DE826031C

DE826031C - Circuit arrangement for measuring the coil quality

Info

Publication number: DE826031C
Application number: DEP35381D
Authority: DE
Inventors: Karl Kuehnemann
Original assignee: Siemens and Halske AG; Siemens Corp
Current assignee: Siemens and Halske AG; Siemens Corp
Priority date: 1949-03-01
Filing date: 1949-03-01
Publication date: 1951-12-27

Description

Schaltungsanordnung zur Messung der Spulengüte R Zur Messung der Spulengüte #L sind Anordnungen und Verfahren bekanntgeworden, darunter auch solche, die eine unmittelbare Ablesung der Spulengüte gestatten. Sie arbeiten jedoch nur bei relativ niedrigen Frequenzen (<IO MHz) zufriedenstellend.Circuit arrangement for measuring the coil quality R For measuring the quality of the coil #L, arrangements and procedures have become known, including those that require a allow immediate reading of the coil quality. However, they only work at relative low frequencies (<IO MHz) satisfactory.

Bei hohen Frequenzen (> IO M Hz) tritt wegen störender Induktivitäten im Speisekreis eine Fälschung des Meßergebnisses ein.At high frequencies (> IO M Hz) occurs because of disruptive inductances a falsification of the measurement result in the feed circuit.

Die Anordnung gemäß der Erfindung gestattet eine unmittelbare Ablesung der Spulengüte und liefert auch bei hohen Frequenzen richtige Meßergebnisse. The arrangement according to the invention allows an immediate reading the coil quality and delivers correct measurement results even at high frequencies.

Sie hat darüber hinaus den weiteren Vorteil, daß sie nicht nur die Güte von Induktivitäten, sondern auch die Güte von komplexen Kreisen zu messen gestattet.It also has the further advantage that it does not only contain the The quality of inductances, but also the quality of complex circles to be measured.

Gemäß der Erfindung ist in die Resonanzmethode anwendenden Schaltungsanordnungen zur Messung der Güte von Induktivitäten in Reihe mit der Speisespannungsquelle und einer Parallelschaltung von Induktivität und vorzugsweise veränderbarer Kapazität C, eine veränderbare Kapazität C2 geschaltet, die so eingestellt werden kann, daß sie in einem vorbestimmten konstanten Verhältnis zur Kapazität des die Induktivität enthaltenden Parallelkreises steht. According to the invention is in circuit arrangements using the resonance method for measuring the quality of inductances in series with the supply voltage source and a parallel connection of inductance and preferably variable capacitance C, a variable capacitance C2 connected, which can be adjusted so that they in a predetermined constant ratio to the capacitance of the inductance containing parallel circle.

Bei konstanter Speisespannung ist dann die im Resonanzfall an dem die Induktivität enthaltenden Kreis auftretende Spannung ein unmittelbares Maß für die Güte der Induktivität.With a constant supply voltage, the resonance is then at the the inductance-containing circuit is a direct measure of the voltage occurring the quality of the inductance.

Weitere Einzelheiten der Erfindung werden an Hand der Fig. I, 2 und 3, die beispielsweise Ausführungsformen der Erfindung darstellen, erläutert. Further details of the invention are based on FIGS. I, 2 and 3, which exemplify embodiments of the invention, explained.

In der Anordnung nach Fig. I ist das Meßobjekt mit L1 und die Abstimmkapazität mit Cl bezeichnet. In the arrangement according to FIG. I, the device under test is with L1 and the tuning capacitance designated with Cl.

Die Abstimmkapazität ist über einen veränderbaren Kondensator C2 mit der Speisespannungsquelle G gekoppelt.The tuning capacitance is via a variable capacitor C2 the supply voltage source G coupled.

Der Kondensator C2 wird proportional mit der Abstimmkapazität C1 geändert; in einfacher Weise kann dies durch die Anwendung eines Zweigangkondensators erreicht werden. Bei konstanter Speisespannung U1 ist dann die Spannung U2 am Resonanzkreis ein unmittelbares Maß für die Spulengüte RX . The capacitor C2 becomes proportional to the tuning capacitance C1 changed; this can be done in a simple manner by using a two-speed capacitor can be achieved. With a constant supply voltage U1, the voltage U2 is then at the resonance circuit a direct measure of the coil quality RX.

#LX Mit RX ist der Verlustwiderstand der Induktivität bei Parallelresonanz bezeichnet. #LX With RX is the loss resistance of the inductance with parallel resonance designated.

Mit den Bezeichnungen in Fig. I gilt: Das Verhältnis C1/C2 ist voraussetzungsgemäß konstant, ebenso soll U, konstant gehalten werden. Man erhält dann Besonders vorteilhaft wählt man C2 sehr klein gegen Ci. Die Beziehung vereinfacht sich dann zu Die das Meßergebnis beeinflussende Spulenkapazität C0 kann dadurch berücksichtigt werden, daß, wie gestrichelt angedeutet, parallel zu der Kapazität C2 eine weitere veränderbare Kapazität C0, geschaltet ist, die vorzugsweise in Spulenkapazität beschriftet ist. Hierbei muß der Proportionalitätsfaktor k bzw. k' berücksichtigt sein.With the designations in Fig. I, the following applies: The ratio C1 / C2 is constant according to the assumption, and U, should also be kept constant. You then get It is particularly advantageous to choose C2 very small compared to Ci. The relationship then simplifies too The coil capacitance C0 influencing the measurement result can be taken into account in that, as indicated by dashed lines, a further variable capacitance C0 is connected in parallel with the capacitance C2, which is preferably labeled as coil capacitance. The proportionality factor k or k 'must be taken into account here.

Die Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung gestattet auch die Messung der Güte von beliebigen Parallelkreisen. Ein Beispiel hierfür zeigt die Fig. 2. The circuit arrangement according to the invention also allows the measurement the quality of any parallel circles. An example of this is shown in FIG. 2.

An Stelle der Abstimmkapazität C1 tritt hier die Kreiskapazität Cx. Die Reihenkapazität Cx' wird so eingestellt, daß sie in dem gegebenen Verhältnis (C2/C1) zur Kreiskapazität Cx steht. Die Resonanzabstimmung erfolgt durch Änderung der Frequenz der Speisespannung.In place of the tuning capacitance C1, there is the circular capacitance Cx. The series capacitance Cx 'is set so that it is in the given ratio (C2 / C1) stands for the circuit capacitance Cx. The resonance vote takes place through a change the frequency of the supply voltage.

Es kann zweckmäßig sein, den Eingangsscheinwiderstand des Anzeigekreises in an sich bekannter Weise durch Anwendung einer kapazitiven Transformation hochohmig zu machen, wie dies beispielsweise in der Fig. 3 durch den kapazitiven Teiler C-C gezeigt ist. It can be useful to adjust the input impedance of the display circuit high resistance in a manner known per se by using a capacitive transformation to do, as for example in Fig. 3 by the capacitive divider C-C is shown.

PATENTANSPRCHE: I. Schaltungsanordnung zur Messung der Güte von Induktivitäten unter Benutzung der Resonanzmethode, insbesondere bei hohen Frequenzen, dadurch gekennzeichnet, daß in Reihe mit der Speisespannungsquelle und der Parallelschaltung von Induktivität und vorzugsweise veränderbarer Kapazität (C1) eine veränderbare Kapazität (C2) geschaltet ist, die so eingestellt werden kann, daß sie in einem vorbestimmten konstanten Verhältnis zur Kapazität des die Induktivität enthaltenden Parallelkreises steht, so daß bei konstanter Speisespannung die im Resonanzfall am Parallelresonanzkreis auftretende Spannung ein unmittelbares Maß für die Güte der Induktivität ist. PATENT CLAIMS: I. Circuit arrangement for measuring the quality of inductances using the resonance method, especially at high frequencies, thereby characterized in that in series with the supply voltage source and the parallel connection of inductance and preferably variable capacitance (C1) a variable Capacitance (C2) is connected, which can be adjusted so that it is in a predetermined constant ratio to the capacitance of the inductor containing Parallel circuit stands, so that at constant supply voltage in the case of resonance Voltage occurring on the parallel resonance circuit is a direct measure of the quality the inductance is.

Claims

2. Circuit arrangement according to claim I, characterized in that the input impedance of the display circuit by applying a capacitive Transformation is made high resistance.

3. Circuit arrangement according to claim I or 2, characterized in that that the series capacitance with the capacitance connected in parallel with the inductance is inevitably coupled.

4. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, characterized characterized in that a further variable capacitance parallel to the series capacitance is arranged to take into account the coil capacity.

5. Circuit arrangement according to claim 4, characterized in that this parallel capacity is labeled in coil capacity.

6. Procedure for measuring the quality of any parallel circles using an arrangement according to claim 1 or 2, characterized in that that instead of the parallel capacitance the capacitance of the circuit to be examined is switched that the series capacitance is set so that it is in the given Relation to the circuit capacity is and that the resonance tuning by change the frequency of the supply voltage.