[go: up one dir, main page]

DE3650304T2 - Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. - Google Patents

Betriebsverfahren für eine Ionenfalle.

Info

Publication number
DE3650304T2
DE3650304T2 DE3650304T DE3650304T DE3650304T2 DE 3650304 T2 DE3650304 T2 DE 3650304T2 DE 3650304 T DE3650304 T DE 3650304T DE 3650304 T DE3650304 T DE 3650304T DE 3650304 T2 DE3650304 T2 DE 3650304T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ions
mass
voltage
trap
ion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3650304T
Other languages
English (en)
Other versions
DE3650304D1 (de
Inventor
Paul E Kelley
John Nathan Louris
Walter E Reynolds Wal Reynolds
George C Stafford Geo Stafford
John E P Syka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thermo Finnigan LLC
Original Assignee
Finnigan Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=24966228&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE3650304(T2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Finnigan Corp filed Critical Finnigan Corp
Publication of DE3650304D1 publication Critical patent/DE3650304D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3650304T2 publication Critical patent/DE3650304T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/424Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0045Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
    • H01J49/0063Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by applying a resonant excitation voltage
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0081Tandem in time, i.e. using a single spectrometer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/426Methods for controlling ions
    • H01J49/427Ejection and selection methods
    • H01J49/429Scanning an electric parameter, e.g. voltage amplitude or frequency

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle zur Massenanalyse einer Probe mittels eines Quadrupol-Massenspektrometers nach dem Oberbegriff von Anspruch 1.
  • Ein solches Verfahren ist aus dem weiter unten erörterten Artikel von Bonner bekannt.
  • Ionenfallen-Massenspektrometer oder Quadrupol-Ionenspeicher sind seit vielen Jahren bekannt und wurden von vielen Autoren beschrieben. Sie sind Vorrichtungen, in denen Ionen in einer physikalischen Struktur mit Hilfe von elektrostatischen Feldern, wie z.B. HF-Feldern oder Gleichstromfeldern oder einer Kombination beider, erzeugt und gespeichert werden. Allgemein wird durch ein elektrisches Quadrupolfeld ein Ionen- Speicherbereich bereitgestellt, indem ein hyperbolischer Elektrodenaufbau oder ein Kugel-Elektodenaufbau verwendet wird, der ein gleichwertiges Quadrupol-Fallenfeld bildet.
  • Eine Massenspeicherung wird normalerweise so erreicht, daß Fallenelektroden mit solchen Werten für die HF-Spannung (V) deren Frequenz (f), Gleichspannung (U) und Vorrichtungsabmessung (r&sub0;) betrieben werden, daß Ionen mit Masse/Ladungs- Verhältnissen in einem bestimmten begrenzten Bereich stabil in der Vorrichtung gehalten werden. Die eben genannten Parameter werden manchmal auch Scanning-Parameter genannt, die in einem festen Verhältnis zu den Masse/Ladungs-Verhältnissen der gefangenen Ionen stehen. Gefangene Ionen haben eine ganz bestimmte feststehende Frequenz für einen jeweiligen Wert des Masse/Ladungs-Verhältnisses. Bei einem Verfahren für das Erfassen von Ionen, können diese feststehenden Frequenzen durch eine frequenzverstellbare Schaltung ermittelt werden, die auf die Oszillationsbewegung der Ionen in der Falle eingestellt wird, und dann kann das Masse/Ladungs-Verhältnis mittels eines verbesserten Analyseverfahrens bestimmt werden.
  • Obwohl Ionenfallen-Massenspektrometer und Verfahren zu deren Verwendung schon seit relativ langer Zeit bekannt sind, sind sie erst seit kurzem beliebter geworden, da diese Massen- Auswahlverfahren unzureichend und schwer durchzuführen sind und eine geringe Auflösung und einen begrenzten Massebereich haben. Ein neues Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle (US- Patent Nr. US-A-2 939 952 und EP-A-0 113 207) hat die meisten der früheren Beschränkungen überwunden und wird unter der Bezeichnung Ion Trap Detector immer bekannter.
  • Ein Verfahren zum Betreiben einer Quadrupol-Ionen-Speicherungsfalle zur Massenanlyse einer Probe nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 ist aus einem Artikel von R.F. Bonner et al. (International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, Band 10, No. 2, Dezember 1972, S. 197 - 203, Elsevier Publishing Co. Amsterdam) bekannt, in dem ein Fallenvolumen in einer Elektronenstruktur mit einer Ringelektrode und zwei Stirnkappen auf beiden Seiten der Ringelektrode, an die eine Gleichspannung und eine Grund-HF-Spannung angelegt werden, wodurch ein dreidimensionales Quadrupolfeld gebildet wird, das zum Gefangenhalten von Ionen in einem vorbestimmten Bereich des Masse/Ladungs-Verhältnisses geeignet ist. Ionen werden in diesem Fallenvolumen gebildet oder in dieses Volumen injiziert, so daß die Ionen in dem vorbestimmten Bereich im Fallenvolumen gefangen gehalten werden.
  • Die vorliegende Erfindung ist gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
  • - Änderung des Quadrupolfeldes zur Eliminierung von Ionen, welche ein Masse/Ladungs-Verhältnis aufweisen, das von dem gewünschten Masse/Ladungs-Verhältnis der zu untersuchenden Ionen abweicht;
  • - Neuanpassung des Quadrupolfeldes zum Einfang von Tochterionen der Ionen mit dem gewünschten Masse/Ladungs-Verhältnis;
  • - Dissoziation oder Reaktion der gefangenen gewünschten Ionen, so daß innerhalb des gewünschten Bereiches des Masse/Ladungs-Verhältnisses angesiedelte Ionen und Tochter-Ionen im Fallenvolumen gefangen bleiben;
  • - Änderung des Quadrupolfeldes mit dem Ziel der Freisetzung der Ionen aus dem Fallenvolumen zur Ermöglichung ihrer Erfassung.
  • Durch diese Erfindung wird ein neues Verfahren zum Betreiben einer Ionenfalle in einem Betriebsmodus bereitgestellt, der MS/MS genannt wird. Durch dieses Verfahren wird die Massenanalyse einer Probe ermöglicht, indem Ionen in einer Ionenfalle gebildet und gefangengehalten werden, sie durch eine Masse-Analyseeinrichtung nach Masse ausgewählt werden, sie dissoziiert werden z.B. durch Kollision mit einem Gas oder mit Oberflächen und indem Tochterionen mittels einer Masse- oder Energie-Analyseeinrichtung analysiert werden.
  • Hier wird auf die EP-A-0 202 943 hingewiesen, welche die Stammanmeldung zur vorliegenden Teilanmeldung ist.
  • Beispiele dieser Erfindung werden nun mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben. Es zeigt:
  • Fig. 1 ein vereinfachtes Schema einer Quadrupol-Ionenfalle zusammen mit einem Block-Diagramm damit verbundener elektrischer Schaltungen, die nach einem erfindungsgemäßen Verfahren eingesetzt werden sollen;
  • Fig. 2 ein Stabilitätsdiagramm für eine Ionen-Fallen-Vorrichtung des in Fig. 1 gezeigten Typs;
  • Fig. 3(A) und 3(B) Spektrogramme, die bei einer Reihe von Versuchen mit einer Nitrobenzolprobe mit dem erfindungsgemäßen Verfahren erstellt wurden;
  • Fig. 4 ein Programm, das für einen Fallenfilter-Modus mit einer Zusatz-Spannung verwendet werden kann;
  • Fig. 5(A) und 5(B) Spektrogramme, die mit einer Xenonprobe unter Verwendung des Verfahrens von Fig. 4 erstellt wurden;
  • Fig. 6(A) bis Fig. 6(D) Spektrogramme, die mit einer Nitrobenzolprobe unter Verwendung des Verfahrens von Fig. 4 erstellt wurden;
  • Fig. 7 ein weiteres Programm für einen Ionen-Abtastmodus; und
  • Fig. 8(A) bis Fig. 8(D) Spektrogramme einer n-Heptan-Probe, die durch eine Reihe von Experimenten, in denen sowohl das Verfahren von Fig. 4 als auch das Verfahren von Fig. 7 verwendet wurde, erstellt wurden.
  • In Fig. 1 ist mit 10 eine drei-dimensionale Ionenfalle, die eine Ring-Elektrode 11 und zwei gegenüberliegende Stirnkappen 12 und 13 aufweist, bezeichnet. Ein Hochfrequenzgenerator 14 ist mit der Ring-Elektrode 11 zur Lieferung einer hochfrequenten Spannung V sin ωt (die Grundspannung) zwischen den Stirnkappen und der Ringelektrode verbunden, wodurch das Quadrupolfeld zum Gefangenhalten von Ionen in dem Ionen-Speicherbereich oder -volumen 16 mit einem Radius r&sub0; und einer vertikalen Abmessung z&sub0;(z&sub0;² = r&sub0;²/2) bereitgestellt wird. Das für das Speichern erforderliche Feld wird gebildet, indem die HF-Spannung zwischen die Ring-Elektrode 11 und den beiden Stirnkappen 12 und 13 angelegt wird, die, wie dargestellt, über den Kopplungstransformator 32 gleichtaktig geerdet sind. Ein Zusatz-HF-Generator 35 ist mit den Stirnkappen 22, 23 gekoppelt und liefert eine HF-Spannung V&sub2; sin ω&sub2;t zwischen den Stirnkappen, so daß die gefangenen Ionen mit ihrer axialen Resonanzfrequenz in Resonanz treten. Ein von einer Glühdraht- Stromversorgung 18 gespeister Glühdraht 17 ist so angeordnet, daß er einen ionisierenden Elektronenstrahl erzeugt, der die in den Ionen-Speicherbereich 16 eingeführten Moleküle der Probe ionisiert. Eine zylindrische Gatter-Elektrode und Linse 19 wird durch eine Glühdraht-Linsen-Steuereinrichtung 21 gespeist. Die Gatter-Elektrode steuert den Elektrodenstrahl nach Wunsch durch Nicht-Abschirmen oder Abschirmen. Die Stirnkappe 12 hat eine Öffnung, durch die der Elektronenstrahl austritt. Die gegenüberliegende Stirnkappe 13 ist durchlocht 23, damit instabile Ionen in den Feldern der Ionenfalle austreten und durch eine Elektronen-Multipliziereinrichtung 24 erfaßt werden können, die ein Ionensignal auf der Leitung 26 erzeugt. Ein Elektrometer 27 wandelt das Signal auf der Leitung 26 von Stromstärke in Spannung um. Das Signal wird summiert und von der Einheit 28 gespeichert und in der Einheit 29 verarbeitet. Die Steuereinrichtung 31 ist mit dem Grund-HF-Generator 14 verbunden, so daß die Amplitude und/oder Frequenz der Grund- HF-Spannung zur Massen-Auswahl verändert werden kann. Die Steuereinrichtung 31 ist auch mit dem Zusatz-HF-Generator 35 verbunden, so daß die Amplitude und/oder Frequenz der Zusatz- HF-Spannung verändert oder abgeschirmt werden kann. Die Steuereinrichtung schirmt auf der Leitung 132 die Glühdraht-Linsen-Steuereinrichtung 21 so ab, daß nur außerhalb des Abtastintervalls ein ionisierender Elektronenstrahl erzeugt wird. Mechanische Einzelheiten sind z.B. im US-Patent Nr. US-A-2 939 952 und vor kürzerer Zeit in EP-A-0 113 207 beschrieben.
  • Die symmetrischen Felder in der Ionenfalle 10 führen zu dem wohlbekannten Stabilitätsdiagramm von Fig. 2. Die Parameter a und q in Fig. 2 sind wie folgt definiert:
  • a = -8eU/mro²ω²
  • q = 4eV/mr&sub0;²ω²,
  • wobei e und m die Ladung bzw. die Masse des geladenen Teilchens sind. Wenn ein Ion in den Quadrupolfeldern der Ionenfallenvorrichtung gefangen werden soll, müssen die Werte für a und q in dem Stabilitätsgebiet liegen.
  • Die Art des Weges, den ein geladenes Teilchen in einem beschriebenen drei-dimensionalen Quadrupolfeld zurücklegt, hängt davon ab, wie die spezifische Masse des Partikels, m/e, und die angewendeten Feld-Parameter, U, V, r&sub0; und ω in ihrer Kombination im Stabilitätsdigramm erscheinen. Wenn die Scanning-Parameter in ihrer Kombination in das Stabilitätsgebiet fallen, dann hat das entsprechende Partikel eine stabile Trajektorie im definierten Feld. Ein geladenes Partikel mit einer stabilen Trajektorie in einem drei-dimensionalen Quadrupolfeld ist auf eine periodische Kreisbahn in der Mitte des Feldes beschränkt. Solche Partikel können als im Feld gefangen betrachtet werden. Wenn bei einem Partikel m/e, U, V, r&sub0; und ω in ihrer Kombination außerhalb des Stabilitätsgebiets im Stabilitätsdiagramm liegen, dann hat das Partikel in dem definierten Feld eine instabile Trajektorie. Partikel mit instabilen Trajektorien in einem drei-dimensionalen Quadrupolfeld erfahren Versetzungen vom Zentrum des Felds, die im Lauf der Zeit gegen unendlich gehen. Solche Partikel können als dem Feld entkommende Partikel und somit nicht speicherbar betrachtet werden.
  • bei einem durch U, V r&sub0; und ω definierten drei-dimensionalen Quadrupolfeld ergibt der Ort aller möglichen Masse/Ladungs-Verhältnisse im Stabilitätsdiagramm eine einzelne Gerade, die mit einer Steigung von -2U/V durch den Ursprung verläuft. (Dieser Ort wird auch als Abtast-Gerade bezeichnet.) Der Teil der Orte aller möglichen Masse/Ladungs-Verhältnisse, die in den Stabilitätsbereich fällt, definiert den Bereich der Masse/Ladungs-Verhältnisse, die in dem angelegten Feld zu fangende Partikel haben konnen. Durch eine geeignete Wahl der Werte für U und V kann der Bereich der spezifischen Massen einfangbarer Partikel bestimmt werden. Wenn das Verhältnis von U und V so gewählt wird, daß der Ort der möglichen spezifischen Massen durch den Scheitelpunkt des Stabilitätsbereichs (Linie A von Fig. 2) geht, dann haben nur Partikel in einem sehr eng begrenzten Bereich spezifischer Massen stabile Trajektorien. Wenn jedoch das Verhältnis von U und V so gewählt wird, daß der Ort der möglichen spezifischen Massen durch die Mitte des Stabilitätsbereichs (Linie B von Fig. 2) verläuft, dann haben Partikel aus einem weiten Bereich spezifischer Massen stabile Trajektorien.
  • Die Ionenfalle des oben beschriebenen Typs wird wie folgt betrieben: Ionen werden durch das Einlassen eines vom Glühdraht 17 in die Falle gerichteten Elektronenbursts in das Fallenvolumen 16 erzeugt. Die Gleichstrom- und die HF-Spannung werden an die drei-dimensionale Elektrodenstruktur angelegt, so daß Ionen erwünschter Masse oder eines erwüschten Masse- Bereichs stabil sind, während andere instabil sind und von der Fallenstruktur ausgestoßen werden. Dieser Schritt kann durch Anlegen auch nur des HF-Potentials ausgeführt werden, so daß die gefangenen Ionen auf einer horizontalen Linie durch den Ursprung im Stabilitätsdiagramm von Fig. 2 (a = 0) zu liegen kommen. Der Elektronenstrahl wird dann ausgeschaltet, und die Fallen-Spannungen werden verringert, bis U gleich 0 wird in der Weise, daß während des ganzen Prozesses die Orte aller stabil gefangener Ionen im Stabilitätsbereich auf dem Stabilitätsdiagramm bleiben. Der Wert von q muß so weit verringert werden, daß nicht nur die interessierenden Ionen sondern auch Fragment-Ionen, die in einem darauffolgenden noch zu beschreibenden Dissoziationsprozess daraus gebildet werden, auch gefangen bleiben (weil ein niedrigeres Masse/Ladungs-Verhältnis einen großen q-Wert bedeutet).
  • Bei dem Dissoziationsschritt werden die interessierenden Ionen mit einem Gas zur Kollision gebracht, so daß sie in Fragmente dissoziiert werden, die in der Falle oder im Stabilitätsbereich von Fig. 2 bleiben. Da die zu fragmentierenden Ionen genügend Energie haben können, um beim Kollidieren mit Gas fragmentiert zu werden, oder auch nicht, kann es nötig sein, den interessierenden Ionen Energie zuzuführen, oder sie mit energiegeladenen oder angeregten neutralen Spezies kollidieren zu lassen, so daß das System zur Fragmentierung der interessierenden Ionen genügend Energie enthält. Die Fragment- Ionen werden dann durch die HF-Spannung entlang der horizontalen Linie a = 0 in Fig. 2 aus der Falle getrieben, damit sie erfaßt werden können.
  • Bei dem vorausgehenden Schritt können auf eine beliebige bekannte Weise energiegeladene neutrale Spezies erzeugt werden. Angeregte neutrale Spezies von Argon oder Xenon können von einer Kanone aus, gepulst und zur rechten Zeit eingeführt werden. Eine Entladungsquelle kann als Alternative verwendet werden. Es kann ein Laserimpuls zum Pumpen von Energie in das System entweder durch die Ionen oder durch die neutralen Spezies verwendet werden.
  • Im folgenden werden für den Fall von Nitrobenzol-Ionen (mit Molekulargewicht M = 123 und Ionisationsgrad Z = 1) Ergebnisse von Experimenten gezeigt, in denen bestimmt werden sollte, welche Fragmentionen (Tochter-Ionen), welche Fragmentionen von Fragmentionen (Enkel-Ionen) usw. auftreten, wenn eine Dissoziation der Eltern-Ionen durch Kollision mit einem Hintergrundgas wie z.B. Argon herbeigeführt wird, und die resultierenden Ionen aus der Ionenfalle werden auf ihr Massenspektrum hin abgetastet.
  • Fig. 3(A) ist ein Elektronen-Ionisations-Massenspektrogramm von Nitrobenzol. Die Linie M/Z = 124 entsteht aus einer Ionen-Molekül-Reaktion, die ein Proton zu M/Z = 123 addiert.
  • Bei einem Betrieb mit U = 0 und mit 1,333 x 10&supmin;² N/m² (1 x 10&supmin;&sup4; Torr) von Ar wurde die HF-Spannung zuerst so eingestellt, daß am Ende einer Proben-Ionisierung nur Ionen mit M/Z größer als 120 in der Ionenfalle gespeichert wurden. Die HF-Spannung wurde dann bis zu einem Grenzwert von M/Z = 20 verringert, so daß die Ionen mit M/Z über diesem Wert in der Ionenfalle gefangen oder stabil waren. Eltern-Ionen mit M/Z = 123, die nach der Ionisierung ihn der Ionenfalle gefangen blieben, kollidierten mit einem Hintergrundgas aus Argon und dissoziierten. Dann wurde mit HF abgetastet und das in Fig. 3(B) gezeigte Massenspektrogramm wurde erhalten, in dem die von Eltern mit M/z = 123 erzeugten Ionen dargestellt sind.
  • Eine Anzahl neuer Abtastmodi wird durch das zusätzliche Anlegen eines Wechselstromfeldes, z.B. eines HF-Feldes, möglich. Für jedes in der Ionenfalle gespeicherte Ion muß die Versetzung in einer Raumkoordinate einen von der periodischen Zeitfunktion abhängigen Wert ergeben. Wenn ein Zusatz-HF- Potential angelegt wird, das einer der Komponentenfrequenzen der Bewegung für eine bestimmte Ionen-Spezies entspricht, wird dieses Ion entlang dieser Koordinate mit vergrößerter Amplitude oszillieren. Das Ion kann von der Falle ausgestoßen werden, auf eine Elektrode treffen oder bei beträchtlichem Druck der Probe oder des inerten Trägergases in der Falle eine stabile Trajektorie mittlerer Versetzung annehmen, die größer ist als vor dem Anlegen des Zusatz-HF-Potentials. Wenn das begrenzte HF-Potential über eine begrenzte Zeit angelegt wird, kann das Ion eine stabile Trajektorie einnehmen, auch unter Bedingungen niedrigen Drucks.
  • Fig. 4 zeigt ein Programm, das für einen Fallenfilter- Modus verwendet werden kann. Bei dieser Figur werden Ionen des interessierenden Massebereichs erzeugt und in der Periode A gespeichert, und dann wird die an die Ring-Elektrode angelegte Grund-HF-Spannung erhöht und so alle Ionen ausgestoßen, deren M/Z geringer ist als ein bestimmter Wert. Die Grund-HF-Spannung wird dann auf einem bestimmten Wert beibehalten, bei dem alle Ionen gespeichert bleiben, deren M/Z größer als ein anderer bestimmter Wert ist (Periode D). Eine Zusatz-HF-Spannung einer geeigneten Frequenz und Amplitude wird dann zwischen den Stirnkappen angelegt, und alle Ionen eines bestimmten M/Z-Wertes werden aus der Falle ausgestoßen. Die Zusatz- Spannung wird dann ausgeschaltet und die Grund-HF-Spannung wird abgetastet, wodurch das Massenspektrum der noch in der Falle befindlichen Ionen (Periode E) erzeugt wird.
  • In Fig. 5(A) ist ein Spektrum von Xenon dargestellt, bei dem die Grund-HF-Spannung wie in Fig. 4 abgetastet wird, bei dem aber keine Zusatz-Spannung angelegt ist. Fig. 5(B) zeigt ein unter ähnlichen Bedingungen erhaltenes Spektrum, bei dem jedoch eine Zusatz-Spannung geeigneter Frequenz und Amplitude zum Ausstoßen von Ionen mit M/Z = 131 während der Periode D verwendet wurde. Fig. 5(B) zeigt, daß diese Ionen zu größten Teil aus der Falle entfernt wurden. Es gibt viele Weisen, in denen der Fallenfilter-Modus verwendet werden kann. Zum Beispiel kann die Zusatz-HF-Spannung während der Ionisierungsperiode angelegt und zu allen anderen Zeiten nicht angelegt werden. Ein in großen Mengen vorhandenes Ion kann zum Studium in kleineren Mengen vorhandener Ionen ausgestoßen werden.
  • Andere nützliche Abtastmodi sind möglich, wenn man das Zusatz-Feld während Perioden einsetzt, in denen die Grund-HF- Spannung oder die damit verbundene Gleichstromkomponente verändert und nicht konstant gehalten werden. Wenn zum Beispiel eine Zusatz-Spannung ausreichender Amplitude und fester Frequenz während der Periode E (anstelle von Periode D) angelegt wird, werden Ionen nacheinander aus der Falle ausgestoßen, während die Grund-HF-Spannung nacheinander eine resonante Frequenz bei jeder Ionenspezies hervorruft, die der Frequenz der Zusatz-Spannung entspricht. Auf diese Weise kann ein Massenspektrum über einen bestimmten Bereich von M/Z-Werten mit einer verringerten maximalen Amplitude der Grund-HF-Spannung oder ein größerer maximaler M/Z-Wert für eine vorgegebene maximale Amplitude der Grund-HF-Spannung erreicht werden. Da der größte erreichbare Wert der Grund-HF-Spannung den Massenbereich im normalen Abtastmodus begrenzt, erweitert die Zusatz-HF-Spannung den Massenbereich des Instruments.
  • Es sind auch nützliche Abtastmodi möglich, bei denen die Frequenz der Zusatz-Spannung abgetastet wird. Zum Beispiel kann die Frequenz der Zusatz-Spannung abgetastet werden, während die Grund-HF-Spannung fest bleibt. Das würde Fig. 4 entsprechen, wobei Periode E nicht auftritt und die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung während Periode D abgetastet wird. Ein Massenspektrum wird erzeugt, indem die Ionen nacheinander in Resonanz gebracht werden. Eine erhöhte Massen-Auflösung ist bei diesem Betriebsmodus möglich. Außerdem kann ein erweiterter Massenbereich berücksichtigt werden, da die Grund-HF- Spannung fest bleibt.
  • Durch eine Zusatz-HF-Spannung kann eine Fragmentierung der Ionen bei oder nahe bei der Resonanz auftreten. Fig. 6(A) zeigt ein Spektrum von Nitrobenzol (mit 0,1333 N/m² (1x10&supmin;³) Torr) He), das mit dem Programm von Fig. 4 erstellt wurde, jedoch ohne eine zusätzliche HF-Spannung. Alle Ionen mit M/Z kleiner 118 werden vor und während Periode B ausgestoßen, so daß der kleine Peak bei M/Z = 93 nach der Periode B und vor dem Ausstoß von Ionen mit M/Z = 93 während Periode E entstanden sein muß. Fig. 6(B) zeigt ein unter den gleichen Bedingungen erzeugtes Spektrum, außer daß während Intervall D eine Zusatz-HF-Spannung mit der Resonanzfrequenz für M/Z = 123 angelegt wurde. Das Spektrum zeigt viele Fragment-Ionen bei M/Z = 93 und 65. Auf ähnliche Weise wurde Fig. 6(C) wie Fig. 6(A) erzeugt, außer daß alle Ionen mit M/Z kleiner als 88 vor und während Periode B ausgestoßen wurden. Fig. 6(D) wurde unter den gleichen Bedingungen wie Fig. 6(C) erzeugt, außer daß eine Zusatz-HF-Spannung mit der Resonanzfrequenz für M/Z = 93 während Intervall D angelegt wurde. Dieses Spektrum zeigt für M/Z = 65 ein großes Fragment.
  • Sequentielle Experimente sind möglich, in denen Tochter- Ionen mit der Zusatz-HF-Frequenz erzeugt werden, wonach Enkel- Ionen von diesen Tochter-Ionen erzeugt werden, indem die Bedingungen wie z.B. Spannung oder Frequenz des Grund-HF- Feldes oder des Zusatz-HF-Feldes verändert werden, so daß die Tochter-Ionen in Resonanz gebracht werden. Fig. 7 zeigt eine bestimmte Möglichkeit zum Erzeugen von Tochter-Ionen. Die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung bleibt konstant, aber es wird die Grund-HF-Spannung während der Periode DA eingestellt, wodurch ein bestimmtes Eltern-Ion in Resonanz versetzt wird, so daß Tochter-Ionen erzeugt werden. Während der Periode DB wird die Grund-HF-Spannung so eingestellt, daß ein bestimmtes Tochter- Ion in Resonanz versetzt wird, so daß Enkel-Ionen erzeugt werden. Fig. 8(A) zeigt ein Spektrum von n-Heptan, zu dessen Erstellung das Abtast-Programm von Fig. 7 verwendet wurde, außer daß keine Zusatz-HF-Spannung angelegt wurde. Da alle Ionen mit M/Z-Wert von weniger als 95 vor und während Periode B ausgestoßen wurden, müssen die kleinen Peaks bei M/Z = 70 und M/Z = 71 von Ionen herstammen, die nach Periode B erzeugt wurden. Fig. 8(B) wurde unter Verwendung des Abtast-Programms von Fig. 4 erstellt mit einer Zusatz-Frequenz mit einer Resonanzfrequenz für M/Z = 100. Es kann eine große Zahl von Tochter-Ionen bei M/Z = 70 und 71 beobachtet werden sowie weniger starke Peaks bei M/Z = 55, 56 und 57. Fig. 8(C) wurde mit dem Abtast-Programm erstellt, das für Fig. 8(A) verwendet wurde, außer daß eine Zusatz-HF-Spannung angelegt wurde. Die Grund- Spannung während der Perioden DA und DB und die Frequenz der Zusatz-HF-Spannung wurden so gewählt, daß M/Z = 100 während der Periode DA sich in Resonanz befand, so daß Tochter-Ionen erzeugt wurden. Eine bestimmte Tochter mit M/Z = 70, die während der Periode DA erzeugt wurde, wurde während Periode DB in Resonanz versetzt, so daß Enkel-Ionen erzeugt wurden. Diese Enkel-Ionen sind in Fig. 8(C) als Verstärkungen der Peaks bei M/Z = 55, 56 und 57 zu sehen. Fig. 8(D) ist ähnlich Fig. 8(A), außer daß M/Z = 100 während DA und M/Z = 71 während DB in Resonanz war.
  • Viele andere Vorgehensweisen können zum sequentiellen Erzeugen von Tochter-Ionen verwendet werden. Zum Beispiel kann die Frequenz des Zusatz-HF-Feldes anstelle der Grund-HF-Spannung verändert werden. Außerdem kann die Falle von unerwünschten Ionen nach dem Erzeugen der Tochter-Ionen jedoch vor dem Erzeugen der Enkel-Ionen gesäubert werden. Natürlich kann eine weitere Fragmentierung durch ein sequentielles Verändern der Grund-HF-Spannung oder der Frequenz der Zusatz-HF-Spannung herbeigeführt werden, um die Produkte nacheinander folgender Fragmentierungen in Resonanz zu versetzen.
  • Modifikationen können bei den oben beschriebenen Verfahren im Rahmen der Ansprüche vorgenommen werden.
  • Zum Beispiel braucht die angelegte HF-Spannung nicht sinusförmig zu verlaufen, sie muß nur periodisch sein. Dadurch wird ein anderes Stabilitätsdiagramm entstehen, doch die allgemeinen Eigenschaften sind ähnlich, einschließlich der Abtastlinie. Anders ausgedrückt, die HF-Spannung könnte auch in Viereckwellen, in Sägezahnwellen usw. verlaufen. Die Quadrupol-Ionenfalle würde trotzdem im wesentlichen in der gleichen Weise funktionieren. Die Seitenwände der Ionenfalle wurden oben als hyperbolisch beschrieben, doch können Ionenfallen auch mit zylindrischen oder kreisförmigen Seitenwänden hergestellt werden. Eine beliebige Elektrodenstruktur, die annähernd ein drei-dimensionales Quadrupol-Feld erzeugt, könnte verwendet werden.

Claims (9)

1. Verfahren zum Betrieb einer Ionenfalle zur Massenanalyse einer Probe mittels eines Quadrupol-Massenspektrometers mit den folgenden Schritten:
- Festlegung eines Fallenvolumens innerhalb einer Elektrodenstruktur, die aus einer Ringelektrode (11) und zwei Stirnkappen (12, 13) an beiden Seiten der Ringelektrode (11) besteht;
- Bereitstellung einer Gleichspannung und einer Grundfrequenz-HF-Spannung zwischen den Stirnkappen (12, 13) und der Ringelektrode (11) zur Bildung eines dreidimensionalen Quadrupolfeldes, das auf das Einschließen von Ionen innerhalb eines vorbestimmten Bereiches des Masse-zu-Ladungs-Verhältnisses abgestimmt ist;
- Erzeugung von Ionen innerhalb des Fallenvolumens oder Injektion von Ionen in das Fallenvolumen, so daß solche Ionen, die im vorbestimmten Bereich des Masse-zu-Ladungs-Verhältnisses angesiedelt sind, innerhalb des Fallenvolumens eingeschlossen werden,
gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- Änderung des Quadrupolfeldes zur Eliminierung von Ionen, welche ein Masse-zu-Ladungs-Verhältnis aufweisen, das von dem gewünschten Masse-zu-Ladungs-Verhältnis der zu untersuchenden Ionen abweicht;
- Neuanpassung des Quadrupolfeldes zum Einfang von Tochterionen der Ionen mit dem gewünschten Masse-zu-Ladungs-Verhältnis;
- Dissoziation oder Reaktion der gefangenen gewünschten Ionen, so daß innerhalb des gewünschten Bereiches des Massezu-Ladungs-Verhältnisses angesiedelte Ionen und Tochterionen im Fallenvolumen gefangen bleiben;
- Änderung des Quadrupolfeldes mit dem Ziel der Freisetzung der Ionen aus dem Fallenvolumen zur Ermöglichung ihrer Erfassung.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Quadrupolfeld durch die Amplitude (U) einer Gleichspannung zwischen den Stirnkappen (12, 13) und der Ringelektrode (11), die Größe (V) einer an die Ringelektrode (11) angelegten HF- Spannung und ω = 2πf festgelegt wird, wobei f die Frequenz der HF-Spannung ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelung des Quadrupolfeldes durch Änderung von U oder V oder ω oder durch gleichzeitige Änderung von zwei oder drei dieser Größen bewirkt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß U null gesetzt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionenbildung bewirkt wird durch den Einlaß eines Elektronenbursts in das Fallenvolumen und das Entfernen solcher Ionen aus dem Fallenvolumen, welche nicht innerhalb des vorbestimmten Bereiches des Masse-zu-Ladungs- Verhältnisses angesiedelt sind.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet durch einen Schritt des Hineinpumpens von Energie in die gefangenen interessierenden Ionen.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeinet durch einen Schritt der Bewirkung von Kollisionen der gefangenen Ionen mit energiereichen Hintergrundteilchen.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeinet, daß der Schritt der Regelung des Quadrupolfeldes und der Dissoziation der gefangenen Ionen einen Schritt des Anlegens einer zusätzlichen HF-Spannung zwischen den Stirnkappen (12, 13) beinhaltet.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Quadrupolfeld und das zusätzliche Feld so geregelt werden, daß sich während eines ersten Zeitabschnittes eines der gefangenen Ionen in Resonanz befindet und während eines nachfolgenden zweiten Zeitabschnittes ein Tochterion dieses Ions in Resonanz ist.
DE3650304T 1985-05-24 1986-05-22 Betriebsverfahren für eine Ionenfalle. Expired - Fee Related DE3650304T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US73801885A 1985-05-24 1985-05-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3650304D1 DE3650304D1 (de) 1995-05-24
DE3650304T2 true DE3650304T2 (de) 1995-10-12

Family

ID=24966228

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3688215T Expired - Fee Related DE3688215T3 (de) 1985-05-24 1986-05-22 Steuerungsverfahren für eine Ionenfalle.
DE3650304T Expired - Fee Related DE3650304T2 (de) 1985-05-24 1986-05-22 Betriebsverfahren für eine Ionenfalle.

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3688215T Expired - Fee Related DE3688215T3 (de) 1985-05-24 1986-05-22 Steuerungsverfahren für eine Ionenfalle.

Country Status (5)

Country Link
US (2) US4736101A (de)
EP (2) EP0202943B2 (de)
JP (2) JPH0821365B2 (de)
CA (1) CA1242536A (de)
DE (2) DE3688215T3 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112005002484B4 (de) 2004-10-08 2022-12-22 The University Of Virginia Patent Foundation Simultane Sequenzanalyse von Amino- und Carboxy-Endgruppen

Families Citing this family (140)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4755670A (en) * 1986-10-01 1988-07-05 Finnigan Corporation Fourtier transform quadrupole mass spectrometer and method
GB8625529D0 (en) * 1986-10-24 1986-11-26 Griffiths I W Control/analysis of charged particles
EP0321819B2 (de) * 1987-12-23 2002-06-19 Bruker Daltonik GmbH Verfahren zur massenspektroskopischen Untersuchung eines Gasgemisches und Massenspektrometer zur Durchführung dieses Verfahrens
ATE99834T1 (de) * 1988-04-13 1994-01-15 Bruker Franzen Analytik Gmbh Methode zur massenanalyse einer probe mittels eines quistors und zur durchfuehrung dieses verfahrens entwickelter quistor.
JPH02103856A (ja) * 1988-06-03 1990-04-16 Finnigan Corp イオントラップ型質量分析計の操作方法
US4850371A (en) * 1988-06-13 1989-07-25 Broadhurst John H Novel endotracheal tube and mass spectrometer
EP0362432A1 (de) * 1988-10-07 1990-04-11 Bruker Franzen Analytik GmbH Methode zur Massenanalyse einer Probe
ATE101942T1 (de) * 1989-02-18 1994-03-15 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und geraet zur massenbestimmung von proben mittels eines quistors.
US5075547A (en) * 1991-01-25 1991-12-24 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two pulsed axial excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning and selected reaction monitoring
US5171991A (en) * 1991-01-25 1992-12-15 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two axial modulation excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning
US5128542A (en) * 1991-01-25 1992-07-07 Finnigan Corporation Method of operating an ion trap mass spectrometer to determine the resonant frequency of trapped ions
US5274233A (en) * 1991-02-28 1993-12-28 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
US5196699A (en) * 1991-02-28 1993-03-23 Teledyne Mec Chemical ionization mass spectrometry method using notch filter
US5449905A (en) * 1992-05-14 1995-09-12 Teledyne Et Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5200613A (en) * 1991-02-28 1993-04-06 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
US5256875A (en) * 1992-05-14 1993-10-26 Teledyne Mec Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5105081A (en) * 1991-02-28 1992-04-14 Teledyne Cme Mass spectrometry method and apparatus employing in-trap ion detection
US5451782A (en) * 1991-02-28 1995-09-19 Teledyne Et Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency
US5436445A (en) * 1991-02-28 1995-07-25 Teledyne Electronic Technologies Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
US5187365A (en) * 1991-02-28 1993-02-16 Teledyne Mec Mass spectrometry method using time-varying filtered noise
US5134286A (en) * 1991-02-28 1992-07-28 Teledyne Cme Mass spectrometry method using notch filter
US5381007A (en) * 1991-02-28 1995-01-10 Teledyne Mec A Division Of Teledyne Industries, Inc. Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
CA2101152C (en) * 1991-02-28 1999-03-30 Paul E. Kelley Mass spectrometry method using supplemental ac voltage signals
US5173604A (en) * 1991-02-28 1992-12-22 Teledyne Cme Mass spectrometry method with non-consecutive mass order scan
US5206507A (en) * 1991-02-28 1993-04-27 Teledyne Mec Mass spectrometry method using filtered noise signal
JPH0774838B2 (ja) * 1991-03-26 1995-08-09 工業技術院長 荷電粒子の捕獲方法及び装置
US5182451A (en) * 1991-04-30 1993-01-26 Finnigan Corporation Method of operating an ion trap mass spectrometer in a high resolution mode
US5179278A (en) * 1991-08-23 1993-01-12 Mds Health Group Limited Multipole inlet system for ion traps
DE4139037C2 (de) * 1991-11-27 1995-07-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zum Isolieren von Ionen einer auswählbaren Masse
US5206509A (en) * 1991-12-11 1993-04-27 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Universal collisional activation ion trap mass spectrometry
US5272337A (en) * 1992-04-08 1993-12-21 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Sample introducing apparatus and sample modules for mass spectrometer
JPH07112539B2 (ja) * 1992-04-15 1995-12-06 工業技術院長 微小粒子の作製方法及びその装置
US5198665A (en) * 1992-05-29 1993-03-30 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for ion isolation
EP0786796B1 (de) * 1992-05-29 2000-07-05 Varian, Inc. Verfahren zum Betrieb von Ionenfallenmassenspektrometern
EP0575777B1 (de) * 1992-05-29 1998-09-23 Varian Associates, Inc. Verfahren zur Verwendung eines Massenspektrometers
US5381006A (en) * 1992-05-29 1995-01-10 Varian Associates, Inc. Methods of using ion trap mass spectrometers
US5302826A (en) * 1992-05-29 1994-04-12 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for collisional induced disassociation for MS/MS processes
GB2267385B (en) * 1992-05-29 1995-12-13 Finnigan Corp Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer
US5404011A (en) * 1992-05-29 1995-04-04 Varian Associates, Inc. MSn using CID
US5448061A (en) * 1992-05-29 1995-09-05 Varian Associates, Inc. Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling
US5300772A (en) * 1992-07-31 1994-04-05 Varian Associates, Inc. Quadruple ion trap method having improved sensitivity
DE4316738C2 (de) * 1993-05-19 1996-10-17 Bruker Franzen Analytik Gmbh Auswurf von Ionen aus Ionenfallen durch kombinierte elektrische Dipol- und Quadrupolfelder
US5378891A (en) * 1993-05-27 1995-01-03 Varian Associates, Inc. Method for selective collisional dissociation using border effect excitation with prior cooling time control
US5399857A (en) * 1993-05-28 1995-03-21 The Johns Hopkins University Method and apparatus for trapping ions by increasing trapping voltage during ion introduction
DE4324224C1 (de) * 1993-07-20 1994-10-06 Bruker Franzen Analytik Gmbh Quadrupol-Ionenfallen mit schaltbaren Multipol-Anteilen
US5420425A (en) * 1994-05-27 1995-05-30 Finnigan Corporation Ion trap mass spectrometer system and method
DE4425384C1 (de) * 1994-07-19 1995-11-02 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur stoßinduzierten Fragmentierung von Ionen in Ionenfallen
US5572022A (en) * 1995-03-03 1996-11-05 Finnigan Corporation Method and apparatus of increasing dynamic range and sensitivity of a mass spectrometer
JP3495512B2 (ja) * 1996-07-02 2004-02-09 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析装置
JP3509267B2 (ja) * 1995-04-03 2004-03-22 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析方法および装置
US5783824A (en) * 1995-04-03 1998-07-21 Hitachi, Ltd. Ion trapping mass spectrometry apparatus
US5572025A (en) * 1995-05-25 1996-11-05 The Johns Hopkins University, School Of Medicine Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode
JPH095298A (ja) * 1995-06-06 1997-01-10 Varian Assoc Inc 四重極イオントラップ内の選択イオン種を検出する方法
US5576540A (en) * 1995-08-11 1996-11-19 Mds Health Group Limited Mass spectrometer with radial ejection
US5672870A (en) * 1995-12-18 1997-09-30 Hewlett Packard Company Mass selective notch filter with quadrupole excision fields
US5598001A (en) * 1996-01-30 1997-01-28 Hewlett-Packard Company Mass selective multinotch filter with orthogonal excision fields
US6177668B1 (en) 1996-06-06 2001-01-23 Mds Inc. Axial ejection in a multipole mass spectrometer
US5756996A (en) * 1996-07-05 1998-05-26 Finnigan Corporation Ion source assembly for an ion trap mass spectrometer and method
US5650617A (en) * 1996-07-30 1997-07-22 Varian Associates, Inc. Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof
US5793038A (en) * 1996-12-10 1998-08-11 Varian Associates, Inc. Method of operating an ion trap mass spectrometer
US6147348A (en) * 1997-04-11 2000-11-14 University Of Florida Method for performing a scan function on quadrupole ion trap mass spectrometers
JP3413079B2 (ja) * 1997-10-09 2003-06-03 株式会社日立製作所 イオントラップ型質量分析装置
CA2227806C (en) 1998-01-23 2006-07-18 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
US6124592A (en) * 1998-03-18 2000-09-26 Technispan Llc Ion mobility storage trap and method
US6392225B1 (en) 1998-09-24 2002-05-21 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for transferring ions from an atmospheric pressure ion source into an ion trap mass spectrometer
US6124591A (en) * 1998-10-16 2000-09-26 Finnigan Corporation Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap
DE19932839B4 (de) * 1999-07-14 2007-10-11 Bruker Daltonik Gmbh Fragmentierung in Quadrupol-Ionenfallenmassenspektrometern
WO2001015201A2 (en) * 1999-08-26 2001-03-01 University Of New Hampshire Multiple stage mass spectrometer
US6153880A (en) * 1999-09-30 2000-11-28 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for performance improvement of mass spectrometers using dynamic ion optics
GB9924722D0 (en) 1999-10-19 1999-12-22 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Methods and apparatus for driving a quadrupole device
JP2001160373A (ja) 1999-12-02 2001-06-12 Hitachi Ltd イオントラップ質量分析方法並びにイオントラップ質量分析計
US6528784B1 (en) 1999-12-03 2003-03-04 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer system including a double ion guide interface and method of operation
WO2001041427A1 (en) * 1999-12-06 2001-06-07 Dmi Biosciences, Inc. Noise reducing/resolution enhancing signal processing method and system
DE10028914C1 (de) 2000-06-10 2002-01-17 Bruker Daltonik Gmbh Interne Detektion von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
DE10058706C1 (de) * 2000-11-25 2002-02-28 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in Hochfrequenz-Ionenfallen
US6700120B2 (en) * 2000-11-30 2004-03-02 Mds Inc. Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US6608303B2 (en) 2001-06-06 2003-08-19 Thermo Finnigan Llc Quadrupole ion trap with electronic shims
GB2381653A (en) * 2001-11-05 2003-05-07 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A quadrupole ion trap device and methods of operating a quadrupole ion trap device
US6710336B2 (en) 2002-01-30 2004-03-23 Varian, Inc. Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation
JP3840417B2 (ja) 2002-02-20 2006-11-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US6570151B1 (en) 2002-02-21 2003-05-27 Hitachi Instruments, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
US6674067B2 (en) 2002-02-21 2004-01-06 Hitachi High Technologies America, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
JP3951741B2 (ja) * 2002-02-27 2007-08-01 株式会社日立製作所 電荷調整方法とその装置、および質量分析装置
US6781117B1 (en) 2002-05-30 2004-08-24 Ross C Willoughby Efficient direct current collision and reaction cell
US7511246B2 (en) * 2002-12-12 2009-03-31 Perkinelmer Las Inc. Induction device for generating a plasma
US20040119014A1 (en) * 2002-12-18 2004-06-24 Alex Mordehai Ion trap mass spectrometer and method for analyzing ions
JP3936908B2 (ja) * 2002-12-24 2007-06-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及び質量分析方法
US7019289B2 (en) * 2003-01-31 2006-03-28 Yang Wang Ion trap mass spectrometry
US7071464B2 (en) * 2003-03-21 2006-07-04 Dana-Farber Cancer Institute, Inc. Mass spectroscopy system
US7064319B2 (en) * 2003-03-31 2006-06-20 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer
GB0312940D0 (en) * 2003-06-05 2003-07-09 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A method for obtaining high accuracy mass spectra using an ion trap mass analyser and a method for determining and/or reducing chemical shift in mass analysis
JP4690641B2 (ja) * 2003-07-28 2011-06-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析計
JP3912345B2 (ja) * 2003-08-26 2007-05-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
ATE479895T1 (de) 2004-03-12 2010-09-15 Univ Virginia Elektronentransferdissoziation zur biopolymer- sequenzanalyse
US20050253059A1 (en) * 2004-05-13 2005-11-17 Goeringer Douglas E Tandem-in-time and-in-space mass spectrometer and associated method for tandem mass spectrometry
US7141784B2 (en) 2004-05-24 2006-11-28 University Of Massachusetts Multiplexed tandem mass spectrometry
US7772549B2 (en) 2004-05-24 2010-08-10 University Of Massachusetts Multiplexed tandem mass spectrometry
US7034293B2 (en) * 2004-05-26 2006-04-25 Varian, Inc. Linear ion trap apparatus and method utilizing an asymmetrical trapping field
US6949743B1 (en) 2004-09-14 2005-09-27 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
US7102129B2 (en) * 2004-09-14 2006-09-05 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
WO2006047889A1 (en) * 2004-11-08 2006-05-11 The University Of British Columbia Ion excitation in a linear ion trap with a substantially quadrupole field having an added hexapole or higher order field
DE102005005743B4 (de) 2005-02-07 2007-06-06 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Beschuss mit Neutralteilchen
WO2006099190A2 (en) 2005-03-11 2006-09-21 Perkinelmer, Inc. Plasmas and methods of using them
US7183545B2 (en) * 2005-03-15 2007-02-27 Agilent Technologies, Inc. Multipole ion mass filter having rotating electric field
DE102005025497B4 (de) * 2005-06-03 2007-09-27 Bruker Daltonik Gmbh Leichte Bruckstückionen mit Ionenfallen messen
JP4636943B2 (ja) * 2005-06-06 2011-02-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US8622735B2 (en) * 2005-06-17 2014-01-07 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Boost devices and methods of using them
US7742167B2 (en) 2005-06-17 2010-06-22 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Optical emission device with boost device
JP2007033322A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Osaka Prefecture Univ 質量分析方法及び装置
DE102005061425B4 (de) 2005-12-22 2009-06-10 Bruker Daltonik Gmbh Rückgesteuerte Fragmentierung in Ionenfallen-Massenspektrometern
GB2477657B (en) * 2005-12-22 2011-12-07 Bruker Daltonik Gmbh Method for mass spectrometry of peptide ions
US8097844B2 (en) * 2006-02-23 2012-01-17 Shimadzu Corporation Mass-analysis method and mass-analysis apparatus
JP4369454B2 (ja) 2006-09-04 2009-11-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析方法
WO2008072326A1 (ja) * 2006-12-14 2008-06-19 Shimadzu Corporation イオントラップ飛行時間型質量分析装置
US7842918B2 (en) * 2007-03-07 2010-11-30 Varian, Inc Chemical structure-insensitive method and apparatus for dissociating ions
US7656236B2 (en) 2007-05-15 2010-02-02 Teledyne Wireless, Llc Noise canceling technique for frequency synthesizer
US7847240B2 (en) * 2007-06-11 2010-12-07 Dana-Farber Cancer Institute, Inc. Mass spectroscopy system and method including an excitation gate
DE102007042436B3 (de) * 2007-09-06 2009-03-19 Brandenburgische Technische Universität Cottbus Verfahren und Vorrichtung zur Auf-, Um- oder Entladung von Aerosolpartikeln durch Ionen, insbesondere in einen diffusionsbasierten bipolaren Gleichgewichtszustand
WO2009105080A1 (en) * 2007-11-09 2009-08-27 The Johns Hopkins University Low voltage, high mass range ion trap spectrometer and analyzing methods using such a device
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US7880147B2 (en) * 2008-01-24 2011-02-01 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Components for reducing background noise in a mass spectrometer
US8179045B2 (en) * 2008-04-22 2012-05-15 Teledyne Wireless, Llc Slow wave structure having offset projections comprised of a metal-dielectric composite stack
US7973277B2 (en) 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
JP5039656B2 (ja) * 2008-07-25 2012-10-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置および質量分析方法
US7804065B2 (en) * 2008-09-05 2010-09-28 Thermo Finnigan Llc Methods of calibrating and operating an ion trap mass analyzer to optimize mass spectral peak characteristics
US7947948B2 (en) * 2008-09-05 2011-05-24 Thermo Funnigan LLC Two-dimensional radial-ejection ion trap operable as a quadrupole mass filter
US8178835B2 (en) * 2009-05-07 2012-05-15 Thermo Finnigan Llc Prolonged ion resonance collision induced dissociation in a quadrupole ion trap
JP5107977B2 (ja) * 2009-07-28 2012-12-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析装置
CA2772677C (en) * 2009-09-04 2017-12-12 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Method, system and apparatus for filtering ions in a mass spectrometer
JP2014526046A (ja) 2011-08-05 2014-10-02 アカデミア シニカ 高速プロテオミクスのためのステップ走査式イオントラップ質量分析
US8384022B1 (en) 2011-10-31 2013-02-26 Thermo Finnigan Llc Methods and apparatus for calibrating ion trap mass spectrometers
DE102012013038B4 (de) * 2012-06-29 2014-06-26 Bruker Daltonik Gmbh Auswerfen einer lonenwolke aus 3D-HF-lonenfallen
CN205166151U (zh) 2012-07-13 2016-04-20 魄金莱默保健科学有限公司 火炬和用于维持原子化源的系统
US9202660B2 (en) 2013-03-13 2015-12-01 Teledyne Wireless, Llc Asymmetrical slow wave structures to eliminate backward wave oscillations in wideband traveling wave tubes
US9117646B2 (en) * 2013-10-04 2015-08-25 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for a combined linear ion trap and quadrupole mass filter
US9847218B2 (en) 2015-11-05 2017-12-19 Thermo Finnigan Llc High-resolution ion trap mass spectrometer
CN106908511B (zh) * 2017-03-07 2019-08-02 清华大学 一种小型离子阱质谱进行大范围离子持续分析的方法
GB2584129B (en) * 2019-05-22 2022-01-12 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Ion trap with elongated electrodes
US11145502B2 (en) 2019-12-19 2021-10-12 Thermo Finnigan Llc Emission current measurement for superior instrument-to-instrument repeatability
EP4193383A1 (de) * 2020-08-06 2023-06-14 DH Technologies Development Pte. Ltd. Signal-rausch-verbesserung in einem quadrupol-fouriertransformationsmassenspektrometer

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT528250A (de) * 1953-12-24
US3527949A (en) * 1967-02-15 1970-09-08 Gen Electric Low energy,interference-free,pulsed signal transmitting and receiving device
US3527939A (en) * 1968-08-29 1970-09-08 Gen Electric Three-dimensional quadrupole mass spectrometer and gauge
US4105917A (en) * 1976-03-26 1978-08-08 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for mass spectrometric analysis at ultra-low pressures
US4540884A (en) * 1982-12-29 1985-09-10 Finnigan Corporation Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112005002484B4 (de) 2004-10-08 2022-12-22 The University Of Virginia Patent Foundation Simultane Sequenzanalyse von Amino- und Carboxy-Endgruppen

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6237861A (ja) 1987-02-18
DE3688215T2 (de) 1993-07-22
JP3020490B2 (ja) 2000-03-15
DE3688215D1 (de) 1993-05-13
JPH0821365B2 (ja) 1996-03-04
EP0202943B2 (de) 2004-11-24
DE3650304D1 (de) 1995-05-24
EP0409362A2 (de) 1991-01-23
US4736101A (en) 1988-04-05
EP0202943A3 (en) 1988-02-17
JPH11317193A (ja) 1999-11-16
EP0202943A2 (de) 1986-11-26
DE3688215T3 (de) 2005-08-25
EP0409362A3 (en) 1991-09-18
USRE34000E (en) 1992-07-21
EP0202943B1 (de) 1993-04-07
CA1242536A (en) 1988-09-27
EP0409362B1 (de) 1995-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3650304T2 (de) Betriebsverfahren für eine Ionenfalle.
DE69233438T2 (de) Massenspektrometrie-verfahren unter verwendung zusätzlicher wechselspannungssignale
DE69722717T2 (de) Ionenspeicherungsvorrichtung für Massenspektrometrie
DE69233406T2 (de) Massenspektrometrieverfahren unter benutzung eines kerbfilters
DE3784428T2 (de) Quadrupol-massenspektrometer und verfahren zum betrieb desselben.
DE60209132T2 (de) Quadrupolionenfalle, verfahren zur verwendung derselben und ein eine solche ionenfalle enthaltendes massenspektrometer
DE69825789T2 (de) Vorrichtung und verfahren zur stoss-induzierten dissoziation von ionen in einem quadrupol-ionenleiter
DE69206523T2 (de) Multipol-Einlassvorrichtung für Ionenfalle.
DE69419014T2 (de) Ionenquelle und messenspektrometer mit einer solchen ionenquelle
DE69434452T2 (de) Massenspektrometrisches verfahren mit zwei sperrfeldern gleicher form
DE69714356T2 (de) Plasma-Massenspektrometer
DE69919353T2 (de) Axialejektion aus einem mutipolmassenspektrometer
DE69610158T2 (de) Verfahren zur Verwendung eines Quadrupolionenfallenmassenspektrometers
DE69211420T2 (de) Verfahren zum Betrieb eines Ionenfalle-Massenspektrometers im hochauflösenden Modus
DE69325752T2 (de) Verfahren zur selektiven Speicherung von Ionen in einer Quadrupolionenfalle
DE69919325T2 (de) Spektrometer mit gepulster ionenquelle, kopplungsvorrichtung zur dämpfung der ionenbewegung, und methode zur verwendung derselben
DE3750928T2 (de) Laufzeit-Massenspektrometrie.
DE69806415T2 (de) Verfahren zur untersuchung von ionen in einem apparat mit einem flugzeit-spektrometer und einer linearen quadrupol-ionenfalle
DE69715190T2 (de) Multipolmassenspektrometer mit axialem ausstoss
DE69232866T2 (de) Chemisches ionisationsmassenspektrometrieverfahren mit einem kerbfilter
DE69228427T2 (de) Verfahren zur massenspektrometrie unter verwendung eines rauschfreien signals
DE1673278A1 (de) Ionen-Zyklotron-Resonanz-Massenspektrometer
EP0403965A2 (de) MS-MS-Flugzeit-Massenspektrometer
DE4017264A1 (de) Massenspektrometrischer hochfrequenz-quadrupol-kaefig mit ueberlagerten multipolfeldern
DE69723811T2 (de) Verfahren zum auffangen von ionen in ionenfallen und ionenfalle-massenspektrometersystem

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee