[go: up one dir, main page]

JP2001176692A - X線撮影装置 - Google Patents

X線撮影装置

Info

Publication number
JP2001176692A
JP2001176692A JP35651799A JP35651799A JP2001176692A JP 2001176692 A JP2001176692 A JP 2001176692A JP 35651799 A JP35651799 A JP 35651799A JP 35651799 A JP35651799 A JP 35651799A JP 2001176692 A JP2001176692 A JP 2001176692A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
detector
detection unit
field
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35651799A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Tsuji
久男 辻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP35651799A priority Critical patent/JP2001176692A/ja
Publication of JP2001176692A publication Critical patent/JP2001176692A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】撮影部位に応じて適切なX線透視像が得られる
X線撮影装置の提供を目的とする。 【解決手段】X線自動露出用検出器10は小視野用検出
部10a、中視野用検出部10b、及び大視野用検出部
10cからなり、X線照射野が小さい場合、小視野用検
出部10aのみの検出値の積分値に応じてX線透視像の
自動露出制御がなされ、X線照射野が中程度の場合、小
視野用検出部10a及び中視野用検出部10bの検出値
和の積分値に応じてX線透視像の自動露出制御がなされ
る。さらに、X線照射野が大きい場合、小視野用検出部
10a、及び中視野用検出部10b、及び大視野用検出
部10cの検出値和の積分値に応じてX線透視像の自動
露出制御がなされる。これにより、撮影部位を透過する
X線量の正確な測定値に基づく露出制御が可能となり、
撮影部位毎に良好な撮影像が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、X線撮影に際し
て、透視像の濃度を自動的かつ最適に制御するX線自動
露出制御機能を備えたX線撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線を被検体に照射し、その透過X線を
フィルムなどのX線検出手段で検知することによりX線
像を得るX線撮影が医療の分野で行われているが、良好
なX線像を得るためには、適切なX線量がフィルムなど
に照射されるようコントロールする必要がある。
【0003】このため、X線写真撮影等においては、X
線自動露出機能を備えたX線撮影装置が広く用いられて
おり、このX線自動露出機能は、透過X線の一部を検出
し、その検出値に応じて撮影時間を自動制御することに
より、フィルム等に照射される透過X線の積算量を所望
の値とするものである。
【0004】図7は、従来のX線自動露出機能を備えた
X線撮影装置の概略構成を示している。同図において、
X線管1から照射されたX線は撮影部位に応じて所定の
撮影視野が得られるようX線絞り2で絞られ、撮影台4
に載置された被検体3に照射される。被検体3を透過し
たX線はその一部が自動露出用X線検出器5で検知され
ると共にカセッテ6内のフィルムに照射される。X線高
電圧装置7は、自動露出用X線検出器5で検出された値
を積分し、その積分値がカセッテ6内のフィルムに応じ
た撮影像に適した値になった時点でX線管1から照射さ
れるX線を停止させる。これにより、カセッテ6内のフ
ィルムに対するX線自動露光制御が可能となり、被検体
3に対する適切なX線撮影像が得られる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のX線撮
影装置では、図8に示されるように、自動露出用X線検
出器5におけるX線の検出部5aは撮影中心に一ヵ所の
み配設されX線を検出する採光野の大きさが固定されて
いたため、撮影部位に応じてX線絞り2によって規定さ
れるX線照射野が図8(a)に示されるように、検出部
5aに対して広い場合は、撮影部位のうち限られた部分
の平均線量しか測定できず、適切な撮影像が得られない
場合があった。
【0006】また、図8(b)に示されるように、X線
照射野が狭い場合、検出部5aにおいて一部X線を検知
できない部分が生じ、かかる場合も、撮影部位を透過し
た正確なX線量が測定できないことから適切な撮影像が
得られない場合があった。
【0007】本願発明はこれらの問題点を解決するため
に創案されたものであって、撮影部位に応じて適切なX
線透視像が得られるX線撮影装置の提供を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、 X
線を被検体に照射することでその透過像を撮影するX線
撮影装置において、それぞれ異なる視野の透過X線を検
出する2以上のX線検出器と、前記2以上のX線検出器の
うち撮影部位に適したX線検出器を選択しその検出値を
出力する検出器選択手段と、選択されたX線検出器の検
出値を積分し、その積分値が撮影部位に適したX線量と
なったときにX線の照射を停止させる自動露出制御手段
とを備えたことを特徴とする。
【0009】請求項1の発明によれば、それぞれ異なる
視野の透過X線を検出する2以上のX線検出器を備え、
撮影部位に適したX線検出器が選択されるため、撮影部
位の大きさとX線採光野の大きさの相違が縮小する。こ
のため、撮影部位を透過するX線量の正確な測定値に基
づく露出制御が可能となり、撮影部位毎に良好な撮影像
が得られる。
【0010】請求項2の発明は、請求項1に記載された
X線撮影装置において、前記2以上のX線検出器は、少
なくとも撮影中心に配設した第1のX線検出器と、この
第1のX線検出器を囲む第2のX線検出器とからなり、前
記検出器選択手段は、撮影部位の大きさに応じて前記第
1のX線検出器の検出値、または、前記第1及び第2のX
線検出器の検出値の和を出力することを特徴とする。
【0011】請求項2の発明によれば、撮影中心に配設
した第1のX線検出器と、この第1のX線検出器を囲むよ
う第2のX線検出器を配設し、撮影部位が大きくなった
場合に、両検出器の検出値の和を検出値とするため、配
設したX線検出器を有効に利用することが可能となる。
【0012】請求項3の発明は、請求項2に記載された
X線撮影装置において、撮影部位に応じてX線照射範囲
を制限するX線絞りと、撮影部位に適したX線照射範囲
が得られるよう前記X線絞りを制御すると共に、前記X
線照射範囲に応じて適宜X線検出器が選択されるよう前
記検出器選択手段を制御するX線照射野制御手段とをさ
らに有し、前記X線照射範囲は選択されたX線検出器が
少なくとも収まる大きさであることを特徴とする。
【0013】請求項3の発明によれば、撮影部位に適し
たX線照射範囲が得られるようX線絞りが制御されると
共に、選択されたX線照射範囲に応じて適宜X線検出器
が選択されるよう前記検出器選択手段が制御されるた
め、X線照射野が広い場合は、その撮影部位の透過X線
を正確に検知でき、しかも、X線照射野が狭い場合であ
っても、その照射野に適したX線検出器を選択すること
により、その照射野を透過するX線量を正確に検知する
ことが可能となる。このため、撮影部位に応じて被検体
の被曝量を最小限に抑えることができると共に、撮影部
位を透過するX線量の正確な測定値に基づく露出制御が
可能となり、撮影部位毎に良好な撮影像が得られる。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は本願発明の一実施形態であ
るX線撮影装置の概略構成を示している。同図におい
て、X線管20から照射されたX線はX線絞り21によ
ってその照射範囲が絞られ、被検体11に照射される。
被検体11を透過したX線はX線自動露出用検出器10
でその一部が検出されると共に、カセッテ12内のX線
フィルムに照射されX線像が得られる。
【0015】図2は、X線自動露出用検出器10をX線
照射方向から観察した概略図であるが、同図に示される
ように、X線自動露出用検出器10は撮影中心に配設さ
れた円状の小視野用検出部10a、その周囲に配設され
たリング状の中視野用検出部10b、及び中視野用検出
部10bの回りに配設されたリング状の大視野用検出部
10cからなり、それぞれの検出値はコネクタ10dを
介して出力されるよう構成されている。
【0016】ここで、小視野用検出部10aは、最も小
さい撮影部位の撮影用に用いられるものであって、最小
のX線照射野内に収まる程度の大きさに形成されてい
る。また、中視野用検出部10bは中程度の大きさの撮
影部位の撮影に用いられ、さらに、大視野用検出部10
cは大きい部位の撮影に用いられる。なお、本実施形態
では、3つの検出器を用いたが、検出器の数を増やすほ
ど、種々の対象部位に柔軟に対応させることが可能とな
る。
【0017】図3は、図2におけるA−A断面を示す概
略図である。ここで、X線自動露出用検出器には、蛍光
採光型、電離箱型、半導体型などのものが存在し、本願
発明では、いずれを用いてもよいが、ここでは、電離箱
型のX線自動露出用検出器の一形態を示す。図3におい
て、X線自動露出用検出器10は、その周囲を形成する
フレーム100と、X線の入力側と出力側をそれぞれ覆
うA1板100aとA2板100bによって形成された
チャンバ内にそれぞれ小視野用検出部10a、中視野用
検出部10b、及び大視野用検出部10cが形成されて
いる。
【0018】小視野用検出部10aは、リング形状のス
ペーサ101aによって仕切られた円上空間において、
A1板100aとA2板100bの内面にそれぞれ円形
の絶縁板102a、102a’及びその表面にそれぞれ
同形状の電極104a、104a’が配設され、電極1
04a、104a’間に直流電圧を印加することで電離
空間103aを形成している。また、リング形状のスペ
ーサ101aは電極104a、104a’間の距離が常
に一定となるようA1板100a及びA2板100bを
保持することでX線の検出精度を上げている。
【0019】中視野用検出部10bは、リング形状のス
ペーサ101aとその周囲を覆うリング形状のスペーサ
101bで仕切られるリング状の空間において、A1板
100aとA2板100bの内面にそれぞれリング形状
の絶縁板102b、102b’及びその表面にそれぞれ
同形状の電極104b、104b’が配設され、電極1
04b、104b’間に直流電圧を印加することで電離
空間103bを形成している。また、リング形状のスペ
ーサ101a及びスペーサ101bは電極104b、1
04b’間の距離が常に一定となるようA1板100a
及びA2板100bを保持することでX線の検出精度を
上げている。
【0020】さらに、大視野用検出部10cは、リング
形状のスペーサ101bとその周囲を覆うリング形状の
スペーサ101cで仕切られるリング状の空間におい
て、A1板100aとA2板100bの内面にそれぞれ
リング形状の絶縁板102c、102c’及びその表面
にそれぞれ同形状の電極104c、104c’が配設さ
れ、電極104c、104c’間に直流電圧を印加する
ことで電離空間103cを形成している。また、リング
形状のスペーサ101b及びスペーサ101cは電極1
04b、104b’間の距離が常に一定となるようA1
板100a及びA2板100bを保持することでX線の
検出精度を上げている。
【0021】以上の構成のX線自動露出用検出器10に
おいて、フレーム100、A1板100a、及びA2板
100bはX吸収率の低いアルミで形成され、また、ス
ペーサ101a、スペーサ101b、及びスペーサ10
1cはX線吸収率の低い樹脂で形成されている。さら
に、電極104a,104a’、電極104b,104
b’、及び電極104c,104c’はアルミ箔により
形成されているため、X線自動露出用検出器10におけ
るX線吸収が低くなる。このためX線自動露出用検出器
10を、カセッテ12の前面に配設した場合であっても
カセッテ12内のフィルムに撮影されるX線像に対する
アーティファクトはほとんど生じない。
【0022】図1において、X線照射野制御手段13
は、被検体11の撮影部位に応じてX線照射野を決定
し、決定した照射野が得られるようX線絞り21を制御
すると共に、それに対応する検出器が選択されるように
検出器選択回路14の制御を行う。
【0023】検出器選択回路14は、X線照射野制御手
段13の制御の下で、図2及び図3において示したX線
自動露出用検出器10の小視野用検出部10a、中視野
用検出部10b、及び大視野用検出部10cを適宜選択
し、選択した検出器の出力を加算し積分回路15aに出
力する。
【0024】図4は、検出器選択回路14の概略構成を
示すブロック図であり、加算回路14aとスイッチ手段
14bから構成される。検出器選択回路14は、X線照
射野制御手段13の指示に基づき、小視野に対応する小
視野用検出部10aを選択すべき旨の指示を受けた場
合、スイッチ手段14bにおいて小視野用検出部10a
の出力のみを接続し、中視野に対応する小視野用検出部
10a及び中視野用検出部10bを選択すべき旨の指示
を受けた場合、スイッチ手段14bにおいて小視野用検
出部10aと中視野用検出部10bの出力を接続し、さ
らに大視野に対応する小視野用検出部10a、中視野用
検出部10b、及び大視野用検出部10cを選択すべき
旨の指示を受けた場合、スイッチ手段14bにおいて小
視野用検出部10a、中視野用検出部10b、及び大視
野用検出部10cのすべての出力を接続する。そして、
加算回路14aは、接続された検出器の出力を加算して
積分回路15aに出力する。これにより、異なる3つの
視野において、それぞれ3つの異なる大きさのX線を検
出するための採光野を得る事が可能となる。
【0025】図1において、X線自動露出制御装置15
は、検出器選択回路14の出力に基づき、X線管20か
ら照射されるX線量の積分値を計算し、同積分値が撮影
に適した値となったときにX線高電圧装置19を介して
X線管20のX線照射を停止させる。
【0026】X線自動露出制御装置15は、検出器選択
回路14の検出値を積分する積分回路15aと、積分回
路15aの出力と濃度設定回路15cによる設定値とを
比較し、積分回路15aの出力が設定値に達したときに
X線遮断信号発生器15dに対してその旨の信号を出力
し、X線遮断信号発生器15dは、X線管20から照射
されるX線が遮断されるようX線高電圧装置19を制御
するための信号を出力する。ここで、濃度設定回路15
cは、撮影部位に応じて選択される小視野用検出部10
aの検出値の積分値、小視野用検出部10a及び中視野
用検出部10bの和出力の積分値、及び小視野用検出部
10a、中視野用検出部10b及び大視野用検出部10
cの和出力の積分値がそれぞれの撮影部位の撮影像を得
るために最適値となる標準値Xa、Xb、及びXcをそ
れぞれ設定値として記憶しており、X線照射野制御手段
13からのX線検出器の選択指示に応じた設定値を比較
器15bに出力する。
【0027】これにより、図5に示されるように、小視
野用検出部10aのみが選択された場合、濃度設定回路
15cは標準値Xaを出力することによってトータルの
透過X線量がXaとなった時点でX線照射が終了し、同
様に小視野用検出部10a及び中視野用検出部10bが
選択された場合、トータルの透過X線量が標準値Xbと
なった場合に、また、小視野用検出部10a、中視野用
検出部10b及び大視野用検出部10cが選択された場
合、トータルの透過X線量が標準値Xcとなった場合に
それぞれX線照射が終了することとなり、それぞれのX
線照射野に応じた最適なX線透視像が得られる。
【0028】なお、濃度設定回路15cによって設定さ
れる標準値Xa、Xb、及びXcは、それぞれの値が設
定された後、或いは、事前に、撮影者の好みに応じて設
定値変更手段15eを介し変更が可能なよう構成されて
いる。
【0029】次に、本実施形態の動作を図1に基づいて
説明する。まず、不図示の指示手段からX線照射野制御
手段13に対して、小さい撮影部位、例えば手、足など
の四肢に対応する小視野の撮影指示があった場合、X線
照射野制御手段13は、X線絞り21を制御して、その
撮影部位に対応するX線照射野を選択すると共に、検出
器選択回路14に対して、小視野用検出部10aを選択
するよう指示し、さらに、濃度設定回路15cに対し
て、小視野用検出部10aの出力に対応する標準値Xa
を選択するよう指示する。これにより、X線が照射され
てから小視野用検出部10aの検出値のみが積分回路1
5aによって積分され、その積分値が標準値Xaになっ
た時点で、比較器15bはX線遮断信号発生器15dに
対して、その旨の指示を出し、X線高電圧装置19を介
してX線照射が遮断される。
【0030】また、中程度の大きさの撮影部位、例えば
頭部や大腿部に対応する中視野の撮影指示があった場
合、及び大きい撮影部位、例えば胸部や腹部に対応する
大視野の撮影指示があった場合も同様に動作し、それぞ
れ選択された検出器の和出力の積分値が所定の値となっ
た場合に、X線照射が遮断される。
【0031】なお、上記実施形態において、それぞれの
撮影部位に応じて選択されたX線照射野内に、選択され
た小視野用検出部10a又は、小視野用検出部10aか
ら大視野用検出部10cの組み合わせが、確実にX線照
射野内に収まるよう、X線照射野制御手段13が指示す
るそれぞれX線照射野に対する検出器の組み合わせを以
下のように特定しても良い。
【0032】すなわち、X線照射野制御手段13に、図
6aに示される対応表を記憶させ、X線照射野がS1か
らS2の場合、X線検出器は小視野用検出部10aのみ
を選択し、濃度設定回路15cには標準値Xaを設定す
るよう指示し、同様に、X線照射野がS2からS3の場
合、小視野用検出部10a及び中視野用検出部10bを
選択し、濃度設定回路15cには標準値Xbを設定する
よう指示し、さらに、X線照射野がS3以上の場合、小
視野用検出部10a、中視野用検出部10b、及び大視
野用検出部10cを選択し、濃度設定回路15cには標
準値Xcを設定するよう指示すればよい。なお、図6b
に示されるように、照射野S1は通常設定される最小の
照射野であって小視野用検出部10aがちょうど収まる
程度の大きさに、同様に照射野S2は中視野用検出部1
0bがちょうど収まる程度の大きさに、さらに、照射野
S3は、大視野用検出部10cがちょうど収まる程度の
大きさに設定される。また、小視野用検出部10aは撮
影上要求される最も小さい部位に対応した大きさとして
構成されている。例えば、小視野用検出部10aは直径
5cm程度、中視野用検出部10bは直径7cm程度、
及び大視野用検出部10cは直径10cm程度の大きさ
とすることができる。
【0033】これにより、X線照射野を絞った場合であ
っても照射野内の透過X線を確実に検出することができ
るため、精度の高い自動露出制御が可能となる。
【0034】なお、上述した実施形態では、X線自動露
出用検出器10は、円形状の小視野用検出部10a、及
びそれを取り囲むリング形状の中視野用検出部10b、
及び大視野用検出部10cから構成したが、これらをX
線絞りによって規定されるX線照射野に相似する形状、
例えば、四角形状としてもよい。
【0035】
【発明の効果】本願発明によるX線撮影装置によれば、
それぞれ異なる視野の透過X線を検出する2以上のX線
検出器を備え、撮影部位に適したX線検出器が選択され
るため、撮影部位の大きさとX線採光野の大きさの相違
を小さくすることができ、撮影部位を透過するX線量の
正確な測定値に基づく露出制御が可能となり、撮影部位
毎に良好な透視像が得られる。
【0036】また、撮影中心に配設した第1のX線検出
器と、この第1のX線検出器を囲むよう第2のX線検出器
を配設し、撮影部位が大きくなった場合に、両検出器の
検出値の和を検出値とすることによって、配設したX線
検出器を有効に利用することが可能となる。
【0037】さらに、撮影部位に適したX線照射範囲が
得られるようX線絞りが制御されると共に、同撮影部位
に適したX線検出器が選択されるよう前記検出器選択手
段が制御されるため、X線照射野が広い場合にその撮影
部位の透過X線を正確に検知でき、しかも、X線照射野
が狭い場合であっても、その照射野に適したX線検出器
を選択することにより、その照射野を透過するX線量を
正確に検知することが可能となる。撮影部位を透過する
X線量の正確な測定値に基づく露出制御が可能となり、
撮影部位毎に良好な撮影像が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明のX線撮影装置の概略構成図である。
【図2】本願発明の自動露出用X線検出器をX線照射方
向から観察した概略図である。
【図3】本願発明の自動露出用X線検出器の断面を示す
概略図である。
【図4】本願発明の検出器選択手段を示すブロック図で
ある。
【図5】自動露出用X線検出器に累積されるX線量を示
す図である。
【図6】X線照射野に応じて選択される自動露出用X線
検出器及び濃度設定値を示す表である。
【図7】従来のX線撮影装置を示す図である。
【図8】従来のX線撮影装置におけるX線照射野と採光
野との関係を示す図である。
【符号の説明】
10:自動露出用X線検出器 10a:小視野用X線検出器 10b:中視野用X線検出器 10c:大視野用X線検出器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線を被検体に照射することでその透過
    像を撮影するX線撮影装置において、 それぞれ異なる視野の透過X線を検出する2以上のX線
    検出器と、前記2以上のX線検出器のうち撮影部位に適
    したX線検出器を選択しその検出値を出力する検出器選
    択手段と、選択されたX線検出器の検出値を積分し、そ
    の積分値が撮影部位に適したX線量となったときにX線
    の照射を停止させる自動露出制御手段とを備えたことを
    特徴とするX線撮影装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載されたX線撮影装置にお
    いて、 前記2以上のX線検出器は、少なくとも撮影中心に配設
    した第1のX線検出器と、この第1のX線検出器を囲む第
    2のX線検出器とからなり、 前記検出器選択手段は、撮影部位の大きさに応じて前記
    第1のX線検出器の検出値、または、前記第1及び第2の
    X線検出器の検出値の和を出力することを特徴とするX
    線撮影装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載されたX線撮影装置にお
    いて、 撮影部位に応じてX線照射範囲を制限するX線絞りと、 撮影部位に適したX線照射範囲が得られるよう前記X線
    絞りを制御すると共に、前記X線照射範囲に応じて適宜
    X線検出器が選択されるよう前記検出器選択手段を制御
    するX線照射野制御手段とをさらに有し、 前記X線照射範囲は選択されたX線検出器が少なくとも
    収まる大きさであることを特徴とするX線撮影装置。
JP35651799A 1999-12-15 1999-12-15 X線撮影装置 Pending JP2001176692A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35651799A JP2001176692A (ja) 1999-12-15 1999-12-15 X線撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35651799A JP2001176692A (ja) 1999-12-15 1999-12-15 X線撮影装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001176692A true JP2001176692A (ja) 2001-06-29

Family

ID=18449425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35651799A Pending JP2001176692A (ja) 1999-12-15 1999-12-15 X線撮影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001176692A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008517693A (ja) * 2004-10-29 2008-05-29 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 携帯型のx線検出器装置
WO2012011376A1 (ja) * 2010-07-23 2012-01-26 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、及び放射線撮影システム
JP2015058217A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 株式会社東芝 X線診断装置
JP2016171917A (ja) * 2015-03-17 2016-09-29 株式会社島津製作所 X線撮影装置
WO2018070271A1 (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 キヤノン株式会社 放射線撮像システム及びその制御方法、制御装置及びその制御方法、コンピュータプログラム
CN112738391A (zh) * 2020-12-23 2021-04-30 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及系统

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008517693A (ja) * 2004-10-29 2008-05-29 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 携帯型のx線検出器装置
WO2012011376A1 (ja) * 2010-07-23 2012-01-26 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、及び放射線撮影システム
JP2015058217A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 株式会社東芝 X線診断装置
JP2016171917A (ja) * 2015-03-17 2016-09-29 株式会社島津製作所 X線撮影装置
WO2018070271A1 (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 キヤノン株式会社 放射線撮像システム及びその制御方法、制御装置及びその制御方法、コンピュータプログラム
CN112738391A (zh) * 2020-12-23 2021-04-30 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及系统
CN112738391B (zh) * 2020-12-23 2023-04-18 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 自动曝光控制方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1420618B1 (en) X-Ray imaging apparatus
CN101588758B (zh) X射线摄影装置
US4763343A (en) Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time
CN100406910C (zh) 射线照相系统
US20030133534A1 (en) Method and device for X-ray exposure control
JP2004208752A (ja) 乳房画像撮影装置
EP0809422A1 (en) Method and system for detecting and correcting erroneous exposures generated during x-ray imaging
JPH10228995A (ja) 1次ダイヤフラム装置を含むx線装置
WO1987001555A1 (en) A method and device for controlling the x-radiation of an x-ray apparatus, in particular that of a mammographic apparatus
JP3402776B2 (ja) X線診断装置
KR20130059489A (ko) 디지털 방사선 촬영 시스템의 콜리메이터
JP2001176692A (ja) X線撮影装置
JPH06277204A (ja) X線装置
JP2607256Y2 (ja) X線診断装置
JPWO2022064846A5 (ja)
JP2005006971A (ja) 放射線可動絞り装置及び放射線撮影装置
JP2005296277A (ja) X線診断装置及びその診断方法
US5008914A (en) Quantitative imaging employing scanning equalization radiography
JP2000261724A (ja) X線装置及び撮影条件設定方法
US20080019480A1 (en) Method and apparatus for controlling x-ray machine to irradiate a narrowed portion
JPH07336597A (ja) X線透視撮影装置
JP2004202119A (ja) 乳房画像撮影装置
JP5309438B2 (ja) X線撮影装置
JPH06154207A (ja) X線撮影装置及びその位置合わせ方法
JP2004229899A (ja) 乳房画像撮影装置