JP2000049370A - 光起電力素子の製造方法 - Google Patents
光起電力素子の製造方法Info
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- JP2000049370A JP2000049370A JP10216728A JP21672898A JP2000049370A JP 2000049370 A JP2000049370 A JP 2000049370A JP 10216728 A JP10216728 A JP 10216728A JP 21672898 A JP21672898 A JP 21672898A JP 2000049370 A JP2000049370 A JP 2000049370A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 透明電極層のシート抵抗が低い場合において
も、光起電力素子のシャントや外観不良等の課題を解決
することにより、良好な特性及び高い歩留りを有する光
起電力素子の製造方法を提供する。 【解決手段】 少なくとも導電性基板101上に裏面反
射層102、半導体層103、及び前記半導体層101
上にシート抵抗100Ω/□以下の透明電極層104を
順次積層する光起電力素子の製造方法において、透明電
極層104堆積後、光起電力素子を電気伝導度30〜1
00mS/cmの電解質溶液108内で電解処理するこ
とにより短絡電流通路の少なくとも一部を選択的に除去
する。
も、光起電力素子のシャントや外観不良等の課題を解決
することにより、良好な特性及び高い歩留りを有する光
起電力素子の製造方法を提供する。 【解決手段】 少なくとも導電性基板101上に裏面反
射層102、半導体層103、及び前記半導体層101
上にシート抵抗100Ω/□以下の透明電極層104を
順次積層する光起電力素子の製造方法において、透明電
極層104堆積後、光起電力素子を電気伝導度30〜1
00mS/cmの電解質溶液108内で電解処理するこ
とにより短絡電流通路の少なくとも一部を選択的に除去
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光起電力素子、特
に薄膜太陽電池の製造方法に関するものであり、良好な
特性及び歩留りの高い光起電力素子の構成、特には太陽
電池の構成に関する。
に薄膜太陽電池の製造方法に関するものであり、良好な
特性及び歩留りの高い光起電力素子の構成、特には太陽
電池の構成に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、太陽電池による太陽光発電の実用
化に向けて様々な研究開発が行われている。太陽電池を
電力需要を賄うものとして確立させるためには、使用す
る太陽電池の光電変換効率が十分に高く、信頼性に優れ
たものであり、且つ大量生産が可能であることが要求さ
れる。
化に向けて様々な研究開発が行われている。太陽電池を
電力需要を賄うものとして確立させるためには、使用す
る太陽電池の光電変換効率が十分に高く、信頼性に優れ
たものであり、且つ大量生産が可能であることが要求さ
れる。
【0003】アモルファスシリコン太陽電池は、結晶系
Si等を用いて作成される太陽電池と比較して、低コス
トで生産可能で量産性に富んでいることなどから注目さ
れている。その理由は原料ガスとしてシラン等の容易に
入手できるガスを使用し、これをグロー放電分解して、
金属シートや樹脂シート等の比較的安価な帯状基板上に
半導体膜等の堆積膜の形成が可能なためである。
Si等を用いて作成される太陽電池と比較して、低コス
トで生産可能で量産性に富んでいることなどから注目さ
れている。その理由は原料ガスとしてシラン等の容易に
入手できるガスを使用し、これをグロー放電分解して、
金属シートや樹脂シート等の比較的安価な帯状基板上に
半導体膜等の堆積膜の形成が可能なためである。
【0004】ところで、太陽電池を一般家庭の電力供給
用として用いる場合には約3kWの出力が必要となり、
光電変換効率10%の太陽電池を用いた場合には30m
2の面積となり、大面積の太陽電池が必要とされる。し
かしながら、太陽電池の製造工程上、大面積にわたって
欠陥の全く無い太陽電池を作製することは非常に困難で
ある。例えば、多結晶では粒界部分に低抵抗な部分が生
じてしまったり、アモルファスシリコンの様な薄膜太陽
電池においては、半導体層の成膜時にダスト等の影響に
よりピンホールや欠陥が生じ、シャントの原因となり、
光電変換効率や歩留りを著しく低下させることが知られ
ている。
用として用いる場合には約3kWの出力が必要となり、
光電変換効率10%の太陽電池を用いた場合には30m
2の面積となり、大面積の太陽電池が必要とされる。し
かしながら、太陽電池の製造工程上、大面積にわたって
欠陥の全く無い太陽電池を作製することは非常に困難で
ある。例えば、多結晶では粒界部分に低抵抗な部分が生
じてしまったり、アモルファスシリコンの様な薄膜太陽
電池においては、半導体層の成膜時にダスト等の影響に
よりピンホールや欠陥が生じ、シャントの原因となり、
光電変換効率や歩留りを著しく低下させることが知られ
ている。
【0005】更にピンホールや欠陥ができる原因とその
影響を詳しく述べると、例えばステンレス基板上に堆積
したアモルファスシリコン太陽電池の場合では、基板表
面は完全に平滑な面とは言えず傷や打痕が存在すること
や、入射光を有効利用する目的で基板上に凹凸構造を持
つ裏面反射層を設けたりするため、n、p層のように数
100Åの厚みの薄膜の半導体層がこのような表面を完
全にカバーし難いことや、成膜時のごみ等によリピンホ
ールが生じることなどが挙げられる。
影響を詳しく述べると、例えばステンレス基板上に堆積
したアモルファスシリコン太陽電池の場合では、基板表
面は完全に平滑な面とは言えず傷や打痕が存在すること
や、入射光を有効利用する目的で基板上に凹凸構造を持
つ裏面反射層を設けたりするため、n、p層のように数
100Åの厚みの薄膜の半導体層がこのような表面を完
全にカバーし難いことや、成膜時のごみ等によリピンホ
ールが生じることなどが挙げられる。
【0006】太陽電池の下部電極と上部電極との間にあ
る半導体層が、ピンホール等により失われていて下部電
極と上部電極が直接接触したり、半導体層が完全に失わ
れていないまでも低抵抗なシャントとなっている場合に
は、光によって発生した電流が上部電極を平行に流れて
シャント部の低抵抗部分に流れ込むことになり電流を損
失することになる。この様な電流損失があると太陽電池
の開放電圧は低下する。
る半導体層が、ピンホール等により失われていて下部電
極と上部電極が直接接触したり、半導体層が完全に失わ
れていないまでも低抵抗なシャントとなっている場合に
は、光によって発生した電流が上部電極を平行に流れて
シャント部の低抵抗部分に流れ込むことになり電流を損
失することになる。この様な電流損失があると太陽電池
の開放電圧は低下する。
【0007】アモルファスシリコン太陽電池においては
一般的に半導体層自体のシート抵抗は高いため半導体全
面にわたる透明な上部電極を必要とし、通常は可視光に
対する透明性と電気伝導度性に優れた特性を持つSnO
2,In2O3,ITO(In2O3+SnO2)膜等の透明
電極層を設ける。このため微少な欠陥に流れ込む電流は
かなり大きなものとなる。更に、欠陥の位置が透明電極
層上に設けたグリッド電極から離れている場合は、欠陥
部分に流れ込む時の抵抗が大きいため電流損失は比較的
少ないが、逆に欠陥部分がグリッド電極の下にある場合
は欠陥により損失する電流はより大きなものとなる。
一般的に半導体層自体のシート抵抗は高いため半導体全
面にわたる透明な上部電極を必要とし、通常は可視光に
対する透明性と電気伝導度性に優れた特性を持つSnO
2,In2O3,ITO(In2O3+SnO2)膜等の透明
電極層を設ける。このため微少な欠陥に流れ込む電流は
かなり大きなものとなる。更に、欠陥の位置が透明電極
層上に設けたグリッド電極から離れている場合は、欠陥
部分に流れ込む時の抵抗が大きいため電流損失は比較的
少ないが、逆に欠陥部分がグリッド電極の下にある場合
は欠陥により損失する電流はより大きなものとなる。
【0008】一方、ピンホール状の欠陥による欠陥部分
では、半導体層で発生した電荷が欠陥部分にリークする
ばかりでなく、水分が存在すると水分との相互作用によ
りイオン性の物質が生成するので、太陽電池の使用時に
使用時間の経過と共に次第に欠陥部分の電気抵抗が低下
し、光電変換効率等の特性が劣化する現象が見られる。
では、半導体層で発生した電荷が欠陥部分にリークする
ばかりでなく、水分が存在すると水分との相互作用によ
りイオン性の物質が生成するので、太陽電池の使用時に
使用時間の経過と共に次第に欠陥部分の電気抵抗が低下
し、光電変換効率等の特性が劣化する現象が見られる。
【0009】以上の様なシャントが生じている場合には
その場所の上部電極を除去することにより電流損失を小
さくすることが出来る。シャント部の上部電極を選択的
に除去する方法は、米国特許第4,451,970号明
細書、米国特許第4,464,823号明細書に開示さ
れているように、太陽電池を酸、塩、又はアルカリの電
解液中に浸漬し、太陽電池にバイアスをかけることによ
りシャント部分をエッチングして除去する方法がある。
該方法においてはバイアスの印加方法や透明電極層の膜
厚に応じたバイアスの印加時間に関する記述等が示され
ているが、透明電極層のシート抵抗に応じたシャント部
の上部電極を選択的に除去する方法は開示されていな
い。
その場所の上部電極を除去することにより電流損失を小
さくすることが出来る。シャント部の上部電極を選択的
に除去する方法は、米国特許第4,451,970号明
細書、米国特許第4,464,823号明細書に開示さ
れているように、太陽電池を酸、塩、又はアルカリの電
解液中に浸漬し、太陽電池にバイアスをかけることによ
りシャント部分をエッチングして除去する方法がある。
該方法においてはバイアスの印加方法や透明電極層の膜
厚に応じたバイアスの印加時間に関する記述等が示され
ているが、透明電極層のシート抵抗に応じたシャント部
の上部電極を選択的に除去する方法は開示されていな
い。
【0010】太陽電池の特性において半導体層上に堆積
される透明電極層のシート抵抗は低い方が良いとされ
る。透明電極層のシート抵抗を低くすることにより太陽
電池としてのシリーズ抵抗を下げることが出来、太陽電
池の電流−電圧曲線において曲線因子を向上させること
が出来る。更には、透明電極層のシート抵抗を下げれば
集電効率は向上し、グリッド電極をワイヤー付線により
形成する場合、グリッドの本数を減らすことが出来、ワ
イヤーの影による光の損失(シャドーロス)を低減する
ことが可能となる。
される透明電極層のシート抵抗は低い方が良いとされ
る。透明電極層のシート抵抗を低くすることにより太陽
電池としてのシリーズ抵抗を下げることが出来、太陽電
池の電流−電圧曲線において曲線因子を向上させること
が出来る。更には、透明電極層のシート抵抗を下げれば
集電効率は向上し、グリッド電極をワイヤー付線により
形成する場合、グリッドの本数を減らすことが出来、ワ
イヤーの影による光の損失(シャドーロス)を低減する
ことが可能となる。
【0011】しかしながら、透明電極層のシート抵抗が
低くなると、上述した米国特許第4,451,970号
明細書、米国特許第44,464,823号明細書に開
示されているような電解液中における電気化学反応によ
ってシャント部の透明電極層を除去しようとすると、太
陽電池にバイアスを印加した際、選択性が悪くなりシャ
ント部だけでなくシャントしていない部分の透明電極層
にも電流が流れやすくなり、シャント部の透明電極層を
膜厚分除去する間にシャントしていない部分の透明電極
層も徐々にエッチングされていき、太陽電池の特性及び
外観を著しく低下させるという問題が生じてくる。
低くなると、上述した米国特許第4,451,970号
明細書、米国特許第44,464,823号明細書に開
示されているような電解液中における電気化学反応によ
ってシャント部の透明電極層を除去しようとすると、太
陽電池にバイアスを印加した際、選択性が悪くなりシャ
ント部だけでなくシャントしていない部分の透明電極層
にも電流が流れやすくなり、シャント部の透明電極層を
膜厚分除去する間にシャントしていない部分の透明電極
層も徐々にエッチングされていき、太陽電池の特性及び
外観を著しく低下させるという問題が生じてくる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した問
題を改善して、透明電極層のシート抵抗が低い場合にお
いても、光起電力素子のシャントや外観不良等の課題を
解決することにより、良好な特性及び高い歩留りを有す
る光起電力素子、特に薄膜太陽電池の製造方法を提供す
ることを目的とする。
題を改善して、透明電極層のシート抵抗が低い場合にお
いても、光起電力素子のシャントや外観不良等の課題を
解決することにより、良好な特性及び高い歩留りを有す
る光起電力素子、特に薄膜太陽電池の製造方法を提供す
ることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の光起電力素子の
製造方法は、少なくとも導電性基板上に裏面反射層、半
導体層、及びシート抵抗100Ω/□以下の透明電極層
を順次積層する光起電力素子の製造方法において、透明
電極層堆積後、光起電力素子を電気伝導度30〜100
mS/cmの電解質溶液内で電解処理することにより短
絡電流通路の少なくとも一部を選択的に除去することを
特徴とする。
製造方法は、少なくとも導電性基板上に裏面反射層、半
導体層、及びシート抵抗100Ω/□以下の透明電極層
を順次積層する光起電力素子の製造方法において、透明
電極層堆積後、光起電力素子を電気伝導度30〜100
mS/cmの電解質溶液内で電解処理することにより短
絡電流通路の少なくとも一部を選択的に除去することを
特徴とする。
【0014】本発明においては、電解処理が、電解質溶
液内で光起電力素子の開放電圧以上の正電圧を1秒以下
のパルス幅で複数回印加し、基板と短絡している部分の
透明電極層を選択的にエッチング溶解させることが好ま
しい。
液内で光起電力素子の開放電圧以上の正電圧を1秒以下
のパルス幅で複数回印加し、基板と短絡している部分の
透明電極層を選択的にエッチング溶解させることが好ま
しい。
【0015】また、電解処理後、光起電力素子を水洗、
乾燥することが好ましい。
乾燥することが好ましい。
【0016】また、電解質溶液は、0.85≦pH≦
3.0である硫酸と水酸化カリウムの混合水溶液、或い
は溶質の溶媒に対する割合が10〜30wt%である硫
酸アルミニウム水溶液であることが好ましい。また、電
解質溶液の液温は、20℃〜80℃であることが好まし
い。
3.0である硫酸と水酸化カリウムの混合水溶液、或い
は溶質の溶媒に対する割合が10〜30wt%である硫
酸アルミニウム水溶液であることが好ましい。また、電
解質溶液の液温は、20℃〜80℃であることが好まし
い。
【0017】また、光起電力素子が薄膜太陽電池である
ことが好ましい。
ことが好ましい。
【0018】
【作用】本発明では、少なくとも導電性基板上に裏面反
射層、半導体層、及びシート抵抗100Ω/□以下と低
抵抗の透明電極層を順次積層する光起電力素子の製造方
法において、透明電極層堆積後、光起電力素子を電気伝
導度30〜100mS/cmと高い電気伝導度を有する
言い換えれば液抵抗の低い電解質溶液内で電解処理、例
えば電解質溶液内で光起電力素子の開放電圧以上の正電
圧を1秒以下のパルス幅で複数回印加し、透明電極層表
面における電気化学反応を活性化させ、出来る限り短い
電解処理時間で短絡電流通路部の透明電極層を選択的に
エッチング溶解させることにより、透明電極層のシート
抵抗が低いことに起因する短絡していない部分の透明電
極層が同時に徐々にエッチングされる割合を抑制するこ
とが出来る。その結果、良好な特性、外観及び高い歩留
りを有する光起電力素子、特に薄膜太陽電池を提供する
ことが可能となる。
射層、半導体層、及びシート抵抗100Ω/□以下と低
抵抗の透明電極層を順次積層する光起電力素子の製造方
法において、透明電極層堆積後、光起電力素子を電気伝
導度30〜100mS/cmと高い電気伝導度を有する
言い換えれば液抵抗の低い電解質溶液内で電解処理、例
えば電解質溶液内で光起電力素子の開放電圧以上の正電
圧を1秒以下のパルス幅で複数回印加し、透明電極層表
面における電気化学反応を活性化させ、出来る限り短い
電解処理時間で短絡電流通路部の透明電極層を選択的に
エッチング溶解させることにより、透明電極層のシート
抵抗が低いことに起因する短絡していない部分の透明電
極層が同時に徐々にエッチングされる割合を抑制するこ
とが出来る。その結果、良好な特性、外観及び高い歩留
りを有する光起電力素子、特に薄膜太陽電池を提供する
ことが可能となる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を詳細に
説明する。
説明する。
【0020】図1は、本発明を実施するための電解処理
装置の一例を示す図である。図1において101はステ
ンレス等からなる導電性の基板、102は裏面反射層、
103は半導体層、104は透明電極層、105は短絡
電流通路、106は対向電極、107は電解処理槽、1
08は電解質溶液、109は電圧印加のための電源を表
す。
装置の一例を示す図である。図1において101はステ
ンレス等からなる導電性の基板、102は裏面反射層、
103は半導体層、104は透明電極層、105は短絡
電流通路、106は対向電極、107は電解処理槽、1
08は電解質溶液、109は電圧印加のための電源を表
す。
【0021】本発明では、基板101上に裏面反射層1
02、半導体層103、透明電極層104が順次積層さ
れた光起電力素子を、電解質溶液108中に入れ、基板
101側を負極、対向電極106側を正極として電解処
理することにより、半導体層103に内在する短絡電流
通路105を選択的に除去する。その後、素子を取り出
し水洗を十分行った後、温風オーブン等で好ましくは1
00〜150℃の温度で30分以上乾燥を行い短絡電流
通路105に入り込んだ水分を除去する。
02、半導体層103、透明電極層104が順次積層さ
れた光起電力素子を、電解質溶液108中に入れ、基板
101側を負極、対向電極106側を正極として電解処
理することにより、半導体層103に内在する短絡電流
通路105を選択的に除去する。その後、素子を取り出
し水洗を十分行った後、温風オーブン等で好ましくは1
00〜150℃の温度で30分以上乾燥を行い短絡電流
通路105に入り込んだ水分を除去する。
【0022】本発明によれば、図2に示すように、半導
体層103内に潜在的に欠陥部分(シャント部分)が存
在し、基板101と透明電極層104で短絡電流通路1
05を形成している場合、電解質溶液108内で電解処
理することにより、効果的に短絡電流通路105が検出
され、基板101と導通している透明電極層104を短
い処理時間内で選択的に除去できる。その後、光起電力
素子を十分に水洗、乾燥することにより短絡電流通路1
05内に残留した水分を完全に除去でき、短絡電流通路
105のみが除去された光起電力素子が得られる。
体層103内に潜在的に欠陥部分(シャント部分)が存
在し、基板101と透明電極層104で短絡電流通路1
05を形成している場合、電解質溶液108内で電解処
理することにより、効果的に短絡電流通路105が検出
され、基板101と導通している透明電極層104を短
い処理時間内で選択的に除去できる。その後、光起電力
素子を十分に水洗、乾燥することにより短絡電流通路1
05内に残留した水分を完全に除去でき、短絡電流通路
105のみが除去された光起電力素子が得られる。
【0023】本発明に係る電解処理としては、特に限定
されないが、光起電力素子の開放電圧以上の正電圧を1
秒以下のパルス幅で複数回印加し、基板101と短絡し
ている部分の透明電極層104を選択的にエッチング溶
解させ除去するものが挙げられる。正電圧は、好適に
0.5〜8Vであり、より好ましくは2.5〜6V、更
には3.5〜5Vが最も好ましい。また、1回の電圧印
加時間(パルス幅)は1秒以下が好ましく、より好まし
くは100〜50ms、更には50〜10msが最も好
ましい。電圧印加回数は、好適に2〜500回であり、
より好ましくは10〜200回、更には30〜100回
が最も好ましい。
されないが、光起電力素子の開放電圧以上の正電圧を1
秒以下のパルス幅で複数回印加し、基板101と短絡し
ている部分の透明電極層104を選択的にエッチング溶
解させ除去するものが挙げられる。正電圧は、好適に
0.5〜8Vであり、より好ましくは2.5〜6V、更
には3.5〜5Vが最も好ましい。また、1回の電圧印
加時間(パルス幅)は1秒以下が好ましく、より好まし
くは100〜50ms、更には50〜10msが最も好
ましい。電圧印加回数は、好適に2〜500回であり、
より好ましくは10〜200回、更には30〜100回
が最も好ましい。
【0024】電解質溶液108の電気伝導度は、基板1
01と対向電極106間に存在する液抵抗を下げる意味
で30〜100mS/cmが好ましく、より好ましくは
50〜80ms/cm、更には60〜70ms/cmが
最も好ましい。
01と対向電極106間に存在する液抵抗を下げる意味
で30〜100mS/cmが好ましく、より好ましくは
50〜80ms/cm、更には60〜70ms/cmが
最も好ましい。
【0025】電解質溶液108としては、特に限定され
ないが、水溶液中で金属の析出が起きない塩、ルイス
酸、ルイス塩基等の電解質溶液が好ましく、具体的には
0.85≦pH≦3.0にpH調整された硫酸と水酸化
カリウムの混合水溶液、溶質の溶媒に対する割合が10
〜30wt%に調整された硫酸アルミニウム水溶液等の
水溶液が挙げられる。
ないが、水溶液中で金属の析出が起きない塩、ルイス
酸、ルイス塩基等の電解質溶液が好ましく、具体的には
0.85≦pH≦3.0にpH調整された硫酸と水酸化
カリウムの混合水溶液、溶質の溶媒に対する割合が10
〜30wt%に調整された硫酸アルミニウム水溶液等の
水溶液が挙げられる。
【0026】電解質溶液108の液温は、20〜80℃
が好ましく、電解処理装置を複雑にしない意味では常温
の20〜30℃が最も好ましい。
が好ましく、電解処理装置を複雑にしない意味では常温
の20〜30℃が最も好ましい。
【0027】尚、上記の電解処理条件(電解質溶液の電
気伝導度、印加電圧値、電圧印加時間、電圧印加回数)
は、電解処理後の前記薄膜太陽電池の外観及び前記薄膜
太陽電池に200luxの低照度の蛍光灯の光を照射し
た時の低照度開放電圧(低照度Voc)の測定値より、
本発明範囲内で適宜決定すれば良い。
気伝導度、印加電圧値、電圧印加時間、電圧印加回数)
は、電解処理後の前記薄膜太陽電池の外観及び前記薄膜
太陽電池に200luxの低照度の蛍光灯の光を照射し
た時の低照度開放電圧(低照度Voc)の測定値より、
本発明範囲内で適宜決定すれば良い。
【0028】一方、アモルファスシリコン太陽電池等の
光起電力素子に用いられる透明電極層104としては、
可視光に対する透明性と電気伝導度性に優れた特性を持
つSnO2,In2O3,ITO(In2O3+SnO2)膜
等が使用される。
光起電力素子に用いられる透明電極層104としては、
可視光に対する透明性と電気伝導度性に優れた特性を持
つSnO2,In2O3,ITO(In2O3+SnO2)膜
等が使用される。
【0029】透明電極層104のシート抵抗としては、
光起電力素子としてのシリーズ抵抗を下げ、光起電力素
子の電流−電圧曲線において曲線因子を向上させる為、
更には集電効率を向上させてグリッド電極の本数を減ら
し、グリッドの影によるシャドーロスを低減させる為に
100Ω/□以下が好ましく、20〜40Ω/□がより
好ましい。
光起電力素子としてのシリーズ抵抗を下げ、光起電力素
子の電流−電圧曲線において曲線因子を向上させる為、
更には集電効率を向上させてグリッド電極の本数を減ら
し、グリッドの影によるシャドーロスを低減させる為に
100Ω/□以下が好ましく、20〜40Ω/□がより
好ましい。
【0030】また、これらの透明電極層104の成膜方
法としてはスパッタリング法、真空抵抗加熱蒸着法、エ
レクトロンビーム蒸着法、スプレー法等を用いることが
出来、所望に応じて適宜選択される。
法としてはスパッタリング法、真空抵抗加熱蒸着法、エ
レクトロンビーム蒸着法、スプレー法等を用いることが
出来、所望に応じて適宜選択される。
【0031】
【実施例】以下、薄膜太陽電池の製造方法について説明
するが、本発明はこれらの実施例により限定されるもの
ではない。
するが、本発明はこれらの実施例により限定されるもの
ではない。
【0032】(実施例1)図3〜図5に示すシングル型
太陽電池を製造した。図3は本発明により製造されたシ
ングル型太陽電池の断面図、図5はその上面図であり、
図4は透明電極層上のエッチングパターンを示す上面図
である。図3〜図5において、201は基板、202は
裏面反射層、203は透明導電層、204はアモルファ
スシリコン(以下a−siと記載)からなるRFn型の
半導体層、205はa−SiからなるRFi型の半導体
層、206はa−SiGeからなるMWi型の半導体
層、207はa−SiからなるRFi型の半導体層、2
08はμc−SiからなるRFp型の半導体層、209
は透明電極層、210はエッチングパターニングライ
ン、211はグリッド電極である。
太陽電池を製造した。図3は本発明により製造されたシ
ングル型太陽電池の断面図、図5はその上面図であり、
図4は透明電極層上のエッチングパターンを示す上面図
である。図3〜図5において、201は基板、202は
裏面反射層、203は透明導電層、204はアモルファ
スシリコン(以下a−siと記載)からなるRFn型の
半導体層、205はa−SiからなるRFi型の半導体
層、206はa−SiGeからなるMWi型の半導体
層、207はa−SiからなるRFi型の半導体層、2
08はμc−SiからなるRFp型の半導体層、209
は透明電極層、210はエッチングパターニングライ
ン、211はグリッド電極である。
【0033】以下では、形成の手順に従って説明する。
【0034】(1)十分に脱脂、洗浄した50mm×5
0mm角のステンレスの基板201上にバッチ式スパッ
タリング法により裏面反射層202、透明導電層203
を成膜した。裏面反射層202は金属層であり材料とし
てはAl,Ag,Pt,Au,Ni,Ti,Cr,Cu
等の金属単体及び合金が用いられるが、ここでは反射率
の比較的高いAlを使用した。透明導電層203は透明
導電性酸化物層であり材料としてはZnO,SnO2,
In2O3,ITO等が用いられるが、ここではZnOを
使用した。また、これらの表面は光の乱反射を起こさせ
るためにテクスチャー構造とした。なお、膜厚はそれぞ
れ0.2μm、1.2μmとした。
0mm角のステンレスの基板201上にバッチ式スパッ
タリング法により裏面反射層202、透明導電層203
を成膜した。裏面反射層202は金属層であり材料とし
てはAl,Ag,Pt,Au,Ni,Ti,Cr,Cu
等の金属単体及び合金が用いられるが、ここでは反射率
の比較的高いAlを使用した。透明導電層203は透明
導電性酸化物層であり材料としてはZnO,SnO2,
In2O3,ITO等が用いられるが、ここではZnOを
使用した。また、これらの表面は光の乱反射を起こさせ
るためにテクスチャー構造とした。なお、膜厚はそれぞ
れ0.2μm、1.2μmとした。
【0035】(2)透明導電層203上にバッチ式プラ
ズマCVD装置を用いて、半導体層204〜208を成
膜した。a−si半導体層の成膜法としてはRFプラズ
マCVD法(RFPCVD法)、マイクロ波プラズマC
VD法(MWPCVD法)、ECR法、熱CVD法等を
所望に応じて用いる。半導体層204はa−Siからな
るRFn型層、半導体層205はa−SiからなるRF
i型層、半導体層206はa−SiGeからなるMWi
型層、半導体層207はa−SiからなるRFi型層、
半導体層208はμc−SiからなるRFp型層であ
る。なお、半導体層206のMWi型層の膜厚は800
Åとした。
ズマCVD装置を用いて、半導体層204〜208を成
膜した。a−si半導体層の成膜法としてはRFプラズ
マCVD法(RFPCVD法)、マイクロ波プラズマC
VD法(MWPCVD法)、ECR法、熱CVD法等を
所望に応じて用いる。半導体層204はa−Siからな
るRFn型層、半導体層205はa−SiからなるRF
i型層、半導体層206はa−SiGeからなるMWi
型層、半導体層207はa−SiからなるRFi型層、
半導体層208はμc−SiからなるRFp型層であ
る。なお、半導体層206のMWi型層の膜厚は800
Åとした。
【0036】(3)半導体層208上にバッチ式真空抵
抗加熱蒸着法を用いて、透明電極層209であるITO
膜を成膜した。なお、膜厚は750Åとし、この時のI
TOのシート抵抗は80Ω/□であった。以上でa−S
iGeシングルセルの作成を終えた。
抗加熱蒸着法を用いて、透明電極層209であるITO
膜を成膜した。なお、膜厚は750Åとし、この時のI
TOのシート抵抗は80Ω/□であった。以上でa−S
iGeシングルセルの作成を終えた。
【0037】(4)前記セルの透明電極層209上に、
塩化第二鉄(FeCl3・6H2O)を加熱溶融したエッ
チング性溶液に粒子径5μmのアクリル樹脂の微粒子体
及びグリセリンを混錬して作製したエッチングペースト
をスクリーン印刷機で線幅1mmのラインで、40mm
×40mm角のパターンで印刷した。なお、線厚は30
μmとした。その後、IRオーブンで温度170℃で5
分間加熱処理した後、セルをIRオーブンから取り出し
冷却後、セルを純水でぺーストを剥離し、温風オーブン
で150℃の温度で30分間乾燥を行い、40mm×4
0mm角のエッチングパターニングライン210を形成
した。
塩化第二鉄(FeCl3・6H2O)を加熱溶融したエッ
チング性溶液に粒子径5μmのアクリル樹脂の微粒子体
及びグリセリンを混錬して作製したエッチングペースト
をスクリーン印刷機で線幅1mmのラインで、40mm
×40mm角のパターンで印刷した。なお、線厚は30
μmとした。その後、IRオーブンで温度170℃で5
分間加熱処理した後、セルをIRオーブンから取り出し
冷却後、セルを純水でぺーストを剥離し、温風オーブン
で150℃の温度で30分間乾燥を行い、40mm×4
0mm角のエッチングパターニングライン210を形成
した。
【0038】(5)透明電極層209上にエッチングパ
ターニングライン210を形成したセルを65℃に保温
された硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電解質溶液
槽に入れ、セルの基板201側を負極、対向電極側を正
極とし、電極問距離40mmの下、正電圧2.5Vを印
加時間50msとしパルス的に50回印加し電解処理を
行った。なお、硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電
気電導度は70.0mS/cm(65℃)とし、また対
向電極面積は基板面積(50mm×50mm)と同様と
した。その後、前記セルを電解質溶液槽内から取り出
し、純水でセル表面の電解質溶液を十分に洗い流した
後、温風オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行っ
た。
ターニングライン210を形成したセルを65℃に保温
された硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電解質溶液
槽に入れ、セルの基板201側を負極、対向電極側を正
極とし、電極問距離40mmの下、正電圧2.5Vを印
加時間50msとしパルス的に50回印加し電解処理を
行った。なお、硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電
気電導度は70.0mS/cm(65℃)とし、また対
向電極面積は基板面積(50mm×50mm)と同様と
した。その後、前記セルを電解質溶液槽内から取り出
し、純水でセル表面の電解質溶液を十分に洗い流した
後、温風オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行っ
た。
【0039】上記(1)〜(5)の工程により、透明電
極層209上にエッチングパターンを形成したセルのエ
ッチングパターニングライン210エリア内に対して、
照度200luxの蛍光灯の光を照射した時の低照度開
放電圧(低照度Voc)の測定及び外観目視検査を行っ
た。さらに、低照度Voc測定後、集電用のグリッド電
極211を銀ペーストのスクリーン印刷法で形成し、A
M1.5の太陽光スペクトルで100mW/cm2の光
量の疑似太陽光源を用いて太陽電池特性を測定し、光電
変換効率を求めた。
極層209上にエッチングパターンを形成したセルのエ
ッチングパターニングライン210エリア内に対して、
照度200luxの蛍光灯の光を照射した時の低照度開
放電圧(低照度Voc)の測定及び外観目視検査を行っ
た。さらに、低照度Voc測定後、集電用のグリッド電
極211を銀ペーストのスクリーン印刷法で形成し、A
M1.5の太陽光スペクトルで100mW/cm2の光
量の疑似太陽光源を用いて太陽電池特性を測定し、光電
変換効率を求めた。
【0040】その結果、低照度Vocにおいては0.3
5V、外観目視検査においては欠陥部分の電解処理マー
クは見られるが、透明電極層209の全体的な膜厚の減
少は殆ど見られず、外観は良好であった。また、光電変
換効率においては8.4%が得られ、その時の開放電圧
は0.65Vであり、本発明の電解処理を行ったシング
ル型太陽電池は良好な特性であった。
5V、外観目視検査においては欠陥部分の電解処理マー
クは見られるが、透明電極層209の全体的な膜厚の減
少は殆ど見られず、外観は良好であった。また、光電変
換効率においては8.4%が得られ、その時の開放電圧
は0.65Vであり、本発明の電解処理を行ったシング
ル型太陽電池は良好な特性であった。
【0041】(実施例2)太陽電池の半導体層の構成を
トリプル型とした点及び電解処理条件が異なる点以外は
実施例1と同様にして太陽電池を製造した。
トリプル型とした点及び電解処理条件が異なる点以外は
実施例1と同様にして太陽電池を製造した。
【0042】図6は、本例で製造したトリプル型太陽電
池の構成を示した模式的断面図である。図6では、ステ
ンレスの基板301上に裏面反射層302としてAl
を、透明導電層303としてZnOを堆積した後、a−
SiからなるRFn型の半導体層304、a−Siから
なるRFi型の半導体層305、a−SiGeからなる
MWi型の半導体層306、a−SiからなるRFi型
の半導体層307、μc−SiからなるRFp型の半導
体層308(以上ボトム層)、a−SiからなるRFn
型の半導体層309、a−SiからなるRFi型の半導
体層310、a−SiGeからなるMWi型の半導体層
311、a−SiからなるRFi型の半導体層312、
μc−SiからなるRFp型の半導体層313(以上ミ
ドル層)、a−SiからなるRFn型の半導体層31
4、a−SiからなるRFi型の半導体層315、μc
−SiからなるRFp型の半導体層316(以上トップ
層)が順次積層されている。すなわち、半導体層304
〜316はa−Si/a−siGe/a−SiGeから
なるトリプルセルとした。なお、半導体層306の膜厚
は900Å、半導体層311の膜厚は850Å、半導体
層315の膜厚は950Åとした。
池の構成を示した模式的断面図である。図6では、ステ
ンレスの基板301上に裏面反射層302としてAl
を、透明導電層303としてZnOを堆積した後、a−
SiからなるRFn型の半導体層304、a−Siから
なるRFi型の半導体層305、a−SiGeからなる
MWi型の半導体層306、a−SiからなるRFi型
の半導体層307、μc−SiからなるRFp型の半導
体層308(以上ボトム層)、a−SiからなるRFn
型の半導体層309、a−SiからなるRFi型の半導
体層310、a−SiGeからなるMWi型の半導体層
311、a−SiからなるRFi型の半導体層312、
μc−SiからなるRFp型の半導体層313(以上ミ
ドル層)、a−SiからなるRFn型の半導体層31
4、a−SiからなるRFi型の半導体層315、μc
−SiからなるRFp型の半導体層316(以上トップ
層)が順次積層されている。すなわち、半導体層304
〜316はa−Si/a−siGe/a−SiGeから
なるトリプルセルとした。なお、半導体層306の膜厚
は900Å、半導体層311の膜厚は850Å、半導体
層315の膜厚は950Åとした。
【0043】その後、半導体層316上にシート抵抗8
0Ω/□を有する透明電極層317であるITO膜を成
膜した。その後、実施例1と同様のエッチング処理によ
るエッチングパターニングライン318の形成を行っ
た。
0Ω/□を有する透明電極層317であるITO膜を成
膜した。その後、実施例1と同様のエッチング処理によ
るエッチングパターニングライン318の形成を行っ
た。
【0044】次に、透明電極層317上にエッチングパ
ターンを形成したトリプルセルを65℃に保温された硫
酸アルミニウム30wt%水溶液の電解質溶液槽に入
れ、セルの基板301側を負極、対向電極側を正極と
し、電極間距離40mmの下、正電圧4.2Vを印加時
間50msとしパルス的に40回印加し電解処理を行っ
た。なお、硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電気電
導度は70.0mS/cm(65℃)とし、また対向電
極面積は基板面積(50mm×50mm)と同様とし
た。
ターンを形成したトリプルセルを65℃に保温された硫
酸アルミニウム30wt%水溶液の電解質溶液槽に入
れ、セルの基板301側を負極、対向電極側を正極と
し、電極間距離40mmの下、正電圧4.2Vを印加時
間50msとしパルス的に40回印加し電解処理を行っ
た。なお、硫酸アルミニウム30wt%水溶液の電気電
導度は70.0mS/cm(65℃)とし、また対向電
極面積は基板面積(50mm×50mm)と同様とし
た。
【0045】その後、前記セルを電解質溶液槽内から取
り出し、純水でセル表面の電解質溶液を十分に洗い流し
た後、温風オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行
った。更に、集電用のグリッド電極319を銀ペースト
のスクリーン印刷法で形成した。
り出し、純水でセル表面の電解質溶液を十分に洗い流し
た後、温風オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行
った。更に、集電用のグリッド電極319を銀ペースト
のスクリーン印刷法で形成した。
【0046】実施例1と同様の低照度Vocの測定、外
観目視検査及び光電変換効率の測定を行った。
観目視検査及び光電変換効率の測定を行った。
【0047】その結果、低照度Vocにおいては1.1
5V、外観目視検査においては、電解処理前後で殆ど外
観の変化はなく、外観は良好であり、光電変換効率にお
いては11.8%が得られ、その時の開放電圧は2.1
5Vであり、本発明の電解処理を行ったトリプル型太陽
電池は良好な特性であった。
5V、外観目視検査においては、電解処理前後で殆ど外
観の変化はなく、外観は良好であり、光電変換効率にお
いては11.8%が得られ、その時の開放電圧は2.1
5Vであり、本発明の電解処理を行ったトリプル型太陽
電池は良好な特性であった。
【0048】(実施例3)ロール・ツー・ロール型プラ
ズマCVD法を用いて作成したアモルファスシリコン太
陽電池セル上に図7に示すエッチングパターンを形成し
た。なお、ここでは大面積化された太陽電池の特性分布
を詳細に把握するために図7に示すような細分化された
エッチングパターンを形成した。以下では、形成の手順
に従って説明する。
ズマCVD法を用いて作成したアモルファスシリコン太
陽電池セル上に図7に示すエッチングパターンを形成し
た。なお、ここでは大面積化された太陽電池の特性分布
を詳細に把握するために図7に示すような細分化された
エッチングパターンを形成した。以下では、形成の手順
に従って説明する。
【0049】(1)オーカイト及び純水で十分に脱脂、
洗浄したステンレス帯状基板(幅355.6mm、長さ
1000m)301をロール・ツー・ロール型DCマグ
ネトロンスパッタ装置に入れ、裏面反射層302として
Alを0.2μm堆積し、その後、透明導電層303と
してZnOを1.2μm堆積した。
洗浄したステンレス帯状基板(幅355.6mm、長さ
1000m)301をロール・ツー・ロール型DCマグ
ネトロンスパッタ装置に入れ、裏面反射層302として
Alを0.2μm堆積し、その後、透明導電層303と
してZnOを1.2μm堆積した。
【0050】(2)基板を取り出し、複数の半導体層を
それぞれ堆積する放電箱を備えた堆積室がガスゲートに
より接続されたロール・ツー・ロール型プラズマCVD
装置に入れ、透明導電層303上にa−SiからなるR
Fn型の半導体層304、a−SiからなるRFi型の
半導体層305、a−SiGeからなるMWi型の半導
体層306、a−SiからなるRFi型層の半導体30
7、μc−SiからなるRFp型の半導体層308(以
上ボトム層)、a−SiからなるRFn型の半導体層3
09、a−SiからなるRFi型の半導体層310、a
−SiGeからなるMWi型の半導体層311、a−S
iからなるRFi型の半導体層312、μc−Siから
なるRFp型の半導体層313(以上ミドル層)、a−
SiからなるRFn型の半導体層314、a−Siから
なるRFi型の半導体層315、μc−SiからなるR
Fp型の半導体層316(以上トップ層)を順次積層
し、a−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプルセ
ルを形成した。なお、半導体層306の膜厚は900
Å、半導体層311の膜厚は850Å、半導体層315
の膜厚は950Åとした。
それぞれ堆積する放電箱を備えた堆積室がガスゲートに
より接続されたロール・ツー・ロール型プラズマCVD
装置に入れ、透明導電層303上にa−SiからなるR
Fn型の半導体層304、a−SiからなるRFi型の
半導体層305、a−SiGeからなるMWi型の半導
体層306、a−SiからなるRFi型層の半導体30
7、μc−SiからなるRFp型の半導体層308(以
上ボトム層)、a−SiからなるRFn型の半導体層3
09、a−SiからなるRFi型の半導体層310、a
−SiGeからなるMWi型の半導体層311、a−S
iからなるRFi型の半導体層312、μc−Siから
なるRFp型の半導体層313(以上ミドル層)、a−
SiからなるRFn型の半導体層314、a−Siから
なるRFi型の半導体層315、μc−SiからなるR
Fp型の半導体層316(以上トップ層)を順次積層
し、a−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプルセ
ルを形成した。なお、半導体層306の膜厚は900
Å、半導体層311の膜厚は850Å、半導体層315
の膜厚は950Åとした。
【0051】(3)基板を取り出し、ロール・ツー・ロ
ール型DCマグネトロンスパッタ装置に入れ、半導体層
316上にシート抵抗20Ω/□を有するITO膜を7
50Å堆積し透明電極層317を形成した。以上で、a
−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプル型太陽電
池セルの作成を終えた。
ール型DCマグネトロンスパッタ装置に入れ、半導体層
316上にシート抵抗20Ω/□を有するITO膜を7
50Å堆積し透明電極層317を形成した。以上で、a
−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプル型太陽電
池セルの作成を終えた。
【0052】(4)ステンレス帯状基板上に作成したa
−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプル型太陽電
池セルを355.6mm×120mm(幅355.6m
mはそのままで基板搬送方向に120mm)のサイズに
切断した。以下、前記サイズの太陽電池セルをスラブと
呼ぶことにする。
−Si/a−SiGe/a−SiGeトリプル型太陽電
池セルを355.6mm×120mm(幅355.6m
mはそのままで基板搬送方向に120mm)のサイズに
切断した。以下、前記サイズの太陽電池セルをスラブと
呼ぶことにする。
【0053】(5)前記スラブをpHが1.2に調整さ
れた常温(25℃)の硫酸と水酸化カリウムの混合水溶
液(硫酸2.0%、水酸化カリウム0.7%、純水9
7.3%)の電解質溶液槽に入れ、セル基板側を負極、
対向電極側を正極とし、電極間距離40mmの下、正電
圧4.5Vを印加時問25msとしパルス的に80回印
加し電解処理を行った。なお、硫酸と水酸化カリウムの
混合水溶液の電気電導度は、70.0mS/cm(25
℃)とし、また対向電極面積は基板面積(355.6m
m×120mm)と同様とした。その後、前記スラブを
電解質溶液槽内から取り出し、純水でセル表面の電解質
溶液を十分に洗い流した後、温風オーブンで150℃の
温度で30分乾燥を行った。
れた常温(25℃)の硫酸と水酸化カリウムの混合水溶
液(硫酸2.0%、水酸化カリウム0.7%、純水9
7.3%)の電解質溶液槽に入れ、セル基板側を負極、
対向電極側を正極とし、電極間距離40mmの下、正電
圧4.5Vを印加時問25msとしパルス的に80回印
加し電解処理を行った。なお、硫酸と水酸化カリウムの
混合水溶液の電気電導度は、70.0mS/cm(25
℃)とし、また対向電極面積は基板面積(355.6m
m×120mm)と同様とした。その後、前記スラブを
電解質溶液槽内から取り出し、純水でセル表面の電解質
溶液を十分に洗い流した後、温風オーブンで150℃の
温度で30分乾燥を行った。
【0054】(6)実施例1に記載のエッチングペース
トと同様のペーストを用いて、スクリーン印刷機でスラ
ブの透明電極層317上に線幅1mmのラインで、図7
に示したエッチングパターンで前記ペーストを印刷し
た。なお、線厚は30μmとした。その後、IRオーブ
ンで温度170℃で5分間加熱処理した。加熱処理後、
スラブをIRオーブンから取り出し冷却後、スラブを純
水で洗浄しペーストを除去した。その後、スラブを温風
オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行い、図7に
示したエッチングパターン314が得られた。
トと同様のペーストを用いて、スクリーン印刷機でスラ
ブの透明電極層317上に線幅1mmのラインで、図7
に示したエッチングパターンで前記ペーストを印刷し
た。なお、線厚は30μmとした。その後、IRオーブ
ンで温度170℃で5分間加熱処理した。加熱処理後、
スラブをIRオーブンから取り出し冷却後、スラブを純
水で洗浄しペーストを除去した。その後、スラブを温風
オーブンで150℃の温度で30分乾燥を行い、図7に
示したエッチングパターン314が得られた。
【0055】上記(1)〜(5)の工程により、透明電
極層上にエッチングパターンを形成したスラブの各エッ
チングラインエリア(18mm×43mmの長方角が3
6個)内における照度200luxの蛍光灯の光を照射
した時の低照度開放電圧(低照度Voc)の測定及び外
観目視検査のを行った。
極層上にエッチングパターンを形成したスラブの各エッ
チングラインエリア(18mm×43mmの長方角が3
6個)内における照度200luxの蛍光灯の光を照射
した時の低照度開放電圧(低照度Voc)の測定及び外
観目視検査のを行った。
【0056】さらに、低照度Voc測定後、図8に示す
ように各エッチングラインエリア318内に集電用のグ
リッド電極319を銀ペーストのスクリーン印刷法で形
成し、AM1.5の太陽光スペクトルで100mW/c
m2の光量の疑似太陽光源を用いて太陽電池特性を測定
し、光電変換効率及び歩留り(36個のエッチングエリ
アに対してそれぞれシャントしているかどうかの判定)
を求めた。
ように各エッチングラインエリア318内に集電用のグ
リッド電極319を銀ペーストのスクリーン印刷法で形
成し、AM1.5の太陽光スペクトルで100mW/c
m2の光量の疑似太陽光源を用いて太陽電池特性を測定
し、光電変換効率及び歩留り(36個のエッチングエリ
アに対してそれぞれシャントしているかどうかの判定)
を求めた。
【0057】その結果、36個のエッチングエリア内に
おける低照度Vocの平均値は1.10V、外観目視検
査においてはスラブの端面付近に電解処理マークは見ら
れるが、透明電極層の全体的な膜厚の減少は殆ど見られ
ず外観は良好であった。また、光電変換効率の平均値は
11.3%、その時の開放電圧の平均値は2.12Vで
あり、歩留りは100%が得られ、本発明の電解処理を
行った大面積のトリプル型太陽電池は良好な特性であっ
た。
おける低照度Vocの平均値は1.10V、外観目視検
査においてはスラブの端面付近に電解処理マークは見ら
れるが、透明電極層の全体的な膜厚の減少は殆ど見られ
ず外観は良好であった。また、光電変換効率の平均値は
11.3%、その時の開放電圧の平均値は2.12Vで
あり、歩留りは100%が得られ、本発明の電解処理を
行った大面積のトリプル型太陽電池は良好な特性であっ
た。
【0058】(比較例1)電解処理に用いる電解質溶液
に電気伝導度が15mS/cmになるように調製した硫
酸と水酸化カリウムの混合水溶液を用い、低照度Voc
が回復するまで電解処理を行った以外は実施例3と同様
にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低照度Vo
cの測定、外観目視検査、光電変換効率、その時の開放
電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1に併記し
た。なお、この時の電解処理条件は、印加電圧を5.5
V、1回の印加時問(パルス幅)を25mSとし、低照
度Vocが回復するまでの印加回数は300回程度であ
った。
に電気伝導度が15mS/cmになるように調製した硫
酸と水酸化カリウムの混合水溶液を用い、低照度Voc
が回復するまで電解処理を行った以外は実施例3と同様
にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低照度Vo
cの測定、外観目視検査、光電変換効率、その時の開放
電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1に併記し
た。なお、この時の電解処理条件は、印加電圧を5.5
V、1回の印加時問(パルス幅)を25mSとし、低照
度Vocが回復するまでの印加回数は300回程度であ
った。
【0059】結果は、電解処理時問が長い為に透明電極
層の膜厚が全体的に減少し、外観は不良であり、低照度
Vocも十分には回復しなかった。
層の膜厚が全体的に減少し、外観は不良であり、低照度
Vocも十分には回復しなかった。
【0060】(比較例2)電解処理に用いる電解質溶液
に電気伝導度が180mS/cmになるように調製した
硫酸と水酸化カリウムの混合水溶液を用い、低照度Vo
cが回復するまで電解処理を行った以外は実施例3と同
様にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低照度V
ocの測定、外観目視検査、光電変換効率、その時の開
放電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1に併記
した。なお、この時の電解質溶液のpHは0.7であ
り、電解処理条件は、印加電圧を3.5V、1回の印加
時問(パルス幅)を25mSとし、低照度Vocが回復
するまでの印加回数は50回程度であった。
に電気伝導度が180mS/cmになるように調製した
硫酸と水酸化カリウムの混合水溶液を用い、低照度Vo
cが回復するまで電解処理を行った以外は実施例3と同
様にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低照度V
ocの測定、外観目視検査、光電変換効率、その時の開
放電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1に併記
した。なお、この時の電解質溶液のpHは0.7であ
り、電解処理条件は、印加電圧を3.5V、1回の印加
時問(パルス幅)を25mSとし、低照度Vocが回復
するまでの印加回数は50回程度であった。
【0061】結果は、電解質溶液の酸性度が高すぎる為
にスラブ端面近傍からの侵食が見られ、外観は不良であ
った。
にスラブ端面近傍からの侵食が見られ、外観は不良であ
った。
【0062】(比較例3)透明電極層としてシート抵抗
300Ω/□を有するITO膜を形成した以外は実施例
3と同様にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低
照度Vocの測定、外観目視検査、光電変換効率、その
時の開放電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1
に併記した。
300Ω/□を有するITO膜を形成した以外は実施例
3と同様にして太陽電池を作成し、実施例3と同様の低
照度Vocの測定、外観目視検査、光電変換効率、その
時の開放電圧及び歩留りの測定を行い、その結果を表1
に併記した。
【0063】結果は、透明電極層のシート抵抗が高い為
に電解処理は十分行われており欠陥部(シャント部)の
みがリペアされているが、シート抵抗が高い分、実施例
3と比較して太陽電池としてのシリーズ抵抗が高くなり
光電変換効率が低下していた。
に電解処理は十分行われており欠陥部(シャント部)の
みがリペアされているが、シート抵抗が高い分、実施例
3と比較して太陽電池としてのシリーズ抵抗が高くなり
光電変換効率が低下していた。
【0064】
【表1】
【0065】表1からもわかるように本発明の電解処理
法を用いて作成した太陽電池は、外観不良のない良好な
特性及び歩留りの高い太陽電池であることがわかる。
法を用いて作成した太陽電池は、外観不良のない良好な
特性及び歩留りの高い太陽電池であることがわかる。
【0066】
【発明の効果】以上説明のように、本発明によれば、透
明電極層のシート抵抗が低いことに起因する、短絡して
いない部分の透明電極層が同時に徐々にエッチングされ
る割合を抑制することが出来、その結果、シャントや外
観不良の課題を克服した良好な特性及び歩留りの高い太
陽電池を提供することが可能となる。
明電極層のシート抵抗が低いことに起因する、短絡して
いない部分の透明電極層が同時に徐々にエッチングされ
る割合を抑制することが出来、その結果、シャントや外
観不良の課題を克服した良好な特性及び歩留りの高い太
陽電池を提供することが可能となる。
【図1】本発明を実施するための電解処理装置の一例を
示す図である。
示す図である。
【図2】本発明の電解処理工程の一例を示す概略図であ
る。
る。
【図3】実施例1により製造されたシングル型太陽電池
の断面図である。
の断面図である。
【図4】図3における透明電極層上のエッチングパター
ンを示す上面図である。
ンを示す上面図である。
【図5】図3の上面図である。
【図6】実施例2により製造されたトリプル型太陽電池
の断面図である。
の断面図である。
【図7】実施例3における透明電極層上のエッチングパ
ターンを示す上面図である。
ターンを示す上面図である。
【図8】実施例3により製造されたトリプル型太陽電池
の上面図である。
の上面図である。
101 基板 102 裏面反射層 103 半導体層 104 透明電極層 105 短絡電流通路 106 対向電極 107 電解処理槽 108 電解質溶液 109 電源 201 基板 202 裏面反射層 203 透明導電層 204〜208 半導体層 209 透明電極層 210 エッチングライン 211 グリッド電極 301 ステンレス帯状基板 302 裏面反射層 303 透明導電層 304〜316 半導体層 317 透明電極層 318 エッチングパターニングライン 319 グリッド電極
フロントページの続き Fターム(参考) 5F051 AA04 AA05 BA17 CA16 CA22 CB21 CB29 DA04 DA17 EA09 EA13 FA02 FA15 FA16 FA30 GA02 GA06
Claims (7)
- 【請求項1】 少なくとも導電性基板上に裏面反射層、
半導体層、及びシート抵抗100Ω/□以下の透明電極
層を順次積層する光起電力素子の製造方法において、透
明電極層堆積後、光起電力素子を電気伝導度30〜10
0mS/cmの電解質溶液内で電解処理することにより
短絡電流通路の少なくとも一部を選択的に除去すること
を特徴とする光起電力素子の製造方法。 - 【請求項2】 電解処理が、電解質溶液内で光起電力素
子の開放電圧以上の正電圧を1秒以下のパルス幅で複数
回印加し、基板と短絡している部分の透明電極層を選択
的にエッチング溶解させることを特徴とする請求項1に
記載の光起電力素子の製造方法。 - 【請求項3】 電解処理後、光起電力素子を水洗、乾燥
することを特徴とする請求項1または2に記載の光起電
力素子の製造方法。 - 【請求項4】 電解質溶液が、0.85≦pH≦3.0
である硫酸と水酸化カリウムの混合水溶液であることを
特徴とする請求項1〜3に記載の光起電力素子の製造方
法。 - 【請求項5】 電解質溶液が、溶質の溶媒に対する割合
が10〜30wt%である硫酸アルミニウム水溶液であ
ることを特徴とする請求項1〜3に記載の光起電力素子
の製造方法。 - 【請求項6】 電解質溶液の液温が、20℃〜80℃で
あることを特徴とする請求項1〜5に記載の光起電力素
子の製造方法。 - 【請求項7】 光起電力素子が薄膜太陽電池であること
を特徴とする請求項1〜6に記載の光起電力素子の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10216728A JP2000049370A (ja) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | 光起電力素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10216728A JP2000049370A (ja) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | 光起電力素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000049370A true JP2000049370A (ja) | 2000-02-18 |
Family
ID=16693004
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10216728A Withdrawn JP2000049370A (ja) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | 光起電力素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000049370A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6902948B2 (en) | 2003-02-06 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of producing photovoltaic element |
| KR101520260B1 (ko) * | 2012-08-16 | 2015-05-18 | 한국전기연구원 | 헤마타이트 광전극 제조 방법 및 그 광전극 |
-
1998
- 1998-07-31 JP JP10216728A patent/JP2000049370A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6902948B2 (en) | 2003-02-06 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of producing photovoltaic element |
| CN1309098C (zh) * | 2003-02-06 | 2007-04-04 | 佳能株式会社 | 光生伏打元件的制造方法 |
| KR101520260B1 (ko) * | 2012-08-16 | 2015-05-18 | 한국전기연구원 | 헤마타이트 광전극 제조 방법 및 그 광전극 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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