DE19704732A1 - Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumineszenzmessungen an Flüssigproben - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Meßvorrichtung zur Durch­ führung von Lumineszenzmessungen an Flüssigproben nach dem Oberbegriff der Ansprüche 1 bzw. 11.

Meßvorrichtungen dieser Art dienen vor allem in auto­ matisch oder halbautomatisch arbeitenden Analysegeräten zur analytischen Reihenuntersuchung chemischer und bio­ logischer Systeme. Das Nachweisprinzip beruht auf der Detektion eines Lichtsignals, welches von einem an ei­ ner Chemilumineszenzreaktion teilnehmenden Reaktions­ partner oder einer durch Anregungslicht zur Fluores­ zenzemission stimulierten Substanz ausgestrahlt wird. Dabei lassen sich mit hochempfindlichen Lichtdetektoren wie Photomultipliern auch sehr schwache Lichtsignale mit hoher Genauigkeit erfassen, so daß prinzipiell eine hohe Nachweisempfindlichkeit erreichbar ist.

Bei bekannten Meßvorrichtungen der eingangs genannten Art wird der Eintrittsquerschnitt des Photomultipliers über eine Blende an den Öffnungsdurchmesser von Proben­ gefäßen angepaßt, die in einer Mikrotestplatte matrix­ artig angeordnet sind. Die Blende ist dort als statio­ näre Blendenplatte ausgebildet, deren Blendenbohrung die Meßöffnung eines darunter befindlichen Probengefä­ ßes freigibt, während die übrigen Probengefäße nach oben gegenüber dem Lichtdetektor abgedeckt sind. Als nachteilig hat sich dabei herausgestellt, daß selbst geringste Spalträume im Bereich zwischen der Mikrotest- und der Blendenplatte ausreichen, um die Nachweisemp­ findlichkeit erheblich beeinträchtigen. Dies liegt daran, daß über solche Spaltbereiche Fremdlicht vor allem durch sogenanntes Übersprechen zwischen den einzelnen Proben­ gefäßen in den Eintrittsquerschnitt des Photomultipliers eingestreut wird. Hinzu kommt, daß fluoreszierende Pro­ ben in den Nachbargefäßen auf diese Weise zu frühzeitig anregt werden.

Ausgehend hiervon liegt der Erfindung die Aufgabe zu­ grunde, die Nachweisempfindlichkeit bei Lumineszenzmes­ sungen durch Unterdrückung der vorgenannten Störeffek­ te, insbesondere des Übersprechens von Licht zwischen benachbarten Probenkammern, weiter zu steigern.

Diese Aufgabe wird nach der Erfindung durch die Merk­ malskombinationen der Ansprüche 1 und 11 gelöst. Vor­ teilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Er­ findung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.

Der Erfindung liegt der Gedanke zugrunde, daß durch "Lichtfallen" zwischen den Meßöffnungen der Probenge­ fäße ein direktes Lichtübersprechen verhindert wird. Um dies zu ermöglichen, wird nach einer ersten Variante der Erfindung eine mit der Probenplatte in Eingriff bringbare Querabschirmung vorgeschlagen, welche in der Eingriffstellung die Meßöffnung der in der Meßposition befindlichen Probenkammer seitlich umschließt und von den Meßöffnungen der benachbarten Probenkammern trennt. Damit wird erreicht, daß im Berührungsbereich zwischen der Eintrittsblende und der Probenplatte zwischen den Meßöffnungen verlaufende Querspalte, wie sie beispiels­ weise aufgrund von Fertigungstoleranzen der Probenplat­ te auftreten können, an der Eingriffstelle unterbrochen werden, so daß eine direkte Lichtübertragung zwischen den Probenkammern weitgehend verhindert wird.

Vorteilhafterweise weist die Querabschirmung eine die Meßöffnung der in der Meßposition befindlichen Proben­ kammer randseitig hintergreifende Innenstufe auf. Damit ist die Meßöffnung rundum von einem Randfalz umgeben, der besonders effektiv einer Lichtübertragung entgegen­ wirkt. Dabei ist es besonders vorteilhaft, wenn die Querabschirmung sich ausgehend von der Innenstufe zumin­ dest bis zu den angrenzenden Randsegmenten der Meßöff­ nungen der benachbarten Probenkammern erstreckt. Durch diese Maßnahme wird eine weitere Reduzierung des Licht­ übersprechens durch Abschirmung sowohl der möglichen Austritts- als auch Eintrittsstellen an den Probenkam­ mern erreicht.

Weiter ist es von Vorteil, wenn die Querabschirmung in eine Ausnehmung oder Vertiefung an der Oberseite der Probenplatte im wesentlichen formschlüssig eingreift. Damit wird neben einer guten Abdichtung eine gegen Querverschiebung gesicherte Einhaltung der Eingriff­ stellung erreicht. Dabei ist es besonders vorteilhaft, wenn die Querabschirmung durch einen an einer der Pro­ benplatte zugewandten Auflagefläche der Eintrittsblende überstehenden, die Blendenöffnung randseitig umlaufend begrenzenden Blendenfortsatz gebildet ist. Um die Ein­ nahme der Eingriffstellung zu erleichtern, kann der Blendenfortsatz schräg angestellte, spitzwinklig zuein­ ander verlaufende Seitenflanken aufweisen.

Bei Verwendung einer Mikrotestplatte, welche matrixar­ tig angeordnete, mit öffnungsseitigen Endabschnitten über eine ebene Verbindungsfläche überstehende zylin­ drische Probengefäße aufweist, ist die Querabschirmung vorteilhafterweise im wesentlichen formkomplementär zu dem Zwischenraum zwischen den Endabschnitten eines in der Meßposition befindlichen Probengefäßes und den um­ gebenden Probengefäßen ausgebildet.

Um die Probenplatte zur Positionierung der einzelnen Probenkammern ungehindert verschieben zu können, ist die die Querabschirmung tragende Eintrittsblende zwi­ schen einer von der Probenplatte abgehobenen Positio­ nierstellung und der Eingriffstellung bewegbar angeord­ net. Die Positioniereinrichtung kann dazu eine Schwenk­ vorrichtung aufweisen, mittels welcher die Querabschir­ mung in starrer Verbindung mit der Eintrittsblende und dem Lichtdetektor um eine horizontale Schwenkachse ge­ genüber der Probenplatte verschwenkbar ist. Dabei ist es von Vorteil, wenn die Schwenkbewegung mittels eines Zugmagnets entgegen der Kraft einer Rückstellfeder in die Eingriffstellung ausführbar ist. Dadurch schwenkt die Eintrittsblende auch bei einem Defekt des Zugma­ gnets selbsttätig in die Positionierstellung und gibt die Probenplatte frei.

Eine alternative Ausführungsform der Erfindung sieht eine breitseitig mit der Probenplatte in Eingriff bring­ bare Abschirmplatte vor, welche in der Eingriffstellung zu den Meßöffnungen der Probenkammern konzentrisch an­ geordnete Querdurchbrüche aufweist, deren Ränder die Meßöffnungen seitlich hintergreifen und von den Meßöff­ nungen der jeweils benachbarten Probenkammern trennen.

Eine besonders vorteilhafte Umschließung der Meßöffnun­ gen wird dadurch erreicht, daß die Querdurchbrüche der Abschirmplatte durch Bohrungen gebildet sind, in welche zylindrische Probengefäße einer als Mikrotestplatte aus­ gebildeten Probenplatte mit über eine ebene Verbindungs­ fläche überstehenden ringförmigen Endabschnitten ein­ greifen. Eine weitere Verbesserung in dieser Hinsicht läßt sich dadurch erreichen, daß die Bohrungen als Stu­ fenbohrungen ausgebildet sind, in deren größeren Quer­ schnitt die Endabschnitte der Probengefäße formschlüs­ sig eingreifen. Die Abschirmplatte kann als Deckelplat­ te an einem die Probenplatte aufnehmenden Transportrah­ men schwenkbar angeordnet sein, wobei die Eintrittsblen­ de auf einer oberen Planseite der Abschirmplatte flächig aufliegt.

Zur Durchführung automatischer Messungen besitzt die Positioniereinrichtung einen mittels einer Antriebsein­ heit automatisch betätigbaren Verschiebemechanismus, auf dem die Probenplatte fest fixierbar ist.

Im folgenden wird die Erfindung anhand der in der Zeichnung in schematischer Weise dargestellten Ausfüh­ rungsbeispiele näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumi­ neszenz-Messungen in einer teilweise geschnit­ tenen Seitenansicht;

Fig. 2 eine Eintrittsblende der Meßvorrichtung nach Fig. 1 in einer Meßposition über einer Mikro­ testplatte in der Draufsicht;

Fig. 3a eine auf eine Mikrotestplatte aufsetzbare Abschirmblende in einer Breitseitenansicht von unten;

Fig. 3b die Abschirmblende als Deckelklappe eines die Mikrotestplatte enthaltenden Transportrahmen in einem Vertikalschnitt entlang der Schnittlinie b-b der Fig. 3a;

Fig. 4 eine auflageseitig an der Eintrittsblende nach Fig. 2 überstehende Querabschirmung in der Ein­ griffstellung in einem ausschnittsweisen Hori­ zontalschnitt in Höhe der Auflageseite;

Fig. 5 einen Vertikalschnitt durch einen die Eintritts­ blende nach Fig. 2 und 4 aufweisenden Reflektor­ körper in einer von der Mikrotestplatte abgeho­ benen Positionierstellung;

Fig. 6 eine ausschnittsweise Vergrößerung der Fig. 5.

Die in der Zeichnung dargestellte Meßvorrichtung dient zur Durchführung von Chemielumineszenz- oder Fluores­ zenzmessungen an Flüssigproben und besteht im wesent­ lichen aus einem horizontal liegend angeordneten, mit einer nicht dargestellten Auswerteelektronik verbunde­ nen Photomultiplier 10, einem an der Eintrittsseite des Photomultipliers angeordneten Reflektorkörper 12 und einer Positioniereinrichtung 14 zur gegenseitigen Posi­ tionierung einer Probenplatte 16 und einer Eintritts­ blende 18 des Reflektorkörpers 12.

Die Meßvorrichtung ist zur Aufnahme einer standardi­ sierten Probenplatte 16 ausgebildet, welche als soge­ nannte Mikrotestplatte einstückig aus Kunststoff be­ steht und in der gezeigten Ausführungsform 8×12 ma­ trixartig angeordnete, zylindrische Probengefäße 20 aufweist (Fig. 2). Die Probengefäße 20 durchsetzen eine Verbindungswand 22 an der oberen Breitseite der Proben­ platte 16 und stehen über diese mit die Meßöffnungen 24 begrenzenden ringförmigen Endabschnitten 26 über. Die Meßöffnungen 24 sind somit randseitig von einem Zwi­ schenraum bzw. Vertiefungsbereich 28 umgeben, welcher durch die Außenkontur der Endabschnitte 26 vertikal und durch die Verbindungswand 22 bodenseitig begrenzt ist.

Unterhalb der Verbindungswand 22 sind die Probengefäße 20 über Radialstege 30 miteinander verbunden.

Der Reflektorkörper 12 ist an einer Stufenbohrung 32 eines Abschnitts 34 auf den Photomultiplier 10 aufsetz­ bar und fest mit diesem verbindbar. Im unteren Bereich dieses Abschnitts 34 steht die Eintrittsblende 18 senk­ recht zur Eintrittsöffnung des Photomultipliers über und ist von einer konisch nach oben sich erweiternden Blendenöffnung 36 durchbrochen. Ein Planspiegel 38 ist zwischen seitlich lichtdicht abschließenden Seitenwän­ den 40 des Reflektorkörpers 12 angeordnet und lenkt das an der Blendenöffnung einfallende Meßlicht in den Photo­ multiplier 10 um. Dabei ist in einer Meßposition der Eintrittsquerschnitt der Blendenöffnung 36 konzentrisch zu der Meßöffnung 24 eines Probengefäßes 20 ausgerich­ tet.

Um das Eindringen von Fremdlicht und auch einen Stoff­ austausch vom gasförmigen Reaktionsstoffen zu verhin­ dern, ist eine Querabschirmung vorgesehen, welche zu­ mindest in den das in der Meßposition befindliche Pro­ bengefäß 20' umgebenden Vertiefungsbereich 28 an der Oberseite der Probenplatte 16 eingreift.

Bei dem in den Fig. 2 und 4 bis 6 gezeigten Ausführungs­ beispiel ist die Querabschirmung durch einen Blenden­ fortsatz 42 gebildet, welcher an einer der Probenplatte 16 zugewandten Auflagefläche 44 der Eintrittsblende 18 nach unten übersteht und die Blendenöffnung 36 randsei­ tig umlaufend begrenzt. Der Blendenfortsatz 42 ist mit einer ringförmigen Innenstufe 46 und einer malteser­ kreuzförmigen Außenstute 48 formkomplementär zu der Oberflächenkontur der Probenplatte 16 ausgebildet (Fig. 4). Damit läßt sich eine Eingriffstellung herstellen, in welcher der Blendenfortsatz 42 formschlüssig in den Vertiefungsbereich 28 zwischen den Probengefäßen 20 eingreift. Der Eingriff wird dadurch erleichtert, daß die Außen- und die Innenstufe 46, 48 mit unter einem spitzen Winkel schräg zueinander angestellten Seiten­ flanken 50, 52 versehen sind (Fig. 6).

Um die Probenplatte 16 zur Positionierung freizugeben, ist eine Schwenkvorrichtung 14' vorgesehen, mittels wel­ cher der Reflektorkörper 12 zusammen mit dem Photomulti­ plier 10 um eine horizontale Schwenkachse 54 verschwenk­ bar ist, so daß der Blendenfortsatz 42 aus der Eingriff­ stellung in eine von der Probenplatte abgehobene, in Fig. 5 gezeigte Positionierstellung kommt. Die Schwenk­ vorrichtung 14' weist einen auf einem Montagewinkel 56 gerätefest angeordneten Zugmagnet 58 auf, dessen Anker an einer Zuglasche 60 eines den Photomultiplier 10 auf­ nehmenden, auf der Schwenkachse 54 gelagerten Gehäuses 62 angreift. Eine an dem Gehäuse 62 angreifende Zugfe­ der 64 sorgt für die Einnahme der durch einen Anschlag definierten Positionierstellung bei nicht betätigtem Zugmagnet 58.

Zur Positionierung der einzelnen Probengefäße 20 in der Meßposition dient ein X-Y-Verschiebemechanismus 14, auf dem die Probenplatte 16 fixierbar ist, und der mit­ tels einer Antriebseinheit 66 automatisch betätigbar ist. Der Verschiebemechanismus 14 besteht aus zwei mit­ einander gekoppelten, entlang von rechtwinklig zueinan­ der verlaufenden Führungsbahnen gegenüber einer fest­ stehenden Bodenplatte 68 verfahrbaren Verschiebeschlit­ ten 70, 72. Die vorstehend beschriebene Ausführungsform ist vor allem für den Einsatz in vollautomatisch arbei­ tenden Meßgeräten vorgesehen, bei denen mit Titrierau­ tomaten befüllte Probenplatten selbsttätig in die Meß­ vorrichtung hinein- und herausgefahren werden.

Bei der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform ist die Querabschirmung durch eine Abschirmplatte 74 gebildet, welche breitseitig mit der Probenplatte 16 in Eingriff bringbar ist. Die Abschirmplatte 74 weist hierzu eine den Probengefäßen 20 der Probenplatte 16 entsprechende Anzahl von Stufenbohrungen 76 auf, an deren unterer, den größeren Durchmesser aufweisender Seite die Endab­ schnitte 26 der Probengefäße 20 formschlüssig eingrei­ fen. In der Eingriffstellung ist dann der Vertiefungs­ bereich 28 der Probenplatte 16 durch den formkomplemen­ tären, die Stufenbohrungen 76 berandenden Auflagebereich 78 der Abschirmplatte 74 im wesentlichen vollständig ausgefüllt, so daß die Meßöffnungen 24 der Probengefäße 20 seitlich gegeneinander abgedichtet sind. Nach oben hin fluchten die Meßöffnungen 24 mit den den kleineren Durchmesser aufweisenden Abschnitten der Stufenbohrun­ gen 76, so daß das Meßlicht ungehindert nach oben aus­ gestrahlt werden kann.

Wie in Fig. 3b dargestellt, ist die Abschirmplatte 74 als Deckelklappe an einem die Probenplatte 16 aufnehmen­ den, auf dem Verschiebeschlitten 72 befestigbaren Trans­ portrahmen 82 schwenkbar angeordnet. Im Meßbetrieb liegt die Eintrittsblende 18 mit ihrer Auflageseite 44 flächig an der Planfläche 84 der Abschirmplatte 74 an. Die Ein­ trittsblende 18 weist bei dieser Ausführungsform kei­ nen Blendenfortsatz auf und wird bei der Verschiebung der Probenplatte 16 in die einzelnen Meßpositionen nicht abgehoben, sondern gleitet auf der Abschirmplatte 74. Diese Ausführungsform ist vor allem für halbautomatisch arbeitende Geräte geeignet, bei denen die Probenplatte manuell in den Transportrahmen eingesetzt wird.

Zusammenfassend ist folgendes festzustellen: Die Erfin­ dung betrifft eine Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumineszenzmessungen an Flüssigproben, mit einem das an einer Blendenöffnung 36 einer Eintrittsblende 18 ein­ fallende Licht erfassenden Lichtdetektor 10 und einer Positioniereinrichtung zur Positionierung einer eine Mehrzahl von Probengefäßen 20 aufweisenden Mikrotest­ platte 16 bezüglich der Eintrittsblende 36. Um das Über­ sprechen von Licht zwischen den einzelnen Probengefäßen 20 zu verhindern, ist eine mit der Probenplatte in Ein­ griff bringbare Querabschirmung 42 vorgesehen, welche in der Eingriffstellung die Meßöffnung 24 des in der Meßposition befindlichen Probengefäßes 20' von den Meß­ öffnungen der benachbarten Probengefäße 20 trennt.

Claims (16)

1. Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumineszenzmes­ sungen an Flüssigproben, mit einem das an einer Blendenöffnung (36) einer Eintrittsblende (18) ein­ allende Licht erfassenden, insbesondere als Photo­ multiplier ausgebildeten Lichtdetektor (10), und einer Positioniereinrichtung (14, 14') zur Ausrich­ tung einer eine Mehrzahl von insbesondere matrixar­ tig angeordneten, an einer oberen Meßöffnung (24) randoffenen Probenkammern (20) aufweisenden Proben­ platte bezüglich der Eintrittsblende (18), wobei Jeweils eine (20') der Probenkammern (20) in einer Meßposition der Blendenöffnung (36) zugeordnet ist, gekennzeichnet durch eine mit der Probenplatte (16) in Eingriff bringbare Querabschirmung (42), welche in der Eingriffstellung die Meßöffnung (24) der in der Meßposition befindlichen Probenkammer (20') seitlich hintergreift und von den Meßöffnungen (24) der benachbarten Probenkammern (20) trennt.

2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Querabschirmung (42) eine die Meßöffnung (24) der in der Meßposition befindlichen Probenkammer (20') randseitig hintergreifende Innen­ stufe (46) aufweist.

3. Meßvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Querabschirmung (42) sich aus­ gehend von der Meßöffnung (24) der in der Meßposi­ tion befindlichen Probenkammer (20') zumindest bis zu den angrenzenden Randsegmenten der Meßöffnungen (24) der benachbarten Probenkammern (20) erstreckt.

4. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Querabschirmung (42) in eine Ausnehmung oder Vertiefung (28) an der Oberseite der Probenplatte (16) formschlüssig eingreift.

5. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Querabschirmung durch einen an einer der Probenplatte (16) zugewand­ ten Auflagefläche (44) der Eintrittsblende (18) überstehenden, die Blendenöffnung (36) randseitig umlaufend begrenzenden Blendenfortsatz (42) gebil­ det ist.

6. Meßvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Blendenfortsatz (42) schräg ange­ stellte, spitzwinklig zueinander verlaufende Sei­ tenflanken (50, 52) aufweist.

7. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Probenplatte als Mikrotestplatte (16) ausgebildet ist, welche ma­ trixartig angeordnete, mit öffnungsseitigen Endab­ schnitten (26) über eine ebene Verbindungsfläche (22) überstehende zylindrische Probengefäße (20) als Probenkammern aufweist, und daß die Querab­ schirmung (42) im wesentlichen formkomplementär zu dem zwischen den Endabschnitten (26) eines in der Meßposition befindlichen Probengefäßes (20') und den umgebenden Probengefäßen (20) eine Vertiefung bildenden Zwischenraum (28) ausgebildet ist.

8. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die die Querabschirmung (42) tragende Eintrittsblende (18) zwischen einer von der Probenplatte (16) abgehobenen Positionier­ stellung und der Eingriffstellung bewegbar angeord­ net ist.

9. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Positioniereinrich­ tung (14, 14') eine Schwenkvorrichtung (14') auf­ weist, mittels welcher die Querabschirmung (42) in starrer Verbindung mit der Eintrittsblende (18) und gegebenenfalls dem Lichtdetektor (10) um eine hori­ zontale Schwenkachse (54) gegenüber der Probenplat­ te (16) verschwenkbar ist.

10. Meßvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Schwenkbewegung mittels eines Zugmagnets (58) entgegen der Kraft einer Rückstell­ feder (64) in die Eingriffstellung ausführbar ist.

11. Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumineszenzmes­ sungen an Flüssigproben, mit einem das an einer Blendenöffnung (36) einer Eintrittsblende (18) ein­ fallende Licht erfassenden, insbesondere als Photo­ multiplier ausgebildeten Lichtdetektor (10), und einer Positioniereinrichtung (14) zur Ausrichtung einer eine Mehrzahl von insbesondere matrixartig angeordneten, an einer oberen Meßöffnung (24) rand­ offenen Probenkammern (20) aufweisenden Probenplat­ te (16) bezüglich der Eintrittsblende (18), wobei jeweils eine (20') der Probenkammern (20) in einer Meßposition der Blendenöffnung (36) zugeordnet ist, gekennzeichnet durch eine breitseitig mit der pro­ benplatte (16) in Eingriff bringbare Abschirmplatte (74), welche in der Eingriffstellung zu den Meßöff­ nungen (24) der Probenkammern (20) konzentrisch an­ geordnete Querdurchbrüche (76) aufweist, deren Rän­ der die Meßöffnungen (24) seitlich hintergreifen und von den Meßöffnungen (24) der jeweils benach­ barten Probenkammern (20) trennen.

12. Meßvorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Querdurchbrüche der Abschirmplat­ te (74) durch Bohrungen (76) gebildet sind, in wel­ che die Probenkammern umfassende zylindrische Pro­ bengefäße (20) einer als Mikrotestplatte (16) aus­ gebildeten Probenplatte mit über eine ebene Verbin­ dungsfläche (22) überstehenden ringförmigen Endab­ schnitten (26) eingreifen.

13. Meßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Bohrungen als Stufenbohrungen (76) ausgebildet sind, in deren größeren Quer­ schnitt die Endabschnitte (26) der Probengefäße (20) formschlüssig eingreifen.

14. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmplatte (74) als Deckelklappe an einem die Probenplatte (16) aufnehmenden Transportrahmen (82) schwenkbar ange­ ordnet ist.

15. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Eintrittsblende (18) auf einer oberen Planseite (84) der Abschirm­ platte (74) flächig aufliegt.

16. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Positioniereinrich­ tung (14, 14') einen mittels einer Antriebseinheit (66) automatisch betätigbaren Verschiebemechanismus (14) aufweist, auf dem die Probenplatte (16) fixier­ bar ist.