DE3650304T2 - Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. - Google Patents
Betriebsverfahren für eine Ionenfalle.Info
- Publication number
- DE3650304T2 DE3650304T2 DE3650304T DE3650304T DE3650304T2 DE 3650304 T2 DE3650304 T2 DE 3650304T2 DE 3650304 T DE3650304 T DE 3650304T DE 3650304 T DE3650304 T DE 3650304T DE 3650304 T2 DE3650304 T2 DE 3650304T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ions
- mass
- voltage
- trap
- ion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 title claims description 24
- 238000011017 operating method Methods 0.000 title 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 116
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 16
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 9
- LQNUZADURLCDLV-UHFFFAOYSA-N nitrobenzene Chemical compound [O-][N+](=O)C1=CC=CC=C1 LQNUZADURLCDLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 4
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 3
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- -1 nitrobenzene ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/424—Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/0063—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by applying a resonant excitation voltage
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0081—Tandem in time, i.e. using a single spectrometer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
- H01J49/429—Scanning an electric parameter, e.g. voltage amplitude or frequency
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle zur Massenanalyse einer Probe mittels eines Quadrupol-Massenspektrometers nach dem Oberbegriff von Anspruch 1.
- Ein solches Verfahren ist aus dem weiter unten erörterten Artikel von Bonner bekannt.
- Ionenfallen-Massenspektrometer oder Quadrupol-Ionenspeicher sind seit vielen Jahren bekannt und wurden von vielen Autoren beschrieben. Sie sind Vorrichtungen, in denen Ionen in einer physikalischen Struktur mit Hilfe von elektrostatischen Feldern, wie z.B. HF-Feldern oder Gleichstromfeldern oder einer Kombination beider, erzeugt und gespeichert werden. Allgemein wird durch ein elektrisches Quadrupolfeld ein Ionen- Speicherbereich bereitgestellt, indem ein hyperbolischer Elektrodenaufbau oder ein Kugel-Elektodenaufbau verwendet wird, der ein gleichwertiges Quadrupol-Fallenfeld bildet.
- Eine Massenspeicherung wird normalerweise so erreicht, daß Fallenelektroden mit solchen Werten für die HF-Spannung (V) deren Frequenz (f), Gleichspannung (U) und Vorrichtungsabmessung (r&sub0;) betrieben werden, daß Ionen mit Masse/Ladungs- Verhältnissen in einem bestimmten begrenzten Bereich stabil in der Vorrichtung gehalten werden. Die eben genannten Parameter werden manchmal auch Scanning-Parameter genannt, die in einem festen Verhältnis zu den Masse/Ladungs-Verhältnissen der gefangenen Ionen stehen. Gefangene Ionen haben eine ganz bestimmte feststehende Frequenz für einen jeweiligen Wert des Masse/Ladungs-Verhältnisses. Bei einem Verfahren für das Erfassen von Ionen, können diese feststehenden Frequenzen durch eine frequenzverstellbare Schaltung ermittelt werden, die auf die Oszillationsbewegung der Ionen in der Falle eingestellt wird, und dann kann das Masse/Ladungs-Verhältnis mittels eines verbesserten Analyseverfahrens bestimmt werden.
- Obwohl Ionenfallen-Massenspektrometer und Verfahren zu deren Verwendung schon seit relativ langer Zeit bekannt sind, sind sie erst seit kurzem beliebter geworden, da diese Massen- Auswahlverfahren unzureichend und schwer durchzuführen sind und eine geringe Auflösung und einen begrenzten Massebereich haben. Ein neues Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle (US- Patent Nr. US-A-2 939 952 und EP-A-0 113 207) hat die meisten der früheren Beschränkungen überwunden und wird unter der Bezeichnung Ion Trap Detector immer bekannter.
- Ein Verfahren zum Betreiben einer Quadrupol-Ionen-Speicherungsfalle zur Massenanlyse einer Probe nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 ist aus einem Artikel von R.F. Bonner et al. (International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, Band 10, No. 2, Dezember 1972, S. 197 - 203, Elsevier Publishing Co. Amsterdam) bekannt, in dem ein Fallenvolumen in einer Elektronenstruktur mit einer Ringelektrode und zwei Stirnkappen auf beiden Seiten der Ringelektrode, an die eine Gleichspannung und eine Grund-HF-Spannung angelegt werden, wodurch ein dreidimensionales Quadrupolfeld gebildet wird, das zum Gefangenhalten von Ionen in einem vorbestimmten Bereich des Masse/Ladungs-Verhältnisses geeignet ist. Ionen werden in diesem Fallenvolumen gebildet oder in dieses Volumen injiziert, so daß die Ionen in dem vorbestimmten Bereich im Fallenvolumen gefangen gehalten werden.
- Die vorliegende Erfindung ist gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- - Änderung des Quadrupolfeldes zur Eliminierung von Ionen, welche ein Masse/Ladungs-Verhältnis aufweisen, das von dem gewünschten Masse/Ladungs-Verhältnis der zu untersuchenden Ionen abweicht;
- - Neuanpassung des Quadrupolfeldes zum Einfang von Tochterionen der Ionen mit dem gewünschten Masse/Ladungs-Verhältnis;
- - Dissoziation oder Reaktion der gefangenen gewünschten Ionen, so daß innerhalb des gewünschten Bereiches des Masse/Ladungs-Verhältnisses angesiedelte Ionen und Tochter-Ionen im Fallenvolumen gefangen bleiben;
- - Änderung des Quadrupolfeldes mit dem Ziel der Freisetzung der Ionen aus dem Fallenvolumen zur Ermöglichung ihrer Erfassung.
- Durch diese Erfindung wird ein neues Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle in einem Betriebsmodus bereitgestellt, der MS/MS genannt wird. Durch dieses Verfahren wird die Massenanalyse einer Probe ermöglicht, indem Ionen in einer Ionenfalle gebildet und gefangengehalten werden, sie durch eine Masse-Analyseeinrichtung nach Masse ausgewählt werden, sie dissoziiert werden z.B. durch Kollision mit einem Gas oder mit Oberflächen und indem Tochterionen mittels einer Masse- oder Energie-Analyseeinrichtung analysiert werden.
- Hier wird auf die EP-A-0 202 943 hingewiesen, welche die Stammanmeldung zur vorliegenden Teilanmeldung ist.
- Beispiele dieser Erfindung werden nun mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben. Es zeigt:
- Fig. 1 ein vereinfachtes Schema einer Quadrupol-Ionenfalle zusammen mit einem Block-Diagramm damit verbundener elektrischer Schaltungen, die nach einem erfindungsgemäßen Verfahren eingesetzt werden sollen;
- Fig. 2 ein Stabilitätsdiagramm für eine Ionen-Fallen-Vorrichtung des in Fig. 1 gezeigten Typs;
- Fig. 3(A) und 3(B) Spektrogramme, die bei einer Reihe von Versuchen mit einer Nitrobenzolprobe mit dem erfindungsgemäßen Verfahren erstellt wurden;
- Fig. 4 ein Programm, das für einen Fallenfilter-Modus mit einer Zusatz-Spannung verwendet werden kann;
- Fig. 5(A) und 5(B) Spektrogramme, die mit einer Xenonprobe unter Verwendung des Verfahrens von Fig. 4 erstellt wurden;
- Fig. 6(A) bis Fig. 6(D) Spektrogramme, die mit einer Nitrobenzolprobe unter Verwendung des Verfahrens von Fig. 4 erstellt wurden;
- Fig. 7 ein weiteres Programm für einen Ionen-Abtastmodus; und
- Fig. 8(A) bis Fig. 8(D) Spektrogramme einer n-Heptan-Probe, die durch eine Reihe von Experimenten, in denen sowohl das Verfahren von Fig. 4 als auch das Verfahren von Fig. 7 verwendet wurde, erstellt wurden.
- In Fig. 1 ist mit 10 eine drei-dimensionale Ionenfalle, die eine Ring-Elektrode 11 und zwei gegenüberliegende Stirnkappen 12 und 13 aufweist, bezeichnet. Ein Hochfrequenzgenerator 14 ist mit der Ring-Elektrode 11 zur Lieferung einer hochfrequenten Spannung V sin ωt (die Grundspannung) zwischen den Stirnkappen und der Ringelektrode verbunden, wodurch das Quadrupolfeld zum Gefangenhalten von Ionen in dem Ionen-Speicherbereich oder -volumen 16 mit einem Radius r&sub0; und einer vertikalen Abmessung z&sub0;(z&sub0;² = r&sub0;²/2) bereitgestellt wird. Das für das Speichern erforderliche Feld wird gebildet, indem die HF-Spannung zwischen die Ring-Elektrode 11 und den beiden Stirnkappen 12 und 13 angelegt wird, die, wie dargestellt, über den Kopplungstransformator 32 gleichtaktig geerdet sind. Ein Zusatz-HF-Generator 35 ist mit den Stirnkappen 22, 23 gekoppelt und liefert eine HF-Spannung V&sub2; sin ω&sub2;t zwischen den Stirnkappen, so daß die gefangenen Ionen mit ihrer axialen Resonanzfrequenz in Resonanz treten. Ein von einer Glühdraht- Stromversorgung 18 gespeister Glühdraht 17 ist so angeordnet, daß er einen ionisierenden Elektronenstrahl erzeugt, der die in den Ionen-Speicherbereich 16 eingeführten Moleküle der Probe ionisiert. Eine zylindrische Gatter-Elektrode und Linse 19 wird durch eine Glühdraht-Linsen-Steuereinrichtung 21 gespeist. Die Gatter-Elektrode steuert den Elektrodenstrahl nach Wunsch durch Nicht-Abschirmen oder Abschirmen. Die Stirnkappe 12 hat eine Öffnung, durch die der Elektronenstrahl austritt. Die gegenüberliegende Stirnkappe 13 ist durchlocht 23, damit instabile Ionen in den Feldern der Ionenfalle austreten und durch eine Elektronen-Multipliziereinrichtung 24 erfaßt werden können, die ein Ionensignal auf der Leitung 26 erzeugt. Ein Elektrometer 27 wandelt das Signal auf der Leitung 26 von Stromstärke in Spannung um. Das Signal wird summiert und von der Einheit 28 gespeichert und in der Einheit 29 verarbeitet. Die Steuereinrichtung 31 ist mit dem Grund-HF-Generator 14 verbunden, so daß die Amplitude und/oder Frequenz der Grund- HF-Spannung zur Massen-Auswahl verändert werden kann. Die Steuereinrichtung 31 ist auch mit dem Zusatz-HF-Generator 35 verbunden, so daß die Amplitude und/oder Frequenz der Zusatz- HF-Spannung verändert oder abgeschirmt werden kann. Die Steuereinrichtung schirmt auf der Leitung 132 die Glühdraht-Linsen-Steuereinrichtung 21 so ab, daß nur außerhalb des Abtastintervalls ein ionisierender Elektronenstrahl erzeugt wird. Mechanische Einzelheiten sind z.B. im US-Patent Nr. US-A-2 939 952 und vor kürzerer Zeit in EP-A-0 113 207 beschrieben.
- Die symmetrischen Felder in der Ionenfalle 10 führen zu dem wohlbekannten Stabilitätsdiagramm von Fig. 2. Die Parameter a und q in Fig. 2 sind wie folgt definiert:
- a = -8eU/mro²ω²
- q = 4eV/mr&sub0;²ω²,
- wobei e und m die Ladung bzw. die Masse des geladenen Teilchens sind. Wenn ein Ion in den Quadrupolfeldern der Ionenfallenvorrichtung gefangen werden soll, müssen die Werte für a und q in dem Stabilitätsgebiet liegen.
- Die Art des Weges, den ein geladenes Teilchen in einem beschriebenen drei-dimensionalen Quadrupolfeld zurücklegt, hängt davon ab, wie die spezifische Masse des Partikels, m/e, und die angewendeten Feld-Parameter, U, V, r&sub0; und ω in ihrer Kombination im Stabilitätsdigramm erscheinen. Wenn die Scanning-Parameter in ihrer Kombination in das Stabilitätsgebiet fallen, dann hat das entsprechende Partikel eine stabile Trajektorie im definierten Feld. Ein geladenes Partikel mit einer stabilen Trajektorie in einem drei-dimensionalen Quadrupolfeld ist auf eine periodische Kreisbahn in der Mitte des Feldes beschränkt. Solche Partikel können als im Feld gefangen betrachtet werden. Wenn bei einem Partikel m/e, U, V, r&sub0; und ω in ihrer Kombination außerhalb des Stabilitätsgebiets im Stabilitätsdiagramm liegen, dann hat das Partikel in dem definierten Feld eine instabile Trajektorie. Partikel mit instabilen Trajektorien in einem drei-dimensionalen Quadrupolfeld erfahren Versetzungen vom Zentrum des Felds, die im Lauf der Zeit gegen unendlich gehen. Solche Partikel können als dem Feld entkommende Partikel und somit nicht speicherbar betrachtet werden.
- bei einem durch U, V r&sub0; und ω definierten drei-dimensionalen Quadrupolfeld ergibt der Ort aller möglichen Masse/Ladungs-Verhältnisse im Stabilitätsdiagramm eine einzelne Gerade, die mit einer Steigung von -2U/V durch den Ursprung verläuft. (Dieser Ort wird auch als Abtast-Gerade bezeichnet.) Der Teil der Orte aller möglichen Masse/Ladungs-Verhältnisse, die in den Stabilitätsbereich fällt, definiert den Bereich der Masse/Ladungs-Verhältnisse, die in dem angelegten Feld zu fangende Partikel haben konnen. Durch eine geeignete Wahl der Werte für U und V kann der Bereich der spezifischen Massen einfangbarer Partikel bestimmt werden. Wenn das Verhältnis von U und V so gewählt wird, daß der Ort der möglichen spezifischen Massen durch den Scheitelpunkt des Stabilitätsbereichs (Linie A von Fig. 2) geht, dann haben nur Partikel in einem sehr eng begrenzten Bereich spezifischer Massen stabile Trajektorien. Wenn jedoch das Verhältnis von U und V so gewählt wird, daß der Ort der möglichen spezifischen Massen durch die Mitte des Stabilitätsbereichs (Linie B von Fig. 2) verläuft, dann haben Partikel aus einem weiten Bereich spezifischer Massen stabile Trajektorien.
- Die Ionenfalle des oben beschriebenen Typs wird wie folgt betrieben: Ionen werden durch das Einlassen eines vom Glühdraht 17 in die Falle gerichteten Elektronenbursts in das Fallenvolumen 16 erzeugt. Die Gleichstrom- und die HF-Spannung werden an die drei-dimensionale Elektrodenstruktur angelegt, so daß Ionen erwünschter Masse oder eines erwüschten Masse- Bereichs stabil sind, während andere instabil sind und von der Fallenstruktur ausgestoßen werden. Dieser Schritt kann durch Anlegen auch nur des HF-Potentials ausgeführt werden, so daß die gefangenen Ionen auf einer horizontalen Linie durch den Ursprung im Stabilitätsdiagramm von Fig. 2 (a = 0) zu liegen kommen. Der Elektronenstrahl wird dann ausgeschaltet, und die Fallen-Spannungen werden verringert, bis U gleich 0 wird in der Weise, daß während des ganzen Prozesses die Orte aller stabil gefangener Ionen im Stabilitätsbereich auf dem Stabilitätsdiagramm bleiben. Der Wert von q muß so weit verringert werden, daß nicht nur die interessierenden Ionen sondern auch Fragment-Ionen, die in einem darauffolgenden noch zu beschreibenden Dissoziationsprozess daraus gebildet werden, auch gefangen bleiben (weil ein niedrigeres Masse/Ladungs-Verhältnis einen großen q-Wert bedeutet).
- Bei dem Dissoziationsschritt werden die interessierenden Ionen mit einem Gas zur Kollision gebracht, so daß sie in Fragmente dissoziiert werden, die in der Falle oder im Stabilitätsbereich von Fig. 2 bleiben. Da die zu fragmentierenden Ionen genügend Energie haben können, um beim Kollidieren mit Gas fragmentiert zu werden, oder auch nicht, kann es nötig sein, den interessierenden Ionen Energie zuzuführen, oder sie mit energiegeladenen oder angeregten neutralen Spezies kollidieren zu lassen, so daß das System zur Fragmentierung der interessierenden Ionen genügend Energie enthält. Die Fragment- Ionen werden dann durch die HF-Spannung entlang der horizontalen Linie a = 0 in Fig. 2 aus der Falle getrieben, damit sie erfaßt werden können.
- Bei dem vorausgehenden Schritt können auf eine beliebige bekannte Weise energiegeladene neutrale Spezies erzeugt werden. Angeregte neutrale Spezies von Argon oder Xenon können von einer Kanone aus, gepulst und zur rechten Zeit eingeführt werden. Eine Entladungsquelle kann als Alternative verwendet werden. Es kann ein Laserimpuls zum Pumpen von Energie in das System entweder durch die Ionen oder durch die neutralen Spezies verwendet werden.
- Im folgenden werden für den Fall von Nitrobenzol-Ionen (mit Molekulargewicht M = 123 und Ionisationsgrad Z = 1) Ergebnisse von Experimenten gezeigt, in denen bestimmt werden sollte, welche Fragmentionen (Tochter-Ionen), welche Fragmentionen von Fragmentionen (Enkel-Ionen) usw. auftreten, wenn eine Dissoziation der Eltern-Ionen durch Kollision mit einem Hintergrundgas wie z.B. Argon herbeigeführt wird, und die resultierenden Ionen aus der Ionenfalle werden auf ihr Massenspektrum hin abgetastet.
- Fig. 3(A) ist ein Elektronen-Ionisations-Massenspektrogramm von Nitrobenzol. Die Linie M/Z = 124 entsteht aus einer Ionen-Molekül-Reaktion, die ein Proton zu M/Z = 123 addiert.
- Bei einem Betrieb mit U = 0 und mit 1,333 x 10&supmin;² N/m² (1 x 10&supmin;&sup4; Torr) von Ar wurde die HF-Spannung zuerst so eingestellt, daß am Ende einer Proben-Ionisierung nur Ionen mit M/Z größer als 120 in der Ionenfalle gespeichert wurden. Die HF-Spannung wurde dann bis zu einem Grenzwert von M/Z = 20 verringert, so daß die Ionen mit M/Z über diesem Wert in der Ionenfalle gefangen oder stabil waren. Eltern-Ionen mit M/Z = 123, die nach der Ionisierung ihn der Ionenfalle gefangen blieben, kollidierten mit einem Hintergrundgas aus Argon und dissoziierten. Dann wurde mit HF abgetastet und das in Fig. 3(B) gezeigte Massenspektrogramm wurde erhalten, in dem die von Eltern mit M/z = 123 erzeugten Ionen dargestellt sind.
- Eine Anzahl neuer Abtastmodi wird durch das zusätzliche Anlegen eines Wechselstromfeldes, z.B. eines HF-Feldes, möglich. Für jedes in der Ionenfalle gespeicherte Ion muß die Versetzung in einer Raumkoordinate einen von der periodischen Zeitfunktion abhängigen Wert ergeben. Wenn ein Zusatz-HF- Potential angelegt wird, das einer der Komponentenfrequenzen der Bewegung für eine bestimmte Ionen-Spezies entspricht, wird dieses Ion entlang dieser Koordinate mit vergrößerter Amplitude oszillieren. Das Ion kann von der Falle ausgestoßen werden, auf eine Elektrode treffen oder bei beträchtlichem Druck der Probe oder des inerten Trägergases in der Falle eine stabile Trajektorie mittlerer Versetzung annehmen, die größer ist als vor dem Anlegen des Zusatz-HF-Potentials. Wenn das begrenzte HF-Potential über eine begrenzte Zeit angelegt wird, kann das Ion eine stabile Trajektorie einnehmen, auch unter Bedingungen niedrigen Drucks.
- Fig. 4 zeigt ein Programm, das für einen Fallenfilter- Modus verwendet werden kann. Bei dieser Figur werden Ionen des interessierenden Massebereichs erzeugt und in der Periode A gespeichert, und dann wird die an die Ring-Elektrode angelegte Grund-HF-Spannung erhöht und so alle Ionen ausgestoßen, deren M/Z geringer ist als ein bestimmter Wert. Die Grund-HF-Spannung wird dann auf einem bestimmten Wert beibehalten, bei dem alle Ionen gespeichert bleiben, deren M/Z größer als ein anderer bestimmter Wert ist (Periode D). Eine Zusatz-HF-Spannung einer geeigneten Frequenz und Amplitude wird dann zwischen den Stirnkappen angelegt, und alle Ionen eines bestimmten M/Z-Wertes werden aus der Falle ausgestoßen. Die Zusatz- Spannung wird dann ausgeschaltet und die Grund-HF-Spannung wird abgetastet, wodurch das Massenspektrum der noch in der Falle befindlichen Ionen (Periode E) erzeugt wird.
- In Fig. 5(A) ist ein Spektrum von Xenon dargestellt, bei dem die Grund-HF-Spannung wie in Fig. 4 abgetastet wird, bei dem aber keine Zusatz-Spannung angelegt ist. Fig. 5(B) zeigt ein unter ähnlichen Bedingungen erhaltenes Spektrum, bei dem jedoch eine Zusatz-Spannung geeigneter Frequenz und Amplitude zum Ausstoßen von Ionen mit M/Z = 131 während der Periode D verwendet wurde. Fig. 5(B) zeigt, daß diese Ionen zu größten Teil aus der Falle entfernt wurden. Es gibt viele Weisen, in denen der Fallenfilter-Modus verwendet werden kann. Zum Beispiel kann die Zusatz-HF-Spannung während der Ionisierungsperiode angelegt und zu allen anderen Zeiten nicht angelegt werden. Ein in großen Mengen vorhandenes Ion kann zum Studium in kleineren Mengen vorhandener Ionen ausgestoßen werden.
- Andere nützliche Abtastmodi sind möglich, wenn man das Zusatz-Feld während Perioden einsetzt, in denen die Grund-HF- Spannung oder die damit verbundene Gleichstromkomponente verändert und nicht konstant gehalten werden. Wenn zum Beispiel eine Zusatz-Spannung ausreichender Amplitude und fester Frequenz während der Periode E (anstelle von Periode D) angelegt wird, werden Ionen nacheinander aus der Falle ausgestoßen, während die Grund-HF-Spannung nacheinander eine resonante Frequenz bei jeder Ionenspezies hervorruft, die der Frequenz der Zusatz-Spannung entspricht. Auf diese Weise kann ein Massenspektrum über einen bestimmten Bereich von M/Z-Werten mit einer verringerten maximalen Amplitude der Grund-HF-Spannung oder ein größerer maximaler M/Z-Wert für eine vorgegebene maximale Amplitude der Grund-HF-Spannung erreicht werden. Da der größte erreichbare Wert der Grund-HF-Spannung den Massenbereich im normalen Abtastmodus begrenzt, erweitert die Zusatz-HF-Spannung den Massenbereich des Instruments.
- Es sind auch nützliche Abtastmodi möglich, bei denen die Frequenz der Zusatz-Spannung abgetastet wird. Zum Beispiel kann die Frequenz der Zusatz-Spannung abgetastet werden, während die Grund-HF-Spannung fest bleibt. Das würde Fig. 4 entsprechen, wobei Periode E nicht auftritt und die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung während Periode D abgetastet wird. Ein Massenspektrum wird erzeugt, indem die Ionen nacheinander in Resonanz gebracht werden. Eine erhöhte Massen-Auflösung ist bei diesem Betriebsmodus möglich. Außerdem kann ein erweiterter Massenbereich berücksichtigt werden, da die Grund-HF- Spannung fest bleibt.
- Durch eine Zusatz-HF-Spannung kann eine Fragmentierung der Ionen bei oder nahe bei der Resonanz auftreten. Fig. 6(A) zeigt ein Spektrum von Nitrobenzol (mit 0,1333 N/m² (1x10&supmin;³) Torr) He), das mit dem Programm von Fig. 4 erstellt wurde, jedoch ohne eine zusätzliche HF-Spannung. Alle Ionen mit M/Z kleiner 118 werden vor und während Periode B ausgestoßen, so daß der kleine Peak bei M/Z = 93 nach der Periode B und vor dem Ausstoß von Ionen mit M/Z = 93 während Periode E entstanden sein muß. Fig. 6(B) zeigt ein unter den gleichen Bedingungen erzeugtes Spektrum, außer daß während Intervall D eine Zusatz-HF-Spannung mit der Resonanzfrequenz für M/Z = 123 angelegt wurde. Das Spektrum zeigt viele Fragment-Ionen bei M/Z = 93 und 65. Auf ähnliche Weise wurde Fig. 6(C) wie Fig. 6(A) erzeugt, außer daß alle Ionen mit M/Z kleiner als 88 vor und während Periode B ausgestoßen wurden. Fig. 6(D) wurde unter den gleichen Bedingungen wie Fig. 6(C) erzeugt, außer daß eine Zusatz-HF-Spannung mit der Resonanzfrequenz für M/Z = 93 während Intervall D angelegt wurde. Dieses Spektrum zeigt für M/Z = 65 ein großes Fragment.
- Sequentielle Experimente sind möglich, in denen Tochter- Ionen mit der Zusatz-HF-Frequenz erzeugt werden, wonach Enkel- Ionen von diesen Tochter-Ionen erzeugt werden, indem die Bedingungen wie z.B. Spannung oder Frequenz des Grund-HF- Feldes oder des Zusatz-HF-Feldes verändert werden, so daß die Tochter-Ionen in Resonanz gebracht werden. Fig. 7 zeigt eine bestimmte Möglichkeit zum Erzeugen von Tochter-Ionen. Die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung bleibt konstant, aber es wird die Grund-HF-Spannung während der Periode DA eingestellt, wodurch ein bestimmtes Eltern-Ion in Resonanz versetzt wird, so daß Tochter-Ionen erzeugt werden. Während der Periode DB wird die Grund-HF-Spannung so eingestellt, daß ein bestimmtes Tochter- Ion in Resonanz versetzt wird, so daß Enkel-Ionen erzeugt werden. Fig. 8(A) zeigt ein Spektrum von n-Heptan, zu dessen Erstellung das Abtast-Programm von Fig. 7 verwendet wurde, außer daß keine Zusatz-HF-Spannung angelegt wurde. Da alle Ionen mit M/Z-Wert von weniger als 95 vor und während Periode B ausgestoßen wurden, müssen die kleinen Peaks bei M/Z = 70 und M/Z = 71 von Ionen herstammen, die nach Periode B erzeugt wurden. Fig. 8(B) wurde unter Verwendung des Abtast-Programms von Fig. 4 erstellt mit einer Zusatz-Frequenz mit einer Resonanzfrequenz für M/Z = 100. Es kann eine große Zahl von Tochter-Ionen bei M/Z = 70 und 71 beobachtet werden sowie weniger starke Peaks bei M/Z = 55, 56 und 57. Fig. 8(C) wurde mit dem Abtast-Programm erstellt, das für Fig. 8(A) verwendet wurde, außer daß eine Zusatz-HF-Spannung angelegt wurde. Die Grund- Spannung während der Perioden DA und DB und die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung wurden so gewählt, daß M/Z = 100 während der Periode DA sich in Resonanz befand, so daß Tochter-Ionen erzeugt wurden. Eine bestimmte Tochter mit M/Z = 70, die während der Periode DA erzeugt wurde, wurde während Periode DB in Resonanz versetzt, so daß Enkel-Ionen erzeugt wurden. Diese Enkel-Ionen sind in Fig. 8(C) als Verstärkungen der Peaks bei M/Z = 55, 56 und 57 zu sehen. Fig. 8(D) ist ähnlich Fig. 8(A), außer daß M/Z = 100 während DA und M/Z = 71 während DB in Resonanz war.
- Viele andere Vorgehensweisen können zum sequentiellen Erzeugen von Tochter-Ionen verwendet werden. Zum Beispiel kann die Frequenz des Zusatz-HF-Feldes anstelle der Grund-HF-Spannung verändert werden. Außerdem kann die Falle von unerwünschten Ionen nach dem Erzeugen der Tochter-Ionen jedoch vor dem Erzeugen der Enkel-Ionen gesäubert werden. Natürlich kann eine weitere Fragmentierung durch ein sequentielles Verändern der Grund-HF-Spannung oder der Frequenz der Zusatz-HF-Spannung herbeigeführt werden, um die Produkte nacheinander folgender Fragmentierungen in Resonanz zu versetzen.
- Modifikationen können bei den oben beschriebenen Verfahren im Rahmen der Ansprüche vorgenommen werden.
- Zum Beispiel braucht die angelegte HF-Spannung nicht sinusförmig zu verlaufen, sie muß nur periodisch sein. Dadurch wird ein anderes Stabilitätsdiagramm entstehen, doch die allgemeinen Eigenschaften sind ähnlich, einschließlich der Abtastlinie. Anders ausgedrückt, die HF-Spannung könnte auch in Viereckwellen, in Sägezahnwellen usw. verlaufen. Die Quadrupol-Ionenfalle würde trotzdem im wesentlichen in der gleichen Weise funktionieren. Die Seitenwände der Ionenfalle wurden oben als hyperbolisch beschrieben, doch können Ionenfallen auch mit zylindrischen oder kreisförmigen Seitenwänden hergestellt werden. Eine beliebige Elektrodenstruktur, die annähernd ein drei-dimensionales Quadrupol-Feld erzeugt, könnte verwendet werden.
Claims (9)
1. Verfahren zum Betrieb einer Ionenfalle zur Massenanalyse
einer Probe mittels eines Quadrupol-Massenspektrometers mit
den folgenden Schritten:
- Festlegung eines Fallenvolumens innerhalb einer
Elektrodenstruktur, die aus einer Ringelektrode (11) und zwei
Stirnkappen (12, 13) an beiden Seiten der Ringelektrode (11)
besteht;
- Bereitstellung einer Gleichspannung und einer
Grundfrequenz-HF-Spannung zwischen den Stirnkappen (12, 13) und der
Ringelektrode (11) zur Bildung eines dreidimensionalen
Quadrupolfeldes, das auf das Einschließen von Ionen innerhalb eines
vorbestimmten Bereiches des Masse-zu-Ladungs-Verhältnisses
abgestimmt ist;
- Erzeugung von Ionen innerhalb des Fallenvolumens oder
Injektion von Ionen in das Fallenvolumen, so daß solche Ionen,
die im vorbestimmten Bereich des
Masse-zu-Ladungs-Verhältnisses angesiedelt sind, innerhalb des Fallenvolumens
eingeschlossen werden,
gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- Änderung des Quadrupolfeldes zur Eliminierung von Ionen,
welche ein Masse-zu-Ladungs-Verhältnis aufweisen, das von dem
gewünschten Masse-zu-Ladungs-Verhältnis der zu untersuchenden
Ionen abweicht;
- Neuanpassung des Quadrupolfeldes zum Einfang von
Tochterionen der Ionen mit dem gewünschten
Masse-zu-Ladungs-Verhältnis;
- Dissoziation oder Reaktion der gefangenen gewünschten
Ionen, so daß innerhalb des gewünschten Bereiches des
Massezu-Ladungs-Verhältnisses angesiedelte Ionen und Tochterionen
im Fallenvolumen gefangen bleiben;
- Änderung des Quadrupolfeldes mit dem Ziel der Freisetzung
der Ionen aus dem Fallenvolumen zur Ermöglichung ihrer
Erfassung.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Quadrupolfeld durch die Amplitude (U) einer Gleichspannung
zwischen den Stirnkappen (12, 13) und der Ringelektrode (11),
die Größe (V) einer an die Ringelektrode (11) angelegten HF-
Spannung und ω = 2πf festgelegt wird, wobei f die Frequenz der
HF-Spannung ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Regelung des Quadrupolfeldes durch Änderung von U oder V
oder ω oder durch gleichzeitige Änderung von zwei oder drei
dieser Größen bewirkt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß U
null gesetzt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ionenbildung bewirkt wird durch den
Einlaß eines Elektronenbursts in das Fallenvolumen und das
Entfernen solcher Ionen aus dem Fallenvolumen, welche nicht
innerhalb des vorbestimmten Bereiches des Masse-zu-Ladungs-
Verhältnisses angesiedelt sind.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
gekennzeichnet durch einen Schritt des Hineinpumpens von Energie in die
gefangenen interessierenden Ionen.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeinet
durch einen Schritt der Bewirkung von Kollisionen der
gefangenen Ionen mit energiereichen Hintergrundteilchen.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeinet, daß der Schritt der Regelung des Quadrupolfeldes
und der Dissoziation der gefangenen Ionen einen Schritt des
Anlegens einer zusätzlichen HF-Spannung zwischen den
Stirnkappen (12, 13) beinhaltet.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
das Quadrupolfeld und das zusätzliche Feld so geregelt werden,
daß sich während eines ersten Zeitabschnittes eines der
gefangenen Ionen in Resonanz befindet und während eines
nachfolgenden zweiten Zeitabschnittes ein Tochterion dieses Ions in
Resonanz ist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US73801885A | 1985-05-24 | 1985-05-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3650304D1 DE3650304D1 (de) | 1995-05-24 |
| DE3650304T2 true DE3650304T2 (de) | 1995-10-12 |
Family
ID=24966228
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3688215T Expired - Fee Related DE3688215T3 (de) | 1985-05-24 | 1986-05-22 | Steuerungsverfahren für eine Ionenfalle. |
| DE3650304T Expired - Fee Related DE3650304T2 (de) | 1985-05-24 | 1986-05-22 | Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3688215T Expired - Fee Related DE3688215T3 (de) | 1985-05-24 | 1986-05-22 | Steuerungsverfahren für eine Ionenfalle. |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4736101A (de) |
| EP (2) | EP0202943B2 (de) |
| JP (2) | JPH0821365B2 (de) |
| CA (1) | CA1242536A (de) |
| DE (2) | DE3688215T3 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112005002484B4 (de) | 2004-10-08 | 2022-12-22 | The University Of Virginia Patent Foundation | Simultane Sequenzanalyse von Amino- und Carboxy-Endgruppen |
Families Citing this family (140)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755670A (en) * | 1986-10-01 | 1988-07-05 | Finnigan Corporation | Fourtier transform quadrupole mass spectrometer and method |
| GB8625529D0 (en) * | 1986-10-24 | 1986-11-26 | Griffiths I W | Control/analysis of charged particles |
| EP0321819B2 (de) * | 1987-12-23 | 2002-06-19 | Bruker Daltonik GmbH | Verfahren zur massenspektroskopischen Untersuchung eines Gasgemisches und Massenspektrometer zur Durchführung dieses Verfahrens |
| ATE99834T1 (de) * | 1988-04-13 | 1994-01-15 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Methode zur massenanalyse einer probe mittels eines quistors und zur durchfuehrung dieses verfahrens entwickelter quistor. |
| JPH02103856A (ja) * | 1988-06-03 | 1990-04-16 | Finnigan Corp | イオントラップ型質量分析計の操作方法 |
| US4850371A (en) * | 1988-06-13 | 1989-07-25 | Broadhurst John H | Novel endotracheal tube and mass spectrometer |
| EP0362432A1 (de) * | 1988-10-07 | 1990-04-11 | Bruker Franzen Analytik GmbH | Methode zur Massenanalyse einer Probe |
| ATE101942T1 (de) * | 1989-02-18 | 1994-03-15 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und geraet zur massenbestimmung von proben mittels eines quistors. |
| US5075547A (en) * | 1991-01-25 | 1991-12-24 | Finnigan Corporation | Quadrupole ion trap mass spectrometer having two pulsed axial excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning and selected reaction monitoring |
| US5171991A (en) * | 1991-01-25 | 1992-12-15 | Finnigan Corporation | Quadrupole ion trap mass spectrometer having two axial modulation excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning |
| US5128542A (en) * | 1991-01-25 | 1992-07-07 | Finnigan Corporation | Method of operating an ion trap mass spectrometer to determine the resonant frequency of trapped ions |
| US5274233A (en) * | 1991-02-28 | 1993-12-28 | Teledyne Mec | Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals |
| US5196699A (en) * | 1991-02-28 | 1993-03-23 | Teledyne Mec | Chemical ionization mass spectrometry method using notch filter |
| US5449905A (en) * | 1992-05-14 | 1995-09-12 | Teledyne Et | Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry |
| US5200613A (en) * | 1991-02-28 | 1993-04-06 | Teledyne Mec | Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals |
| US5256875A (en) * | 1992-05-14 | 1993-10-26 | Teledyne Mec | Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry |
| US5105081A (en) * | 1991-02-28 | 1992-04-14 | Teledyne Cme | Mass spectrometry method and apparatus employing in-trap ion detection |
| US5451782A (en) * | 1991-02-28 | 1995-09-19 | Teledyne Et | Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency |
| US5436445A (en) * | 1991-02-28 | 1995-07-25 | Teledyne Electronic Technologies | Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form |
| US5187365A (en) * | 1991-02-28 | 1993-02-16 | Teledyne Mec | Mass spectrometry method using time-varying filtered noise |
| US5134286A (en) * | 1991-02-28 | 1992-07-28 | Teledyne Cme | Mass spectrometry method using notch filter |
| US5381007A (en) * | 1991-02-28 | 1995-01-10 | Teledyne Mec A Division Of Teledyne Industries, Inc. | Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form |
| CA2101152C (en) * | 1991-02-28 | 1999-03-30 | Paul E. Kelley | Mass spectrometry method using supplemental ac voltage signals |
| US5173604A (en) * | 1991-02-28 | 1992-12-22 | Teledyne Cme | Mass spectrometry method with non-consecutive mass order scan |
| US5206507A (en) * | 1991-02-28 | 1993-04-27 | Teledyne Mec | Mass spectrometry method using filtered noise signal |
| JPH0774838B2 (ja) * | 1991-03-26 | 1995-08-09 | 工業技術院長 | 荷電粒子の捕獲方法及び装置 |
| US5182451A (en) * | 1991-04-30 | 1993-01-26 | Finnigan Corporation | Method of operating an ion trap mass spectrometer in a high resolution mode |
| US5179278A (en) * | 1991-08-23 | 1993-01-12 | Mds Health Group Limited | Multipole inlet system for ion traps |
| DE4139037C2 (de) * | 1991-11-27 | 1995-07-27 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zum Isolieren von Ionen einer auswählbaren Masse |
| US5206509A (en) * | 1991-12-11 | 1993-04-27 | Martin Marietta Energy Systems, Inc. | Universal collisional activation ion trap mass spectrometry |
| US5272337A (en) * | 1992-04-08 | 1993-12-21 | Martin Marietta Energy Systems, Inc. | Sample introducing apparatus and sample modules for mass spectrometer |
| JPH07112539B2 (ja) * | 1992-04-15 | 1995-12-06 | 工業技術院長 | 微小粒子の作製方法及びその装置 |
| US5198665A (en) * | 1992-05-29 | 1993-03-30 | Varian Associates, Inc. | Quadrupole trap improved technique for ion isolation |
| EP0786796B1 (de) * | 1992-05-29 | 2000-07-05 | Varian, Inc. | Verfahren zum Betrieb von Ionenfallenmassenspektrometern |
| EP0575777B1 (de) * | 1992-05-29 | 1998-09-23 | Varian Associates, Inc. | Verfahren zur Verwendung eines Massenspektrometers |
| US5381006A (en) * | 1992-05-29 | 1995-01-10 | Varian Associates, Inc. | Methods of using ion trap mass spectrometers |
| US5302826A (en) * | 1992-05-29 | 1994-04-12 | Varian Associates, Inc. | Quadrupole trap improved technique for collisional induced disassociation for MS/MS processes |
| GB2267385B (en) * | 1992-05-29 | 1995-12-13 | Finnigan Corp | Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer |
| US5404011A (en) * | 1992-05-29 | 1995-04-04 | Varian Associates, Inc. | MSn using CID |
| US5448061A (en) * | 1992-05-29 | 1995-09-05 | Varian Associates, Inc. | Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling |
| US5300772A (en) * | 1992-07-31 | 1994-04-05 | Varian Associates, Inc. | Quadruple ion trap method having improved sensitivity |
| DE4316738C2 (de) * | 1993-05-19 | 1996-10-17 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Auswurf von Ionen aus Ionenfallen durch kombinierte elektrische Dipol- und Quadrupolfelder |
| US5378891A (en) * | 1993-05-27 | 1995-01-03 | Varian Associates, Inc. | Method for selective collisional dissociation using border effect excitation with prior cooling time control |
| US5399857A (en) * | 1993-05-28 | 1995-03-21 | The Johns Hopkins University | Method and apparatus for trapping ions by increasing trapping voltage during ion introduction |
| DE4324224C1 (de) * | 1993-07-20 | 1994-10-06 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Quadrupol-Ionenfallen mit schaltbaren Multipol-Anteilen |
| US5420425A (en) * | 1994-05-27 | 1995-05-30 | Finnigan Corporation | Ion trap mass spectrometer system and method |
| DE4425384C1 (de) * | 1994-07-19 | 1995-11-02 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zur stoßinduzierten Fragmentierung von Ionen in Ionenfallen |
| US5572022A (en) * | 1995-03-03 | 1996-11-05 | Finnigan Corporation | Method and apparatus of increasing dynamic range and sensitivity of a mass spectrometer |
| JP3495512B2 (ja) * | 1996-07-02 | 2004-02-09 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
| JP3509267B2 (ja) * | 1995-04-03 | 2004-03-22 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析方法および装置 |
| US5783824A (en) * | 1995-04-03 | 1998-07-21 | Hitachi, Ltd. | Ion trapping mass spectrometry apparatus |
| US5572025A (en) * | 1995-05-25 | 1996-11-05 | The Johns Hopkins University, School Of Medicine | Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode |
| JPH095298A (ja) * | 1995-06-06 | 1997-01-10 | Varian Assoc Inc | 四重極イオントラップ内の選択イオン種を検出する方法 |
| US5576540A (en) * | 1995-08-11 | 1996-11-19 | Mds Health Group Limited | Mass spectrometer with radial ejection |
| US5672870A (en) * | 1995-12-18 | 1997-09-30 | Hewlett Packard Company | Mass selective notch filter with quadrupole excision fields |
| US5598001A (en) * | 1996-01-30 | 1997-01-28 | Hewlett-Packard Company | Mass selective multinotch filter with orthogonal excision fields |
| US6177668B1 (en) | 1996-06-06 | 2001-01-23 | Mds Inc. | Axial ejection in a multipole mass spectrometer |
| US5756996A (en) * | 1996-07-05 | 1998-05-26 | Finnigan Corporation | Ion source assembly for an ion trap mass spectrometer and method |
| US5650617A (en) * | 1996-07-30 | 1997-07-22 | Varian Associates, Inc. | Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof |
| US5793038A (en) * | 1996-12-10 | 1998-08-11 | Varian Associates, Inc. | Method of operating an ion trap mass spectrometer |
| US6147348A (en) * | 1997-04-11 | 2000-11-14 | University Of Florida | Method for performing a scan function on quadrupole ion trap mass spectrometers |
| JP3413079B2 (ja) * | 1997-10-09 | 2003-06-03 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
| CA2227806C (en) † | 1998-01-23 | 2006-07-18 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
| US6124592A (en) * | 1998-03-18 | 2000-09-26 | Technispan Llc | Ion mobility storage trap and method |
| US6392225B1 (en) | 1998-09-24 | 2002-05-21 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for transferring ions from an atmospheric pressure ion source into an ion trap mass spectrometer |
| US6124591A (en) * | 1998-10-16 | 2000-09-26 | Finnigan Corporation | Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap |
| DE19932839B4 (de) * | 1999-07-14 | 2007-10-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Fragmentierung in Quadrupol-Ionenfallenmassenspektrometern |
| WO2001015201A2 (en) * | 1999-08-26 | 2001-03-01 | University Of New Hampshire | Multiple stage mass spectrometer |
| US6153880A (en) * | 1999-09-30 | 2000-11-28 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for performance improvement of mass spectrometers using dynamic ion optics |
| GB9924722D0 (en) | 1999-10-19 | 1999-12-22 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Methods and apparatus for driving a quadrupole device |
| JP2001160373A (ja) | 1999-12-02 | 2001-06-12 | Hitachi Ltd | イオントラップ質量分析方法並びにイオントラップ質量分析計 |
| US6528784B1 (en) | 1999-12-03 | 2003-03-04 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer system including a double ion guide interface and method of operation |
| WO2001041427A1 (en) * | 1999-12-06 | 2001-06-07 | Dmi Biosciences, Inc. | Noise reducing/resolution enhancing signal processing method and system |
| DE10028914C1 (de) | 2000-06-10 | 2002-01-17 | Bruker Daltonik Gmbh | Interne Detektion von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen |
| DE10058706C1 (de) * | 2000-11-25 | 2002-02-28 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in Hochfrequenz-Ionenfallen |
| US6700120B2 (en) * | 2000-11-30 | 2004-03-02 | Mds Inc. | Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
| US6608303B2 (en) | 2001-06-06 | 2003-08-19 | Thermo Finnigan Llc | Quadrupole ion trap with electronic shims |
| GB2381653A (en) * | 2001-11-05 | 2003-05-07 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A quadrupole ion trap device and methods of operating a quadrupole ion trap device |
| US6710336B2 (en) | 2002-01-30 | 2004-03-23 | Varian, Inc. | Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation |
| JP3840417B2 (ja) | 2002-02-20 | 2006-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| US6570151B1 (en) | 2002-02-21 | 2003-05-27 | Hitachi Instruments, Inc. | Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps |
| US6674067B2 (en) | 2002-02-21 | 2004-01-06 | Hitachi High Technologies America, Inc. | Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps |
| JP3951741B2 (ja) * | 2002-02-27 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 電荷調整方法とその装置、および質量分析装置 |
| US6781117B1 (en) | 2002-05-30 | 2004-08-24 | Ross C Willoughby | Efficient direct current collision and reaction cell |
| US7511246B2 (en) * | 2002-12-12 | 2009-03-31 | Perkinelmer Las Inc. | Induction device for generating a plasma |
| US20040119014A1 (en) * | 2002-12-18 | 2004-06-24 | Alex Mordehai | Ion trap mass spectrometer and method for analyzing ions |
| JP3936908B2 (ja) * | 2002-12-24 | 2007-06-27 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| US7019289B2 (en) * | 2003-01-31 | 2006-03-28 | Yang Wang | Ion trap mass spectrometry |
| US7071464B2 (en) * | 2003-03-21 | 2006-07-04 | Dana-Farber Cancer Institute, Inc. | Mass spectroscopy system |
| US7064319B2 (en) * | 2003-03-31 | 2006-06-20 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer |
| GB0312940D0 (en) * | 2003-06-05 | 2003-07-09 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A method for obtaining high accuracy mass spectra using an ion trap mass analyser and a method for determining and/or reducing chemical shift in mass analysis |
| JP4690641B2 (ja) * | 2003-07-28 | 2011-06-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析計 |
| JP3912345B2 (ja) * | 2003-08-26 | 2007-05-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| ATE479895T1 (de) | 2004-03-12 | 2010-09-15 | Univ Virginia | Elektronentransferdissoziation zur biopolymer- sequenzanalyse |
| US20050253059A1 (en) * | 2004-05-13 | 2005-11-17 | Goeringer Douglas E | Tandem-in-time and-in-space mass spectrometer and associated method for tandem mass spectrometry |
| US7141784B2 (en) | 2004-05-24 | 2006-11-28 | University Of Massachusetts | Multiplexed tandem mass spectrometry |
| US7772549B2 (en) | 2004-05-24 | 2010-08-10 | University Of Massachusetts | Multiplexed tandem mass spectrometry |
| US7034293B2 (en) * | 2004-05-26 | 2006-04-25 | Varian, Inc. | Linear ion trap apparatus and method utilizing an asymmetrical trapping field |
| US6949743B1 (en) | 2004-09-14 | 2005-09-27 | Thermo Finnigan Llc | High-Q pulsed fragmentation in ion traps |
| US7102129B2 (en) * | 2004-09-14 | 2006-09-05 | Thermo Finnigan Llc | High-Q pulsed fragmentation in ion traps |
| WO2006047889A1 (en) * | 2004-11-08 | 2006-05-11 | The University Of British Columbia | Ion excitation in a linear ion trap with a substantially quadrupole field having an added hexapole or higher order field |
| DE102005005743B4 (de) | 2005-02-07 | 2007-06-06 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenfragmentierung durch Beschuss mit Neutralteilchen |
| WO2006099190A2 (en) | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Perkinelmer, Inc. | Plasmas and methods of using them |
| US7183545B2 (en) * | 2005-03-15 | 2007-02-27 | Agilent Technologies, Inc. | Multipole ion mass filter having rotating electric field |
| DE102005025497B4 (de) * | 2005-06-03 | 2007-09-27 | Bruker Daltonik Gmbh | Leichte Bruckstückionen mit Ionenfallen messen |
| JP4636943B2 (ja) * | 2005-06-06 | 2011-02-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| US8622735B2 (en) * | 2005-06-17 | 2014-01-07 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Boost devices and methods of using them |
| US7742167B2 (en) | 2005-06-17 | 2010-06-22 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Optical emission device with boost device |
| JP2007033322A (ja) * | 2005-07-28 | 2007-02-08 | Osaka Prefecture Univ | 質量分析方法及び装置 |
| DE102005061425B4 (de) | 2005-12-22 | 2009-06-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Rückgesteuerte Fragmentierung in Ionenfallen-Massenspektrometern |
| GB2477657B (en) * | 2005-12-22 | 2011-12-07 | Bruker Daltonik Gmbh | Method for mass spectrometry of peptide ions |
| US8097844B2 (en) * | 2006-02-23 | 2012-01-17 | Shimadzu Corporation | Mass-analysis method and mass-analysis apparatus |
| JP4369454B2 (ja) | 2006-09-04 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析方法 |
| WO2008072326A1 (ja) * | 2006-12-14 | 2008-06-19 | Shimadzu Corporation | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
| US7842918B2 (en) * | 2007-03-07 | 2010-11-30 | Varian, Inc | Chemical structure-insensitive method and apparatus for dissociating ions |
| US7656236B2 (en) | 2007-05-15 | 2010-02-02 | Teledyne Wireless, Llc | Noise canceling technique for frequency synthesizer |
| US7847240B2 (en) * | 2007-06-11 | 2010-12-07 | Dana-Farber Cancer Institute, Inc. | Mass spectroscopy system and method including an excitation gate |
| DE102007042436B3 (de) * | 2007-09-06 | 2009-03-19 | Brandenburgische Technische Universität Cottbus | Verfahren und Vorrichtung zur Auf-, Um- oder Entladung von Aerosolpartikeln durch Ionen, insbesondere in einen diffusionsbasierten bipolaren Gleichgewichtszustand |
| WO2009105080A1 (en) * | 2007-11-09 | 2009-08-27 | The Johns Hopkins University | Low voltage, high mass range ion trap spectrometer and analyzing methods using such a device |
| US8334506B2 (en) | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
| US7880147B2 (en) * | 2008-01-24 | 2011-02-01 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Components for reducing background noise in a mass spectrometer |
| US8179045B2 (en) * | 2008-04-22 | 2012-05-15 | Teledyne Wireless, Llc | Slow wave structure having offset projections comprised of a metal-dielectric composite stack |
| US7973277B2 (en) | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
| JP5039656B2 (ja) * | 2008-07-25 | 2012-10-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および質量分析方法 |
| US7804065B2 (en) * | 2008-09-05 | 2010-09-28 | Thermo Finnigan Llc | Methods of calibrating and operating an ion trap mass analyzer to optimize mass spectral peak characteristics |
| US7947948B2 (en) * | 2008-09-05 | 2011-05-24 | Thermo Funnigan LLC | Two-dimensional radial-ejection ion trap operable as a quadrupole mass filter |
| US8178835B2 (en) * | 2009-05-07 | 2012-05-15 | Thermo Finnigan Llc | Prolonged ion resonance collision induced dissociation in a quadrupole ion trap |
| JP5107977B2 (ja) * | 2009-07-28 | 2012-12-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析装置 |
| CA2772677C (en) * | 2009-09-04 | 2017-12-12 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method, system and apparatus for filtering ions in a mass spectrometer |
| JP2014526046A (ja) | 2011-08-05 | 2014-10-02 | アカデミア シニカ | 高速プロテオミクスのためのステップ走査式イオントラップ質量分析 |
| US8384022B1 (en) | 2011-10-31 | 2013-02-26 | Thermo Finnigan Llc | Methods and apparatus for calibrating ion trap mass spectrometers |
| DE102012013038B4 (de) * | 2012-06-29 | 2014-06-26 | Bruker Daltonik Gmbh | Auswerfen einer lonenwolke aus 3D-HF-lonenfallen |
| CN205166151U (zh) | 2012-07-13 | 2016-04-20 | 魄金莱默保健科学有限公司 | 火炬和用于维持原子化源的系统 |
| US9202660B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-12-01 | Teledyne Wireless, Llc | Asymmetrical slow wave structures to eliminate backward wave oscillations in wideband traveling wave tubes |
| US9117646B2 (en) * | 2013-10-04 | 2015-08-25 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for a combined linear ion trap and quadrupole mass filter |
| US9847218B2 (en) | 2015-11-05 | 2017-12-19 | Thermo Finnigan Llc | High-resolution ion trap mass spectrometer |
| CN106908511B (zh) * | 2017-03-07 | 2019-08-02 | 清华大学 | 一种小型离子阱质谱进行大范围离子持续分析的方法 |
| GB2584129B (en) * | 2019-05-22 | 2022-01-12 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion trap with elongated electrodes |
| US11145502B2 (en) | 2019-12-19 | 2021-10-12 | Thermo Finnigan Llc | Emission current measurement for superior instrument-to-instrument repeatability |
| EP4193383A1 (de) * | 2020-08-06 | 2023-06-14 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Signal-rausch-verbesserung in einem quadrupol-fouriertransformationsmassenspektrometer |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT528250A (de) * | 1953-12-24 | |||
| US3527949A (en) * | 1967-02-15 | 1970-09-08 | Gen Electric | Low energy,interference-free,pulsed signal transmitting and receiving device |
| US3527939A (en) * | 1968-08-29 | 1970-09-08 | Gen Electric | Three-dimensional quadrupole mass spectrometer and gauge |
| US4105917A (en) * | 1976-03-26 | 1978-08-08 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for mass spectrometric analysis at ultra-low pressures |
| US4540884A (en) * | 1982-12-29 | 1985-09-10 | Finnigan Corporation | Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap |
-
1986
- 1986-05-22 EP EP86303906A patent/EP0202943B2/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-22 DE DE3688215T patent/DE3688215T3/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-22 EP EP90202625A patent/EP0409362B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-22 DE DE3650304T patent/DE3650304T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-23 JP JP61118973A patent/JPH0821365B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-23 CA CA000509824A patent/CA1242536A/en not_active Expired
-
1987
- 1987-08-11 US US07/084,518 patent/US4736101A/en not_active Ceased
-
1990
- 1990-03-27 US US07/499,947 patent/USRE34000E/en not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-03-02 JP JP11054372A patent/JP3020490B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112005002484B4 (de) | 2004-10-08 | 2022-12-22 | The University Of Virginia Patent Foundation | Simultane Sequenzanalyse von Amino- und Carboxy-Endgruppen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6237861A (ja) | 1987-02-18 |
| DE3688215T2 (de) | 1993-07-22 |
| JP3020490B2 (ja) | 2000-03-15 |
| DE3688215D1 (de) | 1993-05-13 |
| JPH0821365B2 (ja) | 1996-03-04 |
| EP0202943B2 (de) | 2004-11-24 |
| DE3650304D1 (de) | 1995-05-24 |
| EP0409362A2 (de) | 1991-01-23 |
| US4736101A (en) | 1988-04-05 |
| EP0202943A3 (en) | 1988-02-17 |
| JPH11317193A (ja) | 1999-11-16 |
| EP0202943A2 (de) | 1986-11-26 |
| DE3688215T3 (de) | 2005-08-25 |
| EP0409362A3 (en) | 1991-09-18 |
| USRE34000E (en) | 1992-07-21 |
| EP0202943B1 (de) | 1993-04-07 |
| CA1242536A (en) | 1988-09-27 |
| EP0409362B1 (de) | 1995-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3650304T2 (de) | Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. | |
| DE69233438T2 (de) | Massenspektrometrie-verfahren unter verwendung zusätzlicher wechselspannungssignale | |
| DE69722717T2 (de) | Ionenspeicherungsvorrichtung für Massenspektrometrie | |
| DE69233406T2 (de) | Massenspektrometrieverfahren unter benutzung eines kerbfilters | |
| DE3784428T2 (de) | Quadrupol-massenspektrometer und verfahren zum betrieb desselben. | |
| DE60209132T2 (de) | Quadrupolionenfalle, verfahren zur verwendung derselben und ein eine solche ionenfalle enthaltendes massenspektrometer | |
| DE69825789T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur stoss-induzierten dissoziation von ionen in einem quadrupol-ionenleiter | |
| DE69206523T2 (de) | Multipol-Einlassvorrichtung für Ionenfalle. | |
| DE69419014T2 (de) | Ionenquelle und messenspektrometer mit einer solchen ionenquelle | |
| DE69434452T2 (de) | Massenspektrometrisches verfahren mit zwei sperrfeldern gleicher form | |
| DE69714356T2 (de) | Plasma-Massenspektrometer | |
| DE69919353T2 (de) | Axialejektion aus einem mutipolmassenspektrometer | |
| DE69610158T2 (de) | Verfahren zur Verwendung eines Quadrupolionenfallenmassenspektrometers | |
| DE69211420T2 (de) | Verfahren zum Betrieb eines Ionenfalle-Massenspektrometers im hochauflösenden Modus | |
| DE69325752T2 (de) | Verfahren zur selektiven Speicherung von Ionen in einer Quadrupolionenfalle | |
| DE69919325T2 (de) | Spektrometer mit gepulster ionenquelle, kopplungsvorrichtung zur dämpfung der ionenbewegung, und methode zur verwendung derselben | |
| DE3750928T2 (de) | Laufzeit-Massenspektrometrie. | |
| DE69806415T2 (de) | Verfahren zur untersuchung von ionen in einem apparat mit einem flugzeit-spektrometer und einer linearen quadrupol-ionenfalle | |
| DE69715190T2 (de) | Multipolmassenspektrometer mit axialem ausstoss | |
| DE69232866T2 (de) | Chemisches ionisationsmassenspektrometrieverfahren mit einem kerbfilter | |
| DE69228427T2 (de) | Verfahren zur massenspektrometrie unter verwendung eines rauschfreien signals | |
| DE1673278A1 (de) | Ionen-Zyklotron-Resonanz-Massenspektrometer | |
| EP0403965A2 (de) | MS-MS-Flugzeit-Massenspektrometer | |
| DE4017264A1 (de) | Massenspektrometrischer hochfrequenz-quadrupol-kaefig mit ueberlagerten multipolfeldern | |
| DE69723811T2 (de) | Verfahren zum auffangen von ionen in ionenfallen und ionenfalle-massenspektrometersystem |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |