DE19536295A1 - Räumlich gestaltete Signalmarke - Google Patents
Räumlich gestaltete SignalmarkeInfo
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 abstract description 3
- 239000003550 marker Substances 0.000 abstract description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000004146 energy storage Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung von mehreren ebenen
Signalmarken.
Signalmarken werden zur Kalibrierung und Orientierung op
tischer 3D-Sensoren verwendet, die z. B. in der 3D-Koordi
natenmeßtechnik und bei der Inspektion oder Positionskon
trolle von Fahrzeugen eingesetzt werden.
Bekannt sind passive, ebene Markierungen aus lichtstreuen
den oder retroreflektierendem Material oder passive, räum
liche Markierungen wie Tripelprismen oder Kugeln mit dif
fus streuender oder retroreflektierender Oberfläche.
Außerdem werden aktive Markierungen wie
Lampen, Leuchtdioden, Laser oder innenbeleuchtete Kugeln
als Signalmarken verwendet.
Derartige Signalmarken sind lediglich aus einem begrenzten
Raumwinkel mit hoher Genauigkeit nutzbar. So weisen ebene
Markierungen bei senkrechter Beobachtung eine hohe Genau
igkeit bzgl. der Bestimmung ihrer Position auf, je schrä
ger der Beobachtungswinkel, desto ungenauer wird jedoch
die Positionsbestimmung. Bei isotroper Lichtabstrahlung
z. B. bei Kugeln, ist die Positionsbestimmung ebenfalls
sehr ungenau.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, eine Anordnung von
Signalmarken anzugeben, deren Lichtabstrahlung in einem
großen Raumwinkel nutzbar ist und die Positionsbestimmung
mit einer derartigen Anordnung sehr genau ist.
Die Aufgabe wird gelöst durch die im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale. Vorteilhafte
Ausgestaltungen und/oder Weiterbildungen sind den Unteran
sprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung hat den Vorteil, daß sich die durch einen
begrenzten Raumwinkel ausgezeichnete Lichtabstrahlung der
Signalmarken gegenseitig ergänzen und damit einen größeren
Gesamtwirkungsbereich ermöglichen. Um eine rotationssym
metrische Lichtabstrahlung der Signalmarken zu erzielen,
werden die Signalmarken vorzugsweise auf den Flächen eines
regulären Polyeders angeordnet. Die Winkel der benachbar
ten Flächen des Polyeders werden derart gewählt, daß sich
die Lichtabstrahlungsbereiche benachbarter Signalmarken
überlappen.
Bei der Montage der Signalmarkenanordnung an ebenen Flä
chen ist dann ein Raumwinkel von 2π und bei freistehender
Montage der Anordnung der Signalmarken ist ein Raumwinkel
von 4π nutzbar.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbei
spielen beschrieben unter Bezugnahme auf schematische
Zeichnungen.
Fig. 1 zeigt eine Anordnung von Signalmarken zur Montage
auf ebenen Flächen,
Fig. 2 zeigt eine Anordnung von Signalmarken zur freiste
henden Montage.
In Fig. 1 ist eine Anordnung von beispielsweise 6 Signal
marken dargestellt. Die Signalmarken 1 sind auf z. B.
fünfeckigen Flächen 2 aufgebracht und bilden einen Pyrami
denstumpf 3, der eine fünfeckige Grundfläche besitzt. Der
Pyramidenstumpf ist z. B. aus Keramik hergestellt. Auf die
fünfeckigen Flächen 2 sind z. B. passive, kreisförmige Si
gnalmarken 1 aus lichtstreuendem oder retroreflektierendem
Material aufgebracht.
Die Flächen 2 des Pyramidenstumpfes können aber auch
kreisförmige Öffnungen enthalten, in die die Signalmarken
1 eingesetzt werden. Die Signalmarke besitzt beispiels
weise mindestens eine modulierbare elektrische oder
elektrooptische Lichtquelle, z. B. eine Leuchtdiode und
wird über eine Versorgungsleitung oder über einen autono
men Energiespeicher versorgt. Die Lichtquelle ist vor oder
auf einem Träger angeordnet, der eine verspiegelte Grund
fläche und Mantelfläche aufweist. Auf dem Träger befindet
sich ein Diffusor zur gleichmäßigen Verteilung des
Lichtes. Auf dem Diffusor ist ein Polarisationsfilter zur
Entspiegelung aufgebracht. Um eine definierte Lichtaus
trittsfläche zu erhalten, ist auf der Oberfläche der Si
gnalmarke eine schwarze Maske mit mindestens einer z. B.
kreisförmigen Öffnung aufgebracht. Die Materialien für die
Signalmarke werden vorteilhafterweise so gewählt, daß die
Lichtaustrittsfläche eine matte, dunkle Oberfläche auf
weist, so daß durch das Umgebungslicht nahezu keine Remis
sion hervorgerufen wird.
In Fig. 2 ist eine Anordnung von Signalmarken für eine
freistehende Montage dargestellt. Es sind z. B. 12 Signal
marken 1 auf einem aus 12 fünfeckigen Flächen 2 aufgebau
ten Polyeder aufgebracht. Die Signalmarken sind z. B. wie
im Ausführungsbeispiel 1 ausgestaltet.
Die Erfindung ist jedoch nicht auf die in den Ausführungs
beispielen angegebenen Polyederstrukturen beschränkt, son
dern jede Art von Raumanordnung von Signalmarken auf be
nachbarten geneigten Flächen, mit der zumindest eine Si
gnalmarke aus jeder Raumrichtung nahezu senkrecht beob
achtbar ist, ist verwendbar.
Auch die Ausgestaltung der Signalmarken ist nicht auf die
in den Ausführungsbeispielen angegebenen Strukturen be
schränkt, sondern es sind auch andere Formen und Arten von
Signalmarken verwendbar.
Claims (5)
1. Anordnung von mehreren ebenen Signalmarken, dadurch
gekennzeichnet, daß die ebenen Signalmarken auf mehreren
benachbarten, zueinander geneigten Flächen aufgebracht
sind, derart, daß aus jeder Raumrichtung mindestens eine
Signalmarke nahezu senkrecht oder aus einem steilen Winkel
beobachtbar ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Signalmarken auf den Flächen eines regulären Polyeders
angeordnet sind.
3. Anordnung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Winkel zwischen benachbarten Flächen
derart gewählt ist, daß sich die Lichtabstrahlungsbereiche
der jeweiligen Signalmarken überlappen.
4. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß die Signalmarken aus lichtstreu
enden oder retroreflektierenden Material bestehen.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß jede Signalmarke eine eigene Licht
quelle besitzt.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19536295A DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19536295A DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19536295A1 true DE19536295A1 (de) | 1997-04-03 |
| DE19536295C2 DE19536295C2 (de) | 2000-12-14 |
Family
ID=7773559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19536295A Expired - Fee Related DE19536295C2 (de) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Räumlich gestaltete Signalmarke |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19536295C2 (de) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: DAIMLERCHRYSLER AG, 70567 STUTTGART, DE |
|
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: 3D IMAGING TECHNOLOGIES GMBH, CREMINES, CH |
|
| 8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: SEFFER, A., RECHTSANW., 60549 FRANKFURT |
|
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |