DE3616595A1 - Schaltungsanordnung fuer das tiegelfreie zonenziehen von halbleiterstaeben - Google Patents
Schaltungsanordnung fuer das tiegelfreie zonenziehen von halbleiterstaebenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für das
tiegelfreie Zonenziehen von Halbleiterstäben mit den
Merkmalen:
- a) ein Schwingkreiskondensator liegt parallel zu einer Reihenschaltung einer Schwingkreisspule und einem Heizparallelschwingkreis;
- b) der Heizparallelschwingkreis besteht aus einem Heizkreiskondensator und einer geerdeten Induktionsheizspule;
- c) die Schwingkreisspule hat im Vergleich zur Induktionsheizspule eine große Induktivität;
- d) der Knotenpunkt zwischen Schwingkreisspule und Schwingkreiskondensator ist an eine Ausgangsklemme eines Hf-Generators angekoppelt;
Beim tiegelfreien Zonenziehverfahren wird ein kristalliner
Halbleiterstab, vorzugsweise ein Siliciumstab, an
seinen beiden Enden eingespannt und senkrecht gehaltert.
Die beiden Halterungen, die z. B. an lotrechten Wellen
befestigt sind, können um ihre Achsen gedreht werden
und - wenn z. B. der Stabquerschnitt beim Zonenschmelzen
verändert werden soll - in vertikaler Richtung verschoben
werden. Um eine Schmelzzone im Halbleiterstab zu erzeugen,
wird ein Teil des Halbleiterstabes von einer Induktionsheizspule
ringförmig umgeben. Fließt durch diese
Induktionsheizspule ein hochfrequenter Wechelstrom, so
erzeugt das von der Induktionsheizspule gebildet hochfrequente
Wechselfeld infolge der im Halbleiterstab auftretenden
Wirbelströme eine Schmelzzone. Um die Schmelzzone
durch den Halbleiterstab der Länge nach hindurchzuführen,
können entweder bei feststehender Induktionsheizspule
die obere und die untere Stabhalterung parallel zur
Ziehachse verschoben werden oder aber die Induktionsheizspule
selbst ist axial verschiebbar angeordnet.
Beim Herstellen von einkristallinen Halbleiterstäben
wird zu Beginn des tiegelfreien Zonenziehverfahrens ein
einkristalliner Keimkristall an den Halbleiterstab angeschmolzen.
Der Durchmesser des Keimkristalles ist im allgemeinen
ein Vielfaches kleiner als der des zu ziehenden
Halbleiterstabes. Man sieht deshalb zu Beginn des Zonenziehverfahrens
einen allmählichen anwachsenden Durchmesser
der Schmelzzone vor. Damit wird zwischen Keimkristalldurchmesser
und dem Durchmesser des auskristallisierenden
Einkristalls ein konischer Übergang erzielt.
Die Induktivität der Induktionsheizspule, deren Abmessungen
während des gesamten Zonenziehvorganges nicht verändert
werden, verkleinert sich mit zunehmender Last, daß
heißt mit zunehmendem Durchmesser der Schmelzzone. Die
Änderung von Induktivität und Güte mit wachsendem Durchmesser
der Schmelzzone hat erhebliche Änderungen des in
der Schmelzzone erzeugten Stromes zur Folge.
In der deutschen Offenlegungsschrift 29 38 348 ist eine
Schaltungsanordnung eines Hf-Generators für das tiegelfreie
Zonenziehen beschrieben. Die einzelnen Schaltungsteile
müssen nicht gekühlt werden. Der Ausgang eines
Hf-Generators ist über einen Koppelkondensator mit einem
Parallelschwingkreis verbunden, der aus einem Schwingkreiskondensator
und einer Reihenschaltung aus Schwingkreisspule
und Induktionsheizspule besteht. Die Schwingkreisspule
hat im Vergleich zur Induktionsheizspule eine
große Induktivität. Zusätzlich ist der Induktionsheizspule
ein Heizkreiskondensator mit relativ großer Kapazität
parallel geschaltet. Der Heizkreiskondensator dieses
Heizparallelkreises ist so dimensioniert, daß dessen
Resonanzfrequenz fs um weniger als den Faktor 2 von der
Frequenz fp (z. B. zwischen 1 und 5 MHz) des Hf-Generators
abweicht. Durch diese Maßnahme wird die Schaltungsanordnung
unkritisch gegenüber Laständerungen, die beim
Ziehen von Halbleiterstäben mit Durchmessern größer als
50 mm hervorgerufen werden. Zusätzlich hat die Schaltungsanordnung
dazu beigetragen, das Auftreten von Spannungsspitzen
und dadurch von Spannungsüberschlägen im Bereich
der Induktionsheizspule zu vermindern, die die Zonenschmelzanlage
beschädigen könnten.
Sollen kristalline Halbleiterstäbe mit Durchmessern
größer als 100 mm durch das tiegelfreie Zonenziehverfahren
und unter Verwendung des in der deutschen Offenlegungsschrift
29 38 348 beschriebenen Hf-Generators hergestellt
werden, so hat sich gezeigt, daß infolge der großen Laständerung
in der Induktionsheizspule der Wirkungsgrad des
Hf-Generatorsystems sinkt und keine optimale Auskopplung
der Anodenwechselspannung an den Heizparallelkreis erreicht
wird.
Der vorliegenden Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde,
die in der deutschen Offenlegungsschrift
29 38 348 beschriebene Schaltungsanordnung so weiterzubilden,
daß der Hf-Generator für das tiegelfreie Zonenziehen
von Siliciumstäben mit großen Durchmessern, z. B.
größer als 100 mm, bezüglich einer Laständerung unkritisch
ist und einen guten Wirkungsgrad aufweist.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des
Anspruchs 1 gelöst.
Die Erfindung wird anhand der Fig. 1 bis 3 näher erläutert.
Es zeigen
Fig. 1 die Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung mit
einseitig geerdeter Induktionsheizspule,
Fig. 2 den Frequenzgang der Schaltungsanordnung bezüglich
der Klemmen a a′ und
Fig. 3 die Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung mit
Mittelerdung der Induktionsheizspule.
Die Schaltungsanordnung nach Fig. 1 enthält einen der
Einfachheit halber nur als Triode dargestellten Hf-Generator,
dessen Ausgang über einen Koppelkondensator 2
mit einem Parallelschwingkreis verbunden ist, der aus
einem Schwingkreiskondensator 3 mit einstellbarer Kapazität
und einer Serienschaltung von Schwingkreisspule 4
und Induktionsheizspule 5 besteht. Die Schwingkreisspule
4 hat eine große Induktivität im Vergleich zur
Induktionsheizspule 5, die z. B. einwindig als geschlitzter
rotationssymmetrischer Hohlkörper ausgeführt sein
kann. Solche Induktionsheizspulen 5 haben eine sehr
geringe Induktivität. Parallel zur Induktionsheizspule 5
ist ein Heizkreiskondensator 6 mit relativ großer Kapazität
parallel geschaltet. Die Kapazität des Heizkreiskondensators
6 ist so bemessen, daß die Resonanzfrequenz des
Heizparallelkreises maximal um den Faktor 2 von der Arbeitsfrequenz
des Generators abweicht.
Die Arbeitsfrequenz fp des Hf-Generators bestimmt sich
im Wesentlichen aus den Werten des Parallelschwingkreises,
also des Schwingkreiskondensator 3 und der Serienschaltung
von Schwingkreisspule 4 und Induktionsheizspule 5.
Läßt man den Koppelkondensator 1 unberücksichtigt, so ist
der Hf-Generator mit einem Reaktanzzweipol gemäß der
Reaktanzzweipolfunktion
an den Klemmen a, a′ abgeschlossen, wenn die einzelnen
Schaltungselemente (C₃, L₄, C₆, L₅) als verlustfrei
angenommen werden. (Es bedeuten in dieser Formel:
C₃= Kapazität des Schwingkreiskondensators,
L₄= Induktivität der Schwingkreisspule,
C₆= Kapazität des Heizkreiskondensators,
L₅= Induktivität der Induktionsheizspule,
p= j 2π f, j = Imaginäre Einheit, f = Frequenz)
In Fig. 2 ist der Frequenzgang, daß heißt die Amplitude
von X(f) bezüglich der Klemmen a, a′ abhängig von der
Frequenz aufgetragen. An den Grenzen zu den Polstellen
der Funktion X(f) ist deutlich der Sprung vom induktiven
zum kapazitiven Verhalten des Reaktanzzweipols zu
erkennen.
Ein Ändern der Induktivität der Induktionsheizspule im
Verlauf des tiegelfreien Zonenziehens ruft einen anderen
Frequenzgang der Reaktanzzweipolfunktion X(p) hervor.
Maximale Leistungsanpassung ist dann möglich, wenn der
Ausgangswiderstand des Hf-Generators auf den Lastwiderstand
transformiert wird. Eine Änderung der Induktivität
bewirkt eine Änderung des Abschlußwiderstandes und damit
eine Fehlanpassung. Mit einer geeigneten Einstellung des
Kapazitätswertes des Schwingkreiskondensators 3 kann die
Induktivitätsänderung der Induktionsheizspule 5 kompensiert
werden.
Theoretisch würde auch eine Änderung des Heizkreiskondensators
6 eine Kompensation der Induktivitätsänderung der
Induktionsheizspule 5 bewirken können, aber aus praktischen
Gründen (die Kapazität des Heizkreiskondensators
muß im 10-8-Faradbereich liegen und ist damit nicht als
einstellbarer Kondensator realisierbar) nicht durchführbar.
Im praktischen Betrieb der Schaltungsanordnung wird z. B.
ein Spannungmeßgerät parallel zur Induktionsheizspule
geschaltet, das bei Laständerung einen Spannungsabfall
gegenüber dem lastlosen Zustand anzeigt. Von Hand oder
motorisch kann z. B. die Kapazität des Schwingkreiskondensators
nachgestellt werden und somit eine optimale
Anpassung erreicht werden.
Um einen hohen Leistungsbereich an der Induktionsheizspule
zur Verfügung zu haben, ist es zusätzlich möglich
die Ausgangsspannung des Hf-Generators variierbar zu
machen. Dies kann z. B. durch einen Thyristorsteller für
die Anodenspannung der Hf-Endstufenröhre geschehen.
In Fig. 3 ist ein zweites Ausführungsbeispiel gezeigt,
das sich von der Schaltungsanordnung in Fig. 1 dadurch
unterscheidet, daß die Induktionsheizspule 5 in Spulenmitte
geerdet ist. Auf das Darstellen der Rückkopplung in
den Fig. 1 und 3 wurde wegen der besseren Übersichtlichkeit
verzichtet. Es ist lediglich aus Stabilitätsgründen der
Schaltungsanordnung zu berücksichtigen, daß die Schaltungselemente
3, 4, 5 und 6 so dimensioniert werden, daß die
zweite Polfrequenz des Schwingkreises keine Rückkopplungsbedingung
hat.
Claims (1)
- Schaltungsanordnung für das tiegelfreie Zonenziehen von Halbleiterstäben mi den Merkmalen:
- a) ein Schwingkreiskondensator liegt parallel zu einer Reihenschaltung einer Schwingkreisspule und einem Heizparallelschwingkreis;
- b) der Heizparallelschwingkreis besteht aus einem Heizkreiskondensator und einer geerdeten Induktionsheizspule;
- c) die Schwingkreisspule hat im Vergleich zur Induktionsheizspule eine große Induktivität;
- d) der Knotenpunkt zwischen Schwingkreisspule und
Schwingkreiskondensator ist an eine Ausgangsklemme
eines Hf-Generators angekoppelt;
gekennzeichnet durch die Merkmale: - e) die Kapazität des Schwingkreiskondensators (2) ist einstellbar;
- f) die Ausgangsspannung des Hf-Generators (1) ist einstellbar.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863616595 DE3616595A1 (de) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | Schaltungsanordnung fuer das tiegelfreie zonenziehen von halbleiterstaeben |
| JP62118067A JPH0640516B2 (ja) | 1986-05-16 | 1987-05-13 | 半導体棒のるつぼ無し帯域溶融のための回路装置 |
| US07/322,749 US4900887A (en) | 1986-05-16 | 1989-03-13 | Floating zone drawing circuitry for semiconductor rods |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863616595 DE3616595A1 (de) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | Schaltungsanordnung fuer das tiegelfreie zonenziehen von halbleiterstaeben |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3616595A1 true DE3616595A1 (de) | 1987-11-19 |
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ID=6301007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19863616595 Withdrawn DE3616595A1 (de) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | Schaltungsanordnung fuer das tiegelfreie zonenziehen von halbleiterstaeben |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
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| DE (1) | DE3616595A1 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4900887A (en) * | 1986-05-16 | 1990-02-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Floating zone drawing circuitry for semiconductor rods |
| DE10328859A1 (de) * | 2003-06-20 | 2005-01-27 | Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen von Einkristallen durch Zonenziehen |
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| JPS5519739A (en) * | 1978-07-28 | 1980-02-12 | Hiroshi Takebayashi | High frequency heating coil device |
| DE2938348A1 (de) * | 1979-09-21 | 1981-04-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und vorrichtung zum herstellen von silicium durch tiegelfreies zonenschmelzen |
-
1986
- 1986-05-16 DE DE19863616595 patent/DE3616595A1/de not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-05-13 JP JP62118067A patent/JPH0640516B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4900887A (en) * | 1986-05-16 | 1990-02-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Floating zone drawing circuitry for semiconductor rods |
| DE10328859A1 (de) * | 2003-06-20 | 2005-01-27 | Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen von Einkristallen durch Zonenziehen |
| DE10328859B4 (de) * | 2003-06-20 | 2007-09-27 | Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen von Einkristallen durch Zonenziehen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62278784A (ja) | 1987-12-03 |
| JPH0640516B2 (ja) | 1994-05-25 |
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