JP2000180364A - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置Info
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- JP2000180364A JP2000180364A JP35304098A JP35304098A JP2000180364A JP 2000180364 A JP2000180364 A JP 2000180364A JP 35304098 A JP35304098 A JP 35304098A JP 35304098 A JP35304098 A JP 35304098A JP 2000180364 A JP2000180364 A JP 2000180364A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ゼロ点校正時に分析計入力端での圧力低下を防
止し、電磁弁を省略できることによる低コストのガス分
析装置を提供する。 【解決手段】ゼロ点校正とサンプルガス測定の切換えを
ポンプ１２の運転／停止の切換えにより行う。ポンプ１
２が停止中は、サンプルガス７のゼロガスライン６への
流通が停止され、サンプルガス７はすべてサンプルガス
ライン５を通って分析計本体１のガス取入口に供給され
る。また、ポンプ１２を一定の回転数で運転すると、サ
ンプルガス７はゼロガスライン６側に吸引され、精製機
構２によりゼロガスが精製される。このゼロガスは分析
計本体１により吸引されるとともに、過剰のゼロガス流
量はサンプルライン５を逆流し、サンプルガス７と共に
ゼロガスライン６に流入し精製機構２でゼロガスに再度
精製される。このゼロガスはサンプルガスライン５とゼ
ロガスライン６を循環するとともに分析計本体１のガス
取入口に供給される。
止し、電磁弁を省略できることによる低コストのガス分
析装置を提供する。 【解決手段】ゼロ点校正とサンプルガス測定の切換えを
ポンプ１２の運転／停止の切換えにより行う。ポンプ１
２が停止中は、サンプルガス７のゼロガスライン６への
流通が停止され、サンプルガス７はすべてサンプルガス
ライン５を通って分析計本体１のガス取入口に供給され
る。また、ポンプ１２を一定の回転数で運転すると、サ
ンプルガス７はゼロガスライン６側に吸引され、精製機
構２によりゼロガスが精製される。このゼロガスは分析
計本体１により吸引されるとともに、過剰のゼロガス流
量はサンプルライン５を逆流し、サンプルガス７と共に
ゼロガスライン６に流入し精製機構２でゼロガスに再度
精製される。このゼロガスはサンプルガスライン５とゼ
ロガスライン６を循環するとともに分析計本体１のガス
取入口に供給される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、環境大気中の汚染
ガスを分析するガス分析装置、特にゼロ点校正用ガス切
換え機能を備えたガス分析装置に関する。
ガスを分析するガス分析装置、特にゼロ点校正用ガス切
換え機能を備えたガス分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のガス分析装置は、図３、４に示す
ような構成によりゼロ点校正に必要なゼロ点校正用ガス
（以後、ゼロガスと称す）を得ている。図３のガス分析
装置はサンプルガス７の導入口８と分析計本体１間に継
ぎ手９ａ、９ｂを設け、その継ぎ手９ａ、９ｂ間に電磁
弁３を配設したサンプルガスライン５と、精製機構２及
び電磁弁４を配設したゼロガスライン６を並列に構成
し、サンプルガス測定は電磁弁３を開け、電磁弁４を閉
じて行い、ゼロ点校正は電磁弁３を閉じ、電磁弁４を開
けて行う。ゼロ点校正中に必要なゼロガスは、分析計本
体１のサンプルガス吸引によりサンプルガス７を精製機
構２に通して得ている。また、図４のガス分析装置は、
サンプルガス７の導入口８と分析計本体１間に電磁弁３
と継ぎ手９ｂを配設したサンプルガスライン５と、前記
継ぎ手９ｂと雰囲気ガス１３の導入口１４間に上流側か
らポンプ１２、精製機構２、排出口１１を接続した継ぎ
手９ａ及び電磁弁４を配設したゼロガスライン６から構
成され、サンプルガス測定は電磁弁３を開け、電磁弁４
を閉じて行い、ゼロ点校正は電磁弁３を閉じ、電磁弁４
を開けて行う。ゼロ点校正に必要なゼロガスは導入口１
４から導入した雰囲気ガス１３をポンプ１２で精製機構
２に送り込み精製することにより得ることができ、過剰
なゼロガスは排出口１１から排出されている。
ような構成によりゼロ点校正に必要なゼロ点校正用ガス
（以後、ゼロガスと称す）を得ている。図３のガス分析
装置はサンプルガス７の導入口８と分析計本体１間に継
ぎ手９ａ、９ｂを設け、その継ぎ手９ａ、９ｂ間に電磁
弁３を配設したサンプルガスライン５と、精製機構２及
び電磁弁４を配設したゼロガスライン６を並列に構成
し、サンプルガス測定は電磁弁３を開け、電磁弁４を閉
じて行い、ゼロ点校正は電磁弁３を閉じ、電磁弁４を開
けて行う。ゼロ点校正中に必要なゼロガスは、分析計本
体１のサンプルガス吸引によりサンプルガス７を精製機
構２に通して得ている。また、図４のガス分析装置は、
サンプルガス７の導入口８と分析計本体１間に電磁弁３
と継ぎ手９ｂを配設したサンプルガスライン５と、前記
継ぎ手９ｂと雰囲気ガス１３の導入口１４間に上流側か
らポンプ１２、精製機構２、排出口１１を接続した継ぎ
手９ａ及び電磁弁４を配設したゼロガスライン６から構
成され、サンプルガス測定は電磁弁３を開け、電磁弁４
を閉じて行い、ゼロ点校正は電磁弁３を閉じ、電磁弁４
を開けて行う。ゼロ点校正に必要なゼロガスは導入口１
４から導入した雰囲気ガス１３をポンプ１２で精製機構
２に送り込み精製することにより得ることができ、過剰
なゼロガスは排出口１１から排出されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のガス分析装置は
以上のように構成されているが、上記図３の方法では、
精製機構２が複雑な場合、精製機構２内での圧力損失に
より精製されたゼロガスの圧力が低下し、分析計本体１
の直前での圧力がサンプルガス採取時と異なるため、分
析計本体１の入力セル内でのガス圧による濃度変化が発
生してゼロ点校正時の精度に影響し、正確なゼロ点校正
ができないという場合がある。また、図４の方法では、
雰囲気ガス１３をポンプ１２で加圧することにより精製
機構２を通して得られるゼロガスを、サンプルガス７と
同等の圧力で電磁弁の直前まで供給することができるた
め、精製機構２での圧力損失がゼロ点校正に影響しない
という特徴はあるが、両方とも電磁弁を使用するため製
作コストが高くなるという問題がある。
以上のように構成されているが、上記図３の方法では、
精製機構２が複雑な場合、精製機構２内での圧力損失に
より精製されたゼロガスの圧力が低下し、分析計本体１
の直前での圧力がサンプルガス採取時と異なるため、分
析計本体１の入力セル内でのガス圧による濃度変化が発
生してゼロ点校正時の精度に影響し、正確なゼロ点校正
ができないという場合がある。また、図４の方法では、
雰囲気ガス１３をポンプ１２で加圧することにより精製
機構２を通して得られるゼロガスを、サンプルガス７と
同等の圧力で電磁弁の直前まで供給することができるた
め、精製機構２での圧力損失がゼロ点校正に影響しない
という特徴はあるが、両方とも電磁弁を使用するため製
作コストが高くなるという問題がある。
【０００４】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、精製機構での圧力損失によるゼロ点校
正への影響を防止するとともに、電磁弁を使わずにゼロ
点校正を行うことができるガス分析装置を提供すること
を目的とする。
たものであって、精製機構での圧力損失によるゼロ点校
正への影響を防止するとともに、電磁弁を使わずにゼロ
点校正を行うことができるガス分析装置を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明のガス分析装置は、ゼロ点校正時に、精製機構
により精製したゼロ点校正用ガスをサンプルガス導入ラ
インに導入し、ゼロ点校正を行う機能を備えたガス分析
装置において、サンプルガス導入ラインの一部に並列ラ
インを設け、該並列ラインの上流側にポンプを、下流側
に精製機構を配設し、ポンプ動作時にゼロ点校正用ガス
をガス分析計に導入するとともに、サンプルガス導入ラ
イン側に逆流させ前記並列ライン側に戻すようにしたこ
とを特徴とする。
め本発明のガス分析装置は、ゼロ点校正時に、精製機構
により精製したゼロ点校正用ガスをサンプルガス導入ラ
インに導入し、ゼロ点校正を行う機能を備えたガス分析
装置において、サンプルガス導入ラインの一部に並列ラ
インを設け、該並列ラインの上流側にポンプを、下流側
に精製機構を配設し、ポンプ動作時にゼロ点校正用ガス
をガス分析計に導入するとともに、サンプルガス導入ラ
イン側に逆流させ前記並列ライン側に戻すようにしたこ
とを特徴とする。
【０００６】本発明のガス分析装置は上記のように構成
されており、精製機構の圧力損失による圧力低下を防止
し、電磁弁を用いずにゼロ点校正を行うことができる
されており、精製機構の圧力損失による圧力低下を防止
し、電磁弁を用いずにゼロ点校正を行うことができる
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明のガス分析装置の実
施例を図１及び図２に基づき詳細に説明する。図１は本
発明のガス分析装置の概略構成図である。図に示すよう
に、本ガス分析装置は、サンプルガス７の導入口８と分
析計本体１間に継ぎ手９ａ、９ｂを設け、その継ぎ手９
ａ、９ｂ間に導管だけのサンプルガスライン５と、ポン
プ１２と精製機構２を配設したゼロガスライン６を並列
に設けている。前記精製機構２は測定対象ガス成分を除
去してゼロガスを得るためのものであって、測定対象ガ
ス成分によりそのガス成分を除去するために必要な分解
剤、吸着剤、分離膜などを組み合わせて構成される。例
えば、測定対象が大気中の窒素酸化物（ＮＯｘ）である
場合は、図２に示すように一酸化窒素を二酸化窒素に変
換させるオゾン発生器２１と、二酸化窒素を除去するソ
ーダライム２２と、過剰残留オゾンを吸着除去する活性
炭２３を直列に接続して構成される。また、前記分析計
本体には測定対象ガス成分に対応して窒素酸化物を測定
する化学発光式ガス分析計、二酸化硫黄を測定する紫外
線蛍光ガス分析計あるいは二酸化炭素を測定する赤外線
ガス分析計等が選択使用される。
施例を図１及び図２に基づき詳細に説明する。図１は本
発明のガス分析装置の概略構成図である。図に示すよう
に、本ガス分析装置は、サンプルガス７の導入口８と分
析計本体１間に継ぎ手９ａ、９ｂを設け、その継ぎ手９
ａ、９ｂ間に導管だけのサンプルガスライン５と、ポン
プ１２と精製機構２を配設したゼロガスライン６を並列
に設けている。前記精製機構２は測定対象ガス成分を除
去してゼロガスを得るためのものであって、測定対象ガ
ス成分によりそのガス成分を除去するために必要な分解
剤、吸着剤、分離膜などを組み合わせて構成される。例
えば、測定対象が大気中の窒素酸化物（ＮＯｘ）である
場合は、図２に示すように一酸化窒素を二酸化窒素に変
換させるオゾン発生器２１と、二酸化窒素を除去するソ
ーダライム２２と、過剰残留オゾンを吸着除去する活性
炭２３を直列に接続して構成される。また、前記分析計
本体には測定対象ガス成分に対応して窒素酸化物を測定
する化学発光式ガス分析計、二酸化硫黄を測定する紫外
線蛍光ガス分析計あるいは二酸化炭素を測定する赤外線
ガス分析計等が選択使用される。
【０００８】上記構成のガス分析装置へのサンプルガス
及びゼロガス採取は次のようにして行われる。まず、サ
ンプルガス７を測定する場合はポンプ１２を停止して行
う。ポンプ１２として運転停止時に流路が閉鎖されるダ
イヤフラム式ポンプ等を用いることにより、ポンプ停止
中はサンプルガス７のゼロガスライン６への流入が停止
され、サンプルガス７は分析計本体１の入力端に供給さ
れる。
及びゼロガス採取は次のようにして行われる。まず、サ
ンプルガス７を測定する場合はポンプ１２を停止して行
う。ポンプ１２として運転停止時に流路が閉鎖されるダ
イヤフラム式ポンプ等を用いることにより、ポンプ停止
中はサンプルガス７のゼロガスライン６への流入が停止
され、サンプルガス７は分析計本体１の入力端に供給さ
れる。
【０００９】次に、ガス分析装置のゼロ点校正を行う場
合はポンプ１２を動作させる。ポンプ１２が動作する
と、サンプルガス７は継ぎ手９ａからゼロガスライン６
側に吸引される。このサンプルガス７は、前記精製機構
２により測定対象ガス成分である窒素酸化物のうち、一
酸化窒素がオゾン発生器２１から得られるオゾンと反応
して二酸化窒素に変化し、この二酸化窒素及び大気中の
含有二酸化窒素はソーダライム２２によって吸収され、
過剰オゾンは活性炭２３に吸着除去されゼロガスとな
り、継ぎ手９ｂを経由して分析計本体１の入力端に供給
される。このゼロガス流量が分析計本体１の測定ガス吸
引流量を越えると、そのゼロガスの過剰流量は継ぎ手９
ｂからサンプルガスライン５に流入し、サンプルガスラ
イン５中を逆流した後継ぎ手９ａを経由してゼロガスラ
イン６に流入する。そして、このゼロガスは継ぎ手９ａ
から流入してくるサンプルガス７と共にポンプ１２によ
り精製機構２に送り込まれる。
合はポンプ１２を動作させる。ポンプ１２が動作する
と、サンプルガス７は継ぎ手９ａからゼロガスライン６
側に吸引される。このサンプルガス７は、前記精製機構
２により測定対象ガス成分である窒素酸化物のうち、一
酸化窒素がオゾン発生器２１から得られるオゾンと反応
して二酸化窒素に変化し、この二酸化窒素及び大気中の
含有二酸化窒素はソーダライム２２によって吸収され、
過剰オゾンは活性炭２３に吸着除去されゼロガスとな
り、継ぎ手９ｂを経由して分析計本体１の入力端に供給
される。このゼロガス流量が分析計本体１の測定ガス吸
引流量を越えると、そのゼロガスの過剰流量は継ぎ手９
ｂからサンプルガスライン５に流入し、サンプルガスラ
イン５中を逆流した後継ぎ手９ａを経由してゼロガスラ
イン６に流入する。そして、このゼロガスは継ぎ手９ａ
から流入してくるサンプルガス７と共にポンプ１２によ
り精製機構２に送り込まれる。
【００１０】さらに前記ポンプ１２の吐出発力を増加し
ていくと、過剰ゼロガスはサンプルガスライン５とゼロ
ガスライン６を循環し、サンプルガス７はすべてゼロガ
スライン６を通って精製機構２に流入し、分析計１には
ゼロガスのみがサンプルガスとほぼ同じ圧力で分析計本
体１に供給される。
ていくと、過剰ゼロガスはサンプルガスライン５とゼロ
ガスライン６を循環し、サンプルガス７はすべてゼロガ
スライン６を通って精製機構２に流入し、分析計１には
ゼロガスのみがサンプルガスとほぼ同じ圧力で分析計本
体１に供給される。
【００１１】
【発明の効果】本発明のガス分析装置は上記のように構
成されており、サンプルガスをポンプで加圧して精製機
構に流入させることにより、精製機構での圧力損失が補
償され分析計ガス取入口でのゼロガス圧力の低下を防止
することができ、正確なゼロ点校正ができるとともに、
電磁弁の使用が省略でき製作コストを低減することがで
きる。
成されており、サンプルガスをポンプで加圧して精製機
構に流入させることにより、精製機構での圧力損失が補
償され分析計ガス取入口でのゼロガス圧力の低下を防止
することができ、正確なゼロ点校正ができるとともに、
電磁弁の使用が省略でき製作コストを低減することがで
きる。
【図１】本発明のガス分析装置の概略構成図である。
【図２】本発明に用いられる精製機構の構成図である。
【図３】従来のガス分析装置の概略構成図である。
【図４】従来の他のガス分析装置の概略構成図である。
１・・・分析計本体 ２・・・精製機構 ３、４・・・電磁弁 ５・・・サンプルガスライン ６・・・ゼロガスライン ７・・・サンプルガス ８、１４・・・導入口 ９ａ、９ｂ・・・継ぎ手 １０、１１・・・排出口 １２・・・ポンプ １３・・・雰囲気ガス ２１・・・オゾン発生器 ２２・・・ソーダライム ２３・・・活性炭
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G043 AA01 BA11 BA12 BA13 CA01 DA02 EA01 EA06 EA13 FA07 KA01 KA03 LA07 2G054 AA01 CA01 CA06 CA10 CE01 EA01 EA03 EA04 EB05 FA50 FB08 GA01 GA02 GB10 JA08 2G059 AA01 BB02 CC04 CC05 CC06 DD03 EE01 EE06 EE07 FF08 HH01 HH03 KK10 MM15
Claims (1)
- 【請求項１】ゼロ点校正時に、精製機構により精製した
ゼロ点校正用ガスをサンプルガス導入ラインに導入し、
ゼロ点校正を行う機能を備えたガス分析装置において、
サンプルガス導入ラインの一部に並列ラインを設け、該
並列ラインの上流側にポンプを、下流側に精製機構を配
設し、ポンプ動作時にゼロ点校正用ガスをガス分析計に
導入するとともに、サンプルガス導入ライン側に逆流さ
せ前記並列ライン側に戻すようにしたことを特徴とする
ガス分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35304098A JP2000180364A (ja) | 1998-12-11 | 1998-12-11 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35304098A JP2000180364A (ja) | 1998-12-11 | 1998-12-11 | ガス分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000180364A true JP2000180364A (ja) | 2000-06-30 |
Family
ID=18428170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35304098A Pending JP2000180364A (ja) | 1998-12-11 | 1998-12-11 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000180364A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005221415A (ja) * | 2004-02-06 | 2005-08-18 | Kobe Steel Ltd | 油量監視装置およびこれを用いた油冷式圧縮機 |
| JP2007225549A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-06 | Ebara Jitsugyo Co Ltd | オゾン濃度測定方法及び装置 |
| JP2010210251A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Yazaki Corp | 濃度測定装置 |
| JP2011033636A (ja) * | 2004-09-02 | 2011-02-17 | Osaka Gas Co Ltd | シロキサン含有ガス中のシロキサンの分析装置および分析方法 |
| CN102879737A (zh) * | 2012-10-23 | 2013-01-16 | 上海市电力公司 | 一种瓦斯继电器现场校准方法 |
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| US9962647B2 (en) | 2014-06-11 | 2018-05-08 | Horiba, Ltd. | Zero gas refiner CO2 concentration measurement device and CO2 concentration measurement system |
| JPWO2017043262A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2018-06-07 | 株式会社村田製作所 | ガス濃度検出器の校正方法およびガス濃度検出器用校正補助具 |
| JP2019527314A (ja) * | 2016-07-22 | 2019-09-26 | カー エヌ エフ フロードス アクチエンゲゼルシャフト | 電気力学式の駆動装置を備えた往復動する容積形ポンプおよび容積形ポンプを運転するための方法 |
-
1998
- 1998-12-11 JP JP35304098A patent/JP2000180364A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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