DE4338772A1 - Diodenlaser-Stabanordnung - Google Patents
Diodenlaser-StabanordnungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Diodenlaser im allgemei
nen und insbesondere eine Diodenlaser-Stabanordnung, die
eine größere Stabdichte, verbesserte Wärmetransfereigen
schaften, eine gesteigerte Effizienz und eine erhöhte Aus
gangsspitzenleistung aufweist.
Eine übereinander angeordnete bzw. gestapelte Diodenlaser-
Arraykonfiguration (Rack und Stapelkonfiguration) wird
herkömmlicherweise als Dioden-Arraystruktur eingesetzt. In
einer derartiger Konfiguration wird ein Laserstab zunächst
auf einem Kühlkörper befestigt, wobei eine elektrische
Isolation der einzelnen Racks bzw. Stapel nötig ist. Die
überschüssige Wärme, die durch den Diodenlaserstab erzeugt
wird, muß über die Racks hinweg abgeführt werden und den
Kühlkörper erreichen, was einen guten thermischen Kontakt
zwischen dem Diodenlaserstab und dem Rack sowie zwischen dem
Rack und dem Substrat (dem Kühlkörper) nötig macht. In der
übereinander angeordneten gestapelten Konfiguration (der
"Rack and Stackkonfiguration") müssen individuelle
Diodenlaserstäbe zunächst mit optischen Beschichtungen
versehen werden, bevor sie mit dem Rack verbunden werden.
Auch die Herstellung des Racks bedarf der Handhabung
individueller Diodenlaserstäbe.
Demnach ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, für
eine Laserstruktur zu sorgen, die die Komplexität und die
Kosten für ein Diodenlaserarray vermindert, die für eine
erhöhte Spitzenausgangsleistung sorgt und ein verbessertes
Wärmeableitungsvermögen aufweist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch eine Laservorrich
tung gemäß dem Patentanspruch 1 gelöst.
Im einzelnen erfolgt die Lösung der Aufgabe durch eine La
servorrichtung, die einen Träger umfaßt, der als ein Kühl
körper wirkt, um eine Diodenlaser-Stabanordnung zu kühlen,
sowie eine metallisierte isolierende Schicht, die zwischen
dem Kühlkörper und der Laserstabanordnung angeordnet ist,
sowie eine Verbindungsschicht, die ausgelegt ist, um den
Kühlkörper mit der Laserstabanordnung zu koppeln. Die Laser
stabanordnung besteht aus einer Vielzahl von Diodenlaserstä
ben, die eine Mehrzahl von lasenden Bereichen aufweisen, die
entlang einer lateralen Kante von ihnen ausgebildet sind.
Erste und zweite Metallkontakte werden auf jeweils
benachbarten lateralen Kanten von benachbarten Diodenstäben
aufgebracht und die Metallkontakte werden durch eine dünne
Schicht aus einer Metallegierung getrennt. Ein Kontakt bil
det einen positiven elektrischen Kontakt für einen Laser
stab, und der andere Metallkontakt bildet einen negativen
Kontakt für den benachbarten Laserstab. Ein dielektrischer
Spiegel wird auf einer unteren Oberfläche eines jeden der
Diodenlaserstäbe aufgebracht und eine Antireflexions-Be
schichtung wird auf einer oberen Fläche eines jeden der
Diodenlaserstäbe aufgebracht.
Die Schicht aus dem isolierenden Material wird benachbart zu
den unteren Oberflächen der Laserstäbe, der ersten und zwei
ten Metallkontakte sowie der Schicht aus der Metall-Legie
rung angeordnet. Die metallisierte Schicht wird auf der
Schicht aus dem isolierenden Material angeordnet. Die Ver
bindungsschicht wird zwischen der metallisierten Schicht und
dem Substrat angeordnet und derartig ausgelegt, daß sie die
Diodenlaser-Stabanordnung auf dem Substrat befestigt.
Die durch das Diodenlaserarray gemäß der vorliegenden Erfin
dung ermöglichten Vorteile werden durch einen dünnen, elek
trisch isolierenden Polyimid-Film erreicht, der unterhalb
des Arrays aus den Diodenlaserstäben vorgesehen wird. Die
einzelnen Diodenlaserstäbe werden miteinander in Reihe ver
bunden, um eine Einheit oder eine Untergruppe zu bilden, und
zwar bevor die optischen Beschichtungen und der isolierende
(Polyimid)-Film aufgebracht wird. Der freiliegende isolie
rende Film wird metallisiert, um es einem Indium-Lötmetall
zu erlauben, die Diodenlaser-Stabanordnung mit einem Kühl
körper zu verbinden, so wie beispielsweise einem Mikro-
Kanalkühler.
Indem man zunächst die Stäbe miteinander verbindet, so daß
sie eine Untergruppe bilden, wird die Handhabung von
individuellen Stäben während den nachfolgenden Schritten un
nötig. Da das Zwischensubstrat (das Rack), das in den gegen
wärtigen Designs verwendet wird, nicht nötig ist, wird die
Anfangszahl der Teile, die für das Diodenlaserarray benötigt
werden, ungefähr halbiert. Weiterhin wird durch den Verzicht
auf das Rack eine höhere Stabdichte erreicht, die bis zu 45
Stäbe pro Zentimeter erlaubt. Eine einheitliche
Leistungsfähigkeit der Diodenlaser-Stabanordnung wird durch
die vorliegende Erfindung ermöglicht, und sie ist eine Funk
tion von einheitlich gewachsenen Kristallen, die durch die
Verwendung von MOCVD-Reaktoren mit großem Bereich möglich
wird. Wenn die Diodenlaser-Stabanordnung mit dem Kühlkörper
verbunden wird, kann die Spitzenwertausgangsleistung des Ar
rays größer oder gleich 2000 Watt pro Quadratzentimeter wer
den. Um dies zu kompensieren, können die lasenden Bereiche
entlang dem Diodenlaserstab gestaffelt werden, um die later
ale Wärmeabführung zu verbessern. Da ein Hauptanwendungsbe
reich für derartige Array im Pumpen von Festkörperlasern
liegt, erlaubt die erhöhte Energiedichte, die durch die vor
liegende Erfindung ermöglicht wird, eine kompaktere optische
Kopplung zwischen einer Diodenlaser-Stabanordnung und einem
Festkörperlaser.
Die vorliegende Diodenlaseranordnung kann als ein Ersatz für
Blitzlampen in einem chirurgischen Lasersystem, beim Fest
körperlaserschweißen und in einem Röntgen-Photolithographie-
System verwendet werden, in dem Festkörper-Riesenimpulslaser
zur Erzeugung von Plasma verwendet werden, das Röntgen
strahlen produziert. Die Vorteile, die durch die
Diodenlaservorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung er
möglicht werden, und zwar verglichen mit
Blitzlampensystemen, umfassen Langlebigkeit, eine geringere
Wärmeerzeugung in dem Festkörperlaserstab und eine höhere
Gesamtkonversionseffizienz.
Die Unteransprüche haben vorteilhafte Weiterbildungen der
Erfindung zum Inhalt.
Die unterschiedlichen Merkmale und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden im Detail in der folgenden Beschreibung un
ter Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert, in der gleiche
Bezugszeichen die gleichen strukturellen Elemente bezeich
nen. Es zeigt:
Fig. 1 eine Querschnittsansicht einer Diodenlaser-Sta
banordnung gemäß der Lehre der vorliegenden Er
findung;
Fig. 2 eine perspektivische Querschnittsansicht der
Diodenlaser-Stabanordnung aus Fig. 1; und
Fig. 3a-c Ortsmuster der lasenden Bereiche, die in der
Diodenlaser-Stabanordnung aus den Fig. 1 und
2 eingesetzt werden können.
Unter Bezugnahme auf Fig. 1 ist dort eine Querschnittsan
sicht einer Diodenlaser-Stabanordnung 10 gemäß der Lehre der
vorliegenden Erfindung dargestellt, wohingegen in Fig. 2
eine perspektivische Querschnittsansicht der Diodenlaser-
Stabanordnung 10 aus Fig. 1 dargestellt ist. Die Diodenla
ser-Stabanordnung 10 umfaßt ein Silizium-Substrat, das aus
einem tragenden bzw. stützenden Kühlkörper 11 bestehen kann,
so wie beispielsweise aus einem Mikro-Kanalkühler aus
Silizium. Eine Mehrzahl aus Galliumarsenid (GaAs) Substrat
bereichen 12 oder Laserdiodenstäben 12 wird vorgesehen, die
typischerweise Abmessungen in der Größenordnung von 200 bis
300 Mikrometern in ihrer Breite, 200 bis 300 Mikrometer in
ihrer Höhe und ungefähr 1 Zentimeter in ihrer Länge aufwei
sen. Entlang den lateralen Kanten der Laserdiodenstäbe 12
sind eine Mehrzahl von lasenden Bereichen 13 ausgebildet.
Ein jeder der lasenden Bereiche 13 wird seinerseits durch
ungefähr 10 dicht gepackte Streifenlaser gebildet. Der
lasende Bereich 13 entlang der lateralen Kante des Stabes 12
kann ungefähr 20% oder mehr der Länge des Laserstabes 12 be
legen. Die Mehrzahl der Laserdiodenstäbe 12 wird benachbart
zueinander angeordnet, um ein Diodenarray zu bilden, und sie
werden durch zwei metallische (Silber) Kontakte 14 getrennt,
die eine Dicke von 4 bis 10 Mikrometern aufweisen und die
durch eine dünne Schicht aus einer Silberlegierung 15 ge
trennt sind. Ein Kontakt 14 stellt einen positiven
elektrischen Kontakt für einen Laserstab 12 dar, während der
andere metallische Kontakt 14 einen negativen Kontakt für
den benachbarten Laserstab 12 darstellt. Die Silberlegierung
15 sollte einen Schmelzpunkt zwischen ungefähr 220°C bis
310°C haben, der eine Funktion der Halbleiter-Bearbeitungs
temperaturen ist, die in dem Verfahren zur Herstellung der
Anordnung 10 verwendet werden. Die Metallkontakte 14 und die
Legierungsschicht 15 weisen Ausnehmungen von ungefähr 5 Mi
krometern Tiefe von der oberen Kante und der unteren Kante
der Diodenlaserstäbe 12 her auf.
Ein dielektrischer Spiegel 16 wird auf der unteren Oberflä
che eines jeden der Diodenlaserstäbe 12 aufgebracht, und
eine Antireflexions-Beschichtung 17 wird auf der oberen
Oberfläche eines jeden der Diodenlaserstäbe 12 aufgebracht.
Die Mehrzahl der lasenden Bereiche 13 wird im allgemeinen
entlang nur einer lateralen Kante eines jeden der Diodenla
serstäbe 12 angeordnet. Die lasenden Bereiche 13 in benach
barten Diodenlaserstäben 12 sind weiterhin relativ zueinan
der gestaffelt angeordnet. Unterschiedliche Staffelmuster
können eingesetzt werden und die Fig. 3a bis 3c illu
strieren Ortsmuster der lasenden Bereiche 13, die in der Di
odenlaser-Stabanordnung 10 aus den Fig. 1 und 2 verwendet
werden können. Fig. 3a illustriert ein "Mauer"- oder ein
verschachteltes Muster, die Fig. 3b zeigt ein verschachtel
tes Muster mit einem "toten", nicht verwendeten Diodenlaser
stab 12 und Fig. 3c zeigt eine Anordnung der lasenden
Bereiche 13 in einem vergleichsweise großen Abstand. Die
oben beschriebene Anordnung 10 bildet daher eine Unter
gruppe, die aus den gestapelten Diodenlaserstäben 12
besteht, die mittels den Metallkontakten 14 und der Legier
ungsschicht 15 verbunden sind, und die die Antireflexions-
Beschichtungen 17 und die dielektrischen Spiegel 16 umfaßt.
Benachbart zu der unteren Oberfläche eines jeden der Dioden
laserstäbe 12, der Metallkontakte 14 und der Legierungs
schicht 15 ist eine Schicht aus einem isolierenden Material
18 angeordnet. Die Schicht aus dem isolierenden Material 18
kann beispielsweise aus Polyimid bestehen, und sie weist
beispielsweise eine Dicke von 1 bis 1,5 Mikrometern auf. Die
Oberfläche der Schicht aus dem isolierenden Material 18, die
zu den Diodenlaserstäben hin liegt, wird metallisiert, und
zwar in dem beispielsweise eine dünne Schicht aus Silber
verwendet wird, um so eine metallisierte Schicht 19 zu
bilden. Die metallisierte Schicht 19 weist eine Dicke von
beispielsweise ungefähr 2 Mikrometern auf. Eine Verbindungs
schicht 20, die beispielsweise aus einer Schicht eines In
dium-Lötmetalles besteht, wird zwischen der metallisierten
Schicht 19 und dem Kühlkörper 11 angeordnet, und sie wird
verwendet, um die Diodenlaser-Schichtanordnung 10 mit dem
Kühlkörper 11 zu verbinden.
Die vorliegende Erfindung sorgt für eine Laserstruktur, die
die Komplexität und die Kosten von Diodenlaserarrays vermin
dert, und die für eine erhöhte Spitzenausgangsleistung
sorgt, sowie für eine verbesserte Wärmeableitung. Die
Diodenlaser-Stabanordnung 10 gemäß der vorliegenden Erfin
dung ordnet die isolierende Schicht 18 aus dem dünnen, elek
trisch isolierenden Polyimid-Film unter den Diodenlaser
stäben 12 an. Die einzelnen Diodenlaserstäbe 12 sind mitein
ander in Reihe verbunden, um eine Einheit oder eine Suban
ordnung zu bilden, und zwar bevor die optischen Beschichtun
gen 16, 17 und die isolierende Schicht 18 aus dem Polyimid-
Film aufgebracht werden. Die freiliegende isolierende
Schicht 18 aus dem Polyimid-Film wird metallisiert (durch
die Schicht 19), um es dem Indium-Lötmetall zu erlauben, die
Diodenlaser-Stabanordnung 10 an dem Kühlkörper 11 zu festi
gen.
Indem die Diodenlaserstäbe 12 zunächst zu einer Untergruppe
zusammengefügt werden, wird die Handhabung der einzelnen
Stäbe 12 während den nachfolgenden Vorgängen unnötig. Da das
Zwischensubstrat (das Rack), das in den Designs nach dem
Stand der Technik auftaucht, eliminiert wird, wird die An
fangszahl der benötigten Teile für die vorliegende Diodenla
ser-Stabanordnung 10 ungefähr halbiert. Weiterhin wird durch
den Verzicht auf das Rack eine höhere Stabdichte erreicht,
wodurch bis zu 45 Stäbe 12 pro Zentimeter möglich werden.
Ein einheitliches Leistungsvermögen der Diodenlaser-Staban
ordnung 10 wird ermöglicht, und zwar basierend auf einem
einheitlichen Kristallwachstum, das durch die Verwendung von
chemischen Metalloxid-Verdampfungsreaktoren (Metal Oxide
Chemical Vapor Deposition, MOCVD-Reaktoren) möglich wird.
Wenn die Diodenlaser-Stabanordnung 10 mit dem Kühlkörper 11
verbunden wird, der den Träger bzw. die Stütze umfaßt, kann
die Spitzenausgangsleistung des Arrays auf mehr als 2000
Watt pro Quadratzentimeter erhöht werden. Die lasenden Be
reiche 13 entlang dem Diodenlaserstab 12 werden daher, wie
in den Fig. 3a bis 3c dargestellt, gestaffelt, um die la
terale Wärmeableitung zu verbessern. Da eine Hauptanwendung
der Laserdioden-Stabanordnung 10 im Pumpen von Festkörperla
sern liegt, erlaubt eine Erhöhung der Energiedichte eine
kompaktere optische Kopplung zwischen einer Diodenlaser-
Stabanordnung 10 und dem Festkörperlaser.
Die Diodenlaser-Stabanordnung 10 wird hergestellt, indem
zunächst einzelne Laserstäbe 12 abgespalten werden, die 1 cm
lang und 300 Mikrometer breit sind, und zwar von einem 200
Mikrometer dicken GaAs-Wafer, der die benötigten Kristall
schichten aufweist, die das Lasen erlauben, wobei dann die
einzelnen Stäbe 12 vor der weiteren Verarbeitung verbunden
werden. Typischerweise bilden die epitaktischen Kristall
schichten eine duale Heterostruktur eines optisch begrenzten
Bereiches, der einen elektrisch aktiven Single-Quantum-Well-
Bereich umgibt. Dies ist allgemein bekannt und es wird auf
ein Dokument mit dem Titel "Separate Confinement Hetero
structure Single Quantum Well Laser Bar" Bezug genommen, von
M. Sakamoto et al., Appl. Phys. Lett., Vol 54, Seite 2299,
1989, in dem derartige Strukturen beschrieben sind. Die Ein
heitlichkeit der Schichtdicke und die Dotierungen, die mit
gegenwärtig verfügbaren MOCVD-Aufbringungsverfahren ver
bunden sind, erzeugen sehr schmalbandige Laserlinienbereiten
von 2,5 nm. Die elektrischen Kontakte 14, die über die ge
samte Länge eines jeden schmalen Laserstabes 12 hinweg auf
gebracht sind, werden durch eine Vakuumverdampfung eines Me
talles durch eine Photoresistmaske hindurch definiert, die
auf beiden Seiten des Wafers aufgebracht wird. Die Dicke der
Kontakte 14 kann erhöht werden, indem man Plattierungsver
fahren verwendet, nachdem der Photoresist entfernt ist.
Parallele Spiegelfacetten, die durch das Spalten des
Galliumarsenid-Wafers entlang seiner {110}-Kristallachse er
zeugt worden sind, definieren die Enden eines Fabry-Perot-
Etalons (mit einer Länge von 300 Mikrometern), das die Os
zillation in einen Galliumarsenid-Lasermedium unterstützt,
das aus den Galliumarsenid-Substratbereichen 12 besteht.
Jeder Laserstab 12 weist viele, in einem einheitlichen Ab
stand angeordnete lasende Bereiche 13 auf, die ungefähr zwi
schen 20% und 30% seiner Länge belegen. Die Breite eines
einzelnen Laserbereiches 13 beträgt typischerweise 100 Mi
krometer, wobei jeder Bereich 13 aus 10 lasenden Streifen
besteht, die jeweils 6 Mikrometer breit sind. Wenn die la
senden Stäbe 12 auf ihre Seite gestellt und aneinander ge
stapelt werden, um eine elektrische Reihenverbindung zu er
lauben, dann zeigen die lichtemittierenden Facetten eines
jeden der lasenden Bereiche 13 nach außen, wie in Fig. 2
dargestellt. Die lasenden Bereiche 13 sind gemäß eines der
Muster angeordnet, die in Fig. 3 dargestellt sind, und zwar
von Stab 12 zu Stab 12, um eine maximale Trennung zwischen
einem jeden der lasenden Bereiche 13 zu erlauben und um so
eine einheitliche Wärmeerzeugung sicherzustellen, sowie eine
einheitliche thermisch induzierte Spannung über die Dioden
laser-Stabanordnung 10 hinweg. Die Stäbe 12 werden mit ihren
positiven Kontakten 14 derart gestapelt, daß sie den
negativen Kontakten 14 der benachbarten Stäbe gegenüber
liegen.
Die optischen Beschichtungen 16, 17 werden auf die Diodenla
ser-Stabanordnung 10 mittels einer Vakuumverdampfung aufge
bracht. Der optische Charakter der isolierenden Polyimid-
Schicht 18 findet als ein Teil des Designs für den elektri
schen Spiegel 16 Berücksichtigung.
Die Dicke der isolierenden Schicht 18 aus dem Polyimid-Film
liegt zwischen 1 Mikrometer und 1,5 Mikrometer, um einer
Vorspannungsbedingung einige Male zu widerstehen, was für
einen Laserbetrieb von 45 Stäben 12 in Reihe nötig ist. Eine
1 Mikrometer dicke isolierende Polyimid-Schicht 18 ist in
der Lage, wenigstens 300 Volt zu widerstehen. Indessen wird
die isolierende Polyimid-Schicht 18 absichtlich dünn gehal
ten, um einen niedrigen thermischen Widerstand über die iso
lierende Schicht 18 aus dem Polyimid-Film sicherzustellen.
Die isolierende Polyimid-Schicht 18 sollte einen thermischen
Widerstand von ungefähr 0,030 C-cm2/W aufweisen, der mit dem
thermischen Widerstand des Silizium-Mikrokanal-Kühlerkörpers
11 vergleichbar ist.
Um die Möglichkeiten der Diodenlaser-Stabanordnung 10 im
Hinblick auf eine maximale Lichtleistung und einen maximalen
Betriebszyklus besser zu verstehen, die von der Laseref
fizienz und der Wärmeableitung abhängen, muß der
Temperaturanstieg über ein Spektrum von Designvariablen hin
weg simuliert werden. Die wichtigsten dieser Variablen be
treffen die Dicke des Kühlkörpers 11 des Diodenlasers, die
Dicke der Silberkontakte 14, die Dicke der isolierenden
Schicht 18 aus dem Polyimid-Film, die Anzahl der lasenden
Bereiche 13 pro Länge des Stabes 12 und das Muster der
lasenden Bereiche 13 in dem Array.
Die Diodenlaser-Stabanordnung 10 wird in einem Pulsmodus mit
einem Betriebszyklus (duty cycle) ungefähr 2% bis 4% betrie
ben. Mit einem kontrollierten Temperaturanstieg könnte die
Spitzenleistung, die von der Diodenlaser-Stabanordnung 10
verfügbar ist, die einer konventionellen "Rack und Stack"
Konfiguration übersteigen. Genauer gesagt kann die
Diodenlaser-Stabanordnung 10 zwischen 35 und 45 Stäben 12
pro Zentimeter aufweisen und zwar in der gestapelten Rich
tung, was mehr ist als bei den gegenwärtig verfügbaren Stan
dard Rack- und Stack-Konfigurationen. Bei 45 Stäben 12 pro
Zentimeter beträgt die Dicke des Stabes 12 einschließlich
den Kontakten 14 ungefähr 225 Mikrometer. Mit einer
nominalen Lichtausgangsleistung von 50 Watt Spitzenleistung
pro Stab 12 kann die Spitzenleistung der Diodenlaser-Staban
ordnung 10 2000 Watt pro Quadratzentimeter übersteigen.
Die vorliegende Erfindung sorgt für einen Schutz vor der ma
ximalen quasi CW-Dissipationsleistung der Diodenlaser-Stab
anordnung 10 und des Kühlkörpers 11. Die drei-dimensionale
Natur des Wärmeflusses weg von den lasenden Bereichen 13 be
dingt, daß sich die Wärme lateral durch die Galliumarsenid-
Substratbereiche 12 und die elektrischen Silberkontakte 14
verteilt, bevor sie durch die isolierende Schicht 18 aus dem
Polyimid-Film in den Kühlkörper 11 eintritt.
Der Vorgang des Zusammensetzens der Diodenlaser-Stabanord
nung 10 wird im folgenden im Detail beschrieben. Die Masse
der Metallisierung für die elektrischen Kontakte 14 auf bei
den Seiten der Stäbe 12 besteht aus einer schweren, 4 Mikro
meter bis 10 Mikrometer dicken Schicht aus Silber, die in
eine Silberlegierung ausläuft, welche einen Schmelzpunkt von
mehr als 220°C aufweist. Die andere Komponente der
Legierung, wie beispielsweise Zinn (Sn), Blei (Pb) oder In
dium (In), kann entweder vakuumverdampft werden oder auf die
Oberfläche aufplatiert werden. Ein Sintern dieser Struktur
in einer Schutzgasatmosphäre kann verwendet werden, um genü
gend Silber aufzulösen, um ein Eutektikum zu erzeugen, das
die benötigte Schmelztemperatur aufweist. Der Wafer wird
dann gespalten, um die einzelnen Stäbe 12 mit einer Länge
von ungefähr 1 cm zu bilden. Wie zuvor erwähnt worden ist,
definiert die Breite der Stäbe 12, die sich aus dem Spalt
vorgang ergeben, die Länge des optischen Resonators, und
zwar auf ungefähr 300 Mikrometer, sowie die {011} Galiumar
senid-Facetten, die das Fabry-Perot-Etalon bilden.
Die Stäbe 12 werden auf dem Kühlkörper 11 derart gestapelt,
daß die lasenden Facetten die Kontakte berühren und ihnen
gegenüberliegen. Die Temperatur wird dann auf oberhalb des
eutektischen Schmelzpunktes erhöht. Dann wird ein Druck auf
gewendet, der eben ausreichend ist, um es der geschmolzenen
Legierung zu erlauben, den Raum zwischen den elektrischen
Kontakten 14 zu überbrücken, aber es wird nicht genug Druck
aufgewendet, um die Legierung zwischen den Stäben 12 heraus
zudrücken. Wenn die Temperatur vermindert wird, dann wird
der Punkt des Festwerdens verifiziert, ob er einem Minimum
von 220°C entspricht. Dieses Verfahren kann das Erwärmen der
Stäbe 12 in einer Schutzgas-Atmosphäre oder in einem
partiellen Vakuum bedingen, um eine Kontamination oder
Oxidation des Kühlerkörpers 11 oder der Silberlegierung zu
vermeiden. Eine minimale eutektische Temperatur von 220°C
ist wichtig, da in einem späteren Verfahrensschritt eine
Aussetzung auf eine Temperatur von 200°C erfolgt.
Nachdem die Stäbe 12 verbunden sind, können sie als eine
Einheit in den nachfolgenden Verarbeitungsschritten gehand
habt werden. Die freiliegenden Facetten der Diodenlaser-Sta
banordnung 10 empfangen dann die dielektrische Antire
flexionsbeschichtung 17 bzw. die Spiegelbeschichtung 16. Die
isolierende Schicht 18 aus dem Polyimid-Film wird auf die
verspiegelte untere Oberfläche gedrückt und bei einer Tempe
ratur von wenigstens 200°C vulkanisiert, um sie zu verdich
ten. Der letzte Hauptverarbeitungsschritt, der nötig ist, um
die Diodenlaser-Stabanordnung 10 zu vervollständigen, be
dingt die Metallisierung der isolierenden Schicht 18 aus dem
Polyimid-Film, so daß sie mit dem Kühlkörper 11 verlötet
werden kann.
Die Integration des Diodenlaser-Pumparrays in Festkörperla
ser-Subsysteme, um konventionelle Blitzlampen zu ersetzen,
hängt von den Kosten, der Widerstandsfähigkeit und der Mög
lichkeit zur Kühlung des Diodenlaser-Pumparrays ab. Drei
Vorteile werden durch das Diodenlaser-Pumparray (die Dioden
laser-Stabanordnung 10) gemäß der vorliegenden Erfindung im
Vergleich zu Blitzlampen erzielt. Dies sind eine lange
Lebensdauer, eine geringere Wärmeerzeugung in dem
Festkörper-Laserstab und eine höhere Gesamtkonversionseffi
zienz. Die vorliegende Diodenlaser-Stabanordnung 10 kann als
ein Ersatz für Blitzlampen in einem Laseroperationssystem,
in einigen Formen des Festkörper-Laserschweißens und in
Röntgen-Photolithographie-Systemen verwendet werden, in
denen Riesenpuls-Festkörperlaser benutzt werden, um das
Plasma zu erzeugen, das für die Röntgenstrahlen sorgt.
Zusammenfassend kann somit festgehalten werden, daß eine erfindungsgroße
Laservorrichtung einen Träger umfaßt, der als
ein Kühlkörper wirkt, sowie eine Diodenlaser-Stabanordnung,
eine metallisierte isolierende Schicht, die zwischen dem
Träger und der Laserstabanordnung angeordnet ist, sowie eine
Verbindungsschicht, die angepaßt ist, den Träger mit der
Laserstabanordnung mittels der metallisierten isolierenden
Schicht zu koppeln. Die Diodenlaser-Stabanordnung umfaßt
eine Mehrzahl von Laserdiodenstäben, die eine Mehrzahl von
lasenden Bereichen aufweisen, die entlang einer ihrer later
alen Kanten ausgebildet sind. Erste und zweite Metallkon
takte werden auf jeweils benachbarten lateralen Kanten von
benachbarten Diodenstäben angeordnet und die Metallkontakte
werden mittels einer dünnen Schicht aus einer Metall-Legie
rung getrennt. Ein Kontakt bildet einen positiven elektri
schen Kontakt für einen Laserstab, während der andere metal
lische Kontakt einen negativen Kontakt für den benachbarten
Laserstab bildet. Ein dielektrischer Spiegel wird auf einer
unteren Oberfläche eines jeden der Laserdiodenstäbe angeord
net, und eine Antireflexionsbeschichtung wird auf einer obe
ren Oberfläche eines jeden der Laserdiodenstäbe angeordnet.
Die vorliegende Laservorrichtung vermindert die Komplexität
und die Kosten für Diodenlaserarrays und sorgt für eine er
höhte Spitzenausgangsleistung und für eine verbesserte
Wärmeableitung. Die vorliegende Diodenlaseranordnung kann in
Laseroperationssystemen, beim Festkörperlaserschweißen, und
in Röntgen-Photolithographiesystemen verwendet werden, in
denen Riesenpuls-Festkörperlaser benutzt werden, um das
Plasma zu erzeugen, das die Röntgenstrahlen herstellt. Die
durch die Diodenlaser-Stabanordnung erzielten Vorteile sind
eine lange Lebensdauer, eine geringere Wärmeerzeugung in den
gepumpten Festkörperlaser und eine höhere Gesamtkonversions
effizienz.
Demnach ist eine neue und verbesserte Diodenlaser-Stabanord
nung beschrieben worden, die eine größere Stabdichte, einen
verbesserten Wärmetransfer und eine verbesserte Effizienz,
sowie eine erhöhte Spitzenausgangsleistung aufweist. Es wird
darauf hingewiesen, daß die oben beschriebene Ausführungs
form mehr illustrierend für einige der vielen spezifischen
Ausführungsformen ist, die Anwendungen der Lehre der vorlie
genden Erfindung darstellen. Naheliegender Weise können eine
Vielzahl von anderen Anordnungen von Fachleuten entworfen
werden, ohne den Gegenstand der vorliegenden Erfindung zu
verlassen.
Claims (9)
1. Eine Laservorrichtung mit:
- a) einem Substrat, das einen Kühlkörper umfaßt;
- b) einer Diodenlaser-Stabanordnung welche
- b1) eine Mehrzahl von Diodenlaserstäben umfaßt, die eine Mehrzahl von lasenden Bereichen aufweisen, die entlang einer lateralen Kante von ihnen ausgebildet sind; sowie
- b2) erste und zweite Metallkontakte, die auf je weiligen benachbarten Kanten von benachbar ten Diodenstäben angeordnet sind, wobei die Metallkontakte durch eine dünne Schicht aus einer Metall-Legierung getrennt werden, und einer der Kontakte einen positiven elektri schen Kontakt für einen Laserstab und der andere Metallkontakt einen negativen Kontakt für den benachbarten Laserstab bildet;
- b3) einen dielektrischen Spiegel, der auf einer unteren Oberfläche eines jeden der Dioden laserstäbe angeordnet ist;
- b4) eine Antireflexionsbeschichtung, die auf einer oberen Oberfläche eines jeden der Diodenlaserstäbe angeordnet ist;
- b5) eine Schicht aus einem isolierenden Ma terial, die benachbart zu den unteren Ober flächen der Diodenlaserstäbe, der ersten und zweiten Metallkontakte und der Metall-Le gierungsschicht angeordnet ist;
- b6) eine metallisierte Schicht, die auf der Schicht aus dem isolierenden Material ange ordnet ist;
- b7) eine Verbindungsschicht, die zwischen der metallisierten Schicht und dem Substrat an geordnet ist und die ausgelegt ist, die Diodenlaser-Stabanordnung an dem Substrat zu befestigen.
2. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin ein jeder
aus der Mehrzahl der Diodenlaserstäbe Galliumarsenid
(GaAs)-Substratbereiche umfaßt.
3. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die ersten
und zweiten Metallkontakte aus Silberkontakten be
stehen.
4. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die Silber
legierung einen Schmelzpunkt zwischen 220°C und 310°C
aufweist.
5. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die Metall
kontakte und die Legierungsschicht mit Ausnehmungen
versehen sind, und zwar von den oberen und den unteren
Kanten der Diodenlaserstäbe her.
6. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin ein jeder
aus der Mehrzahl der Diodenlaserstäbe lasende Bereiche
umfaßt, die relativ zu den lasenden Bereichen in
benachbarten Diodenlaserstäben gestaffelt sind.
7. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die Schicht
aus isolierendem Material aus einem Polyimidmaterial
besteht.
8. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die metal
lisierte Schicht auf die isolierende aufgebracht ist
und eine vergleichsweise dünne Schicht aus Silber um
faßt.
9. Die Laservorrichtung nach Anspruch 1, worin die Verbin
dungsschicht aus einer Schicht eines Indium-Lötmetalls
besteht.
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1993
- 1993-11-12 DE DE4338772A patent/DE4338772A1/de not_active Ceased
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4716568A (en) * | 1985-05-07 | 1987-12-29 | Spectra Diode Laboratories, Inc. | Stacked diode laser array assembly |
| US5099488A (en) * | 1991-03-27 | 1992-03-24 | Spectra Diode Laboratories, Inc. | Ribbed submounts for two dimensional stacked laser array |
| US5105430A (en) * | 1991-04-09 | 1992-04-14 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Thin planar package for cooling an array of edge-emitting laser diodes |
Non-Patent Citations (7)
| Title |
|---|
| DE-Buch: HACKE, Hans-Jürgen: Montage integrierter Schaltungen, Abschnitte 3.2 und 3.3, Springer 1987 - ISBN 3-540-17624-1 (Berlin...) * |
| US-Z.: Appl.Phys.Lett., Vol. 42, No. 5, 1983, S. 403-405 * |
| US-Z.: Appl.Phys.Lett., Vol. 54, No. 23, 1989, S. 2299-2300 * |
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| US-Z.: IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol. 28, No. 4, 1992, S. 952-965 * |
| US-Z.: IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol. 28, No. 4, 1992, S. 966-976 * |
| US-Z.: Solid State Technology, September 1981, S. 121-126 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5394426A (en) | 1995-02-28 |
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