DE19747061A1 - Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von ObjektenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen,
optischen Vermessung von Objekten. Es gibt mittlerweile eine Reihe von optischen
Meßverfahren, die durch Projektion von Streifenmustern, welche in der Regel mit einer
Videokamera aufgezeichnet werden, die flächenhafte Berechnung von dreidimensionalen
Konturdaten ermöglichen. Zur Berechnung der dreidimensionalen Gestalt eines Objektes
wird hierbei ein digitales Bildverarbeitungssystem verwendet, das aus einem oder meh
reren Kamerabildern die gewünschten Ergebnisdaten berechnet. Die bekanntesten Ver
fahren sind das Verfahren des codierten Lichtansatzes. (T.G. Stahs, F.M. Wahl, "Close
Range Photogrammetry Meets Machine Vision", SPIE Vol. 1395 (1990) S. 496-503) und
ein mittels Phasenshift und rotierendem Liniengitter arbeitendes Projektionsverfahren
(Patentschrift US 5289264).
Die Berechnung der Oberflächenpunkte erfolgt bei diesen Verfahren durch Berechnung
des Schnittpunktes der Lichtschnittebenen mit Beobachtungsstrahlen, da die Verschnei
dung einer Ebene mit einer hierzu nicht parallelen Geraden einen Punkt ergibt.
Durch Abbildungsfehler des Projektorobjektivs sind die Lichtschnittebenen mehr oder
weniger stark gekrümmt. Geometrische Fehler der Lichtschnittebenen, d. h. Abweichun
gen der realen Lichtschnittebenen von mathematisch exakten Ebenen, werden bisher ent
weder als systematische Fehler in Kauf genommen oder durch eine Kalibrierung derart
kompensiert, daß die theoretischen bzw. rechnerischen Ergebnisse durch Vergleich mit
Istkoordinaten korrigiert werden. Hierbei wird ein Kalibrierkörper durch das Meßvolu
men geschoben und in bestimmten Abständen vermessen. Zwischen den Meßpositionen
des Kalibrierkörpers bzw. den Kalibriermarken werden die Korrekturwerte durch Inter
polation berechnet.
Der in Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, daß die
tatsächliche Geometrie der Lichtschnittebenen nicht bestimmbar ist, weil innerhalb einer
Lichtschnittebene nicht zwischen einzelnen Teilflächen unterschieden werden kann.
Durch den mit der Kamera aufgezeichneten Lichtcode wird nämlich, unabhängig von der
verwendeten Codierung, lediglich die Lichtschnittebene als solche identifiziert. Es müs
sen folglich bezüglich der Lichtschnittebene Annahmen gemacht werden, nämlich daß es
sich um exakte Ebenen handelt und diese senkrecht auf der durch die optischen Achsen
von Projektor und Kamera aufgespannten Triangulationsebene stehen.
Bei der Verwendung von Lichtschnittebenen kann außerhalb des kalibrierten Meßvolu
mens keine exakte Triangulation mehr durchgeführt werden, weil die Korrekturdaten
aufgrund fehlender Kalibriermessungen nicht berechnet werden können.
Werden Objektive mit kurzen Brennweiten verwendet, so sind die hierdurch verursach
ten geometrischen Verzerrungen der Lichtschnittebenen so komplex, daß häufig die In
terpolation über längere Strecken zwischen den Stützpunkten der Kalibrierung nicht
mehr ausreicht, um die Fehler exakt genug zu beschreiben bzw. zu kompensieren. Es
muß dann der Kalibrierkörper in engen Abständen durch das Meßvolumen geschoben
und vermessen werden. Der rechnerische und zeitliche Aufwand für die Systemkalibrie
rung ist hierbei erheblich.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Einrichtung zur dreidimensio
nalen, optischen Vermessung von Objekten mittels projizierter Liniengitter und einer
Kamera anzugeben, die eine exakte Bestimmung der vorliegenden projektionsseitigen
Strahlengeometrie ermöglichen und somit Annahmen über die Ebenheit und die Ausrich
tung der Lichtschnittebenen erübrigen.
Diese Aufgabe wird durch das in Patentanspruch 1 aufgeführte Verfahren und die in An
spruch 7 angegebene Einrichtung gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den jewei
ligen Unteransprüchen angegeben.
Erfindungsgemäß werden zwei Liniengittersequenzen projiziert und aufgenommen, de
ren Gitterlinien in Projektionsrichtung gegeneinander verdreht sind. Erfindungsgemäß
unterteilen die Lichtschnittebenen der einen Liniengittersequenz die Lichtschnittebenen
der anderen Liniengittersequenz in eine große Anzahl eindeutig unterscheidbarer Pro
jektionsstrahlen, welche von ortsfesten Punkten des diese Lichtschnittebenen erzeugen
den Projektionsgitters ausgehen. Die erzeugten Projektionsstrahlen sind also die Schnitt
linien von jeweils zwei Lichtschnittebenen.
Man erhält so eine Matrix aus n × m eindeutig identifizierbaren Projektionsstrahlen, wo
bei n die Anzahl der mit der einen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen und
m die Anzahl der mit der anderen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen ist.
Zur eindeutigen Codierung der Projektionsstrahlen kombiniert man vorteilhafterweise
die aus beiden Liniengittersequenzen erzeugten Lichtcodes zu 2-Tupeln oder hängt die
Stellen der beiden Codewörter zu einem neuen, längeren Codewort aneinander. Damit
das erzeugte Bündel von Projektionsstrahlen für eine Triangulation, d. h. Berechnung von
dreidimensionalen Punktkoordinaten verwendet werden kann, wird erfindungsgemäß
jedem Projektionsstrahl durch eine Kalibrierung ein Ortsvektor und ein Richtungsvektor
zugewiesen. Erfindungsgemäß wird die Triangulation durch Berechnung des Schnitt
punktes des durch die Position des betrachteten Bildpunktes auf dem Bildsensor festge
legten Beobachtungsstrahls mit dem durch den eindeutigen Code an diesem Bildpunkt
indentifizierten Projektionsstrahl durchgeführt.
Die Unterscheidbarkeit einzelner Projektionsstrahlen innerhalb des Projektionskegels
vereinfacht Kalibrierung und Triangulation gegenüber der Verwendung von Lichtschnitt
ebenen ganz erheblich, da nun lediglich eine geradlinige Ausbreitung der Projektions
strahlen außerhalb des Projektorobjektivs vorausgesetzt werden muß. Diese ist unab
hängig von den optischen Qualitäten des Projektionsgitters und der Abbildungsoptik
immer gegeben, da die Projektionsstrahlen von ortsfesten Punkten des Projektionsgitters
ausgehen und sich damit, unabhängig von den geometrischen Fehlern der Lichtschnitt
ebenen, innerhalb des Projektionskegels exakt geradlinig ausbreiten.
Vorteilhafterweise werden die Linien der einen Liniengittersequenz senkrecht und die
Linien der anderen Liniengittersequenz waagerecht zu der von den optischen Achsen von
Projektor und Kamera aufgespannten Triangulationsebene ausgerichtet. Hierdurch wird
die größtmögliche Auflösung bzw. Meßempfindlichkeit erzielt.
Als Liniengittersequenz wird vorteilhafterweise eine solche Folge von Linienmustern
verwendet, die den Projektionskegel in eine möglichst hohe Anzahl eindeutig unter
scheidbarer Sektoren bzw. Lichtschnittebenen unterteilt. Hierzu kann beispielsweise die
Liniengittersequenz nach dem Verfahren des Codierten Lichtansatzes verwendet werden
oder ein Phasenshiftverfahren, bei dem durch Projektion von sinusförmigen Streifenmu
stern unterschiedlicher Wellenlänge absolute Phasenwinkel berechnet werden können.
Eine weitere Alternative bieten ferner die in der Patentanmeldung AZ 197 38 179.0-52
offengelegten Verfahren.
Es ist somit ein Verfahren geschaffen, das nicht mehr auf Lichtschnittebenen aufsetzt,
sondern auf einem Bündel eindeutig unterscheidbarer Projektionsstrahlen. Die Annahme
über das Vorliegen ebener Lichtschnittebenen entfällt also.
Die Abbildungsfehler des Projektorobjektivs können praktisch beliebig groß sein, da nun
lediglich eine geradlinige Ausbreitung der Projektionsstrahlen außerhalb des Projektor
objektivs vorausgesetzt wird. Die Verwendung kurzbrennweitiger Objektive ist damit
möglich, ohne daß darunter die Genauigkeit des Meßsystems leidet. Hierdurch läßt sich
in vielen Anwendungsfällen, z. B. bei der Vermessung großer Objekte, der Meßabstand
erheblich verkürzen. Ferner muß das Projektionsgitter weder sehr genau gefertigt sein
noch exakt auf die Triangulationsebene ausgerichtet werden. Dadurch lassen sich Kosten
einsparen.
Die aufwendige Kalibrierung, bei der der Kalibrierkörper in engen Abständen innerhalb
des Meßvolumens zur Bestimmung der Korrekturwerte vermessen werden muß, entfällt.
Die Kalibrierung der Projektionsstrahlen ist auch außerhalb der Meßpositionen des Kali
brierkörpers uneingeschränkt gültig.
Im Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand von Zeichnungen
erläutert.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 die Gesamtdarstellung eines System zur optischen Vermessung von Objekten
mittels Projektion zweier gekreuzter Liniengittersequenzen
Fig. 2 die Darstellung des Triangulationsvorganges durch Erzeugung von Projektions
strahlen mittels Verschneidung von Lichtschnittebenen
Fig. 3 die Darstellung der Kalibrierung der Projektionseinrichtung bzw. der Projektions
strahlen.
Die Fig. 1 zeigt eine vereinfachte schematische Darstellung einer Einrichtung zur opti
schen Vermessung von Objekten gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Eine
Einrichtung zur optischen Vermessung eines Objektes 4 enthält eine Projektionseinrich
tung, bestehend aus Lichtquelle 1, Projektionsgitter 2 und Optik 8, mit der vertikale Li
nienmuster 3' und horizontale Linienmuster 3'' auf dem zu vermessenden Objekt 4 er
zeugt werden. Mittels einer Optik 9 wird eine Abb. 5 der auf das Objekt projizier
ten Linienmuster 3' und 3'' auf einem Bildsensor 6 erzeugt. Optik 9 und Bildsensor 6
können Bestandteile einer Kamera bzw. Videokamera sein. Mittels eines Bildverarbei
tungssystems 7 wird aus der Abbildung des projizierten Linienmusters 3' und 3'' die
Oberflächenkontur des zu vermessenden Objekts 4 berechnet. Das Bildverarbeitungs
system 7 kann aus einem Mikrocomputer mit eingebauter Bildeinzugskarte
(Framegrabber) bestehen.
Mittels des Projektionsgitters 2 werden die zwei Liniengittersequenzen 2' und 2'' nach
einander erzeugt und auf das Objekt 4 projiziert. Die dargestellten Gittersequenzen ent
sprechen in der gezeigten Ausführung denen des CLA-Verfahrens, wobei die Liniengit
tersequenz 2'' gegenüber der Liniengittersequenz 2' um 90° gedreht ist. Die einzelnen
Liniengitter der Liniengittersequenzen 2' und 2'' sind in ihrer zeitlichen Abfolge entlang
der Zeitachse t dargestellt. Sie werden zweckmäßigerweise mit nur einem Projektions
gitter, z. B. der Punktematrix eines LCD-Panels erzeugt. Alle projizierten Liniengitter
werden mit dem Bildsensors 6 aufgenommen und dem Bildverarbeitungssystem 7 zur
Weiterverarbeitung zugeführt. Das Bildverarbeitungssystem berechnet aus den Bilddaten
über eine Triangulationsrechnung die dreidimensionale Gestalt des Objektes 4.
Die Erzeugung von Projektionsstrahlen durch Verschneidung von Lichtschnittebenen ist
in Fig. 2 dargestellt. Sind beide Liniengittersequenzen projiziert, so identifiziert die
eine Liniengittersequenz die Lichtschnittebene E' und die andere Liniengittersequenz die
Lichtschnittebene E''. Die vertikale Lichtschnittebene E' geht dabei von der vertikalen
Linie L' des Projektionsgitters 2 aus, die horizontale Lichtschnittebene E'' von der hori
zontalen Linie L''.
Die Verschneidung der beiden Lichtschnittebenen E' und E'' ergibt den Projektionsstrahl
p mit Richtungsvektor der, ausgehend vom Schnittpunkt G der Gitterlinie L' mit Git
terlinie L'', am Punkt O des Objektes 4 auftrifft. Der Punkt O wird entlang des Beob
achtungsstrahls b mit Richtungsvektor der Bildkoordinate auf dem Bildsensor 6
abgebildet. Die Raumkoordinate des Punktes O ergibt sich also als Schnittpunkt des
Projektionsstrahls p mit Beobachtungsstrahl b.
Für die Kalibrierung der Kamera sind zahlreiche Verfahren bekannt. Sie muß deshalb
hier nicht weiter erläutert werden. Die Kalibrierung der Projektionseinrichtung mit Un
terscheidung einzelner Projektionsstrahlen ist in Fig. 3 dargestellt. Hierbei wird eine
Kalibrierplatte 10 mit Kalibriermarken entlang des Vektors verschoben. Die Abbil
dung zeigt exemplarisch die Kalibrierung des vom Punkt des Projektionsgitters 2 aus
gehenden Projektionsstrahls p. Der Durchstoßpunkt des Projektionsstrahls p durch die
Kalibrierplatte 10 liefert den Ortsvektor des Projektionsstrahles p, die Richtung des
Projektionsstrahles p ergibt sich als die Summe der Vektoren und ( = + ).
Die Verschiebung des Durchstoßpunktes von Projektionsstrahl p und Kalibrierplatte
10 kann auf dem Bildsensor 6 als Verschiebung beobachtet werden. Zur Verschie
bung der Kalibrierplatte wird zweckmäßigerweise ein präzis arbeitender Linearversteller
verwendet, so daß mit großer Genauigkeit bekannt ist. Besteht der Bildsensor aus
einer diskreten Anzahl von Bildpunkten, so wird die Verschiebung u. U. keinem
ganzzahligen Vielfachen des Bildpunktabstandes entsprechen. Der genaue Durchstoß
punkt des Beobachtungsstrahls durch den Bildsensor wird dann zweckmäßigerweise
durch Interpolation aus den ihn umgebenden Bildpunkten berechnet.
Claims (13)
1. Verfahren zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten,
bei dem mittels eines Projektors Lichtmuster auf das zu vermessende Objekt projiziert,
Abbildungen von den auf das zu vermessende Objekt projizierten Lichtmustern auf dem
Bildsensor einer Kamera erzeugt, und aus den erzeugten Abbildungen über Entschlüsse
lung des Lichtcodes und die Position der Bildpunkte auf dem Bildsensor der Kamera
eine Triangulationsrechnung zur Berechnung der Oberflächenkontur des Objektes
durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei in Projektionsrichtung gegeneinander verdrehte Liniengittersequenzen zur Er zeugung eindeutig unterscheidbarer Lichtschnittebenen projiziert und mit der Kamera aufgenommen werden, wobei die mit einer Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnitt ebenen dazu verwendet werden, um die mit der anderen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen in einzelne, eindeutig unterscheidbare und von ortsfesten Punkten des diese Lichtschnittebenen erzeugenden Projektionsgitters ausgehende Projektions strahlen aufzuteilen,
daß jedem Projektionsstrahl durch Kombination der aus den beiden Liniengittersequen zen erzeugten eindeutigen Codierungen der Lichtschnittebenen eine eindeutige Codie rung zugewiesen wird,
daß für jeden Projektionsstrahl innerhalb des dem zu vermessenden Objektes zugewand ten Projektionskegels durch eine Kalibrierung unmittelbar oder mittelbar ein Ortsvektor und ein Richtungsvektor bestimmt werden,
daß die Triangulation für alle auszuwertenden Bildpunkte des Bildsensors jeweils durch Berechnung des Schnittpunktes des durch die Position des Bildpunktes auf dem Bildsensor festgelegten Beobachtungsstrahls mit dem durch die eindeutige Codierung an diesem Bildpunkt identifizierten Projektionsstrahl durchgeführt wird.
daß zwei in Projektionsrichtung gegeneinander verdrehte Liniengittersequenzen zur Er zeugung eindeutig unterscheidbarer Lichtschnittebenen projiziert und mit der Kamera aufgenommen werden, wobei die mit einer Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnitt ebenen dazu verwendet werden, um die mit der anderen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen in einzelne, eindeutig unterscheidbare und von ortsfesten Punkten des diese Lichtschnittebenen erzeugenden Projektionsgitters ausgehende Projektions strahlen aufzuteilen,
daß jedem Projektionsstrahl durch Kombination der aus den beiden Liniengittersequen zen erzeugten eindeutigen Codierungen der Lichtschnittebenen eine eindeutige Codie rung zugewiesen wird,
daß für jeden Projektionsstrahl innerhalb des dem zu vermessenden Objektes zugewand ten Projektionskegels durch eine Kalibrierung unmittelbar oder mittelbar ein Ortsvektor und ein Richtungsvektor bestimmt werden,
daß die Triangulation für alle auszuwertenden Bildpunkte des Bildsensors jeweils durch Berechnung des Schnittpunktes des durch die Position des Bildpunktes auf dem Bildsensor festgelegten Beobachtungsstrahls mit dem durch die eindeutige Codierung an diesem Bildpunkt identifizierten Projektionsstrahl durchgeführt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Linien der einen Liniengittersequenz senkrecht und die Linien der anderen Li
niengittersequenz waagerecht zu der durch die optischen Achsen von Projektor und Ka
mera aufgespannten Triangulationsebene ausgerichtet sind.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Kalibrierung der Projektionsstrahlen ein Kalibrierkörper geradlinig verschoben
wird und Ort und Richtung der Projektionsstrahlen aus den Schnittpunkten der Pro
jektionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper bzw. aus der Verschiebung des Kalibrierkör
pers und aus den hierdurch erzeugten Lageänderungen der Schnittpunkte der Pro
jektionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper berechnet werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß als Liniengittersequenz eine solche verwendet wird, die einer der in der Patentan
meldung AZ 197 38 179.0752 offengelegten Verfahren zur Ermittlung absoluter, nicht
2π modulierter Phasenwinkel entspricht.
5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß als Liniengittersequenz die des Codierten Lichtansatzes verwendet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß als Liniengittersequenz die eines Phasenshiftverfahrens zur Berechnung absoluter,
nicht 2π modulierter Phasenwinkel verwendet wird.
7. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 6 mit
einer Projektionseinrichtung bestehend aus Lichtquelle (1), Projektionsgitter (2) und
Optik (8) zur Erzeugung von Linienmustern auf dem zu vermessenden Objekt (4), einer
Optik (9) zur Erzeugung von Abbildungen (5) der auf das Objekt projizierten Linienmu
ster auf einem Bildsensor (6), und einem Bildverarbeitungssystem (7) zur Berechnung
der Oberflächenkontur aus den erzeugten Abbildungen (5), dadurch gekennzeichnet,
daß ein Projektionsgitter (2) zwei in Projektionsrichtung gegeneinander verdrehte Li
niengittersequenzen (2') und (2'') erzeugt, wobei die mit einer Liniengittersequenz (2'')
erzeugten Lichtschnittebenen die mit der anderen Liniengittersequenz (2') erzeugten
Lichtschnittebenen in einzelne, eindeutig unterscheidbare und von ortsfesten Punkten
des Projektionsgitters (2) ausgehende Projektionsstrahlen aufteilen.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß ein als Punktematrix ausgebildetes Projektionsgitter die beiden Liniengittersequen
zen (2') und (2'') erzeugt, wobei die Linien der einen Liniengittersequenz durch die Zei
len der Punktematrix gebildet werden und die Linien der anderen Liniengittersequenz
durch die Spalten der Punktematrix gebildet werden.
9. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktematrix aus einem LCD-Panel besteht.
10. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktematrix aus einem Mikro-Spiegel-Modulator (MMD = micro mirror
device) besteht.
11. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß das Projektionsgitter (2) aus zwei auf der optischen Achse der Optik (8) unmittelbar
hintereinander angeordneten Liniengittern besteht.
12. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß ein in der Gitterebene drehbares Liniengitter die beiden Liniengittersequenzen er
zeugt.
13. Einrichtung nach Anspruch 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Kalibrierung der Projektionsstrahlen eine Verschiebevorrichtung einen Kali
brierkörper (10) geradlinig verschiebt, ein Bildsensor (6) die Schnittpunkte der Projek
tionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper (10) und die durch die Verschiebung des Kali
brierkörpers (10) erzeugten Lageänderungen der Schnittpunkte der Projektionsstrahlen
mit dem Kalibrierkörper (10) beobachtet und ein an den Bildsensor (6) angeschlossenes
Bildverarbeitungssystem daraus Ort und Richtung der Projektionsstrahlen berechnet (Fig. 3).
Priority Applications (1)
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Publications (2)
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Country Status (1)
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Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009063088A3 (de) * | 2007-11-15 | 2009-09-17 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur optischen vermessung von objekten unter verwendung eines triangulationsverfahrens |
| WO2009063087A3 (en) * | 2007-11-15 | 2009-09-24 | Sirona Dental Systems Gmbh | Method for optical measurement of the three dimensional geometry of objects |
| EP1577641A3 (de) * | 2004-03-15 | 2011-10-05 | Northrop Grumman Systems Corporation | Farb-kodiertes Licht für automatisierte Formmessung mittels Photogrammetrie |
| CN101256672B (zh) * | 2008-03-21 | 2011-10-12 | 北京中星微电子有限公司 | 基于视频摄像设备的物体图像深度重构装置及其投影装置 |
| AT511223A1 (de) * | 2011-03-18 | 2012-10-15 | A Tron3D Gmbh | Vorrichtung zum aufnehmen von bildern von dreidimensionalen objekten |
| EP2221609A3 (de) * | 2009-02-19 | 2012-12-19 | Carl Zeiss OIM GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer Oberfläche an einem Gegenstand |
| DE102010029091B4 (de) * | 2009-05-21 | 2015-08-20 | Koh Young Technology Inc. | Formmessgerät und -verfahren |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102016002398B4 (de) * | 2016-02-26 | 2019-04-25 | Gerd Häusler | Optischer 3D-Sensor zur schnellen und dichten Formerfassung |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4175862A (en) * | 1975-08-27 | 1979-11-27 | Solid Photography Inc. | Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object |
| DE4115445C2 (de) * | 1990-07-05 | 1994-02-17 | Reinhard Malz | Verfahren zum Aufnehmen eines dreidimensionalen Bildes eines Objektes nach dem aktiven Triangulationsprinzip und Vorrichtung hierzu |
| US5289264A (en) * | 1991-09-26 | 1994-02-22 | Hans Steinbichler | Method and apparatus for ascertaining the absolute coordinates of an object |
| DE19515949A1 (de) * | 1995-05-02 | 1996-11-14 | Continental Ag | Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Vermessung und Erfassung des Profilabriebs eines Fahrzeugreifens |
| DE19543347A1 (de) * | 1994-05-05 | 1997-05-07 | Breuckmann Gmbh | Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19637682B4 (de) * | 1996-09-05 | 2004-04-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung und Vorrichtung zur Anwendung dieses Verfahrens |
-
1997
- 1997-10-24 DE DE1997147061 patent/DE19747061B4/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4175862A (en) * | 1975-08-27 | 1979-11-27 | Solid Photography Inc. | Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object |
| DE4115445C2 (de) * | 1990-07-05 | 1994-02-17 | Reinhard Malz | Verfahren zum Aufnehmen eines dreidimensionalen Bildes eines Objektes nach dem aktiven Triangulationsprinzip und Vorrichtung hierzu |
| US5289264A (en) * | 1991-09-26 | 1994-02-22 | Hans Steinbichler | Method and apparatus for ascertaining the absolute coordinates of an object |
| DE19543347A1 (de) * | 1994-05-05 | 1997-05-07 | Breuckmann Gmbh | Vorrichtung zur optischen Vermessung von Entfernungen und räumlichen Koordinaten |
| DE19515949A1 (de) * | 1995-05-02 | 1996-11-14 | Continental Ag | Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Vermessung und Erfassung des Profilabriebs eines Fahrzeugreifens |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1577641A3 (de) * | 2004-03-15 | 2011-10-05 | Northrop Grumman Systems Corporation | Farb-kodiertes Licht für automatisierte Formmessung mittels Photogrammetrie |
| US8280152B2 (en) | 2007-11-15 | 2012-10-02 | Sirona Dental Systems Gmbh | Method for optical measurement of the three dimensional geometry of objects |
| EP2469224A3 (de) * | 2007-11-15 | 2012-08-01 | Sirona Dental Systems GmbH | Verfahren zur intraoralen optischen Vermessung von Objekten unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens |
| JP2011504586A (ja) * | 2007-11-15 | 2011-02-10 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 物体の三次元形状を光学的に測定する方法 |
| WO2009063087A3 (en) * | 2007-11-15 | 2009-09-24 | Sirona Dental Systems Gmbh | Method for optical measurement of the three dimensional geometry of objects |
| WO2009063088A3 (de) * | 2007-11-15 | 2009-09-17 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur optischen vermessung von objekten unter verwendung eines triangulationsverfahrens |
| US8160334B2 (en) | 2007-11-15 | 2012-04-17 | Sirona Dental Systems Gmbh | Method for optical measurement of objects using a triangulation method |
| JP2011504230A (ja) * | 2007-11-15 | 2011-02-03 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 三角法を用いた物体の光学的測定方法 |
| CN101256672B (zh) * | 2008-03-21 | 2011-10-12 | 北京中星微电子有限公司 | 基于视频摄像设备的物体图像深度重构装置及其投影装置 |
| EP2221609A3 (de) * | 2009-02-19 | 2012-12-19 | Carl Zeiss OIM GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer Oberfläche an einem Gegenstand |
| DE102010029091B4 (de) * | 2009-05-21 | 2015-08-20 | Koh Young Technology Inc. | Formmessgerät und -verfahren |
| US9275292B2 (en) | 2009-05-21 | 2016-03-01 | Koh Young Technology Inc. | Shape measurement apparatus and method |
| AT511223B1 (de) * | 2011-03-18 | 2013-01-15 | A Tron3D Gmbh | Vorrichtung zum aufnehmen von bildern von dreidimensionalen objekten |
| AT511223A1 (de) * | 2011-03-18 | 2012-10-15 | A Tron3D Gmbh | Vorrichtung zum aufnehmen von bildern von dreidimensionalen objekten |
| EP2499992A3 (de) * | 2011-03-18 | 2013-05-22 | a.tron3d GmbH | Vorrichtung zum Aufnehmen von Bildern von dreidimensionalen Objekten |
| US9101434B2 (en) | 2011-03-18 | 2015-08-11 | A.Tron3D Gmbh | Device for recording images of three-dimensional objects |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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