DE1005567B

DE1005567B - Circuit arrangement for an electrical test multiplexer for telecommunications, in particular telephone systems

Info

Publication number: DE1005567B
Application number: DES48591A
Authority: DE
Inventors: Dipl-Ing Peter Gerke
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1956-05-03
Filing date: 1956-05-03
Publication date: 1957-04-04

Description

Das Hauptpatent bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung für ein elektrisches Prüfvielfach für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, bei dem gleichzeitig aufprüfende Relais Fehlstrom erhalten, und ist dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis Fehlstrom zu Anzugsstrom durch gemeinsame Anwendung einer Spannungsteilung und einer Stromverzweigung unter Verwendung einer zweiten Prüfader eingestellt wird.The main patent relates to a circuit arrangement for an electrical test multiple for telecommunications, In particular, telephone systems in which the relays testing at the same time receive fault current, and is characterized in that the ratio of fault current to starting current by common application a voltage division and a current branch using a second test wire is set.

Haben die Prüfrelais eine größere Anzahl von Kontakten zu betätigen, so ergeben sich bei bestimmten Relaistypen Schwierigkeiten, da die Grenzen für einfache Anzugs- und Fehlstromsicherheit verhältnismäßig weit auseinanderliegen und außerdem noch I^eitungswiderstände der Prüfadern einen ungünstigen Einfluß haben.If the test relays have a larger number of contacts to operate, certain Relay types difficulties, since the limits for simple pick-up and fault current safety are proportionate are far apart and, moreover, the line resistances of the test leads are unfavorable Have influence.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die genannten, bei manchen Betriebsfällen auftretenden Schwierigkeiten zu vermeiden. Erreicht wird dieses dadurch, daß in Abhängigkeit von dem Zustand durch eine von dem Spannungsteiler abgegriffene Teilspannung beeinflußter Schaltmittel die Einschaltestromkreise für die prüfenden Relais niederohmig oder hochohmig geschaltet sind.The object of the present invention is to provide the aforementioned, which occur in some operating cases Avoid difficulties. This is achieved by depending on the state by a partial voltage tapped off by the voltage divider influences the switching means, the switch-on circuits are switched to low or high resistance for the testing relays.

Zu der gemeinsamen Anwendung einer Spannungsteilung und einer Stromverzweigung tritt bei der vorliegenden Erfindung eine zusätzliche Änderung des Widerstandes der Einschaltestromkreise für die prüfenden Relais.The joint application of a voltage division and a current splitting occurs in the present case Invention an additional change in the resistance of the switch-on circuits for the testing Relay.

Gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung finden als Schaltmittel zur Änderung des Widerstandes der Einschaltestromkreise für die prüfenden Relais Transistoren Verwendung, die allen Einschaltestromkreisen gemeinsam zugeordnet sind. Ein in allen Einschaltestromkreisen der prüfenden Relais liegender erster Transistor schaltet in Abhängigkeit vom Zustand eines durch die vom Spannungsteiler abgegriffene Teilspannung beeinflußten zweiten Transistors die Einschaltestromkreise für die prüfenden Relais niederohmig oder hochohmig.According to a further embodiment of the invention, as a switching means for changing the resistance of the Inrush circuits for the testing relays transistors use, the all inrush circuits are assigned together. One in all switch-on circuits of the testing relays The first transistor switches depending on the state of the one tapped by the voltage divider Partial voltage influenced the switch-on circuits for the second transistor to be tested Relay low or high resistance.

In den Figuren sind zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Gezeigt sind jedoch nur die für die Erfindung wesentlichen Schaltelemente.Two exemplary embodiments of the invention are shown in the figures. However, only those for the invention essential switching elements.

Bei dem in der Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel finden als Transistoren T1 und T 2 solche vom p-n-p-Typ Verwendung, während die in der Fig. 2 dargestellte Anordnung aus je einem p-n-p-(Tl) und einem n-p-n-Transistor (Γ2) aufgebaut ist. Die Erfindung ist auf diese Ausführungsbeispiele nicht beschränkt. So ist z. B. auch denkbar, daß an Stelle des p-n-p-Transistors T1 beider Anordnungen n-p-n-Transistoren treten. Ferner ist es denkbar, daß an Stelle der Transistoren Röhren verwendet werden.In the embodiment shown in FIG. 1, transistors T 1 and T 2 are of the pnp type, while the arrangement shown in FIG. 2 is made up of one pnp (T1) and one npn transistor (Γ2) is. The invention is not restricted to these exemplary embodiments. So is z. B. also conceivable that npn transistors occur in place of the pnp transistor T1 of both arrangements. It is also conceivable that tubes are used instead of the transistors.

Nachstehend sollen an Hand der Figuren der Auf-Schaltungsanordnung für ein elektrisches Prüf vielfach für Fernmelde-, insbesondereIn the following, with reference to the figures, the on-circuit arrangement for an electrical test often for telecommunications, in particular

FernsprechanlagenTelephone systems

Zusatz zum Patent 919 479Addendum to patent 919 479

Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,Applicant:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,

Berlin und München,
München 2, Witteisbacherplatz 4Berlin and Munich,
Munich 2, Witteisbacherplatz 4

Dipl.-Ing. Peter Gerke, München-Solln,
ist als Erfinder genannt wordenDipl.-Ing. Peter Gerke, Munich-Solln,
has been named as the inventor

bau und die Wirkungsweise der erfindungsgemäßen Anordnung im einzelnen beschrieben werden.construction and the mode of operation of the arrangement according to the invention are described in detail.

Die in den Figuren angedeuteten Einrichtungen A₁B, von denen im wesentlichen nur die Prüfschaltmittel dargestellt sind, sollen einzeln mit einer gemeinsamen Einrichtung verbunden werden. Jeder der Einrichtungen A, B ist wie beim Hauptpatent ein Widerstand Rl, R2 in der zweiten Prüfader zugeordnet, der mit dem gemeinsamen Widerstand R g einen Spannungsteiler bildet. The devices A ₁ B indicated in the figures, of which essentially only the test switching means are shown, are to be individually connected to a common device. As in the main patent, each of the devices A, B is assigned a resistor Rl, R2 in the second test wire, which forms a voltage divider with the common resistor R g.

Bei der in der Fig. 1 dargestellten Anordnung ist das Spannungsteilerverhältnis so gewählt, daß der Transistor T 2 bei Schließung eines Belegungskontaktes, z.B. des Kontaktes el, d.h. bei Einschaltung eines Prüf relais, des Prüf relais P1, sperrt und bei Einschaltung zweier oder mehrerer Prüfrelais P1, P2 leitend wird. Dementsprechend ist der Transistor T1 im ersten Falle leitend, während er im zweiten Fall sperrt. Bei gleichzeitiger Einschaltung zweier oder mehrerer Prüfrelais wird der Einschaltestromkreis dadurch so hochohmig, daß keines der Relais ansprechen kann.In the arrangement shown in Fig. 1, the voltage divider ratio is chosen so that the transistor T 2 blocks when an occupancy contact, eg contact el, ie when a test relay is switched on, the test relay P1, and when two or more test relays are switched on P1, P2 becomes conductive. Accordingly, the transistor T1 is conductive in the first case, while it is blocked in the second case. If two or more test relays are switched on at the same time, the switch-on circuit becomes so high-resistance that none of the relays can respond.

Bei der in der Fig. 2 dargestellten Anordnung sind bei Einschaltung nur eines Prüfrelais beide Transistoren Tl, T2 leitend, während sie bei Einschaltung mehrerer Prüfrelais sperren.In the arrangement shown in FIG. 2, when only one test relay is switched on, both transistors T1 , T2 are conductive, while they block when several test relays are switched on.

Durch die Verwendung der Schaltmittel zur Widerstandsumschaltung der Einschaltestromkreise der Prüfrelais wird die Sperrwirkung des durch das Hauptpatent bekanntgewordenen Prüfvielfachs auf einfache Weise erhöht und damit die Anzugsfehlstrombedingung für die Prüfrelais in ihrer Schärfe abgemindert, so daß auch Relais mit einer größerenBy using the switching means to switch the resistance of the switch-on circuits the test relay has the blocking effect of the test multiple made known by the main patent easily increased and thus the tightening fault current condition for the test relays in their severity reduced, so that also relays with a larger

609 867/138609 867/138

Anzahl von Kontakten als Prüfrelais Verwendung finden können.Number of contacts can be used as test relays.

Claims

PATENT CLAIMS:

1. Circuit arrangement for an electrical test multiplexer for telecommunication, in particular telephone systems, in which by joint application of a voltage division and a current branching relay receiving fault current at the same time, according to patent 919 479, characterized in that depending on the state tapped by one of the voltage divider Partial voltage influenced switching means (Tl, T2) the switch-on circuits for the testing relays (P 1, P 2 ... ) Are switched to low or high resistance.

2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that as switching means for changing the resistance of the switch-on circuits for the testing relays (Pl, P2 ...) Transistors (Tl, T2) are used, which are assigned to all switch-on circuits together.

3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that a first transistor (T 1) located in all switch-on circuits of the testing relays (Pl, P 2 ...) depends on the state of a second transistor (T2) influenced by the partial voltage tapped off by the voltage divider ) the switch-on circuits for the testing relays (Pl, P 2 ...) switches to low or high resistance.

1 sheet of drawings