DE19500235A1 - Abdeckschicht für elektrische Leiter oder Halbleiter - Google Patents
Abdeckschicht für elektrische Leiter oder HalbleiterInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abdeckschicht auf
zumindest einem elektrischen Leiter und/oder Halbleiter
gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
Schutzschichten für elektrischer Leiter sind bekannt
(DE-23 04 464 C2). Sie bestehen beispielsweise aus
Barium-Aluminium-Silikaten, die nach den in der
Keramiktechnik üblichen Verfahren aufgebracht werden.
Solche Schichten sind im allgemeinen gasdichte
Abdeckschichten.
Es sind ferner auch poröse Abdeckschichten bekannt, die
z. B. aus einem Metall, einer Metallegierung, einem Oxid
oder einem Mischoxid, wie z. B. Magnesium-Spinell,
Carbiden, Boriden, Nitriten von Übergangsmetallen, aus
silikatischen Mineralien, wie hochschmelzendes Sinterglas
oder aus feuerfesten keramischen Materialien, die auch als
Rohstoffe bzw. Rohstoffmischungen wie Kaolin oder Talkum,
gegebenenfalls unter Zusatz von Flußmitteln, wie Feldspat,
Nephelinsyenit oder Wollastonit aufgetragen und
anschließend gesintert werden, bestehen.
Bei den bekannten Schutzschichten ist die gasdichte
Abdeckschicht auf einem Festelektrolyten angebracht,
während sich die poröse erste Schutzschicht über den
Elektroden befindet.
Es hat sich herausgestellt, daß beim Überziehen von
elektrischen Leitern mit gasdichten Abdeckschichten Ionen,
wie z. B. Kalzium-, Natrium- oder Sauerstoffionen unter dem
Einfluß der an den Leitern anliegenden Spannungen,
insbesondere bei höheren Temperaturen wandern und damit zu
Schäden in der erste Schutzschicht und in der Folge auch
an den Leitern führen. Dabei können durch Entladungen der
Sauerstoffionen auch Sauerstoffbläschen freigesetzt
werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, Abdeckschichten
zu schaffen, in denen eine Ionenwanderung vermieden wird.
Gelöst wird diese Aufgabe durch Abdeckschichten gemäß dem
Hauptanspruch. Die Unteransprüche geben bevorzugte
Ausgestaltungen der Erfindung wieder.
Bei den erfindungsgemäßen Abdeckschichten ist unmittelbar
auf der Oberfläche des elektrischen Leiters
und/oder Halbleiters eine poröse Schutzschicht und auf der
porösen ersten Schutzschicht zumindest bereichsweise eine
gasdichte zweite Schutzschicht angeordnet.
Überraschenderweise läßt sich eine
Sauerstoffionenwanderung dadurch unterbinden, daß
unterhalb der gasdichten Abdeckschicht auf der Oberfläche
des elektrischen Leiters oder Halbleiters poröse
Abdeckschichten aufgebracht werden. Dadurch wird die
Wanderung von Sauerstoffionen zwischen den Leitern
unterschiedlichen Potentials und damit deren schädlicher
Einfluß vermieden.
Die poröse erste Schutzschicht enthält 20 bis 60
Gew.-Teile Siliciumdioxid, 28 bis 75 Gew.-Teile
Aluminiumoxid und 1 bis 27 Gew.-Teile Bariumoxid.
Die gasdichte Schutzschicht enthält 20 bis 56 Gew.-Teile
Siliciumdioxid, 28 bis 75 Gew.-Teile Aluminiumoxid und 2
bis 55 Gew.-Teile Bariumoxid.
Vorzugsweise enthält die poröse erste Schutzschicht 28 bis
50 Gew.-Teile Siliciumdioxid und 30 bis 65 Gew.-Teile
Aluminiumoxid. Der Zusatz von Bariumoxid liegt
vorzugsweise in der Größenordnung von 2 bis 20
Gew.-Teilen.
Die gasdichte zweite Schutzschicht enthält vorzugsweise 28
bis 50 Gew.-Teile Siliciumdioxid und 30 bis 65 Gew.-Teile
Aluminiumdioxid. Der Gehalt an Bariumoxid liegt in der
Größenordnung von 4 bis 50 Gew.-Teilen Bariumoxid. Die
Porosität der beiden Schutzschichten läßt sich durch den
Gehalt an Bariumoxid regeln. Die gasdichte zweite
Schutzschicht weist einen Gehalt an Bariumoxid auf, der im
allgemeinen um das 2- bis 8,5-fache größer ist als
derjenige der porösen Schutzschicht.
Die gasdichte zweite Schutzschicht enthält besonders
bevorzugt 30 bis 45 Gew.-Teile Siliciumdioxid und
insbesondere 35 bis 40 Gew.-Teile Siliciumdioxid. Der
Aluminiumoxidgehalt der gasdichten zweiten Schutzschicht
liegt bevorzugt im Bereich von 30,0 bis 65,0 Gew.-Teilen,
besonders bevorzugt im Bereich von 40,0 bis 60 Gew.-Teilen
und insbesondere im Bereich von 47,0 bis 53,0 Gew.-Teilen.
Der Gehalt an Bariumoxid liegt bevorzugt im Bereich von 4
bis 50 Gew.-Teilen, besonders bevorzugt im Bereich von 5
bis 45 Gew.-Teilen, insbesondere im Bereich von 10 bis 30
Gew.-Teilen und ganz speziell im Bereich von 12 bis 25
Gew.-Teilen.
Die gasdichte zweite Schutzschicht enthält bevorzugt einen
um das 3- bis 7-fache größeren Gehalt an Bariumoxid als
die poröse Schutzschicht. Ganz besonders bevorzugt ist der
Gehalt an Bariumoxid der gasdichten erste Schutzschicht um
etwa das 3,5-fach größer.
Die gesamte Oberfläche des elektrischen Leiters oder
Halbleiters kann von der porösen erste Schutzschicht
bedeckt sein, wobei auch die Oberflächen von Leitern oder
sensitiven Schichten, wie z. B. temperaturempfindlichen
Leitern, Halbleitern, Elektroden, beispielsweise Meß- oder
Bezugselektroden, von der porösen ersten Schutzschicht
bedeckt sein können. Die Oberflächen der Elektroden können
aber von der porösen ersten Schutzschicht auch ausgespart
sein. Das Aufbringen dieser Schutzschichten kann durch
alle üblichen Aufbringverfahren, wie z. B. durch Siebdruck,
Tauchen, Flammspritzverfahren oder Dünnschichtechniken,
wie Aufdampfen oder Sputtern erfolgen. Besonders bevorzugt
werden die Schutz schichten durch Beschichtungsverfahren
der Dickschichttechnik, wie beispielsweise Siebdruck
aufgebracht. Die gasdichte zweite Schutzschicht ist auf
der porösen ersten Schutzschicht angeordnet und kann diese
bis auf die Elektrodenbereiche völlig bedecken.
Es hat sich als zweckmäßig erwiesen, den Gehalt an
Siliciumdioxid und Aluminiumoxid zumindest teilweise durch
Zusatz von Kaolin einzustellen, das sowohl Aluminiumoxid
als auch Siliciumdioxid enthält. Die Feineinstellung der
gewünschten Rezeptur wird dann durch Zusatz von
Aluminiumoxid, Siliciumdioxid und Bariumoxid vorgenommen.
Die Porosität der Schutz schichten wird insbesondere durch
den Gehalt an Bariumoxid eingestellt. Eine Erhöhung des
Bariumgehalts innerhalb der oben angegebenen Grenzen
erniedrigt den Schmelzpunkt und verbessert damit das
Sinterverhalten. Je niedriger der Schmelzpunkt ist, umso
weniger porös werden die Mischungen nach dem Sintern. Die
Schutzschichten werden im allgemeinen nicht auf ihre
Schmelztemperaturen erhitzt, sondern unterhalb der
Schmelztemperaturen gesintert, wodurch sich ein
glasartiges oder kristallines Oxidgemisch der
Teilkomponenten bildet.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Figur und der
Beispiele näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 einen Schnitt durch einen Leiter mit
Abdeckschichten;
Fig. 2 einen Schnitt durch die Anordnung der Fig.
entlang der Schnittlinie II-II.
Der elektrische Leiter 12 ist auf einem Substrat 10
aufgebracht, der in eine Elektrode 18 führt. Über dem
Leiter 12 ist eine poröse erste Schutzschicht 14
aufgebracht, die auch die Elektrode 18 bedeckt. Eine diese
nicht bedeckende gasdichte zweite Schutzschicht 16 ist an
den übrigen Stellen auf der porösen erste Schutzschicht 14
aufgebracht.
Die Fig. 2 enthält einen zusätzlichen Leiterzug 13.
Herstellung des Ausgangsmaterials für eine poröse Schicht
13,3 g Kaolin, 1,6 g Siliciumdioxid, 5,9 g Aluminiuimoxid
und 1,0 g Bariumcarbonat werden durch Mahlen in einer
Planetenkugelmühle homogenisiert. Das Gemisch wird dann in
einen 300 ml-Achatbecher gegeben, mit 30 ml Ethanol
versetzt und nach Zugabe von 8 Achatkugeln 8 h
homogenisiert. Das homogenisierte Gemisch wird dann 10 h
bei 1000°C in normaler Ofenatmosphäre kalziniert. Das
Aufheizen des Ofens von Raum- auf Kalzinierungstemperatur
erfolgt mit einer Rate von 10 K pro min. Danach wird auf
Raumtemperatur abkühlen gelassen.
Das durch Kalzinieren hergestellte Pulver wird durch
Mahlen in einer Planetenkugelmühle homogenisiert. Das
Pulver wird in einen 300 ml-Achatbecher gegeben, mit 30 ml
Ethanol versetzt und nach Zugabe von 8 Achatkugeln 12 h
gemahlen. Nach dem Mahlen wird das homogenisierte Gemisch
im Trockenschrank getrocknet.
Das getrocknete Pulver wird in Anteilen von 10 g in einen
75 l-Achatbecher gegeben, mit 6,5 g eines Siebdruckmediums
Cerdec Nr. 80840 versetzt und nach Zugabe von 7
Achatkugeln 4 h lang in einer Planetenkugelmühle
homogenisiert.
Die nach Beispiel 1 hergestellte Siebdruckpaste wird durch
Siebdruck auf einen elektrischen Leiter aufgebracht.
Danach wird mit folgendem Sinterprofil gesintert:
- 1. Aufheizen auf 400°C mit einer Rate von 10 K pro min;
- 2. 30 min Halten bei 400°C;
- 3. Aufheizen auf 1330°C mit einer Rate von 5 K pro min;
- 4. 60 min Halten bei 1330°C (Sintern);
- 5. Abkühlen auf 25°C mit einer Rate von 10 K pro min.
Auf diese Weise wird auf dem Leiter eine poröse erste
Schutzschicht erhalten.
Entsprechend Beispiel 1 wird eine Mischung aus 13,6 g
Kaolin, 1,8 g Siliciumdioxid, 4,5 g Aluminiumoxid und 4,9
g Bariumcarbonat homogenisiert und zu einer Siebdruckpaste
weiterverarbeitet.
Das Bedrucken eines Leiters und das Sintern der porösen
ersten Schutzschicht erfolgt analog Beispiel 2, wobei die
Sintertemperatur 1280°C beträgt.
11,0 g Aluminiumoxid, 8,0 g Siliciumdioxid und 4,0 g
Bariumcarbonat werden analog Beispiel 1 homogenisiert,
kalziniert und zu einer Siebdruckpaste verarbeitet.
9,7 g Aluminiuimoxid, 6,8 g Siliciumdioxid und 8,4 g
Bariumcarbonat werden analog Beispiel 1 homogenisiert,
kalziniert und zu einer Siebdruckpaste verarbeitet.
Die Siebdruckpasten gemäß Beispielen 4 und 5 werden
entsprechend Beispiel 2 durch Siebdruck auf eine poröse
Schutzschicht, die gemäß Beispiel 2 erhalten worden ist,
aufgebracht und wie in den Beispielen 2 und 3 beschrieben,
gesintert.
Dabei wird durch Kombination der porösen Schichten nach
Beispiel 1 oder 3 sowie der gasdichten Schichten nach
Beispiel 4 oder 5 ein Zweischichtsystem erhalten, das auf
dem Leiter zunächst eine poröse erste Schutzschicht und
darüber eine gasdichte zweite Schutzschicht aufweist.
Claims (27)
1. Abdeckschicht auf zumindest einem elektrischen Leiter
und/oder Halbleiter, insbesondere eines elektrischen
Sensors, dadurch gekennzeichnet,
daß als Abdeckschicht unmittelbar auf der Oberfläche des
elektrischen Leiters (12) und/oder Halbleiters (15) eine
poröse erste Schutzschicht (14) und auf der porösen ersten
Schutzschicht (14) zumindest bereichsweise eine gasdichte
zweite Schutzschicht (16) angeordnet ist.
2. Abdeckschicht nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) den Halbleiter zumindest bereichsweise nicht bedeckt.
3. Abdeckschicht nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14)
die folgende Zusammensetzung hat:
20-60 Gew.-Teile Siliciumdioxid
28-75 Gew.-Teile Aluminiumoxid
1-27 Gew.-Teile Bariumoxid
20-60 Gew.-Teile Siliciumdioxid
28-75 Gew.-Teile Aluminiumoxid
1-27 Gew.-Teile Bariumoxid
4. Abdeckschicht nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) die folgende Zusammensetzung hat:
20-56 Gew.-Teile Siliciumdioxid
28-75 Gew.-Teile Aluminiumdioxid
2-55 Gew.-Teile Bariumoxid
mit der Maßgabe, daß der Gewichtsanteil an Bariumoxid der gasdichten erste Schutzschicht (16) um das etwa 2 bis 8,5-fache größer ist als derjenige der porösen ersten Schutzschicht (14).
20-56 Gew.-Teile Siliciumdioxid
28-75 Gew.-Teile Aluminiumdioxid
2-55 Gew.-Teile Bariumoxid
mit der Maßgabe, daß der Gewichtsanteil an Bariumoxid der gasdichten erste Schutzschicht (16) um das etwa 2 bis 8,5-fache größer ist als derjenige der porösen ersten Schutzschicht (14).
5. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 1, 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
gasdichte zweite Schutzschicht (16) 28 bis 50 Gew.-Teile
Siliciumdioxid enthält.
6. Abdeckschicht nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 30 bis 45 Gew.-Teile Siliciumdioxid enthält.
7. Abdeckschicht nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 35 bis 40 Gew.-Teile Siliciumdioxid enthält.
8. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 1, 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
gasdichte zweite Schutzschicht (16) 30 bis 65 Gew.-Teile
Aluminiumoxid enthält.
9. Abdeckschicht nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht 40
bis 60 Gew.-Teile Aluminiumoxid enthält.
10. Abdeckschicht nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 47,0 bis 53,0 Gew.-Teile Aluminiumoxid enthält.
11. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 1, 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
gasdichte zweite Schutzschicht 4 bis 50 Gew.-Teile
Bariumoxid enthält.
12. Abdeckschicht nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 5 bis 45 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
13. Abdeckschicht nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 10 bis 30 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
14. Abdeckschicht nach Anspruch 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die gasdichte zweite Schutzschicht
(16) 12 bis 25 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
15. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die poröse
erste Schutzschicht 28 bis 50 Gew.-Teile Siliciumdioxid
enthält.
16. Abdeckschicht nach Anspruch 15, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14) 30
bis 45 Gew.-Teile Siliciumdioxid enthält.
17. Abdeckschicht nach Anspruch 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14) 35
bis 40 Gew.-Teile Siliciumdioxid enthält.
18. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die poröse
erste Schutzschicht (14) 30 bis 65 Gew.-Teile
Aluminiumoxid enthält.
19. Abdeckschicht nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht 40 bis
60 Gew.-Teile Aluminiumoxid enthält.
20. Abdeckschicht nach Anspruch 19, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14)
54,0 bis 59,0 Gew.-Teile Aluminiumoxid enthält.
21. Abdeckschicht nach mindestens einem der Anspruch
1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die poröse erste
Schutzschicht (14) 2 bis 20 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
22. Abdeckschicht nach Anspruch 21, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14)
2,5 bis 15 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
23. Abdeckschicht nach Anspruch 22, dadurch
gekennzeichnet, daß die poröse erste Schutzschicht (14) 3
bis 10 Gew.-Teile Bariumoxid enthält.
24. Abdeckschicht nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Gehalt an Bariumoxid der
gasdichten erste Schutzschicht (16) um das 3 bis 7-fache
größer ist als derjenige der porösen erste Schutzschicht
(14).
25. Abdeckschicht nach Anspruch 24, dadurch
gekennzeichnet, daß der Gehalt an Bariumoxid der
gasdichten erste Schutzschicht (16) um etwa das 3,5-fache
größer ist als derjenige der porösen erste Schutzschicht
(14).
26. Abdeckschicht nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der elektrische Leiter (12) von der
porösen erste Schutzschicht (14) und von der gasdichten
zweiten Abdeckschicht (16) völlig bedeckt ist.
27. Abdeckschicht nach mindestens einem der
Ansprüche 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt
an Siliciumdioxid und Aluminiumoxid zumindest teilweise
durch Zugabe von Kaolin eingestellt wird.
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19500235A DE19500235A1 (de) | 1995-01-05 | 1995-01-05 | Abdeckschicht für elektrische Leiter oder Halbleiter |
Publications (1)
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| DE19500235A1 true DE19500235A1 (de) | 1996-07-11 |
Family
ID=7751053
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| DE19500235A Withdrawn DE19500235A1 (de) | 1995-01-05 | 1995-01-05 | Abdeckschicht für elektrische Leiter oder Halbleiter |
Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US5880406A (de) |
| EP (1) | EP0749577A1 (de) |
| DE (1) | DE19500235A1 (de) |
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