90度(deg)ずれたB相信号、1回転に
1パルスのZ相信号、これら3種類の信号の反転信号が
ある。
部と受光部を備え、ロータに薄いターゲットを備えてい
る。ターゲットには2種類あり、一つはターゲット円盤
をガラス材で、その表面にNiなど光を遮る部材を蒸着
などで付け、光を透過する部分と透過しない部分を交互
に形成したものである。もう一つは、ターゲット円盤は
ステンレス鋼板で、その表面にエッチングによりスリッ
トを形成したものである。出力としては、1回転に数百
〜数千パルス(一般的範囲)のA相信号とA相信号に対
して位相が90度(deg)ずれたB相信号、1回転に
1パルスのZ相信号、これら3種類の信号の反転信号が
ある。
【0004】磁気式エンコーダは、ステータ側には、磁
気抵抗素子(MR素子)を備え、ロータ側には、磁性材
ターゲットを備えている。ターゲットには2種類形式が
あり、一つはロータ表面に幾何学的に凹凸を付けたも
の、もう一つは永久磁石などの磁化された部材を備えた
ものである。MR素子には、半導体MRセンサ(村田製
作所製)や強磁性体MRセンサ(日立金属製)などがあ
る。センサ回路の出力は、上記光学式エンコーダと同様
である。
気抵抗素子(MR素子)を備え、ロータ側には、磁性材
ターゲットを備えている。ターゲットには2種類形式が
あり、一つはロータ表面に幾何学的に凹凸を付けたも
の、もう一つは永久磁石などの磁化された部材を備えた
ものである。MR素子には、半導体MRセンサ(村田製
作所製)や強磁性体MRセンサ(日立金属製)などがあ
る。センサ回路の出力は、上記光学式エンコーダと同様
である。
【0005】レゾルバは、軍事用に古くから開発された
ものであり、民製品としては、自動車などの耐振動性能
を要求される分野に利用されている。
ものであり、民製品としては、自動車などの耐振動性能
を要求される分野に利用されている。
【0006】単純に回転数を検出するものには、反射式
回転センサ、渦電流を利用したもの、磁気回路のインダ
クタンス変化から検出するものがある。反射式回転セン
サは、携帯型のものがよく利用されている。これはロー
タ側にシール状の反射体か黒体を一つはり、ステータ側
には、発光部と反射光部を備えている。渦電流を利用し
たものは、一般的には回転体の振動検出などに利用され
ている。その応用例として、ロータの検出面(ターゲッ
ト面)に幾何学的凹凸を付けるなどすれば、回転数を検
出することができる。ターゲット面は磁性材でも非磁性
材でも可能である。
回転センサ、渦電流を利用したもの、磁気回路のインダ
クタンス変化から検出するものがある。反射式回転セン
サは、携帯型のものがよく利用されている。これはロー
タ側にシール状の反射体か黒体を一つはり、ステータ側
には、発光部と反射光部を備えている。渦電流を利用し
たものは、一般的には回転体の振動検出などに利用され
ている。その応用例として、ロータの検出面(ターゲッ
ト面)に幾何学的凹凸を付けるなどすれば、回転数を検
出することができる。ターゲット面は磁性材でも非磁性
材でも可能である。
【0007】磁気回路のインダクタンス変化から検出す
るものには2種類ある。一つは、直流磁場を永久磁石か
コイルに定電圧を印加して発生させ、検出コイルのイン
ダクタンス変化から検出するものである。もう一つは交
流磁場をコイルに定電圧の交流電圧を印加することによ
り発生させ、磁気回路のインダクタンス変化によって、
コイルに発生する電流が変動する現象から検出するもの
である。
るものには2種類ある。一つは、直流磁場を永久磁石か
コイルに定電圧を印加して発生させ、検出コイルのイン
ダクタンス変化から検出するものである。もう一つは交
流磁場をコイルに定電圧の交流電圧を印加することによ
り発生させ、磁気回路のインダクタンス変化によって、
コイルに発生する電流が変動する現象から検出するもの
である。
【0008】上記従来の回転検出装置を耐蝕性、低発塵
(ノン・パーティクル)化するためには、検出部とロー
タ側ターゲット面間には、何らかの耐蝕性、低発塵部材
からなる隔壁を備えるか、検出部のみを耐蝕性、低発塵
部材で覆うなどの工夫が必要である。例えば、光学式エ
ンコーダの場合、発光部や受光部素子表面は透明ガラス
であるので、耐蝕性、低発塵性はあるが、それらを取付
ける基板や配線、そして、検出部近傍にセンサ回路を備
える必要があるので、電子回路などを耐蝕性、低発塵性
部材でモールドする必要がある。
(ノン・パーティクル)化するためには、検出部とロー
タ側ターゲット面間には、何らかの耐蝕性、低発塵部材
からなる隔壁を備えるか、検出部のみを耐蝕性、低発塵
部材で覆うなどの工夫が必要である。例えば、光学式エ
ンコーダの場合、発光部や受光部素子表面は透明ガラス
であるので、耐蝕性、低発塵性はあるが、それらを取付
ける基板や配線、そして、検出部近傍にセンサ回路を備
える必要があるので、電子回路などを耐蝕性、低発塵性
部材でモールドする必要がある。
【0009】他の方式でも、磁気回路を使用しているの
で、その磁性材部の耐蝕性を別手法で備える必要があ
る。例えば、Niめっき、テフロンコーティング、セラ
ミックコーティングなど薄い耐蝕性皮膜を付ける。又は
耐強酸性目的であれば、磁性材そのものをNi合金(例
えば、パーマロイ:PC)にする。
で、その磁性材部の耐蝕性を別手法で備える必要があ
る。例えば、Niめっき、テフロンコーティング、セラ
ミックコーティングなど薄い耐蝕性皮膜を付ける。又は
耐強酸性目的であれば、磁性材そのものをNi合金(例
えば、パーマロイ:PC)にする。
【0010】また、励磁コイルや検出コイルなどコイル
部材の絶縁皮膜の保護、耐蝕性、低発塵化のために、耐
蝕性、低発塵性部材でモールドするなどの必要がある。
更に、半導体製造装置などでは、構成部材から出るガス
も問題になる。そのため、上記のモールド材にはエポキ
シ系の材料がよく利用される。
部材の絶縁皮膜の保護、耐蝕性、低発塵化のために、耐
蝕性、低発塵性部材でモールドするなどの必要がある。
更に、半導体製造装置などでは、構成部材から出るガス
も問題になる。そのため、上記のモールド材にはエポキ
シ系の材料がよく利用される。
【0011】しかしながら、上記従来の耐蝕性、低発塵
性の対策も、寿命、安定性などの耐環境性能上、必ずし
も満足できるものではない。半導体製造装置では、ロー
タ側には被製品である基板(ウエハ)が存在し、不用意
な金属イオンや有機物による汚染を避けたい。そのため
キャン構造を採用することにより、電子回路等をロータ
側の空間と連通する空間に配置しないようにしている。
性の対策も、寿命、安定性などの耐環境性能上、必ずし
も満足できるものではない。半導体製造装置では、ロー
タ側には被製品である基板(ウエハ)が存在し、不用意
な金属イオンや有機物による汚染を避けたい。そのため
キャン構造を採用することにより、電子回路等をロータ
側の空間と連通する空間に配置しないようにしている。
【0012】検出部の表面を非磁性の薄い板で覆い、か
つロータ側のターゲットの環境(空間)と検出部空間と
の差圧に耐えられる構造となっている。キャン部材には
SUS316L、SUS316、SUS304などのオ
ーステナイト系ステンレス鋼やPEEK材(ポリエーテ
ル・エーテルケトン)、セラミックス材(酸化アルミ
ナ、酸化珪素)などが利用される。その結果下記のよう
な問題が発生する。 ・検出部とターゲット間の間隙が広がる。 ・光が透過しにくい。 ・ターゲット環境は変動する(ガス種等)。
つロータ側のターゲットの環境(空間)と検出部空間と
の差圧に耐えられる構造となっている。キャン部材には
SUS316L、SUS316、SUS304などのオ
ーステナイト系ステンレス鋼やPEEK材(ポリエーテ
ル・エーテルケトン)、セラミックス材(酸化アルミ
ナ、酸化珪素)などが利用される。その結果下記のよう
な問題が発生する。 ・検出部とターゲット間の間隙が広がる。 ・光が透過しにくい。 ・ターゲット環境は変動する(ガス種等)。
【0013】従来の磁気軸受の適用対象は、主に超高速
回転体であったが、磁気軸受技術の普及に伴い、今日で
は様々な分野への適用例が紹介されている。更に、非接
触で支持でき、ロータ・ステータ間の隙間に、気体、液
体などの形態で、様々な分子の存在を許容できる唯一の
軸受として、注目されつつある。そのため、回転数の低
い領域用への適用ニーズが増加している。
回転体であったが、磁気軸受技術の普及に伴い、今日で
は様々な分野への適用例が紹介されている。更に、非接
触で支持でき、ロータ・ステータ間の隙間に、気体、液
体などの形態で、様々な分子の存在を許容できる唯一の
軸受として、注目されつつある。そのため、回転数の低
い領域用への適用ニーズが増加している。
【0014】従来、回転数の低い回転体において、回転
体を支持する軸受は、接触式の転がり軸受などが主体で
あり、磁性シールの普及により回転軸端を特殊空間から
分離された空間に出す構造が主流である。そのため、高
度に発達した、回転制御技術と回転センサ技術を大気空
間(通常の室内空間)に飛び出したロータ端に対して、
適用すればよく、また転がり軸受で支持されているの
で、軸の振れも小さい(数μm〜数10μmのオーダ)
ので、適用し易いモデルであった。
体を支持する軸受は、接触式の転がり軸受などが主体で
あり、磁性シールの普及により回転軸端を特殊空間から
分離された空間に出す構造が主流である。そのため、高
度に発達した、回転制御技術と回転センサ技術を大気空
間(通常の室内空間)に飛び出したロータ端に対して、
適用すればよく、また転がり軸受で支持されているの
で、軸の振れも小さい(数μm〜数10μmのオーダ)
ので、適用し易いモデルであった。
【0015】従って、回転停止位置決め制御や、モータ
のベクトル制御なども容易にできた。この高度な制御に
は、単なる回転数のみではなく、「回転方向」、「回転
角度位置」、「回転角速度」を必要とする。一般に回転
センサは軸振れが限りなく零を前提条件に設計されてい
るため、軸振れの大きい回転体の回転情報検出に適さな
い。
のベクトル制御なども容易にできた。この高度な制御に
は、単なる回転数のみではなく、「回転方向」、「回転
角度位置」、「回転角速度」を必要とする。一般に回転
センサは軸振れが限りなく零を前提条件に設計されてい
るため、軸振れの大きい回転体の回転情報検出に適さな
い。
【0016】回転体を磁気軸受で支持する場合、磁気軸
受採用の目的から、磁性体シールを利用して軸端を大気
空間に出す構造とはしないので、回転体の回転情報の検
出が困難であった。加えて、磁気軸受は通常の支持状態
での回転軸振れと磁気軸受制御不能時の非常用軸受(通
常は転がり軸受)で支持された場合の回転軸の軸振れが
あり、最大振れ幅は数100μm〜数mmオーダであ
る。そのため、その大きな軸振れ量と回転情報との分離
が必要になる。そして、上述したキャン構造化する要求
が加わるので、技術的課題はさらに大きくなる。
受採用の目的から、磁性体シールを利用して軸端を大気
空間に出す構造とはしないので、回転体の回転情報の検
出が困難であった。加えて、磁気軸受は通常の支持状態
での回転軸振れと磁気軸受制御不能時の非常用軸受(通
常は転がり軸受)で支持された場合の回転軸の軸振れが
あり、最大振れ幅は数100μm〜数mmオーダであ
る。そのため、その大きな軸振れ量と回転情報との分離
が必要になる。そして、上述したキャン構造化する要求
が加わるので、技術的課題はさらに大きくなる。
【0017】このような中で、例えば、特公平7−43
265号公報に記載されている回転角センサが開発され
ている。この回転角センサは、上述した大きな軸振れを
許容し、且つ適用回転数が広いので、市販の演算回路を
使用することで、通常のエンコーダ信号と等価な信号を
出力できるから、従来の制御技術が適用できるとしてい
る。しかしながら、回転軸に偏芯した円形ターゲットを
備え、偏芯量よりも、軸の最大振れ量が小さい必要があ
ること、耐蝕性等の耐環境性能は考慮されていない等の
問題がある。
265号公報に記載されている回転角センサが開発され
ている。この回転角センサは、上述した大きな軸振れを
許容し、且つ適用回転数が広いので、市販の演算回路を
使用することで、通常のエンコーダ信号と等価な信号を
出力できるから、従来の制御技術が適用できるとしてい
る。しかしながら、回転軸に偏芯した円形ターゲットを
備え、偏芯量よりも、軸の最大振れ量が小さい必要があ
ること、耐蝕性等の耐環境性能は考慮されていない等の
問題がある。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の点に鑑
みてなされたもので、最大軸振れが大きく、回転体の回
転情報検出に優れ、且つ耐蝕性、低発塵性、長寿命、信
頼性に優れた回転検出装置を提供することを目的とす
る。また、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位
置、回転速度検出が可能で、ロータ側ターゲット材に磁
性材、非磁性材どちらも使用可能な回転検出装置を提供
することを目的とする。
みてなされたもので、最大軸振れが大きく、回転体の回
転情報検出に優れ、且つ耐蝕性、低発塵性、長寿命、信
頼性に優れた回転検出装置を提供することを目的とす
る。また、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位
置、回転速度検出が可能で、ロータ側ターゲット材に磁
性材、非磁性材どちらも使用可能な回転検出装置を提供
することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1に記載の発明は、回転体の回転を非接触で検出
する回転検出器と、該回転体の軸振れを非接触で検出す
る軸振れ検出器を具備し、回転検出器からの回転検出信
号と軸振れ検出器からの軸振検出信号とを処理し、該回
転検出信号の信号成分から軸振れ成分を除去する信号処
理手段を設けたことを特徴とする。
請求項1に記載の発明は、回転体の回転を非接触で検出
する回転検出器と、該回転体の軸振れを非接触で検出す
る軸振れ検出器を具備し、回転検出器からの回転検出信
号と軸振れ検出器からの軸振検出信号とを処理し、該回
転検出信号の信号成分から軸振れ成分を除去する信号処
理手段を設けたことを特徴とする。
【0020】上記のように回転検出器と軸振れ検出器に
非接触式の検出器を用い、信号処理手段で回転検出信号
と軸振検出信号とを処理し、該回転検出信号の信号成分
から軸振れ成分を除去するので、磁気軸受で支持された
回転体のように、最大軸振れ量の大きい回転体の回転
(回転数、回転方向、回転角度位置、回転角速度)を精
度よく検出できる。
非接触式の検出器を用い、信号処理手段で回転検出信号
と軸振検出信号とを処理し、該回転検出信号の信号成分
から軸振れ成分を除去するので、磁気軸受で支持された
回転体のように、最大軸振れ量の大きい回転体の回転
(回転数、回転方向、回転角度位置、回転角速度)を精
度よく検出できる。
【0021】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の回転検出装置において、回転体は磁気軸受で支
持されており、軸振れ検出器に磁気軸受のラジアル変位
センサを使用することを特徴とする。
に記載の回転検出装置において、回転体は磁気軸受で支
持されており、軸振れ検出器に磁気軸受のラジアル変位
センサを使用することを特徴とする。
【0022】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
又は2に記載の回転検出装置において、回転検出器の回
転検出原理は渦電流式変位センサの検出原理と同じであ
り、該回転検出器の回転検出用ターゲットの対向面に不
導電体隔壁を設けたことを特徴とする。
又は2に記載の回転検出装置において、回転検出器の回
転検出原理は渦電流式変位センサの検出原理と同じであ
り、該回転検出器の回転検出用ターゲットの対向面に不
導電体隔壁を設けたことを特徴とする。
【0023】また、請求項4に記載の発明は、請求項2
又は3に記載の回転検出装置において、回転検出器はA
相信号を検出するA相検出器とB相信号を検出するB相
検出器とを具備し、A相検出器を磁気軸受のラジアル磁
気軸受のX軸と同位相に配置し、B相検出器を該X軸か
ら90度位相角のずれたY軸と同位相に配置し、回転検
出ターゲットのスリット形状がA相信号と該A相信号に
対して90度位相のずれたB相信号が検出可能な形状で
あることを特徴とする。
又は3に記載の回転検出装置において、回転検出器はA
相信号を検出するA相検出器とB相信号を検出するB相
検出器とを具備し、A相検出器を磁気軸受のラジアル磁
気軸受のX軸と同位相に配置し、B相検出器を該X軸か
ら90度位相角のずれたY軸と同位相に配置し、回転検
出ターゲットのスリット形状がA相信号と該A相信号に
対して90度位相のずれたB相信号が検出可能な形状で
あることを特徴とする。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づいて説明する。図1は本発明に係る回転検出装
置の構成例を示す図である。図1において、1は磁気軸
受(図示せず)で浮上支持された回転体(ロータ)であ
り、該回転体1の表面には回転検出用ターゲット3と軸
振れ(ラジアル振れ)検出用ターゲット7が固着されて
いる。回転体1の外周に所定の間隙を設けてステータ2
が対向して配置され、該ステータ2には前記回転検出用
ターゲット3に対向して回転検出器4が、軸振れ検出用
ターゲット7に対向して軸振れ検出器8が取り付けられ
ている。なお、回転体は矢印C方向に回転する。
面に基づいて説明する。図1は本発明に係る回転検出装
置の構成例を示す図である。図1において、1は磁気軸
受(図示せず)で浮上支持された回転体(ロータ)であ
り、該回転体1の表面には回転検出用ターゲット3と軸
振れ(ラジアル振れ)検出用ターゲット7が固着されて
いる。回転体1の外周に所定の間隙を設けてステータ2
が対向して配置され、該ステータ2には前記回転検出用
ターゲット3に対向して回転検出器4が、軸振れ検出用
ターゲット7に対向して軸振れ検出器8が取り付けられ
ている。なお、回転体は矢印C方向に回転する。
【0025】回転検出器4はキャップ状の隔壁5に覆わ
れ、軸振れ検出器8もキャップ状の隔壁5で覆われてい
る。隔壁5は不導電体セラミック(酸化アルミナ、酸化
珪素等)材で構成される。回転検出器4の出力はアンプ
6で増幅され、演算器11に入力され、軸振れ検出器8
の出力はアンプ10で増幅され、演算器11に入力され
る。演算器11では、回転検出器4からの回転検出信号
の信号成分から、軸振れ検出器8からの軸振れ成分を除
去し、軸振れ成分が除去された回転検出信号SRを得
る。
れ、軸振れ検出器8もキャップ状の隔壁5で覆われてい
る。隔壁5は不導電体セラミック(酸化アルミナ、酸化
珪素等)材で構成される。回転検出器4の出力はアンプ
6で増幅され、演算器11に入力され、軸振れ検出器8
の出力はアンプ10で増幅され、演算器11に入力され
る。演算器11では、回転検出器4からの回転検出信号
の信号成分から、軸振れ検出器8からの軸振れ成分を除
去し、軸振れ成分が除去された回転検出信号SRを得
る。
【0026】回転検出器4及び軸振れ検出器8には渦電
流式変位センサを用い、回転検出用ターゲット3及び軸
振れ検出用ターゲット7の材料には導電体材(磁性体、
非磁性体を問わない)を用いる。また、回転検出用ター
ゲット3には凹凸状スリット加工を施している。
流式変位センサを用い、回転検出用ターゲット3及び軸
振れ検出用ターゲット7の材料には導電体材(磁性体、
非磁性体を問わない)を用いる。また、回転検出用ター
ゲット3には凹凸状スリット加工を施している。
【0027】図2は本発明に係る回転検出装置の構成例
を示す図である。本回転検出装置はステータ2の回転体
1との対向面には円筒状(板状)の隔壁9が設けられて
いる。ステータ2の所定位置にはラジアル磁気軸受のラ
ジアル電磁石13とラジアル変位センサ15が配置され
ている。回転体1の外周部のラジアル電磁石13と対向
する位置にはラジアル電磁石ターゲット12が、ラジア
ル変位センサ15と対向する位置にはラジアルセンサタ
ーゲット14がそれぞれ固着されている。隔壁9の材料
としてはSUS316Lなどのオーステナイト系のステ
ンレス鋼やPEEKを用いている。
を示す図である。本回転検出装置はステータ2の回転体
1との対向面には円筒状(板状)の隔壁9が設けられて
いる。ステータ2の所定位置にはラジアル磁気軸受のラ
ジアル電磁石13とラジアル変位センサ15が配置され
ている。回転体1の外周部のラジアル電磁石13と対向
する位置にはラジアル電磁石ターゲット12が、ラジア
ル変位センサ15と対向する位置にはラジアルセンサタ
ーゲット14がそれぞれ固着されている。隔壁9の材料
としてはSUS316Lなどのオーステナイト系のステ
ンレス鋼やPEEKを用いている。
【0028】ラジアル変位センサ15及び回転検出器4
はインダクタンス式のセンサである。ラジアル変位セン
サ15の出力はアンプ16で増幅され、磁気軸受制御部
18に供給され、該磁気軸受制御部18はパワーアンプ
17を介してラジアル電磁石13の励磁コイル13aに
制御励磁電流を供給し、ラジアル電磁石13の磁力を制
御し、回転体1を所定位置に浮上制御する。
はインダクタンス式のセンサである。ラジアル変位セン
サ15の出力はアンプ16で増幅され、磁気軸受制御部
18に供給され、該磁気軸受制御部18はパワーアンプ
17を介してラジアル電磁石13の励磁コイル13aに
制御励磁電流を供給し、ラジアル電磁石13の磁力を制
御し、回転体1を所定位置に浮上制御する。
【0029】一方、アンプ16で増幅されたラジアル変
位センサ15の出力は演算器11にも入力され、該演算
器11で回転検出器4からの回転検出信号の信号成分か
ら、ラジアル変位センサ15で検出した軸振れ成分を除
去し、軸振れ成分の除去された回転検出信号SRを得
る。即ち、本回転検出装置は、図1の回転検出装置の軸
振れ検出器8に替え、ラジアル磁気軸受のラジアル変位
センサ15を用い、回転検出器4からの回転検出信号の
信号成分から、ラジアル変位センサ15からの軸振れ成
分を除去し、軸振れ成分を除去した回転検出信号SRを
得ている。
位センサ15の出力は演算器11にも入力され、該演算
器11で回転検出器4からの回転検出信号の信号成分か
ら、ラジアル変位センサ15で検出した軸振れ成分を除
去し、軸振れ成分の除去された回転検出信号SRを得
る。即ち、本回転検出装置は、図1の回転検出装置の軸
振れ検出器8に替え、ラジアル磁気軸受のラジアル変位
センサ15を用い、回転検出器4からの回転検出信号の
信号成分から、ラジアル変位センサ15からの軸振れ成
分を除去し、軸振れ成分を除去した回転検出信号SRを
得ている。
【0030】図3は回転検出器4とラジアル変位センサ
15(図示せず)が同位相角の場合の回転検出用ターゲ
ット3と回転検出器4の配置状態を示す図で、図3
(a)は回転検出用ターゲット3に対する回転検出器の
配置状態を、図3(b)はその展開状態をそれぞれ示
す。回転検出器4はA相信号を検出するA相検出器4−
1とB相信号を検出するB相検出器4−2を具備し、A
相検出器4−1をラジアル磁気軸受のX軸と同位相に配
置し、B相検出器4−2を該X軸から90度位相角のず
れたY軸と同位相に配置している。なお、図示は省力す
るがラジアル変位センサ15もX軸とY軸にそれぞれ変
位センサが配置されている。
15(図示せず)が同位相角の場合の回転検出用ターゲ
ット3と回転検出器4の配置状態を示す図で、図3
(a)は回転検出用ターゲット3に対する回転検出器の
配置状態を、図3(b)はその展開状態をそれぞれ示
す。回転検出器4はA相信号を検出するA相検出器4−
1とB相信号を検出するB相検出器4−2を具備し、A
相検出器4−1をラジアル磁気軸受のX軸と同位相に配
置し、B相検出器4−2を該X軸から90度位相角のず
れたY軸と同位相に配置している。なお、図示は省力す
るがラジアル変位センサ15もX軸とY軸にそれぞれ変
位センサが配置されている。
【0031】回転検出用ターゲット3のピッチP、直径
(く形歯の場合には回転検出用ターゲットの外径、イン
ボリュート歯形では基準ピッチ円直径)をDとすると、
B相検出器4−2をA相検出器4−1からπD/4=
(P/2)(n+0.5)だけずれた位置(図3(b)
のa、bいずれの位置でもよい)に配置する(但し、n
は整数)。これによりA相検出器4−1でA相信号が検
出でき、B相検出器4−2で該A相信号に対して90度
位相のずれたB相信号が検出可能になる。上記のよう
に、ラジアル変位センサ15もA、B相検出器4−1、
4−2と同位相に配置されているから、軸振れを検出で
きる。
(く形歯の場合には回転検出用ターゲットの外径、イン
ボリュート歯形では基準ピッチ円直径)をDとすると、
B相検出器4−2をA相検出器4−1からπD/4=
(P/2)(n+0.5)だけずれた位置(図3(b)
のa、bいずれの位置でもよい)に配置する(但し、n
は整数)。これによりA相検出器4−1でA相信号が検
出でき、B相検出器4−2で該A相信号に対して90度
位相のずれたB相信号が検出可能になる。上記のよう
に、ラジアル変位センサ15もA、B相検出器4−1、
4−2と同位相に配置されているから、軸振れを検出で
きる。
【0032】図4は回転検出器4とラジアル変位センサ
15が同位相角にない場合の回転検出用ターゲット3と
回転検出器4の配置状態を示す図、図5は軸振れ成分を
除去した回転検出信号を得る処理回路の構成を示す図で
ある。回転検出器4がX軸から図4に示すようにθ度位
相がずれて配置されていた場合、この角度θは回転検出
器4が固定であるから既知である。回転体1にX軸方向
の軸振れΔxとY軸方向の軸振れΔyが発生したとき回
転検出器4の位相角θでの軸振れΔrは、(但し、rは
回転検出用ターゲット3の半径) Δr=(Δx/cosθ)+(Δy/sinθ) である。
15が同位相角にない場合の回転検出用ターゲット3と
回転検出器4の配置状態を示す図、図5は軸振れ成分を
除去した回転検出信号を得る処理回路の構成を示す図で
ある。回転検出器4がX軸から図4に示すようにθ度位
相がずれて配置されていた場合、この角度θは回転検出
器4が固定であるから既知である。回転体1にX軸方向
の軸振れΔxとY軸方向の軸振れΔyが発生したとき回
転検出器4の位相角θでの軸振れΔrは、(但し、rは
回転検出用ターゲット3の半径) Δr=(Δx/cosθ)+(Δy/sinθ) である。
【0033】ラジアル変位センサ15のX軸方向変位信
号(X軸方向の軸振れ)ΔxとY軸方向変位信号(Y軸
方向の軸振れ)Δyを、図5の1/cosθの演算を行
う演算回路31と1/sinθの演算を行なう演算回路
32に入力し、それぞれの出力信号を加算器33で加算
し、この加算信号を演算器11で回転検出器4の回転検
出信号から除去することにより、軸振れ成分を除去した
回転検出信号SRが得られる。
号(X軸方向の軸振れ)ΔxとY軸方向変位信号(Y軸
方向の軸振れ)Δyを、図5の1/cosθの演算を行
う演算回路31と1/sinθの演算を行なう演算回路
32に入力し、それぞれの出力信号を加算器33で加算
し、この加算信号を演算器11で回転検出器4の回転検
出信号から除去することにより、軸振れ成分を除去した
回転検出信号SRが得られる。
【0034】図6は本発明に係る回転検出装置の構成例
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図6
(a)は縦断面図、図6(b)は(a)のA−A断面、
図6(c)は(a)のB−B断面である。図示するよう
に、回転検出器4は定常磁界磁石21と、2個の直列に
接続されたMRセンサ素子20、20とからなり、軸振
れ検出器8は定常磁界磁石21と、直列に接続されたM
Rセンサ素子20と抵抗器22とからなる。そして回転
検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ターゲット3と
軸振れ検出用ターゲット7に対向する面にはセラミック
(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSUS316L
などのオーステナイト系のステンレス鋼、又はPEEK
材からなる隔壁5が設けられている。
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図6
(a)は縦断面図、図6(b)は(a)のA−A断面、
図6(c)は(a)のB−B断面である。図示するよう
に、回転検出器4は定常磁界磁石21と、2個の直列に
接続されたMRセンサ素子20、20とからなり、軸振
れ検出器8は定常磁界磁石21と、直列に接続されたM
Rセンサ素子20と抵抗器22とからなる。そして回転
検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ターゲット3と
軸振れ検出用ターゲット7に対向する面にはセラミック
(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSUS316L
などのオーステナイト系のステンレス鋼、又はPEEK
材からなる隔壁5が設けられている。
【0035】回転検出器4のMRセンサ素子20と20
の直列回路には+5Vの直流電圧が印加され、軸振れ検
出器8のMRセンサ素子20と抵抗器22の直列回路に
は+5Vの直流電圧が印加されている。回転検出器4の
MRセンサ素子20とMRセンサ素子20の接続点から
得られる回転検出信号をアンプ6に入力すると共に、軸
振れ検出器8のMRセンサ素子20と抵抗器22の接続
点から得られる軸振れ検出信号をアンプ10に入力す
る。そして演算器11でアンプ6からの回転検出信号よ
り、アンプ10からの軸振れ信号を除去し、軸振れ成分
のない回転検出信号SRを得る。
の直列回路には+5Vの直流電圧が印加され、軸振れ検
出器8のMRセンサ素子20と抵抗器22の直列回路に
は+5Vの直流電圧が印加されている。回転検出器4の
MRセンサ素子20とMRセンサ素子20の接続点から
得られる回転検出信号をアンプ6に入力すると共に、軸
振れ検出器8のMRセンサ素子20と抵抗器22の接続
点から得られる軸振れ検出信号をアンプ10に入力す
る。そして演算器11でアンプ6からの回転検出信号よ
り、アンプ10からの軸振れ信号を除去し、軸振れ成分
のない回転検出信号SRを得る。
【0036】図7は本発明に係る回転検出装置の構成例
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図7
(a)は縦断面図、図7(b)は(a)のA−A断面、
図7(c)は(a)のB−B断面である。図7の回転検
出装置が図6の回転検出装置と異なる点は、回転検出器
4のMRセンサ素子20、20と軸振れ検出器8のMR
センサ素子20と抵抗器22で直流ブリッジ回路(印加
電圧DC+5V)を組み、回転検出器4のMRセンサ素
子20と20の接続点から得られる回転検出信号と軸振
れ検出器8のMRセンサ素子20と抵抗器の接続点から
得られる軸振れ検出信号を演算器11に入力し、該演算
器11で回転検出信号から軸振れ成分を除去した軸振れ
信号のない回転検出信号SRを得、これの信号を波形整
形器23で波形整形する。
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図7
(a)は縦断面図、図7(b)は(a)のA−A断面、
図7(c)は(a)のB−B断面である。図7の回転検
出装置が図6の回転検出装置と異なる点は、回転検出器
4のMRセンサ素子20、20と軸振れ検出器8のMR
センサ素子20と抵抗器22で直流ブリッジ回路(印加
電圧DC+5V)を組み、回転検出器4のMRセンサ素
子20と20の接続点から得られる回転検出信号と軸振
れ検出器8のMRセンサ素子20と抵抗器の接続点から
得られる軸振れ検出信号を演算器11に入力し、該演算
器11で回転検出信号から軸振れ成分を除去した軸振れ
信号のない回転検出信号SRを得、これの信号を波形整
形器23で波形整形する。
【0037】図8は本発明に係る回転検出装置の構成例
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図8
(a)は縦断面図、図8(b)は回転検出器4と軸振れ
検出器8と回転検出用ターゲット3と軸振れ検出用ター
ゲット7の側面展開図、図8(c)は回転検出用ターゲ
ット3と軸振れ検出用ターゲット7と回転検出器4の断
面展開図である。図示するように、回転検出器4は定常
磁界磁石21と直列に接続された2個のMRセンサ素子
20、20とからなり、軸振れ検出器8は定常磁界磁石
21と直列に接続された2個のMRセンサ素子20、2
0とからなる。
を示す図で、MRセンサを利用した場合を示す。図8
(a)は縦断面図、図8(b)は回転検出器4と軸振れ
検出器8と回転検出用ターゲット3と軸振れ検出用ター
ゲット7の側面展開図、図8(c)は回転検出用ターゲ
ット3と軸振れ検出用ターゲット7と回転検出器4の断
面展開図である。図示するように、回転検出器4は定常
磁界磁石21と直列に接続された2個のMRセンサ素子
20、20とからなり、軸振れ検出器8は定常磁界磁石
21と直列に接続された2個のMRセンサ素子20、2
0とからなる。
【0038】そして軸振れ検出器8はその2個のMRセ
ンサ素子20、20が回転体1の軸方向に並んで配置さ
れ、回転検出器4の2個のMRセンサ素子20、20は
回転体1の軸方向に直交するように配置されている。そ
して回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ターゲ
ット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する面にはセ
ラミック(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSUS
316L等のオーステナイト系のステンレス鋼、又はP
EEK材からなる隔壁9が設けられている。
ンサ素子20、20が回転体1の軸方向に並んで配置さ
れ、回転検出器4の2個のMRセンサ素子20、20は
回転体1の軸方向に直交するように配置されている。そ
して回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ターゲ
ット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する面にはセ
ラミック(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSUS
316L等のオーステナイト系のステンレス鋼、又はP
EEK材からなる隔壁9が設けられている。
【0039】そして図9に示すように、回転検出器4の
MRセンサ素子20とMRセンサ素子20と軸振れ検出
器8のMRセンサ素子20とMRセンサ素子20とで直
流ブリッジ回路(印加電圧DC+5V)を構成してい
る。回転検出器4のMRセンサ素子20とMRセンサ素
子20の接続点から得られる回転検出信号と、軸振れ検
出器8のMRセンサ素子20とMRセンサ素子20の接
続点から得られる軸振れ検出信号を演算器11に入力
し、該演算器11で回転検出信号から軸振れ成分を除去
し、軸振れ成分のない回転検出信号SRを得て、該回転
検信号SRを波形整形器23で波形整形している。
MRセンサ素子20とMRセンサ素子20と軸振れ検出
器8のMRセンサ素子20とMRセンサ素子20とで直
流ブリッジ回路(印加電圧DC+5V)を構成してい
る。回転検出器4のMRセンサ素子20とMRセンサ素
子20の接続点から得られる回転検出信号と、軸振れ検
出器8のMRセンサ素子20とMRセンサ素子20の接
続点から得られる軸振れ検出信号を演算器11に入力
し、該演算器11で回転検出信号から軸振れ成分を除去
し、軸振れ成分のない回転検出信号SRを得て、該回転
検信号SRを波形整形器23で波形整形している。
【0040】図10は本発明に係る回転検出装置の構成
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図10(a)は縦断面図、図10(b)は
(a)のA−A断面、図10(c)は(a)のB−B断
面である。回転検出器4は回転検出コイル24と回転検
出コイル用ヨーク25からなり、軸振れ検出器8は軸振
れ検出コイル26と軸振れ検出コイル用ヨーク27から
なる。回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ター
ゲット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する面には
セラミック(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSU
S316L等のオーステナイト系のステンレス鋼、又は
PEEK材からなる隔壁9が設けられている。
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図10(a)は縦断面図、図10(b)は
(a)のA−A断面、図10(c)は(a)のB−B断
面である。回転検出器4は回転検出コイル24と回転検
出コイル用ヨーク25からなり、軸振れ検出器8は軸振
れ検出コイル26と軸振れ検出コイル用ヨーク27から
なる。回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出用ター
ゲット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する面には
セラミック(酸化アルミナ、酸化珪素等)材、又はSU
S316L等のオーステナイト系のステンレス鋼、又は
PEEK材からなる隔壁9が設けられている。
【0041】回転検出器4の回転検出コイル24の出力
をアンプ6に入力すると共に、軸振れ検出器8の軸振れ
検出コイル26の出力をアンプ10に入力し、それぞれ
増幅した回転検出信号と軸振れ検出信号を演算器11に
入力し、該演算器11で回転検出信号から軸振れ成分を
除去し、軸振れ成分のない回転検出信号SRを得る。
をアンプ6に入力すると共に、軸振れ検出器8の軸振れ
検出コイル26の出力をアンプ10に入力し、それぞれ
増幅した回転検出信号と軸振れ検出信号を演算器11に
入力し、該演算器11で回転検出信号から軸振れ成分を
除去し、軸振れ成分のない回転検出信号SRを得る。
【0042】図11は本発明に係る回転検出装置の構成
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図11(a)は縦断面図、図11(b)は
(a)のA−A断面、図11(c)は(a)のB−B断
面である。図11の回転検出装置が図10の回転検出装
置と異なる点は、回転検出器4の回転検出コイル24と
軸振れ検出器8の軸触れ検出コイル26と抵抗器22、
22で交流ブリッジ回路(キャリア信号CSの周波数1
0kHz〜50kHz)を組み、その出力をセンサアン
プ(波形整形機能も有する)28に入力して軸振れ成分
を除去した回転検出信号SRを得ている点である。即
ち、回転検出コイル24、軸振れ検出コイル26、抵抗
器22、22で交流ブリッジ回路構成することにより、
図10のアンプ6、アンプ10及び演算器11の機能を
達成させている。
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図11(a)は縦断面図、図11(b)は
(a)のA−A断面、図11(c)は(a)のB−B断
面である。図11の回転検出装置が図10の回転検出装
置と異なる点は、回転検出器4の回転検出コイル24と
軸振れ検出器8の軸触れ検出コイル26と抵抗器22、
22で交流ブリッジ回路(キャリア信号CSの周波数1
0kHz〜50kHz)を組み、その出力をセンサアン
プ(波形整形機能も有する)28に入力して軸振れ成分
を除去した回転検出信号SRを得ている点である。即
ち、回転検出コイル24、軸振れ検出コイル26、抵抗
器22、22で交流ブリッジ回路構成することにより、
図10のアンプ6、アンプ10及び演算器11の機能を
達成させている。
【0043】図12は本発明に係る回転検出装置の構成
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図12(a)は縦断面図、図12(b)は
(a)のA−A断面である。本回転検出器4はインダク
タンス式の検出器で回転体1の軸方向に3個の磁極と該
軸方向に直交する方向に2個の磁極を有する回転検出コ
イル用ヨーク25を具備し、その軸方向中央の磁極にそ
れぞれ回転検出コイル24を巻装した構成である。
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図12(a)は縦断面図、図12(b)は
(a)のA−A断面である。本回転検出器4はインダク
タンス式の検出器で回転体1の軸方向に3個の磁極と該
軸方向に直交する方向に2個の磁極を有する回転検出コ
イル用ヨーク25を具備し、その軸方向中央の磁極にそ
れぞれ回転検出コイル24を巻装した構成である。
【0044】回転検出器4を回転検出用ターゲット3と
の所定の間隔を設けて対向して配置し、回転検出コイル
24と24及び抵抗器22と22で交流ブリッジ回路
(キャリア信号CSの周波数10kHz〜50kHz)
を構成し、その出力を波形整形回路23に入力し、軸振
れ成分を除去した回転検出信号SRを得ている。ここ
で、回転検出用ターゲット3のスリットのピッチ幅α1
と回転検出コイル用ヨーク25の回転体1の軸方向に直
交する方向に配置された磁極25−1の中心線と磁極2
5−2の中心線の間隔α2は、α1=α2とする。
の所定の間隔を設けて対向して配置し、回転検出コイル
24と24及び抵抗器22と22で交流ブリッジ回路
(キャリア信号CSの周波数10kHz〜50kHz)
を構成し、その出力を波形整形回路23に入力し、軸振
れ成分を除去した回転検出信号SRを得ている。ここ
で、回転検出用ターゲット3のスリットのピッチ幅α1
と回転検出コイル用ヨーク25の回転体1の軸方向に直
交する方向に配置された磁極25−1の中心線と磁極2
5−2の中心線の間隔α2は、α1=α2とする。
【0045】図13は本発明に係る回転検出装置の構成
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図13(a)は縦断面図、図13(b)は回転
検出器4と軸振れ検出器8と回転検出用ターゲット3と
軸振れ検出用ターゲット7の側面展開図、図13(c)
は回転検出用ターゲット3と軸振れ検出用ターゲット7
と回転検出器4の断面展開図である。図示するように、
軸振れ検出器8は回転体1の軸方向に配置され、回転検
出器4は回転体1の軸方向に直行するように配置されて
いる。そして回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出
用ターゲット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する
面にはセラミック(酸化アルミナ、酸化ケイ素等)材、
又はSUS316L等のオーステナイト系のステンレス
鋼、又はPEEK材からなる隔壁9が設けられている。
例を示す図で、インダクタンス式センサを利用した場合
を示す。図13(a)は縦断面図、図13(b)は回転
検出器4と軸振れ検出器8と回転検出用ターゲット3と
軸振れ検出用ターゲット7の側面展開図、図13(c)
は回転検出用ターゲット3と軸振れ検出用ターゲット7
と回転検出器4の断面展開図である。図示するように、
軸振れ検出器8は回転体1の軸方向に配置され、回転検
出器4は回転体1の軸方向に直行するように配置されて
いる。そして回転検出器4と軸振れ検出器8の回転検出
用ターゲット3と軸振れ検出用ターゲット7に対向する
面にはセラミック(酸化アルミナ、酸化ケイ素等)材、
又はSUS316L等のオーステナイト系のステンレス
鋼、又はPEEK材からなる隔壁9が設けられている。
【0046】そして図14に示すように、回転検出器4
の回転検出コイル24、24と軸振れ検出器8の軸振れ
検出コイル26、26で交流ブリッジ回路(キャリア信
号CS:一定振幅電圧の周波数10kHz〜50kH
z)を構成し、その出力をセンサアンプ(波形整形機能
も有する)28に入力して軸振れ成分を除去した回転検
出信号SRを得ている。
の回転検出コイル24、24と軸振れ検出器8の軸振れ
検出コイル26、26で交流ブリッジ回路(キャリア信
号CS:一定振幅電圧の周波数10kHz〜50kH
z)を構成し、その出力をセンサアンプ(波形整形機能
も有する)28に入力して軸振れ成分を除去した回転検
出信号SRを得ている。
【0047】上記実施形態例において、回転検出用ター
ゲット3は凹凸状のスリットを設けているが、回転検出
用ターゲットとしては、表面が滑らかで、磁性材に分布
着磁し、凹凸状のスリットと等価にしたものを使用して
もよい。特にMRセンサ素子を利用した検出器では、M
Rセンサ素子側に定常磁界用の永久磁石を備える必要が
なくなるので、検出器が非常に薄く構成できる利点があ
る。この着磁されたターゲットを渦電流式検出器やイン
ダクタンス式検出に適用してもよく、ターゲット表面が
滑らかにできる点が、内部生成物の溜り部を無くする意
味で有利である。
ゲット3は凹凸状のスリットを設けているが、回転検出
用ターゲットとしては、表面が滑らかで、磁性材に分布
着磁し、凹凸状のスリットと等価にしたものを使用して
もよい。特にMRセンサ素子を利用した検出器では、M
Rセンサ素子側に定常磁界用の永久磁石を備える必要が
なくなるので、検出器が非常に薄く構成できる利点があ
る。この着磁されたターゲットを渦電流式検出器やイン
ダクタンス式検出に適用してもよく、ターゲット表面が
滑らかにできる点が、内部生成物の溜り部を無くする意
味で有利である。
【0048】また、MRセンサ素子を用いた検出器、イ
ンダクタンス式検出器では、ターゲットを磁性材にする
必要があるが、渦電流式検出器では電導体であればよ
く、磁性、非磁性を問わないので、適用範囲が広い。
ンダクタンス式検出器では、ターゲットを磁性材にする
必要があるが、渦電流式検出器では電導体であればよ
く、磁性、非磁性を問わないので、適用範囲が広い。
【0049】
【発明の効果】以上、説明したように各請求項に記載の
発明によれば、回転体の回転を非接触で検出する回転検
出器と、該回転体の軸振れを非接触で検出する軸振れ検
出器を具備し、回転検出信号の信号成分から軸振れ成分
を除去する信号処理手段を設けたので、下記のような優
れた効果が期待できる。
発明によれば、回転体の回転を非接触で検出する回転検
出器と、該回転体の軸振れを非接触で検出する軸振れ検
出器を具備し、回転検出信号の信号成分から軸振れ成分
を除去する信号処理手段を設けたので、下記のような優
れた効果が期待できる。
【0050】磁気軸受に支持された回転体のように、最
大軸振れ量の大きい回転体も検出対象とすることがで
き、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位置、回
転角速度も検出でき、更に耐蝕性、低発塵性、長寿命、
信頼性向上を達成できる回転検出装置を提供できる。
大軸振れ量の大きい回転体も検出対象とすることがで
き、回転数のみではなく、回転方向、回転角度位置、回
転角速度も検出でき、更に耐蝕性、低発塵性、長寿命、
信頼性向上を達成できる回転検出装置を提供できる。
【0051】上記効果が期待できることから、磁気軸受
で支持された回転体の非接触位置決め、回転速度精度の
向上、加減速時間の短縮運転等、ユーザニーズを満足す
る製品を提供するのに有効な回転検出装置となる。特
に、半導体製造装置には好適となる。
で支持された回転体の非接触位置決め、回転速度精度の
向上、加減速時間の短縮運転等、ユーザニーズを満足す
る製品を提供するのに有効な回転検出装置となる。特
に、半導体製造装置には好適となる。
【0052】また、通常の非接触で回転を検出する回転
検出器に磁気軸受に備わっている変位センサを利用して
本発明に係る回転検出装置を構成すれば、なお、低コス
トで回転検出装置を提供できる。
検出器に磁気軸受に備わっている変位センサを利用して
本発明に係る回転検出装置を構成すれば、なお、低コス
トで回転検出装置を提供できる。
【図1】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
【図2】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
【図3】図2に示す回転検出装置の回転検出用ターゲッ
トと回転検出器の配置状態例を示す図である。
トと回転検出器の配置状態例を示す図である。
【図4】図2に示す回転検出装置の回転検出用ターゲッ
トと回転検出器の配置状態例を示す図である。
トと回転検出器の配置状態例を示す図である。
【図5】図4に示す配置状態の回転検出信号から軸振れ
成分を除去する処理回路の構成を示す図である。
成分を除去する処理回路の構成を示す図である。
【図6】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
【図7】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
【図8】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
【図9】図8に示す回転検出装置の回転検出信号から軸
振れ成分を除去する処理回路の構成を示す図である。
振れ成分を除去する処理回路の構成を示す図である。
【図10】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図
である。
である。
【図11】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図
である。
である。
【図12】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図
である。
である。
【図13】本発明に係る回転検出装置の構成例を示す図
である。
である。
【図14】図13に示す回転検出装置の回転検出信号か
ら軸振れ成分を除去する処理回路の構成を示す図であ
る。
ら軸振れ成分を除去する処理回路の構成を示す図であ
る。
1 回転体 2 ステータ 3 回転検出用ターゲット 4 回転検出器 5 隔壁 6 アンプ 7 軸振れ検出用ターゲット 8 軸振れ検出器 9 隔壁 10 アンプ 11 演算器 12 ラジアル電磁石ターゲット 13 ラジアル電磁石 14 ラジアルセンサターゲット 15 ラジアル変位センサ 16 アンプ 17 パワーアンプ 18 磁気軸受制御部 20 MRセンサ素子 21 定常磁界磁石 22 抵抗器 23 波形整形器 24 回転検出コイル 25 回転検出コイル用ヨーク 26 軸振れ検出コイル 27 軸振れ検出コイル用ヨーク 28 センサアンプ
フロントページの続き Fターム(参考) 2F063 AA10 AA35 AA37 BA03 BB03 BC04 BD11 BD16 CA10 CA30 CA31 DA01 DA05 DD06 DD07 DD08 EA03 GA03 GA08 GA52 2F077 AA30 AA41 AA42 AA47 FF03 FF31 JJ09 JJ21 JJ23 NN04 NN06 NN17 NN21 PP06 PP14 PP21 QQ05 QQ13 TT16 TT52 UU25 VV02 VV03 VV04 VV11 VV31 3J102 AA01 BA03 BA17 CA12 DB01 DB05 DB08 DB10 DB38 5H607 CC07 GG17 HH01 HH03
Claims (4)
- 【請求項1】 回転体の回転を非接触で検出する回転検
出器と、該回転体の軸振れを非接触で検出する軸振れ検
出器を具備し、 前記回転検出器からの回転検出信号と前記軸振れ検出器
からの軸振検出信号とを処理し、該回転検出信号の信号
成分から軸振れ成分を除去する信号処理手段を設けたこ
とを特徴とする回転検出装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の回転検出装置におい
て、 前記回転体は磁気軸受で支持されており、前記軸振れ検
出器に該磁気軸受のラジアル変位センサを使用すること
を特徴とする回転検出装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の回転検出装置に
おいて、 前記回転検出器の回転検出原理は渦電流式変位センサの
検出原理と同じであり、該回転検出器の回転検出用ター
ゲットの対向面に不導電体隔壁を設けたことを特徴とす
る回転検出装置。 - 【請求項4】 請求項2又は3に記載の回転検出装置に
おいて、 前記回転検出器はA相信号を検出するA相検出器とB相
信号を検出するB相検出器とを具備し、A相検出器を前
記磁気軸受のラジアル磁気軸受のX軸と同位相に配置
し、B相検出器を該X軸から90度位相角のずれたY軸
と同位相に配置し、回転検出ターゲットのスリット形状
がA相信号と該A相信号に対して90度位相のずれたB
相信号が検出可能な形状であることを特徴とする回転検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000009119A JP2001201362A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 回転検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000009119A JP2001201362A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 回転検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001201362A true JP2001201362A (ja) | 2001-07-27 |
Family
ID=18537307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000009119A Pending JP2001201362A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 回転検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001201362A (ja) |
Cited By (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003090340A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-03-28 | Koyo Seiko Co Ltd | 磁気軸受装置 |
| JP2003090339A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-03-28 | Koyo Seiko Co Ltd | 磁気軸受装置 |
| JP2003106333A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Ntn Corp | 磁気軸受装置 |
| WO2004033995A1 (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-22 | Koyo Seiko Co., Ltd. | 転がり軸受装置 |
| JP2004132476A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 転がり軸受装置 |
| JP2004132474A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 転がり軸受装置 |
| JP2004132475A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 車軸用転がり軸受装置 |
| WO2004057276A1 (ja) * | 2002-12-20 | 2004-07-08 | Koyo Seiko Co., Ltd. | センサ付き転がり軸受ユニット |
| JP2004198334A (ja) * | 2002-12-20 | 2004-07-15 | Koyo Seiko Co Ltd | センサ付き転がり軸受ユニット |
| JP2005140769A (ja) * | 2003-10-15 | 2005-06-02 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 粉体定量排出器の異常検出方法 |
| JP2007502982A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 可搬型座標計測機における計測精度向上方法 |
| JP2007502984A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 携帯可能な座標測定装置の操作者に感覚フィードバックを提供する方法および装置 |
| JP2009012917A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | スクリューフィーダーの異常検出方法。 |
| JP2009014258A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 攪拌乾燥機の異常検出方法。 |
| JP2011144712A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Shimadzu Corp | ターボ分子ポンプ |
| JP2012018090A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Tokai Rika Co Ltd | 回転角度検出装置 |
| JP2013038964A (ja) * | 2011-08-09 | 2013-02-21 | Ulvac Japan Ltd | 位置検出器および真空モータ |
| JP2015121323A (ja) * | 2013-12-20 | 2015-07-02 | エスカエフ・マニュティック・メシャトロニク | 磁気軸受用ロータセンサターゲット |
| WO2018150833A1 (ja) * | 2017-02-20 | 2018-08-23 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 角度検出装置 |
| EP3640601A1 (de) * | 2018-10-19 | 2020-04-22 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Positionsmesseinrichtung und verfahren zum betreiben einer positionsmesseinrichtung |
| JP2021012196A (ja) * | 2019-07-04 | 2021-02-04 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung | 角度測定装置 |
| JP2021170026A (ja) * | 2014-09-25 | 2021-10-28 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド | 誘導センサを用いるマルチレベル回転リゾルバー |
| WO2024204651A1 (ja) | 2023-03-31 | 2024-10-03 | ダイキン工業株式会社 | 駆動システム、ターボ圧縮機、冷凍装置 |
-
2000
- 2000-01-18 JP JP2000009119A patent/JP2001201362A/ja active Pending
Cited By (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003090340A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-03-28 | Koyo Seiko Co Ltd | 磁気軸受装置 |
| JP2003090339A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-03-28 | Koyo Seiko Co Ltd | 磁気軸受装置 |
| JP2003106333A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Ntn Corp | 磁気軸受装置 |
| JP2004132475A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 車軸用転がり軸受装置 |
| JP2004132476A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 転がり軸受装置 |
| JP2004132474A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Koyo Seiko Co Ltd | 転がり軸受装置 |
| WO2004033995A1 (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-22 | Koyo Seiko Co., Ltd. | 転がり軸受装置 |
| US7612556B2 (en) | 2002-10-10 | 2009-11-03 | Koyo Seiko Co., Ltd. | Rolling bearing |
| WO2004057276A1 (ja) * | 2002-12-20 | 2004-07-08 | Koyo Seiko Co., Ltd. | センサ付き転がり軸受ユニット |
| JP2004198334A (ja) * | 2002-12-20 | 2004-07-15 | Koyo Seiko Co Ltd | センサ付き転がり軸受ユニット |
| US7282907B2 (en) | 2002-12-20 | 2007-10-16 | Jtekt Corporation | Antifriction bearing unit having a sensor and a resolver |
| JP2007502982A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 可搬型座標計測機における計測精度向上方法 |
| JP2007502984A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 携帯可能な座標測定装置の操作者に感覚フィードバックを提供する方法および装置 |
| JP2005140769A (ja) * | 2003-10-15 | 2005-06-02 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 粉体定量排出器の異常検出方法 |
| JP2009014258A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 攪拌乾燥機の異常検出方法。 |
| JP2009012917A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | スクリューフィーダーの異常検出方法。 |
| JP2011144712A (ja) * | 2010-01-12 | 2011-07-28 | Shimadzu Corp | ターボ分子ポンプ |
| JP2012018090A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Tokai Rika Co Ltd | 回転角度検出装置 |
| JP2013038964A (ja) * | 2011-08-09 | 2013-02-21 | Ulvac Japan Ltd | 位置検出器および真空モータ |
| JP2015121323A (ja) * | 2013-12-20 | 2015-07-02 | エスカエフ・マニュティック・メシャトロニク | 磁気軸受用ロータセンサターゲット |
| JP2021170026A (ja) * | 2014-09-25 | 2021-10-28 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド | 誘導センサを用いるマルチレベル回転リゾルバー |
| JP2023103436A (ja) * | 2014-09-25 | 2023-07-26 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド | 誘導センサを用いるマルチレベル回転リゾルバー |
| JP7338099B2 (ja) | 2014-09-25 | 2023-09-05 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド | 誘導センサを用いるマルチレベル回転リゾルバー |
| JPWO2018150833A1 (ja) * | 2017-02-20 | 2019-08-08 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 角度検出装置 |
| WO2018150833A1 (ja) * | 2017-02-20 | 2018-08-23 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 角度検出装置 |
| EP3640601A1 (de) * | 2018-10-19 | 2020-04-22 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Positionsmesseinrichtung und verfahren zum betreiben einer positionsmesseinrichtung |
| US11385050B2 (en) | 2018-10-19 | 2022-07-12 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Position-measuring device and method for operating a position-measuring device |
| JP2021012196A (ja) * | 2019-07-04 | 2021-02-04 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung | 角度測定装置 |
| JP7517880B2 (ja) | 2019-07-04 | 2024-07-17 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 角度測定装置 |
| WO2024204651A1 (ja) | 2023-03-31 | 2024-10-03 | ダイキン工業株式会社 | 駆動システム、ターボ圧縮機、冷凍装置 |
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