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DE19803032A1 - Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware - Google Patents

Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware

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Publication number
DE19803032A1
DE19803032A1 DE1998103032 DE19803032A DE19803032A1 DE 19803032 A1 DE19803032 A1 DE 19803032A1 DE 1998103032 DE1998103032 DE 1998103032 DE 19803032 A DE19803032 A DE 19803032A DE 19803032 A1 DE19803032 A1 DE 19803032A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
product
database
model
product model
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE1998103032
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Horst Dipl Ing Meissner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mercedes Benz Group AG
Original Assignee
DaimlerChrysler AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DaimlerChrysler AG filed Critical DaimlerChrysler AG
Priority to DE1998103032 priority Critical patent/DE19803032A1/de
Priority to AU32464/99A priority patent/AU3246499A/en
Priority to DE19980096T priority patent/DE19980096D2/de
Priority to PCT/DE1999/000182 priority patent/WO1999038024A1/fr
Publication of DE19803032A1 publication Critical patent/DE19803032A1/de
Ceased legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2846Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • G01R31/2848Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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DE1998103032 1998-01-27 1998-01-27 Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware Ceased DE19803032A1 (de)

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AU32464/99A AU3246499A (en) 1998-01-27 1999-01-25 Method for computer assisted optimization of inspection specifications and minimization of test software
DE19980096T DE19980096D2 (de) 1998-01-27 1999-01-25 Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware
PCT/DE1999/000182 WO1999038024A1 (fr) 1998-01-27 1999-01-25 Procede d'optimisation de specifications de controle et de minimisation de logiciels de controle assistees par ordinateur

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WO1999038024A1 (fr) 1999-07-29
DE19980096D2 (de) 2001-02-15
AU3246499A (en) 1999-08-09

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