FR3030754A1

FR3030754A1 - Procede d'estimation de spectres de rayonnement x d'objets superposes

Info

Publication number: FR3030754A1
Application number: FR1463230A
Authority: FR
Inventors: Jean Rinkel
Original assignee: Commissariat a lEnergie Atomique CEA; Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Current assignee: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date: 2014-12-23
Filing date: 2014-12-23
Publication date: 2016-06-24
Anticipated expiration: 2034-12-23
Also published as: WO2016102861A1; FR3030754B1

Abstract

Procédé de détermination d'un spectre de transmission de rayonnement X pour un deuxième objet, le deuxième objet à traiter étant en superposition avec un premier objet à traiter, le procédé comportant l'estimation, selon un modèle linéaire, d'un spectre initial S2L(E) pour le deuxième objet à partir : d'un premier spectre mesuré (So(E)) en réponse à un flux de rayonnement X direct ; d'un deuxième spectre (S1(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé le premier objet sans traverser le deuxième objet ; et d'un troisième spectre (S12(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé la superposition des premier et deuxième objets, et l'application d'une fonction de correction au spectre initial estimé pour obtenir le spectre de transmission de rayonnement X pour le deuxième objet, la fonction de correction étant représentative d'un écart entre le spectre initial estimé et un spectre qui aurait été mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé le deuxième objet sans traverser le premier objet, la fonction de correction étant déterminée en fonction du premier spectre mesuré, du deuxième spectre mesuré et du troisième spectre mesuré.

Description

De manière générale, la présente invention se rapporte au domaine de la spectrométrie par rayons X et par rayons gamma. Les applications de la spectrométrie sont variées. Dans le domaine de la spectrométrie à fort flux, par exemple, on peut citer les sondes gamma en radioprotection, et l'imagerie multi-énergies. L'imagerie multi-énergies trouve des applications dans le domaine médical (scanners bi-énergies par exemple), dans le domaine du contrôle non destructif, dans le domaine de l'identification de matériaux et dans les applications en sécurité (détection de matériaux explosifs par radiographie multi-énergies par exemple).

Dans le domaine de l'identification de matériaux, la demande W02011069748 décrit des procédés et des dispositifs permettant de déterminer la nature d'un matériau constituant un objet, ainsi que l'épaisseur dudit objet, en irradiant ledit objet à l'aide d'un faisceau de rayons X émis par une source, et en effectuant une mesure spectrométrique du rayonnement transmis par ledit objet. Un problème se pose cependant, lorsque l'objet analysé ne comporte pas un seul matériau, mais plusieurs matériaux superposés l'un sur l'autre. En particulier, lorsque l'échantillon se compose d'un premier objet, réalisé dans un premier matériau, et d'un deuxième objet, réalisé dans un deuxième matériau, le premier objet recouvrant le deuxième objet, et dépassant de ce dernier, il est possible de mesurer le spectre du rayonnement transmis par le premier objet, ainsi que le spectre du rayonnement transmis par la superposition du premier objet et du deuxième objet Cependant, il n'est pas possible de mesurer le spectre du rayonnement transmis par le deuxième objet, du fait de la présence du premier objet entre le matériau et la source de rayons X. L'invention vise à résoudre ce problème, en proposant un procédé permettant d'estimer le spectre du rayonnement transmis par le deuxième objet, ce dernier étant masqué, vis-à-vis de la source de rayons X, par le premier objet.. L'invention s'applique à tout spectre mesuré, en utilisant aussi bien un détecteur scintillateur qu'un détecteur semi-conducteur.

La présente invention vise à remédier à ce problème Elle propose à cet effet un procédé de détermination d'un spectre de transmission de rayonnement X d'un objet S2(E), dit deuxième objet, soumis à une irradiation par un faisceau incident produit par une source de de rayonnement X, le deuxième objet étant superposé à un premier objet, le procédé comportant - l'estimation d'un spectre initial S2L(E) pour le deuxième objet à partir : - de la mesure d'un premier spectre So(E) correspondant au spectre émis par ladite source de rayonnement X, dit spectre incident ; - de la mesure d'un deuxième spectre Si(E) transmis par le premier objet en réponse audit faisceau incident, sans traverser le deuxième objet ; et - de la mesure d'un troisième spectre S12(E) transmis par la superposition des premier et deuxième objets, en réponse audit faisceau incident l'estimation étant réalisée sous la forme d'une relation linéaire entre lesdits premier spectre (So(E)), deuxième spectre (Si(E)) et troisième (S12(E)) spectre, - l'application d'une fonction de correction audit spectre initial estimé pour obtenir le spectre de transmission de rayonnement X pour le deuxième objet, la dite fonction de correction étant déterminée en fonction desdits premier, deuxième et troisième spectres mesurés La fonction de correction peut être considérée comme représentative d'un écart entre le spectre initial estimé S2L(E) et un spectre S2(E) qui aurait été mesuré en réponse audit rayonnement X émis par la source, ayant traversé le deuxième objet sans traverser le premier objet, ce dernier étant le spectre que le procédé se propose d'estimer.

Le spectre initial S2L(E) pour le deuxième objet est estimé en fonction d'un produit dudit premier spectre So (E) et dudit troisième spectre S12(E), le produit étant normalisé par ledit deuxième spectre Si(E), et par exemple selon l'expression S2L(E) = S12(E) x So (E)/Si(E) Selon un mode de réalisation, la fonction de correction est déterminée à partir : - d'une fonction de correction de base FCbase(E) déterminée pour une configuration dite de base, comprenant la superposition d'un premier objet de référence sur un deuxième objet de référence, le matériau constitutif et l'épaisseur de chacun des deux objets de référence étant connus, - la fonction de correction de base FCbase(E) étant ajustée selon une fonction d'ajustement, la fonction d'ajustement f(So (E), Si(E), S12(E)) étant déterminée en fonction desdits premier, deuxième et troisième spectres mesurés. En particulier, la fonction de correction de base FCbase(E) est estimée, en : - mesurant le spectre Sibase(E) du rayonnement transmis par le premier objet de référence en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), sans traverser ledit deuxième objet de référence; et - mesurant le spectre Si2base(E) du rayonnement transmis par la superposition des premier et deuxième objets de référence, en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E) - estimant le spectre S2base*(E) du rayonnement transmis par le deuxième objet de référence, en réponse en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), en combinant lesdits spectres Sibase (E), Si2base(E) et le spectre So(E) du faisceau produit par la source, cette estimation étant effectuée par exemple selon l'expression S2base*(E) = Si2base(E) x So (E)/Siref(E) - mesurant le spectre S2base(E) du rayonnement transmis par le deuxième objet de référence en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), la fonction de correction de base FCbase(E) correspondant alors à la comparaison, et notamment la différence, entre les spectre du rayonnement transmis par le deuxième objet respectivement mesuré S2base(E) et estimé S2base*(E) La fonction d'ajustement peut comporter : - une estimation de la nature du matériau constitutif dudit premier objet et de la capacité d'atténuation atti dudit premier objet par rapport à la capacité d'atténuation a t 1.n du premier objet de référence ; et - une estimation de la nature du matériau constitutif dudit deuxième objet et de la capacité d'atténuation att2 dudit deuxième objet par rapport, à la capacité d'atténuation attref2 du deuxième l'objet de référence. En particulier, la nature du de chaque objet peut être caractérisée par une estimation du numéro atomique effectif du matériau le constituant, ce numéro étant noté Z1 et Z2 respectivement pour le premier et le deuxième objet La capacité d'atténuation atti du premier objet par rapport à la capacité d'atténuation a t t.refl du premier objet de référence peut être déterminée à partir d'un ratio entre : l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré Si(E) et l'intégrale du spectre Srefl(E) transmis par le premier objet de référence lorsque ce dernier est exposé à un rayonnement incident dont le spectre est celui de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une bande spectrale identique ou sensiblement identique.

Par bande spectrale, il est entendu un intervalle d'énergie entre une énergie minimum Emin et une énergie max Emax. Le terme sensiblement sur une même invinbande spectrale correspond à l'égalité avec un écart relatif inférieur à 10%.

De même la capacité d'atténuation att2 du deuxième objet par rapport à la capacité d'atténuation att ..ref2 du deuxième objet de référence peut être déterminée à partir d'un ratio entre : l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré S2(E) - et l'intégrale du spectre Sref2(E) transmis par le deuxième objet de référence lorsque ce dernier est exposé à un rayonnement incident dont le spectre est celui de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une bande spectrale identique ou sensiblement identique. Le numéro atomique effectif du matériau constitutif dudit premier objet peut être estimé en fonction : - d'un premier ratio entre l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (Si(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une plage énérgétique comprise entre une première borne BEn,it, et une deuxième borne BEmax. - d'un deuxième ratio entre l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (Si(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une troisième borne HEmin et une quatrième borne HEmax, la quatrième borne HEmax étant supérieure à la deuxième borne BEmax, la troisième borne HEmin étant de préférence supérieure à ladite deuxième borne BEmax. Le numéro atomique effectif dudit deuxième objet peut être estimé en fonction : - d'un troisième ratio entre l'intégrale dudit spectre initial estimé pour le deuxième objet S2L(E) et l'intégrale dudit spectre de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une plage énergétique comprise entre une cinquième borne BErnin et une sixième borne BEmax. - d'un quatrième ratio entre l'intégrale dudit spectre initial estimé pour le deuxième objet Sn(E) et l'intégrale dudit spectre de la source So(E) chaque intégrale étant déterminée sur une septième borne HEmin et une huitième borne HE'max, la huitième borne HEmax étant supérieure à la sixième borne BEmax, la septième borne HEmin étant de préférence supérieure à la sixième borne BEmax.

La fonction d'ajustement peut prendre la forme d'un terme correctif scalaire. Ce terme correctif peut être notamment déterminé en combinant, - l'estimation du numéro effectif Z1 dudit premier objet, - l'estimation du numéro effectif Z2 dudit deuxième objet, - l'estimation du numéro effectif Zfref du premier objet de référence, - l'estimation du numéro effectif Z2ref du deuxième objet de référence, - l'estimation de la capacité d'atténuation atti du matériau constituant le premier objet par rapport à la capacité d'atténuation att ..refl du matériau constituant le premier objet de référence, - l'estimation de la capacité d'atténuation att2 du matériau constituant le deuxième objet par rapport à la capacité d'atténuation aft ..ref2 du matériau constituant le deuxième objet de référence, ces estimations étant combinées avec des coefficients prédéterminés, En particulier, lesdits coefficients prédéterminés peuvent être déterminés lors d'une étape de calibrage, l'étape de calibrage comportant : - le calcul de la fonction de correction de base FCbase(E) pour la superposition dite de base des deux objets de référence, - le calcul d'une pluralité de fonctions de correction dite de calibrage FC(E), chacune desdites fonctions étant déterminée en considérant une superposition de calibrage, comportant : - un premier objet de calibrage, de première épaisseur de calibrage connue, et constitué d'un premier matériau de calibrage connu, le premier objet étant superposé à - un deuxième objet de calibrage, de deuxième épaisseur de calibrage connue et constitué d'un deuxième matériau de calibrage connu, chaque superposition de calibrage comportant soit le premier objet de référence utilisé pour le calcul de la fonction de correction de base FCbase(E), soit le deuxième objet de référence utilisé pour le calcul de la fonction de correction de base FCbase(E), - la comparaison entre ladite fonction de correction de base FCbase(E) et chaque fonction de correction de calibrage FC (E) pour déterminer ladite fonction d'ajustement. Le calcul de la fonction de correction respective pour chaque superposition de calibrage comporte : - lorsque le premier objet de calibrage correspond au premier objet de référence, l'estimation du spectre du rayonnement transmis par le deuxième objet de calibrage en réponse au faisceau incident produit par la source, et la comparaison deladite estimation avec une mesure de ce spectre, - lorsque le deuxième objet de calibrage correspond au deuxième objet de référence, l'estimation du spectre transmis du rayonnement transmis par le premier objet de calibrage en réponse au faisceau incident produit par la source, et la comparaison deladite estimation avec une mesure de ce spectre. Le procédé de calibration peut comporter, pour chaque fonction de correction de calibrage, une estimation d'un coefficient de régression linéaire entre ladite fonction de correction de calibrage ((FC (E)) et ladite fonction de correction de base (FCbase(E)) Un autre objet de l'invention est un dispositif de détermination d'un spectre de transmission de rayonnement X (S2(E)) d'un objet, dit deuxième objet, soumis à une irradiation par un faisceau incident produit par une source de de rayonnement X, le deuxième objet étant superposé à un premier objet, le dispositif comportant - un processeur pour estimer, un spectre initial (S2L(E)) relatif au le deuxième objet à partir : d'un premier spectre mesuré (So(E)) en réponse à un flux de rayonnement X direct ; d'un deuxième spectre (Si(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé le premier objet sans traverser le deuxième objet ; et d'un troisième spectre (S12(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé la superposition des premier et deuxième objets, l'estimation étant réalisée sous la forme d'une relation linéaire entre lesdits premier spectre, deuxième spectre et troisième spectre, - un processeur obtenir le spectre de transmission de rayonnement X, noté S2(E), pour le deuxième objet, à partir dudit spectre initial estimé S2L(E),le processeur mettant en oeuvre le procédé de détermination tel que décrit dans la présente demande. Cette invention permet d'estimer le spectre d'un matériau dissimulé sous un premier matériau. Avantageusement, elle de prendre les imperfections du capteur, lesquelles constituent des causes de dégradation du spectre observé. Plus précisément, l'invention permet de déduire à partir de la connaissance du spectre ayant interagi à travers un premier objet et celui ayant interagi à travers ce premier objet superposé avec un deuxième objet d'intérêt le spectre d'interaction avec le deuxième objet d'intérêt.

Le spectre ainsi estimé peut ensuite être pris en compte dans des procédés visant à identifier ce matériau, en déterminant notamment sa nature et son épaisseur. De tels procédés font partie de l'art antérieur. D'autres particularités et avantages de l'invention apparaîtront dans la description ci-après, illustrée par les dessins ci-joints, dans lesquels : la figure lA représente schématiquement un système de mesure pour obtenir des spectre de transmission de rayonnement X pour des objets à traiter en superposition selon un mode de réalisation de l'invention ; la figure 1B représente schématiquement un système de mesure pour obtenir des spectre de transmission de rayonnement X pour des objets de référence en superposition selon un mode de réalisation de l'invention ; la figure 2 représente graphiquement la variabilité des fonction de 5 corrections de calibrage obtenues dans une étape de calibrage selon un mode de réalisation de l'invention ; la figure 3 représente graphiquement la validation en simulation du modèle de correction selon un mode de réalisation de l'invention ; la figure 4 illustre les étapes du procédé pour détermination un spectre 10 d'un objet d'intérêt selon un mode de réalisation de l'invention ; et la figure 5 illustre schématiquement litape de calibrage selon un mode de réalisation de l'invention. Afin de mieux faire comprendre l'objet de l'invention, l'exemple qui suit, donné à titre illustratif, concerne la superposition de deux objets à traiter 11 et 15 12. Le premier objet 11 est constitué d'un matériau noté math 1 et a une épaisseur notée ep11. Le deuxième objet 12 est constitué d'un matériau noté mat12 et a une épaisseur notée ep12. Une source de rayonnement X 10 est placée à un côté de l'ensemble des objets 11 et 12 et un dispositif de mesure de spectre X 15 comportant un capteur à conversion directe est placé au côté 20 opposant de l'ensemble des objets. Des spectres de transmission de rayons X sont mesurés par le dispositif de mesure de spectre 15 en réponse à des flux de rayonnement X en provenance de la source de rayonnement X 10. Le dispositif de mesure permet de mesurer : : un premier spectre, noté So(E) mesuré en réponse à un flux de 25 rayonnement X0 émis par la source de rayonnement X 10 sans avoir traversé les deux objets 11 et 12 ; ce spectre constituant le spectre du flux incident au premier objet 11. un deuxième spectre noté Si(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X1 ayant traversé le premier objet 11 sans avoir traversé le 30 deuxième objet, ce spectre étant le spectre du rayonnement transmis par le premier objet 11, un troisième spectre, noté S12(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X12 ayant interagi à travers l'ensemble des deux objets 11 et 12., ce spectre étant le spectre du rayonnement transmis par la superposition formée par ces deux objets.

Le but des modes de réalisation de l'invention est d'estimer, à partir des trois spectres mesurés So(E), Si(E) et S12(E), le spectre S2(E) qui aurait été mesuré en réponse à un flux de rayonnement X2 ayant traversé le deuxième objet sans avoir traversé le premier objet. Autrement dit, le but de l'invention est d'estimer le spectre S2(E) du rayonnement transmis par le deuxième matériau lorsqu'il est irradié par le rayonnement incident de spectre Xo. Cette problématique correspond à un cas simplifié de superposition : l'objet 12 ne peut pas être mesuré en état isolé de l'objet 11. L'objet 11 dans cet ensemble ne varie ni en composition ni en épaisseur lorsqu'il su superpose à l'objet 12. Supposons que le capteur à rayons X du dispositif de mesure 15 soit parfaitement linéaire l'atténuation des rayons X mesurée par ce capteur à travers les deux objets 11, 12 est la somme des atténuations mesurées séparément à travers chacun des deux objets 11, 12. Dans ce cas, le spectre pour le deuxième objet S2(E) seul est donné par un modèle linéaire caractérisé par la formule suivante : S2 (E) - (E) x S0 (E) (1) SI (E) La formule (1) devient une formule approchée dans le cas où le capteur à rayons X 15 est non linéaire à cause en particulier à des phénomènes d'empilement, du partage de charge et de la dégradation de la résolution en énergie. Notons alors le spectre estimé dit linéaire §2L (E) (pour un capteur linéaire) du modèle linéaire: '-'21. (E) - S12 (E) x SI (E) S0 (E) (2) Puisque le capteur à rayons X 15 dans l'exemple de la figure 1 est non linéaire, le spectre S2(E) souhaité est à priori différent de l'estimation g2L(E) par la méthode linéaire. Pour remonter au spectre S2(E) qui aurait été mesuré en réponse à un rayonnement ayant traversé seul le deuxième objet 12, à partir du spectre estimé -§2L (E) selon le modèle linéaire, une fonction de correction, notée FC est ajoutée au spectre estimé 'S-2L (E) . Cette fonction de correction FC sera déterminée en fonction des mesures des premier, deuxième et troisième spectres So, S1 et S12. L'estimation du spectre S2(E) selon au moins un mode de réalisation de l'invention est noté S2(E) : (E) = §2L(E)+ FC(E,S0,SI,S12) (3) Le procédé selon au moins un mode de réalisation de l'invention comporte une étape préliminaire de calibrage. Par mesure sur des superpositions d'objets connus de calibrage (par exemple un premier objet de calibrage 1 constitué du matériau Mati et d'épaisseur ep1, et un deuxième objet de référence 1 constitué du matériau Mat2 et d'épaisseur ep2), il est possible de calibrer une pemière fonction de correction FC, dite fonction de correction de base, par le calcul suivant : FC(E,Matl,epl,Mat2,ep2)= S2 (E,Mat2,ep2)- 2j (E) (4) dans lequel : S2(E, Mat2, ep2) représente le spectre réel mesuré pour le deuxième objet connu et 'S-2L(E) représente le spectre estimé de façon linéaire selon le formule (2) pour le deuxième objet connu Si 2 (E, Mat 1, epl, Mat2,ep2)x S0(E) La première fonction de correction FC qui représente la différence entre le spectre mesuré pour le deuxième objet 2 et le spectre estimé selon le modèle linéaire pour le deuxième objet peut être exprimée selon le calcul suivant : S,(E,Matl,epl) FC(E, Mati, epl, Mat2,ep2) = S2 (E, Mat2, ep2) - S12 (E, Mati, epl, Mat2,ep2)x S 0(E) (5) Cette première fonction de correction de base est obtenue en utilisant des matériaux dits « de base », c'est-à-dire considérés comme représentatifs des matériaux inconnus qui seront analysés par la suite. Par représentatif, on entend que leur numéro atomique effectif est suffisamment proche des matériaux à rechercher, Le terme proche désigne un écart relatif de 20% voire 30%. Par numéro atomique effectif, on entend une grandeur obtenue en pondérant les numéros atomiques de chaque corps pur constituant un matériau, la pondération pouvant être une fraction massique ou une fraction atomique. Afin de tenir compte de la variabilité des matériaux à rechercher vis-à-vis des matériaux de base, le procédé comprend une fonction d'ajustement f, indépendante de l'énergie E. Cette fonction d'ajustement est déterminée à partir des spectres So(E), Si(E) et S1,2(E). Elle est notée f(So , S S,2) Le spectre estimé -g2 (E) de l'objet d'intérêt peut alors s'écrire : x''2 (E) = S12 (E)xS°(E) + FC bc,'(E)x f(S0,S,,S,2) S(E) (6) La fonction de correction de référence (ou de base) FCbase est établie en utilisant deux objets de référence (ou objets de base) 1 et 2 de matériaux Mati et Mat2 respectifs dont le numéro atomique effectif (Zeff) et la capacité d'atténuation (densité, épaisseur) sont connus.. La fonction d'ajustement est un terme scalaire, dépendant des mesures des spectres So(E), Si(E) et S1,2(E), et de coefficients déterminés préalablement au cours d'une étape de calibrage. L'étape de calibrage consiste à réaliser des mesures transmises par un premier objet de calibrage se superposant à un deuxième objet de calibrage, un de ces objets correspondant à un desdits objets de référence, l'autre de ces S 1(E, Matl,epl) objets étant un matériau de nature et d'épaisseur connue. De préférence, le matériau de calibrage a des propriétés physiques (nature, épaisseur) proches des matériaux à analyser. Par contre, et c'est un avantage de la méthode, il n'est pas nécessaire qu'un matériau à analyser fasse partie des matériaux de calibrage utilisés. L'étape de calibrage suppose la prise en compte d'un grand nombre de superpositions de calibrage, associant un premier objet de calibrage est un deuxième objet de calibrage, comme précédemment décrits. Une fonction de correction de calibrage est calculé pour chaque superposition de calibrage selon la formule (5) à partir des trois spectres mesurés So(E), Si(E) et S12(E) pour chaque superposition de calibrage. Dans l'étape de calibrage, pour chaque superposition de calibrage un quatrième spectre S2(E) est mesuré pour le deuxième objet pour comparaison avec le spectre estimé 'S-'2'(E) selon le modèle linéaire (2) pour le deuxième objet. Ainsi, à chaque superposition de calibrage correspond l'estimation du spectre K'21,(E) transmis par le deuxième objet de calibrage lorsqu'exposé au rayonnement incident de la source, ainsi qu'une mesure S2(E) de ce spectre. Le spectre estimé ,§"2L (E) et le spectre mesuré S2(E) sont alors comparés, notamment par une soustraction, le résultat de cette comparaison étant une fonction de calibration dite de calibrage, et notée FC(E, mat, ep), les arguments mat et ep désignant la nature et l'épaisseur de l'objet de calibrage qui est différent de l'objet de référence. Les figures 2A et 2B illustrent la variabilité des fonctions de corrections FC(E, mat, ep) de calibrage déterminées selon l'expression (5), à savoir des différences entre les spectres réels S2 mesurés et les estimations linéaires :-.S''21 (E) pour chaque superposition de calibrage, par rapport à la fonction de correction de référence FCbase . cette dernière étant obtenue, de façon analogue, en considérant une superposition dite de base impliquant deux matériaux de références dits matériaux de base.

Ces figures illustrent que ces différences sont globalement proportionnelles à cette fonction de correction de référence, ce qui justifie le modèle précédent, en particulier le fait que le fonction d'ajustement f(So, S1, S12) soit indépendant de l'énergie.

Dans la figure 2A la nature du matériau et l'épaisseur de l'objet 1 de référence varient, tandis que l'objet 2 correspond au deuxième objet de la superposition dite de base. Dans la figure 2B la nature du matériau et l'épaisseur de l'objet 2 varient tandis que l'objet 1 correspond au premier objet de la superposition dite de 10 base. Dans cet exemple, la superposition de base compote : - un premier objet 1 de base en polyformaldéhyde (POM), d'épaisseur 30 mm - un premier objet 2 de base en polyformaldéhyde (POM), d'épaisseur 30 15 mm Les différentes natures des matériaux de calibrage incluent le polyéthylène (PE), le polyoxyméthylène ou le polyformaldéhyde (POM) et le polyfluorure de vinylidène PVDF. Les épaisseurs des objets de calibrage sont croissantes de 5 mm à 5 cm 20 par pas de 5 mm. Comme illustré les fonctions de correction FC sont d'autant plus importantes (en valeur absolue) que l'épaisseur augmente. Dans l'expression (6) la fonction de correction de base FCbase est représentative de l'écart à la linéarité pour la superposition de base. Elle caractérise pour cette superposition la non linéarité du capteur liée aux 25 différents effets précédemment cités. La fonction d'ajustement f(So, S1, S12) dans l'expression (6) permet de prédire la variation de la fonction de correction FC autour de la fonction de correction de référence FCbase., lorsque la superposition implique un premier et/ou un deuxième objet différents des objets de base, aussi bien du point de 30 vue de leur nature que de leur épaisseur, autour d'une des matériaux de base. L'allure des courbes des figures 2A et 2B permet de faire l'hypothèse d'une proportionnalité entre les fonctions de correction. On fait donc l'approximation de la fonction d'ajustement f(So, S1, S12) n'évolue pas en fonction de l'énergie et peut être considérée comme un scalaire, utilisé en tant que facteur de pondération de la fonction de correction de base FCbase. Les inventeurs ont estimés qu'une telle fonction d'ajustement, couplée à ladite fonction de calibration de base FCbase permettait une correction suffisamment fiable du spectre estimé par la méthode linéaire :§"2 (E) , de façon fournir une estimation suffisamment fiable du spectre recherché S2(E). Cette correction est fiable même si l'un des objets superposés est différent des objets considérés lors de la superposition de base ou lors des superpositions de calibrage. à valoir si l'acquisition courante est celle de la superposition de référence. Une formulation pour la fonction d'ajustement f(So, S1, S12) est proposée f (S0 ,S, ,S,2)=Facteurl(S0 , SI )x Facteur2(S0 , SI ,S,2 ) (7) Dans cette formulation, le Facteur I modélise l'écart du spectre de l'objet 11 à traiter par rapport au spectre de l'objet 1 de la superposition de référence, et le Facteur 2 l'écart du spectre de l'objet 12 à traiter par rapport à l'objet 2 de la superposition de base des objets de référence 1 et 2.

Plus précisément : Zeff 1 Facteurl = x (a1x12 ± b1x1 +1 - a - b,) (8) Zeff 1 base Zeff 2 Facteur 2= x a2x22 + b,x2 +1 - a 2 - b2) (9) Zeff 2,a' La dénomination numéro atomique effectif Zeff s'applique à un matériau composite. Ce numéro est obtenu par une pondération des numéros atomiques de chaque corps pur composant le matériau, la pondération pouvant être la fraction massique ou la fraction atomique. Le numéro atomique effectif Zeff d'un matériau peut être estimé, à partir de spectres, comme indiqué ci-dessous.

Dans les équations (8) et (9), Le coefficient x1, représente la capacité d'atténuation, notée atti, du matériau du premier objet à traiter 11 par rapport à l'atténuation du matériau du premier objet de référence 1, notée att -refl. Il est estimé qu'une intégrale sur un spectre est un indicateur satisfaisant de cette atténuation (voir la formule 10). Le coefficient x2 représente une estimation de la capacité d'atténuation, notée att2, du matériau du deuxième objet 12 à traiter, par rapport à la capacité d'atténuation du matériau du deuxième objet de référence, notée a t t.ref2, l'estimation de l'atténuation du matériau de l'objet 12 étant réalisée sur la base d'un spectre corrigé de façon linéaire (voir la formule 11) Le coefficient Zeff1 représente le numéro atomique effectif Zeff du matériau du premier objet à traiter 11. Il est estimé qu'en déterminant un ratio entre un numérateur (qui représente un coefficient d'atténuation à faible énergie) sur un dénominateur (qui représente un coefficient d'atténuation à forte énergie), on obtient une estimation satisfaisante de ce numéro atomique effectif Zeff. Le coefficient Zeff2 représente le numéro atomique effectif Zeff du matériau du deuxième objet à traiter 12.

Dans ces équations, les termes x/ et x2 modélisent respectivement les sommes des spectres Si et §21, (E) , normalisés par les valeurs correspondantes pour la superposition de référence. Ces grandeurs permettent de quantifier les variations des atténuations moyennes sur l'ensemble des énergies des spectres des objets 11 et 12 à traiter par rapport à celles de la superposition de base des objets de référence 1 et 2. ME max IlEm SI(E) E) XI = (10) - SI base (E) RE min BE min max S2I, base (E) BE min X2 = Les coefficients Zeffl et Zeff2 représentent des grandeurs représentatives des matériaux indépendamment de leurs épaisseurs au premier ordre. Il s'agit en effet du rapport atténuation BE (fenêtre basse énergie) sur atténuation HE (fenêtre haute énergie) à une certaine puissance a et donc de la 5 pente des droites caractéristiques des différents matériaux dans la représentation habituelle en bi-énergies (à la puissance a près). Il s'agit d'une nouvelle définition d'un numéro atomique effectif par rapport à une mesure spectrale (il dépend donc du capteur) adaptée à notre contexte de superposition. Les fenêtres d'énergie BE et HE sont fixées, par exemple, à [2110 40] keV et [50-120] keV respectivement. Zeffl cx in:c. BE max SI (E)/ S0 (E) BE min Zeff 2 = HE max 2.'d Si (E) ES0(E): HE min HE min m BE max 2 linéaire (E) / So (E) BE min 2 linéaire HE min HE min 9E min M3X (12) (13) 15 Dans certains modes de réalisation les bornes BE et HE peuvent être optimisées pour le calcul de Zeff1 et Zeff2 pour obtenir des résultats plus précis. L'exposant a utilisé pour la détermination de Zeffi et de Zeff2 est un nombre réel variable, pouvat par exemple varier de -5 = +5 par pas de 0.1. 20 Au final, 5 paramètres sont à déterminer par calibrage : al, b1, a2, b2 et a. Afin de valider le modèle deux cas ont été traités : dans le premier cas, l'objet 1 est le premier objet de la superposition de référence alors que le deuxième objet varie. On a alors Facteur1 = 1 et Facteur2 = FC(E)/FCba'(E). Dans le deuxième cas, l'objet 2 est le deuxième objet de la superposition de 25 référence alors que le premier objet varie. On a alors Facteur2 = 1 et Facteur1= FC(E) / FCb'e (E) . La figure 3 montre dans chaque cas que pour un matériau donné (Zeff fixé), les facteurs correctifs Facteur1 et Facteur2 peuvent être modélisés par un polynôme du second degré, dont la variable correspond respectivement à la grandeur x1 et à la grandeur x2. Par ailleurs, il existe un paramètre a optimum (2.6) sur l'ensemble des différentes configurations qui permet de bien prendre en compte l'influence du matériau. Ainsi, la fonction complémentaire de correction f(SO, SI, S2) permet-elle un ajustement de la fonction de correction, en prenant en compte une estimation du numéro atomique effectif des matériaux mesurés (Zeff1, Zeff2), ainsi qu'une estimation de l'atténuation du rayonnement (atti, att2) qu'ils produisent par rapport aux matériaux de référence (attren, attref2), ces derniers étant utilisés pour déterminer la fonction de correction de référence FCbase. Un procédé pour déterminer un spectre de transmission pour un objet d'intérêt selon un mode de réalisation de l'invention sera décrit en se référant à la figure 4. Ce procédé comporte deux étapes principales, une étape de calibrage E100 utilisant une superposition de deux objets de référence connus 1, 2 et une étape d'estimation E200 pour une superposition des objets inconnus à traiter 11 et 12. L'étape de calibrage E100 comporte une première étape E101 comprenant un choix d'une superposition de deux objets type de référence et une mesure de la fonction de correction de base FCbase par rapport à la correction linéaire selon l'équation (4). En se référant à la Figure 1B quatre spectres sont obtenus : un premier spectre, noté So(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X0 direct de la source de rayonnement X 10 sans avoir traversé les deux objets de référence 1 et 2; un deuxième spectre noté Si(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X1 ayant traversé le premier objet de référence 1 sans avoir traversé le deuxième objet de référence 2 ; un troisième spectre, noté S12(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X12 ayant interagi à travers l'ensemble des deux objets de référence 1 et 2 ; et pour déterminer la fonction de correction de base FCbase : un quatrième spectre noté S2(E) mesuré en réponse à un flux de rayonnement X2 ayant traversé le deuxième objet de référence 2 sans avoir traversé le premier objet de référence 1 Un spectre estimé g21 (E) est estimé selon le modèle linéaire pour le deuxième objet de référence 2 pour comparaison avec le quatrième spectre afin de déterminer la fonction de correction de base FCbase selon la formule (4) Dans d'autres modes de réalisation de l'invention plusieurs superpositions de base peuvent être utilisées pour obtenir un modèle plus robuste aux variations d'atténuation.

Une deuxième étape de calibrage E102 comporte l'acquisition de superpositions de calibrage avec des premier et deuxième objets variables par rapport aux deux objets de référence de la superposition de base et l'estimation empirique des fonctions de correction FC par rapport à la correction linéaire selon la formule (2). Dans cette étape les quatre spectres S1(E), S12(E), SO(E) et S2(E) sont mesurés pour chaque superposition de calibrage des objets 1 et 2. Un spectre estimé 'S-'2,,(E) est estimé selon le modèle linéaire (2) pour le deuxième objet 2de chaque superposition de calibrage pour comparaison avec le quatrième spectre respectif afin de déterminer la fonction de correction de base FCbase respectif selon la formule (4) Une troisième étape E103 comporte l'apprentissage des paramètres de la fonction d'ajustement f(So, S1, S12) en fonction des résultats de la deuxième étape de calibrage pour obtenir le modèle selon l'équation (6) pour l'estimation d'un spectre d'un deuxième objet inconnu en superposition avec un premier objet inconnu.

L'étape d'estimation E200 du spectre S2 du deuxième objet d'intérêt dans une superposition de premier et deuxième objets inconnus E201 comporte l'utilisation de la formule de superposition linéaire, de la fonction de correction de base et du modèle pour estimer le spectre de l'objet d'intérêt. Dans la deuxième étape de calibrage E102 en termes de statistiques, un grand nombre d'acquisitions permet de limiter le bruit photonique. Typiquement, on choisit 1200 acquisitions, chacune étant dans des conditions de flux et de temps d'exposition des mesures on-line. Ce choix résulte d'un compromis entre temps de calibrage et bruit. Dans ces conditions, le bruit résultant est inférieur à 3% du bruit d'une mesure.

L'étape de calibrage E102 est réalisée à l'aide de deux étapes représentées sur la figure 5, un ensemble de objets sans filtre de matériaux et d'épaisseurs (ensemble de spectres Sv), puis les mêmes objets avec filtrage (ensemble de spectres S12). Une condition importante pour appliquer cette méthode à l'aide de ce calibrage simplifié est que le filtre (matériau et épaisseur) corresponde à un des objets mis en oeuvre dans la superposition de base. Dans cet exemple il est considéré que la superposition de base est constituée du filtre superposé avec le même objet (30 mm de ROM superposés avec 30 mm de ROM). Il sera montré comment ce calibrage permet de déduire, dans l'étape E103, les paramètres al, bi, a2, b2 et a pour le modèle d'estimation selon l'expression (6). Une étape préliminaire comporte la définition d'une gamme de valeurs pour a, par exemple de -2 à +5 par pas de 0.1 Outre la configuration de calibrage des objets 1 et 2 superposés, on utilise Nmat (nombre de matériaux de calibrage) matériaux pour ces objets superposés. Chaque matériau Mat est décliné en Nep épaisseurs (nombre d'épaisseurs de calibrage), c'est-à-dire Nmat*Nep calibrations différents. Dans un premier temps nous supposons que l'objet de référence 1 est un filtre (il est fixe), correspondant au premier objet de la configuration de base, alors que l'objet de référence 2 varie. Pour chaque configuration de l'objet variable 2 (mat, ep), un spectre S2 est estimé par la méthode linéaire selon l'expression (2) à partir des acquisitions de calibrage en considérant que le spectre Si = SF. Il est ensuite soustrait à S2 = Sv pour déterminer la fonction de correction FC associée à la configuration (mat, ep) : On mesure : SF(E) = S1(E) : spectre à travers l'objet de référence fixe 1 de matériau (un filtre) Sv(E) = S2(E, mat, ep) = spectre à travers l'objet variable 2 d' un matériau mat d'épaisseur ep ; So(E) = spectre en réponse à un rayonnement incident direct S12(E) = spectre en réponse à un rayonnement à travers la superposition d'objet variable 2 et de l'objet fixe 1 Ensuite on calcule FC(E,mat,ep)= Sv(E,mat,ep)-S12(E,mat,ep)x S F(E) (14) So(E) et FCbase(E, matref Epref), à partir des mesures de référence Cela permet de déterminer le coefficient de régression linéaire entre la fonction de correction déterminée FC(E, mat, ep) et la fonction de correction de référence FCbase (E, matref Epref) par moindre carrés. Nc 2 C (15) Coeff(matiep)= argenin [FC(Ei,mat,ep)- C x FC 7,1 a tref, epref - Zeff2 est calculé selon la formule (13) en considérant : - S2L(E) = S12(E) * So(E) / Si(E), ce qui permet de déterminer Zeff2,f (en utilisant la valeur de référence) et Zeff2 (mat, ep). Le coefficient déterminé selon l'expression (15) est un coefficient scalaire Pour chaque configuration (mat, ep), on construit un vecteur, dont chaque terme est : Coeff(mat,ep) Zeff2 (mat,e-p)/ /Zeff,(matref, ef) Pour chaque configuration (mat, ep), on détermine x2(mat, ep) selon l'équation (11) en utilisant S2L(E, mat, ep) au numérateur et S2L(E, matref, epref) au dénominateur.

Une prochaine étape consiste à trouver les coefficients du polynôme du second degré a2 et b2 par inversion du système matriciel suivant (l'inversion est réalisée par moindres carrés) : - Coeff (mat, ep) Zeff 2 X2 -1] a2 Ze ff 2 base (16) Dans cette équation, le terme de gauche est le vecteur en colonne de dimension Nmat (nombre de matériaux de calibrage) X Nep (nombre d'épaisseurs). La matrice faisant intervenir x2 possède Nmat x Nep lignes et 2 colonnes. Pour chaque valeur de a, deux coefficients a2 et b2 sont déterminés.

Dans un deuxième temps, nous supposons que l'objet 2 est fixe et correspond au deuxième objet de la superposition de base alors que l'objet 1 varie. Pour chaque couple (mat, ep) constituant le premier objet, le spectre S2 pour le deuxième objet est estimé par la méthode linéaire selon l'expression (2) à partir des deux acquisitions de calibrage en considérant que S1 = Sv. Il est ensuite soustrait à 82 = SF pour déterminer la fonction de correction associée au couple (mat, ep) : On mesure : SF(E) = S2(E) : spectre à travers un objet fixe 2 de matériau (un filtre) Sv(E) = Sl(E, mat, ep) = spectre à travers un objet variable 1 d'un matériau mat d'épaisseur ep So(E) = spectre en réponse à un rayonnement incident direct S12(E) = spectre en réponse à un rayonnement à travers la superposition d'objet variable 1 et de l'objet fixe 2 Ensuite on calcule : S0(E) FC(E,mat,ep) = SF(E)- S12(E, mat, ep)x Sv (E, mat, ep) (1 7) Les étapes décrites précédemment pour le cas où le premier objet est fixe sont réalisées de manière symétrique pour le deuxième objet étant fixe pour obtenir l'équation : [Coeff (mat ,ep) Zeffl I= [x,2 -1 x - ll[ba (18) Zeffl hase Au final, pour chaque valeur de a, quatre coefficients (ai, b1, az, b2) sont déterminés. Grâce à ces opérations, on peut déterminer, pour chaque valeur a et pour chaque matériau utilisé lors de l'étalonnage, les facteurs Facteur1 (a, mat, ep) selon l'expression (8) et Facteur2 (a, mat, ep) selon l'expression (9) et donc déterminer un fonction d'ajustement fa(So,S1,S/2) que l'on peut appliquer à un spectre S2 mesuré, afin d'obtenir un spectre corrigé Sz_cor(a). Pour chaque combinaison (mat, ep), on peut déterminer l'erreur E1(a) et E2(a) (respectivement déterminées en utilisant S2-c0r(a) et S 1-cor(a)) selon les équations (19) et (20) ci-dessous, ce qui permet de déterminer l'erreur globale EG a selon l'équation (21) ci-dessous. La valeur a finalement retenue est celle qui minimise EG,, selon l'expression (22) Pour ce faire pour chaque valeur de a, le spectre S2 du deuxième objet est estimé avec le procédé selon le mode de réalisation de l'invention. On note cor le spectre pour le deuxième objet déterminé en appliquant ce procédé.

Les erreurs de ces estimations sont quantifiées par un écart quadratique. Ceci est réalisé dans le cas de l'objet 1 fixe : 1 1 Erreur12 (a) = L L L I (E, mat, ep) - -§2 cor (E, mat, ep))2 (19) Nmat Nep mat ep E Puis dans le cas de l'objet 2 fixe : 1 1 Erreurr (a) = Nmat Nep \SF (E) - _ cor (E, mat, ep))2 (20) E L'erreur globale est définie comme : EG = -1 - /Erreur,2 + Erreur2 2 (21) 2 y Au final, la valeur de a retenue est celle qui minimise cette erreur globale : a = Arg min(EG) (22) a Les valeurs des paramètres al, b1, az et b2 retenues sont les valeurs qui ont été précédemment calculées lors des étapes (1) et (2) en choisissant celles correspondant à la valeur de a optimale. On a ainsi défini un quintuplet (a, al, b1, a2, b2) à la fin de l'étape de calibrage. Si le premier matériau de référence est égal au deuxième matériau de référence, on utilise les mêmes mesures pour l'étape 1 et l'étape 2.

Ensuite le modèle déterminé peut être appliqué dans l'étape E200 pour la détermination, selon le formule (6)d'un spectre de transmission de rayonnement X §2 ( E ) pour un deuxième objet 12 inconnu à traiter, le deuxième objet à traiter étant en superposition avec un premier objet 11 inconnu à traiter. Les procédés selon les modes de réalisation de l'invention permettent ainsi de déduire à partir de la connaissance du spectre du rayonnement ayant interagi à travers un premier objet (par exemple l'objet 11 de la figure 1) et du spectre du rayonnement ayant interagi à travers ce premier objet superposé avec un deuxième objet d'intérêt (par exemple l'objet 12 de la figure 1), le spectre d'interaction avec l'objet d'intérêt.

Comme il va de soi et comme il résulte d'ailleurs déjà de ce qui précède, l'invention ne se limite nullement à ceux des modes d'applications et de réalisations qui ont été plus spécialement envisagés ; elle en embrasse au contraire toutes les variantes sans pour autant sortir du cadre de l'invention tel que défini par les revendications.25

Claims

REVENDICATIONS1. Procédé de détermination d'un spectre de transmission de rayonnement X d'un objet, dit deuxième objet, soumis à une irradiation par un faisceau incident produit par une source de de rayonnement X, le deuxième objet étant en partiellement superposé à un premier objet, le procédé comportant - l'estimation d'un spectre initial (S2L(E)) relatif audit deuxième objet à partir : - de la mesure d'un premier spectre (S0(E)) correspondant au spectre émis par ladite source de rayonnement X, dit spectre incident ; - de la mesure d'un deuxième spectre (Si(E)) transmis par le premier objet en réponse audit faisceau incident, sans traverser le deuxième objet ; et - de la mesure d'un troisième spectre (S12(E)) transmis par la superposition des premier et deuxième objets, en réponse audit faisceau incident l'estimation étant réalisée sous la forme d'une relation linéaire entre lesdits premier spectre (So(E)), deuxième spectre (Si(E)) et troisième (S12(E)) spectre, - l'application d'une fonction de correction (FC(E)) audit spectre initial estimé pour obtenir le spectre de transmission de rayonnement X pour le deuxième objet, la fonction de correction étant déterminée en fonction du premier spectre mesuré, du deuxième spectre mesuré et du troisième spectre mesuré.
2. Procédé selon la revendication 1 dans lequel le spectre initial S2L(E) pour le deuxième objet est estimé en fonction d'un produit dudit premier spectre So (E) et dudit troisième spectre (S12(E)), le produit étant normalisé par ledit deuxième spectre Si(E), et par exemple selon l'expression S2L(E) = S12(E) x So (E)/Si(E)
3. Procédé selon la revendication 1 ou 2 dans lequel ladite fonction de correction (FC(E)) est déterminée à partir - d'une fonction de correction de base FCbase(E) déterminée pour une configuration dite de base, comprenant la superposition d'un premier objet de référence sur un deuxième objet de référence, le matériau constitutif et l'épaisseur de chacun des deux objets de référence étant connus, la fonction de correction de base FCbase(E) étant ajustée selon une fonction d'ajustement, la fonction d'ajustement f(So (E), Si(E), S12(E)) étant déterminée en fonction desdits premier, deuxième et troisième spectres mesurés.
4 Procédé selon la revendication 3, dans lequel : la fonction de correction de base FCbase(E) est estimée, en : - mesurant le spectre Sibase(E) du rayonnement transmis par le premier objet de référence en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), sans traverser ledit deuxième objet de référence; et - mesurant le spectre Subase(E) du rayonnement transmis par la superposition des premier et deuxième objets de référence, en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E) - estimant le spectre S2base*(E) du rayonnement transmis par le deuxième objet de référence, en réponse en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), en combinant lesdits spectres Sibase (E), Si2base(E) et le spectre So(E) du faisceau produit par la source, cette estimation étant effectuée par exemple selon l'expression S2base*(E) = Subase(E) x So (E)/Siref(E) - mesurant le spectre Szbase(E) du rayonnement transmis par le deuxième objet de référence en réponse audit faisceau incident, produit par la source, dont le spectre est So(E), la fonction de correction de base FCbase(E) correspondant alors à la comparaison, et notamment la différence, entre les spectre du rayonnementtransmis par le deuxième objet respectivement mesuré Szbase(E) et estimé S2base*(E)
5. Procédé selon la revendication 3 ou 4 dans lequel, la fonction d'ajustement 5 comporte : - une estimation de la nature du matériau constitutif dudit premier objet et de la capacité d'atténuation (atti) dudit premier objet par rapport à la capacité d'atténuation (a refdu premier objet de référence ; et - une estimation de la nature du matériau constitutif dudit deuxième objet et de 10 la capacité d'atténuation (att2) dudit deuxième objet par rapport, à la capacité ...ref2/ d'atténuation (ait du deuxième l'objet de référence.
6. Procédé selon l'une des revendications 3 à 5 dans lequel la nature du de chaque objet est caractérisée par du numéro atomique effectif du matériau (Z1, 15 Z2) le constituant
7. Procédé selon l'une des revendications 3 à 6 dans lequel la capacité d'atténuation (atti) du premier objet par rapport à la capacité d'atténuation (attren) du premier objet de référence peut être déterminée à partir d'un ratio 20 entre : l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (Si(E)) et l'intégrale du spectre (Srefl(E)) transmis par le premier objet de référence lorsque ce dernier est exposé à un rayonnement incident dont le spectre est celui de la source (S0(E)), 25 chaque intégrale étant déterminée sur une bande spectrale identique ou sensiblement identique.
8. Procédé selon l'une des revendications 4 à 7 dans lequel la capacité d'atténuation (att2) du deuxième objet par rapport à la capacité d'atténuation 30 (attref2) du deuxième objet de référence peut être déterminée à partir d'un ratio entre ; l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (S2(E))et l'intégrale du spectre (Sref2(E)) transmis par le deuxième objet de référence lorsque ce dernier est exposé à un rayonnement incident dont le spectre est celui de la source (So(E)) , chaque intégrale étant déterminée sur une bande spectrale identique ou sensiblement identique.
9. Procédé selon l'une quelconque des revendications 4 à 7 dans lequel le numéro atomique effectif (Z1) du matériau constitutif dudit premier objet est estimé en fonction : - d'un premier ratio entre l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (Si(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source So(E), chaque intégrale étant déterminée sur une plage énergétique comprise entre une première borne (BEmin) et une deuxième borne (BEmax). - d'un deuxième ratio entre l'intégrale dudit deuxième spectre mesuré (Si(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source (So(E)), chaque intégrale étant déterminée sur une troisième borne (HEmir,) et une quatrième borne (1-1Emax), la quatrième borne (HEmax) étant supérieure à la deuxième borne (BEmax), la troisième borne (HEmin) étant de préférence supérieure à ladite deuxième borne 20 (BEmax).
10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 4 à 8 dans lequel le numéro atomique effectif (Z2) du matériau constitutif dudit deuxième objet est estimé en fonction : 25 - - d'un troisième ratio entre l'intégrale dudit spectre initial estimé pour le deuxième objet (S2L(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source (So(E)), chaque intégrale étant déterminée sur une plage énergétique comprise entre une cinquième borne (BE'min) et une sixième borne (BE'max). - d'un quatrième ratio entre l'intégrale dudit spectre initial estimé pour le 30 deuxième objet (S2L(E)) et l'intégrale dudit spectre de la source (S0(E) ) chaque intégrale étant déterminée sur une septième borne HE'min et une huitième borne HEmax,la huitième borne HE'rnex étant supérieure à la sixième borne BEmax, la septième borne HEmin étant de préférence supérieure à la sixième borne BEimax.
11. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes dans lequel la fonction d'ajustement est terme correctif scalaire, déterminé en combinant, - l'estimation du numéro effectif Z1 dudit premier objet - l'estimation du numéro effectif Z2 dudit deuxième objet - l'estimation du numéro effectif Ziref du premier objet de référence - l'estimation du numéro effectif Z2fef du deuxième objet de référence - l'estimation de la capacité d'atténuation atti du matériau constituant le premier objet par rapport à la capacité d'atténuation a I. trefl matériau constituant le premier objet de référence - l'estimation de la capacité d'atténuation att2 du matériau constituant le deuxième objet par rapport à la capacité d'atténuation att ..ref2 du matériau constituant le deuxième objet de référence ces estimations étant combinées avec des coefficients prédéterminés,
12. Procédé selon la revendication 11, comportant une étape de calibrage pour déterminer des paramètres pour la fonction d'ajustement, l'étape de calibrage comportant : - le calcul de la fonction de correction de base (FCbase(E)) pour la superposition dite de base des deux objets de référence, - le calcul d'une pluralité de fonctions de correction dite de calibrage (FC(E)), chacune desdites fonctions étant déterminée en considérant une superposition de calibrage, comportant : - un premier objet de calibrage, de première épaisseur de calibrage connue, et constitué d'un premier matériau de calibrage connu, le premier objet étant superposé à- un deuxième objet de calibrage, de deuxième épaisseur de calibrage connue et constitué d'un deuxième matériau de calibrage connu, chaque superposition de calibrage comportant soit le premier objet de référence utilisé pour le calcul de la fonction de correction de base (FCbase(E)), soit le deuxième objet de référence utilisé pour le calcul de la fonction de correction de base (FCbase(E)), la comparaison entre ladite fonction de correction de base (FCbase(E)) et chaque fonction de correction de calibrage ((FC (E)) pour déterminer la fonction d'ajustement.
13. Procédé selon la revendication 11 dans lequel le calcul de la fonction de correction de calibrage ((FC (E)) respective pour chaque superposition de calibrage comporte : - lorsque le premier objet de calibrage correspond au premier objet de référence, l'estimation du spectre du rayonnement transmis par le deuxième objet de calibrage en réponse au faisceau incident produit par la source, et la comparaison dela dite estimation avec une mesure de ce spectre, - lorsque le deuxième objet de calibrage correspond au deuxième objet de référence, l'estimation du spectre transmis du rayonnement transmis par le premier objet de calibrage en réponse au faisceau incident produit par la source, et la comparaison dela dite estimation avec une mesure de ce spectre,
14. Procédé de calibration selon la revendication 13, comportant, pour chaque fonction de correction de calibrage, une estimation d'un coefficient de régression linéaire entre ladite fonction de correction de calibrage ((FC (E)) et ladite fonction de correction de base (FCbase(E))3015. Dispositif de détermination d'un spectre de transmission de rayonnement X (S(E)) d'un objet, dit deuxième objet, soumis à une irradiation par un faisceau incident produit par une source de de rayonnement X, le deuxième objet étant superposé à un premier objet, le dispositif comportant - un processeur pour estimer, un spectre initial (S2L(E)) relatif au le deuxième objet à partir : d'un premier spectre mesuré (So(E)) en réponse à un flux de rayonnement X direct ; d'un deuxième spectre (Si(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé le premier objet sans traverser le deuxième objet ; et d'un troisième spectre (S12(E)) mesuré en réponse audit rayonnement X ayant traversé la superposition des premier et deuxième objets, l'estimation étant réalisée sous la forme d'une relation linéaire entre lesdits premier spectre, deuxième spectre et troisième spectre, - un processeur obtenir le spectre de transmission de rayonnement X (S2(E)) pour le deuxième objet, à partir dudit spectre initial (S2L(E)), le processeur mettant en oeuvre le procédé de détermination objet des revendications 1 à 14.25