DE4116039A1 - Interferometrisches verfahren und interferometer zur durchfuehrung desselben - Google Patents
Interferometrisches verfahren und interferometer zur durchfuehrung desselbenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein
System zum hochgradigen Verlängern der effektiven Kohärenz
länge von nicht stabilisierten Multimode-Lasern oder nicht
stabilisierten Mehrfachschwingungstyp-Lasern, die in inter
ferometrischen Einrichtungen verwendet werden, welches Ver
fahren und System es ermöglichen, kostengünstige Interfero
meter mit großen optischen Wegunterschieden zu bauen, die
auf derartigen Lasern basieren. Von besonderem Interesse
ist die Anwendung dieses Verfahrens und dieses Systems auf
die Verlagerungsmessungsinterferometrie, insbesondere die
Verschiebungsmessungsinterferometrie.
Genaue Meßeinrichtungen werden von modernen Herstellungs
betrieben, -anlagen, -einrichtungen o. dgl. benötigt, in
denen die Bearbeitungsgenauigkeit mehreren µm pro Meter
nahekommt, so daß die Genauigkeit der Meßeinrichtungen für
die Inspektion und Kontrolle, Steuerung, Überwachung o. dgl.
im Sub-µm-Bereich sein muß. Unter den existierenden Meß
systemen können nur Interferometer solche Genauigkeiten
über ausgedehnte Bereiche (bis zu einem Meter und jenseits
von einem Meter) erbringen. Andere Systeme haben entweder
den Nachteil einer beschränkten Genauigkeit oder eines be
schränkten Bereichs. Die meisten kommerziellen Interfero
meter, die fähig sind, Bereiche bis zu 10 Meter und über
10 Meter sowie Genauigkeiten von 0,1 µm/m oder besser zu
messen, basieren auf stabilisierten Lasern und sind zu empfind
lich und/oder zu teuer, um in weitem Umfang auf dem Fabrik
boden benutzt oder in Systeme für geschlossenschleifige Be
wegungssteuerung und/oder -regelung eingefügt oder eingebaut
zu werden. Andererseits haben Interferometer, die auf nicht
stabilisierten Lasern basieren, einen sehr beschränkten Meß
bereich.
Das Haupthindernis für die Verwendung von nicht-stabilisier
ten Lasern in der Verlagerungsmessungsinterferometrie (und
generell in Ungleich-Weg-Interferometern) ist ihre beschränk
te Kohärenzlänge und demgemäß ihr beschränkter Meßbereich.
Dieses wird durch das gleichzeitige Vorhandensein von mehre
ren in Resonanz befindlichen Hohlraumschwingungstypen in der
Laseremission (Schwingungstyp-Konkurrenz) verursacht. Jede
der Moden oder Schwingungstypen bildet ihr eigenes Inter
ferenzstreifensystem aus, und diese Systeme sind mit Bezug
aufeinander entsprechend dem Frequenzunterschied zwischen
den Moden oder Schwingungstypen und entsprechend der gemes
senen Weglänge verschoben. Das optische Signal, das bei dem
Detektionssystem eines Interferometers ankommt, trägt die
Interferenzstreifensysteme, die mit jeder Mode oder jedem
Schwingungstyp verbunden sind, und kann infolgedessen als
"kodiert" mit den optischen Signalen der individuellen Moden
bzw. Schwingungstypen betrachtet werden. Die Interferenz
systeme von unterschiedlichen Moden oder Schwingungstypen
überlappen sich inkohärent wegen eines sehr großen Frequenz
unterschieds zwischen den Moden oder Schwingungstypen, ver
glichen mit dem Frequenzansprechverhalten der Detektoren.
Daher ist das Interferenzstreifenbild, das von dem Detektions
system beobachtet wird, eine Summe der Interferenzstreifenin
tensitäten von allen Moden oder Schwingungstypen, die zugegen
sind und die "kodierte" Information, die zu den individuellen
Moden oder Schwingstypen gehören geht verloren.
Es sei, um die Verhältnisse klarer zu machen, ein Kurzröhren-
Laser betrachtet, der die meiste Zeit in zwei Moden oder
Schwingungstypen emittiert. Der Frequenzabstand der Moden
oder Schwingungstypen ist c/2L, worin L die Röhrenlänge des
Lasers ist. (Das ist in Fig. 1A veranschaulicht, worin die
P2-Mode oder der P2-Schwingstyp typischerweise unterhalb der
Nutz- oder Verstärkungsschwelle liegt und nicht an der Emission
teilnimmt.) Wenn der optische Wegunterschied in dem Interfero
meter gleich der Röhrenlänge ist, dann sind die Interferenz
streifenbilder der beiden Moden oder Schwingungstypen bei
der Detektion genau in Antiphase. Das wird als ein Interfe
renzstreifenbild der stärkeren Mode oder des stärkeren
Schwingungstyps beobachtet, wobei der Interferenzstreifenkon
trast durch die Kontamination mittels der zweiten Mode oder
des zweiten Schwingungstyps vermindert ist. Wenn zusätzlich
die Intensitäten der Moden oder Schwingungstpyen gleich sind
(Fig. 1B), dann ist der Verlust an Kontrast vollständig. Die
Intensitäten der Moden oder Schwingungstypen hängen von ihren
Relativpositionen unter dem Dopplerprofil der Laseremissions
linie ab (Fig. 1), und dann wieder von der Laserröhrenlänge,
und sie schwanken mit unvermeidbaren Schwankungen der letzte
ren, die hauptsächlich durch Temperaturänderungen oder -schwan
kungen verursacht werden. Infolgedesen wird, wenn sich der
optische Wegunterschied der Röhrenlänge annähert (das heißt,
wenn sich die zu messende Verlagerung ihrer Hälfte annähert)
und die Interferenzstreifensysteme der beiden Moden oder
Schwingungstypen in Antiphase sind, ein teilweiser Verlust
an Kontrast beobachtet, und der Kontrast schwankt mit der Zeit
zwischen nahezu 100% in dem Fall der Fig. 1A und Null in dem
Fall der Fig. 1B. Die Kohärenzlänge eines solchen Lasers ist
daher gleich seiner Röhrenlänge (dieser Ausdruck wird hier zu
sammenfassend für "Rohrlänge" und "Röhrenlänge" verwendet).
Generell ist die Kohärenzlänge eines nicht-stabilisierten
Multimode-Lasers oder Mehrfachschwingungstyp-Lasers 2L/m,
worin m die Anzahl der Moden oder Schwingungstypen ist, und
in der Praxis sind die Meßbereiche, beispielsweise für HeNe-
Laser, nur in der Größenordnung von 100 mm.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum hoch
gradigen Verlängern der effektiven Kohärenzlänge eines nicht
stabilisierten Multimode-Lasers oder nicht-stabilisierten
Mehrfachschwingungstyp-Lasers, insbesondere eines nicht-sta
bilisierten Zwei-Mode-Lasers oder nicht-stabilisierten Zwei-
Schwingungstyp-Lasers, in einem Zweistrahl-Interferometer,
basierend auf dem Decodieren der individuellen optischen
Signale, die zu den Interferenzstreifensystemen der indivi
duellen Moden oder Schwingungstypen gehören, und auf der Ver
wendung des stärkeren Signals für die Interferenzstreifen
zählung. Dieses Verfahren soll hier als Verfahren der "Zäh
lungs-Umschaltung" bezeichnet werden, da das Zählen von Inter
ferenzstreifen von einer Mode oder einem Schwingungstyp zu
einer anderen Mode oder einem anderen Schwingungstyp umge
schaltet wird, wann immer das notwendig ist. Dieses Verfah
ren ermöglicht es, kostengünstige Interferometer mit ver
längerten optischen Wegunterschieden zu bauen, die äquiva
lent denjenigen von stabilisierten Lasern (welche in hohem
Maße die Laserröhrenlänge übersteigen) und theoretisch nur
durch die Breite einer individuellen Mode oder eines indivi
duellen Schwingungstyps beschränkt sind. Ein zusätzlicher
Vorteil des erfindungsgemäßen Zählungs-Umschaltungs-Inter
ferometers ist seine verbesserte Genauigkeit im Vergleich mit
konventionellen Systemen. Obwohl dieses Verfahren vorliegend
hauptsächlich anhand seiner bevorzugten Anwendung auf Zwei-
Mode-Laser oder Zwei-Schwingungstyp-Laser beschrieben und er
läutert wird, ist es jedoch genauso gut direkt auf Multi-
Mode-Laser oder Mehrfach-Schwingungstyp-Laser anwendbar.
Die vorstehenden sowie weitere Vorteile und Merkmale der Er
findung seien nachfolgend unter Bezugnahme auf die Figuren
der Zeichnung anhand einiger besonders bevorzugter Ausfüh
rungsformen des Verfahrens nach der Erfindung und des erfin
dungsgemäßen Interferometers näher beschrieben und erläutert;
es zeigen
Fig. 1A bis 1D Kurvendarstellungen, welche die Mode-Kon
kurrenz oder Schwingungstyp-Konkurrenz und die
Mode-Drift oder Schwingungstypen-Drift veranschau
lichen, die sich mit der Laserröhrenlänge ändert;
Fig. 2 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform eines
erfindungsgemäßen Zählungs-Umschaltungs-Interfero
meters mit Mode- oder Schwingungstypen-Trennung
bei der Detektion;
Fig. 3 ein optisches Schema einer Ausführungsform eines
erfindungsgemäßen Zählungs-Umschaltungs-Interfero
meters mit Polarisationsmode- oder Polisations
schwingungstyp-Trennung bei der Detektion;
Fig. 4 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der Zäh
lungs-Umschaltungs-Elektronik gemäß der Erfindung;
und
Fig. 5 eine Darstellung der Verwendung eines Zählungs-
Umschaltungs-Interferometers gemäß einer Ausfüh
rungsform der Erfindung als eine Meßeinrichtung in
einer genauen geschlossenschleifigen Steuerung
oder Regelung der Bewegung einer Translations-
oder Übersetzungsstufe, -bühne, -plattform, o. dgl.
Es seien nun bevorzugte Ausführungsformen des Verfahrens und
der Einrichtung nach der Erfindung näher beschrieben und er
läutert:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Sy
stem zum hochgradigen Verlängern der effektiven Kohärenz
länge von nicht-stabilisierten Lasern, die in interferometri
schen Zweistrahleinrichtungen verwendet werden. Das Verfahren
wird zunächst für einen Zwei-Mode-Laser oder Zwei-Schwingungs
typ-Laser beschrieben und dann auf Multimode-Laser oder Mehr
fachschwingungstyp-Laser ausgedehnt.
Das Verfahren, welches Gegenstand der vorliegenden Erfindung
ist, ist dazu entworfen worden, daß Mode- oder Schwingungstyp-
Konkurrenzproblem, auf das oben Bezug genommen worden ist, zu
überwinden, und dieses Verfahren ist gleichbedeutend mit der
Trennung der Interferenzstreifensysteme der beiden Moden oder
Schwingungstypen in dem gesamten interferometrischen Signal
vor der Detektion (Decodierung der individuellen Mode- oder
Schwingungstypsignale in dem gesamten Signal) und Verwendung
der stärkeren Mode oder des stärkeren Schwingungstyps für
die Interferenzstreifenzählung. Als Ergebnis hiervon erhält
man keine Kontamination des Interferenzstreifenbilds durch
dasjenige der zweiten Mode oder des zweiten Schwingungstyps
(und demgemäß keinen Verlust an Kontrast), und die Intensi
tät der Mode oder des Schwingungstyps, die bzw. das für die
Zählung verwendet wird, ist stets oberhalb eines gewissen
oder vorbestimmten Minimums. Daher wird die effektive Kohä
renzlänge des Lasers in dem Interferometer in hohem Maße ver
größert. Zusätzlich wird eine signifikante Erhöhung der Ge
nauigkeit im Vergleich mit einem konventionellen Interfero
meter, in dem ein nicht-stabilisierter Laser verwendet wird,
erzielt.
Ein Blockschaltbild, das eine Ausführungsform der Erfindung
veranschaulicht, ist in Fig. 2 für die optische Anordnung
vom Michelson-Typ gezeigt. Hier ist 201 der Strahl oder das
Bündel, der bzw. das von einem nicht-stabilisierten Zwei-
Mode- oder Zwei-Schwingungstyp-Laser emittiert wird; 202 ist
ein Strahl- oder Bündelteiler, welcher den ursprünglichen
Laserstrahl oder das ursprüngliche Laserbündel in zwei Strah
len oder Bündel auftrennt: einen Referenzstrahl oder ein Re
ferenzbündel 203 und einen Meßstrahl oder ein Meßbündel 204;
205 und 206 sind Spiegel, welche die Strahlen oder Bündel
203 und 204 reflektieren, um sie in dem Interferenzstrahl
oder -bündel 207 wieder zu kombinieren; 208 ist eine Mode-
oder Schwingungstyp-Trennkomponente, welche den Interferenz
strahl oder das Interferenzbündel 207 in zwei Strahlen oder
Bündel 209 und 210 teilt, wobei jeder Strahl oder jedes Bün
del das Inferenzbild einer gesonderten individuellen Mode
oder eines gesonderten individuellen Schwingungstyps trägt
oder enthält; 211 und 212 sind elektro-optische Zähldetek
toren, die Interferenzstreifen-Zählungen für jede Mode oder
jeden Schwingungstyp erzeugen, wann immer das möglich ist;
und 213 ist ein Mode- oder Frequenztyp-Wähler, welcher die
Zählungen der optimalen Mode oder des optimalen Schwingungs
typs zu dem Hauptzähler 214 durchläßt.
Aus Abkürzungsgründen wird nachfolgend der Begriff "Schwingungs
typ" zusammenfassend für die beiden Begriffe "Mode" und
"Schwingungstyp" sowie "Schwingungsart" verwendet; weiterhin
wird nachfolgend der Begriff "Bündel", sofern sich aus dem
Zusammenhang nichts Abweichendes ergibt, zusammenfassend für
die Begriffe "Strahl" und "Bündel" verwendet.
Generell kann eine Decodierung (Trennung der Signale der indi
viduellen Schwingungstypen bei der Detektion) auf der Basis
der Polarisation, der Wellenlänge oder irgendeiner anderen
beobachtbaren Charakteristik oder irgendeines anderen beob
achtbaren Kennwerts des Bündels durchgeführt werden.
Eine Polarisationstrennung der Schwingungstypen zieht Vor
teil aus der Tatsache, daß die beiden Schwingungstypen eines
nicht-polarisierten Zwei-Schwingungstyp-Lasers in orthogona
len Richtungen polarisiert sind. Theoretisch werden die Rich
tungen der beiden Polarisationen statistisch beim Einschal
ten des Lasers eingestellt. In der Praxis jedoch kommt es
wegen der unvermeidbaren Anisotropie des in Resonanz befind
lichen Hohlraums oder Resonanzhohlraums, unabhängig davon
wie klein diese ist, dazu, daß diese Polarisationsrichtungen
stets dieselben für eine gegebene Röhre sind und ein für alle
mal gemessen werden können und demgemäß die Basis für eine
Schwingungstyp-Trennung zur Verfügung stellen. Zum Beispiel
kann ein polarisierender Strahl- oder Bündelteiler, der in
den Weg des Laserbündels eingefügt ist, in einer solchen Art
und Weise ausgerichtet sein (oder in äquivalenter Weise kann
bei gegebener Ausrichtung des polarisierenden Strahl- oder
Bündelteilers der Laser um seine Achse gedreht werden), daß
die Polarisationsrichtungen des Strahl- oder Bündelteilers
parallel zu denjenigen der Laser-Schwingungstypen sind und
demgemäß jedes der Bündel einen unterschiedlichen Schwingungs
typ enthält.
In der Wellenlängentrennung kann man von der Tatsache Gebrauch
machen, daß der Wellenlängenabstand der Schwingungstypen in
einem Laser Δλ = λ²/(2L) ist, worin λ die mittlere Wellen
länge und L die Länge der Laserröhre bedeuten. Dieses kann
im Prinzip mittels irgendeines Instruments ausgenutzt werden,
das in der Hochauflösungsspektroskopie verwendet wird, wie
beispielsweise mittels eines Beugungsgitters oder -rasters,
worin jede Wellenlänge in einem unterschiedlichen Winkel
gebeugt wird und beispielsweise Spaltöffnungen dazu benutzt
werden, den Schwingungstyp in der Mitte (Fig. 1A) sowie die
außermittigen Schwingungstypen (Fig. 1B) zu selektieren.
Es ist in gleicher Weise möglich, Fabry-Perot-Etalone mit
angemessener Finesse zu benutzen, die so abgestimmt sind,
daß sie die mittige Wellenlänge (Fig. 1A) und die außer
mittigen Wellenlängen (Fig. 1B) übertragen.
Im Prinzip kann die Schwingungstyp-Trennung auch auf irgend
einer anderen beobachtbaren Charakteristik oder irgendeinem
anderen beobachtbaren Kennwert des Bündels basieren. Zum
Beispiel ist es möglich, die von dem Laser emittierten
Schwingungstypen in der Polarisation, der Intensität oder
der Amplitude zu modulieren und die Schwingungstypen bei der
Detektion durch eine geeignete elektronische Demodulation
zu trennen.
Wegen der Frequenzdifferenz (und der Wellenlängendifferenz)
zwischen den Schwingungstypen gibt es eine Änderung in der
Anzahl der Wellenlängen pro optischer Wegdifferenz und dem
gemäß gibt es eine "Phasenverschiebung" zwischen den Inter
ferenzstreifensystemen der beiden Schwingungstypen, welche,
wenn sie unkorrigiert bleibt, eine diskontinuierliche Ände
rung in der Zählung im Umschaltmoment zur Folge haben könn
te. Zum Beispiel beträgt diese Phasenverschiebung in dem
problematischen Halb-Röhren-Längen-Punkt 180°, und es wird
im Umschaltmoment ein halber Impuls gewonnen (oder verloren).
Bei Schwankungen der Laserröhrenlänge wird die Zählung zwi
schen den beiden Schwinungstypen hin- und hergeschaltet, und
es ist denkbar, daß sich dieser Diskontinuitätsfehler akku
mulieren kann. Da jedoch die Intensitäten der beiden
Schwingungstypen im Augenblick der Zählungs-Umschaltung fast
gleich und beide Detektionssysteme 211 und 212 fähig sind,
Zählungen bzw. Zählwerte zu erzeugen, kann diese relative
"Phasenverschiebung" zwischen den Schwingungstypen im Um
schaltmoment leicht bestimmt werden, und es kann eine die
Zählung korrigierende Differenz zu der Gesamtzahl der Impul
se in dem Hauptzähler 214 hinzugefügt werden, so daß auf die
se Weise die obige Diskontinuität ausgeschaltet wird. Im Er
gebnis ist die Zählungs-Diskontinuität gleich einem Bruch
teil von D/(2L), worin L die Röhrenlänge und D die optische
Wegdifferenz zwischen den beiden Interferometerbündeln oder
-strahlen ist.
Es sei zur Erläuterung auf Fig. 1 Bezug genommen, wonach es
so ist, daß im Falle der Fig. 1A der S-Schwingungstyp, der dicht
an der Mitte des Doppler-Emissionsprofils liegt, viel stär
ker als der andere Schwingungstyp ist, und daher zum Zählen
gewählt wird. Bei Temperaturschwankungen driften die
Schwingungstypen (es sei angenommen, nach links) und können
in der Intensität vergleichbar werden (Fig. 1B). Bei weite
rer Drift wird der P-Schwingungstyp stärker als der S-
Schwingungstyp, und die Zählung wird auf diesen Schwingungs
typ umgeschaltet. Wenn die Drift beziehungsweise das Driften
in der gleichen Richtung weitergeht, dann wird schließlich
der ursprüngliche S-Schwingungstyp so weit wandern, daß er
außerhalb der Grenzen der Doppler-Kurve zu liegen kommt (und
zum Erlöschen kommt), und ein anderer S-Schwingungstyp tritt
von rechts in die Grenzen der Doppler-Kurve ein, etc.
Die Genauigkeit des Zählungs-Umschaltungs-Interferometers
wird durch die maximale Variation der Wellenlänge des für
die Zählung benutzten Schwingungstyps begrenzt, das heißt
durch die maximale Abweichung der Wellenlänge eines
Schwingungstyps von derjenigen Wellenlänge, welche der Mitte
der Emissionslinie entspricht. Es ist klar, daß diese Ab
weichung den halben Abstand zwischen den Schwingungstypen
nicht übersteigen kann, so daß die relative Genauigkeit
besser als λ/(4L) ist, das heißt besser als 10-6. Das ist
bereits eine signifikante Verbesserung gegenüber einem kon
ventionellen Interferometer mit einem nicht-stabilisierten
Laser, in dem die Variation der Wellenlänge eines Schwingungs
typs durch die Doppler-Kurve selbst beschränkt ist. Da je
doch in der Situation (Fig. 1B), in welcher die Schwingungs
typ-Abweichung am größten ist, beide Schwingungstypen vorhan
den und fähig sind, Zählungen bzw. Zählwerte zu erzeugen,
ist es möglich, die Zählungen bzw. Zählwerte in dem S- und
P-Schwingungstyp einer Mittelwertbildung zu unterziehen, um
die Wellenlängenungewißheit sogar noch weiter zu reduzieren.
Das Verfahren der Zählungs-Umschaltung kann auch auf Drei-
Schwingungstyp-Laser und allgemein auf Multi- oder Mehr
schwingungstyp-Laser angewandt werden, und zwar insbesondere auf
der Basis der Wellenlängendecodierung oder der Polarisations
decodierung. Im letzteren Falle macht man von der Tatsache
Gebrauch, daß die Polarisationen der benachbarten Schwingungs
typen orthogonal sind. Der einzige Unterschied, der hier
gegenüber dem Zwei-Schwingungstyp-Fall vorhanden ist, be
steht darin, daß das Interferenzstreifenbild, das für eine
gegebene Polarisation erhalten wird, die Signale von all den
Schwingungstypen enthält, die durch diese Polarisation ge
kennzeichnet sind. Da jedoch der Abstand zwischen den Schwin
gungstypen, welche gleiche Polarisation in einem nicht-pola
risierten Laser haben, relativ groß ist (das Zweifache des
Schwingungstyp-Abstands), beobachtet man das resultierende
Interfernzstreifenbild in einer gegebenen Polarisation als
das Interferenzstreifenbild des stärksten Schwingungstyps
mit nur einem kleinen Verlust an Kontrast, verursacht durch die Gegen
wart der anderen Schwingungstypen. Wenn zum Beispiel im Fall
eines Drei-Schwingungstyp-Lasers einer der drei Schwingungs
typen dicht an der Mitte der Doppler-Kurve liegt (der S1-
Schwingstyp in Fig. 1C), dann wird zwar sein Interferenz
streifenbild durch dasjenige des S2-Schwingungstyps kontami
niert. Jedoch ist die Intensität des S2-Schwingungstyps be
trächtlich kleiner als diejenige des S1-Schwingungstyps, so
daß seine Wirkung auf den Interferenzstreifenkontrast mini
mal ist. In dem Fall, in welchem die Intensitäten der beiden
S-Schwingungstypen vergleichbar sind (Fig. 1D), ist es der
P-Schwingungstyp, der am stärksten ist und demgemäß für die Zäh
lung benutzt wird. Die maximale Zahl von Schwingungstypen, die
mittels des Verfahrens der Zählungs-Umschaltung mit der Pola
risationstechnik aufgenommen werden kann, hängt von der ge
nauen Form des Emissionsprofils ab und kann vier übersteigen.
Es ist in diesem Fall zu beachten, daß sich wegen eines klei
neren Schwingungstyp-Abstands ein entsprechender Gewinn in
der Genauigkeit im Vergleich mit kürzeren Röhren ergibt.
Das Verfahren der Zählungs-Umschaltung ist in keiner Weise
auf das optische Twyman-Green-Schema beschränkt und kann auf
jedes Zweistrahl-Interferometer mit einem nicht-stabilisier
ten Laser angewandt werden, wo es wünschenswert ist, den op
tischen Wegunterschied in den beiden Bündeln zu verlängern.
Es seien nun Beispiele von bevorzugten Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung in näheren Einzelheiten beschrieben
und erläutert:
Eine bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
ist in den Fig. 3 und 4 veranschaulicht, worin das Ver
fahren der Zählungs-Umschaltung mit Polarisationstrennung
der Schwingungstypen für ein Twyman-Green-Interferometer
zur Messung von Verlagerungen, Verschiebungen u. dgl. ausge
führt ist. Das optische Schema ist in Fig. 3 veranschau
licht, worin folgende Komponenten enthalten sind: 301 ist
ein Kurzröhren-Gaslaser, wie beispielsweise ein solcher,
der die 7647-HeNe-Röhre von Siemens hat; 302 ist ein "Haupt"-
Strahl- oder -Bündelteiler, der das Hauptlaserbündel in ein
Bezugsbündel und ein Meßbündel trennt; 303 ist ein Retro
reflektor für das Bezugsbündel, der relativ zu dem Haupt-
Bündelteiler 302 fixiert oder ortsfest ist; 304 ist ein
Fernretroreflektor in dem Meßweg, dessen Bewegung die zu
messende Verlagerung oder Verschiebung definiert (der Bündel
teiler 302 wird so genommen, daß er nicht polarisiert, und
daher enthält sowohl das Bezugsbündel als auch das Meßbündel
jeweils beide Polarisationen); 305 und 306 sind polarisie
rende Strahl- oder Bündelteiler in den Wegen der beiden
wiederkombinierten Bündeln, die von dem Hauptbündelteiler
302 austreten, wobei jeder ein kombiniertes Interferenz
streifenbild trägt bzw. enthält; 307 bis 310 sind Photode
tektoren (wie beispielsweise PIN-Photodioden) zum Registrie
ren der Intensität der Interferenzstreifensignale; 311 ist
ein zusätzlicher polarisierender Strahl- oder Bündelteiler,
der in den Weg des Bündels eingefügt ist, das von dem Rück
spiegel des Lasers emittiert wird (anstatt daß ein Teil des
Hauptbündels abgeteilt wird); und 312 sowie 313 sind zwei
zusätzliche Photodetektoren. Der Hauptbündelteiler 302 ist
vorteilhafterweise so eingerichtet, daß er Absorption be
sitzt, so daß die Interferenzstreifenbilder in den beiden wie
derkombinierten oder -vereinigten Bündeln (welche in die po
larisierenden Bündelteiler 305 und 306 eintreten) in ihrer
Phase mit Bezug aufeinander verschoben werden. Die Phasenver
schiebung hängt von dem Betrag an Absorption ab und ist
idealerweise 90°, so daß die entsprechenden Signale in Qua
dratur für elektronische Zweirichtungs-Interferenzstreifen
zählung verwendet werden können.
Die polarisierenden Bündelteiler 305, 306 und 311 sind so
ausgerichtet, daß sie die beiden Polarisationen der beiden
Laser-Schwingungstypen, die S und P genannt seien, trennen,
und es ist ein Photodetektor für jede Polarisation in jedem
getrennten Bündel vorgesehen. Um es noch konkreter zu sagen,
sei angenommen, daß die Photodetektoren 307, 310 und 313 die
P-polarisierte Komponente der Bündel empfangen, und daß die
Photodetektoren 308, 309 und 312 die S-polarisierte Kompo
nente der Bündel empfangen. Als Ergebnis hiervon gibt es
zwei elektro-optische Interferenzstreifen-Zählungs-Anord
nungen: die Photodetektoren 307 und 310 für Zweirichtungs-
Zählung in dem P-polarisierten Schwingungstyp, wobei jeder
die P-polarisierte Komponente der beiden wiedervereinigten
Bündel empfängt, deren Interferenzstreifenbilder, wie vorher,
um 90° in Phase mit Bezug aufeinander verschoben sind (Signa
le in Quadratur); und die Photodetektoren 308 und 309 dienen zur
Zweirichtungs-Zählung in dem S-Schwingungstyp. Die Photode
tektoren 312 und 313, die in den Weg des Bündels eingefügt
sind, das von dem Rückspiegel des Lasers emittiert wird, mes
sen die Intensität des P- und S-Schwingungstyps, und ihre Si
gnale werden dazu benutzt, das Umschalten der Zählung oder
des Zählens auf einen stärkeren Schwingungstyp, wann immer
das notwendig ist, zu steuern. (Es ist auch möglich, das Um
schalten auf der Basis des maximalen Kontrasts der Interfe
renzstreifensignale zu steuern.) Die gemessene Verlagerung,
insbesondere Verschiebung, wird als eine Anzahl von Impulsen,
multipliziert mit λ/2 erhalten.
Ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der Zählungs-Um
schaltungs-Elektronik ist in Fig. 4 gezeigt. Hier sind 401,
402 sowie 403, 404 die beiden Signalpaare von dem S- und P-
Photodetektorpaar 308, 309 und 307, 310, wobei die Inter
ferenzsignale in jedem Paar um ∼90° relativ zueinander (in
Quadratur) verschoben sind, wie oben erläutert; 411 und 412
sind Zweirichtungs-Zähler für den P- und S-Schwingungstyp;
405 und 406 sind Schwingungstyp-Intensität-Signale, die von
den Photodetektoren 312 und 313 erzeugt und in den Intensi
tätskomparator oder -vergleicher 410 eingegeben werden; 413
ist der Schwingungstyp-Wähler, der die Zählungen bzw. Zähl
werte des stärkeren Schwingungstyps zu dem Hauptzähler 415
durchläßt und ein Schwingungstyp-Umschalt-Triggersignal für
den Zählungs-Korrigierer oder -Korrektor 414 erzeugt; schließ
lich berechnet der Zählwert-Korrigierer 414 die Zählwert
korrekturdifferenz und addiert sie beim Empfangen des Trig
gersignals von dem Schwingungstyp-Wähler 413 zu der Gesamt
zahl der Impulse im Hauptzähler 415. Um ein mögliches schnel
les "Hüpfen" des Wählers 413 von einem Schwingungstyp zum an
deren in dem Fall zu verhindern, in welchem die Intensitäten
der beiden Schwingungstypen angenähert gleich sind (wie in
Fig. 1B), ist dem Schwingungstyp-Wähler 413 ein einfaches
Hysteresegesetz aufgeprägt, durch das bewirkt wird, daß der
Schwingungstyp-Umschalter nur umschaltet, wenn oder nachdem
die Intensitäts-Differenz einen gewissen Schwellenwert über
schreitet.
Bei einer leichten Abwandlung der Elektronik kann die glei
che Anordnung eine Mittelwertbildung des Zählwerts ausführen,
um die Genauigkeit im Falle der Fig. 1B zu erhöhen. Wann
immer nämlich beide Intensitätssignale 405 und 406 den er
forderlichen Schwellwert überschreiten, werden die Zählwerte
der P- und S-Zähler 411 und 412 einer Mittelwertbildung unter
worfen, bevor sie zu dem Hauptzähler 415 durchgelassen werden.
In diesem Falle bewältigen der Schwingungstyp-Wähler 413 und
der Zählwert-Korrigierer 414 drei mögliche Situationen: S-
Schwingungstyp allein, P-Schwingungstyp allein,sowie S- und
P-Schwingungstyp gemittelt, und zwar mit zwei möglichen Zäh
lungs-Umschaltungen: S ↔ SP und SP ↔ P.
Eine mögliche Anwendung des Entfernungsmeßinterferometers ist
schematisch in Fig. 5 gezeigt, welche die Verwendung eines
Zählungs-Umschaltungs-Interferometers als Verlagerungs-Auf
löser zum Kontrollieren oder Steuern einer linearen Trans
lationsstufe veranschaulicht. Hier ist ein entfernter Retro
reflektor 51 auf dem Laufwerk 52 der Translationsstufe ange
bracht; 55 ist der Laser; 53 ist der Rest des Interferometers,
der auf dem unbeweglichen Teil der Translationsstufe ange
bracht ist; und 54 ist ein Bewegungsantrieb oder Servomotor
o. dgl., der auf der Basis des von dem Interferometer 53 er
zeugten Signals servogesteuert wird.
Im Rahmen der Entwicklungsarbeiten, die in Zusammenhang mit der
vorliegenden Erfindung durchgeführt wurden, wurde eine Proto
typeinrichtung der in Fig. 5 gezeigten Art gebaut, wobei
das optische Schema, das in Fig. 3 dargestellt ist, ausge
führt wurde, und welche Prototypeinrichtung die Zählungs-
Umschaltungs-Elektronik gemäß Fig. 4 hatte. Die Einrichtung
wurde auf der Basis einer 7647-Laserröhre von Siemens gebaut
und hatte einen Meßbereich von 800 mm. Die Meßgenauigkeit
war, wie über ein SZLl50-Interferometer von Spindler & Hoyer
getestet worden ist, 1 µm pro Meter. Wenn die gleiche Einrich
tung als ein konventionelles Interferometer ohne Zählungs-Um
schaltung betrieben wird, dann fällt die Meßgenauigkeit auf
∼2,5 µm/m ab, und der Meßbereich wird um mehr als das Zehn
fache reduziert, was den Kontrast zur vorliegenden Erfindung
veranschaulicht. Wenn sich der Meßbereich ∼75 mm annähert,
kommt es nämlich dazu, daß der Interferenzstreifenkontrast
periodisch verschwindet (und wieder erscheint), wie tat
sächlich aus theoretischen Betrachtungen heraus beim o. a.
konventionellen Interferometer zu erwarten ist.
Mit der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum hoch
gradigen Verlängern der effektiven Kohärenzlänge von nicht
stabilisierten Lasern zur Verfügung gestellt, das es ermög
licht, dieselben in Interferometern mit großen optischen Weg
differenzen anzuwenden. Die als ein Beispiel beschriebene
Ausführungsform umfaßt ein robustes Twyman-Green-Interfero
meter für genaue Messungen von ausgedehnten Verlagerungen,
insbesondere Verschiebungen.
Claims (12)
1. Verfahren zum hochgradigen Erhöhen der effektiven
Kohärenzlänge von nicht-stabilisierten Mehr-Schwingungstyp-
Lasern in interferometrischen Zweistrahleinrichtungen, um
fassend: Decodieren des interferometrischen Gesamtsignals
so, daß die individuellen Streifen- bzw. Interferenzstreifen
signale der Laser-Schwingungstypen bei der Detektion getrennt
werden; Auswählen des optimalen Signals für die Zählung; Um
schalten der Streifen- bzw. Interferenzstreifenzählung, wann
immer das notwendig ist, auf das optimale individuelle Signal
entsprechend angemessenen Optimalisierungskriterien; und Kor
rigieren der Zählung im Umschaltmoment, um hinsichtlich der
Wellenlängendifferenz zwischen den Schwingungstypen zu kom
pensieren.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Trennung der Signale der indivi
duellen Laser-Schwingungstypen auf Polarisation, Wellen
länge und/oder einer anderen beobachtbaren Schwingungstyp
charakteristik bzw. eines anderen beobachtbaren Schwingungs
typ-Kennwerts basiert.
3. "Zählung-Umschaltungs"-Interferometer mit erwei
tertem Meßbereich, basierend auf dem Verfahren nach Anspruch
1 und/oder 2, umfassend: einen nicht-stabilisierten Kurz
röhren-Zwei-Schwingungstyp-Gaslaser (55; 301), wobei die
beiden Schwingungstypen orthogonale Polarisierungen haben;
eine nichtpolarisierende optische Einrichtung (51, 53; 202,
205, 206; 302, 303, 304) zum Aufteilen und Wiedervereinigen
des Laserbündels (201, 203, 204), welches Interferenzmuster
in jeder der Polarisationen erzeugt; eine elektronische Ein
richtung (53; 211, 212; 307 bis 310, 411, 412) zum Detek
tieren der Interferenzmuster und zum Zweirichtungs-Zählen
der entsprechenden Impulse; eine Polarisierungseinrichtung
(53; 208; 305, 306) zur optischen Trennung der individuellen
Interferenzmuster vor der Detektion; eine elektronische Ein
richtung (53; 213; 312, 313, 413) zum Auswählen desjenigen
Signals, welches das optimale Interferenzmuster erzeugt, und
zum Umschalten der Zählung auf das optimale Signal; eine
elektronische Einrichtung (53; 214; 414) zum Korrigieren
der Zählung in dem Moment der Zählungsumschaltung; und eine
elektronische Einrichtung (53; 214; 414) zum Berechnen der
Verlagerung auf der Basis der Zweirichtungs-Zählungen.
4. Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach Anspruch
3, dadurch gekennzeichnet, daß das Zählungs
korrektursytem (53; 214; 414) Mittel oder eine Einrichtung
zur Zählungsmittlung oder Zählwertmittelwertbildung in den
beiden Polarisationen in der Situation, in welcher beide Si
gnale vorhanden sind, aufweist, um die Genauigkeit zu ver
bessern.
5. Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach Anspruch
3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der
nicht-polarisierte Laser (55; 301) in drei oder mehr Schwin
gungstypen emittiert.
6. Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach Anspruch
3, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß das
optische Schema oder System auf dem Twyman-Green-Schema oder
-System basiert.
7. Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach einem
der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das optische Schema oder System zu einem oder mehreren
anderen Zweistrahl-Interferometern gehört.
8. Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach einem
der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Trennung der Schwingungstypen auf Polarisa
tion, Wellenlänge und/oder einer anderen Charakteristik oder
einem anderen Kennwert der Schwingungstypen basiert.
9. Verlagerungs-Meßeinrichtung, basierend auf dem
Zählungs-Umschaltungs-Interferometer nach einem oder mehreren
der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die in Frage stehende Verlagerung durch die Änderung der
optischen Wegdifferenz in den beiden Interferometerbündeln
bzw. -strahlen (203, 204) definiert ist.
10. Einrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein mechanisches System eine Drehbe
wegung in eine Linearbewegung zur hochgenauen Messung von
ausgedehnten oder verlängerten Drehverlagerungen umwandelt.
11. Einrichtung nach Anspruch 9 und/oder 10, dadurch
gekennzeichnet, daß ein mechanisches System
eine nichtlineare Bewegung in eine lineare Bewegung zur hoch
genauen Messung von ausgedehnten oder verlängerten nichtlinea
ren Verlagerungen umwandelt.
12. Meßeinrichtung, dadurch gekennzeich
net, daß sie das Zählungs-Umschaltungs-Interferometer
nach einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 8 enthält, ins
besondere daß ein solches Zählungs-Umschaltungs-Interfero
meter darin eingebaut ist, wobei die zu messende Quantität
oder Größe auf der Basis der Änderung in der optischen Weg
differenz in den beiden Interferometerbündeln oder -strahlen
(203, 204) erhalten wird.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IL94429A IL94429A (en) | 1990-05-17 | 1990-05-17 | Interferometric measurement |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4116039A1 true DE4116039A1 (de) | 1991-11-21 |
Family
ID=11061220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4116039A Ceased DE4116039A1 (de) | 1990-05-17 | 1991-05-16 | Interferometrisches verfahren und interferometer zur durchfuehrung desselben |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5189489A (de) |
| DE (1) | DE4116039A1 (de) |
| FR (1) | FR2662243B3 (de) |
| GB (1) | GB2244808B (de) |
| IL (1) | IL94429A (de) |
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- 1991-05-16 FR FR919105964A patent/FR2662243B3/fr not_active Expired - Lifetime
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8131 | Rejection |