DK3014238T3 - Fremgangsmåde til påvisning af defekter i en stavformet gennemsigtig genstand - Google Patents
Fremgangsmåde til påvisning af defekter i en stavformet gennemsigtig genstand Download PDFInfo
- Publication number
- DK3014238T3 DK3014238T3 DK13732444.8T DK13732444T DK3014238T3 DK 3014238 T3 DK3014238 T3 DK 3014238T3 DK 13732444 T DK13732444 T DK 13732444T DK 3014238 T3 DK3014238 T3 DK 3014238T3
- Authority
- DK
- Denmark
- Prior art keywords
- intensity
- peak
- core rod
- scan
- determined
- Prior art date
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 76
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 74
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 94
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 58
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 50
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 42
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 claims description 42
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 22
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 4
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 42
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 7
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000007596 consolidation process Methods 0.000 description 5
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 4
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007620 mathematical function Methods 0.000 description 3
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 2
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 description 1
- 238000004033 diameter control Methods 0.000 description 1
- 238000007380 fibre production Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/088—Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/37—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is projected perpendicularly to the axis of the fibre or waveguide for monitoring a section thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
- G01N2021/9548—Scanning the interior of a cylinder
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06113—Coherent sources; lasers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/105—Purely optical scan
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Claims (15)
1. Fremgangsmåde til inspektion af defekter inden i en glaskernestav til fremstilling af en optisk fiber, hvilken fremgangsmåde omfatter: - at generere en første scanningsstråle (23) af parallelle lysstråler, der glider hen over et inspektionsplan i en første scanneretning; - at rette den første scanningsstråle mod en gennemsigtig glaskernestav til fremstilling af en optisk fiber (22), hvor kernestaven har en langsgående akse (11) og er anbragt på en sådan måde, at inspektionsplanet er tværgående i forhold til den langsgående akse af kernestaven og omfatter et tværsnit af staven; - at påvise den første scanningslysstråle på en modsat side af glaskernestaven, der er anbragt i en mellemposition til at afskære de parallelle stråler af scanningsstrålen, hvorved der genereres et første elektrisk udgangssignal, og - at behandle det første elektriske udgangssignal til fremstilling af en første lysintensitetsprofil i den første scanneretning, hvor lysintensitetsprofilen omfatter et skyggeområde, der begrænses af første og anden skyggekanter (53,54;74,74'), hvor bredden mellem de første og anden skyggekanter angiver den udvendige diameter af kernestaven på tværs af inspektionsplanet, kendetegnet ved, at fremgangsmåden endvidere omfatter: - at analysere den første lysintensitetsprofil til bestemmelse af tilstedeværelse eller fravær af et højdepunkt af positiv intensitet i skyggeområdet, hvor højdepunktet stammer fra afbøjede stråler, der sendes gennem kernestaven og påvises, og, hvis et intensitetshøjdepunkt (51 ;71) bestemmes til at være til stede, at bestemme tilstedeværelse eller fravær af et område med sænket intensitet i intensitetshøjdepunktet, og - hvis, som et resultat af analysen, et intensitetshøjdepunkt i skyggeområdet bestemmes til at være fraværende, eller hvis et intensitetshøjdepunkt bestemmes til at være til stede, et område med sænket intensitet (72) bestemmes til at være til stede i intensitetshøjdepunktet (71), at identificere tilstedeværelse af mindst en strukturdefekt i stavens tværsnit.
2. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor identificering af tilstedeværelse af mindst en strukturdefekt omfatter aktivering af en alarm.
3. Fremgangsmåde ifølge krav 2, hvor aktivering af en alarm omfatter: - at registrere en langsgående position af stavens tværsnit langs den langsgående akse, hvor fravær af intensitetshøjdepunktet eller tilstedeværelse af et område med sænket intensitet med sikkerhed bestemmes som defekt tværsnit.
4. Fremgangsmåde ifølge et af de foregående krav, hvor det sænkede område er begrænset i den første scanneretning af en første og anden forsænkningskant (73,73'), der definerer en bredde (82) af det sænkede område i intensitetshøjdepunktet, hvilken fremgangsmåde endvidere omfatter: - at bestemme bredden (82) af det sænkede område (72), - at hente en korrelationsfunktion mellem breddeværdier og diametre af strukturdefekter som en kalibreringskurve, og - at beregne diameteren af den mindst ene påviste strukturdefekt under anvendelse af korrelationsfunktionen.
5. Fremgangsmåde ifølge et af de foregående krav, hvor den første intensitetsprofil har en maksimal scanneværdi (52; 80), der stammer fra scanningsstrålen, der sendes uafbrudt uden anbringelse i en mellemposition af kernestaven, og hvor: - analyse af den første lysintensitetsprofil omfatter: - at indstille en intensitetstærskelværdi (70), der er mindre end den maksimale scanneintensitetsværdi, og - at bestemme, om intensiteten overskrider intensitetstærskelværdien på tværs af skyggeområdet mellem de første og anden skyggekanter (53,54;74,74') for at kontrollere tilstedeværelse eller fravær af et intensitetshøjdepunkt i skyggeområdet; - hvis den første intensitetsprofils intensitet bestemmes til at være mindre end tærskelværdien på tværs af skyggeområdet, bestemmes et intensitetshøjdepunkt til at være fraværende; - hvis en flerhed af intensitetsværdier overskrider tærskelværdien på tværs af skyggeområdet, bestemmes et intensitetshøjdepunkt til at være til stede, og analysen omfatter endvidere at bestemme, om intensitetshøjdepunktet har et område af intensitetsværdier, der er mindre end intensitetstærskelværdien for at kontrollere om et område med sænker intensitet er til stede eller fraværende, og - hvis et område af intensitetsværdier, der er mindre end tærskelværdien, bestemmes til at være til stede i intensitetshøjdepunktet, bestemmes et område med sænket intensitet til at være til stede.
6. Fremgangsmåde ifølge krav 5, hvor intensitetstærskelværdien er fra 20 % til 80 % af den maksimale scanneintensitetsværdi.
7. Fremgangsmåde ifølge et af kravene 1 til 4, hvor intensitetsprofilen har en maksimal scanneværdi (52; 80), der stammer fra scanningsstrålen, der sendes uafbrudt uden anbringelse i en mellemposition af kernestaven, og analyse af lysintensitetsprofilen omfatter: - at indstille en intensitetstærskelværdi (47; 70), der er mindre end den maksimale scanneintensitetsværdi, - at bestemme antallet af gange lysintensitetsprofilen krydser intensitetstærskelværdien i den første scanneretning, og - at bestemme ud fra antallet af krydsninger tilstedeværelse eller fravær af et højdepunkt af positiv intensitet i skyggeområdet og, hvis et intensitetshøjdepunkt bestemmes til at være til stede, tilstedeværelse eller fravær af et sænket område i intensitetshøjdepunktet.
8. Fremgangsmåde ifølge krav 7, hvor den første lysintensitetsprofil ligger i området fra en indledende scannekant (56;76) til en afsluttende scannekant (56'; 76') i den første scanneretning, og hvor bestemmelse, ud fra antallet af krydsninger, af tilstedeværelse eller fravær af et intensitetshøjdepunkt eller et sænket område i højdepunktet omfatter: - hvis antallet af krydsninger er to i den første scanneretning, bestemmes intensitetshøjdepunktet i skyggeområdet til at være fraværende, - hvis antallet af krydsninger er fire i den første scanneretning, bestemmes intensitetshøjdepunktet til at være til stede, og et sænket område i intensitetshøjdepunktet bestemmes til at være fraværende, og - hvis antallet af krydsninger er seks i den første scanneretning, bestemmes et intensitetshøjdepunkt og et sænket område i intensitetshøjdepunktet til at være til stede.
9. Fremgangsmåde ifølge et af de foregående krav, endvidere omfattende: - at generere en anden parallel scanningsstråle af parallelle lysstråler, der glider hen over et plan i en anden scanneretning; - at rette den anden scanningsstråle mod glaskernestaven på en sådan måde, at planet, som den anden scanningsstråle glider hen over, svarer til inspektionsplanet, hvor den anden scanneretning er ortogonal i forhold til den første scanneretning og første og anden parallelle scanningsstråler krydser hinanden i et område af inspektionsplanet, der omfatter et tværsnit af staven i inspektionsplanet; - at påvise den anden scanningslysstråle på en modsat side af glaskernestaven, der er anbragt i en mellemposition til at afskære de parallelle stråler af den anden scanningsstråle, hvorved der genereres et andet elektrisk udgangssignal, - at behandle det andet elektriske udgangssignal til fremstilling af en anden lysintensitetsprofil i den anden scanneretning, hvor den anden lysintensitetsprofil omfatter et skyggeområde, der begrænses af første og anden skyggekanter, hvor bredden mellem de første og anden skyggekanter angiver den udvendige diameter af kernestaven på tværs af inspektionsplanet, - at analysere den anden lysintensitetsprofil i skyggeområdet til bestemmelse af tilstedeværelse eller fravær af et højdepunkt af positiv intensitet, og, hvis et intensitetshøjdepunkt bestemmes til at være til stede, at bestemme tilstedeværelse eller fravær af et område med sænket intensitet i intensitetshøjdepunktet, - efter analyse af de første og anden lysintensitetsprofiler, at sammenligne den første intensitetsprofil med den anden intensitetsprofil til bestemmelse af, om (a) et intensitetshøjdepunkt er fraværende i første og anden intensitetsprofiler, eller (b) et intensitetshøjdepunkt i skyggeområdet er til stede i første og anden intensitetsprofiler, og et område med sænket intensitet er til stede i første og anden intensitetsprofiler, eller (c) et positivt intensitetshøjdepunkt bestemmes til at være fraværende i en af første og anden scanneprofiler, og et intensitetshøjdepunkt med et sænket område bestemmes til at være til stede i den anden af første og anden scanneprofiler, og - at identificere tilstedeværelsen af mindst en centralt placeret strukturdefekt i stavens tværsnit, hvis en af betingelserne (a) til (c) er opfyldt som et resultat af sammenligningen.
10. Fremgangsmåde ifølge krav 9, hvor: - den første intensitetsprofil har en første maksimal scanneværdi, og den anden intensitetsprofil har en anden maksimal scanneværdi, hvor den første og anden maksimale scanneværdi stammer fra den respektive scanningsstråle, der sendes uafbrudt uden anbringelse i en mellemposition af kernestaven i de respektive scanneretninger; - analyse af den første lysintensitetsprofil omfatter at indstille en første intensitetstærskelværdi, der er mindre end den første maksimale scanneværdi, og bestemme et første antal gange den første lysintensitetsprofil krydser intensitetstærskelværdien i den første scanneretning; - analyse af den anden lysintensitetsprofil omfatter at indstille en anden intensitetstærskelværdi, der er mindre end den anden maksimale scanneværdi, og bestemme et andet antal gange den anden lysintensitetsprofil krydser intensitetstærskelværdien i den anden scanneretning; - sammenligningen omfatter at sammenligne det første antal krydsninger med det andet antal krydsninger til bestemmelse af, om det første og andet antal er lig med hinanden, og, hvis det første og andet antal krydsninger er lig med hinanden, at bestemme om værdien af det første og andet antal er to eller seks, og, hvis det første antal ikke er lig med det andet antal, at bestemme om det første antal krydsninger er lig med to, og det andet antal er lig med seks, og - hvis, som et resultat af bestemmelsen, det første og andet antal er lig med hinanden og har en værdi på to eller seks, eller kombinationen af det første og andet antal er to og seks, at identificere tilstedeværelse af mindst en centralt placeret strukturdefekt i kernestavens tværsnit.
11. Fremgangsmåde ifølge et af de foregående krav, hvor fremgangsmåden udføres i kombination med en proces til forlængelse af en glaskernepræform omfattende: - at tilvejebringe en glaskernepræform (17); - at opvarme glaskernepræformen i en ovn (16) for at blødgøre en nedre del deraf, og - at udøve en trækkraft (18) på glaskernepræformen, der omfatter at trække den blødgjorte nedre ende af kernepræformen ud af ovnen langs en fremføringsretning til dannelse afen glaskernestav, hvor at rette den første parallelle scanningsstråle er at rette den første scanningsstråle mod glaskernestaven, hvor inspektionsplanet er positioneret ned-strøms for ovnen langs fremføringsretningen, og glaskernestaven bevæger sig i fremføringsretningen, vertikalt i forhold til inspektionsplanet.
12. Fremgangsmåde ifølge krav 11, hvor udøvelsen af en trækkraft udføres, mens glaskernestaven roteres omkring sin langsgående akse.
13. Fremgangsmåde ifølge krav 12, hvor påvisningen af den første scanningsstråle udføres i en første vinkelposition af den roterende glaskernestav, og fremgangsmåden endvidere omfatter at gentage påvisning af den første scanningsstråle i en anden vinkelposition af den roterende glaskernestav under en enkelt rotation til generering af et yderligere elektrisk udgangssignal, at behandle det yderligere elektriske udgangssignal til en yderligere lysintensitetsprofil i den første scanneretning, analysere den yderligere lysintensitetsprofil og identificere tilstedeværelse af mindst en strukturdefekt i kernestavens tværsnit i den anden vinkelposition, hvis, som et resultat af analysen af den yderligere intensitetsprofil, et intensitetshøjdepunkt i skyggeområdet bestemmes til at være fraværende, eller, hvis et intensitetshøjdepunkt bestemmes til at være til stede, bestemmes et område med sænket intensitet til at være til stede i intensitetshøjdepunktet.
14. Proces til forlængelse af en glaspræform til fremstilling af en optisk fiber, hvilken proces omfatter: - at tilvejebringe en glaskernepræform (17); - at opvarme en glaskernepræform i en ovn (16) for at blødgøre en nedre del deraf, og - at udøve en trækkraft (18) på præformen, der omfatter at trække den blød-gjorte nedre ende af kernepræformen ud af ovnen langs en fremføringsretning til dannelse af en aflang glaskernestav, og - at inspicere glaskernestaven for defekter i et inspektionsplan nedstrøms for ovnen, hvor inspektionen udføres ifølge fremgangsmåden ifølge et af kravene 1 til 10.
15. Fremgangsmåde ifølge et af kravene 1 til 8, hvor påvisning af den første scanningslysstråle sker ved hjælp af et modtagesystem (27), der er anbragt på den modsatte side af kernestaven fra en optisk kilde (12) i en position til modtagelse af strålerne, som sendes gennem kernestaven, hvor modtagesystemet (27) omfatter et optisk fokuseringssystem (21), der er funktionsmæssigt anbragt således, at det kan modtage den sendte scannede stråle, samt en fotodetektor (22).
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/EP2013/063271 WO2014206450A1 (en) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | Method for detecting defects in a rod-shaped transparent object |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DK3014238T3 true DK3014238T3 (da) | 2018-06-14 |
Family
ID=48703473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DK13732444.8T DK3014238T3 (da) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | Fremgangsmåde til påvisning af defekter i en stavformet gennemsigtig genstand |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9939390B2 (da) |
| EP (1) | EP3014238B1 (da) |
| CN (1) | CN105378444B (da) |
| DK (1) | DK3014238T3 (da) |
| PL (1) | PL3014238T3 (da) |
| WO (1) | WO2014206450A1 (da) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6452091B2 (ja) * | 2015-04-20 | 2019-01-16 | 信越化学工業株式会社 | 光ファイバ用多孔質ガラス母材の焼結方法 |
| JP6790401B2 (ja) * | 2016-03-24 | 2020-11-25 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ検査装置、光ファイバ製造装置、及び光ファイバ製造方法 |
| DE102016123865A1 (de) | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Schott Ag | Verfahren zum Weiterverarbeiten eines Glasrohr-Halbzeugs einschließlich einer thermischen Umformung |
| US20180164226A1 (en) * | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Schott Ag | Method for further processing a glass tube semi-finished product |
| DE102016124833A1 (de) | 2016-12-19 | 2018-06-21 | Schott Ag | Verfahren zum Herstellen eines Hohlglasprodukts aus einem Glasrohr-Halbzeug mit Markierungen, sowie Verwendungen hiervon |
| DE102016125129A1 (de) | 2016-12-21 | 2018-06-21 | Schott Ag | Verfahren zum Herstellen eines Glasrohr-Halbzeugs oder eines daraus hergestellten Hohlglasprodukts mit Markierungen, sowie Verwendungen hiervon |
| JP6951107B2 (ja) * | 2017-04-18 | 2021-10-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式外径測定装置 |
| CN113518892B (zh) * | 2019-02-04 | 2023-09-12 | 日东电工株式会社 | 塑料光纤的芯径测量方法及装置、缺陷检测方法及装置 |
| US12025529B2 (en) | 2019-02-04 | 2024-07-02 | Nitto Denko Corporation | Plastic optical fiber core diameter measuring method, plastic optical fiber core diameter measuring apparatus used therefor, plastic optical fiber defect detecting method, and plastic optical fiber defect detecting apparatus used therefor |
| US12033069B2 (en) | 2019-05-17 | 2024-07-09 | Corning Incorporated | Predicting optical fiber manufacturing performance using neural network |
| CN112686885B (zh) * | 2021-01-13 | 2024-06-11 | 北京农业信息技术研究中心 | 一种水果表皮缺陷检测方法及系统 |
| CN113588665B (zh) * | 2021-08-05 | 2022-10-25 | 上海大学 | 基于机器视觉实现光纤预制棒瑕疵检测的方法 |
| CN113920090B (zh) * | 2021-10-13 | 2022-08-30 | 无锡雪浪数制科技有限公司 | 一种基于深度学习的预制棒外观缺陷自动化检测方法 |
| JP7774241B2 (ja) * | 2022-01-21 | 2025-11-21 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
| US12326470B2 (en) * | 2022-06-08 | 2025-06-10 | Essex Solutions Usa Llc | Systems and methods for detecting defects in magnet wire insulation |
| CN115791536A (zh) * | 2022-11-08 | 2023-03-14 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 检查多线切割机的转轴的线槽中的污染颗粒的系统和方法 |
| CN116718616B (zh) * | 2023-08-04 | 2023-11-03 | 苏州视谷视觉技术有限公司 | 一种用于瑕疵检测的机器视觉检测系统及检测方法 |
| CN116908217B (zh) * | 2023-09-11 | 2023-11-17 | 中北大学 | 一种深孔测量与三维重建系统及其使用方法 |
| WO2025126947A1 (ja) * | 2023-12-13 | 2025-06-19 | 東レ株式会社 | ファイバの検査装置および方法、ファイバの製造方法 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2849252C3 (de) | 1978-11-14 | 1981-07-30 | Bruno Dipl.-Ing. 8602 Stegaurach Richter | Optisch-elektrische Meßeinrichtung |
| US4280827A (en) | 1979-09-04 | 1981-07-28 | Corning Glass Works | System for measuring optical waveguide fiber diameter |
| US4882497A (en) * | 1986-08-15 | 1989-11-21 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
| US4991308A (en) | 1988-02-16 | 1991-02-12 | General Electric Company | Diameter gauge |
| JPH04105006A (ja) | 1990-08-24 | 1992-04-07 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 非接触測定装置 |
| US5185636A (en) | 1991-12-31 | 1993-02-09 | Corning Incorporated | Method for detecting defects in fibers |
| JP3212373B2 (ja) | 1992-08-27 | 2001-09-25 | 信越化学工業株式会社 | 光ファイバプリフォーム中の気泡、異物の検査方法および検査装置 |
| JP3186613B2 (ja) | 1996-12-05 | 2001-07-11 | 信越化学工業株式会社 | 合成石英延伸装置および延伸方法 |
| US6313909B1 (en) | 1999-04-20 | 2001-11-06 | Lucent Technologies Inc. | Fiber defect detection apparatus and method |
| US6278520B1 (en) | 1999-08-13 | 2001-08-21 | Beta Laser Mike, Inc. | Method and device for measuring parts |
| WO2001044777A1 (en) * | 1999-12-16 | 2001-06-21 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method for detecting defect of optical fiber |
| WO2001049616A1 (en) | 1999-12-29 | 2001-07-12 | Pirelli Cavi E Sistemi S.P.A. | Apparatus and method for applying traction to an elongate element produced by fusing a preform of glass material and usable in a process for producing an optical fibre |
| AU2002321279A1 (en) | 2002-07-30 | 2004-03-11 | Pirelli And C. S.P.A. | Process and apparatus for elongating of an optical fibre preform |
| JP2005308717A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 光ファイバ母材のコア部非円率の測定方法及びその装置 |
| CN100567930C (zh) * | 2004-03-23 | 2009-12-09 | 信越化学工业株式会社 | 光纤母材的芯部不圆度的测量方法及其装置 |
| CN102583997B (zh) * | 2004-11-29 | 2015-03-11 | 古河电气工业株式会社 | 光纤母材、光纤母材的制造方法以及光纤的制造方法 |
| EP2331473B1 (en) * | 2008-09-19 | 2013-11-06 | Prysmian S.p.A. | Process for manufacturing a microstructured optical fibre and method and system for on-line control of a microstructured optical fibre |
| JP2010139441A (ja) * | 2008-12-12 | 2010-06-24 | Fujikura Ltd | 光ファイバの異常部検出装置、光ファイバ製造装置、光ファイバの異常部検出方法 |
| CN102105772B (zh) * | 2009-04-09 | 2014-10-08 | 株式会社藤仓 | 带空孔的光纤的空孔径的测定方法及装置、以及带空孔的光纤的制造方法及装置 |
| WO2011052541A1 (ja) | 2009-10-26 | 2011-05-05 | 株式会社フジクラ | 検査装置、及び、検査方法 |
-
2013
- 2013-06-25 PL PL13732444T patent/PL3014238T3/pl unknown
- 2013-06-25 US US14/899,840 patent/US9939390B2/en active Active
- 2013-06-25 EP EP13732444.8A patent/EP3014238B1/en active Active
- 2013-06-25 CN CN201380077774.8A patent/CN105378444B/zh active Active
- 2013-06-25 WO PCT/EP2013/063271 patent/WO2014206450A1/en not_active Ceased
- 2013-06-25 DK DK13732444.8T patent/DK3014238T3/da active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105378444B (zh) | 2019-02-19 |
| EP3014238B1 (en) | 2018-03-07 |
| PL3014238T3 (pl) | 2018-08-31 |
| US20160139062A1 (en) | 2016-05-19 |
| WO2014206450A1 (en) | 2014-12-31 |
| EP3014238A1 (en) | 2016-05-04 |
| US9939390B2 (en) | 2018-04-10 |
| CN105378444A (zh) | 2016-03-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DK3014238T3 (da) | Fremgangsmåde til påvisning af defekter i en stavformet gennemsigtig genstand | |
| EP0443322B1 (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating | |
| US4021217A (en) | Detecting optical fiber defects | |
| US20210333190A1 (en) | Method for measuring light field distribution and device therefor | |
| JPH0781843B2 (ja) | 管の内径等の測定装置及びその製造方法並びに測定方法 | |
| JPH0695075B2 (ja) | 表面性状検出方法 | |
| US4168907A (en) | Method for inspecting transparent rods | |
| CN103504471B (zh) | 用于评估烟草加工业的棒状产品的端面的设备和方法 | |
| EP0030542A1 (en) | Method for monitoring optical fiber processing | |
| EP2331473A1 (en) | Process for manufacturing a microstructured optical fibre and method and system for on-line control of a microstructured optical fibre | |
| EP0666471B1 (en) | Method and apparatus for analyzing optical waveguide cane | |
| JP2015068670A (ja) | シート状物の欠点検査装置およびシート状物の欠点検査方法 | |
| US6424409B1 (en) | Methods and apparatus for detecting surface defects of an optical fiber | |
| KR19990030109A (ko) | 광도파관 블랭크에서 코어/피복간의 계면을 탐지하기 위한 장치와 방법 | |
| KR101878909B1 (ko) | 라만 신호와 위상변화를 동시에 측정하는 시스템 및 그 방법 | |
| JPH10307010A (ja) | 管内検査方法及び管内検査装置 | |
| WO2025126947A1 (ja) | ファイバの検査装置および方法、ファイバの製造方法 | |
| JP4639114B2 (ja) | ロッドレンズアレイの検査方法 | |
| CN119901233A (zh) | 一种透镜加工质量检测方法及系统 | |
| KR900005642B1 (ko) | 광파이버 구조 및 외경측정의 장치 및 방법 | |
| CN104040392A (zh) | 光纤位置检测方法及装置，和具有该装置的光纤熔接机 | |
| JP2003130806A (ja) | 表面傷等の検出方法及び装置 | |
| CN106323941A (zh) | 一种激光检查装置和方法 | |
| JPS63295949A (ja) | 識別型欠点検出装置の透過散乱光用ａｇｃ装置 | |
| JPH0786473B2 (ja) | 表面検査装置 |