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CN110111265B - 叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置 - Google Patents

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CN110111265B CN201910271683.7A CN201910271683A CN110111265B CN 110111265 B CN110111265 B CN 110111265B CN 201910271683 A CN201910271683 A CN 201910271683A CN 110111265 B CN110111265 B CN 110111265B
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TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
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Abstract

本揭示提供了叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置。所述叠加图形的校正方法包括通过量测系统模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统,以及通过所述主动图案校正系统校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,能够实现实时优化叠加图形。

Description

叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置
【技术领域】
本揭示涉及显示技术领域,特别涉及一种叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置。
【背景技术】
目前叠加图形的校正方法中,需要将离线(offline)及人工量测的叠加图形数据导入控制电脑,才能校正叠加图形,由于等待离线及人工量测所述叠加图形的时间间隔过长,导致所述控制电脑校正所述叠加图形的实时性较差。
故,有需要提供一种叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置,以解决现有技术存在的问题。
【发明内容】
为解决上述技术问题,本揭示的一目的在于提供叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置,其能够实现实时优化叠加图形。
为达成上述目的,本揭示提供一叠加图形的校正方法。所述叠加图形的校正方法包括通过量测系统模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统,以及通过所述主动图案校正系统校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正方法还包括通过对位机台提供对位数据给所述量测系统。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正方法还包括通过所述量测系统根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正方法还包括通过所述主动图案校正系统调整平面镜单元以校正所述叠加模拟图形及产生所述叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正方法还包括通过所述主动图案校正系统传送所述叠加校正图形给所述量测系统,通过所述量测系统根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形。
本揭示还提供一叠加图形的校正装置。所述叠加图形的校正装置包括量测系统以及主动图案校正系统。所述量测系统配置成用于模拟出多个叠加模拟图形。所述主动图案校正系统连接所述量测系统。所述量测系统配置成用于传送所述叠加模拟图形给所述主动图案校正系统,所述主动图案校正系统配置成用于校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正装置还包括对位机台,所述对位机台连接所述量测系统且配置成用于提供对位数据给所述量测系统。
于本揭示其中的一实施例中,所述量测系统根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正装置还包括平面镜单元,所述主动图案校正系统连接所述平面镜单元且配置成用于调整所述平面镜单元以校正所述叠加模拟图形及产生所述叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述主动图案校正系统配置成用于传送所述叠加校正图形给所述量测系统,所述量测系统配置成用于根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形。
由于本揭示的实施例中的叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置,通过所述量测系统模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统传送所述叠加模拟图形给所述主动图案校正系统,以及通过所述主动图案校正系统校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,能够实现实时优化叠加图形。
为让本揭示的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:
【附图说明】
图1显示根据本揭示的一实施例的叠加图形的校正方法的流程示意图;以及
图2显示根据本揭示的一实施例的叠加图形的校正装置的方块示意图。
【具体实施方式】
为了让本揭示的上述及其他目的、特征、优点能更明显易懂,下文将特举本揭示优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。再者,本揭示所提到的方向用语,例如上、下、顶、底、前、后、左、右、内、外、侧层、周围、中央、水平、横向、垂直、纵向、轴向、径向、最上层或最下层等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本揭示,而非用以限制本揭示。
在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。
参照图1-2,本揭示的一实施例提供一叠加图形的校正方法100。所述叠加图形的校正方法100包括:方块110,通过量测系统210模拟出多个叠加模拟图形,方块120,通过所述量测系统210传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统220,以及方块130,通过所述主动图案校正系统220校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形。
本揭示的实施例中,通过量测系统210模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统210实时传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统220,以及通过所述主动图案校正系统220实时校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,能够实现实时优化叠加模拟图形,解决了习知技术中,需要等待离线(offline)及人工量测的叠加图形数据导入控制电脑,导致所述控制电脑校正所述叠加图形的实时性较差。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加图形的校正方法100还包括通过对位机台230提供对位数据给所述量测系统210。所述叠加图形的校正方法100还包括通过所述量测系统210根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形。所述叠加图形的校正方法100还包括通过所述主动图案校正系统220调整平面镜单元240以校正所述叠加模拟图形及产生所述叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加模拟图形的校正方法100还包括通过所述主动图案校正系统220传送所述叠加校正图形给所述量测系统210,通过所述量测系统210根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形。
参照图2,本揭示的一实施例提供一叠加图形的校正装置200。所述叠加图形的校正装置200包括量测系统210以及主动图案校正系统220。所述量测系统210配置成用于模拟出多个叠加模拟图形。所述主动图案校正系统220连接所述量测系统210。所述量测系统210配置成用于传送所述叠加模拟图形给所述主动图案校正系统220,所述主动图案校正系统220配置成用于校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形。
本揭示的实施例中,通过量测系统210模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统210实时传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统220,以及通过所述主动图案校正系统220实时校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,能够实现实时优化叠加模拟图形,解决了习知技术中,需要等待离线(offline)及人工量测的叠加图形数据导入控制电脑,导致所述控制电脑校正所述叠加图形的实时性较差。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加模拟图形的校正装置200还包括对位机台230,所述对位机台230连接所述量测系统210且配置成用于提供对位数据给所述量测系统210。所述量测系统210根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述叠加模拟图形的校正装置200还包括平面镜单元240,所述主动图案校正系统220连接所述平面镜单元240且配置成用于调整所述平面镜单元240以校正所述叠加模拟图形及产生所述叠加校正图形。
于本揭示其中的一实施例中,所述主动图案校正系统220配置成用于传送所述叠加校正图形给所述量测系统210,所述量测系统210配置成用于根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形。
由于本揭示的实施例中的叠加图形的校正方法及叠加图形的校正装置,通过所述量测系统模拟出多个叠加模拟图形,通过所述量测系统传送所述叠加模拟图形给所述主动图案校正系统,以及通过所述主动图案校正系统校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,能够实现实时优化叠加模拟图形。本揭示的实施例可以节省离线量测机台产能和手动导入数据人力,还可以通过所述主动图案校正系统对所述叠加模拟图形进行实时校正,实现工厂智能化,例如可改善平板显示技术中的彩色滤光片整合于阵列基板(color filteron array,COA)制程。
尽管已经相对于一个或多个实现方式示出并描述了本揭示,但是本领域技术人员基于对本说明书和附图的阅读和理解将会想到等价变型和修改。本揭示包括所有这样的修改和变型,并且仅由所附权利要求的范围限制。特别地关于由上述组件执行的各种功能,用于描述这样的组件的术语旨在对应于执行所述组件的指定功能(例如其在功能上是等价的)的任意组件(除非另外指示),即使在结构上与执行本文所示的本说明书的示范性实现方式中的功能的公开结构不等同。此外,尽管本说明书的特定特征已经相对于若干实现方式中的仅一个被公开,但是这种特征可以与如可以对给定或特定应用而言是期望和有利的其他实现方式的一个或多个其他特征组合。而且,就术语“包括”、“具有”、“含有”或其变形被用在具体实施方式或权利要求中而言,这样的术语旨在以与术语“包含”相似的方式包括。
以上仅是本揭示的优选实施方式,应当指出,对于本领域普通技术人员,在不脱离本揭示原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本揭示的保护范围。

Claims (2)

1.一种叠加图形的校正方法,其特征在于,包括:
通过量测系统模拟出多个叠加模拟图形;
通过所述量测系统传送所述叠加模拟图形给主动图案校正系统;
通过所述主动图案校正系统校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,通过所述主动图案校正系统传送所述叠加校正图形给所述量测系统,通过所述量测系统根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形;
通过对位机台提供对位数据给所述量测系统;
通过所述量测系统根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形;以及
通过所述主动图案校正系统调整平面镜单元以校正所述叠加模拟图形及产生所述叠加校正图形。
2.一种叠加图形的校正装置,其特征在于,包括:
量测系统,配置成用于模拟出多个叠加模拟图形;
主动图案校正系统,连接所述量测系统;
对位机台,其中所述对位机台连接所述量测系统且配置成用于提供对位数据给所述量测系统;以及
平面镜单元,其中所述主动图案校正系统连接所述平面镜单元且配置成用于调整所述平面镜单元以校正所述叠加模拟图形及产生叠加校正图形;
其中所述量测系统配置成用于传送所述叠加模拟图形给所述主动图案校正系统,所述主动图案校正系统配置成用于校正所述叠加模拟图形以产生叠加校正图形,所述主动图案校正系统配置成用于传送所述叠加校正图形给所述量测系统,所述量测系统配置成用于根据所述叠加校正图形模拟出所述叠加模拟图形,所述量测系统根据所述对位数据模拟出所述叠加模拟图形。
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