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JP2001066269A - X-ray fluorescence analyzer - Google Patents

X-ray fluorescence analyzer

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Publication number
JP2001066269A
JP2001066269A JP23923299A JP23923299A JP2001066269A JP 2001066269 A JP2001066269 A JP 2001066269A JP 23923299 A JP23923299 A JP 23923299A JP 23923299 A JP23923299 A JP 23923299A JP 2001066269 A JP2001066269 A JP 2001066269A
Authority
JP
Japan
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sample
weight
calculation
ray fluorescence
analysis
Prior art date
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Application number
JP23923299A
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Japanese (ja)
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Inventor
Yoshiyuki Kataoka
由行 片岡
Takashi Matsuo
尚 松尾
Akio Kawada
紀生 川田
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Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Industrial Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Rigaku Industrial Corp filed Critical Rigaku Industrial Corp
Priority to JP23923299A priority Critical patent/JP3527955B2/en
Publication of JP2001066269A publication Critical patent/JP2001066269A/en
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Publication of JP3527955B2 publication Critical patent/JP3527955B2/en
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】試料の各成分の分析値計算の補正に使用するパ
ラメータの計算式を、分析精度の向上等の目的に合わせ
て容易に設定できる蛍光X線分析装置を提供する。 【解決手段】外部の機器により得られた試料の情報に基
づいて、試料の各成分の分析値計算の補正に使用するパ
ラメータの計算式を入力できるので、分析精度の向上等
の目的に合わせて、ユーザー側で容易かつ迅速に計算式
を適宜変更でき、この結果を用いて分析値計算を補正す
ることができる。また、別の計算式を用いて他の分析法
の計算に装置を用いることもできる。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To provide a fluorescent X-ray spectrometer capable of easily setting a calculation formula of a parameter used for correcting an analysis value calculation of each component of a sample in accordance with a purpose such as improvement of analysis accuracy. . Kind Code: A1 A calculation formula of a parameter used for correcting an analysis value calculation of each component of a sample can be input based on information of the sample obtained by an external device. The user can easily and quickly change the calculation formula as appropriate, and use this result to correct the analysis value calculation. Further, the apparatus can be used for calculation of another analysis method using another calculation formula.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、試料の蛍光X線分
析を行う蛍光X線分析装置に関し、特に試料の各成分の
分析値計算の補正に使用するパラメータの設定に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray fluorescence spectrometer for performing X-ray fluorescence analysis of a sample, and more particularly to setting parameters used for correcting analysis value calculation of each component of the sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、蛍光X線分析においては、試料
の蛍光X線分析を行う装置と、試料の前処理を行う試料
前処理装置などの外部の機器とを結合して用いる場合が
多い。試料前処理装置には、例えばセメントのような粉
末試料と融剤の混合物を加熱溶融してガラスビードを作
製する試料溶融装置がある。
2. Description of the Related Art In general, in X-ray fluorescence analysis, an apparatus for performing X-ray fluorescence analysis of a sample is often used in combination with an external device such as a sample pre-processing apparatus for pre-processing a sample. As a sample pretreatment device, there is a sample melting device for producing a glass bead by heating and melting a mixture of a powder sample such as cement and a flux.

【0003】この場合、試料溶融装置で得られた試料重
量、融剤(フラックス)重量および作製したガラスビー
ドの重量等の試料の情報を蛍光X線分析装置内部のコン
ピュータへ転送して、ガラスビードの融剤重量と試料重
量との比である希釈率や、試料重量と融剤重量の合計か
らガラスビード重量を減算したイグロス重量と試料重量
との比であるイグロス含有率などのパラメータを求め、
このパラメータを試料の各成分の分析値計算の補正に使
用する。上記試料溶融装置を用いずに、別途天秤で計量
した試料重量、融剤重量および作成したガラスビードの
重量の情報を上記コンピュータへ転送する場合もある。
In this case, information on the sample such as the weight of the sample obtained by the sample melting device, the weight of the flux (flux), and the weight of the produced glass bead is transferred to a computer inside the X-ray fluorescence analyzer, and the glass bead is transmitted. The dilution ratio, which is the ratio of the flux weight to the sample weight, and the parameters, such as the igross content ratio, which is the ratio of the igross weight and the sample weight obtained by subtracting the glass bead weight from the total of the sample weight and the flux weight,
This parameter is used to correct the calculation of the analytical value of each component of the sample. In some cases, information on the weight of a sample, the weight of a flux, and the weight of a prepared glass bead are separately transferred to the computer without using the sample melting device.

【0004】一方、外部の機器として発光分光分析装置
などの他種の分析装置を用いる場合、その分析装置で得
られた測定値(光強度)等の試料の情報を蛍光X線分析
装置付属のコンピュータへ転送し、このコンピュータで
成分含有率を計算して、試料の各成分の分析値計算の補
正に使用する場合がある。また、上記のように、試料の
情報を外部の機器から転送する代わりに、分析試料ごと
に蛍光X線分析装置付属のコンピュータへ直接手入力し
て、上記データ処理を行う場合もある。
On the other hand, when another type of analyzer such as an emission spectrometer is used as an external device, information of a sample such as a measured value (light intensity) obtained by the analyzer is attached to the X-ray fluorescence analyzer. In some cases, the data is transferred to a computer, and the content of the component is calculated by the computer and used to correct the calculation of the analysis value of each component of the sample. In addition, as described above, instead of transferring the information of the sample from an external device, the data processing may be performed by directly inputting the information for each analysis sample directly to a computer attached to the X-ray fluorescence analyzer.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、外部の機器に
より得られた試料の情報に基づいて、蛍光X線分析装置
付属のコンピュータでデータ処理を行う場合、従来、例
えばガラスビードの希釈率やイグロス含有率などのパラ
メータの計算式については、予め装置のプログラムに組
み込まれているため、ユーザーが分析精度の向上等の目
的に合わせてその計算式を変更したい場合、プログラム
自体を変更する必要があり、その変更が困難であるとい
う問題があった。また、プログラムを変更しない限り、
装置を他の分析法の計算に使用できないという問題もあ
った。
However, when data processing is performed by a computer attached to a fluorescent X-ray analyzer based on information on a sample obtained by an external device, conventionally, for example, the dilution ratio of glass beads or the gross weight The formulas for calculating parameters such as the content rate are pre-installed in the program of the device, so if the user wants to change the formula in order to improve the analysis accuracy, the program itself must be changed. However, there was a problem that the change was difficult. Also, unless you change the program,
There was also a problem that the apparatus could not be used for calculations in other analytical methods.

【0006】本発明は、上記の問題点を解決して、試料
の各成分の分析値計算の補正に使用するパラメータの計
算式を、分析精度の向上等の目的に合わせて容易に設定
できる蛍光X線分析装置を提供することを目的としてい
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems and provides a fluorescent light which can easily set a calculation formula of a parameter used for correcting the analysis value calculation of each component of a sample in accordance with the purpose of improving the analysis accuracy. It is intended to provide an X-ray analyzer.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る蛍光X線分析装置は、外部の機器に
より得られた試料の情報に基づき、計算式を用いて、試
料の成分含有率、試料と融剤の混合物を加熱溶融して作
成されたガラスビードの融剤重量と試料重量との比であ
る希釈率、および試料重量と融剤重量の合計からガラス
ビード重量を減算したイグロス重量と試料重量との比で
あるイグロス含有率の少なくとも1つを含むパラメータ
の計算を行い、試料の各成分の分析値計算の補正に使用
する蛍光X線分析装置であって、前記計算式を入力する
入力手段と、入力された計算式を記憶する記憶手段と、
試料分析時に、前記記憶された計算式にしたがって計算
された前記パラメータを用いて、予め組み込まれたプロ
グラムにしたがった演算を行い、分析値計算を補正する
演算手段とを備えている。
In order to achieve the above object, an X-ray fluorescence spectrometer according to the first aspect of the present invention uses a calculation formula based on information of a sample obtained by an external device. Subtract the glass bead weight from the component content, the dilution ratio that is the ratio of the flux weight to the sample weight of the glass bead created by heating and melting the mixture of the sample and the flux, and the sum of the sample weight and the flux weight. A fluorescent X-ray analyzer for calculating a parameter including at least one of an igross content ratio, which is a ratio of the obtained igross weight to the sample weight, and correcting the analysis value calculation of each component of the sample. Input means for inputting an expression, storage means for storing the input calculation expression,
When the sample is analyzed, an operation means for performing an operation according to a pre-installed program using the parameters calculated according to the stored calculation formula and correcting the analysis value calculation is provided.

【0008】上記構成によれば、試料の情報に基づい
て、試料の各成分の分析値計算の補正に使用するパラメ
ータの計算式を入力できるので、分析精度の向上等の目
的に合わせて、ユーザー側で容易かつ迅速に計算式を適
宜変更でき、この結果を用いて分析値計算を補正するこ
とができる。また、別の計算式を用いて他の分析法の計
算に装置を用いることもできる。
[0010] According to the above configuration, a calculation formula of a parameter used for correcting the calculation of the analysis value of each component of the sample can be inputted based on the information of the sample. The calculation formula can be easily and quickly changed on the side as appropriate, and the analysis value calculation can be corrected using the result. Further, the apparatus can be used for calculation of another analysis method using another calculation formula.

【0009】請求項2に係る蛍光X線分析装置は、請求
項1において、さらに、前記外部の機器により得られた
試料の情報を蛍光X線分析装置内部のコンピュータに転
送するデータ転送手段を備えている。したがって、外部
の機器により得られた試料の情報が自動的に転送される
ので、試料の情報をその都度手入力する必要がない。
The X-ray fluorescence analyzer according to claim 2 further comprises a data transfer means for transferring information of the sample obtained by the external device to a computer inside the X-ray fluorescence analyzer. ing. Therefore, the information of the sample obtained by the external device is automatically transferred, so that it is not necessary to manually input the information of the sample each time.

【0010】請求項3に係る蛍光X線分析装置は、請求
項1または2において、前記入力手段は、前記計算式を
演算子を用いて数学演算式どおりに入力するので、容易
に計算式を入力できる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the X-ray fluorescence analyzer according to the first or second aspect, wherein the input means inputs the calculation formula according to a mathematical operation formula using an operator. Can be entered.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る
蛍光X線分析装置の構成図を示す。この蛍光X線分析装
置12は、例えばガラスビードを用いて試料の各成分の
含有率を分析するものであり、本装置12には、外部の
機器として、例えばセメントのような粉末試料と融剤の
混合物を加熱溶融してガラスビードを作製する試料溶融
装置22が接続されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration diagram of an X-ray fluorescence analyzer according to one embodiment of the present invention. The X-ray fluorescence analyzer 12 analyzes the content of each component of a sample using, for example, a glass bead. This apparatus 12 includes, as external devices, a powder sample such as cement and a flux. A sample melting device 22 for heating and melting the mixture to produce a glass bead is connected.

【0012】上記試料溶融装置22には試料,融剤をほ
ぼ定量ずつ切り出して自動秤量し、ガラスビード作成
後、ガラスビードを自動秤量する秤量手段(自動秤量
機)24が設けられている。試料溶融装置22は、その
内部にCPU(コンピュータ)25を備えており、この
コンピュータ25は、試料重量,融剤重量,ガラスビー
ド重量等の試料の情報を記憶するメモリ28と、メモリ
28に記憶された試料の情報を蛍光X線分析装置12付
属のコンピュータ15へ転送するデータ転送手段26と
を有している。
The sample melting device 22 is provided with a weighing means (automatic weighing machine) 24 for cutting out a sample and a flux almost every fixed amount, automatically weighing the glass bead, and automatically weighing the glass bead. The sample melting device 22 includes a CPU (computer) 25 therein. The computer 25 stores a sample information such as a sample weight, a flux weight, a glass bead weight, and the like, and stores the information in the memory 28. And a data transfer means 26 for transferring the information of the sample obtained to the computer 15 attached to the X-ray fluorescence analyzer 12.

【0013】上記蛍光X線分析装置12は、その装置全
体を制御するCPU(コンピュータ)15を備えてお
り、このコンピュータ15は入力手段14、演算手段1
6および記憶手段(メモリ)18を有している。
The X-ray fluorescence analyzer 12 includes a CPU (computer) 15 for controlling the entire apparatus, and the computer 15 includes an input unit 14 and an arithmetic unit 1.
6 and storage means (memory) 18.

【0014】入力手段14は、例えば、ガラスビードの
融剤重量と試料重量との比である希釈率、および試料重
量と融剤重量の合計からガラスビード重量を減算したイ
グロス重量と試料重量との比であるイグロス含有率とい
うパラメータの計算式を入力する。この計算式は、試料
溶融装置22の自動秤量機24により得られた試料重
量,融剤重量,ガラスビード重量等の試料の情報に基づ
いて設定される。この入力手段14は例えばキーボード
であり、パラメータの計算式を演算子を用いて数学演算
式どおりに入力する。演算子には、四則演算、左右括
弧、平方根、指数、対数等が含まれる。記憶手段18
は、入力手段14により入力された計算式を記憶する。
The input means 14 provides, for example, a dilution ratio, which is a ratio of the flux of the glass bead to the weight of the sample, and a difference between the gross weight obtained by subtracting the weight of the glass bead from the sum of the weight of the sample and the weight of the flux. A formula for calculating a parameter, i.e., the gross content ratio, is input. This calculation formula is set based on sample information such as sample weight, flux weight, and glass bead weight obtained by the automatic weighing machine 24 of the sample melting device 22. The input unit 14 is, for example, a keyboard, and inputs a parameter calculation expression using an operator according to a mathematical operation expression. The operators include arithmetic operations, left and right parentheses, square root, exponent, logarithm, and the like. Storage means 18
Stores the calculation formula input by the input means 14.

【0015】演算手段16は、試料分析時に、記憶手段
18に記憶された計算式にしたがって計算された前記パ
ラメータを用いて、予め組み込まれたプログラムにした
がった演算を行い、分析値計算を補正する。すなわち、
演算手段16は、上記の計算式を用いて、自動秤量機2
4により得られた融剤重量と試料重量の比から希釈率を
演算し、また、試料重量と融剤重量の合計から、自動秤
量機24により得られたガラスビード重量を減算してイ
グロス重量を求めて、このイグロス重量と試料重量との
比からイグロス含有率を演算する。そして、上記の希釈
率とイグロス含有率というパラメータを用いて、予め組
み込まれたプログラムにしたがった演算を行い、蛍光X
線分析装置12により得られた試料の各成分の含有率を
補正する。
The operation means 16 performs an operation according to a program incorporated in advance by using the parameters calculated according to the calculation formula stored in the storage means 18 at the time of sample analysis, and corrects the analysis value calculation. . That is,
The calculating means 16 calculates the automatic weighing machine 2
The dilution ratio is calculated from the ratio of the flux weight and the sample weight obtained in step 4, and the glass bead weight obtained by the automatic weighing machine 24 is subtracted from the total of the sample weight and the flux weight to obtain the gross weight. Then, the gross content is calculated from the ratio of the gross weight to the sample weight. Then, using the above-mentioned parameters of the dilution ratio and the igross content ratio, a calculation according to a program incorporated in advance is performed, and the fluorescence X
The content of each component of the sample obtained by the line analyzer 12 is corrected.

【0016】上記構成の蛍光X線分析装置の動作を、図
2に示すガラスビード法の工程図を用いて、説明する。
The operation of the X-ray fluorescence analyzer having the above configuration will be described with reference to the process diagram of the glass bead method shown in FIG.

【0017】図1の試料溶融装置22において、まず、
図2(a)のように、例えばセメントのような試料を1
00メッシュ以下の粉状物に粉砕しておく。ついで、図
2(b)のように、るつぼ5のみが自動秤量機(秤量手
段)24の秤量器40に載せられて、その重量(風袋重
量)が秤量される。そして、図2(c)のように、粉状
物にした微量の試料1が、自動秤量機24により、るつ
ぼ5内に一定量切り出されて、試料重量が秤量器40で
秤量される。この後、図2(d)のように、希釈率に応
じて一定量の融剤3(例えば、ホウ酸リチウム)が上記
試料1に加えられ、試料重量と融剤重量の合計重量が秤
量される。試料1と融剤3の混合物はるつぼ5内で約1
100°Cまで加熱されて溶融され、ガラスビード4が
得られる。図2(e)のように、こうして得られたガラ
スビード4とるつぼ5の合計重量から、図2(b)のる
つぼ重量が差し引かれて、ガラスビード重量が得られ
る。
In the sample melting apparatus 22 shown in FIG.
As shown in FIG. 2A, a sample such as cement
Pulverize to a powder of 00 mesh or less. Then, as shown in FIG. 2B, only the crucible 5 is placed on the weighing device 40 of the automatic weighing machine (weighing means) 24, and its weight (tare weight) is weighed. Then, as shown in FIG. 2 (c), a small amount of the powdered sample 1 is cut out into the crucible 5 by the automatic weighing machine 24, and the weight of the sample is weighed by the weighing device 40. Thereafter, as shown in FIG. 2D, a certain amount of the flux 3 (for example, lithium borate) is added to the sample 1 according to the dilution rate, and the total weight of the sample weight and the flux weight is weighed. You. The mixture of the sample 1 and the flux 3 is placed in the crucible 5 for about 1 hour.
The glass beads 4 are obtained by heating to 100 ° C. and melting. As shown in FIG. 2E, the weight of the glass bead 4 and the crucible 5 thus obtained is subtracted from the weight of the crucible of FIG. 2B to obtain the weight of the glass bead.

【0018】蛍光X線分析装置12は、図2(f)のよ
うに、図示しないX線源から1次X線(放射線)B1
を、試料溶融装置22から搬入されたガラスビード4に
照射し、このガラスビード4から発生した各元素固有の
蛍光X線B2をX線検出器6で検出する。検出された蛍
光X線B2は、図示しない計数回路部でX線強度が測定
され、これらの各元素についての蛍光X線B2の測定強
度に基づき、検量線を用いて各元素の含有率を演算する
ことにより、試料1の組成が分析される。
As shown in FIG. 2 (f), the X-ray fluorescence analyzer 12 transmits a primary X-ray (radiation) B1 from an X-ray source (not shown).
Is irradiated onto the glass bead 4 carried in from the sample melting device 22, and the X-ray detector 6 detects the fluorescent X-rays B <b> 2 unique to each element generated from the glass bead 4. The X-ray intensity of the detected fluorescent X-rays B2 is measured by a counting circuit (not shown), and the content of each element is calculated using a calibration curve based on the measured intensity of the fluorescent X-rays B2 for each of these elements. By doing so, the composition of the sample 1 is analyzed.

【0019】秤量手段24により得られた試料1の重量
S、融剤3の重量F、およびガラスビード4の重量Bの
試料の情報は、コンピュータ25のデータ転送手段26
によりコンピュータ15に送られる。なお、試料の情報
をデータ転送せずに、入力手段14によりコンピュータ
15に直接手入力するようにしてもよい。コンピュータ
15に内蔵した演算手段16は、希釈率Rを計算式
(1)に基づいて、イグロス含有率Gを計算式(2)に
基づいて、それぞれ演算する。 R=F/S (1) G=p((F+S−B)/S)+q (2) ただし、p,qは係数
The information of the sample of the weight S of the sample 1, the weight F of the flux 3 and the weight B of the glass bead 4 obtained by the weighing means 24 is stored in a data transfer means 26 of the computer 25.
Is sent to the computer 15. The information on the sample may be directly input to the computer 15 by the input means 14 without transferring the data. The calculation means 16 built in the computer 15 calculates the dilution ratio R based on the calculation formula (1) and calculates the igloss content rate G based on the calculation formula (2). R = F / S (1) G = p ((F + SB) / S) + q (2) where p and q are coefficients

【0020】上記の計算式(1),(2)は、入力手段
14により、予めコンピュータ15に入力されて、記憶
手段16により記憶されているが、試料分析時に入力す
るようにしてもよい。計算式(1),(2)は演算子
=, ×,/, (, ), + ,−等を用いて数学演算式どお
りに入力されるので、容易に計算式を入力することがで
きる。これらの計算式は、試料分析時にプログラムソフ
ト上で随時取り込まれる。別の計算式を設定すれば、同
一のプログラムで装置を他の分析法の計算に用いること
もできる。
The above formulas (1) and (2) are previously input to the computer 15 by the input means 14 and stored in the storage means 16, but may be input at the time of sample analysis. The calculation formulas (1) and (2) are input as mathematical formulas using operators =, ×, /, (,), +, −, etc., so that the calculation formulas can be easily input. These formulas are taken in on the program software at any time during sample analysis. If another calculation formula is set, the same program can be used to calculate the apparatus for another analysis method.

【0021】上記の計算式(1)はR=B/Sを用いて
もよい。計算式(2)は、試料1の揮散だけでなく、融
剤3の揮散分も含まれたものである。試料1の種類に応
じて、ユーザーは、計算式(1)、係数p,qを適宜変
更した計算式(2)を入力手段14により入力する。融
剤3の揮散を考慮しない場合には、p=1,q=0にな
る。
In the above equation (1), R = B / S may be used. The calculation formula (2) includes not only the volatilization of the sample 1 but also the volatilization of the flux 3. According to the type of the sample 1, the user inputs the calculation formula (1) and the calculation formula (2) in which the coefficients p and q are appropriately changed through the input unit 14. When the volatilization of the flux 3 is not considered, p = 1 and q = 0.

【0022】ついで、演算手段16は、式(3)を用い
て、試料1の各成分の分析値を補正する。式(3)は予
めプログラムに組み込まれている。式(3)のすべての
補正定数αj,αf,αg は、希釈率Rおよびイグロス含有
率Gの補正定数を含め、定量分析に用いられるファンダ
メンタルパラメータ法などで理論的に求めた理論マトリ
ックス補正係数を使用した。理論マトリックス補正係数
を用いることにより、正確な補正が行うことができる。
式(3)の右辺第1項(aIi2+bIi +c)は検量線
定数a,b,cをもつ検量線から含有率を求めるための
検量線式を示し、第2項は補正項である。Kr,αf R
は希釈率による補正項であり、Rの基準希釈率<R>か
らのずれ量に比例した項である。αgGはイグロス含有
率Gに比例した項である。
Next, the calculating means 16 corrects the analysis value of each component of the sample 1 using the equation (3). Equation (3) is incorporated in the program in advance. All the correction constants αj, αf, αg of the equation (3) are the theoretical matrix correction coefficients theoretically obtained by the fundamental parameter method used for quantitative analysis, including the correction constants of the dilution ratio R and the igross content G. used. Accurate correction can be performed by using the theoretical matrix correction coefficient.
The first term (aIi 2 + bIi + c) on the right side of the equation (3) indicates a calibration curve equation for obtaining a content from a calibration curve having calibration curve constants a, b, and c, and the second term is a correction term. Kr, αf R
Is a correction term based on the dilution rate, and is a term proportional to the amount of deviation of R from the reference dilution rate <R>. αgG is a term proportional to the Igross content G.

【0023】[0023]

【数1】 (Equation 1)

【0024】式(3)は希釈率Rとイグロス含有率Gを
補正項に含んでいるが、イグロス補正が不要な試料1ま
たはイグロスを元素を除いた残分として理論マトリック
ス補正係数を計算している場合には、希釈率Rとイグロ
ス含有率Gの補正項は使用しない。
Equation (3) includes the dilution ratio R and the gross content G in the correction term. The theoretical matrix correction coefficient is calculated by using the sample 1 or the gross which does not require the gross correction as the residue excluding the elements. If so, the correction terms for the dilution ratio R and the gross content ratio G are not used.

【0025】ユーザーは、上記の計算式(1),(2)
を容易かつ迅速に設定できるので、試料1の種類に応じ
て、ガラスビード試料については、分析精度の向上を目
的として、計算式(2)が最適となるように適宜変更す
ることができる。また、ガラスビード以外の鉄鋼等の試
料については、計算式(1),(2)を分析値計算の補
正に使用せずに、つまり、希釈率Rとイグロス含有率G
に関する補正項を用いずに設定することができる。
The user calculates the above formulas (1) and (2)
Can be easily and quickly set, so that the glass bead sample can be appropriately changed according to the type of the sample 1 so as to optimize the calculation formula (2) for the purpose of improving the analysis accuracy. For samples other than glass beads such as steel, the calculation formulas (1) and (2) are not used for correcting the analysis value calculation, that is, the dilution ratio R and the igross content G
Can be set without using the correction term for

【0026】こうして、本装置では、従来と異なり、試
料1の情報に基づいて、試料1の各成分の分析値計算の
補正に使用するパラメータの計算式(1),(2)を入
力できるので、分析精度の向上等の目的に合わせて、ユ
ーザー側で容易かつ迅速に計算式を適宜変更でき、この
結果を用いて分析値計算を補正することができる。
In this way, in the present apparatus, unlike the prior art, the formulas (1) and (2) of the parameters used for correcting the analysis value calculation of each component of the sample 1 can be input based on the information of the sample 1. In addition, the user can easily and quickly change the calculation formula appropriately in accordance with the purpose of improving the analysis accuracy and the like, and the analysis value calculation can be corrected using the result.

【0027】なお、上記実施形態では、検量線法による
分析方法を用いているが、ファンダメンタルパラメータ
法を用いても同様の補正が可能である。この場合、希釈
率Rについては計算式(1)と同じ希釈率を用いる。イ
グロス含有率Gについては、式(3)で、吸収係数が0
の元素として扱う。
In the above embodiment, the analysis method by the calibration curve method is used, but the same correction can be made by using the fundamental parameter method. In this case, the same dilution ratio as that of the calculation formula (1) is used for the dilution ratio R. Regarding the gross content G, the absorption coefficient is 0 in equation (3).
Treated as an element.

【0028】また、上記補正は、分析成分の含有率に対
して補正を行ったが、X線強度に対して補正を行っても
よい。
In the above-described correction, the correction is performed on the content of the analysis component, but the correction may be performed on the X-ray intensity.

【0029】なお、この実施形態では、外部の機器とし
て試料溶融装置22を用いているが、発光分光分析装置
を用いる場合には、パラメータは試料の成分含有率であ
り、このパラメータにより試料の各成分の分析値計算を
補正する。例えば、炭素の測定値(光強度)CBの2次
式で成分含有率Cに換算するとき、パラメータの計算式
(4)が用いられる。 C=m・CB2 +n・CB+o (4) ただし、m,n,oは係数
In this embodiment, the sample melting device 22 is used as an external device. However, when an emission spectrometer is used, the parameter is the component content of the sample. Correct the component analysis calculation. For example, when converting into the component content C by the quadratic expression of the measured value (light intensity) CB of carbon, the parameter calculation expression (4) is used. C = m · CB 2 + n · CB + o (4) where m, n, and o are coefficients

【0030】[0030]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、試料の
情報に基づいて、試料の各成分の分析値計算の補正に使
用するパラメータの計算式を入力できるので、分析精度
の向上等の目的に合わせて、ユーザー側で容易かつ迅速
に計算式を適宜変更でき、この結果を用いて分析値計算
を補正することができる。また、別の計算式を用いて他
の分析法の計算に装置を用いることもできる。
As described above, according to the present invention, it is possible to input a calculation formula of a parameter used for correcting the analysis value calculation of each component of the sample based on the information of the sample, thereby improving the analysis accuracy. The user can easily and quickly change the calculation formula as appropriate in accordance with the purpose of (1), and use the result to correct the analysis value calculation. Further, the apparatus can be used for calculation of another analysis method using another calculation formula.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る蛍光X線分析装置
を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an X-ray fluorescence analyzer according to a first embodiment of the present invention.

【図2】ガラスビード法を示す工程図である。FIG. 2 is a process chart showing a glass bead method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…試料、3…融剤、4…ガラスビード、12…蛍光X
線分析装置、14…入力手段、16…演算手段、18…
記憶手段(メモリ)、22…試料溶融装置、24…秤量
手段、26…データ転送手段。
1 ... sample, 3 ... flux, 4 ... glass bead, 12 ... fluorescence X
X-ray analyzer, 14 input means, 16 arithmetic means, 18
Storage means (memory), 22: sample melting device, 24: weighing means, 26: data transfer means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川田 紀生 大阪府高槻市赤大路町14番8号 理学電機 工業株式会社内 Fターム(参考) 2G001 AA01 BA04 CA01 FA06 FA12 GA01 HA01 JA12 JA16 KA01 MA04 RA01 RA03 SA12  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Norio Kawada 14-8 Akaoji-cho, Takatsuki-shi, Osaka F-term in Rigaku Denki Kogyo Co., Ltd. (Reference) 2G001 AA01 BA04 CA01 FA06 FA12 GA01 HA01 JA12 JA16 KA01 MA04 RA01 RA03 SA12

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部の機器により得られた試料の情報に
基づき、計算式を用いて、試料の成分含有率、試料と融
剤の混合物を加熱溶融して作製されたガラスビードの融
剤重量と試料重量との比である希釈率、および試料重量
と融剤重量の合計からガラスビード重量を減算したイグ
ロス重量と試料重量との比であるイグロス含有率の少な
くとも1つを含むパラメータの計算を行い、このパラメ
ータを試料の各成分の分析値計算の補正に使用する蛍光
X線分析装置であって、 前記計算式を入力する入力手段と、入力された計算式を
記憶する記憶手段と、試料分析時に、前記記憶された計
算式にしたがって計算された前記パラメータを用いて、
予め組み込まれたプログラムにしたがった演算を行い、
分析値計算を補正する演算手段とを備えた蛍光X線分析
装置。
1. A component content of a sample and a weight of a flux of a glass bead produced by heating and melting a mixture of the sample and a flux using a calculation formula based on information of the sample obtained by an external device. Calculation of parameters including at least one of the dilution ratio, which is the ratio of the sample weight to the sample weight, and the igross content, which is the ratio of the igross weight obtained by subtracting the glass bead weight from the sum of the sample weight and the flux weight, to the sample weight. An X-ray fluorescence spectrometer using the parameters to correct the calculation of the analysis value of each component of the sample, comprising: input means for inputting the calculation formula; storage means for storing the input calculation formula; At the time of analysis, using the parameters calculated according to the stored formula,
Performs an operation according to a pre-installed program,
An X-ray fluorescence analysis apparatus comprising: an arithmetic unit for correcting an analysis value calculation.
【請求項2】 請求項1において、さらに、 前記外部の機器により得られた試料の情報を蛍光X線分
析装置内部のコンピュータに転送するデータ転送手段を
備えた蛍光X線分析装置。
2. The X-ray fluorescence spectrometer according to claim 1, further comprising a data transfer unit for transferring information of the sample obtained by the external device to a computer inside the X-ray fluorescence spectrometer.
【請求項3】 請求項1または2において、 前記入力手段は、前記計算式を演算子を用いて数学演算
式どおりに入力する蛍光X線分析装置。
3. The X-ray fluorescence spectrometer according to claim 1, wherein the input unit inputs the calculation expression according to a mathematical operation expression using an operator.
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