[go: up one dir, main page]

DE112014006640A5 - Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Abbildungsoptik für messtechnische Anwendungen - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Abbildungsoptik für messtechnische Anwendungen Download PDF

Info

Publication number
DE112014006640A5
DE112014006640A5 DE112014006640.0T DE112014006640T DE112014006640A5 DE 112014006640 A5 DE112014006640 A5 DE 112014006640A5 DE 112014006640 T DE112014006640 T DE 112014006640T DE 112014006640 A5 DE112014006640 A5 DE 112014006640A5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
imaging optics
calibrating imaging
metrological applications
metrological
applications
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE112014006640.0T
Other languages
English (en)
Inventor
Thomas Engel
Nils Haverkamp
Dominik Seitz
Daniel Plohmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH filed Critical Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Publication of DE112014006640A5 publication Critical patent/DE112014006640A5/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G06T5/80—Geometric correction
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/80—Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Geometry (AREA)
DE112014006640.0T 2014-05-06 2014-05-06 Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Abbildungsoptik für messtechnische Anwendungen Pending DE112014006640A5 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/EP2014/059258 WO2015169345A1 (de) 2014-05-06 2014-05-06 Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer abbildungsoptik für messtechnische anwendungen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112014006640A5 true DE112014006640A5 (de) 2017-02-09

Family

ID=50680036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112014006640.0T Pending DE112014006640A5 (de) 2014-05-06 2014-05-06 Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Abbildungsoptik für messtechnische Anwendungen

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9939261B2 (de)
DE (1) DE112014006640A5 (de)
WO (1) WO2015169345A1 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106392528A (zh) * 2015-07-31 2017-02-15 精工爱普生株式会社 工件供给装置、机器人以及机器人系统
CN106152978B (zh) * 2016-06-20 2018-12-07 陕西师范大学 一种基于图像分析的非接触性面积测量方法
DE102018115824B4 (de) 2018-06-29 2021-04-22 Carl Zeiss Meditec Ag 3D-Kalibrierkörper, Kalibrierverfahren zum räumlichen Kalibrieren eines optischen Abbildungssystems, Kalibrierelement und Kalibrierverfahren zum Kalibrieren eines optischen Abbildungssystems
DE102018133671A1 (de) 2018-12-28 2020-07-02 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Normal zur Kalibrierung eines Koordinatenmessgeräts
CN114913236A (zh) * 2021-02-09 2022-08-16 深圳市汇顶科技股份有限公司 相机标定方法、装置及电子设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19536297C2 (de) 1995-09-29 2003-10-02 Daimler Chrysler Ag Verfahren zur geometrischen Kalibrierung von optischen 3D-Sensoren zur dreidimensionalen Vermessung von Objekten und Vorrichtung hierzu
WO2002039055A1 (en) * 2000-10-25 2002-05-16 Electro Scientific Industries, Inc. Integrated alignment and calibration of optical system
DE10112947A1 (de) * 2001-03-17 2002-09-26 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren zur Auswertung von Schichtbildern
DE102004020881B4 (de) 2004-04-26 2007-03-08 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren und Vorrichtung zum geometrischen Kalibrieren von optoelektronischen Messbildkameras
US7554575B2 (en) * 2005-10-28 2009-06-30 Seiko Epson Corporation Fast imaging system calibration
DE102006034350A1 (de) 2006-07-25 2008-01-31 Bst International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer elektronischen Kamera
JP2010160051A (ja) 2009-01-08 2010-07-22 Mitsutoyo Corp 画像機器の校正用パターン
CA2832749C (en) * 2011-04-12 2016-11-22 Tripath Imaging, Inc. Method for preparing quantitative video-microscopy and associated system
US8743214B2 (en) * 2011-05-11 2014-06-03 Intel Corporation Display screen for camera calibration
US8576390B1 (en) * 2012-07-31 2013-11-05 Cognex Corporation System and method for determining and controlling focal distance in a vision system camera
WO2014023346A1 (de) * 2012-08-07 2014-02-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Vorrichtung mit interner optischer referenz
DE102013014475B4 (de) * 2012-08-29 2020-11-12 Technische Universität Ilmenau Verfahren zur Erkennung und Kompensation von Messabweichungen während des Betriebes einer optischen Messvorrichtung, optisches Messverfahren und optische Messvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US20170074649A1 (en) 2017-03-16
WO2015169345A1 (de) 2015-11-12
US9939261B2 (en) 2018-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3534832C0 (de) Verfahren und vorrichtungen für zahnbilder
EP3548854A4 (de) Verfahren und vorrichtung für verbesserte fotothermische bildgebung und spektroskopie
EP3709699A4 (de) Verfahren und vorrichtung zur messlückenkonfiguration
EP4287532C0 (de) Verfahren und vorrichtung zur latenzüberwachung
EP3500184A4 (de) Vorrichtung zur mitralklappenreparatur und verfahren dafür
EP3606253A4 (de) Verfahren und vorrichtung für wiederholte übertragung
EP3648509A4 (de) Verfahren und vorrichtung zur prüfberichterstattung
EP4105665C0 (de) Verfahren und vorrichtung für magnetfeldschimmen
EP3965357C0 (de) Vorrichtung und verfahren für resonante kryptografie
EP3929705C0 (de) Wearable-vorrichtung und verfahren zur steuerung davon
EP3813446C0 (de) Verfahren und vorrichtung zur übertragungszeiteinstellung
FI20175040A7 (fi) Menetelmä ja laite muodonmuutoksen mittaamiseksi
EP3203915C0 (de) Parameterlader für ultraschallsonde und zugehörige vorrichtung und verfahren
DE112015000833A5 (de) Verfahren und Vorrichtung zum verzerrungsfreien Anzeigen einer Fahrzeugumgebung eines Fahrzeuges
EP3686724A4 (de) Verfahren und vorrichtung für roboterinteraktion
EP3551108A4 (de) Vorrichtung und verfahren zur kryoablation
EP3672221A4 (de) Bildgebende vorrichtung und bildgebendes verfahren
EP3268794A4 (de) Verfahren und vorrichtung für mikroskopie
EP3200676C0 (de) Vorrichtung und verfahren zur plaqueerkennung
EP3851889C0 (de) Vorrichtung und verfahren zur optischen kopplung
EP3319735C0 (de) Verfahren und vorrichtung zur bereitstellung einer flüssigkeitsanzeige
EP3719442C0 (de) Vorrichtung zur formüberprüfung und verfahren zur formüberprüfung
EP3502671A4 (de) Inspektionsvorrichtung und inspektionsverfahren
EP3649735A4 (de) Vorrichtung und verfahren zur verbesserung der locktime
EP3557803A4 (de) Vorrichtung und verfahren zur v2x-kommunikation

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication