JP2001266851A - リチウム二次電池用電極の製造方法 - Google Patents
リチウム二次電池用電極の製造方法Info
- Publication number
- JP2001266851A JP2001266851A JP2000321200A JP2000321200A JP2001266851A JP 2001266851 A JP2001266851 A JP 2001266851A JP 2000321200 A JP2000321200 A JP 2000321200A JP 2000321200 A JP2000321200 A JP 2000321200A JP 2001266851 A JP2001266851 A JP 2001266851A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- active material
- current collector
- electrode
- secondary battery
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 46
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 45
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000011149 active material Substances 0.000 claims abstract description 87
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 140
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 26
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 23
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 16
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 13
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 5
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910000927 Ge alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 4
- 238000005275 alloying Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- 239000007774 positive electrode material Substances 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000007773 negative electrode material Substances 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N Ethylene carbonate Chemical compound O=C1OCCO1 KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 229910012851 LiCoO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910013872 LiPF Inorganic materials 0.000 description 1
- 101150058243 Lipf gene Proteins 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021383 artificial graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 210000001787 dendrite Anatomy 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 1
- IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N dimethyl carbonate Chemical compound COC(=O)OC IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007792 gaseous phase Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 充放電容量が高く、かつ充放電サイクル特性
に優れたリチウム二次電池用電極を安定して製造する。 【解決手段】 気相から原料を供給して薄膜を形成する
方法を用いて、リチウムと合金化する活物質からなる薄
膜をリチウムと合金化しない金属からなる集電体上に形
成するリチウム二次電池用電極の製造方法において、集
電体との界面近傍の薄膜内に集電体成分が拡散してなる
混合層が形成される温度で薄膜を形成することを特徴と
している。
に優れたリチウム二次電池用電極を安定して製造する。 【解決手段】 気相から原料を供給して薄膜を形成する
方法を用いて、リチウムと合金化する活物質からなる薄
膜をリチウムと合金化しない金属からなる集電体上に形
成するリチウム二次電池用電極の製造方法において、集
電体との界面近傍の薄膜内に集電体成分が拡散してなる
混合層が形成される温度で薄膜を形成することを特徴と
している。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、新規なリチウム二
次電池用電極を製造する方法に関するものである。
次電池用電極を製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、研究開発が盛んに行われているリ
チウム二次電池は、用いられる電極により充放電電圧、
充放電サイクル寿命特性、保存特性などの電池特性が大
きく左右される。このことから、電極に用いる活物質を
改善することにより、電池特性の向上が図られている。
チウム二次電池は、用いられる電極により充放電電圧、
充放電サイクル寿命特性、保存特性などの電池特性が大
きく左右される。このことから、電極に用いる活物質を
改善することにより、電池特性の向上が図られている。
【0003】負極活物質としてリチウム金属を用いる
と、重量当たり及び体積当たりともに高いエネルギー密
度の電池を構成することができるが、充電時にリチウム
がデンドライト状に析出し、内部短絡を引き起こすとい
う問題があった。
と、重量当たり及び体積当たりともに高いエネルギー密
度の電池を構成することができるが、充電時にリチウム
がデンドライト状に析出し、内部短絡を引き起こすとい
う問題があった。
【0004】これに対し、充電の際に電気化学的にリチ
ウムと合金化するアルミニウム、シリコン、錫などを電
極として用いるリチウム二次電池が報告されている(So
lidState Ionics,113-115,p57(1998)) 。これらのう
ち、特にシリコンは理論容量が大きく、高い容量を示す
電池用負極として有望であり、これを負極とする種々の
二次電池が提案されている(特開平10−255768
号公報)。しかしながら、この種の合金負極は、電極活
物質である合金自体が充放電により微粉化し集電特性が
悪化することから、十分なサイクル特性は得られていな
い。
ウムと合金化するアルミニウム、シリコン、錫などを電
極として用いるリチウム二次電池が報告されている(So
lidState Ionics,113-115,p57(1998)) 。これらのう
ち、特にシリコンは理論容量が大きく、高い容量を示す
電池用負極として有望であり、これを負極とする種々の
二次電池が提案されている(特開平10−255768
号公報)。しかしながら、この種の合金負極は、電極活
物質である合金自体が充放電により微粉化し集電特性が
悪化することから、十分なサイクル特性は得られていな
い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本出願人は、シリコン
を電極活物質とし、良好な充放電サイクル特性を示すリ
チウム二次電池用電極として、CVD法またはスパッタ
リング法などの薄膜形成方法により、集電体上に微結晶
シリコン薄膜または非晶質シリコン薄膜を形成したリチ
ウム二次電池用電極を提案している(特願平11−30
1646号など)。
を電極活物質とし、良好な充放電サイクル特性を示すリ
チウム二次電池用電極として、CVD法またはスパッタ
リング法などの薄膜形成方法により、集電体上に微結晶
シリコン薄膜または非晶質シリコン薄膜を形成したリチ
ウム二次電池用電極を提案している(特願平11−30
1646号など)。
【0006】本発明の目的は、このようなシリコン薄膜
などの活物質薄膜を用いたリチウム二次電池用電極であ
って、充放電容量が高く、かつ充放電サイクル特性に優
れたリチウム二次電池用電極を製造する方法を提供する
ことにある。
などの活物質薄膜を用いたリチウム二次電池用電極であ
って、充放電容量が高く、かつ充放電サイクル特性に優
れたリチウム二次電池用電極を製造する方法を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、気相から原料
を供給して薄膜を形成する方法を用いて、リチウムと合
金化する活物質からなる活物質薄膜をリチウムと合金化
しない金属からなる集電体上に形成するリチウム二次電
池用電極の製造方法であり、集電体との界面近傍の活物
質薄膜内に集電体成分が拡散してなる混合層が形成され
る温度で上記薄膜を形成することを特徴としている。
を供給して薄膜を形成する方法を用いて、リチウムと合
金化する活物質からなる活物質薄膜をリチウムと合金化
しない金属からなる集電体上に形成するリチウム二次電
池用電極の製造方法であり、集電体との界面近傍の活物
質薄膜内に集電体成分が拡散してなる混合層が形成され
る温度で上記薄膜を形成することを特徴としている。
【0008】気相から原料を供給して活物質薄膜を形成
する方法としては、スパッタリング法、CVD法、蒸着
法、及び溶射法などが挙げられる。本発明において活物
質として用いられる材料は、リチウムと合金化する材料
であり、例えば、シリコン、ゲルマニウム、錫、鉛、亜
鉛、マグネシウム、ナトリウム、アルミニウム、ガリウ
ム、インジウムなどが挙げられる。
する方法としては、スパッタリング法、CVD法、蒸着
法、及び溶射法などが挙げられる。本発明において活物
質として用いられる材料は、リチウムと合金化する材料
であり、例えば、シリコン、ゲルマニウム、錫、鉛、亜
鉛、マグネシウム、ナトリウム、アルミニウム、ガリウ
ム、インジウムなどが挙げられる。
【0009】上記の薄膜形成方法により薄膜として形成
し易いという観点からは、シリコンまたはゲルマニウム
を主成分とする活物質が好ましい。また、高い充放電容
量の観点からは、シリコンを主成分とする活物質が特に
好ましい。また、活物質薄膜は、非晶質薄膜または微結
晶薄膜であることが好ましい。従って、活物質薄膜とし
ては、非晶質シリコン薄膜または微結晶シリコン薄膜が
好ましく用いられる。非晶質シリコン薄膜は、ラマン分
光分析において結晶領域に対応する520cm -1近傍の
ピークが実質的に検出されない薄膜であり、微結晶シリ
コン薄膜は、ラマン分光分析において、結晶領域に対応
する520cm-1近傍のピークと、非晶質領域に対応す
る480cm-1近傍のピークの両方が実質的に検出され
る薄膜である。また、非晶質ゲルマニウム薄膜、微結晶
ゲルマニウム薄膜、非晶質シリコンゲルマニウム合金薄
膜、及び微結晶シリコンゲルマニウム合金薄膜も好まし
く用いることができる。
し易いという観点からは、シリコンまたはゲルマニウム
を主成分とする活物質が好ましい。また、高い充放電容
量の観点からは、シリコンを主成分とする活物質が特に
好ましい。また、活物質薄膜は、非晶質薄膜または微結
晶薄膜であることが好ましい。従って、活物質薄膜とし
ては、非晶質シリコン薄膜または微結晶シリコン薄膜が
好ましく用いられる。非晶質シリコン薄膜は、ラマン分
光分析において結晶領域に対応する520cm -1近傍の
ピークが実質的に検出されない薄膜であり、微結晶シリ
コン薄膜は、ラマン分光分析において、結晶領域に対応
する520cm-1近傍のピークと、非晶質領域に対応す
る480cm-1近傍のピークの両方が実質的に検出され
る薄膜である。また、非晶質ゲルマニウム薄膜、微結晶
ゲルマニウム薄膜、非晶質シリコンゲルマニウム合金薄
膜、及び微結晶シリコンゲルマニウム合金薄膜も好まし
く用いることができる。
【0010】本発明において用いられる集電体は、リチ
ウムと合金化しない金属から形成される。リチウムと合
金化しない金属としては、例えば銅などが挙げられる。
本発明においては、集電体と活物質薄膜との界面近傍の
活物質薄膜内に、集電体成分が拡散してなる混合層が形
成される温度で活物質薄膜を形成する。すなわち、活物
質薄膜を形成する際の温度(薄膜形成温度)が高くなる
と、集電体成分が活物質薄膜内に拡散し易くなるので、
本発明においては集電体成分が十分に拡散し、活物質薄
膜内に集電体成分と活物質成分との混合層が十分に形成
される温度で活物質薄膜を形成する。
ウムと合金化しない金属から形成される。リチウムと合
金化しない金属としては、例えば銅などが挙げられる。
本発明においては、集電体と活物質薄膜との界面近傍の
活物質薄膜内に、集電体成分が拡散してなる混合層が形
成される温度で活物質薄膜を形成する。すなわち、活物
質薄膜を形成する際の温度(薄膜形成温度)が高くなる
と、集電体成分が活物質薄膜内に拡散し易くなるので、
本発明においては集電体成分が十分に拡散し、活物質薄
膜内に集電体成分と活物質成分との混合層が十分に形成
される温度で活物質薄膜を形成する。
【0011】集電体成分が活物質薄膜内に拡散して混合
層が形成されることにより、集電体と活物質薄膜の密着
性が良好になる。また、集電体成分はリチウムと合金化
しない金属成分であるので、このような集電体成分が活
物質薄膜内に拡散することにより、リチウムを吸蔵及び
放出する際の、活物質薄膜の膨張及び収縮が相対的に小
さくなる。このため、活物質薄膜の膨張・収縮に伴う応
力が集電体との界面近傍で小さくなるため、体積の膨張
・収縮による活物質薄膜の集電体からの剥離を防止する
ことができ、集電体と活物質薄膜との密着性をさらに良
好なものにすることができる。
層が形成されることにより、集電体と活物質薄膜の密着
性が良好になる。また、集電体成分はリチウムと合金化
しない金属成分であるので、このような集電体成分が活
物質薄膜内に拡散することにより、リチウムを吸蔵及び
放出する際の、活物質薄膜の膨張及び収縮が相対的に小
さくなる。このため、活物質薄膜の膨張・収縮に伴う応
力が集電体との界面近傍で小さくなるため、体積の膨張
・収縮による活物質薄膜の集電体からの剥離を防止する
ことができ、集電体と活物質薄膜との密着性をさらに良
好なものにすることができる。
【0012】このような混合層において、集電体成分の
濃度は集電体との界面近傍において高く、活物質薄膜の
表面に向かうにつれてその濃度が減少していることがわ
かっている。混合層内においてその濃度が連続的に減少
していることから、混合層における集電体成分は、活物
質と固溶体を形成していると考えられる。
濃度は集電体との界面近傍において高く、活物質薄膜の
表面に向かうにつれてその濃度が減少していることがわ
かっている。混合層内においてその濃度が連続的に減少
していることから、混合層における集電体成分は、活物
質と固溶体を形成していると考えられる。
【0013】また、薄膜形成温度を高めると、集電体成
分が過剰に薄膜内に拡散するとともに、集電体成分と活
物質との金属間化合物が形成され易くなる。このような
金属間化合物が形成されると、化合物となった活物質原
子に関し、活物質として作用するサイトが減少して活物
質薄膜の充放電容量が低下する。また金属間化合物の形
成により集電体と活物質薄膜との密着性が悪くなる。従
って、混合層において活物質と集電体成分の金属間化合
物が形成されない温度で、活物質薄膜を集電体上に形成
することが好ましい。このような温度としては、300
℃未満の温度であることが好ましい。
分が過剰に薄膜内に拡散するとともに、集電体成分と活
物質との金属間化合物が形成され易くなる。このような
金属間化合物が形成されると、化合物となった活物質原
子に関し、活物質として作用するサイトが減少して活物
質薄膜の充放電容量が低下する。また金属間化合物の形
成により集電体と活物質薄膜との密着性が悪くなる。従
って、混合層において活物質と集電体成分の金属間化合
物が形成されない温度で、活物質薄膜を集電体上に形成
することが好ましい。このような温度としては、300
℃未満の温度であることが好ましい。
【0014】また、本発明においては、活物質薄膜を形
成した後、熱処理を行なってもよい。このような熱処理
を行なうことにより、薄膜内に集電体成分をさらに拡散
することができる。従って、活物質薄膜を形成する際
に、集電体成分を十分に薄膜内に拡散させることができ
ず、十分な厚みの混合層が形成できなかった場合に、こ
のような熱処理を行なうことが好ましい。熱処理は、上
述のように、集電体成分の過剰な拡散により、集電体成
分と活物質との金属間化合物が形成されないような条件
で行なうことが好ましい。このような熱処理の温度とし
ては、650℃未満の温度であることが好ましく、さら
に好ましくは400℃以下である。
成した後、熱処理を行なってもよい。このような熱処理
を行なうことにより、薄膜内に集電体成分をさらに拡散
することができる。従って、活物質薄膜を形成する際
に、集電体成分を十分に薄膜内に拡散させることができ
ず、十分な厚みの混合層が形成できなかった場合に、こ
のような熱処理を行なうことが好ましい。熱処理は、上
述のように、集電体成分の過剰な拡散により、集電体成
分と活物質との金属間化合物が形成されないような条件
で行なうことが好ましい。このような熱処理の温度とし
ては、650℃未満の温度であることが好ましく、さら
に好ましくは400℃以下である。
【0015】本発明において、活物質薄膜内に拡散する
集電体成分としては、銅が特に好ましい。このような銅
は、集電体の表面部分から活物質薄膜内に拡散するもの
であるので、集電体の少なくとも表面部分が銅を主成分
としていることが好ましい。
集電体成分としては、銅が特に好ましい。このような銅
は、集電体の表面部分から活物質薄膜内に拡散するもの
であるので、集電体の少なくとも表面部分が銅を主成分
としていることが好ましい。
【0016】本発明において、活物質薄膜をスパッタリ
ング法で形成する場合、活物質の構成原子を含むターゲ
ットに投入する電力密度は、50W/cm2 以下である
ことが好ましく、さらに好ましくは6W/cm2 以下で
ある。このとき、電力の投入は、DC電圧、RF電圧、
あるいは、パルス電圧の印加のいずれを用いて行なって
もよい。
ング法で形成する場合、活物質の構成原子を含むターゲ
ットに投入する電力密度は、50W/cm2 以下である
ことが好ましく、さらに好ましくは6W/cm2 以下で
ある。このとき、電力の投入は、DC電圧、RF電圧、
あるいは、パルス電圧の印加のいずれを用いて行なって
もよい。
【0017】また、本発明においては、集電体上への活
物質薄膜の形成を間欠的に行なうことが好ましい。間欠
的に活物質薄膜を形成することにより、薄膜形成の際の
温度、すなわち薄膜形成において到達する最高温度を低
くすることができる。従って、上記のような金属間化合
物が形成されにくい条件で活物質薄膜を形成することが
できる。間欠的に薄膜を形成する方法としては、集電体
をドラム状のホルダーの外周面上に設置し、該ホルダー
を回転させながら集電体上に活物質薄膜を形成させる方
法が挙げられる。
物質薄膜の形成を間欠的に行なうことが好ましい。間欠
的に活物質薄膜を形成することにより、薄膜形成の際の
温度、すなわち薄膜形成において到達する最高温度を低
くすることができる。従って、上記のような金属間化合
物が形成されにくい条件で活物質薄膜を形成することが
できる。間欠的に薄膜を形成する方法としては、集電体
をドラム状のホルダーの外周面上に設置し、該ホルダー
を回転させながら集電体上に活物質薄膜を形成させる方
法が挙げられる。
【0018】気相から原料を供給して薄膜を形成する薄
膜形成方法における好ましい薄膜形成条件を以下に説明
する。基板温度は、上述のように300℃未満であるこ
とが好ましい。基板温度が高くなり過ぎると、活物質と
集電体成分の金属間化合物が形成される場合がある。
膜形成方法における好ましい薄膜形成条件を以下に説明
する。基板温度は、上述のように300℃未満であるこ
とが好ましい。基板温度が高くなり過ぎると、活物質と
集電体成分の金属間化合物が形成される場合がある。
【0019】成膜速度は、0.01nm/秒(0.1Å
/秒)以上であることが好ましい。成膜速度が低くなり
過ぎると、低温であっても、表面拡散及び再配列の影響
が顕著になり、熱平衡プロセスに近くなるため、金属間
化合物が生じ易くなる。
/秒)以上であることが好ましい。成膜速度が低くなり
過ぎると、低温であっても、表面拡散及び再配列の影響
が顕著になり、熱平衡プロセスに近くなるため、金属間
化合物が生じ易くなる。
【0020】雰囲気圧力(真空度)は、10-2〜102
Pa程度が好ましい。雰囲気圧力(真空度)がこの範囲
よりも高くなると、粉末状の粒子を堆積したような薄膜
が作製され易くなり、集電体との密着性が悪くなる場合
がある。また、雰囲気圧力(真空度)がこの範囲よりも
低くなると、成膜速度が極端に遅くなり、上述のように
金属間化合物が生じ易くなる。
Pa程度が好ましい。雰囲気圧力(真空度)がこの範囲
よりも高くなると、粉末状の粒子を堆積したような薄膜
が作製され易くなり、集電体との密着性が悪くなる場合
がある。また、雰囲気圧力(真空度)がこの範囲よりも
低くなると、成膜速度が極端に遅くなり、上述のように
金属間化合物が生じ易くなる。
【0021】活物質薄膜をスパッタリング法で形成する
場合において、ターゲットに投入する電力密度は、上述
のように50W/cm2 以下であることが好ましく、さ
らに好ましくは6W/cm2 以下である。ターゲットに
投入する電力密度が高くなり過ぎると、プラズマからの
輻射熱の影響が大きくなり、金属間化合物が形成し易く
なる。
場合において、ターゲットに投入する電力密度は、上述
のように50W/cm2 以下であることが好ましく、さ
らに好ましくは6W/cm2 以下である。ターゲットに
投入する電力密度が高くなり過ぎると、プラズマからの
輻射熱の影響が大きくなり、金属間化合物が形成し易く
なる。
【0022】また、スパッタリングガスとしては、シリ
コンなどのターゲット材料と反応しないガスが好まし
く、このような観点からは、He、Ne、Ar、Kr、
Xe、Rn等の不活性ガスが好ましい。これらの中で
も、プラズマが発生し易く、スパッタリングの効率が高
いArガスが特に好ましい。
コンなどのターゲット材料と反応しないガスが好まし
く、このような観点からは、He、Ne、Ar、Kr、
Xe、Rn等の不活性ガスが好ましい。これらの中で
も、プラズマが発生し易く、スパッタリングの効率が高
いArガスが特に好ましい。
【0023】また、スパッタリングに用いるターゲット
としては、単結晶あるいは多結晶のターゲットが好まし
く、純度は99%以上であることが好ましい。これは、
形成する活物質薄膜への不純物の混入が減少するからで
ある。
としては、単結晶あるいは多結晶のターゲットが好まし
く、純度は99%以上であることが好ましい。これは、
形成する活物質薄膜への不純物の混入が減少するからで
ある。
【0024】また、薄膜形成を開始する前のチャンバー
内の圧力としては、0.1Pa以下であることが好まし
い。これも、活物質薄膜への不純物の混入を少なくする
ことができるからである。
内の圧力としては、0.1Pa以下であることが好まし
い。これも、活物質薄膜への不純物の混入を少なくする
ことができるからである。
【0025】薄膜を形成する前に、基板である集電体に
対してプラズマ照射などの前処理を行なうことが好まし
い。このような前処理のプラズマ照射としては、Arプ
ラズマ照射、水素プラズマ照射などが挙げられる。この
ような前処理を行なうことにより、集電体の表面を清浄
化することができる。このような前処理により、基板の
温度上昇も生じるため、基板温度が300℃以上となら
ないようにすることが好ましい。
対してプラズマ照射などの前処理を行なうことが好まし
い。このような前処理のプラズマ照射としては、Arプ
ラズマ照射、水素プラズマ照射などが挙げられる。この
ような前処理を行なうことにより、集電体の表面を清浄
化することができる。このような前処理により、基板の
温度上昇も生じるため、基板温度が300℃以上となら
ないようにすることが好ましい。
【0026】また、基板である集電体は、表面を清浄化
するため、薄膜を形成する前に洗浄しておくことが好ま
しい。洗浄剤としては、水、有機溶媒、酸、アルカリ、
中性洗剤及びこれらを組み合わせたものが好ましく用い
られる。
するため、薄膜を形成する前に洗浄しておくことが好ま
しい。洗浄剤としては、水、有機溶媒、酸、アルカリ、
中性洗剤及びこれらを組み合わせたものが好ましく用い
られる。
【0027】薄膜を形成した後、熱処理を行なう場合、
上述のように、熱処理温度は650℃未満であることが
好ましく、さらに好ましくは400℃以下である。熱処
理温度が高くなると、上述のように金属間化合物が形成
され易くなる。
上述のように、熱処理温度は650℃未満であることが
好ましく、さらに好ましくは400℃以下である。熱処
理温度が高くなると、上述のように金属間化合物が形成
され易くなる。
【0028】また、集電体上への活物質薄膜の形成は、
間欠的に行なうことが好ましい。従って、上述のように
集電体をドラム状のホルダーの外周面上に設置し、ホル
ダーを回転させながら集電体上に活物質薄膜を形成させ
たり、あるいは往復運動するホルダーの上に集電体を取
り付け、集電体の上に間欠的に活物質薄膜を形成させる
ことが好ましい。さらには、活物質薄膜を形成するため
のターゲットを複数設け、集電体がターゲットに対向す
る領域を順次通過するようにすることにより、活物質薄
膜の形成を間欠的に行うことができる。このように間欠
的に活物質薄膜を形成することにより、基板の温度上昇
を抑制することができる。また、1回の薄膜形成の膜厚
は、1μm以下であることが好ましい。
間欠的に行なうことが好ましい。従って、上述のように
集電体をドラム状のホルダーの外周面上に設置し、ホル
ダーを回転させながら集電体上に活物質薄膜を形成させ
たり、あるいは往復運動するホルダーの上に集電体を取
り付け、集電体の上に間欠的に活物質薄膜を形成させる
ことが好ましい。さらには、活物質薄膜を形成するため
のターゲットを複数設け、集電体がターゲットに対向す
る領域を順次通過するようにすることにより、活物質薄
膜の形成を間欠的に行うことができる。このように間欠
的に活物質薄膜を形成することにより、基板の温度上昇
を抑制することができる。また、1回の薄膜形成の膜厚
は、1μm以下であることが好ましい。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施例に基づいて
さらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に何ら
限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲に
おいて適宜変更して実施することが可能なものである。
さらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に何ら
限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲に
おいて適宜変更して実施することが可能なものである。
【0030】(実験1) 〔負極の作製〕集電体として、表面に電解法で銅を析出
させることにより、表面を粗面化した圧延銅箔(厚み2
6μm)を用い、この集電体の上に平行平板型RFスパ
ッタリング装置を用いて、シリコン薄膜を形成した。ス
パッタリングの雰囲気ガスとしてはArガスのみを用
い、ターゲットとしては、99.999%のシリコン単
結晶を用いた。Arガス流量や排気バルブの開度を調整
しながら、表1及び表2に示す薄膜形成条件において、
実施例1〜7及び比較例1〜3の負極を作製した。シリ
コン薄膜の厚みは約6μmとした。
させることにより、表面を粗面化した圧延銅箔(厚み2
6μm)を用い、この集電体の上に平行平板型RFスパ
ッタリング装置を用いて、シリコン薄膜を形成した。ス
パッタリングの雰囲気ガスとしてはArガスのみを用
い、ターゲットとしては、99.999%のシリコン単
結晶を用いた。Arガス流量や排気バルブの開度を調整
しながら、表1及び表2に示す薄膜形成条件において、
実施例1〜7及び比較例1〜3の負極を作製した。シリ
コン薄膜の厚みは約6μmとした。
【0031】実施例1〜3及び比較例1〜2において
は、基板温度を変化させ、薄膜形成温度(最高到達温
度)を変えてシリコン薄膜(活物質薄膜)を形成した。
実施例4及び比較例3においては、薄膜形成後、表2に
示す条件で熱処理を行なった。実施例5〜7は、ターゲ
ットに投入する電力密度を変化させて薄膜を形成した。
は、基板温度を変化させ、薄膜形成温度(最高到達温
度)を変えてシリコン薄膜(活物質薄膜)を形成した。
実施例4及び比較例3においては、薄膜形成後、表2に
示す条件で熱処理を行なった。実施例5〜7は、ターゲ
ットに投入する電力密度を変化させて薄膜を形成した。
【0032】形成したシリコン薄膜についてラマン分光
分析を行い、その結晶性を同定した。480cm-1近傍
のピークが実質的に認められ、520cm-1近傍のピー
クが実質的に認められないものは「非晶質」とした。ま
た、480cm-1近傍のピークが実質的に認められず、
520cm-1近傍のピークのみが実質的に認められるも
のを「多結晶」とした。
分析を行い、その結晶性を同定した。480cm-1近傍
のピークが実質的に認められ、520cm-1近傍のピー
クが実質的に認められないものは「非晶質」とした。ま
た、480cm-1近傍のピークが実質的に認められず、
520cm-1近傍のピークのみが実質的に認められるも
のを「多結晶」とした。
【0033】なお、シリコン薄膜は、銅箔上の2.5c
m×2.5cmの領域に、マスクを用いて限定的に形成
した。活物質薄膜を形成した後、シリコン薄膜が形成さ
れていない銅箔の領域の上に負極タブを取り付け、負極
を完成した。
m×2.5cmの領域に、マスクを用いて限定的に形成
した。活物質薄膜を形成した後、シリコン薄膜が形成さ
れていない銅箔の領域の上に負極タブを取り付け、負極
を完成した。
【0034】〔正極の作製〕LiCoO2 粉末90重量
部、及び導電材としての人造黒鉛粉末5重量部を、結着
剤としてのポリテトラフルオロエチレンを5重量部含む
5重量%のN−メチルピロリドン水溶液に混合し、正極
合剤スラリーとした。このスラリーをドクターブレード
法により、正極集電体であるアルミニウム箔(厚み18
μm)の2cm×2cmの領域の上に塗布した後乾燥
し、正極活物質層を形成した。正極活物質層を塗布しな
かったアルミニウム箔の領域の上に正極タブを取り付
け、正極を完成した。
部、及び導電材としての人造黒鉛粉末5重量部を、結着
剤としてのポリテトラフルオロエチレンを5重量部含む
5重量%のN−メチルピロリドン水溶液に混合し、正極
合剤スラリーとした。このスラリーをドクターブレード
法により、正極集電体であるアルミニウム箔(厚み18
μm)の2cm×2cmの領域の上に塗布した後乾燥
し、正極活物質層を形成した。正極活物質層を塗布しな
かったアルミニウム箔の領域の上に正極タブを取り付
け、正極を完成した。
【0035】〔電解液の作製〕エチレンカーボネートと
ジメチルカーボネートとの等体積混合溶媒に、LiPF
6 を1モル/リットル溶解して電解液を調製し、これを
以下の電池の作製において用いた。
ジメチルカーボネートとの等体積混合溶媒に、LiPF
6 を1モル/リットル溶解して電解液を調製し、これを
以下の電池の作製において用いた。
【0036】〔電池の作製〕図2は、作製したリチウム
二次電池を示す斜視図である。図3は、作製したリチウ
ム二次電池を示す断面模式図である。図3に示すよう
に、アルミラミネートフィルムからなる外装体10内
に、正極及び負極が挿入されている。負極集電体11の
上には負極活物質としてのシリコン薄膜12が設けられ
ており、正極集電体13の上には正極活物質層14が設
けられている。シリコン薄膜12と正極活物質層14
は、セパレーター15を介して対向するように配置され
ている。外装体10内には、上記の電解液が注入されて
いる。外装体10の端部は溶着により封口されており、
封口部10aが形成されている。負極集電体11に取り
付けられた負極タブ17は、この封口部10aを通り外
部に取り出されている。なお、図3に図示されないが、
正極集電体13に取り付けられた正極タブ18も、同様
に封口部10aを通り外部に取り出されている。
二次電池を示す斜視図である。図3は、作製したリチウ
ム二次電池を示す断面模式図である。図3に示すよう
に、アルミラミネートフィルムからなる外装体10内
に、正極及び負極が挿入されている。負極集電体11の
上には負極活物質としてのシリコン薄膜12が設けられ
ており、正極集電体13の上には正極活物質層14が設
けられている。シリコン薄膜12と正極活物質層14
は、セパレーター15を介して対向するように配置され
ている。外装体10内には、上記の電解液が注入されて
いる。外装体10の端部は溶着により封口されており、
封口部10aが形成されている。負極集電体11に取り
付けられた負極タブ17は、この封口部10aを通り外
部に取り出されている。なお、図3に図示されないが、
正極集電体13に取り付けられた正極タブ18も、同様
に封口部10aを通り外部に取り出されている。
【0037】〔充放電サイクル試験〕上記のようにして
作製したリチウム二次電池について、充放電サイクル試
験を行った。充放電の条件は、充電電流9mAで充電終
止容量9mAhとなるまで充電した後、放電電流9mA
で放電終止電圧2.75Vとなるまで放電し、これを1
サイクルの充放電として、各電池について、1サイクル
目、5サイクル目、及び20サイクル目における放電容
量及び充放電効率を求めた。結果を表1及び表2に示
す。なお、以下の表における流量の単位sccmは、0
℃、1気圧(101.33kPa)の1分間当りの体積
流量(cm3/分)であり、standard cubic centimeter
s per minute の略である。
作製したリチウム二次電池について、充放電サイクル試
験を行った。充放電の条件は、充電電流9mAで充電終
止容量9mAhとなるまで充電した後、放電電流9mA
で放電終止電圧2.75Vとなるまで放電し、これを1
サイクルの充放電として、各電池について、1サイクル
目、5サイクル目、及び20サイクル目における放電容
量及び充放電効率を求めた。結果を表1及び表2に示
す。なお、以下の表における流量の単位sccmは、0
℃、1気圧(101.33kPa)の1分間当りの体積
流量(cm3/分)であり、standard cubic centimeter
s per minute の略である。
【0038】
【表1】
【0039】
【表2】
【0040】表1に示す実施例1〜3及び比較例1〜2
の結果から明らかなように、薄膜形成温度(最高到達温
度)が300℃未満であれば、高い放電容量及び良好な
充放電効率が得られている。
の結果から明らかなように、薄膜形成温度(最高到達温
度)が300℃未満であれば、高い放電容量及び良好な
充放電効率が得られている。
【0041】表1に示す実施例1及び表2に示す実施例
4及び比較例3の結果から明らかなように、薄膜形成後
に行なう熱処理の温度が650℃になるとシリコン薄膜
の結晶性が多結晶になり、放電容量及び充放電効率が低
下することがわかる。このことから、熱処理の温度は6
50℃未満であることが好ましく、さらに好ましくは4
00℃以下であることがわかる。
4及び比較例3の結果から明らかなように、薄膜形成後
に行なう熱処理の温度が650℃になるとシリコン薄膜
の結晶性が多結晶になり、放電容量及び充放電効率が低
下することがわかる。このことから、熱処理の温度は6
50℃未満であることが好ましく、さらに好ましくは4
00℃以下であることがわかる。
【0042】表1に示す実施例1並びに表2に示す実施
例5〜7の結果から明らかなように、薄膜形成の際のタ
ーゲットに投入する電力密度が4.94W/cm2 以下
の範囲において、高い放電容量及び良好な充放電効率が
得られることがわかる。
例5〜7の結果から明らかなように、薄膜形成の際のタ
ーゲットに投入する電力密度が4.94W/cm2 以下
の範囲において、高い放電容量及び良好な充放電効率が
得られることがわかる。
【0043】次に、基板温度を変化させ、薄膜形成温度
(最高到達温度)を変化させて形成した実施例1〜3及
び比較例1〜2の負極について、SIMS(二次イオン
質量分析)により、深さ方向における銅元素の濃度分布
を測定した。負極としては、充放電試験前の負極を用
い、O2 + をスパッタリング源に用いて銅元素(63C
u+) の濃度分布を測定した。
(最高到達温度)を変化させて形成した実施例1〜3及
び比較例1〜2の負極について、SIMS(二次イオン
質量分析)により、深さ方向における銅元素の濃度分布
を測定した。負極としては、充放電試験前の負極を用
い、O2 + をスパッタリング源に用いて銅元素(63C
u+) の濃度分布を測定した。
【0044】図4〜図8は、実施例1〜3及び比較例1
〜2で作製した負極の深さ方向の銅の濃度分布を示して
おり、横軸は深さ(μm)を示し、縦軸は原子密度(a
toms/cc:atoms/cm3 )を示している。
図4は実施例1、図5は実施例2、図6は実施例3、図
7は比較例1、図8は比較例2をそれぞれ示している。
〜2で作製した負極の深さ方向の銅の濃度分布を示して
おり、横軸は深さ(μm)を示し、縦軸は原子密度(a
toms/cc:atoms/cm3 )を示している。
図4は実施例1、図5は実施例2、図6は実施例3、図
7は比較例1、図8は比較例2をそれぞれ示している。
【0045】図4〜図8のいずれにおいても、表面近傍
においては、銅の濃度がほぼ均一で、相対的に低い領域
が存在している。また、活物質薄膜の表面から集電体と
の界面に向かうにつれて、銅濃度が増加している領域が
存在している。このような銅濃度が増加する領域が存在
することから、活物質薄膜と集電体との界面近傍におい
ては、集電体からの銅元素の拡散によって、活物質薄膜
と銅元素との混合領域が存在していることがわかる。こ
のような混合領域(混合層)の存在によって、集電体と
活物質薄膜との間における高い密着性が得られていると
考えられる。
においては、銅の濃度がほぼ均一で、相対的に低い領域
が存在している。また、活物質薄膜の表面から集電体と
の界面に向かうにつれて、銅濃度が増加している領域が
存在している。このような銅濃度が増加する領域が存在
することから、活物質薄膜と集電体との界面近傍におい
ては、集電体からの銅元素の拡散によって、活物質薄膜
と銅元素との混合領域が存在していることがわかる。こ
のような混合領域(混合層)の存在によって、集電体と
活物質薄膜との間における高い密着性が得られていると
考えられる。
【0046】比較的基板温度が低い条件で形成した実施
例1〜3(図4〜図6)においては、活物質薄膜表面近
傍の銅濃度は、1020atoms/cc(atoms/
cm 3 )(約1%)である。これに対して、比較的高い
基板温度で活物質薄膜を形成した比較例1〜2(図7〜
図8)では、活物質薄膜表面近傍の銅濃度は、1021a
toms/cc(atoms/cm3 )(約10%)以
上になっている。これらのことから、より高い基板温度
で活物質薄膜を形成すると、活物質薄膜全体に銅が拡散
し、活物質の濃度が相対的に減少するため、放電容量が
低下すると考えられる。また、活物質薄膜中に銅が高い
濃度で存在することにより、サイクル特性が低下するも
のと考えられる。これは、おそらく活物質薄膜中で金属
間化合物が生成するためであると考えられる。
例1〜3(図4〜図6)においては、活物質薄膜表面近
傍の銅濃度は、1020atoms/cc(atoms/
cm 3 )(約1%)である。これに対して、比較的高い
基板温度で活物質薄膜を形成した比較例1〜2(図7〜
図8)では、活物質薄膜表面近傍の銅濃度は、1021a
toms/cc(atoms/cm3 )(約10%)以
上になっている。これらのことから、より高い基板温度
で活物質薄膜を形成すると、活物質薄膜全体に銅が拡散
し、活物質の濃度が相対的に減少するため、放電容量が
低下すると考えられる。また、活物質薄膜中に銅が高い
濃度で存在することにより、サイクル特性が低下するも
のと考えられる。これは、おそらく活物質薄膜中で金属
間化合物が生成するためであると考えられる。
【0047】(実験2) 〔負極の作製〕RFスパッタリング装置として、図1に
示すような、回転ホルダーを有するスパッタリング装置
を用いて、シリコン薄膜を形成した。集電体としては、
実験1に用いたものと同様のものを用い、その上にシリ
コン薄膜を形成した。集電体を、図1に示す回転ホルダ
ー1の外周面の上に設置し、回転ホルダー1を回転させ
ながら、ターゲット2に、高周波電源3から高周波(R
F)電力を供給し、Arプラズマ4を発生させ、集電体
の上にシリコン薄膜を形成した。回転ホルダー1の回転
速度は、約10rpmとし、その他の薄膜形成条件は、
表3に示す通りとした。なお、スパッタリングガスとし
ては、Arガスのみを用い、ターゲットは、実験1と同
様のものを用いた。シリコン薄膜の膜厚は約6μmとな
るように形成した。
示すような、回転ホルダーを有するスパッタリング装置
を用いて、シリコン薄膜を形成した。集電体としては、
実験1に用いたものと同様のものを用い、その上にシリ
コン薄膜を形成した。集電体を、図1に示す回転ホルダ
ー1の外周面の上に設置し、回転ホルダー1を回転させ
ながら、ターゲット2に、高周波電源3から高周波(R
F)電力を供給し、Arプラズマ4を発生させ、集電体
の上にシリコン薄膜を形成した。回転ホルダー1の回転
速度は、約10rpmとし、その他の薄膜形成条件は、
表3に示す通りとした。なお、スパッタリングガスとし
ては、Arガスのみを用い、ターゲットは、実験1と同
様のものを用いた。シリコン薄膜の膜厚は約6μmとな
るように形成した。
【0048】〔電池の作製及び充放電サイクル試験〕実
験1と同様の正極を用い、実験1と同様にしてリチウム
二次電池を作製し、実験1と同様にして充放電サイクル
試験を行なった。結果を表3に示す。
験1と同様の正極を用い、実験1と同様にしてリチウム
二次電池を作製し、実験1と同様にして充放電サイクル
試験を行なった。結果を表3に示す。
【0049】
【表3】
【0050】表3に示す結果から明らかなように、実施
例8においては、実施例1に比べ、その他の形成条件が
同じで、ターゲットに投入する電力密度が若干大きいに
もかかわらず、薄膜形成温度(最高到達温度)が実施例
1よりも低くなっている。これは、集電体を回転ホルダ
ーの上に設置し、回転ホルダーを回転させながら活物質
薄膜を形成しているので、集電体上へのシリコン薄膜の
形成が間欠的に行なわれ、このため最高到達温度が低く
抑制されているものと考えられる。また、放電容量及び
充放電効率は、実施例1に比べ若干良好になっているこ
とがわかる。
例8においては、実施例1に比べ、その他の形成条件が
同じで、ターゲットに投入する電力密度が若干大きいに
もかかわらず、薄膜形成温度(最高到達温度)が実施例
1よりも低くなっている。これは、集電体を回転ホルダ
ーの上に設置し、回転ホルダーを回転させながら活物質
薄膜を形成しているので、集電体上へのシリコン薄膜の
形成が間欠的に行なわれ、このため最高到達温度が低く
抑制されているものと考えられる。また、放電容量及び
充放電効率は、実施例1に比べ若干良好になっているこ
とがわかる。
【0051】(実験3)実験1と同じ平行平板型スパッ
タリング装置を用い、ターゲットに投入する電力を、高
周波(RF)電力に代えて、DC電力またはパルス電力
とし、表4に示す電力密度とする以外は、実験1の実施
例1と同様にして集電体上にシリコン薄膜を形成し、実
験1と同様にして負極を作製した。
タリング装置を用い、ターゲットに投入する電力を、高
周波(RF)電力に代えて、DC電力またはパルス電力
とし、表4に示す電力密度とする以外は、実験1の実施
例1と同様にして集電体上にシリコン薄膜を形成し、実
験1と同様にして負極を作製した。
【0052】〔電池の作製及び充放電サイクル試験〕実
験1と同様の正極を用い、実験1と同様にしてリチウム
二次電池を作製し、実験1と同様にして充放電サイクル
試験を行なった。結果を表4に示す。
験1と同様の正極を用い、実験1と同様にしてリチウム
二次電池を作製し、実験1と同様にして充放電サイクル
試験を行なった。結果を表4に示す。
【0053】
【表4】
【0054】表4に示す結果から明らかなように、高周
波電源に代えて、DC電源またはパルス電源を用いるこ
とにより、実施例1に比べて、薄膜形成温度(最高到達
温度)が低くなっていることがわかる。また、得られた
リチウム二次電池の放電容量及び充放電効率は、実施例
1とほぼ同様の、良好な結果が得られている。
波電源に代えて、DC電源またはパルス電源を用いるこ
とにより、実施例1に比べて、薄膜形成温度(最高到達
温度)が低くなっていることがわかる。また、得られた
リチウム二次電池の放電容量及び充放電効率は、実施例
1とほぼ同様の、良好な結果が得られている。
【0055】上記実施例では、スパッタリング法により
活物質薄膜を形成しているが、本発明はこれに限定され
るものではなく、CVD法などの他の薄膜形成方法を用
いてもよい。
活物質薄膜を形成しているが、本発明はこれに限定され
るものではなく、CVD法などの他の薄膜形成方法を用
いてもよい。
【0056】
【発明の効果】本発明によれば、充放電容量が高く、か
つ充放電サイクル特性に優れたリチウム二次電池用電極
を安定して製造することができる。
つ充放電サイクル特性に優れたリチウム二次電池用電極
を安定して製造することができる。
【図1】本発明に従う実施例で用いた回転ホルダーを有
するスパッタリング装置を示す模式的構成図。
するスパッタリング装置を示す模式的構成図。
【図2】本発明に従う実施例において作製したリチウム
二次電池を示す斜視図。
二次電池を示す斜視図。
【図3】本発明に従う実施例において作製したリチウム
二次電池を示す断面模式図。
二次電池を示す断面模式図。
【図4】実施例1の電極における深さ方向の銅元素の濃
度分布を示す図。
度分布を示す図。
【図5】実施例2の電極における深さ方向の銅元素の濃
度分布を示す図。
度分布を示す図。
【図6】実施例3の電極における深さ方向の銅元素の濃
度分布を示す図。
度分布を示す図。
【図7】比較例1の電極における深さ方向の銅元素の濃
度分布を示す図。
度分布を示す図。
【図8】比較例2の電極における深さ方向の銅元素の濃
度分布を示す図。
度分布を示す図。
1…回転ホルダー 2…ターゲット 3…高周波電源 4…Arプラズマ 10…外装体 11…負極集電体 12…シリコン薄膜 13…正極集電体 14…正極活物質層 15…セパレータ 16…電解液 17…負極タブ 18…正極タブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願2000−3644(P2000−3644) (32)優先日 平成12年1月12日(2000.1.12) (33)優先権主張国 日本(JP) (72)発明者 八木 弘雅 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 樽井 久樹 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 藤本 正久 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 藤谷 伸 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 島 正樹 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5H050 AA07 AA08 BA15 CB11 CB13 DA03 FA19 FA20 GA02 GA24 HA14
Claims (12)
- 【請求項1】 気相から原料を供給して薄膜を形成する
方法を用いて、リチウムと合金化する活物質からなる活
物質薄膜をリチウムと合金化しない金属からなる集電体
の上に形成するリチウム二次電池用電極の製造方法であ
って、 前記集電体との界面近傍の前記活物質薄膜内に前記集電
体成分が拡散してなる混合層が形成される温度で前記活
物質薄膜を形成することを特徴とするリチウム二次電池
用電極の製造方法。 - 【請求項2】 前記活物質薄膜の形成温度が、前記混合
層において前記活物質と前記集電体成分の金属間化合物
が形成されない温度であることを特徴とする請求項1に
記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項3】 前記活物質薄膜の形成温度が300℃未
満の温度であることを特徴とする請求項1または2に記
載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項4】 前記活物質薄膜を形成した後、熱処理を
行なうことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に
記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項5】 前記熱処理の温度が650℃未満である
ことを特徴とする請求項4に記載のリチウム二次電池用
電極の製造方法。 - 【請求項6】 前記活物質がシリコンまたはゲルマニウ
ムを主成分とすることを特徴とする請求項1〜5のいず
れか1項に記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項7】 前記活物質薄膜が非晶質シリコン薄膜ま
たは微結晶シリコン薄膜であることを特徴とする請求項
1〜6のいずれか1項に記載のリチウム二次電池用電極
の製造方法。 - 【請求項8】 前記活物質薄膜が、非晶質ゲルマニウム
薄膜、微結晶ゲルマニウム薄膜、非晶質シリコンゲルマ
ニウム合金薄膜、または微結晶シリコンゲルマニウム合
金薄膜であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか
1項に記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項9】 前記集電体の少なくとも表面部分が銅を
主成分としていることを特徴とする請求項1〜8のいず
れか1項に記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項10】 前記活物質薄膜の形成方法がスパッタ
リング法であることを特徴とする請求項1〜9のいずれ
か1項に記載のリチウム二次電池用電極の製造方法。 - 【請求項11】 前記集電体上への前記活物質薄膜の形
成を間欠的に行なうことを特徴とする請求項1〜10の
いずれか1項に記載のリチウム二次電池用電極の製造方
法。 - 【請求項12】 前記集電体をドラム状のホルダーの外
周面に設置し、該ホルダーを回転させながら前記集電体
上に前記活物質薄膜を形成することにより間欠的に前記
集電体上に前記活物質薄膜を形成することを特徴とする
請求項11に記載のリチウム二次電池用電極の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000321200A JP2001266851A (ja) | 1999-10-22 | 2000-10-20 | リチウム二次電池用電極の製造方法 |
Applications Claiming Priority (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30164699 | 1999-10-22 | ||
| JP30167999 | 1999-10-22 | ||
| JP11-301679 | 1999-10-22 | ||
| JP11-301646 | 1999-10-22 | ||
| JP36530699 | 1999-12-22 | ||
| JP11-365306 | 1999-12-22 | ||
| JP2000003644 | 2000-01-12 | ||
| JP2000-3644 | 2000-01-12 | ||
| JP2000321200A JP2001266851A (ja) | 1999-10-22 | 2000-10-20 | リチウム二次電池用電極の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001266851A true JP2001266851A (ja) | 2001-09-28 |
Family
ID=27530938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000321200A Pending JP2001266851A (ja) | 1999-10-22 | 2000-10-20 | リチウム二次電池用電極の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001266851A (ja) |
Cited By (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7045250B2 (en) | 2000-11-13 | 2006-05-16 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Non-aqueous electrolyte battery |
| JP2007194204A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Samsung Sdi Co Ltd | 負極活物質、その製造方法、及びこれを採用した負極とリチウム電池 |
| JP2008053214A (ja) * | 2006-07-24 | 2008-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リチウムイオン二次電池用負極とその製造方法、ならびにリチウムイオン二次電池 |
| JP2010245050A (ja) * | 2010-06-30 | 2010-10-28 | Panasonic Corp | リチウムイオン二次電池用負極、その製造方法およびそれを用いたリチウムイオン二次電池 |
| US7897284B2 (en) | 2005-09-29 | 2011-03-01 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Lithium secondary battery |
| US7964307B2 (en) | 2006-07-24 | 2011-06-21 | Panasonic Corporation | Negative electrode for lithium ion secondary battery, method for producing the same, and lithium ion secondary battery |
| WO2011074431A1 (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-23 | Jx日鉱日石金属株式会社 | リチウムイオン電池用正極及びその製造方法、並びに、リチウムイオン電池 |
| JP2011198756A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-10-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 蓄電装置及びその作製方法、並びに二次電池及びキャパシタ |
| KR101227321B1 (ko) | 2004-03-30 | 2013-01-28 | 산요덴키가부시키가이샤 | 리튬 2차 전지 |
| US8530067B2 (en) | 2003-04-10 | 2013-09-10 | Sony Corporation | Battery |
| US8623551B2 (en) | 2010-03-05 | 2014-01-07 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive-electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US8748041B2 (en) | 2009-03-31 | 2014-06-10 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery |
| JP2014521196A (ja) * | 2012-04-26 | 2014-08-25 | ▲寧▼波杉杉新材料科技有限公司 | 高性能リチウムイオン電池における多孔質フィルムシリコン負極材料及びその製造方法 |
| JP2015035427A (ja) * | 2010-03-26 | 2015-02-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 二次電池 |
| US9090481B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-07-28 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, positive electrode for lithium-ion battery, and lithium-ion battery |
| US9118076B2 (en) | 2010-02-05 | 2015-08-25 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery and lithium ion battery |
| US9214676B2 (en) | 2011-03-31 | 2015-12-15 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9216913B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-12-22 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9224514B2 (en) | 2012-01-26 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Cathode active material for lithium ion battery, cathode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US9224515B2 (en) | 2012-01-26 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Coporation | Cathode active material for lithium ion battery, cathode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US9225020B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9221693B2 (en) | 2011-03-29 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Method for producing positive electrode active material for lithium ion batteries and positive electrode active material for lithium ion batteries |
| US9231249B2 (en) | 2010-02-05 | 2016-01-05 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US9240594B2 (en) | 2010-03-04 | 2016-01-19 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9263732B2 (en) | 2009-12-22 | 2016-02-16 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, positive electrode for a lithium-ion battery, lithium-ion battery using same, and precursor to a positive electrode active material for a lithium-ion battery |
| US9327996B2 (en) | 2011-01-21 | 2016-05-03 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Method for producing positive electrode active material for lithium ion battery and positive electrode active material for lithium ion battery |
| US9911518B2 (en) | 2012-09-28 | 2018-03-06 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Cathode active material for lithium-ion battery, cathode for lithium-ion battery and lithium-ion battery |
| US10122012B2 (en) | 2010-12-03 | 2018-11-06 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, a positive electrode for lithium-ion battery, and lithium-ion battery |
-
2000
- 2000-10-20 JP JP2000321200A patent/JP2001266851A/ja active Pending
Cited By (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7045250B2 (en) | 2000-11-13 | 2006-05-16 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Non-aqueous electrolyte battery |
| US8530067B2 (en) | 2003-04-10 | 2013-09-10 | Sony Corporation | Battery |
| KR101227321B1 (ko) | 2004-03-30 | 2013-01-28 | 산요덴키가부시키가이샤 | 리튬 2차 전지 |
| US7897284B2 (en) | 2005-09-29 | 2011-03-01 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Lithium secondary battery |
| JP2007194204A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Samsung Sdi Co Ltd | 負極活物質、その製造方法、及びこれを採用した負極とリチウム電池 |
| US8017269B2 (en) | 2006-01-20 | 2011-09-13 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Anode active material, method of preparing the same, and anode and lithium battery containing the anode active material |
| JP2008053214A (ja) * | 2006-07-24 | 2008-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リチウムイオン二次電池用負極とその製造方法、ならびにリチウムイオン二次電池 |
| US7964307B2 (en) | 2006-07-24 | 2011-06-21 | Panasonic Corporation | Negative electrode for lithium ion secondary battery, method for producing the same, and lithium ion secondary battery |
| US8748041B2 (en) | 2009-03-31 | 2014-06-10 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery |
| US8993160B2 (en) | 2009-12-18 | 2015-03-31 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode for lithium ion battery, method for producing said positive electrode, and lithium ion battery |
| JP5661646B2 (ja) * | 2009-12-18 | 2015-01-28 | Jx日鉱日石金属株式会社 | リチウムイオン電池用正極及びその製造方法、並びに、リチウムイオン電池 |
| CN102668184A (zh) * | 2009-12-18 | 2012-09-12 | Jx日矿日石金属株式会社 | 锂离子电池用正极及其制造方法、以及锂离子电池 |
| WO2011074431A1 (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-23 | Jx日鉱日石金属株式会社 | リチウムイオン電池用正極及びその製造方法、並びに、リチウムイオン電池 |
| CN102668184B (zh) * | 2009-12-18 | 2015-06-24 | Jx日矿日石金属株式会社 | 锂离子电池用正极及其制造方法、以及锂离子电池 |
| KR101450978B1 (ko) * | 2009-12-18 | 2014-10-15 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 리튬 이온 전지용 정극 및 그 제조 방법, 그리고 리튬 이온 전지 |
| US9263732B2 (en) | 2009-12-22 | 2016-02-16 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, positive electrode for a lithium-ion battery, lithium-ion battery using same, and precursor to a positive electrode active material for a lithium-ion battery |
| US9118076B2 (en) | 2010-02-05 | 2015-08-25 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery and lithium ion battery |
| US9231249B2 (en) | 2010-02-05 | 2016-01-05 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US10141120B2 (en) | 2010-02-26 | 2018-11-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Power storage system and manufacturing method thereof and secondary battery and capacitor |
| JP2011198756A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-10-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 蓄電装置及びその作製方法、並びに二次電池及びキャパシタ |
| JP2015133326A (ja) * | 2010-02-26 | 2015-07-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 蓄電装置 |
| US9225020B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9090481B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-07-28 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, positive electrode for lithium-ion battery, and lithium-ion battery |
| US9240594B2 (en) | 2010-03-04 | 2016-01-19 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9216913B2 (en) | 2010-03-04 | 2015-12-22 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active substance for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US8623551B2 (en) | 2010-03-05 | 2014-01-07 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive-electrode active material for lithium ion battery, positive electrode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| JP2015035427A (ja) * | 2010-03-26 | 2015-02-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 二次電池 |
| US9735419B2 (en) | 2010-03-26 | 2017-08-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Secondary battery and method for forming electrode of secondary battery |
| JP2010245050A (ja) * | 2010-06-30 | 2010-10-28 | Panasonic Corp | リチウムイオン二次電池用負極、その製造方法およびそれを用いたリチウムイオン二次電池 |
| US10122012B2 (en) | 2010-12-03 | 2018-11-06 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium-ion battery, a positive electrode for lithium-ion battery, and lithium-ion battery |
| US9327996B2 (en) | 2011-01-21 | 2016-05-03 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Method for producing positive electrode active material for lithium ion battery and positive electrode active material for lithium ion battery |
| US9221693B2 (en) | 2011-03-29 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Method for producing positive electrode active material for lithium ion batteries and positive electrode active material for lithium ion batteries |
| US9214676B2 (en) | 2011-03-31 | 2015-12-15 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Positive electrode active material for lithium ion batteries, positive electrode for lithium ion batteries, and lithium ion battery |
| US9224515B2 (en) | 2012-01-26 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Coporation | Cathode active material for lithium ion battery, cathode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| US9224514B2 (en) | 2012-01-26 | 2015-12-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Cathode active material for lithium ion battery, cathode for lithium ion battery, and lithium ion battery |
| JP2014521196A (ja) * | 2012-04-26 | 2014-08-25 | ▲寧▼波杉杉新材料科技有限公司 | 高性能リチウムイオン電池における多孔質フィルムシリコン負極材料及びその製造方法 |
| US9911518B2 (en) | 2012-09-28 | 2018-03-06 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | Cathode active material for lithium-ion battery, cathode for lithium-ion battery and lithium-ion battery |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3702224B2 (ja) | リチウム二次電池用電極の製造方法 | |
| JP2001266851A (ja) | リチウム二次電池用電極の製造方法 | |
| JPWO2001029914A1 (ja) | リチウム二次電池用電極の製造方法 | |
| JP3702223B2 (ja) | リチウム電池用電極材料の製造方法 | |
| JPWO2001029913A1 (ja) | リチウム電池用電極材料の製造方法 | |
| JP3733066B2 (ja) | リチウム二次電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JP3733071B2 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JP3913490B2 (ja) | リチウム二次電池用電極の製造方法 | |
| JP3733065B2 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JPWO2001029918A1 (ja) | リチウム二次電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JPWO2001031721A1 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JPWO2001029912A1 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JP4245270B2 (ja) | 二次電池用電極の製造方法 | |
| JPWO2001031720A1 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JPWO2002058182A1 (ja) | リチウム二次電池 | |
| JPWO2001031723A1 (ja) | リチウム二次電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| JPWO2001031722A1 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| WO2001031723A1 (en) | Electrode for lithium secondary cell and lithium secondary cell | |
| JPWO2001031724A1 (ja) | リチウム電池用電極及びリチウム二次電池 | |
| WO2001031722A1 (en) | Electrode for lithium cell and lithium secondary cell | |
| JP2005150038A (ja) | リチウム二次電池 | |
| WO2001056099A1 (en) | Electrode for lithium cell and lithium secondary cell | |
| JP4329357B2 (ja) | リチウム二次電池負極部材、及びその製造方法 | |
| CN112820847A (zh) | 硅基负极材料及其制备方法、锂离子电池以及电器 | |
| JP2002289180A (ja) | リチウム二次電池用電極の製造方法及び製造装置 |