DE19920184C2 - Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde - Google Patents
Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-MeßsondeInfo
- Publication number
- DE19920184C2 DE19920184C2 DE19920184A DE19920184A DE19920184C2 DE 19920184 C2 DE19920184 C2 DE 19920184C2 DE 19920184 A DE19920184 A DE 19920184A DE 19920184 A DE19920184 A DE 19920184A DE 19920184 C2 DE19920184 C2 DE 19920184C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lens
- receiver
- sample
- plane
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 50
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 26
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 10
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 5
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013590 bulk material Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 1
- 230000035790 physiological processes and functions Effects 0.000 description 1
- 238000011112 process operation Methods 0.000 description 1
- 238000001055 reflectance spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren für die gleichzeitige
Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger
Proben, sowie eine Reflektanz-Meßsonde.
Die Erfindung kann auf dem Gebiet der Analytik, Umwelt-, Qualitäts- und Prozeßüberwa
chung, Spektroskopie, Remissions- und Reflexionsmessung eingesetzt werden.
Die Reflektanz einer undurchsichtigen und nicht selbstleuchtenden Probenoberfläche setzt
sich aus der diffusen Remission und der specularen Reflexion zusammen. Eine Oberfläche ist
matt, wenn die diffuse Remission dominiert. Bei einer glänzenden Oberfläche hat die
speculare Reflexion einen wesentlichen Einfluß.
Die Remission R ist die diffuse Reflexion von Strahlung an Materie (Probe). Die Remission
wird durch die Streufähigkeit (Streukoeffizient S) und Absorptionsfähigkeit (Absorptions
koeffizient K) der Probe bestimmt. Zur mathematischen Beschreibung der Remission dient
die Theorie von Kubelka und Munk. Danach ist die Kubelka-Munk-Funktion F, die aus der
gemessenen diffusen Reflexion berechnet wird, dem Quotienten aus Absorptions- und
Streukoeffizient proportional,
F ~ K/S (1).
Remissionsmessungen werden beispielsweise eingesetzt zur
Feststellung des physiologischen Zustandes von Vegetation,
Ermittlung von Feuchte und Struktur von Böden,
Ermittlung der Farbe von Kunststoffen.
Bei der specularen Reflexionsspektroskopie wird die von einer Oberfläche oder Grenzfläche
direkt reflektierte Strahlung analysiert (Reflexionsgesetz), die Auskunft über das spektrale
Reflexionsvermögen liefert. Die speculare Reflexion RG ist u. a. von der Brechzahl n der
Probe abhängig. Da in vielen Fällen die Probe absorbiert, wird die für die Reflexion maßge
bliche Brechzahl neben der Brechkraft auch von dem Absorptionsvermögen der Probe be
stimmt. Die Brechzahl setzt sich aus einem Realteil und einem Imaginärteil zusammen
(komplexe Zahl):
RG = ((n - 1)/(n + 1))2 (2)
mit n = nReal + nImaginär. Die Formel (2) ist eine vereinfachte Darstellung für die Grenzfläche
Luft/Probe bei senkrechter Einstrahlung. Die Brechzahl wird praktisch als Realteil goniometrisch
oder interferometrisch ermittelt.
Reflexionsmessungen werden beispielsweise eingesetzt zur
Ermittlung des Zuckergehaltes in Flüssigkeiten,
Kontrolle von Mischungsverhältnissen binärer Systeme,
Ermittlung des Glanzes von Lack, Papier und Kunststoffen.
Aus der DE 196 37 131 A1 ist eine Einrichtung zum Beurteilen des Reflexionsverhaltens eines
Objektes, insbesondere eines elektrooptischen Anzeigeelementes, bekannt. Aus der EP 0758083 A2
und EP 0818675 A2 ist jeweils ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Erfassung
spektraler Remissionen bekannt. Aus der WO 96/34258, der EP 0837318 A2, der EP 0772345 A2
und der EP 0837313 A2 ist jeweils eine Farbmessvorrichtung bekannt. Nachteilig
bei all diesen Verfahren und Vorrichtungen ist, daß mit ihnen nicht in einfacher Weise die
gleichzeitige Ermittlung der diffusen und specularen Reflexion insbesondere undurchsichtiger
Proben möglich ist.
Aufgabe der Erfindung ist daher die Entwicklung eines einfachen Verfahrens und einer
einfachen Reflektanz-Meßsonde zur gleichzeitigen Ermittlung der diffus und specular reflek
tierten Anteile insbesondere undurchsichtiger Proben. Die Meßsonde soll multifunktional und
für verschiedene Betriebsweisen geeignet sein: Auflage-Sonde für Festkörper, Durchfluß
kammer-Meßsonde für Flüssigkeiten, Tauchkammer-Meßsonde für Flüssigkeiten mit grund
sätzlicher Eignung für den Prozeßbetrieb.
Die Lösung der Aufgabe erfolgt mit dem Verfahren gemäß Anspruch 1 und der Reflektanz-
Meßsonde gemäß Anspruch 2.
Folgende Definitionen werden bei der Erläuterung der Erfindung verwendet:
Empfängerebene: Ebene, in der die lichtempfindlichen Flächen der Empfänger (4, 5) sowie
die Endflächen (6a) (Lichtaustrittsflächen) der Lichtwellenleiter (6) angeordnet sind.
Optikebene: Ebene, in der abbildende Elemente angeordnet sind. Parallel zur Empfänger
ebene.
Meßgerade: Linie, entlang derer die Komponenten Sensorkopf (1) - Tubus (2) - Probe (3)
angeordnet sind.
Empfängergerade: Linie, entlang derer die beiden Empfänger (4, 5) und die Lichtwellenlei
terendflächen (6a) angeordnet sind, wobei die Linie durch die Flächenmittelpunkte der
Empfänger (4, 5) verläuft. Diese Linie verläuft dabei auch durch den Flächenmittelpunkt der
Fläche zwischen beiden Empfängern (4, 5) - an diesem Flächenmittelpunkt bzw. in dessen
Umgebung sind die Endflächen der Lichtwellenleiter (6) lokalisiert.
Gemäß dem Verfahren nach Anspruch 1 wird Strahlung definierter Wellenlänge in den Raum
zwischen Empfänger- und Optikebene, z. B. über Lichtaustrittsflächen von Lichtwellenleiter,
eingekoppelt (Einkoppelstrahlung). Diese aus der Empfängerebene kommende Einkoppel
strahlung breitet sich in Richtung der Optikebene aus und trifft auf ein abbildendes Element
in der Optikebene. Dieses Element kann z. B. eine Linse sein. Linse und Strahlungsquelle sind
so zueinander ausgerichtet, daß die Einkoppelstrahlung nach Passieren der Linse parallelisiert
ist. Die Parallelstrahlung trifft auf die zu untersuchende Probe, z. B. eine feste und undurch
sichtige Oberfläche, die vorzugsweise in unmittelbarer Nähe der Linse lokalisiert ist. Die von
der Probe specular reflektierte Strahlung IS und ein Teil der von der Probe diffus remittierten
Strahlung ID durchdringen entgegen der Einfallsrichtung der Einkoppelstrahlung die Linse und
gelangen auf die in der Empfängerebene lokalisierten optoelektronischen Empfänger. Dabei
wird die IS auf einen der beiden Empfänger gerichtet. Das gelingt beispielsweise dadurch, daß
die divergente Strahlungsquelle (Lichtwellenleiterendflächen) und die Empfängerebene in der
Brennebene der Linse angeordnet sind. Die Strahlungsquelle befindet sich dabei außerhalb
der optischen Achse der Linse. Es entsteht ein umgekehrtes Bild der Strahlungsquelle in der
Empfängerebene. An diesem Bildort ist der eine Empfänger lokalisiert und registriert die von
der Probe specular reflektierte Strahlung IS. Die diffus remittierte Strahlung ID gelangt
dagegen auf beide Empfänger. Das gelingt beispielsweise dadurch, daß die Probe ausreichend
nah an der Linse lokalisiert ist, so daß die Linse keine abbildende Wirkung auf ID ausübt.
Damit werden der eine Empfänger mit der Summe E1 = IS + ID und der andere Empfänger
mit E2 = ID beaufschlagt. Diese beiden Gleichungen bilden ein Gleichungssystem, das nach
den beiden gesuchten Größen IS und ID aufgelöst werden kann. IS und ID können somit
separat, in einem Meßvorgang, ermittelt werden.
Zur Durchführung dieses Verfahrens wird eine Vorrichtung vorgestellt. Gemäß Abb. 1
sind ein Sensorkopf (1), ein zylindrischer Tubus (2) und die zu untersuchende Probe (3)
nacheinander auf der gemeinsamen Meßgeraden angeordnet. Der Sensorkopf enthält zwei
optoelektronische Empfänger (4, 5), Lichtwellenleiter (6) zur Einkopplung von Strahlung in
den Tubus und einen optischen Filter (7) zur Unterdrückung von störendem Umgebungslicht.
Die Lichtwellenleiter sind zum einen mit im Sensorkopf lokalisierten Strahlungsquellen
optisch verbunden. Zum anderen können auch externe Strahlungsquellen über Lichtwellenlei
ter mit dem Sensorkopf verbunden werden. Der Tubus dient der Aufnahme des Sensorkopfes
und einer Linse (8). Die zu untersuchende Probe ist in unmittelbarer Nähe des Tubus lokali
siert.
Die lichtempfindlichen Flächen der Empfänger (4, 5) liegen in der gemeinsamen Empfänger
ebene. Die Empfänger weisen einen definierten Abstand zueinander auf. Die Empfänger
liegen mit ihren Flächenmittelpunkten auf der gemeinsamen Empfängergeraden. Diese Gerade
ist senkrecht zur Meßgeraden ausgerichtet. Dabei steht die Meßgerade senkrecht auf der
Empfängerebene. Zwischen den beiden Empfängern sind Endflächen von Lichtwellenleitern
(6) angeordnet, die Strahlung in den Tubus einkoppeln. Es können ein einziger oder mehrere
Lichtwellenleiter angeordnet sein. Die Endflächen der Lichtwellenleiter liegen in der Empfän
gerebene. Dabei können diese vorzugsweise im Mittelpunkt des Raumes zwischen beiden
Empfängern bzw. in dessen Umgebung lokalisiert sein. Der optische Filter (7) ist direkt am
Sensorkopf montiert und befindet sich somit in unmittelbarer Nähe des Empfängerebene. Der
Filter ist für das Licht der Strahlungsquellen und für das Reflektanzlicht durchlässig und soll
Strahlung anderer Wellenlängen blocken. Damit wird die auf die Empfänger fallende
Intensität von Umgebungsstrahlung oder Fremdlicht reduziert. Anstelle der Lichtwellenleite
rendflächen können auch Strahlungsquellen direkt angeordnet werden.
Der Tubus (2) ist hohl, also optisch durchlässig. Der Tubus ist mit seiner einen Seite am
Sensorkopf lichtdicht montiert. Die andere Seite nimmt eine Linse (8) auf, deren Abstand von
den Lichtwellenleitern und Empfängern der Brennweite entspricht. Das heißt, die Empfänger
ebene liegt in der Brennebene dieser Linse. Die Linse wird von den Lichtwellenleitern mit
Einkoppelstrahlung und die Empfänger mit Probenstrahlung (Reflektanz der Probe (3)) beauf
schlagt. Die Linse gibt Parallelstrahlung auf die zu untersuchende Probe. Die optische Achse
(9) der Linse steht senkrecht auf der Empfängerebene.
Der Linse (8) ist die zu untersuchende Probe (3) in definierter Weise vorgelagert. Es werden
grundsätzlich zwei Fälle unterschieden. Im ersten Fall ist die zu untersuchende Probe in
einem definierten Abstand von der Linse entfernt (einige mm bis cm). Im zweiten Fall sind
Probe und Linse direkt miteinander kontaktiert. Diese beiden Fälle werden weiter unten näher
erläutert (Ansprüche 3 bis 6).
Beim Meßvorgang wird die Probe (3) über die Linse (8) mit Parallelstrahlung beaufschlagt.
Dabei ist die Probenoberfläche parallel zur Empfängerfläche angeordnet bzw. m. a. W. die
optische Achse der Linse steht senkrecht auf der Probenoberfläche. Die auf die Probe
treffende Strahlung wird entsprechend den spektralen Absorptions- und Streueigenschaften
der Probe verändert. Es entsteht das Reflektanzlicht der Probe, von dem ein Teil durch die
Linse (8) auf die Empfängerebene mit den Empfängern (4, 5) gelangt. Dabei treffen auf den
einen Empfänger ausschließlich Photonen der diffusen Remission und auf den anderen
Empfänger Photonen der diffusen Remission und specularen Reflexion. Dazu ist die optische
Achse (9) der Linse (8) zu den Lichtwellenleiterendflächen (6a) in der Weise versetzt
angeordnet, daß diese zwar die Empfängergerade durchstößt, aber entlang dieser Geraden zu
einem der beiden Empfänger (4 oder 5) verschoben ist. Die optische Achse (9) durchstößt
also nicht den Mittelpunkt des Raumes zwischen den beiden Empfängern. Da die Empfänger
in der Brennebene der Linse lokalisiert sind, werden die von der Probe ausgehenden specula
ren Reflexe in der Brennebene abgebildet. Wegen der Versetzung der Linse passiert die
Abbildung jenseits der optischen Achse auf einem der beiden Empfänger. Die Signale der
beiden Empfänger werden miteinander verknüpft und so diffuse Remission und speculare
Reflexion in einfacher Weise ermittelt.
Im folgenden werden zwei verschiedene Einsatzfälle dokumentiert. In dem einen Fall ist die
Probe (3) in einem definierten Abstand von der Linse (8) entfernt (Anspruch 3 und 4).
Hierbei kann der Sensor in einiger Entfernung von der Probe (z. B. Schüttgut) befestigt
werden ohne dabei die Probe zu berühren. Oder der Tubus (2) kann in einen Aufnahmeblock
montiert werden, der gleichzeitig als Auflage auf der Probenoberfläche dient (z. B. plane
Festkörperflächen). Darüberhinaus kann der Tubus selbst als Auflage ausgebildet sein. Der
Auflage- bzw. Aufnahmeblock berührt die Probe. Die Linse (8) hat keinen Kontakt zur Ober
fläche. Die Linse (8) im Tubus (2) ist eine Bikonvexlinse, die die Probe mit Parallelstrahlung
beaufschlagt, die diffuse Remission auf beide Empfänger (4, 5) richtet und die die speculare
Reflexion auf nur einen Empfänger abbildet. In den Aufnahmeblock kann zusätzlich ein
Planfenster eingesetzt werden, was bei der Untersuchung von Flüssigkeiten (oder Gase)
hilfreich ist.
In dem anderen Fall ist die Linse (8) direkt mit der Probe (3) kontaktiert (Anspruch 5 und 6).
Das ist insbesondere bei der Untersuchung von flüssigen Medien günstig. Dabei ist der Tubus
(2) in einem Aufnahmeblock befestigt. Ein solcher Aufnahmeblock kann beispielsweise ein
marktübliches Rohr-T-Stück sein, das zwei Öffnungen für die hindurchfließende Flüssig
keit und eine Öffnung zur Aufnahme des Sensors aufweist. Die Linse (8) ist eine Plankon
vexlinse, wobei die plane Seite der zu untersuchenden Flüssigkeit zugewandt ist. Die
Planseite und die Flüssigkeit bilden eine gemeinsame plane Grenzfläche festflüssig. Dabei
wird von dieser Grenzfläche specular reflektierte Strahlung auf einen der beiden Empfänger
gelenkt, wo die Lichtwellenleiterendflächen (6a) durch die Linse (8) abgebildet werden.
Dieser Empfänger wird außerdem mit diffuser Remission beaufschlagt. Der andere Empfänger
registriert ausschließlich diffuse Remission. Die Linse (8) hat in diesem Fall neben einer
abbildenden Funktion auch die Aufgabe, die reflektierende Probenoberfläche zu gestalten.
Praktische Anwendung: + synchrone Erfassung von Absorption, Streuung und Brechzahl von
Flüssigkeiten + Erfassung von Farbe und Glanz fester Oberflächen.
Die Lichtwellenleiter (6) können in einer Zeile, zentrisch oder in mehreren übereinanderlie
genden Lagen angeordnet sein. Jeder einzelne Lichtwellenleiter wird separat von einer
Strahlungsquelle mit Strahlung versorgt. Das können z. B. Leuchtemitterdioden LED sein, die
sich im Sensorkopf (1) befinden. Dabei werden die Strahlungsquellen nacheinander Licht in
die Lichtwellenleiter (6) einkoppeln, so daß stets nur eine Strahlungsquelle definierter
Wellenlänge aktiv ist. Über einen Anschluß mit Lichtwellenleiter kann auch eine externe
Strahlungsquelle an den Sensorkopf angeschlossen werden. Anstelle der Lichtwellenleiter
kann am Ort der Lichtwellenleiterendflächen auch direkt eine Strahlungsquelle montiert sein
(z. B. eine LED).
Der vorgestellte Reflektanzsensor läßt sich nicht nur für undurchsichtige Proben verwenden.
Unter bestimmtem Bedingungen und Voraussetzungen ist der Sensor grundsätzlich auch für
Proben geeignet, bei denen die Strahlung tiefer in das Probenvolumen eindringt.
Claims (7)
1. Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von
Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, gekennzeichnet dadurch,
daß Strahlung in den Raum zwischen einer, aus mindestens zwei Empfängerflächen von
mindestens zwei optoelektronischen Empfängern gebildeten Empfängerebene und einer, aus
mindestens einem abbildenden Element bestehenden und zur Empfängerebene parallelen
Optikebene von der Empfängerebene aus von einem Ort außerhalb der optischen Achse
eingekoppelt wird, diese Einkoppelstrahlung das abbildende Element beaufschlagt und durch
dringt, die Einkoppelstrahlung durch das abbildende Element parallelisiert wird und auf die
Probe trifft, die von der Probe specular reflektierte Strahlung IS und die diffus remittierte
Strahlung ID das abbildende Element entgegen der Einfallsrichtung der Einkoppelstrahlung
durchdringen, die Strahlung IS durch das abbildende Element auf einen der in der Empfän
gerebene lokalisierten Empfänger trifft, die Strahlung ID auf beide Empfänger trifft, so daß
der eine Empfänger ausschließlich mit ID und der andere Empfänger mit ID und IS beauf
schlagt wird, und daß ID und IS über ein Gleichungssystem bestehend aus zwei Gleichungen
separat ermittelt werden.
2. Reflektanz-Meßsonde für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion
von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, mit Strahlungsquellen, optoelektronischen
Empfängern, Lichtwellenleiter, Filter und Linse, gekennzeichnet dadurch,
daß ein Sensorkopf (1) mit Empfänger (4, 5), Filter (7) und Strahlungsquellen mit Licht wellenleitern (6), ein Tubus (2) mit Linse (8) sowie eine zu untersuchende Probe (3) nachein ander auf einer gemeinsamen Meßgeraden angeordnet sind,
daß im Sensorkopf (1) zwei optoelektronische Empfänger (4, 5) mit ihren Empfängerflächen in einer gemeinsamen Empfängerebene lokalisiert sind und sich dabei mit den Empfänger flächenmittelpunkten auf einer gemeinsamen und zur Meßgeraden senkrecht ausgerichteten Empfängergeraden befinden und die Meßgerade senkrecht auf der Empfängerebene steht,
daß zwischen beiden Empfängern (4, 5) die Endflächen (6a) der Lichtwellenleiter (6) angeordnet sind, wobei die Lichtwellenleiterendflächen in der Empfängerebene liegen und ein Filter (7) zur Unterdrückung von Umgebungslicht in unmittelbarer Nähe vor der Empfänger ebene montiert ist,
daß der Tubus (2) mit der einen Stirnseite am Sensorkopf (1) montiert ist, die andere Stirnsei te eine Linse (8) aufnimmt, so daß sich Empfängerebene und Optikebene mit Linse (8) im Innern des Tubus (2) gegenüberstehen, wobei die optische Achse (9) der Linse (8) senkrecht auf der Empfängerebene steht und die Empfängerebene in der Brennebene der Linse (8) lokalisiert ist,
daß der Linse (8) die zu untersuchende Probe (3) vorgelagert ist, wobei Linse (8) und Probe (3) einen definierten Abstand aufweisen oder die Probe (3) mit der Linse (8) direkt kon taktiert ist, sowie die Probenoberfläche parallel zur Optikebene ausgerichtet ist,
und daß zur separaten Erfassung von diffuser Remission und specularer Reflexion die opti sche Achse (9) der Linse (8) die Empfängergerade durchstößt und die Lichtwellenleiterend flächen (6a) außerhalb der optischen Achse (9) derart angeordnet sind, daß der eine Empfän ger mit specularer Reflexion plus diffuser Remission und der andere Empfänger ausschließ lich mit diffuser Remission der Probe (3) beaufschlagt ist.
daß ein Sensorkopf (1) mit Empfänger (4, 5), Filter (7) und Strahlungsquellen mit Licht wellenleitern (6), ein Tubus (2) mit Linse (8) sowie eine zu untersuchende Probe (3) nachein ander auf einer gemeinsamen Meßgeraden angeordnet sind,
daß im Sensorkopf (1) zwei optoelektronische Empfänger (4, 5) mit ihren Empfängerflächen in einer gemeinsamen Empfängerebene lokalisiert sind und sich dabei mit den Empfänger flächenmittelpunkten auf einer gemeinsamen und zur Meßgeraden senkrecht ausgerichteten Empfängergeraden befinden und die Meßgerade senkrecht auf der Empfängerebene steht,
daß zwischen beiden Empfängern (4, 5) die Endflächen (6a) der Lichtwellenleiter (6) angeordnet sind, wobei die Lichtwellenleiterendflächen in der Empfängerebene liegen und ein Filter (7) zur Unterdrückung von Umgebungslicht in unmittelbarer Nähe vor der Empfänger ebene montiert ist,
daß der Tubus (2) mit der einen Stirnseite am Sensorkopf (1) montiert ist, die andere Stirnsei te eine Linse (8) aufnimmt, so daß sich Empfängerebene und Optikebene mit Linse (8) im Innern des Tubus (2) gegenüberstehen, wobei die optische Achse (9) der Linse (8) senkrecht auf der Empfängerebene steht und die Empfängerebene in der Brennebene der Linse (8) lokalisiert ist,
daß der Linse (8) die zu untersuchende Probe (3) vorgelagert ist, wobei Linse (8) und Probe (3) einen definierten Abstand aufweisen oder die Probe (3) mit der Linse (8) direkt kon taktiert ist, sowie die Probenoberfläche parallel zur Optikebene ausgerichtet ist,
und daß zur separaten Erfassung von diffuser Remission und specularer Reflexion die opti sche Achse (9) der Linse (8) die Empfängergerade durchstößt und die Lichtwellenleiterend flächen (6a) außerhalb der optischen Achse (9) derart angeordnet sind, daß der eine Empfän ger mit specularer Reflexion plus diffuser Remission und der andere Empfänger ausschließ lich mit diffuser Remission der Probe (3) beaufschlagt ist.
3. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 2, gekennzeichnet dadurch,
daß die im Tubus (2) lokalisierte Linse (8) eine Bikonvexlinse und der Tubus an einen Auf
nahmeblock linsenseitig montierbar ist, der einen definierten und konstanten Abstand der
Linse zur Probe realisiert.
4. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 3, gekennzeichnet dadurch,
daß im Fall einer flüssigen Probe zwischen Linse (8) und Probe (3) ein Schutzfenster an
geordnet ist, das mit der Probe direkt kontaktiert ist.
5. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 2, gekennzeichnet dadurch,
daß die im Tubus (2) lokalisierte Linse (8) eine Plankonvexlinse und der Tubus an einen
Aufnahmeblock linsenseitig montierbar ist, der einen direkten Kontakt der Linse mit der
Probe realisiert.
6. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 5, gekennzeichnet dadurch,
daß die Planseite der Plankonvexlinse direkt mit der Probe kontaktiert ist.
7. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 2, gekennzeichnet dadurch,
daß über die Lichtwellenleiter (6) Licht verschiedener Wellenlängen nacheinander die Probe
(3) beaufschlagt oder anstelle der Lichtwellenleiterendflächen (6a) eine Strahlungsquelle
angeordnet ist.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19920184A DE19920184C2 (de) | 1999-05-03 | 1999-05-03 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde |
| DE1999134934 DE19934934C1 (de) | 1999-05-03 | 1999-07-26 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens |
| DE2000102238 DE10002238A1 (de) | 1999-05-03 | 2000-01-20 | Reflektanz-Meßsonde |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19920184A DE19920184C2 (de) | 1999-05-03 | 1999-05-03 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19920184A1 DE19920184A1 (de) | 2000-11-30 |
| DE19920184C2 true DE19920184C2 (de) | 2001-06-07 |
Family
ID=7906728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19920184A Expired - Fee Related DE19920184C2 (de) | 1999-05-03 | 1999-05-03 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19920184C2 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7349096B2 (en) | 2003-02-28 | 2008-03-25 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Scatterometer and a method for observing a surface |
| CN105393106A (zh) * | 2013-04-06 | 2016-03-09 | 罗姆有限责任公司 | 用于测量样品的散射的设备 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004018754B4 (de) * | 2004-04-17 | 2012-10-18 | Optosens Optische Spektroskopie Und Sensortechnik Gmbh | Vorrichtung für die Messung der Lichtstreuung und Lichtabsorption von Proben |
| DE102008017433B4 (de) | 2008-04-03 | 2010-04-08 | Krohne Optosens Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Streuung und/oder Absorption und/oder Refraktion einer Probe |
| DK2278361T3 (da) † | 2009-07-23 | 2014-04-22 | Sick Ag | Optoelectronic sensor |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996034258A1 (en) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Chipper 2000 (Isle Of Man) Limited | Colour detection method |
| EP0758083A2 (de) * | 1995-08-05 | 1997-02-12 | Balzers und Leybold Deutschland Holding AG | Verfahren und Vorrichtung zur spektralen Remissions- und Transmissionsmessung |
| EP0772345A2 (de) * | 1995-11-01 | 1997-05-07 | Xerox Corporation | Vorrichtung zur Kolorimetrie, Glanz und Ausrichtungsrückkopplung in einer Farbdruckanlage |
| EP0818675A2 (de) * | 1996-07-13 | 1998-01-14 | MAN Roland Druckmaschinen AG | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung spektraler Remissionen |
| DE19637131A1 (de) * | 1996-09-12 | 1998-03-26 | Autronic Melchers Gmbh | Einrichtung zum Beurteilen von Reflexionsverhalten |
| EP0837313A2 (de) * | 1996-10-21 | 1998-04-22 | Dr. Bruno Lange GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Farbmessung |
| EP0837318A2 (de) * | 1996-10-21 | 1998-04-22 | Dr. Bruno Lange GmbH | Farbmessvorrichtung |
-
1999
- 1999-05-03 DE DE19920184A patent/DE19920184C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996034258A1 (en) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Chipper 2000 (Isle Of Man) Limited | Colour detection method |
| EP0758083A2 (de) * | 1995-08-05 | 1997-02-12 | Balzers und Leybold Deutschland Holding AG | Verfahren und Vorrichtung zur spektralen Remissions- und Transmissionsmessung |
| EP0772345A2 (de) * | 1995-11-01 | 1997-05-07 | Xerox Corporation | Vorrichtung zur Kolorimetrie, Glanz und Ausrichtungsrückkopplung in einer Farbdruckanlage |
| EP0818675A2 (de) * | 1996-07-13 | 1998-01-14 | MAN Roland Druckmaschinen AG | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung spektraler Remissionen |
| DE19637131A1 (de) * | 1996-09-12 | 1998-03-26 | Autronic Melchers Gmbh | Einrichtung zum Beurteilen von Reflexionsverhalten |
| EP0837313A2 (de) * | 1996-10-21 | 1998-04-22 | Dr. Bruno Lange GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Farbmessung |
| EP0837318A2 (de) * | 1996-10-21 | 1998-04-22 | Dr. Bruno Lange GmbH | Farbmessvorrichtung |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7349096B2 (en) | 2003-02-28 | 2008-03-25 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Scatterometer and a method for observing a surface |
| CN105393106A (zh) * | 2013-04-06 | 2016-03-09 | 罗姆有限责任公司 | 用于测量样品的散射的设备 |
| CN105393106B (zh) * | 2013-04-06 | 2020-02-21 | 罗姆有限责任公司 | 用于测量样品的散射的设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19920184A1 (de) | 2000-11-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0793090B1 (de) | Messanordnung mit einem für Anregungs- und Messstrahlung transparentem Trägerelement | |
| DE69622588T2 (de) | Fluorometer | |
| EP0938658A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kombinierten absorptions- und reflektanzspektroskopie | |
| EP0458223A2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Absorption von transparenten Proben mit ungünstiger Aussenform | |
| CH618266A5 (en) | Spectrophotometer. | |
| DE102013114244B3 (de) | ATR-Infrarotspektrometer | |
| DE4223840C2 (de) | Refraktometer | |
| DE19920184C2 (de) | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde | |
| DE4033912C2 (de) | Optischer Sensor | |
| DE19628250B4 (de) | Vorrichtung zur Messung von Kenngrößen einer zumindest teilweise lichtdurchlässigen Probe | |
| DE102014108630A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Durchführung optischer Messungen an fluiden Substanzen in Gefäßen mit einer Längsrichtung | |
| WO2012038347A1 (de) | Sensor zur überwachung eines mediums | |
| WO2020182589A1 (de) | Sensorvorrichtung umfassend ein sensorelement und eine abschlussscheibe | |
| WO2012038346A1 (de) | Sensor zur überwachung eines mediums | |
| DE102010041141B4 (de) | Sensor zur Überwachung eines Mediums | |
| DE9421343U1 (de) | Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht in einen Lichtleiter | |
| EP3172542A1 (de) | Anordnung zur orts- und wellenlängenaufgelösten erfassung von lichtstrahlung, die von mindestens einer oled oder led emittiert wird | |
| DE19751403A1 (de) | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern | |
| DE10131724B4 (de) | Optisches Absorptions-Messgerät | |
| DE19934934C1 (de) | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens | |
| DE10002238A1 (de) | Reflektanz-Meßsonde | |
| DE10324973A1 (de) | Anordnung und Verfahren zur optischen Detektion von in Proben enthaltenen chemischen, biochemischen Molekülen und/oder Partikeln | |
| DE102022122543B4 (de) | Filterbasiertes Spektrometer | |
| DE102010041136B4 (de) | Sensor zur Überwachung eines Mediums | |
| DE102023204533B4 (de) | Verfahren für die Durchführung von biochemischen Untersuchungen an Proben |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| AF | Is addition to no. |
Ref country code: DE Ref document number: 10002238 Format of ref document f/p: P |
|
| AG | Has addition no. |
Ref country code: DE Ref document number: 19934934 Format of ref document f/p: P |
|
| D2 | Grant after examination | ||
| AF | Is addition to no. |
Ref country code: DE Ref document number: 10002238 Format of ref document f/p: P |
|
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |