CN117968766A - 一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 - Google Patents
一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117968766A CN117968766A CN202410147376.9A CN202410147376A CN117968766A CN 117968766 A CN117968766 A CN 117968766A CN 202410147376 A CN202410147376 A CN 202410147376A CN 117968766 A CN117968766 A CN 117968766A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- product
- information
- preset value
- detection
- preset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 174
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 82
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 34
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 28
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 12
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 15
- 238000013461 design Methods 0.000 description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 11
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 8
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 7
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 7
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 6
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
- G01D21/02—Measuring two or more variables by means not covered by a single other subclass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Ecology (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
本发明公开了一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；所述尺寸检测模块用于对微波组件产品进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息；所述性能检测模块用于对微波组件产品进行性能检测获取到产品性能检测信息；所述适应检测模块用于对微波组件产品进行适应性检测获取到产品适应检测性信息；所述外观检测模块用于对微波组件产品进行外观检测获取到产品外观检测信息；所述可靠性检测模块用于对微波组件产品进行可靠性检测获取到产品可靠性检测信息；本发明能够进行更加全面的准确的微波组件产品的检测。
Description
技术领域
本发明涉及质量分析领域，具体涉及一种用于微波组件检测的产品质量分析系统。
背景技术
微波组件为多个元件通过特殊工艺组装起来具备功能的功能件，如电阻器，电感器，天线塑胶振子，VC均热片，等都是微波元件，而滤波器，移向器天线等应该归类为微波组件；
在微波组件生产过程中，需要对其产品质量进行检测分析，了解到其产品质量的好坏，在进行微波组件的检测分析过程中，即会使用到产品质量分析系统。
现有的产品质量分析系统，在实际分析过程中，分析数据较为单一，不能全面化的进行微波组件的产品检测，导致最终获取到的产品检测结果偏差大可靠性低，给产品质量分析系统的使用带来了一定的影响，因此提出了一种用于微波组件检测的产品质量分析系统。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
所述尺寸检测模块用于对微波组件产品进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息；
所述性能检测模块用于对微波组件产品进行性能检测获取到产品性能检测信息；
所述适应检测模块用于对微波组件产品进行适应性检测获取到产品适应检测性信息；
所述外观检测模块用于对微波组件产品进行外观检测获取到产品外观检测信息；
所述可靠性检测模块用于对微波组件产品进行可靠性检测获取到产品可靠性检测信息；
所述数据处理模块用于对产品尺寸检测信息、产品性能检测信息、产品适应性检测信息、产品外观检测信息与产品可靠性检测信息进行处理获取到第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息；
所述信息发送模块用于在第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息生成后，将上述信息发送到预设接收终端。
进一步在于，所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
将点a1分别与a2、a3、a4和a5连线获取到线段L1、L2、L3和L4；
线段L1、L2、L3和L4组成产品尺寸检测信息。
进一步在于，所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
所述第一分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，对产品尺寸检测信息进行处理获取到产品实时参数信息，将至少选取x个产品实时参数信息，之后计算出x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值，再对x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值进行处理获取到实时评估参数，获取到x个实时评估参数，当x个实时评估参数超过预设范围的数量大于x/4时，即生成三级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量在x/4到x/5时，即生成二级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量小于x/5时，即生成一级尺寸分析。
进一步在于，所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段L1、L2、L3和L4，测量出线段L1的长度M1,线段L2的长度M2、线段L3的长度M3和线段L4的长度M4；
M1、M2、M3和M4组成实时参数信息；
所述实时评估参数的获取过程如下：提取出预设的微波组件标准信息，预设的微波组件标准信息中包含了标准L1长度Mm1，标准L2长度Mm2，标准L3长度Mm3与标准L4长度Mm4；
之后提取出实时参数信息，计算出M1与Mm1的差值的绝对值M1差，M2与Mm2的差值的绝对值M2差，M3与Mm3的差值的绝对值M3差，M4与Mm4差值的绝对值M4差；
最后计算出M1差、M2差、M3差与M4差的总和，即获取到实时评估参数。
进一步在于，所述第二分析信息包括一级性能、二级性能与三级性能；所述第二分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品性能检测信息，产品性能检测信息包括增益大小与噪声系数；
对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分；
计算出第一评分与第二评分的总和即获取到综合评估分；
当综合评估分大于预设值a1时，即生成一级性能，当综合评估分在预设值a1到a2之间时，即生成二级性能，当综合评估分小于预设值a2时，即生成三级性能。
进一步在于，所述对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分具体过程如下：
提取出增益大小，对其评估获取到第一评分，当增益大小大于预设值b1时，第一评分为预设值q1，当增益大小在预设值b1到b2之间时，第一评分为预设值q2，当增益大小小于预设值b2时，第一评分为预设值q3，q1＞q2＞q3，b1＞b2；
提取出噪音系数，对噪音系数进行评估获取到第二评分，当噪音系数大于预设值c1时，第二评分为预设值p1，当噪音系数在预设值c1到c2之间时，第二评分为预设值p2，当噪音系数小于预设值c2时，第二评分为预设值p3，p3＞p2＞p1，c2＞c1。
进一步在于，所述第三分析信息包括一级外观评估、二级外观评估与三级外观评估，所述第三分析的具体处理过程如下：提取出采集到产品外观检测信息，产品外观检测信息包括划痕数量、凹陷数量、裂纹数量与锈迹氧化面积；
当划痕数量小于预设值，凹陷数量小于预设值，裂纹数量小于预设值，锈迹氧化面积小于预设值面积时生成一级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任一个出现时生成二级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任意两个及以上出现时生成三级外观评估。
进一步在于，第四分析信息包括一级耐久评估、二级耐久评估与三级耐久评估，第四分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品可靠性检测信息，产品可靠性检测信息包括失效率、平均无故障工作时间与使用寿命；
当失效率小于预设值、平均无故障工作时间大于等于预设时长且使用寿命大于等于预设值时，即生成一级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意两个及以上出现时，即生成三级耐久评估。
进一步在于，所述产品可靠性检测信息的获取过程如下：
根据微波组件产品的实际应用要求，制定详细的测试方案；
根据测试方案，准备相应的测试设备和仪器，根据微波组件产品的应用环境和测试要求，搭建模拟的测试环境
按照测试方案，对微波组件产品进行各项可靠性测试；获取到测试数据；
对测试数据进行分析，获取到失效率、平均无故障工作时间与使用寿命。
进一步在于，所述第五评估信息包括一级耐受评估、二级耐受评估与三级耐受评估，所述第五评估信息具体处理过程如下：提取出采集到的产品适应检测性信息，产品适应检测性信息包括微波组件产品的极限耐受高温、极限耐受低温、极限耐受湿度与极限耐受振动力；
当极限耐受高温、极限耐受湿度与极限耐受振动力均大于等于预设值，极限耐受低温小于预设值时，即生成一级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意两个出现及以上出现时，即生成三级耐受评估。
本发明的有益效果体现在：
本发明通过对微波组件的产品进行检测分析能够确保性能符合要求，可以确认微波组件的性能是否达到设计要求和预期的标准，这有助于保证微波组件在实际使用中的效果和可靠性，能够发现潜在问题：在质量检测过程中，可能会发现微波组件的一些潜在问题或缺陷，这些问题可能是由于制造过程中的缺陷、材料的质量问题或其他因素引起的，通过及时发现和解决这些问题，可以避免在使用过程中出现故障或性能下降，能够提高产品质量：通过对微波组件进行质量检测分析，可以反馈到生产过程中，促进产品质量的持续改进，通过不断优化设计和制造过程，可以提高微波组件的整体性能和质量，增强客户信任度：对微波组件进行质量检测分析，可以向客户提供产品的详细质量报告，为研发提供参考，在产品研发阶段，通过对微波组件进行质量检测分析，可以为研发团队提供参考和依据，帮助改进设计方案和制造工艺，提高产品的可靠性和降低生产成本，从而实现更加全面化的微波组件产品质量的检测，获取的检测结果准确度更高可靠性更高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
图1为本发明的系统框图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本发明的保护范围。
需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义。
如图1所示，一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
所述尺寸检测模块用于对微波组件产品进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息；
所述性能检测模块用于对微波组件产品进行性能检测获取到产品性能检测信息；
所述适应检测模块用于对微波组件产品进行适应性检测获取到产品适应检测性信息；
所述外观检测模块用于对微波组件产品进行外观检测获取到产品外观检测信息；
所述可靠性检测模块用于对微波组件产品进行可靠性检测获取到产品可靠性检测信息；
所述数据处理模块用于对产品尺寸检测信息、产品性能检测信息、产品适应性检测信息、产品外观检测信息与产品可靠性检测信息进行处理获取到第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息；
所述信息发送模块用于在第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息生成后，将上述信息发送到预设接收终端；
本发明通过对微波组件的产品进行检测分析能够确保性能符合要求，可以确认微波组件的性能是否达到设计要求和预期的标准，这有助于保证微波组件在实际使用中的效果和可靠性，能够发现潜在问题：在质量检测过程中，可能会发现微波组件的一些潜在问题或缺陷，这些问题可能是由于制造过程中的缺陷、材料的质量问题或其他因素引起的，通过及时发现和解决这些问题，可以避免在使用过程中出现故障或性能下降，能够提高产品质量：通过对微波组件进行质量检测分析，可以反馈到生产过程中，促进产品质量的持续改进，通过不断优化设计和制造过程，可以提高微波组件的整体性能和质量，增强客户信任度：对微波组件进行质量检测分析，可以向客户提供产品的详细质量报告，为研发提供参考，在产品研发阶段，通过对微波组件进行质量检测分析，可以为研发团队提供参考和依据，帮助改进设计方案和制造工艺，提高产品的可靠性和降低生产成本，从而实现更加全面化的微波组件产品质量的检测，获取的检测结果准确度更高可靠性更高。
所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
将点a1分别与a2、a3、a4和a5连线获取到线段L1、L2、L3和L4；
线段L1、L2、L3和L4组成产品尺寸检测信息；
通过上述过程，能够获取到更加准确的产品尺寸检测信息从而保证第一分析信息生成的准确性。
所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
其中一级尺寸分析即表示尺寸准确无误，二级尺寸分析即表示存在一定的尺寸偏差，三级尺寸分析即表示存在较大的尺寸偏差；
所述第一分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，对产品尺寸检测信息进行处理获取到产品实时参数信息，将至少选取x个产品实时参数信息，之后计算出x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值，再对x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值进行处理获取到实时评估参数，获取到x个实时评估参数，当x个实时评估参数超过预设范围的数量大于x/4时，即生成三级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量在x/4到x/5时，即生成二级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量小于x/5时，即生成一级尺寸分析，x≥10；
通过对微波组件产品进行尺寸检测能够确保尺寸精度：通过对微波组件进行尺寸检测，可以精确测量各项尺寸参数，如长度、宽度、高度、孔径等。这将有助于确保微波组件的尺寸精度，符合设计要求和标准，从而保证其性能和可靠性。
预防潜在问题：尺寸不准确可能导致微波组件在装配或使用过程中出现各种问题，如不匹配、卡滞、振动等。通过尺寸检测分析，可以及时发现和纠正这些问题，避免潜在问题的发生。
提高生产效率：在生产过程中，如果微波组件的尺寸存在偏差，可能导致装配时间延长、产品不合格率增加等问题。通过尺寸检测分析，可以筛选出符合要求的组件，提高生产效率和质量。
优化产品性能：通过对尺寸检测结果进行分析，可以进一步了解微波组件的性能和特性，从而为产品优化提供依据。通过不断改进和调整尺寸参数，可以提高微波组件的性能和稳定性。
综上所述，对微波组件进行尺寸检测分析是必要的，能够确保产品的尺寸精度、预防潜在问题、提高生产效率、优化产品性能、增强市场竞争力以及提供质量保证。
所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段L1、L2、L3和L4，测量出线段L1的长度M1,线段L2的长度M2、线段L3的长度M3和线段L4的长度M4；
M1、M2、M3和M4组成实时参数信息；
所述实时评估参数的获取过程如下：提取出预设的微波组件标准信息，预设的微波组件标准信息中包含了标准L1长度Mm1，标准L2长度Mm2，标准L3长度Mm3与标准L4长度Mm4；
之后提取出实时参数信息，计算出M1与Mm1的差值的绝对值M1差，M2与Mm2的差值的绝对值M2差，M3与Mm3的差值的绝对值M3差，M4与Mm4差值的绝对值M4差；
最后计算出M1差、M2差、M3差与M4差的总和，即获取到实时评估参数；
通过上述过程能够获取到更加准确的实时评估参数，从而更进一步的保证第一分析信息生成的准确性。
所述第二分析信息包括一级性能、二级性能与三级性能；所述第二分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品性能检测信息，产品性能检测信息包括增益大小与噪声系数；
对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分；
计算出第一评分与第二评分的总和即获取到综合评估分；
当综合评估分大于预设值a1时，即生成一级性能，当综合评估分在预设值a1到a2之间时，即生成二级性能，当综合评估分小于预设值a2时，即生成三级性能；
一级性能、二级性能与三级性能中级别越低即表示微波组件产品的性能越好，越高即表示越差；
通过性能检测，可以确认微波组件的性能是否达到设计要求和预期的标准。这有助于保证微波组件在实际使用中的效果和可靠性。
通过对微波组件进行性能检测分析，可以了解其性能表现，发现潜在的问题或瓶颈，从而指导进一步的优化设计。
发现潜在故障，性能检测可以及时发现微波组件可能存在的潜在故障或问题，从而避免在使用过程中出现突发故障或性能急剧下降。
所述对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分具体过程如下：
提取出增益大小，对其评估获取到第一评分，当增益大小大于预设值b1时，第一评分为预设值q1，当增益大小在预设值b1到b2之间时，第一评分为预设值q2，当增益大小小于预设值b2时，第一评分为预设值q3，q1＞q2＞q3，b1＞b2；
提取出噪音系数，对噪音系数进行评估获取到第二评分，当噪音系数大于预设值c1时，第二评分为预设值p1，当噪音系数在预设值c1到c2之间时，第二评分为预设值p2，当噪音系数小于预设值c2时，第二评分为预设值p3，p3＞p2＞p1，c2＞c1。
所述第三分析信息包括一级外观评估、二级外观评估与三级外观评估，所述第三分析的具体处理过程如下：提取出采集到产品外观检测信息，产品外观检测信息包括划痕数量、凹陷数量、裂纹数量与锈迹氧化面积；
当划痕数量小于预设值，凹陷数量小于预设值，裂纹数量小于预设值，锈迹氧化面积小于预设值面积时生成一级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任一个出现时生成二级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任意两个及以上出现时生成三级外观评估；
通过外观检测，可以发现微波组件表面和结构上的缺陷、损伤或不符合设计要求的部分。这有助于确保微波组件的外观质量，提升产品整体的美观度和完整性，外观缺陷可能导致微波组件在使用过程中出现各种问题，如密封性差、连接不良等。通过外观检测分析，可以预防这些潜在问题，确保微波组件的正常使用和安全性，外观检测有助于及时发现并纠正外观缺陷，从而提高微波组件的可靠性和稳定性。这有助于减少在使用过程中出现故障或性能下降的风险。
第四分析信息包括一级耐久评估、二级耐久评估与三级耐久评估，一级耐久评估、二级耐久评估与三级耐久评估中级别越低即表示其对极端环境的耐受性越好，越高即表示对极端环境的耐受性越差，第四分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品可靠性检测信息，产品可靠性检测信息包括失效率、平均无故障工作时间与使用寿命；
当失效率小于预设值、平均无故障工作时间大于等于预设时长且使用寿命大于等于预设值时，即生成一级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意两个及以上出现时，即生成三级耐久评估。
耐久检测可以评估微波组件在长时间使用或多次使用下的性能表现。通过测试其在各种条件下的耐久性，可以确认微波组件是否具有长期稳定的性能，满足长期使用的需求。
在耐久检测过程中，可能会发现微波组件的一些潜在问题或缺陷。这些问题可能是由于材料疲劳、结构弱点或其他因素引起的。及时发现和解决这些问题有助于避免在使用过程中出现故障或性能下降，通过对耐久检测数据的分析，可以为改进微波组件的设计、材料、工艺等提供科学依据。这有助于促进产品的持续优化和改进，通过耐久检测，可以在早期阶段发现潜在问题，从而避免在使用过程中出现突发故障或性能急剧下降。这有助于降低微波组件的维护成本和停机时间，对微波组件进行耐久检测分析能够确保产品的长期稳定性、发现潜在问题、优化产品设计、增强客户信任度、提供产品改进依据、降低维护成本以及提升产品可靠性。这些好处有助于提高微波组件的性能和客户满意度，增强其在市场上的竞争力。
所述产品可靠性检测信息的获取过程如下：
根据微波组件产品的实际应用要求，制定详细的测试方案；
根据测试方案，准备相应的测试设备和仪器，根据微波组件产品的应用环境和测试要求，搭建模拟的测试环境
按照测试方案，对微波组件产品进行各项可靠性测试；获取到测试数据；
对测试数据进行分析，获取到失效率、平均无故障工作时间与使用寿命。
所述第五评估信息包括一级耐受评估、二级耐受评估与三级耐受评估，一级耐受评估、二级耐受评估与三级耐受评估中级别越高即表示耐受越差，级别越低即表示耐受越好，所述第五评估信息具体处理过程如下：提取出采集到的产品适应检测性信息，产品适应检测性信息包括微波组件产品的极限耐受高温、极限耐受低温、极限耐受湿度与极限耐受振动力；
当极限耐受高温、极限耐受湿度与极限耐受振动力均大于等于预设值，极限耐受低温小于预设值时，即生成一级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意两个出现及以上出现时，即生成三级耐受评估；
极端耐受检测可以模拟微波组件在极端温度、湿度、压力等环境条件下的性能表现。通过测试其在极限条件下的性能，可以了解微波组件的性能极限和耐受能力，从而评估其在实际使用中的可靠性和稳定性。
在极端环境下，微波组件的任何缺陷或弱点都可能被放大。因此，通过极端耐受检测可以及时发现微波组件的潜在问题或缺陷，从而避免在使用过程中出现故障或性能下降。
通过对极端耐受检测结果的分析，可以为微波组件的进一步优化提供参考和依据。这有助于改进设计方案，提高产品的耐极端环境的能力和可靠性，降低维护成本。
向客户提供经过极端耐受检测的微波组件，可以增强客户对产品的信任度。这有助于提高产品的市场竞争力，增加客户的购买意愿。
通过极端耐受检测，可以在早期阶段发现潜在问题，从而避免在使用过程中出现突发故障或性能急剧下降。这有助于降低微波组件的维护成本和停机时间。
极端耐受检测有助于更好地了解微波组件在不同极端条件下的性能表现，从而评估其可靠性水平。这有助于提高产品的质量和可靠性，满足客户的期望和需求。
指导产品改进：通过对极端耐受检测数据的分析，可以为改进微波组件的设计、材料、工艺等提供科学依据。这有助于促进产品的持续优化和改进。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。
Claims (10)
1.一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
所述尺寸检测模块用于对微波组件产品进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息；
所述性能检测模块用于对微波组件产品进行性能检测获取到产品性能检测信息；
所述适应检测模块用于对微波组件产品进行适应性检测获取到产品适应检测性信息；
所述外观检测模块用于对微波组件产品进行外观检测获取到产品外观检测信息；
所述可靠性检测模块用于对微波组件产品进行可靠性检测获取到产品可靠性检测信息；
所述数据处理模块用于对产品尺寸检测信息、产品性能检测信息、产品适应性检测信息、产品外观检测信息与产品可靠性检测信息进行处理获取到第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息；
所述信息发送模块用于在第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息生成后，将上述信息发送到预设接收终端。
2.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
将点a1分别与a2、a3、a4和a5连线获取到线段L1、L2、L3和L4；
线段L1、L2、L3和L4组成产品尺寸检测信息。
3.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
所述第一分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，对产品尺寸检测信息进行处理获取到产品实时参数信息，将至少选取x个产品实时参数信息，之后计算出x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值，再对x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值进行处理获取到实时评估参数，获取到x个实时评估参数，当x个实时评估参数超过预设范围的数量大于x/4时，即生成三级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量在x/4到x/5时，即生成二级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量小于x/5时，即生成一级尺寸分析。
4.根据权利要求3所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段L1、L2、L3和L4，测量出线段L1的长度M1,线段L2的长度M2、线段L3的长度M3和线段L4的长度M4；
M1、M2、M3和M4组成实时参数信息；
所述实时评估参数的获取过程如下：提取出预设的微波组件标准信息，预设的微波组件标准信息中包含了标准L1长度Mm1，标准L2长度Mm2，标准L3长度Mm3与标准L4长度Mm4；
之后提取出实时参数信息，计算出M1与Mm1的差值的绝对值M1差，M2与Mm2的差值的绝对值M2差，M3与Mm3的差值的绝对值M3差，M4与Mm4差值的绝对值M4差；
最后计算出M1差、M2差、M3差与M4差的总和，即获取到实时评估参数。
5.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第二分析信息包括一级性能、二级性能与三级性能；所述第二分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品性能检测信息，产品性能检测信息包括增益大小与噪声系数；
对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分；
计算出第一评分与第二评分的总和即获取到综合评估分；
当综合评估分大于预设值a1时，即生成一级性能，当综合评估分在预设值a1到a2之间时，即生成二级性能，当综合评估分小于预设值a2时，即生成三级性能。
6.根据权利要求5所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分具体过程如下：
提取出增益大小，对其评估获取到第一评分，当增益大小大于预设值b1时，第一评分为预设值q1，当增益大小在预设值b1到b2之间时，第一评分为预设值q2，当增益大小小于预设值b2时，第一评分为预设值q3，q1＞q2＞q3，b1＞b2；
提取出噪音系数，对噪音系数进行评估获取到第二评分，当噪音系数大于预设值c1时，第二评分为预设值p1，当噪音系数在预设值c1到c2之间时，第二评分为预设值p2，当噪音系数小于预设值c2时，第二评分为预设值p3，p3＞p2＞p1，c2＞c1。
7.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第三分析信息包括一级外观评估、二级外观评估与三级外观评估，所述第三分析的具体处理过程如下：提取出采集到产品外观检测信息，产品外观检测信息包括划痕数量、凹陷数量、裂纹数量与锈迹氧化面积；
当划痕数量小于预设值，凹陷数量小于预设值，裂纹数量小于预设值，锈迹氧化面积小于预设值面积时生成一级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任一个出现时生成二级外观评估；
当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任意两个及以上出现时生成三级外观评估。
8.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：第四分析信息包括一级耐久评估、二级耐久评估与三级耐久评估，第四分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品可靠性检测信息，产品可靠性检测信息包括失效率、平均无故障工作时间与使用寿命；
当失效率小于预设值、平均无故障工作时间大于等于预设时长且使用寿命大于等于预设值时，即生成一级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐久评估；
当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意两个及以上出现时，即生成三级耐久评估。
9.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述产品可靠性检测信息的获取过程如下：
根据微波组件产品的实际应用要求，制定详细的测试方案；
根据测试方案，准备相应的测试设备和仪器，根据微波组件产品的应用环境和测试要求，搭建模拟的测试环境
按照测试方案，对微波组件产品进行各项可靠性测试；获取到测试数据；
对测试数据进行分析，获取到失效率、平均无故障工作时间与使用寿命。
10.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于，所述第五评估信息包括一级耐受评估、二级耐受评估与三级耐受评估，所述第五评估信息具体处理过程如下：提取出采集到的产品适应检测性信息，产品适应检测性信息包括微波组件产品的极限耐受高温、极限耐受低温、极限耐受湿度与极限耐受振动力；
当极限耐受高温、极限耐受湿度与极限耐受振动力均大于等于预设值，极限耐受低温小于预设值时，即生成一级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐受评估；
当极限耐受高温小于预设值、极限耐受湿度小于预设值、极限耐受振动力小于预设值、极限耐受低温大于等于预设值中任意两个出现及以上出现时，即生成三级耐受评估。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202410147376.9A CN117968766B (zh) | 2024-02-02 | 2024-02-02 | 一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202410147376.9A CN117968766B (zh) | 2024-02-02 | 2024-02-02 | 一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117968766A true CN117968766A (zh) | 2024-05-03 |
| CN117968766B CN117968766B (zh) | 2024-07-26 |
Family
ID=90861236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202410147376.9A Active CN117968766B (zh) | 2024-02-02 | 2024-02-02 | 一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117968766B (zh) |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010058927A2 (ko) * | 2008-11-24 | 2010-05-27 | 한국한의학연구원 | 안면 영상 촬영장치 |
| CN104374424A (zh) * | 2014-11-07 | 2015-02-25 | 江苏博普电子科技有限责任公司 | 一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统 |
| CN111861997A (zh) * | 2020-06-24 | 2020-10-30 | 中山大学 | 一种花纹板材圆孔尺寸检测方法、系统及装置 |
| CN112732555A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-30 | 深圳市磐锋精密技术有限公司 | 一种基于互联网大数据的产品性能测试系统及测试方法 |
| CN114648521A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-06-21 | 武汉旻一数字科技有限公司 | 一种基于机器视觉的智慧工厂生产在线监测分析系统 |
| CN114965511A (zh) * | 2022-05-20 | 2022-08-30 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 基于微波的检测设备及电路 |
| CN115412735A (zh) * | 2021-05-29 | 2022-11-29 | 华为技术有限公司 | 编解码方法、装置、设备、存储介质及计算机程序 |
| CN117310422A (zh) * | 2023-12-01 | 2023-12-29 | 四川永星电子有限公司 | 一种火工品电阻器性能测试方法及系统 |
| CN117346652A (zh) * | 2023-08-21 | 2024-01-05 | 中交第二航务工程局有限公司 | 基于机器视觉的钢筋单元件尺寸实时检测装置及方法 |
-
2024
- 2024-02-02 CN CN202410147376.9A patent/CN117968766B/zh active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010058927A2 (ko) * | 2008-11-24 | 2010-05-27 | 한국한의학연구원 | 안면 영상 촬영장치 |
| CN104374424A (zh) * | 2014-11-07 | 2015-02-25 | 江苏博普电子科技有限责任公司 | 一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统 |
| CN111861997A (zh) * | 2020-06-24 | 2020-10-30 | 中山大学 | 一种花纹板材圆孔尺寸检测方法、系统及装置 |
| CN112732555A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-30 | 深圳市磐锋精密技术有限公司 | 一种基于互联网大数据的产品性能测试系统及测试方法 |
| CN115412735A (zh) * | 2021-05-29 | 2022-11-29 | 华为技术有限公司 | 编解码方法、装置、设备、存储介质及计算机程序 |
| CN114648521A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-06-21 | 武汉旻一数字科技有限公司 | 一种基于机器视觉的智慧工厂生产在线监测分析系统 |
| CN114965511A (zh) * | 2022-05-20 | 2022-08-30 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 基于微波的检测设备及电路 |
| WO2023221423A1 (zh) * | 2022-05-20 | 2023-11-23 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 基于微波的检测设备 |
| CN117346652A (zh) * | 2023-08-21 | 2024-01-05 | 中交第二航务工程局有限公司 | 基于机器视觉的钢筋单元件尺寸实时检测装置及方法 |
| CN117310422A (zh) * | 2023-12-01 | 2023-12-29 | 四川永星电子有限公司 | 一种火工品电阻器性能测试方法及系统 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 张碧峰等: "YMCP-1型微波测流仪的比测实验与分析", 甘肃农业, no. 22, 31 December 2023 (2023-12-31) * |
| 李延芳;张舜德;姚晋丽;李燕;何润琴;: "基于机器视觉的VCM磁钢检测系统设计与研究", 工具技术, no. 11, 20 November 2009 (2009-11-20) * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN117968766B (zh) | 2024-07-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN112180230B (zh) | 芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端 | |
| CN116380496B (zh) | 一种汽车车门疲劳耐久测试方法、系统及介质 | |
| Li et al. | Improving wooden parts' quality by adopting DMAIC procedure | |
| CN117541057A (zh) | 一种基于数据分析的企业运营预警监控方法及系统 | |
| KR20180123775A (ko) | 강판의 표면 품질 판정 방법 | |
| Godina et al. | Improvement of the statistical process control through an enhanced test of normality | |
| CN117634988A (zh) | 一种基于先验信息的商品合格抽样检验方法及系统 | |
| CN117968766B (zh) | 一种用于微波组件检测的产品质量分析系统 | |
| Straat et al. | An Industry 4.0 example: Real-time quality control for steel-based mass production using Machine Learning on non-invasive sensor data | |
| CN119417646A (zh) | 基于数据分析的二次供水系统故障预警方法及系统 | |
| CN114266489B (zh) | 自动建立点焊质量在线评估模型的方法 | |
| CN116882762A (zh) | 基于大数据的企业运营风险评估预警方法 | |
| CN111428775A (zh) | 一种基于区块链和人工智能的汽车零部件溯源系统及方法 | |
| CN120125535B (zh) | Lng船用管件的焊接质量检测方法及平台 | |
| CN115689372A (zh) | 一种油气管道环焊缝的脆弱性估算方法和系统 | |
| CN119150026B (zh) | 一种洁净工作台洁净度测试方法及系统 | |
| CN118913375B (zh) | 一种银复合触点成型设备的在线监测系统 | |
| CN119624259A (zh) | 基于全流程追踪的海参全营养提取物生产质量溯源方法 | |
| CN119328589A (zh) | 一种基于机器视觉的零部件加工误差检测系统及方法 | |
| CN115121989A (zh) | 一种封头焊接质量评价方法 | |
| CN119545774B (zh) | 一种应用于pcba板加工流程的智能化监测系统及方法 | |
| Schötz et al. | Decision support methodology to reduce quality-related costs within mass production | |
| CN119328775B (zh) | 一种工业机器人故障诊断方法、系统和介质 | |
| CN120146667A (zh) | 一种基于金属材料质量监管评估方法及系统 | |
| Sorkhi et al. | Optimization of Post-Production Quality Control of Steel Products Using Autoencoder Algorithm for AI-Based Anomaly Detection |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |