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JP2000511344A - プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置 - Google Patents

プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置

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JP2000511344A
JP2000511344A JP09542975A JP54297597A JP2000511344A JP 2000511344 A JP2000511344 A JP 2000511344A JP 09542975 A JP09542975 A JP 09542975A JP 54297597 A JP54297597 A JP 54297597A JP 2000511344 A JP2000511344 A JP 2000511344A
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axis
plasma
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スィニアギン、オレグ
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アイペック・プリシジョン・インコーポレーテッド
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Abstract

(57)【要約】 発生したプラズマジェットの効果的な偏向を可能とするプラズマジェットジェネレータ装置を開示する。この装置は、ガス入口および出口を有する電極チャンバと、この電極チャンバ内に配置されて電極軸線を形成する電極とを有する。電極チャンバ出口から流出すろプラズマの方向を電極軸線に対して偏向するために、一対の磁界偏向システムが設けられる。磁界偏向システムは、U字状部材から形成され、電極チャンバの回りに配分される。磁界偏向システムは、プラズマを電極軸線から離隔させるように、プラズマに2つの偏向力を作用させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】 プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置 背景 発明の分野 本発明は、基板のプラズマ処理に関する。特に、本発明は、プラズマジェット 処理プロセスを用いて基板を処理するために、プラズマジェットを発生しかつ偏 向するための装置に関する。従来技術の説明 出願公開された国際出願PCT/SU90/00286号は、材料をプラズマ 処理するための、2よりも多くの合流するプラズマジェットのシステムを備えた 、材料をプラズマ処理するための方法を記載しており、これらのプラズマジェッ トは混合ゾーンを形成し、この混合ゾーン内に処理すべき材料が供給される。プ ラズマジェットのセクションを通して混合領域まで直流電流が流れ、各プラズマ ジェットの電流が流れるセクションに磁界がかけられる。この出願に記載の材料 プラズマ処理装置は、電路(charge conduit)と、プラズマジェットを発生する ための複数の電極ユニットを有するアークプラズマジェット発生装置とを備える 。この電極ユニットは、電路の軸線に対して鋭角に配置され、直流電源に接続さ れる。この装置は、更に、開磁気回路から形成された磁気システムを備え、ポー ルがプラズマジェットの混合領域に配置される。PCT/SU90/00286 号に記載の装置は、組合わされたプラズマ流の機構を制御するための、プラズマ ジェットのそれぞれの方向を制御する能力が極めて制限されており、これは、他 の方向におけるプラズマジェットの方向の修正を行うことなく、外部磁界がプラ ズマジェットと組合わされたプラズマ流の軸線との間の距離の変更のみを許容す るためである。 公開された国際出願PCT/SU90/00287号は、材料をプラズマアー ク処理するための装置を記載する。この装置は、電路を備え、この電路は複数の 電弧プラズマジェットジェネレータと磁気システムとで囲まれている。このジェ ネレータは、2つの電極アセンブリを備える。ソレノイドが磁気回路のポールに 装着される。この装置は、45度よりも大きな角度で装置の軸線に向けてプラズ マジェットが導かれた場合にのみ使用することができる。角度が45度よりも小 さいと、磁気システム自体がプラズマジェットのそれぞれおよび組合わされたプ ラズマ流を不安定にさせる。他の不都合な点は、狭い領域内のつり合い位置に配 置されているときにのみ、各プラズマジェットの方向が制御でき、この狭い領域 は、第2,第3磁界がこれと相互作用するベースプレーンに対応する。プラズマ ジェットがこのベースプレーンから比較的遠くに偏向されると、制御の有効性が 大きく減少し、これは、これらの磁界の1つだけがプラズマジェットと相互作用 するからである。 公開されたロシア特許第2032281号には、プラズマ流を形成する方法と 装置とが記載されている。プラズマジェットは、適宜の方法で形成され、45度 よりも小さな角度で共通のプラズマ流の軸線に対して対称的に導かれる。直流が 、共通軸線に対して反対方向に、各プラズマジェットに沿って通過し、外部磁界 が各ジェットにかけられる。第1磁界は、各ジェットの軸線(4)と共通軸線と の間にかけられ、第2,第3磁界は、軸線間の半空間(half-spaces)にかけら れる。磁界とジェット内の電流との相互作用により、ジェットがそれらの軸線( 2)から偏向される。磁界の誘導が調整され、外部磁界の相互作用およびコンフ ィギュレーションがプラズマジェットの安定性を増大するように選定された後、 ジェットの軸線(4)が共通軸線に対して確実に平行にされる。ジェットがラン ダムに僅かに変位する際、一側のインダクタンスが他側に対して増減し、ジェッ トの軸線を共通軸線と平行な方向に確実に戻す。上述の方法および装置の不都合 な点は、プラズマジェットが45度よりも小さな角度で装置の軸線に導かれると きにのみ、この方法を実現し、したがってこの装置を使用できることである。角 度が45度よりも大きい場合は、磁気システム自体が各プラズマジェットおよび 組合わされたプラズマジェットの不安定性を誘導する。他の不都合な点は、各プ ラズマジェットの配置は、両第2,第3磁界が相互作用する対応したベース平面 の近部の狭い領域内の平衡位置に配置されたときにのみ、制御可能なことである 。プ ラズマジェットがベース平面から比較的離隔して偏向されると、これらの磁界の うちの1つだけがプラズマジェットと相互作用するため、制御の効果は大きく減 少し、制御の有効性は、大きく減少する。 発明の概要 本発明の装置は、プラズマジェットの方向を効果的に偏向することができる。 プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置は、ガス入口および出口を有 する電極チャンバを備える。電極は、電極チャンバ内に配置される。電極は、電 極軸線を形成する。ジェネレータは、電極チャンバ出口から流出するプラズマに 第1偏向力を作用させ、電極軸線に対する第1方向に向け、電極軸線から離隔す る方向にプラズマを偏向させる第1磁界偏向システムを設けられている。この第 1磁界偏向システムは、U字状部材を備え、このU字状部材は、第1ベース部と 、端部を有するポールの第1対と、ベース部の回りに配置された第1コイルとを 備える。第1磁界偏向システムは、電極チャンバ内に位置する電極で形成される 電極軸線の両側に第1ポールが配置されるように、電極チャンバの回りに配置さ れる。このジェネレータは、更に第2磁界偏向システムを設けられ、電極チャン バから流出するプラズマに、第2偏向力を作用させ、電極軸線に対する第2方向 に向け、電極軸線から離隔する方向にプラズマを偏向させる第2磁界偏向システ ムが設けられている。この第2磁界偏向システムは、U字状部材を備え、このU 字状部材は、第2ベース部と、端部を有する第2対のポールと、ベース部の回り に配置されたコイルとを備える。この第2磁界偏向システムは、電極チャンバ内 に配置された電極で形成される電極軸線の両側に第2ポールが配置されるように 、電極チャンバの回りに配置される。第1,第2磁界偏向システムは、プラズマ ジェットをほぼどのような方向にも電極軸線から離隔させて偏向することができ る。 本発明の1の目的は、プラズマジェットを発生し、この発生したプラズマジェ ットの装置からの流れを効果的に偏向する装置を提供することである。 上述および他の目的、特徴、および利点は、添付図面に示す好ましい実施形態 の詳細な説明から明らかとなる。図面の簡単な説明 図は、正確な尺度で表したものではなく、 図1は、2つのプラズマジェットジェネレータアセンブリを有する本発明の装 置の1の実施形態の概略的な側面図、 図2は、図1に示す実施形態の概略的な平面図、 図3は、本発明により形成された2つのプラズマジェットジェネレータアセン ブリを含む本発明の装置の他の実施形態の概略的な平面図、 図4は、本発明の更に他の実施形態の概略的な平面図、 図5は、共通軸線に対するプラズマジェットジェネレータの配置を示す本発明 の装置の概略的な一部の側面図、 図6は、本発明の他の実施形態の概略的な説明図、 図7および図8は、磁界の概略図、 図9は、本発明の全ての実施形態に使用する電極アセンブリの概略的な平面図 である。 発明の詳細な説明 図1を参照すると、プラズマ流を発生させるための装置は、複数のプラズマジ ェットジェネレータアセンブリ5を備える。図1および図9を参照すると、各プ ラズマジェットジェネレータアセンブリ5は、電気的に分離された閉構造の電極 チャンバ10を備え、この電極チャンバは、出口オリフィス40を有するベース 部15とガス入口50と電極60とを有し、この電極は、絶縁ガスケット70内 に着座した端部を有する。この電極60は、オリフィス40から延出される電極 軸線80を形成する。 この装置では、2の倍数である複数のプラズマジェットジェネレータアセンブ リ5が使用されている。複数のジェネレータアセンブリ5は、装置の軸線90の 回りに空間的に配置されており、電極軸線80が装置軸線90と共に角度αを形 成するように角度を有して配置される。この角度αは、90度よりも小さい値に 選択される。図2を参照すると、2つのジェネレータアセンブリ5が使用される と、これらのジェネレータアセンブリは装置軸線90の両側に配置され、対応す る電極軸線80と装置軸線90とがベース平面を形成する。図3を参照すると、 4つのジェネレータアセンブリ5が使用される場合、これらのジェネレータアセ の回りに配置される。4より多くのジェネレータアセンブリ5が使用される場合 0の回りに配置され、ここで、Nはジェネレータアセンブリ5の数量である。ジ ェネレータアセンブリ5の電極60のそれぞれは、対になって直流電源100に 接続される。 ジェネレータアセンブリは、基部20に固定された非閉鎖磁気回路から形成さ れた磁気システムを設けられている。各非閉鎖磁気回路は、ベース部110とこ のベース部110から延びる一対のポール130とを有するU字状部材を備える 。コイル120が各ベース部110の回りに配置されている。各ジェネレータア センブリ5は、U字状部材とコイルとで形成された2つの非閉鎖磁気回路を設け られている。ポール130の端部135は、電極軸線80の回りに配置されてい る。各ポール130の端部135は、対応する電極軸線80と垂直な平面内に配 置されている。端部135で形成される平面は、対応する電極チャンバオリフィ ス40と、電極軸線80および装置軸線90間の交点との間の範囲における点で 、対応する電極軸線80と交叉する。ポール端部135のそれぞれは、対応する 電極軸線80から、対応する電極チャンバオリフィス40の径よりも大きな距離 に配置される。ポール端部135の対応する電極軸線に沿うそれぞれの長さと、 ポール端部135のそれぞれの幅とは、対応する電極チャンバオリフィス40の 径よりも大きくなるように選定される。ポール端部135の中心は、これで形成 される対応するベース面に対して異なる側に配置される。 図1を参照すると、この装置には、出口孔162を端部160に有するインジ ェクションチューブ150を設けることができる。このチューブ150は、基部 20に固定され、装置軸線90と整合される。インジェクションチューブ150 の端部160と、電極ユニット軸線80と装置軸線90との交点175との間の 距離は、隣接するプラズマジェットからの熱により、インジェクションチューブ 150の端部160が熱損傷を受けないように選定される。 図4を参照すると、構造的に簡略化するため、U字状部材で形成された非閉鎖 磁気回路のそれぞれは、ブリッジ部材140を介して他の対応する非閉鎖磁気回 路に接続することができる。更に、図6を参照すると、構造を簡略化するため、 1の電極アセンブリの第1非閉鎖磁気回路の1におけるポール130の1が、隣 接する他の電極アセンブリの他の非閉鎖磁気回路の最も近接するポール130と 結合することができる。これらの双方の場合、磁気システムは分離した磁気回路 と同じ主外部磁界パターンを有するが、しかし、コイルの併置磁界損失の増大に より、コイル120の実際の効果は減少する。図1および図2を参照すると、装 置が2つのジェネレータアセンブリ5だけを包含する場合、インジェクションチ ューブ150の端部160に開口162を設けてもよく、この開口は、電極軸線 80で形成されるベース平面に沿う寸法を有し、この寸法は電極チャンバオリフ ィス40の寸法よりも小さい。電極軸線80で形成されるベース平面と垂直な方 向に沿い、開口162の寸法は、ベース平面に沿う寸法よりも大きく形成できる 。換言すると、チューブ150内の開口162は、楕円形状を有してもよく、こ の楕円の長軸は、電極軸線80で形成される平面に垂直あるいは法線をなす。 図4を参照すると、インジェクションチューブ150の端部160には、複数 の開口162a−162eを形成することができる。これらの複数の開口162 a−162eは、電極軸線80で形成されるベース平面に対して垂直あるいは直 角の平面に沿って整合するのが好ましい。 図1を参照すると、本発明によれば、ガス入口50を通して各電極チャンバ1 0内に、矢印Aで示す方向に、ガスが送られる。DC電流Iのアーク放電170 が、DC電力源100の支援で、電極チャンバ10の各対の電極60間に形成さ れる。各対の電極チャンバ10間の距離と、角度αとは、DC電力源100から 安定した放電170を形成するように選定される。 チャンバ10のオリフィス40を介して流れるガスと放電170とが、プラズ マジェット180を形成する。プラズマジェット180は、混合領域190内で 組合わされ、結合されたプラズマ流200を形成する。プラズマジェット180 内の電流Iの電磁相互作用により、装置の軸線90から離隔する方向に向くプラ ズマジェット180のそれぞれに力FSが作用する。この力FSの作用により、 プラズマジェット180はそれぞれの電極軸線80に沿う初期方向から、装置軸 線90に向く方向に曲げられる。 各非閉鎖磁気回路110のコイル120を通して電流が導かれる。図7および 図8を参照すると、コイル120を電流が流れる結果、非閉鎖磁気回路110の それぞれのポール130の端部間に、外部磁界が形成される。 装置軸線90内を示す図7を参照すると、電極60が、装置軸線90に対して 45度よりも大きな角度αで配向されている電極軸線80を有する場合は、双方 の非閉鎖磁気回路110のコイル120内の電流の方向は、電極軸線80と装置 軸線90とで形成されるベース平面に垂直に向く外部磁界誘導ベクトル成分B1 ,B2 を形成するように選択され、電極軸線80と装置軸線90との間のベ ース平面の領域で、その電流Iにより、対応するプラズマジェット180の自己 磁界誘導ベクトルBSの方向と同じ方向に沿って配向される。上側電極の電流I と下側電極の電流Iとは、図7に示すように、反対方向に流れる。外部磁界誘導 ベクトル成分B1 ,B2 は、電磁力F1 ,F2 を形成し、対応して、これら の力はプラズマジェット180に作用し、装置軸線90から離隔する方向に導か れる。コイル120を流れる電流の大きさは、力F1 ,F2 の和がプラズマジ ェット180を装置軸線90に沿う望ましい距離に配置するのに十分な強さとな るように選択される。 図8を参照すると、電極60が軸線80を有し、この軸線が、この電極軸線8 0と装置軸線90との間に45度よりも小さな角度αを形成する場合、双方の非 閉鎖磁気回路110のコイル120内の電流の方向は、外部磁界誘導ベクトル成 分B1 ,B2 が、電極軸線80と装置軸線90とで形成されるベース面に垂直 に向き、電極軸線80と装置軸線90とで形成されるベース面の領域で、対応す るプラズマジェット180の自己磁界誘導ベクトルBSの方向と反対方向に沿っ て向くように、選定される。外部磁界誘導ベクトル成分B1 ,B2 は、電磁力 F1 ,F2 を形成し、対応して、これらの電磁力はプラズマジェット180に 作用し、装置軸線90に向けられる。コイル120を流れる電流の大きさは、力 F1 ,F2 の和による力FSがプラズマジェット180を装置軸線90から望 ましい距離に配置するのに十分な強さとなるように選択される。 図7および図8に示す双方の状況では、ポール端部135の特別な配置により 、 形成し、これらの電磁力は、ベース平面に垂直でかつ反対方向に向くプラズマジ 180の位置は、コイル120を流れる電流の量を変更することにより、変更さ れる。 組合わされたプラズマ流200が図7および図8に示すように2つのプラズマ ジェット180から形成されると、非閉鎖磁気回路110のコイル120を通し て流れる電流の量は、対称的に変更することができ、したがって電流の合計は一 定に保持される。この結果、組合わされたプラズマジェット200は、装置の軸 線90から変更され、電極軸線80と装置軸線90とで形成されたベース平面に 垂直な平面内で遥動する。 図1を参照すると、本発明による基板を処理するための物質210が組合わさ れたプラズマ流内に噴出することができる。この物質は、混合領域190でイン ジェクションチューブ150に物質を導くことにより、組合わされたプラズマ流 200中に噴出される。 上記の説明から明らかなように、本発明によるプラズマジェットを発生しかつ 偏向して、基板を処理するための装置についての複数の実施形態について説明し てきた。ここに記載の実施形態は、単に本発明の原理を説明するものであること は明らかである。本発明の原理を採用子かつ本発明の精神および範囲に含まれる 分野の技術者であれば、種々の変更が可能である。したがって、本発明は、添付 の請求の範囲およびその合理的な解釈によってのみ制限されるべきものである。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】平成10年6月23日(1998.6.23) 【補正内容】 明細書 プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置 背景 発明の分野 本発明は、基板のプラズマ処理に関する。特に、本発明は、プラズマジェット 処理プロセスを用いて基板を処理するために、プラズマジェットを発生しかつ偏 向するための装置に関する。従来技術の説明 出願公開された国際出願PCT/SU90/00286号は、材料をプラズマ 処理するための、2よりも多くの合流するプラズマジェットのシステムを備えた 、材料をプラズマ処理するための方法を記載しており、これらのプラズマジェッ トは混合ゾーンを形成し、この混合ゾーン内に処理すべき材料が供給される。プ ラズマジェットのセクションを通して混合領域まで直流電流が流れ、各プラズマ ジェットの電流が流れるセクションに磁界がかけられる。この出願に記載の材料 プラズマ処理装置は、電路(charge conduit)と、プラズマジェットを発生する ための複数の電極ユニットを有するアークプラズマジェット発生装置とを備える 。この電極ユニットは、電路の軸線に対して鋭角に配置され、直流電源に接続さ れる。この装置は、更に、開磁気回路から形成された磁気システムを備え、ポー ルがプラズマジェットの混合領域に配置される。PCT/SU90/00286 号に記載の装置は、組合わされたプラズマ流の機構を制御するための、プラズマ ジェットのそれぞれの方向を制御する能力が極めて制限されている。 公開された国際出願PCT/SU90/00287号は、材料をプラズマアー ク処理するための装置を記載する。この装置は、電路を備え、この電路は複数の 電弧プラズマジェットジェネレータと磁気システムとで囲まれている。このジェ ネレータは、2つの電極アセンブリを備える。ソレノイドが磁気回路のポールに 装着される。この装置は、45度よりも大きな角度で装置の軸線に向けてプラズ マジェットが導かれた場合にのみ使用することができる。角度が45度よりも小 さいと、磁気システム自体がプラズマジェットのそれぞれおよび組合わされたプ ラズマ流を不安定にさせる。他の不都合な点は、狭い領域内のつり合い位置に配 置されているときにのみ、各プラズマジェットの方向が制御でき、この狭い領域 は、第2,第3磁界がこれと相互作用するベースプレーンに対応する。プラズマ ジェットがこのベースプレーンから比較的遠くに偏向されると、制御の有効性が 大きく減少し、これは、これらの磁界の1つだけがプラズマジェットと相互作用 するからである。 公開されたロシア特許第2032281号には、プラズマ流を形成する方法と 装置とが記載されている。プラズマジェットは、適宜の方法で形成され、45度 よりも小さな角度で共通のプラズマ流の軸線に対して対称的に導かれる。直流が 、共通軸線に対して反対方向に、各プラズマジェットに沿って通過し、外部磁界 が各ジェットにかけられる。第1磁界は、各ジェットの軸線(4)と共通軸線と の間にかけられ、第2,第3磁界は、軸線間の半空間(half-spaces)にかけら れる。磁界とジェット内の電流との相互作用により、ジェットがそれらの軸線( 2)から偏向される。磁界の誘導が調整され、外部磁界の相互作用およびコンフ ィギュレーションがプラズマジェットの安定性を増大するように選定された後、 ジェットの軸線(4)が共通軸線に対して確実に平行にされる。ジェットがラン ダムに僅かに変位する際、一側のインダクタンスが他側に対して増減し、ジェッ トの軸線を共通軸線と平行な方向に確実に戻す。上述の方法および装置の不都合 な点は、プラズマジェットが45度よりも小さな角度で装置の軸線に導かれると きにのみ、この方法を実現し、したがってこの装置を使用できることである。角 度が45度よりも大きい場合は、磁気システム自体が各プラズマジェットおよび 組合わされたプラズマジェットの不安定性を誘導する。他の不都合な点は、各プ ラズマジェットの配置は、両第2,第3磁界が相互作用する対応したベース平面 の近部の狭い領域内の平衡位置に配置されたときにのみ、制御可能なことである 。プラズマジェットがベース平面から比較的離隔して偏向されると、これらの磁 界のうちの1つだけがプラズマジェットと相互作用するため、制御の効果は大き く減少し、制御の有効性は、大きく減少する。 ロシア特許証RU2059344号は、プラズマ発生装置を開示しており、こ のプラズマ発生装置は、一対のU字状部材あるいはポールとソレノイドとを有す る磁気システムを備えた電極ユニットを具備する。ポールの端部は、この装置の 対称軸線と交叉する対称平面で形成されたスペース内に配置される。しかし、ポ ールは、プラズマを操向するための垂直な磁界を形成する態様には配置されてい ない。 発明の概要 本発明の装置は、プラズマジェットの方向を効果的に偏向することができる。 プラズマジェットを発生しかつ偏向するための装置は、ガス入口および出口を有 する電極チャンバを備える。電極は、電極チャンバ内に配置される。電極は、電 極軸線を形成する。ジェネレータは、電極チャンバ出口から流出するプラズマに 第1偏向力を作用させ、電極軸線に対する第1方向に向け、電極軸線から離隔す る方向にプラズマを偏向させる第1磁界偏向システムを設けられている。この第 1磁界偏向システムは、U字状部材を備え、このU字状部材は、第1ベース部と 、端部を有する第1ポールの対と、ベース部の回りに配置された第1コイルとを 備える。第1磁界偏向システムは、電極チャンバ内に位置する電極で形成される 電極軸線の両側にポールが配置されるように、電極チャンバの回りに配置される 。このジェネレータは、更に第2磁界偏向システムを設けられ、電極チャンバか ら流出するプラズマに、第2磁界を作用させ、電極軸線に対する第2方向に向け 、電極軸線から離隔する方向にプラズマを偏向させる第2磁界偏向システムが設 けられている。この第2磁界偏向システムは、U字状部材を備え、このU字状部 材は、第2ベース部と、端部を有する第2ポールの対と、ベース部の回りに配置 されたコイルとを備える。この第2磁界偏向システムは、電極チャンバ内に配置 された電極で形成される電極軸線の両側に第2対のポールが配置されるように、 電極チャンバの回りに配置される。この第2のポールの対は、このシステムの全 てのポールが電極軸線の回りに均等に配分され、第1,第2磁界が互いにほぼ垂 直となるように、配置される。第1,第2磁界偏向システムは、プラズマジェッ トをほぼどのような方向にも電極軸線から離隔させて偏向することができる。 本発明の1の目的は、プラズマジェットを発生し、この発生したプラズマジェ ットの装置からの流れを効果的に偏向する装置を提供することである。 上述および他の目的、特徴、および利点は、添付図面に示す好ましい実施形態 の詳細な説明から明らかとなる。 図面の簡単な説明 図は、正確な尺度で表したものではなく、 図1は、2つのプラズマジェットジェネレータアセンブリを有する本発明の装 置の1の実施形態の概略的な側面図、 図2は、図1に示す実施形態の概略的な平面図、 図3は、本発明により形成された2つのプラズマジェットジェネレータアセン ブリを含む本発明の装置の他の実施形態の概略的な平面図、 図4は、本発明の更に他の実施形態の概略的な平面図、 図5は、共通軸線に対するプラズマジェットジェネレータの配置を示す本発明 の装置の概略的な一部の側面図、 図6は、本発明の他の実施形態の概略的な説明図、 図7および図8は、磁界の概略図、 図9は、本発明の全ての実施形態に使用する電極アセンブリの概略的な平面図 である。 発明の詳細な説明 図1を参照すると、プラズマ流を発生させるための装置は、複数のプラズマジ ェットジェネレータアセンブリ5を備える。図1および図9を参照すると、各プ ラズマジェットジェネレータアセンブリ5は、電気的に分離された閉構造の電極 チャンバ10を備え、この電極チャンバは、出口オリフィス40を有するベース 部15とガス入口50と電極60とを有し、この電極は、絶縁ガスケット70内 に着座した端部を有する。この電極60は、オリフィス40から延出される電極 軸線80を形成する。 図1,図7,図8および図9を参照すると、各プラズマジェネレータ5は、プ ラズマジェットを形成しかつ偏向することができる。各ジェネレータ5には、電 極チャンバ出口から流出するプラズマに磁界B1を作用させ、この第1磁界による プラズマ上の第1力F1の結果として電極軸線から第1方向にプラズマを離隔さ せて流す第1磁界偏向システムが設けられている。この第1磁界偏向システムは 、第1ベース部110と、端部135を有する第1ポール130の対と、ベース 部の回りに配置された第1コイル120とから形成された第1U字状部材を備え る。この第1磁界偏向システムは、第1ポール130の対のポールが、電極チャ ンバ内の電極で形成される電極軸線の両側に配置されるように、電極チャンバの 回りに配置される。このプラズマジェネレータには、電極チャンバ出口から流出 するプラズマに第2磁界を作用させ、この第2磁界B2によるプラズマ上の第2 力(F2)の結果として電極軸線から第2方向にプラズマを離隔させて流す第2 磁界偏向システムが設けられている。この第2磁界偏向システムは、第2ベース 部110と端部135を持つ第2ポール130の対とベース部の回りに配置され たコイル120とから形成された第2U字状部材を備える。この第2磁界偏向シ ステムは、第2ポールの対のポールが電極チャンバ内の電極で形成される電極軸 線の両側に配置されるように、電極チャンバの回りに配置される。第1対のポー ルと第2対のポールとは、第1対のポールを横切る磁界が第2ポールの対を横切 る磁界に対してほぼ垂直となるように、電極軸線の回りに均等に配置される。 この装置では、2の倍数である複数のプラズマジェットジェネレータアセンブ リ5が使用されている。複数のジェネレータアヤンブリ5は、装置の軸線90の 回りに空間的に配置されており、電極軸線80が装置軸線90と共に角度αを形 成するように角度を有して配置される。この角度αは、90度よりも小さい値に 選択される。図2を参照すると、2つのジェネレータアセンブリ5が使用される と、これらのジェネレータアセンブリは装置軸線90の両側に配置され、対応す る電極軸線80と装置軸線90とがベース平面を形成する。図3を参照すると、 4つのジェネレータアセンブリ5が使用される場合、これらのジェネレータアセ の回りに配置される。4より多くのジェネレータアセンブリ5が使用される場合0の回りに配置され、ここで、Nはジェネレータアセンブリ5の数量である。ジ ェネレータアセンブリ5の電極60のそれぞれは、対になって直流電源100に 接続される。 ジェネレータアセンブリは、上述のような磁界偏向システムを設けられている 。ポール130の端部135は、電極軸線80の回りに配置されている。各ポー ル130の端部135は、対応する電極軸線80と垂直な平面内に配置されてい る。端部135で形成される平面は、対応する電極チャンバオリフィス40と、 電極軸線80および装置軸線90間の交点との間の範囲における点で、対応する 電極軸線80と交叉する。ポール端部135のそれぞれは、対応する電極軸線8 0から、対応する電極チャンバオリフィス40の径よりも大きな距離に配置され る。ポール端部135の対応する電極軸線に沿うそれぞれの長さと、ポール端部 135のそれぞれの幅とは、対応する電極チャンバオリフィス40の径よりも大 きくなるように選定される。ポール端部135の中心は、これで形成される対応 するベース面に対して異なる側に配置される。 図1を参照すると、この装置には、出口孔162を端部160に有するインジ ェクションチューブ150を設けることができる。このチューブ150は、基部 20に固定され、装置軸線90と整合される。インジェクションチューブ150 の端部160と、電極ユニット軸線80と装置軸線90との交点175との間の 距離は、隣接するプラズマジェットからの熱により、インジェクションチューブ 150の端部160が熱損傷を受けないように選定される。 請求の範囲 1. ガス入口(50)を有する電極チャンバ(10)と、出口オリフィス(4 O)と、電極チャンバ内に配置されて電極軸線(80)を形成する電極(60) と、電極チャンバ出口から流出するプラズマに第1磁界(B1)を作用させ、こ の第1磁界によるプラズマ上の第1力(F1)の結果として電極軸線から第1方 向にプラズマを離隔させて流す第1磁界偏向システムとを備え、この第1磁界偏 向システムは、第1ベース部(110)と、端部(135)を有する第1ポール (130)の対と、ベース部の回りに配置された第1コイル(120)とから形 成された第1U字状部材を備え、この第1磁界偏向システムは、第1ポールの対 のポールが、電極チャンバ内の電極で形成される電極軸線の両側に配置されるよ うに、電極チャンバの回りに配置される、プラズマジェットを発生しかつ偏向す るためのプラズマジェネレータ(5)であって、 このプラズマジェネレータに、電極チャンバ出口から流出するプラズマに第2 磁界を作用させ、この第2磁界によるプラズマ上の第2力(F2)の結果として 電極軸線から第2方向にプラズマを離隔させて流す第2磁界偏向システムが設け られ、この第2磁界偏向システムは、第2ベース部(110)と端部(135) を持つ第2ポール(130)の対とベース部の回りに配置されたコイル(120 )とから形成された第2U字状部材を備え、この第2磁界偏向システムは、第2 ポールの対のポールが電極チャンバ内の電極で形成される電極軸線の両側に配置 されるように、電極チャンバの回りに配置され、第1対のポールと第2対のポー ルとは、第1対のポールを横切る磁界が第2ポールの対を横切る磁界に対してほ ぼ垂直となるように、電極軸線の回りに均等に配置される、ことを特徴とするプ ラズマジェネレータ。 2. 第1,第2プラズマジェットジェネレータアセンブリを備え、これらのジ ェネレータアセンブリのそれぞれが、ガス入口(50)および出口オリフィス( 40)を有する電極チャンバ(10)と、この電極チャンバ内に配置され、電極 軸線(80)を形成する電極(60)と、電極チャンバ出口から流出するプラズ マに第1磁界を作用させ、この第1磁界によるプラズマ上の第1力(F1)の結 果 として電極軸線から第1方向にプラズマを離隔させて流す第1磁界偏向システム とを備え、この第1磁界偏向システムは、第1ベース部(110)と端部(13 5)を有する第1ポール(130)の対とベース部の回りに配置された第1コイ ル(120)とから形成された第1U字状部材を備え、この第1磁界偏向システ ムは、第1ポールの対のポールが、電極チャンバ内の電極で形成される電極軸線 の両側に配置されるように、電極チャンバの回りに配置され、更に、 これらのジェネレータアセンブリ間に配置され、装置軸線を形成するインジェ クションチューブを備え、プラズマジェットで基板を処理するための装置であっ て、 ジェネレータアセンブリのそれぞれに、電極チャンバ出口から流出するプラズ マに第2磁界を作用させ、この第2磁界によるプラズマ上の第2力(F2)の結 果として電極軸線から第2方向にプラズマを離隔させて流す第2磁界偏向システ ムとが設けられ、この第2磁界偏向システムは、第2ベース部(110)と端部 (135)を有する第2ポール(130)の対とベース部の回りに配置されたコ イル(120)とから形成された第2U字状部材を備え、この第2磁界偏向シス テムは、第2のポールの対のポールが、電極チャンバ内の電極で形成される電極 軸線の両側に配置されるように、電極チャンバの回りに配置され、第1,第2の 対のポールのポールは、第1対のポールを横切る磁界が第2ポールの対を横切る 磁界に対してほぼ垂直となるように、電極軸線の回りに均等に配置される、こと を特徴とする装置。 3. 第1,第2プラズマジェットジェネレータアセンブリ(5)は、これら御 ジェネレータアセンブリの電極軸線(40)と装置軸線との間に共通平面を形成 するように、装置軸線(90)に対して配置され、これらのジェネレータアセン ブリは、装置軸線がそれぞれの電極軸線間に配置され、電極軸線が装置軸線と共 に角度αを形成し、第1,第2プラズマジェットジェネレータアセンブリが互い に十分近接し、各ジエネレータアセンブリで形成されたプラズマが混合領域を有 する組合わされたプラズマ流を形成するように、配置される、請求項2に記載の 装置。 4. 角度αは、45度より大きい請求項3に記載の装置。 5. 角度αは、45度より小さい請求項3に記載の装置。 6. 角度αは、45度である請求項3に記載の装置。 7. インジェクションチューブは、楕円形状の出口を有し、この楕円形状の出 口は、長軸と短軸とを有し、楕円形状の出口の長軸は、共通平面に対してほぼ垂 直に配置される請求項3に記載の装置。 8. インジェクションチューブは、複数の出口を有し、これらの複数の出口は 、共通平面にほぼ垂直な直線に沿って配置される、請求項3に記載の装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. ガス入口および出口を有する電極チャンバと、 この電極チャンバ内に配置され、電極軸線を形成する電極と、 電極チャンバから流出するプラズマに第1変更力を作用させ、プラズマを電極 軸線から離隔させて第1方向に流す第1磁界偏向システムとを備え、この第1磁 界偏向システムは、第1ベース部と端部を持つ第1対のポールとベース部の回り に配置される第1コイルとから形成された第1U字状部材を備え、この第1磁界 偏向システムは、電極部材内に配置された電極で形成される電極軸線の両側に第 1ポールが配置されるように電極チャンバの回りに配置され、更に、 電極チャンバから流出するプラズマに第2偏向力を作用させ、プラズマを電極 軸線から離隔させて第2方向に流す第2磁界偏向システムを備え、この第2磁界 偏向システムは、第2ベース部と端部を持つ第2対のポールとベース部の回りに 配置されたコイルとから形成された第2U字状部材を備え、この第2磁界偏向シ ステムは、電極部材内に配置された電極で形成される電極軸線の両側に第2ポー ルが配置されるように、電極チャンバの回りに配置される、 プラズマジェットを発生しかつ偏向するためのプラズマジェネレータ。 2. 第1,第2磁界偏向システムは、対応するポールが電極軸線の回りに均一 に配分され、これにより作用する対応する偏向力が互いに垂直となるように、電 極チャンバの回りに配置される、請求項1に記載のプラズマジェネレータ。 3. プラズマジェットで基板を処理するための装置であって、この装置は、 第1プラズマジェットジェネレータアセンブリを具備し、この第1アセンブリ は、 ガス入口および出口を有する第1電極チャンバと、 電極チャンバ内に配置され、第1電極軸線を形成する第1電極と、 電極チャンバ出口から流出する第1プラズマに第1偏向力を作用させ、第 1プラズマを第1電極軸線から離隔指せて電極軸線に対する第1方向に流す第1 磁界偏向システムとを備え、この第1磁界偏向システムは、第1ベース部と端部 を持つ第1対のポールとベース部の回りに配置された第1コイルとから形成され る第1U字状部材を備え、この第1磁界偏向システムは、第1電極チャンバ内に 配置された第1電極で形成される第1電極軸線の両側に第1ポールが配置される ように、第1電極チャンバの回りに配置され、更に、 電極チャンバ出口から流出する第1プラズマ流に第2偏向力を作用させ、 第1プラズマを第1電極軸線から離隔させて第1電極軸線に対する第2方向に流 す第2磁界偏向システムを備え、この第2磁界偏向システムは、第2ベース部と 端部を持つ第2対のポールとベース部の回りに配置されたコイルとから形成され る第2U字状部材を備え、この第2磁界偏向システムは、第1電極チャンバ内に 配置された第1電極で形成される第1電極軸線の両側に第2ポールが配置される ように、電極チャンバの回りに配置され、更に、 第2プラズマジェットジェネレータアセンブリを具備し、この第2アセンブリ は、 ガス入口および出口を有する第2電極チャンバと、 第2電極チャンバ内に配置され、第2電極軸線を形成する第2電極と、 第2電極チャンバ出口から流出する第2プラズマに第1偏向力を作用させ 、第2プラズマを第2電極軸線から離隔させて第2電極軸線に対する第1方向に 流す第3磁界偏向システムとを備え、この第3磁界偏向システムは、第3ベース 部と端部を持つ第3対のポールとベース部の回りに配置された第3コイルとから 形成される第3U字状部材を備え、この第3磁界偏向システムは、第2電極チャ ンバ内に配置された第2電極で形成される第2電極軸線の両側に第3ポールが配 置されるように、第2電極チャンバの回りに配置され、更に、 第2電極チャンバ出口から流出する第2プラズマ流に第2偏向力を作用さ せ、第2プラズマを第2電極軸線から離隔させて第2電極軸線に対する第2方向 に流す第4磁界偏向システムを備え、この第4磁界偏向システムは、第4ベース 部と端部を持つ第4対のポールとベース部の回りに配置されたコイルとから形成 される第4U字状部材を備え、この第4磁界偏向システムは、第2電極チャンバ 内に配置された第2電極で形成される第2電極軸線の両側に第4ポールが配置さ れるように、第2電極チャンバの回りに配置され、更に、 プラズマジェット内に物質を噴出するインジェクションチューブを具備し、こ のインジェクションチューブは、プラズマジェット間に配置され、装置軸線を形 成する、装置。 4. 第1,第2磁界偏向システムは、それぞれの対応するポールが第1電極軸 線の回りに均等に配分され、これにより作用される対応する偏向力が互いに垂直 となるように、第1電極チャンバの回りに配置され、第3,第4磁界偏向システ ムは、それぞれの対応するポールが第2電極軸線の回りに均等に配分され、これ により作用される対応する偏向力が互いに垂直となるように、第2電極チャンバ の回りに配置される、請求項3に記載の装置。 5. 第1,第2プラズマジェットジェネレータアセンブリは、装置軸線の両側 に配置去れ、第1,第2電極チャンバは、第1,第2電極チャンバが装置軸線の 方向を指し、第1,第2電極軸線が装置軸線と共に角度αを形成するように、角 度を形成され、第1,第2プラズマジェットジェネレータアセンブリは、互いに 十分近接して配置され、これにより形成された第1,第2プラズマを組合わせて 、混合領域を有する組合わされたプラズマ流を形成する、請求項3に記載の装置 。 6. 角度αは、約45度よりも大きい請求項5に記載の装置。 7. 角度αは、約45度よりも小さい請求項5に記載の装置。 8. 角度αは、45度である請求項5に記載の装置。 9. 第1,第2電極軸線と装置軸線とは、共通平面を形成するように整合され 、第1,第2プラズマの偏向は、組合わされたプラズマ流の混合領域を、装置軸 線に沿い、かつ、装置軸線から離隔するように移動可能である、請求項5に記載 の装置。 10. インジェクションチューブは、楕円形状の出口を有し、この楕円形状の 出口は、長軸と短軸とを有し、楕円形状の出口の長軸は、共通平面に対してほぼ 垂直に配置される請求項9に記載の装置。 11. インジェクションチューブは、複数の出口を有し、これらの複数の出口 は、共通平面にほぼ垂直な直線に沿って配置される、請求項9に記載の装置。
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