DE19740964A1 - Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht sowie einer Struktur mit einem Supraleiter - Google Patents
Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht sowie einer Struktur mit einem SupraleiterInfo
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 149
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 title claims abstract description 61
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 61
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 59
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 claims abstract description 37
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 claims abstract description 37
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 15
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 51
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 8
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 claims description 8
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 4
- -1 rare earth barium copper oxides Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 claims description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims description 2
- FFWQPZCNBYQCBT-UHFFFAOYSA-N barium;oxocopper Chemical class [Ba].[Cu]=O FFWQPZCNBYQCBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 claims 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 abstract 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 78
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 238000011161 development Methods 0.000 description 7
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 7
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007850 degeneration Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/01—Manufacture or treatment
- H10N60/0268—Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
- H10N60/0296—Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers
- H10N60/0576—Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers characterised by the substrate
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Description
Der Gegenstand der Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstellen
eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktions
schicht, ein Substrat als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funk
tionsschicht, ein Verfahren zum Herstellen einer Struktur mit einer supralei
tenden Funktionsschicht sowie auf eine Struktur mit einem Supraleiter.
Es ist bekannt, daß supraleitende Drähte und Bänder auf der Basis des BI-Sy
stems (BI 2212, BI 2223) erfolgreich hergestellt wurden. Solche supra
leitende Drähte fanden bereits ihre erste Anwendung bei tiefen Temperaturen
bzw. in moderaten Magnetfeldern.
Angestrebt wird die Anwendung supraleitender Strukturen, insbesondere
Drähte und Bänder bei Temperaturen oberhalb von 77 Kelvin und in äuße
ren Magnetfeldern, vorzugsweise von mehr als einem Tesla. Hierzu werden
sogenannte Hochtemperatursupraleitermaterialien verwendet. Bei Temperaturen
oberhalb von 77 Kelvin und äußeren Magnetfeldern von mehr als einem
Tesla ergeben sich bei den bekannten Hochtemperatursupraleiterwerkstoffen
unterschiedliche Problematiken. In diesem Zusammenhang kann angeführt
werden, daß zwischen einzelnen Körnern des supraleitenden Werkstoffes eine
schwache Kopplung, sogenannter weak-link, besteht die mit einer geringen
kritischen Stromdichte einhergeht. Des weiteren kann ein Verlust des Pinnings
bzw. eine Entartung der Flußschläuche zu "pan-cake" vortices innerhalb der
einzelner Körner der stark anisotropen Systeme (BI 2212, BI 2223, TI-Sy
stem; Hg-System) auftreten. Zur Vermeidung des Pinningverlustes werden
für die BI-Systeme insbesondere Bestrahlungstechniken verwendet.
Bei SE 123 ((SE) Ba2 Cu3 O7-x) hat sich zur Vermeidung der weak-link
Problematik die Erzeugung einer biaxialen Textur im Supraleitermaterial als
eine erfolgreiche Methode erwiesen. Zur Erzeugung einer biaxialen Textur
ist hierzu auf eine aus der Halbleitertechnik bekannt Dünnschichttechnologie
(ion beem assisted deposition) zurückgegriffen worden. Hierdurch sind
Stromdichten von mehr als 106 A/cm2 erreicht worden.
Zur Ausbildung einer biaxialen Textur im supraleitenden Material schlägt die
WO 96/32 201 ein Substrat vor, das eine Oberfläche mit einer Textur hat,
durch die ein orientiertes Kristallwachstum eines supraleitenden Materials
erzielt werden soll.
Durch B. Soylu et al. "Texturing of 123 compounds by use of a composi
tional reaction texturing technique", presented in European conference on
applied superconductivity - EUCAS 95, University of Edingburgh, 3.-6.
Juli 1995, Edinburgh, Scottland, ist ein Verfahren zum Herstellen eines
supraleitenden Materials auf einem Substrat bekannt. Hierzu wird auf ein
Substrat eine Vielzahl von Keimenkristallen positioniert. Anschließend wird
ein supraleitendes Material zwischen den relativ zueinander ausgerichteten
Keimkristallen eingebracht, so daß ein Kristallwachstum des supraleitenden
Materials durch die Ausrichtung der Keimkristalle vorgegeben wird.
Ausgehend vom dem bekannten Stand der Technik liegt der vorliegenden
Erfindung die Zielsetzung zugrunde ein Verfahren zum Herstellen eines
Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht,
welches eine kostengünstige Herstellung einer Funktionsschicht ermöglicht,
anzugeben. Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, ein Substrat als Träger
für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht anzugeben. Des weiteren
liegt der Erfindung die Zielsetzung zugrunde ein Verfahren zum Herstellen
einer Struktur mit einer supraleitenden Funktionsschicht anzugeben.
Diese Zielsetzung wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit den
Merkmalen des Anspruchs 1, ein Substrat als Träger für eine, insbesondere
supraleitende, Funktionsschicht gemäß Anspruch 11, ein Verfahren zum
Herstellen einer Struktur mit einer supraleitenden Funktionsschicht nach
Anspruch 19 bzw. eine Struktur mit einer supraleitenden Funktionsschicht
nach Anspruch 23 erreicht. Vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen
sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger
für eine Funktionsschicht zeichnet sich damit aus, daß das Substrat aus
wehigstens zwei Phasen für eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer
Funktionsschicht gebildet wird. Dem erfindungsgemäßen Verfahren zum
Herstellen eines Substrates als Träger für eine Funktionsschicht, insbesondere
für eine supraleitende Funktionsschicht, liegt der Grundgedanke zugrunde,
daß eine Keimbildung und/oder ein Kristallwachstum eine Funktionsschicht
durch die wenigstens zwei Phasen des Substrates angeregt wird. Durch diese
wenigstens zwei Phasen ist es nicht mehr notwendig, wie von Soylu vor
geschlagen, Kristalle auf eine Trägerschicht aufzubringen, die eine Keimbil
dung und/oder ein Kristallwachstum eines supraleitenden Material oder eines
zur Supraleitung geeigneten Vormaterials bewirken.
Nach einer vorteilhaften Weiterbildung des Verfahrens wird vorgeschlagen,
daß mindestens zwei Phasen des Substrates wenigstens teilweise so anein
ander grenzend ausgebildet werden, daß das Substrat eine bevorzugte, für
eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht geeignete,
Ausrichtung aufweist. In diesem Zusammenhang kann von einer topographi
schen Ausrichtung der Phasen des Substrates gesprochen werden.
Alternativ oder zusätzlich zu einer bevorzugten Ausrichtung mindestens
zweier Phasen wird vorgeschlagen, daß mindestens ein Teil der Kristalle
wenigstens einer Phase so ausgerichtet werden, daß das Substrat eine bevor
zugte, für eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht
geeignete, Ausrichtung aufweist. Man kann in diesem Zusammenhang von
einer kristallographischen Ausrichtung des Substrates sprechen. Eine Über
lagerung der topographischen als einer kristallographischen Ausrichtung ist
möglich, so daß diese Überlagerung für eine Keimbildung und ein Kristall
wachstum einer Funktionsschicht förderlich ist.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des Verfahrens wird vor
geschlagen, daß wenigstens eine der Phasen aus einem Material gebildet
wird, welches in wenigstens einer kristallographischen Ebene der Phase
wenigstens eine Epitaxierelation zu einer Funktionsschicht erfüllt.
Eine Epitaxierelation liegt insbesondere dann vor, wenn die Kristallstruktur
der Phase im wesentlichen der Kristallstruktur des supraleitenden Materials
entspricht.
Nach einem weiteren vorteilhaften Gedanken wird zur Herstellung eines
Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht
vorgeschlagen, daß wenigstens eine der Phasen wenigstens teilweise mit einer
Textur, insbesondere einer biaxialen Textur, ausgebildet. Zur Ausbildung
einer solchen Textur wird vorgeschlagen, daß das Substrat aus einem Vor
material gebildet wird, daß einem Ur- und/oder einem Umformvorgang
unterzogen wird. Bei einem solchen Umfangvorgang kann es sich um einen
Walz- oder Ziehvorgang handeln.
Nach einer weiteren vorteilhaften Weitergestaltung des Verfahrens wird
vorgeschlagen, daß das Substrat einer Wärmebehandlung unterzogen wird.
Vorzugsweise wird die Wärmebehandlung in einer oxidierenden Atmosphäre
durchgeführt. Hierbei wird die vorzugsweise Ausrichtung der mindestens
einen Phase auf das Oxyd übertragen. Die Ausbildung eines Oxyds hat den
Vorteil, daß eine Epitaxie einer Funktionsschicht, insbesondere eines supralei
tenden Materials, begünstigt wird.
Wenigstens eine der Phasen liegt vorzugsweise in Form von Fasern vor.
Hierbei kann das Vormaterial auch beispielsweise in Form eines Verbund
werkstoffes vorliegen. Die Fasern können aus einem keramischen Werkstoff
bestehen. Aufgrund der Geometrie der Fasern kann eine bevorzugte Aus
richtung, insbesondere parallel zur Verformungsrichtung, erreicht werden.
Die Fasern als solche müssen hierbei nicht notwendigerweise verformbar
sein.
Dadurch, daß das Substrat wenigstens zweiphasig vorliegt, kann bei ge
eigneter geometrischen Anordnung der Fasern mittels sogenannter künstlichen
Epitaxie eine Bildung biaxial texturierter supraleitender Funktionsschichten
auf dem Substrat erreicht werden.
Das erfindungsgemäße Substrat als Träger für ein supraleitendes Material,
zeichnet sich dadurch aus, daß es aus einem Material mit wenigstens zwei
Phasen gebildet ist, wobei wenigstens eine der Phasen, für eine Keimbildung
und/oder ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht begünstigt. Gemäß einer
vorteilhaften Weiterbildung des Substrates wird vorgeschlagen, daß minde
stens zwei Phasen des Substrates wenigstens teilweise so aneinander grenzen,
daß das Substrat eine bevorzugte, für eine Keimbildung und/oder ein Kri
stallwachstum einer Funktionsschicht geeignete, Ausrichtung aufweist. Durch
diese Weiterbildung des Substrates wird erreicht, daß an den einander
grenzenden Flächen der Phasen eine Keimbildung und ein Keimwachstum
erfolgt. Das Substrat kann mehrere im Abstand zueinander weisende Berei
che haben, die mindestens zwei Phasen enthalten, die wenigstens teilweise
so einander grenzen, daß das Substrat eine bevorzugte, für eine Keimbildung
und ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht geeignete, Ausrichtung
aufweist. Hierbei kann bei der Herstellung einer Funktionsschicht auf dem
Substrat erreicht werden, daß zwischen zwei benachbarten Bereichen ein
Gradient, insbesondere ein Konzentrationsgradient der Funktionsschicht
entsteht, durch den eine gerichtete Ausbildung einer Funktionsschicht erreicht
wird. Der Gradient kann in Form eines Konzentrationsgradienten und/oder
eines Temperaturgradienten vorliegen.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des Substrates wird vor
geschlagen, daß dieses so ausgebildet ist, daß mindestens ein Teil der
Kristalle wenigstens einer Phase so ausgerichtet sind, daß das Substrat eine
bevorzugte, für eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer Funktions
schicht, insbesondere einer supraleitenden Funktionsschicht, geeignete, Aus
richtung aufweist.
Bevorzugt wird ein Substrat, bei dem die für eine Keimbildung und ein
Kristallwachstum einer Funktionsschicht geeignete Phase aus einem Material
gebildet ist, daß in wenigstens einer kristallographischen Ebene der Phase
mindestens eine Epitaxierelation einer Funktionsschicht erfüllt.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des Substrates wird vor
geschlagen, daß wenigstens eine Oberfläche des Substrates eine Textur
aufweist, vorzugsweise eine biaxiale Textur, die auch dadurch erreicht
werden kann, daß ein Vormaterial des Substrates einem Ur- und/oder einem
Umformvorgang unterzogen wurde. Insbesondere weist das Substrat wenig
stens teilweise ein Oxyd, vorzugsweise ein metallisches Oxyd auf, daß eine
biaxiale Textur hat.
Das Substrat kann aus einem oder mehreren Metallen oder Legierungen
bestehen. Vorzugsweise weist das Substrat wenigstens eine Phase auf, die in
Form von Fasern vorliegt. Die Fasern sind nicht zwingend verformbar.
Sollen die Fasern nicht verformbar sein, so wird vorgeschlagen, daß diese
aus einem keramischen Werkstoff bestehen, wodurch eine Epitaxie auf dem
Substrat ermöglicht wird.
Durch das erfindungsgemäße Substrat wird eine effiziente Herstellung einer
Funktionsschicht, insbesondere eines Supraieiters auf dem Substrat ermög
licht, da das Substrat eine vorzugsweise Ausrichtung aufweist, die für eine
Keimbildung und eine gerichtetes Wachstum einer Funktionsschicht geeignet
ist.
Nach einem weiteren erfindungsgemäßen Gedanken wird ein Verfahren zum
Herstellen eine Supraleiters auf einem Substrat vorgeschlagen, bei dem das
Substrat nach einem der Ansprüche 1-10 gebildet wird, und auf das
Substrat ein zur Supraleitung geeignetes Material aufgebracht und danach
einer geeigneten Wärmebehandlung unterzogen wird. Durch die Wärmebe
handlung wird eine Ausrichtung der Phasen ermöglicht. Vorzugsweise wird
die geeignete Wärmebehandlung in einer oxidierenden Atmosphäre durch
geführt, wodurch eine Oxidbildung wenigstens einer Phase des Substrats
bewirkt wird. Hierdurch kann eine Epitaxie eines supraleitenden Materials
auf dem Substrat vereinfacht werden, da diese auf einem ionischen Kristall
besser verläuft.
Durch die Wärmebehandlung des Substrates mit dem auf dem Substrat zur
Supraleitung geeigneten Material kann es auch zur Konzentrations- und/oder
Temperaturgradienten zwischen benachbarten Phasen des Substrates kommen,
wodurch eine Keimbildung und eine gerichtetes Kristallwachstum des supra
leitenden Material erreicht wird.
Nach einer vorteilhaften Weiterbildung des Verfahrens wird vorgeschlagen,
daß das Substrat mit dem zur Supraleitung geeigneten Material beschichtet
wird. Die Beschichtung des Substrates kann mittels einer Dickschicht- oder
Dünnschichttechnologie erfolgen. Insbesondere wird vorgeschlagen, daß ein
zur Supraleitung geeignetes Material durch Elektrolyse PFD, CFD, im
OCVD, LPE, Plasmaspritzen und/oder Begießen erfolgt. Diese Techniken
sind an und für sich bekannt. Sie eröffnen jedoch eine kostengünstige Mög
lichkeit ein Substrat mit einem zur Supraleitung geeigneten Material zu
beschichten.
Insbesondere ist die Beschichtung des Substrates mit einem supraleitenden
Material durch Elektrolyse von besonderer Bedeutung, da die Elektrolysetech
nik als solche, und das damit verbundene Equipment bekannt ist. Es ist
daher nicht notwendig zusätzliche Einrichtungen zur Beschichtung des Sub
strates bereitzustellen.
Vorzugsweise ist das Substrat mit einem zur Supraleitung geeigneten supra
leitenden Material aus der Gruppe der selten Erden-Barium-Kupfer-Oxyden
(SE-123), insbesondere mit YBa2Cu3O7 beschichtet. Das Substrat kann auch
mit Mischkristallen (SE1x, SE2y, SE3z . . .) Ba2 Cu3 O7-x aus der Gruppe der
selten Erden-Barium-Kupfer-Oxyden beschichtet werden.
Nach einem weiteren erfinderischen Gedanken wird eine Struktur mit einem
Supraleiter auf einem Substrat vorgeschlagen, wobei das Substrat als Träger
für eine supraleitende Funktionsschicht dient. Das Substrat weist wenigstens
zwei Phasen auf, die für eine Keimbildung und ein Kristallwachstum der
Funktionsschicht geeignet sind. Durch die Phasen wird eine Keimbildung und
ein Kristallwachstum des zur Supraleitung geeigneten Materials erreicht,
wodurch die Struktur eine supraleitende Funktionsschicht hat.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Struktur wird vorgeschla
gen, daß diese mindestens zwei Phasen aufweist, die wenigstens teilweise so
einander grenzend ausgebildet sind, daß das Substrat eine bevorzugte, für
eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer supraleitenden Funktions
schicht geeignete, Ausrichtung aufweist. Insbesondere wird vorgeschlagen,
daß mindestens ein Teil der Kristalle wenigstens einer Phase des Substrates
so ausgerichtet sind, daß das Substrat eine bevorzugte, für eine Keimbildung
und ein Kristallwachstum einer supraleitenden Funktionsschicht geeignete
Ausrichtung hat.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Struktur wir vorgeschla
gen, daß wenigstens eine Phase des Substrates aus einem Material gebildet
ist, das in wenigstens eine Kristallebene der Phase wenigstens eine Epitaxie
relation einer supraleitenden Funktionsschicht erfüllt.
Insbesondere wird vorgeschlagen, daß wenigstens eine der Phasen der
Struktur wenigstens teilweise mit einer Textur, insbesondere einer biaxialen
Textur, ausgebildet ist.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des Substrates wird vor
geschlagen, daß das Substrat wenigstens teilweise ein Oxyd enthält, daß eine
biaxiale Textur aufweist.
Weiter vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen des Substrates sind
Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Verfahren, des Substrates und der
Struktur mit einem Supraleiter auf einem Substrat werden anhand der in der
Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch ein Verfahren zum Herstellen einer Struktur
mit einer supraleitenden Schicht,
Fig. 2 schematisch ein Verfahren zum Herstellen eines Substra
tes,
Fig. 3 schematisch ein weiteres Verfahren zum Herstellen eines
Substrates,
Fig. 4 schematisch ein drittes Verfahren zum Herstellen eines
Substrates,
Fig. 5 schematisch ein Substrat,
Fig. 6 einen ersten Ausschnitt eines Substrates,
Fig. 7 einen zweiten Ausschnitt eines Substrates,
Fig. 8 einen dritten Ausschnitt eines Substrates und
Fig. 9 einen vierten Ausschnitt eines Substrates.
Die Fig. 1 zeigt schematisch ein Verfahren zum Herstellen einer Struktur 9
mit einer supraleitenden Schicht 8, die auf einem Substrat 4 ausgebildet ist.
Ein Vormaterial 1, welches aus zwei Phasen 2, 3 besteht, wird einem
Umformvorgang in einer Umformstation 5 unterzogen. Bei der Umform
station 5 kann es sich beispielsweise um eine Walzstation handeln. Die
Ausgestaltung der Umformstation ist davon abhängig, welche geometrische
Form dem Substrat 4 verliehen werden soll. Nach dem Umformvorgang in
der Umformstation 5 ist die zweite Phase 3, bei der sich beispielsweise um
Fasern handeln kann, so ausgerichtet, daß diese eine bevorzugte Orientierung
haben. Nach dem Umformvorgang wird das Vormaterial 1 einer Wärmebe
handlung unterzogen. Die Wärmebehandlung erfolgt in einer Wärmebehand
lungsstation 6. Vorzugsweise erfolgt die Wärmebehandlung in einer oxidie
renden Atmosphäre. Das so behandelte Vormaterial bildet ein Substrat 4, das
wenigstens eine texturierte Oberfläche aufweist. Auf die Oberfläche des
Substrates 4 wird in einer Station 7 ein supraleitendes Material aufgebracht.
In der Station 7 erfolgt auch eine Wärmebehandlung des supraleitenden
Material mit dem Substrat 4. Hierbei geht das supraleitende Material in eine
flüssige Phase über. Aufgrund der bevorzugten Orientierung der wenigstens
einen Phase des Substrates 4 erfolgt eine Keimbildung des supraleitenden
Materials, wodurch ein biaxial texturierter Supraleiter auf dem Substrat 4
wächst. Nach geeigneten Abkühlbedingungen verläßt eine Struktur 9 die
Station 7. Die Struktur 9 weist das Substrat 4, auf dem das supraleitende
Material 8 eine supraleitende Schicht bildet.
Die zweiphasige Ausgestaltung des Substrates 4 hat den Vorzug, daß die
eine Phase des Substrates für eine Keimbildung eines supraleitenden Materi
als geeignet ist, während die zweite Phase des Substrates weitere Funktions
eigenschaften hat. Die zweite Phase kann beispielsweise im wesentlichen die
mechanischen Eigenschaften der Struktur bestimmen.
Fig. 2 zeigt schematisch ein Ausführungsbeispiel eines Verfahrens zum
Herstellen eines Substrates 4. Aus einem Vormaterial 1, welches zwei
Phasen 2, 3 aufweist, wird einem Umformvorgang unterzogen. Das Vor
material enthält die Phase 3 in Form von regellos in der Phase 2 integrier
ten Kristallen. Durch den Umformvorgang entsteht ein Vormaterial 1', bei
dem die zweite Phase 3 in einer Vorzugsrichtung orientiert ist. In dem
dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Phase 3 im Vormaterial 1 enthalten.
Um eine Keimbildung und Kristallwachstum zu verbessern, wird das Vor
material 1' einem Bearbeitungsvorgang unterzogen, durch den die Phase 3
einen Teil einer Oberfläche des Substrates 4 bildet.
Die Phase 2 kann in Form eines Metalls vorliegen. Die Phase 3 kann eine
Keramik sein.
Fig. 3 zeigt schematisch ein Verfahren zur Herstellung eines Substrates 4.
Ein Vormaterial 1, das aus zwei Phasen 2, 3 gebildet ist, bei dem es sich
jeweils um metallische Phasen handelt, vorzugsweise um unterschiedliche
Metalle, wird einem Umformvorgang unterzogen. Durch den Umformvorgang
erhält man ein Vormaterial 1', bei dem eine vororientierte Phase 3 innerhalb
der Phase 2 enthalten ist. In einem weiteren Verfahrensschritt wird die
innere Struktur des Vormaterials 1 freigelegt, so daß nach dem Freilegen
das Vormaterial 1' ein Substrat 4 bildet. Im rechten Teil der Fig. 3 wird
dargestellt, daß die Phase 3 einen Teil der Oberfläche des Substrates 4 ist.
Die Phase 3 liegt in Form von Strängen vor, die im Abstand zueinander im
wesentlichen parallel zueinander verlaufen. Der Verlauf der Phase 3 ist im
wesentlichen abhängig von den Umformparametern.
Eine weitere Ausgestaltung eines Verfahrens zum Herstellen eines Substrates
zeigt die Fig. 4. Aus einem Vormaterial 1, welches zwei Phasen 2, 3
aufweist, wird durch einen Umformvorgang ein Vormaterial 1' gebildet. Die
Phase 3 liegt in Form von Fasern vor. Wie aus der Darstellung des Vor
materials 1 ersichtlich ist, sind die Phasen 1 regellos in der Phase 2 ver
teilt. Durch den Umformvorgang kommt es zu einer Ausrichtung der Fasern
innerhalb der Phase 2. In einem darauf folgenden Verfahrensschritt wird die
Phase 3 wenigstens teilweise freigelegt, so daß diese einen Teil der Ober
fläche des Substrates 4 bildet. Das so hergestellte Substrat kann weiteren
Behandlungsschritten unterzogen werden.
In der Fig. 2, 3 u. 4 sind schematisch Verfahren dargestellt, bei denen das
Vormaterial 1 einem Umformvorgang unterzogen wird, um eine orientierte
Ausbildung der Phase 3 zu erreichen. Statt eines Umformvorgangs kann das
Substrat auch durch einen geeigneten Urformprozeß hergestellt werden.
Fig. 5 zeigt schematisch ein Substrat 4. Das Substrat 4 weist eine erste
Phase 2 auf, innerhalb der die zweite Phase 3 ausgerichtet ist. Die zweite
Phase 3 hat, wie aus der Fig. 2 ersichtlich ist, eine bevorzugte Ausrich
tung. Diese makroskopisch betrachtet bevorzugte Ausrichtung der zweiten
Phase 3 kann auch als eine topographische Ausrichtung der zweiten Phase
3 bezeichnet werden. Durch die Pfeile innerhalb der zweiten Phase 3 ist
angedeutet, daß die Kristalle der zweiten Phase 3 auch eine bevorzugte
Ausrichtung haben. Diese bevorzugte Ausrichtung der Kristalle der zweiten
Phase 3 kann als eine kristallographische Ausrichtung bezeichnet werden.
Die erste Phase 2 und die zweite Phase 3 grenzen so aneinander an, daß
das Substrat 4 eine bevorzugte, für eine Keimbildung und ein Kristallwachs
tum einer Funktionsschicht geeignete, Ausrichtung aufweist. Neben dieser
Eigenschaft des Substrates 4 wird durch die Ausrichtung der Kristalle der
zweiten Phase 3 zusätzlich eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer
Funktionsschicht begünstigt.
Fig. 6 zeigt einen Ausschnitt des Substrates 4. Aus dieser Darstellung ist
ersichtlich, daß die Kristalle der zweiten Phase 3 eine bevorzugte Ausrich
tung aufweisen, wodurch eine klassische Epitaxie ermöglicht wird. Der
Unterschied der Gitterkonstanten ist vorzugsweise kleiner als 5%.
Durch die erfindungsgemäße Ausgestaltung des Verfahrens zur Herstellung
eines Substrates sowie des Substrates kann auf dem Substrat eine Funk
tionsschicht, insbesondere eine supraleitende Funktionsschicht, mittels einer
Graphoepitaxie aufgebracht werden.
Fig. 7 zeigt, daß zwischen der Phase 2 und der Phase 3 des Substrates 4
ein Höhenunterschied besteht, durch den unter anderem eine Brechung der
Symmetrie der Diffusionsfelder erreicht wird. Hierdurch wird eine Keimbil
dung und ein gerichtetes Kristallwachstum der Funktionsschicht erreicht.
Fig. 8 und 9 zeigen jeweils einen Ausschnitt eines Substrates 4, bei denen
eine Keimbildung und/oder ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht
mittels einer sogenannten künstlichen Epitaxie erreicht werden kann.
Die Phasen 2, 3 weisen unterschiedliche Eigenschaften auf. Beispielsweise
ist die Wärmeleitfähigkeit λ, die Dichte etc. unterschiedlich. Die Phasen 2,
3 sind inert. Durch die unterschiedlichen Eigenschaften weist das Substrat
lokal unterschiedliche Temperaturen auf, durch die eine Keimbildung und ein
gerichtetes Kristallwachstum einer Funktionsschicht erreicht wird.
Ist das Substrat selbst reaktiv, wie dies in der Fig. 9 angedeutet ist, so
entsteht ein Konzentrationsprofil c, welches eine Keimbildung und/oder
Kristallwachstum einer Funktionsschicht begünstigt.
Claims (31)
1. Verfahren zum Herstellen eines Substrates (4) als Träger für eine,
insbesondere supraleitende, Funktionsschicht (8), bei dem aus wenigstens
zwei Phasen (2, 3) ein Substrat (4) für eine Keimbildung und/oder ein
Kristallwachstum einer Funktionsschicht (8) gebildet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem mindestens zwei Phasen (2, 3)
wenigstens teilweise so aneinandergrenzend ausgebildet werden, daß das
Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keimbildung und/oder ein Kri
stallwachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete, Ausrichtung aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem mindestens ein Teil der
Kristalle wenigstens einer Phase (2, 3) so ausgerichtet werden, daß das
Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keimbildung und/oder ein Kri
stallwachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete, Ausrichtung aufweist.
4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3 bei dem die für eine Keimbil
dung und ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete
Phase (3) aus einem Material gebildet wird, welches in wenigstens
einer kristallographischen Ebene der Phase (3) wenigstens eine Epitaxie
relation zu einer Funktionsschicht (8) erfüllt.
5. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3 bei dem wenigstens eine der
Phasen (2, 3) wenigstens teilweise mit einer Textur, insbesondere einer
biaxialen Textur, ausgebildet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, bei dem das Substrat (4) aus einem Vor
material (1) gebildet und das Vormaterial (1) zur Erzielung einer Textur
einem Ur- und/oder einem Umformvorgang unterzogen wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem das Substrat (4)
einer Wärmebehandlung unterzogen wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, bei dem die Wärmebehandlung in einer
oxidierenden Atmosphäre durch geführt wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Phase (3) in Form von Fasern ausgebildet ist.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, bei dem wenigstens eine
Phase (3) wenigstens teilweise aus einem keramischen Werkstoff besteht.
11. Substrat als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht
(8), welches wenigstens zwei Phasen (2, 3) aufweist, wobei wenigstens
eine der Phasen (2, 3) eine Keimbildung und/oder ein Kristallwachstum
einer Funktionsschicht (8) begünstigt.
12. Substrat nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens
zwei Phasen (2, 3) wenigstens teilweise so aneinandergrenzen, daß das
Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keimbildung und/oder ein Kri
stallwachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete, Ausrichtung aufweist.
13. Substrat nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens ein Teil der Kristalle wenigstens einer Phase (2, 3) so
ausgerichtet sind, daß das Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keim
bildung und/oder ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht (8) ge
eignete, Ausrichtung aufweist.
14. Substrat nach Anspruch 11, 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß
die für eine Keimbildung und/oder ein Kristallwachstum einer Funktions
schicht (8) geeignete Phase (3) aus einem Material gebildet ist, das in
wenigstens einer kristallographischen ebene der Phase (3) wenigstens
eine Epitaxierelation zu einer Funktionsschicht (8) erfüllt.
15. Substrat nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine der Phasen (2, 3) wenigstens teilweise eine Textur,
insbesondere eine biaxiale Textur, aufweist.
16. Substrat nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet,
daß dieses wenigstens teilweise ein Oxyd enthält, das eine biaxiale
Textur aufweist.
17. Substrat nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Phase (3) in Form von Fasern ausgebildet ist.
18. Substrat nach einem der Ansprüche 11 bis 17, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Phase (3) aus einem keramischen Werkstoff be
steht.
19. Verfahren zum Herstellen einer Struktur (9) mit einem Supraleiter (8)
auf einem Substrat (4), bei dem das Substrat (4) nach einem der
Ansprüche 1 bis 10 gebildet wird, und auf das Substrat (4) ein zur
Supraleitung geeignetes Material oder Vormaterial (8) aufgebracht und
danach einer Wärmebehandlung unterzogen wird.
20. Verfahren nach Anspruch 19, bei dem das Substrat (4) mit dem zur
Supraleitung geeigneten Material (8) beschichtet wird.
21. Verfahren nach Anspruch 20, bei dem die Beschichtung des Substrates
(4) mit dem Material (8) durch Elektrolyse, PVD, CVD, MOCVD,
LPE, Plasmaspritzen und/oder begießen erfolgt.
22. Verfahren nach einem der Ansprüche 19, 20 oder 21, bei dem das
Substrat (4) zur Ausbildung eines Supraleiters mit einem Material (8)
aus der Gruppe der Seltenerden-Barium-Kupfer-Oxide z. B. (SE-123)
und/oder deren Mischkristallen z. B. (SE1x, SE2y, SE3z . . .), Ba2 Cu3
O7-x beschichtet wird.
23. Struktur (9) mit einem Supraleiter (8) auf einem Substrat (4), wobei
das Substrat (4) wenigstens zwei Phasen (2, 3) aufweist, wobei wenig
stens eine der Phasen (3) eine bevorzugte, für eine Keimbildung und/oder
Kristallwachstum eines zur Supraleitung geeigneten Materials (8)
geeignete, Ausrichtung aufweist, und auf dem Substrat (4) ein Supralei
ter (8) ausgebildet ist.
24. Struktur nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens
zwei Phasen (2, 3) wenigstens teilweise so aneinandergrenzen, daß das
Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keimbildung und ein Kristall
wachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete, Ausrichtung hat.
25. Substrat nach Anspruch 23 oder 24, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens ein Teil der Kristalle wenigstens einer Phase (2, 3) so
ausgerichtet sind, daß das Substrat (4) eine bevorzugte, für eine Keim
bildung und ein Kristallwachstum einer Funktionsschicht (8) geeignete,
Ausrichtung aufweist.
26. Substrat nach Anspruch 23, 24 oder 25, dadurch gekennzeichnet, daß
die für eine Keimbildung und ein Kristallwachstum einer Funktions
schicht (8) geeignete Phase (3) aus einem Material gebildet ist, das in
wenigstens einer kristallographischen Ebene der Phase (3) wenigstens
eine Epitaxierelation zu einer Funktionsschicht (8) erfüllt.
27. Substrat nach einem der Ansprüche 23 bis 26, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine der Phasen (2, 3) wenigstens teilweise eine Textur,
insbesondere eine biaxiale Textur, aufweist.
28. Substrat nach einem der Ansprüche 23 bis 27, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat (4) wenigstens teilweise ein Oxyd enthält, das eine
biaxiale Textur aufweist.
29. Substrat nach einem der Ansprüche 23 bis 28, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Phase (3) in Form von Fasern ausgebildet ist.
30. Substrat nach einem der Ansprüche 23 bis 29, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine Phase (3) aus einem keramischen Werkstoff be
steht.
31. Struktur nach einem der Ansprüche 23 bis 30, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat (4) zur Ausbildung eines Supraleiters mit einem
Material (8) aus der Gruppe der Seltenerden-Barium-Kupfer-Oxiden z. B.
(SE-123) und/oder deren Mischkristallen (SE1x, SE2y, SE3z . . .), Ba2
Cu3 O7-x beschichtet ist.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19740964A DE19740964A1 (de) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht sowie einer Struktur mit einem Supraleiter |
| PCT/EP1998/005932 WO1999014812A1 (de) | 1997-09-17 | 1998-09-17 | Verfahren zum herstellen eines substrates als träger für eine, insbesondere supraleitende, funktionsschicht sowie einer struktur mit einem supraleiter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19740964A DE19740964A1 (de) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht sowie einer Struktur mit einem Supraleiter |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19740964A1 true DE19740964A1 (de) | 1999-03-18 |
Family
ID=7842694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19740964A Ceased DE19740964A1 (de) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | Verfahren zum Herstellen eines Substrates als Träger für eine, insbesondere supraleitende, Funktionsschicht sowie einer Struktur mit einem Supraleiter |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19740964A1 (de) |
| WO (1) | WO1999014812A1 (de) |
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| US10844479B2 (en) | 2014-02-21 | 2020-11-24 | Ut-Battelle, Llc | Transparent omniphobic thin film articles |
| US11292919B2 (en) | 2010-10-08 | 2022-04-05 | Ut-Battelle, Llc | Anti-fingerprint coatings |
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|---|---|
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