JP2001060667A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JP2001060667A JP2001060667A JP11236548A JP23654899A JP2001060667A JP 2001060667 A JP2001060667 A JP 2001060667A JP 11236548 A JP11236548 A JP 11236548A JP 23654899 A JP23654899 A JP 23654899A JP 2001060667 A JP2001060667 A JP 2001060667A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0016—Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Logic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電源投入時のノード電位を電源電圧へ固定す
るプルアップ抵抗、あるい接地電圧へ固定するプルダウ
ン抵抗を外部に設けること必要とせず、かつプログラマ
ブルに変更できる半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 外部端子へ接続される入出力バッファを
有し、外部端子と接地電圧との間に縦続接続されるプル
ダウン抵抗およびNチャネル電解効果トランジスタを備
え、リセット信号でセットされ、入出力信号のいずれか
がハイレベルになったときにリセットされるRSフリッ
プフロップ回路の出力信号により前記Nチャネル電解効
果トランジスタのゲート電圧を制御し、プルダウン抵抗
を接地電位に接続制御する。
るプルアップ抵抗、あるい接地電圧へ固定するプルダウ
ン抵抗を外部に設けること必要とせず、かつプログラマ
ブルに変更できる半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 外部端子へ接続される入出力バッファを
有し、外部端子と接地電圧との間に縦続接続されるプル
ダウン抵抗およびNチャネル電解効果トランジスタを備
え、リセット信号でセットされ、入出力信号のいずれか
がハイレベルになったときにリセットされるRSフリッ
プフロップ回路の出力信号により前記Nチャネル電解効
果トランジスタのゲート電圧を制御し、プルダウン抵抗
を接地電位に接続制御する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体集積回路
に関し、特に半導体基板上に構成される入出力回路に関
する。
に関し、特に半導体基板上に構成される入出力回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】図2は、信号の入出力を伴う装置に設け
られる従来の入出力回路を示す回路構成図である。図2
に示す従来の入出力回路において、出力バッファ(BF
1)は、出力イネーブル信号(ENB1)により制御さ
れ、入力バッファ(BF2)は、入力イネーブル信号
(ENB2)により制御される。
られる従来の入出力回路を示す回路構成図である。図2
に示す従来の入出力回路において、出力バッファ(BF
1)は、出力イネーブル信号(ENB1)により制御さ
れ、入力バッファ(BF2)は、入力イネーブル信号
(ENB2)により制御される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の入出力
回路では、出力端子として使用する場合、ノード(NO
DE1)はハイインピーダンスとなり、ノード(NOD
E1)へと接続される後段回路の入力回路の状態が不安
定なものとなる。そのため、システムリセット後にノー
ド(NODE1)を安定させるため、ノード(NODE
1)には半導体集積回路外に、接地電圧へ固定するため
の外付けプルダウン抵抗、あるいは電源電圧へ固定する
ための外付けプルアップ抵抗を設ける必要があった。
回路では、出力端子として使用する場合、ノード(NO
DE1)はハイインピーダンスとなり、ノード(NOD
E1)へと接続される後段回路の入力回路の状態が不安
定なものとなる。そのため、システムリセット後にノー
ド(NODE1)を安定させるため、ノード(NODE
1)には半導体集積回路外に、接地電圧へ固定するため
の外付けプルダウン抵抗、あるいは電源電圧へ固定する
ための外付けプルアップ抵抗を設ける必要があった。
【0004】この発明の目的は、半導体基板上に構成さ
れる入出力回路において、電源投入時のノード電位を接
地電圧へ固定するために必要とされるプルダウン抵抗、
あるいは電源電圧へ固定するために必要とされるプルア
ップ抵抗を外部に設けること必要とせず、かつプログラ
マブルに変更できる半導体集積回路を提供することにあ
る。
れる入出力回路において、電源投入時のノード電位を接
地電圧へ固定するために必要とされるプルダウン抵抗、
あるいは電源電圧へ固定するために必要とされるプルア
ップ抵抗を外部に設けること必要とせず、かつプログラ
マブルに変更できる半導体集積回路を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、システムリ
セット時に入出力端子をプルダウンする素子を設け、リ
セット信号でセットされ、入出力信号のいずれかがハイ
レベルになったときにリセットされるRSフリップフロ
ップ回路の出力信号により前記プルダウンする素子を接
地電位に接続制御することを特徴とする。
セット時に入出力端子をプルダウンする素子を設け、リ
セット信号でセットされ、入出力信号のいずれかがハイ
レベルになったときにリセットされるRSフリップフロ
ップ回路の出力信号により前記プルダウンする素子を接
地電位に接続制御することを特徴とする。
【0006】また、この発明は、システムリセット時に
入出力端子をプルアップする素子を設け、リセット信号
でセットされ、入出力信号のいずれかがハイレベルにな
ったときにリセットされるRSフリップフロップ回路の
出力信号により前記プルアップする素子を電源電位に接
続制御する。
入出力端子をプルアップする素子を設け、リセット信号
でセットされ、入出力信号のいずれかがハイレベルにな
ったときにリセットされるRSフリップフロップ回路の
出力信号により前記プルアップする素子を電源電位に接
続制御する。
【0007】
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【0008】図1は、この発明の半導体集積回路の第1
の実施の形態を示す回路構成図である。図1に示す半導
体集積回路は、ノード(NODE2)とノード(NOD
E1)との間に、出力イネーブル信号(ENB1)によ
り制御される出力バッファ(BF1)を備え、ノード
(NODE3)とノード(NODE1)との間に、入力
イネーブル信号(ENB2)により制御される入力バッ
ファ(BF2)を備える。
の実施の形態を示す回路構成図である。図1に示す半導
体集積回路は、ノード(NODE2)とノード(NOD
E1)との間に、出力イネーブル信号(ENB1)によ
り制御される出力バッファ(BF1)を備え、ノード
(NODE3)とノード(NODE1)との間に、入力
イネーブル信号(ENB2)により制御される入力バッ
ファ(BF2)を備える。
【0009】また、ノード(NODE1)と接地電圧間
には、プルダウン抵抗11とNチャネル電解効果トラン
ジスタ12が縦続して接続されている。ノード(NOD
E2)とノード(NODE3)は、論理和回路13の入
力に接続され、論理和回路13の出力は、RSフリップ
フロップ回路14のリセット端子(R)に接続されてい
る。
には、プルダウン抵抗11とNチャネル電解効果トラン
ジスタ12が縦続して接続されている。ノード(NOD
E2)とノード(NODE3)は、論理和回路13の入
力に接続され、論理和回路13の出力は、RSフリップ
フロップ回路14のリセット端子(R)に接続されてい
る。
【0010】RSフリップフロップ回路14のセット端
子(S)にはリセット信号(RST)が入力され、出力
(Q)は、Nチャネル電解効果トランジスタ12のゲー
トに接続されている。
子(S)にはリセット信号(RST)が入力され、出力
(Q)は、Nチャネル電解効果トランジスタ12のゲー
トに接続されている。
【0011】論理和回路13とRSフリップフロップ回
路14は制御回路15を構成し、Nチャネル電解効果ト
ランジスタ12のゲート電圧を制御する。
路14は制御回路15を構成し、Nチャネル電解効果ト
ランジスタ12のゲート電圧を制御する。
【0012】次に、図1に示す実施の形態の回路動作を
説明する。
説明する。
【0013】図1において、システムリセット時は、R
Sフリップフロップ回路14のセット端子(S)にリセ
ット信号(RST)が入力されることにより、RSフリ
ップフロップ回路14の出力(Q)は、“H”になる。
このため、RSフリップフロップ回路14の出力(Q)
にゲートが接続されたNチャネル電解効果トランジスタ
12はONとなり、ノード(NODE1)は接地電圧へ
プルダウンされる。
Sフリップフロップ回路14のセット端子(S)にリセ
ット信号(RST)が入力されることにより、RSフリ
ップフロップ回路14の出力(Q)は、“H”になる。
このため、RSフリップフロップ回路14の出力(Q)
にゲートが接続されたNチャネル電解効果トランジスタ
12はONとなり、ノード(NODE1)は接地電圧へ
プルダウンされる。
【0014】入出力バッファ(BF1,BF2)使用時
には、出力イネーブル信号(ENB1)あるいは入力イ
ネーブル信号(NEB2)のいずれかが入力される。出
力イネーブル信号(ENB1)が入力され、ノード(N
ODE1)を出力端子として使用する場合は、ノード
(NODE1)は、ノード(NODE2)のレベルに設
定され、入力イネーブル信号(NEB2)が入力され、
ノード(NODE1)を入力端子として使用する場合は
ハイインピーダンスに設定される。
には、出力イネーブル信号(ENB1)あるいは入力イ
ネーブル信号(NEB2)のいずれかが入力される。出
力イネーブル信号(ENB1)が入力され、ノード(N
ODE1)を出力端子として使用する場合は、ノード
(NODE1)は、ノード(NODE2)のレベルに設
定され、入力イネーブル信号(NEB2)が入力され、
ノード(NODE1)を入力端子として使用する場合は
ハイインピーダンスに設定される。
【0015】次に、この発明の第2の実施の形態につい
て説明する。
て説明する。
【0016】図2は、この発明の半導体集積回路の第2
の実施の形態を示す回路構成図である。上述した第1の
実施の形態では、プルダウン抵抗と接地電圧間にNチャ
ネル電界効果トランジスタを接続した構成としたが、プ
ルダウン抵抗に替えてプルアップ抵抗とし、そのプルア
ップ抵抗と電源電圧間に接続されたPチャネル電界効果
トランジスタで構成した場合も、この発明が目的とする
効果を達成することが可能であることは明白である。
の実施の形態を示す回路構成図である。上述した第1の
実施の形態では、プルダウン抵抗と接地電圧間にNチャ
ネル電界効果トランジスタを接続した構成としたが、プ
ルダウン抵抗に替えてプルアップ抵抗とし、そのプルア
ップ抵抗と電源電圧間に接続されたPチャネル電界効果
トランジスタで構成した場合も、この発明が目的とする
効果を達成することが可能であることは明白である。
【0017】図2においては、電源電圧VccとNODE
1との間には、Pチャネルトランジスタ16とプルアッ
プ抵抗17が縦続接続されており、RSフリップフロッ
プ回路14の出力(Q)が、インバータ18を介してP
チャネル電解効果トランジスタ16のゲートに接続され
ている。その他は第1の実施の形態と同じ構成である。
1との間には、Pチャネルトランジスタ16とプルアッ
プ抵抗17が縦続接続されており、RSフリップフロッ
プ回路14の出力(Q)が、インバータ18を介してP
チャネル電解効果トランジスタ16のゲートに接続され
ている。その他は第1の実施の形態と同じ構成である。
【0018】上述した回路構成により、この実施の形態
では、電源投入時のノード電位を接地電圧へ固定するた
めに必要とされるプルダウン抵抗、あるいは電源電圧へ
固定するために必要とされるプルアップ抵抗を外部に設
けること必要とせず、かつプログラマブルに変更するこ
とができる。したがって、半導体集積回路内部にプルダ
ウン抵抗あるいはプルアップ抵抗を構成し、かつシステ
ムリセット信号、イネーブル信号により制御される制御
回路も半導体集積回路内部に構成することができる。
では、電源投入時のノード電位を接地電圧へ固定するた
めに必要とされるプルダウン抵抗、あるいは電源電圧へ
固定するために必要とされるプルアップ抵抗を外部に設
けること必要とせず、かつプログラマブルに変更するこ
とができる。したがって、半導体集積回路内部にプルダ
ウン抵抗あるいはプルアップ抵抗を構成し、かつシステ
ムリセット信号、イネーブル信号により制御される制御
回路も半導体集積回路内部に構成することができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明は、プル
ダウン抵抗あるいはプルアップ抵抗を外部に必要とせ
ず、入出力端子を構成することができ、半導体集積回路
内部にプルダウン抵抗、プルアップ抵抗を構成し、かつ
システムリセット信号、イネーブル信号により制御され
る制御回路も半導体集積回路内部に構成することができ
る。
ダウン抵抗あるいはプルアップ抵抗を外部に必要とせ
ず、入出力端子を構成することができ、半導体集積回路
内部にプルダウン抵抗、プルアップ抵抗を構成し、かつ
システムリセット信号、イネーブル信号により制御され
る制御回路も半導体集積回路内部に構成することができ
る。
【図1】この発明の半導体集積回路の第1の実施の形態
を示す回路構成図である。
を示す回路構成図である。
【図2】この発明の半導体集積回路の第2の実施の形態
を示す回路構成図である。
を示す回路構成図である。
【図3】従来の入出力回路を示す回路構成図である。
11 プルダウン抵抗 12 Nチャネル電解効果トランジスタ 13 論理和回路 14 RSフリップフロップ回路 15 制御回路 16 Pチャネル電解効果トランジスタ 17 プルアップ抵抗 18 インバータ BF1 出力バッファ BF2 入力バッファ ENB1 出力イネーブル信号 ENB2 入力イネーブル信号 NODE1,NODE2,NODE3 ノード RST リセット信号
Claims (6)
- 【請求項1】システムリセット時に入出力端子をプルダ
ウンする素子を設け、リセット信号でセットされ、入出
力信号のいずれかがハイレベルになったときにリセット
されるRSフリップフロップ回路の出力信号により前記
プルダウンする素子を接地電位に接続制御することを特
徴とする半導体集積回路。 - 【請求項2】外部端子へ接続される入出力バッファを有
し、外部端子と接地電圧との間にプルダウン抵抗および
Nチャネル電解効果トランジスタを縦続接続し、リセッ
ト信号でセットされ、入出力信号のいずれかがハイレベ
ルになったときにリセットされるRSフリップフロップ
回路の出力信号により前記Nチャネル電解効果トランジ
スタのゲート電圧を制御することを特徴とする半導体集
積回路。 - 【請求項3】第1のノードと第2のノードとの間に接続
され、出力イネーブル信号により制御される出力バッフ
ァと、 第1のノードと第3のノードとの間に接続され、入力イ
ネーブル信号により制御される入力バッファと、 第1のノードと接地電圧との間に縦続接続されるプルダ
ウン抵抗およびNチャネル電解効果トランジスタと、 第2のノードと第3のノードが入力接続される論理和回
路と、 前記論理和回路の出力がリセット端子に接続され、リセ
ット信号がセット端子に入力され、Q出力がNチャネル
電解効果トランジスタのゲートに接続されるRSフリッ
プフロップ回路と、を備えることを特徴とする半導体集
積回路。 - 【請求項4】システムリセット時に入出力端子をプルア
ップする素子を設け、リセット信号でセットされ、入出
力信号のいずれかがハイレベルになったときにリセット
されるRSフリップフロップ回路の出力信号により前記
プルアップする素子を電源電位に接続制御することを特
徴とする半導体集積回路。 - 【請求項5】外部端子へ接続される入出力バッファを有
し、外部端子と接地電圧との間にプルアップ抵抗および
Pチャネル電解効果トランジスタを縦続接続し、リセッ
ト信号でセットされ、入出力信号のいずれかがハイレベ
ルになったときにリセットされるRSフリップフロップ
回路の出力信号により前記Pチャネル電解効果トランジ
スタのゲート電圧を制御することを特徴とする半導体集
積回路。 - 【請求項6】第1のノードと第2のノードとの間に接続
され、出力イネーブル信号により制御される出力バッフ
ァと、 第1のノードと第3のノードとの間に接続され、入力イ
ネーブル信号により制御される入力バッファと、 第1のノードと電源電圧との間に縦続接続されるプルア
ップ抵抗およびPチャネル電解効果トランジスタと、 第2のノードと第3のノードが入力接続される論理和回
路と、 前記論理和回路の出力がリセット端子に接続され、リセ
ット信号がセット端子に入力されるRSフリップフロッ
プ回路と、 RSフリップフロップ回路のQ出力が入力接続され、出
力がPチャネル電解効果トランジスタのゲートに接続さ
れるインバータと、を備えることを特徴とする半導体集
積回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11236548A JP2001060667A (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 半導体集積回路 |
| US09/644,045 US6335648B1 (en) | 1999-08-24 | 2000-08-23 | Circuit using internal pull-up/pull-down resistor during reset |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11236548A JP2001060667A (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001060667A true JP2001060667A (ja) | 2001-03-06 |
Family
ID=17002297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11236548A Pending JP2001060667A (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 半導体集積回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6335648B1 (ja) |
| JP (1) | JP2001060667A (ja) |
Cited By (4)
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|---|---|---|---|---|
| JP2006279273A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | インタフェース回路 |
| JP2012113470A (ja) * | 2010-11-24 | 2012-06-14 | Funai Electric Co Ltd | 電子機器 |
| US8564338B2 (en) | 2008-03-03 | 2013-10-22 | Thomson Licensing | Switchable load for initializing an output voltage of a power supply |
| JPWO2016079639A1 (ja) * | 2014-11-20 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、回路基板および電子機器 |
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| US6998884B2 (en) * | 2003-12-31 | 2006-02-14 | Atmel Corporation | Circuit for auto-clamping input pins to a definite voltage during power-up or reset |
| US6986521B1 (en) * | 2004-10-13 | 2006-01-17 | Chung Shan Institute Of Science And Technology | Vibration suppressed bicycle structure |
| JP2006303300A (ja) * | 2005-04-22 | 2006-11-02 | Nec Electronics Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| US7683655B2 (en) | 2007-01-16 | 2010-03-23 | Atmel Automotive Gmbh | Integrated circuit |
| EP2255440A1 (en) * | 2008-03-16 | 2010-12-01 | Nxp B.V. | Methods, circuits, systems and arrangements for undriven or driven pins |
| US7990128B2 (en) * | 2008-04-25 | 2011-08-02 | Infineon Technologies Ag | Circuit and method for pulling a potential at a node towards a feed potential |
| US9417640B2 (en) * | 2014-05-09 | 2016-08-16 | Macronix International Co., Ltd. | Input pin control |
| CN110098826A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-08-06 | 深圳市泰信通信息技术有限公司 | 芯片电路及其控制状态的检测方法、电子设备及介质 |
| WO2021211112A1 (en) * | 2020-04-15 | 2021-10-21 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Reset signal generation |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6130550A (en) * | 1993-01-08 | 2000-10-10 | Dynalogic | Scaleable padframe interface circuit for FPGA yielding improved routability and faster chip layout |
| US5500611A (en) * | 1994-09-30 | 1996-03-19 | Cirrus Logic, Inc. | Integrated circuit with input/output pad having pullup or pulldown |
| JP3415347B2 (ja) * | 1995-10-25 | 2003-06-09 | Necエレクトロニクス株式会社 | マイクロコンピュータの動作モード設定用入力回路 |
| US5963047A (en) * | 1996-07-23 | 1999-10-05 | Pericom Semiconductor Corp. | Noise supression using neighbor-sensing for a CMOS output buffer with a large DC current sink |
| JPH11215031A (ja) * | 1998-01-28 | 1999-08-06 | Rohm Co Ltd | 電子機器 |
-
1999
- 1999-08-24 JP JP11236548A patent/JP2001060667A/ja active Pending
-
2000
- 2000-08-23 US US09/644,045 patent/US6335648B1/en not_active Expired - Lifetime
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| JP2012113470A (ja) * | 2010-11-24 | 2012-06-14 | Funai Electric Co Ltd | 電子機器 |
| JPWO2016079639A1 (ja) * | 2014-11-20 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、回路基板および電子機器 |
| JP2024022617A (ja) * | 2014-11-20 | 2024-02-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6335648B1 (en) | 2002-01-01 |
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