FI80100C - Förfarande vid styrning och/eller övervakning av en beläggningsprocess av en bana. - Google Patents

Claims (7)

1. Förfarande vid styrning och/eller kontroll av en beläggningsprocess av en bana (W) , speciellt vid beläggningstorkning, vid vilket förfarande 5 en kontinuerlig pappers- eller kartongbana (W) lede genom en eller flera beläggnlnsstationer (30), varvld man pi dess ena eller bada sldor matar beläggning, varvid banan (W^) som behandlats med denna leds till be-läggningstorkningen genom en eller flera torkar (44,40,55,60), i vilken/vilka man använder slg av flercylindertorkning (60) och/eller 10 kontaktlös luftsvävningstorkning (40,50,55) och/eller infrastralnings-corkning (44), och vid vilket förfarande man använder sig av en dator (110) för styrningen av processen, kännetecknat därav, att vid förfarandet tillämpas en processmodell, som skapats pa basen av 15 provkörningar, on-line mätningar och/eller torkningsteorln pi processen som skall styras eller dess motsvarighet, att man pi basen av nämnda processmodell räknar ut avdunstningseffekterna vid atmlnstone de olika torkningsenheterna och torrämneshalterna pi 20 pappersbanan som skall beläggas och temperaturerna efter var och en av nämnda torkar, att man till torkningsmodellen matar de kvalitetsvisa lnställnings-värdesparametrarna efter den bankvalltet som skall köras frin den s.k. 25 kvalitets- eller receptkartan, att nya utgangsvärden mates med givna mellanrum till simulerlngs-programmet, för vilket ändamal man använder sidana mätvärden (a-k) pi processparametrama som erhalllts fran beläggninsprocessens olika glvare 30 (1-23), och eventuellt ban- och beläggningsprov som analyserats i laboratoriet, och att man för minimerlng av onoggrannheter i processmodellen vid förfarandet tillämpar en sig adapterande processmodell, i vllken avsikt man 35 i processmodellen lämnar en given eller givna parametrar som variabler, vilken/ vilka adapteras i rMtt riktnlng frin nya utgangsvärden av processen pi sadant sätt, att processmodellen ger som resultat sidana värden för de mätna parametrarna som svarar mot mätningsresultaten. I* 80100 1

2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat därav, att förfarandet används för kontroll av en beläggningstorkningsprocess och att man i kontrollarrangemanget visar användaren värdena som simulerats för avdunstningen, för torrämneshalterna av pappersbanan och tempera- 5 turerna samt motsvarande direkta mätvärden som mätts fran processen.

1 Patentkrav

3. Förfarande enligt patentkrav 2, kännetecknat därav, att man med kontrollarrangemanget som fungerar enligt förfarandet eamlar upp i datamasklnens minne ur beläggningstorkningsprocessens synpunkt 10 viktiga körparametrar, vilka utnyttjas vid styrnings- och kontrollarrangemanget av torkningsprocessen.

4. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-3, kännetecknat därav, att förfarandet används för optimerlng av beläggningstorkningen 15 med avseende pä kvaliteten pä banan som ska beläggas, torkningseffekten eller energianvändnlngen melian olika torkningsenheter.

5. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-4, kännetecknat därav, att processparametern som lämnats kvar som en öppen variabel ut- 20 görs av värme- och massaöverföringskoeficienten av lufttorkningen melian torkningsluften och banan som skall torkas.

6. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-5, kännetecknat därav, att förfarandet används för styrning av en beläggningstorknings- 25 process pä sädant sätt, att man med förfarandet reglerar optlmala in-ställningsvärden för temperaturen pä svävtorkens torkningsluft och hastigheten och/eller den elektrlska effekten av den använda infratorken och/eller ängtrycket av torkningscyllndrarna som upphettas med anga. 30

7. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-6, kännetecknat därav, att med förfarandet samlar man upp data fran körparametrarna vid olika avdunstnlngsförhällanden i anläggningensdatormlnne och att man pä samma gang samlar upp kvalitetslnformatlon med laboratorlenstester samt med mätningar som görs med beläggningsmaskinen och att man pa basen av 35 ovannämnda informationer skapar kvalitetskartor för olika kvaliteter som skall beläggas, vilka vid förfarandet utnyttjas som kvalitetsgällande inställningsvärdesparameterserier. Il