[go: up one dir, main page]

JP2001264031A - 形状計測方法及びその装置 - Google Patents

形状計測方法及びその装置

Info

Publication number
JP2001264031A
JP2001264031A JP2000070269A JP2000070269A JP2001264031A JP 2001264031 A JP2001264031 A JP 2001264031A JP 2000070269 A JP2000070269 A JP 2000070269A JP 2000070269 A JP2000070269 A JP 2000070269A JP 2001264031 A JP2001264031 A JP 2001264031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shape measuring
shape
reference planes
light irradiation
measuring method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000070269A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3446020B2 (ja
Inventor
Motoharu Fujigaki
元治 藤垣
Yoshiharu Morimoto
吉春 森本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wakayama University
Original Assignee
Wakayama University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wakayama University filed Critical Wakayama University
Priority to JP2000070269A priority Critical patent/JP3446020B2/ja
Publication of JP2001264031A publication Critical patent/JP2001264031A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3446020B2 publication Critical patent/JP3446020B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 物体の大きさによらず、高精度な形状計測を
可能とする形状計測方法及び形状計測装置を提供する。 【解決手段】 複数の基準面R〜RN−1を、これら
基準面の法線方向に所定の間隔で設定する。そして、計
測すべき物体3を前記複数の基準面の内、両端に位置す
る基準面R及びRN−1の間に配置する。その後、物
体3の表面上の点Sの座標を求めるために、基準面R
〜RN−1を用いて、点Sを通るカメラの視線Lとプ
ロジェクタからの光線Lが基準面R〜RN−1とそ
れぞれ交わる点Pと直線Cの交点を求め、
そのZ座標からその点に最も近接した2つの基準面R
及びRi+1を選出する。そして、これら基準面R
びR i+1を用いて物体3の形状を計測する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、形状計測方法及び
その装置に関し、さらに詳しくは、工場ライン検査及び
人体形状計測の分野における非接触の形状計測に対して
好適に使用することが可能な、形状計測方法及びその装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、非接触において物体の3次元形状
を計測する方法として、前記物体に所定の格子を投影
し、異なる角度からその格子を撮影して得られた画像を
解析することにより3次元形状を求める格子投影法が用
いられている。この格子投影法は、具体的には、(1)
物体に所定の格子を投影する工程と、(2)この投影さ
れた格子を撮影して格子画像を得る工程と、(3)この
格子画像を解析し、格子位相値を計算する工程と、
(4)この格子位相値から3次元座標を計算する工程
と、からなる。
【0003】上記(1)及び(2)の工程における精度
は、投影及び撮影に使用するプロジェクタやCCDカメ
ラなどの性能によって決定される。また、(3)の工程
における精度を向上させるために、フーリエ変換位相シ
フト法が好ましく用いられている。この方法は、ノイズ
の影響をほとんど無視することができ、極めて精度良く
格子画像を解析することができる。
【0004】(4)の工程における精度を向上させるた
めには、3次元座標の計算においては、この格子画像解
析においては、撮像装置であるCCDカメラや光照射装
置であるプロジェクタなどのレンズ中心位置や光軸の向
きなどの光学系パラメータを精度良く求めることが要求
される。この要求に答えるべく、本発明者らは、基準面
である2次元格子が描かれた基準平板を用い、この基準
平板の格子画像を解析することにより得た位相分布を用
いることにより、前記光学パラメータを精度良く求めら
れることを見出した。この計測方法に関しては、本発明
者らの出願によって特許を取得している(特許第291
3021)。
【0005】図1は、本発明者らによる計測方法を説明
するための概念図である。最初に、2次元格子が描かれ
た2つの基準面R及びRを準備する。次いで、これ
ら基準面の格子画像をCCDカメラ1によって撮影す
る。これらの格子画像は、図示しない演算処理機におい
てフーリエ変換されて、所定の位相分布に変換される。
基準面に描かれている2次元格子のそれぞれの格子点に
おける座標位置は既知であるので、CCDカメラの各画
素に対応する2次元格子の位相値がわかれば、その画素
に撮影されている基準面上の点の座標が得られることに
なる。基準面R及びR上における座標位置は前記演
算処理機中に位相データとして蓄積される。
【0006】また、基準面R及びRにプロジェクタ
2から2次元格子を投影し、その2次元格子画像をCC
Dカメラ1によって撮影する。これらの格子画像も、図
示しない演算処理機においてフーリエ変換されて、所定
の位相分布に変換される。この位相分布から、プロジェ
クタから投影されている2次元格子の各投影線がCCD
カメラのどの画素に撮影されているのかを求めることが
できる。CCDカメラの各画素に対応する基準面R
びR上の座標はすでにわかっているので、プロジェク
タからの各投影線が基準面R及びR上に投影されて
いる点の座標を求めることができる。基準面R及びR
上におけるプロジェクタから投影された2次元格子の
座標位置も前記演算処理機中に位相データとして蓄積さ
れる。なお、CCDカメラ1とプロジェクタ2の位置
は、基準面を撮影する場合も物体の形状計測を行う場合
も、はじめに設置した状態のまま移動させないこととす
る。
【0007】物体の形状計測は、基準面R及びR
に物体3を配置し、この物体3にプロジェクタ2から2
次元格子を投影する。このときCCDカメラ1とプロジ
ェクタ2の位置は、前述したようにはじめに設置した状
態のまま移動させない。プロジェクタ2から2次元格子
が投影されている物体3をCCDカメラ1で撮影する
と、光線Lが投影されている点SがCCDカメラ3の
視線L上に存在し、視線Lに対応した画素に撮影さ
れる。上記説明で述べているように、その画素に撮影さ
れている基準面R及びR上の点C及びCの座標
は、演算処理機中に蓄積された位相データよりそれぞれ
得られることになり、視線Lが点C及びCを通る
直線として精度よく求まることになる。
【0008】また、光線Lの持つ位相は、物体に投影
された格子を撮影した格子画像から求めることができ
る。上記説明で述べたように、光線Lが基準面R
びRとそれぞれ交わる点P及びPの座標は、演算
処理機中に蓄積された位相データよりそれぞれ得られる
ことになり、光線Lが点P及びPを通る直線とし
て精度よく求まることになる。したがって、物体上の点
Sは、視線Lと光線L の交点として得ることができ
る。物体表面の各点におてい同様の操作を行うことによ
り、物体の形状計測を行うことができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような方法においても、計測しようとする物体の大きさ
などによっては、正確な光学パラメータを求めることが
できず、これにより、前記物体の形状を非接触で精度良
く計測できない場合があった。
【0010】本発明は、上記問題のない新規な形状計測
方法、及びこの方法に対して好適に用いることのできる
形状計測装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の形状計測方法
は、複数の異なる基準面を設定するとともに、これら基
準面の間に計測試料を配置する。さらに、この計測試料
の表面上において光照射装置から発射された光と撮像装
置の視線とを交差させ、前記光照射装置の位置に対応す
る前記複数の基準面におけるそれぞれの座標値と、前記
撮像装置の位置に対応する前記複数の基準面におけるそ
れぞれの座標値とを演算処理する。そして、前記複数の
基準面は、この基準面の法線方向において少なくとも3
つ並列するとともに、前記計測試料の形状は、この計測
試料に近接して配置された前記複数の基準面の内の2つ
によって計測するようにしたことを特徴とする。
【0012】本発明者らは、上述したような基準面を用
いる形状計測方法において、物体の大きさなどに依存し
てこの物体の形状が正確に計測できなくなる原因を探る
べき鋭意検討を行った。その結果、計測しようとする物
体を前記基準面より離して配置すればするほど、前記物
体の形状誤差が大きくなることを見出した。すなわち、
ある一つの物体に対して基準面を設定し、この基準面を
用いて前記物体よりも小さい物体の形状を計測しようと
すると、この物体は必然的に前記基準面より離れて配置
されることになる。したがって、この小さい物体の形状
計測においては誤差が大きくなってしまうことを見出し
た。
【0013】そこで、本発明者らは、計測しようとする
物体の大きさに対応させて随時基準面の設定を行うこと
を試みた。しかしながら、このような方法では、前記基
準面の設定に伴う座標位置の位相データへのフーリエ変
換などに長時間を要してしまい、これによって計測に長
時間を要してしまうという新たな問題を生じさせてしま
っていた。したがって、本発明者らは、新たな形状計測
方法を見出すべく鋭意検討を行った。
【0014】その結果、本発明者らによる上記計測方法
において、従来用いていた2つの基準面に代えて3つ以
上の基準面を予め設定しておき、計測すべき物体が配置
された箇所に最も近接する任意の基準面を選出し、この
基準面を利用することによって前記物体の形状計測を実
施することを想到した。本発明は、上述した原因の発見
と、この原因に基づく新たな形状計測方法のの探索の結
果としてなされたものである。
【0015】したがって、本発明によれば、物体の大き
さが変化した場合においても、その大きさに適合するよ
うに、前記物体に最も近接する基準面を用いて前記物体
の形状を計測することができる。このため、物体形状の
計測精度を飛躍的に向上させることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明を発明の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。図2及び3は、本発明の形
状計測方法を説明するための概念図である。なお、図2
及び3における、図1と同様の部分については同様の符
号を用いて表している。
【0017】最初に、図2に示すように、2次元格子が
描かれた基準面R〜RN−1(N≧3の自然数)を、
これら基準面の法線方向に所定の間隔をおいて設定す
る。なお、図中においては、便宜上、前記法線方向をZ
方向にとってある。そして、基準面R〜RN−1のそ
れぞれに対するZ方向座標軸での座標位置Z〜ZN−
を図示しない所定の演算処理機に記憶させておく。
【0018】基準物体としては2次元格子の基準平板を
用いる。基準平板は基準面R〜R N−1 位置に順次
設置にし、それぞれの位置において、前述したように描
かれている2次元格子の位相分布と、プロジェクタから
投影された2次元格子の位相分布をフーリエ変換するこ
とによって求め、それぞれ前記演算処理機中の位相デー
タの形で蓄積する。つまり、この操作により、基準面R
〜RN−1の位置における、CCDカメラの各視線が
通る座標と、プロジェクタの各投影線が通る座標の全て
を求めることになる。なお、この操作終了後、基準平板
は除去する。
【0019】その後、計測すべき物体3を互いに最も離
れて位置する基準面R及びRN− 間に配置する。そ
して、前記同様にして、CCDカメラ1の視線Lとプ
ロジェクタ2から発射される光線Lとを物体3の表面
において交差させる。この交差点をS'とする。この交
差点S'の位置は、上述した本発明者らによる従来の計
測方法にしたがって、CCDカメラ1及プロジェクタ2
の位置に対応した、基準面R及びRN−1上における
座標位置P及びC、並びにPN−1及びC −1
り求めることができる。すなわち、これらの座標位置か
ら交差点S'のZ方向座標軸における座標位置ZS'を知
ることができる。
【0020】次に、前記演算処理機には、各基準面のZ
方向座標位置が記憶されているため、座標位置ZS'
最も近接するZ座標位置及びZi+1座標位置の2つ
の基準面R及びRi+1を選出する。その後は、従来
の方法と同様にして、CCDカメラ1及びプロジェクタ
2の位置に対応した、基準面RびRi+1の座標位置
及びC、並びにPi+1及びCi+1の前記演算
処理機による計算から、物体3の表面の点Sの座標を求
め、これによって物体3の形状を計測するものである。
【0021】図4は、本発明にしたがって、大きさが15
0×150mmである平面形状の物体の形状計測を実施した
場合の計測誤差を示す図である。図から明らかなよう
に、本計測は、基準面の法線方向(Z方向)において、
〜Rの5つの基準面を20mmの等間隔で配置
し、前記物体をZ方向における所定の位置に配置した場
合の結果を示したものである。また、図5は、基準面R
及びRのみを用い、上記同様にして物体の形状計測
を実施した場合の計測誤差を示す図である。
【0022】図4及び5から明らかなように、基準面R
及びRのみを用いた場合においては、基準面R
びRから離れるにつれて、すなわち、これら基準面か
ら前記物体が離れて配置されるにつれて、計測誤差が増
大するのが分かる。これに反して、基準面R〜R
用いた本発明の計測方法においては、基準面R及びR
の間においてほぼ一定の計測誤差を示すことが判明し
た。そして、この計測誤差は、基準面R及びRを用
いる従来の計測方法に対してほぼ1/3程度以下に減少
していることが分かる。すなわち、本発明の形状計測方
法によれば、計測すべき物体に最も近接した基準面を使
用することにより、前記物体の大きさによらず、前記物
体形状を正確に計測できることが分かる。
【0023】図6は、本発明の形状計測方法を実施する
ために好適に用いることのできる、計測装置の一例を示
す図である。図6に示す形状計測装置は、撮像装置とし
てのCCDカメラ1と、光照射装置としてのプロジェク
タ2と、画像表示装置としての液晶ディスプレイ4と、
この液晶ディスプレイ4を支持するための移動手段であ
る移動ステージ5とを具えている。
【0024】CCDカメラ1及びプロジェクタ2は、図
2及び3に示すように互いに並列するとともに、液晶デ
ィスプレイ4と対向するように配置されている。そし
て、移動ステージ5は、液晶ディスプレイ4をCCDカ
メラ1及びプロジェクタ2に向けて連続的に移動できる
ようになっている。液晶ディスプレイ4上には、演算処
理機6からの信号を受けて所定の2次元格子が画面上に
映しだされるようになっており、液晶ディスプレイの画
面自体が基準面を構成するように設定されている。ま
た、CCDカメラ1、プロジェクタ2、液晶ディスプレ
イ4、及び移動ステージ5の位置並びに照射強度などの
すべての動作は、演算処理機6によって行われる。
【0025】図6に示す形状計測装置を用いた形状計測
は、以下のようにして行う。最初に、移動ステージ5に
よって液晶ディスプレイ4をCCDカメラ1及びプロジ
ェクタ2に向けて、所定の距離だけ数段階(N−1:N
≧3)移動させる。そして、各移動段階において、液晶
ディスプレイ4の画面上に表示された2次元格子の格子
画像をCCDカメラ1で撮影する。これによって、実質
上基準面をN個設定したことになる。
【0026】その後、計測すべき物体を前記両端に位置
する基準面間に配置し、上述した本発明の形状計測方法
にしたがって前記物体の形状を計測する。
【0027】本発明の形状計測装置においては、基準面
を液晶ディスプレイの画面に表示された2次元格子から
構成し、この液晶ディスプレイを所定の距離だけ数段階
移動するように構成している。このため、単一の液晶デ
ィスプレイのみで所定の間隔だけ離隔された複数の基準
面を設定することができ、これによって、装置構成を単
純化することができる。
【0028】以上、具体例を挙げながら発明の実施の形
態に基づいて本発明を詳細に説明してきたが、本発明は
上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸
脱しない限りにおいて、あらゆる変形や変更が可能であ
る。例えば、上記計測方法及び計測装置においては、撮
像装置、光照射装置、及び画像表示装置として、CCD
カメラ、プロジェクタ、及び液晶ディスプレイを用いた
場合について示しているが、これらに代わる公知の撮像
装置や投影装置、表示装置などをも当然に用いることが
できる。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の形状計測
方法及び形状計測装置によれば、任意のおおきさの物体
形状を高精度で計測できることが分かる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の形状計測方法を説明するための概念図
である。
【図2】 本発明の形状計測方法を説明するための概念
図である。
【図3】 同じく、本発明の形状計測方法を説明するた
めの概念図である。
【図4】 本発明の形状計測方法によって物体形状を計
測した場合の、計測誤差を示すグラフである。
【図5】 従来の形状計測方法によって物体形状を計測
した場合の、計測誤差を示すグラフである。
【図6】 本発明の形状計測装置の一例を示す図であ
る。
【符号の説明】
1 CCDカメラ 2 プロジェクタ 3 形状計測物体 4 液晶ディスプレイ 5 移動ステージ 6 演算処理機 R〜RN−1 基準面

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の異なる基準面を設定するととも
    に、これら基準面の間に計測試料を配置し、この計測試
    料の表面上において光照射装置から発射された光線L
    と撮像装置の視線Lとを交差させ、前記光照射装置の
    位置に対応する前記複数の基準面におけるそれぞれの座
    標値と、前記撮像装置の位置に対応する前記複数の基準
    面におけるそれぞれの座標値とを演算処理して、前記計
    測試料の形状を計測する方法であって、 前記複数の基準面は、この基準面の法線方向において少
    なくとも3つ並列するとともに、前記計測試料の形状
    は、この計測試料に近接して配置された前記複数の基準
    面の内の2つによって計測するようにしたことを特徴と
    する、形状計測方法。
  2. 【請求項2】 前記基準面は、基準平板上に描かれた2
    次元格子からなることを特徴とする、請求項1に記載の
    形状計測方法。
  3. 【請求項3】 前記基準平板は画像表示装置からなり、
    前記2次元格子は前記画像表示装置上に表示された画像
    からなることを特徴とする、請求項2に記載の形状計測
    方法。
  4. 【請求項4】 前記演算処理は、前記複数の基準面のそ
    れぞれの画像を前記撮像装置によって撮影し、前記画像
    をフーリエ変換することによって作成した位相分布を基
    にして行うことを特徴とする、請求項1〜3のいずれか
    一に記載の形状計測方法。
  5. 【請求項5】 光照射装置と、撮像装置と、画像表示装
    置と、この画像表示装置を支持する移動手段とを具え、
    前記光照射装置及び前記撮像装置は、互いに並列すると
    ともに前記画像表示装置と対向するように配置され、前
    記移動手段は、前記画像処理装置を前記光照射装置及び
    前記撮像装置に向けて連続的に移動するようにしたこと
    を特徴とする、形状計測装置。
  6. 【請求項6】 前記画像表示装置は、液晶ディスプレイ
    であることを特徴とする、請求項5に記載の形状計測装
    置。
  7. 【請求項7】 前記光照射手段は、プロジェクタである
    ことを特徴とする、請求項5又は6に記載の形状計測装
    置。
  8. 【請求項8】 前記撮像装置は、CCDカメラであるこ
    とを特徴とする、請求項5〜7のいずれか一に記載の形
    状計測装置。
JP2000070269A 2000-03-14 2000-03-14 形状計測方法 Expired - Lifetime JP3446020B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000070269A JP3446020B2 (ja) 2000-03-14 2000-03-14 形状計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000070269A JP3446020B2 (ja) 2000-03-14 2000-03-14 形状計測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001264031A true JP2001264031A (ja) 2001-09-26
JP3446020B2 JP3446020B2 (ja) 2003-09-16

Family

ID=18589031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000070269A Expired - Lifetime JP3446020B2 (ja) 2000-03-14 2000-03-14 形状計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3446020B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005098985A (ja) * 2003-08-28 2005-04-14 Fujitsu Ltd 計測装置、コンピュータ数値制御装置及びプログラム
JP2008281491A (ja) * 2007-05-11 2008-11-20 Wakayama Univ 多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
WO2025169441A1 (ja) * 2024-02-09 2025-08-14 株式会社ジェイテクト 形状計測方法、および形状計測装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6072425B2 (ja) * 2012-04-13 2017-02-01 藤垣 元治 三次元変位計測装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005098985A (ja) * 2003-08-28 2005-04-14 Fujitsu Ltd 計測装置、コンピュータ数値制御装置及びプログラム
JP2008281491A (ja) * 2007-05-11 2008-11-20 Wakayama Univ 多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
WO2025169441A1 (ja) * 2024-02-09 2025-08-14 株式会社ジェイテクト 形状計測方法、および形状計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3446020B2 (ja) 2003-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6256099B1 (en) Methods and system for measuring three dimensional spatial coordinates and for external camera calibration necessary for that measurement
JPH1038533A (ja) タイヤの形状測定装置とその方法
CN110612428B (zh) 使用特征量的三维测量方法及其装置
JP2007071769A (ja) モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法
JP2008275366A (ja) ステレオ3次元計測システム
WO2008075632A1 (ja) 複眼測距装置の検査方法および検査装置並びにそれに用いるチャート
JPH04172213A (ja) 三次元形状測定装置の校正方法
JPH10320558A (ja) キャリブレーション方法並びに対応点探索方法及び装置並びに焦点距離検出方法及び装置並びに3次元位置情報検出方法及び装置並びに記録媒体
JP2001264031A (ja) 形状計測方法及びその装置
JP2000205821A (ja) 三次元形状計測装置及びその三次元形状計測方法
US8102516B2 (en) Test method for compound-eye distance measuring apparatus, test apparatus, and chart used for the same
JPH09210649A (ja) 三次元計測装置
JP3036444B2 (ja) 収束電子線回折図形を用いた格子歪み評価方法および評価装置
JP2681745B2 (ja) レーザ光を利用したスペックルパターンによる被計測物の上下および横移動量の測定方法。
JP2004117186A (ja) 3次元形状測定装置
JPH0252204A (ja) 3次元座標計測装置
KR20240071170A (ko) 멀티뷰 위상 이동 프로파일로메트리를 위한 3차원 캘리브레이션 방법 및 장치
JPH10185520A (ja) レーザー光線の受光点中心の検出方法
JP7191632B2 (ja) 偏心量測定方法
JP4565171B2 (ja) 距離測定装置及びその方法
KR20180055547A (ko) 정자 활동성 검사장치
JPH11223516A (ja) 3次元画像撮像装置
JPH0914914A (ja) レーザスペックルパターンによる移動量の測定装置におけるレーザ光の照射方法ならびにその装置
JP2006003276A (ja) 3次元形状計測システム
JPS63218815A (ja) 位置測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3446020

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term