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CN117368499A - 样本分析仪及检测启动方法 - Google Patents

样本分析仪及检测启动方法 Download PDF

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CN117368499A
CN117368499A CN202210761159.XA CN202210761159A CN117368499A CN 117368499 A CN117368499 A CN 117368499A CN 202210761159 A CN202210761159 A CN 202210761159A CN 117368499 A CN117368499 A CN 117368499A
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CN
China
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temperature
heating
component
reaction
sample
Prior art date
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Pending
Application number
CN202210761159.XA
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English (en)
Inventor
王志超
张家华
张强
张志�
覃进广
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd filed Critical Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd
Priority to CN202210761159.XA priority Critical patent/CN117368499A/zh
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • GPHYSICS
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Abstract

本申请实施例提供了一种样本分析仪及检测启动方法,其中,方法包括:在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件对温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;控制加热组件对温控组件至少持续加热预热时间,并在预热时间之后,控制样本分析仪启动样本检测操作。本申请实施例通过根据不同的环境温度确定温控组件被加热组件加热至预设温度所需要的预设时间,从而使得控制加热组件对温控组件持续加热该预设时间,进而使得温控组件温度可以较为精准的稳定在预设温度区间,实现样本分析仪在温控组件的温度在预设温度区间后特定检测项目的精准启动。

Description

样本分析仪及检测启动方法
技术领域
本申请涉及医疗器械技术领域,尤其涉及一种样本分析仪及检测启动方法。
背景技术
样本分析仪用于对特定样本进行分析,并获取对应的样本分析结果,样本分析仪在临床检验中应用非常广泛。
在样本分析仪中,为样本和试剂发生反应提供反应场所的反应装置具备温度调节功能。在进行特定项目检测时,为了确保检测数据的准确性,样本和试剂需要在特定的温度条件下进行反应,即,在样本分析仪启动后,反应装置中用于为样本和试剂提供适应温度环境的温控组件需要达到可测定温度后,样本分析仪才启动特定项目检测,在达到可进行测定的温度之前需要时间。
然而,温控组件所处的工况环境较为复杂,如何精准确定温控组件的温度,以实现样本分析仪特定检测项目的精准自启动,是本领域技术人员正在研究的热门课题。
发明内容
本申请实施例的主要目的在于提供一种样本分析仪及检测启动方法,旨在实现精准确定温控组件的温度,以实现样本分析仪特定检测项目的精准自启动。
第一方面,本申请实施例提供一种样本分析仪,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
分离清洗装置,用于对孵育后的所述反应杯内的反应液进行磁分离清洗,其中,所述分离清洗装置包括温控组件、吸附组件、吸注组件及加热组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位,且所述温控组件为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;所述吸附组件设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;所述吸注组件用于向移动至所述注液位的所述反应杯执行注液操作、及向移动至所述吸液位的所述反应杯执行吸液操作;所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
第二方面,本申请实施例提供一种样本分析仪,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
温控组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位;
加热组件,所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;及
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;及
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
第三方面,本申请实施例还提供一种样本分析仪,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
温控组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位;
加热组件,所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;及
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间。
第四方面,本申请实施例还提供一种检测启动方法,应用于样本分析仪,样本分析仪包括分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;分离清洗装置,用于对孵育后的所述反应杯内的反应液进行磁分离清洗,其中,所述分离清洗装置包括温控组件、吸附组件、吸注组件及加热组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位,且所述温控组件为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;所述吸附组件设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;所述吸注组件用于向移动至所述注液位的所述反应杯执行注液操作、及向移动至所述吸液位的所述反应杯执行吸液操作;所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;
所述方法包括:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
本申请实施例提供了一种样本分析仪及检测启动方法,在一实施方式中,该样本分析仪,在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件对温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;控制加热组件对温控组件至少持续加热预热时间,并在预热时间之后,控制样本分析仪启动样本检测操作。即,本申请实施例通过根据不同的环境温度确定温控组件被加热组件加热至预设温度所需要的预设时间,从而使得控制加热组件对温控组件持续加热该预设时间,进而使得温控组件温度可以较为精准的稳定在预设温度区间,实现样本分析仪在温控组件的温度在预设温度区间后特定检测项目的精准启动。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请实施例的公开内容。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是一实施方式中样本分析仪的框图性结构示意图;
图2是一实施方式中样本分析仪的结构示意图;
图3是一实施方式中样本分析仪的分注装置的结构示意图;
图4是一实施方式中样本分析仪的分离清洗装置的框图性结构示意图;
图5是一实施方式中温控组件被加热组件加热至预设温度所需的时间关系示意图;
图6是本申请实施例提供的一种检测启动方法的步骤流程图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施方式中的附图,对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
附图中所示的流程图仅是示例说明,不是必须包括所有的内容和操作/步骤,也不是必须按所描述的顺序执行。例如,有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并,因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
下面结合附图,对本申请的一些实施方式作详细说明,在不冲突的情况下,下述的实施例及实施方式中的特征可以相互组合。
请参照图1,本申请提供了一种样本分析仪100,用于对待测样本进行分析,以获取对应的分析结果。
在一些实施方式中,样本分析仪包括但不限于以下至少一种:生化分析仪、免疫分析仪、凝血分析仪、尿液分析仪。
如图1所示,样本分析仪100包括分注装置10、样本供应装置20、试剂供应装置30、反应装置40、分离清洗装置50、检测装置60及控制装置70。
样本供应装置20用于提供待测样本,试剂供应装置30用于提供与样本反应的试剂,反应装置40设置有至少一个反应位,反应位用于放置反应容器4011(参见图2),分注装置10用于将样本供应装置20提供的样本和试剂供应装置30提供的试剂注入至反应容器4011内,以使样本和试剂混合形成反应液。分离清洗装置50用于分离清洗,检测装置60用于对反应容器4011中的反应液、经反应装置40孵育后的反应液、或分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行检测,以获取对应的检测结果。
为了方便对样本与试剂各个阶段名称的理解,此处对样本与试剂各个阶段的名称进行详述:反应容器4011中的样本与试剂混合后称为混合物,也称反应液,反应装置40能够对反应容器4011中的混合物进行孵育操作,使得样本与试剂充分反应,此时,反应容器4011中的物质为待测物和杂质。其中,混合物是指样本与试剂混合后形成的物质,和样本与试剂的比例、浓度无关,在此都称为混合物。孵育后的混合物在反应容器4011中以待测物和杂质方式呈现。杂质可为未充分反应的物质,也可以为发生副反应产生的副反应产物,还可以为其他影响件装置60检测的物质等,或者为上述至少两种的组合物。分离清洗装置50对反应容器4011中的待测物与杂质进行清洗,以去除反应容器4011中的杂质,使得反应容器4011中只存在待测物。检测装置60能够检测反应容器4011中待测物,以得到样本的各项参数。若向分离清洗后反应容器4011中添加底物,即底物与待测物混合,由于底物不会改变待测物的属性,仅仅增加待测物的发光值,所以底物与待测物混合后仍称为待测物。
示例性地,本申请实施方式中以反应容器4011为反应杯为例进行说明,反应容器4011被转移至反应装置40后,反应装置40能够对反应容器4011中的样本与试剂进行孵育,孵育后的反应容器4011被转移至分离清洗装置50进行分离清洗,清洗后的反应容器4011再被转移对应的检测位,以使检测装置60对待测物进行检测,以得到样本的对应参数。其中,反应容器4011的转移可以通过样本分析仪100内的抓取装置(图未示)进行转移。例如,反应装置40还设置有检测位,抓取装置用于在反应装置40、分离清洗装置50之间转运反应容器4011。
在一些实施方式中,样本分析仪100还包括混匀装置80,混匀装置80用于对反应容器4011内的样本和试剂进行混匀,以使得样本和试剂充分混合形成反应液。在样本形成反应液后,再通过抓取装置将反应容器4011转移至反应装置40进行孵育。
示例性地,混匀装置80包括用于对反应容器4011内的反应液执行搅拌混匀操作的搅拌杆,及用于支撑并驱动搅拌杆执行搅拌混匀操作的第三驱动组件,例如,第三驱动组件可以驱动搅拌杆在二维或三维空间内执行抬升和下降等操作、及驱动搅拌杆执行自旋转操作,以充分搅拌反应容器4011内的反应液,并在搅拌杆完成对反应液的搅拌混匀操作后,第三驱动组件带动搅拌杆上移至反应容器4011的杯口上方的预设位置,以使搅拌杆与反应液脱离。
请参阅图2至图3,在一些实施方式中,样本供应装置20可以包括样本分配模块(SDM,Sample Delivery Module)及前端轨道;样本供应装置20也可以是样本盘,样本盘包括多个可以放置诸如样本管的样本位,样本盘通过转动其盘式结构,可以将样本调度到相应位置,例如将样本调度到分注装置10吸取样本的位置。分注装置10用于吸取样本并排放到待加样的反应容器4011中。
在一些实施方式中,分注装置10包括样本分注机构10a,其中,样本分注机构10a用于吸取样本供应装置20所供应的样本,并将样本移送至预设位置,如,排放至待加样的反应容器4011。样本分注机构10a包括样本针101、第一驱动组件102、第一移液驱动部103,其中,第一驱动组件102用于支撑样本针101并驱动样本针101移动。例如,样本针101通过二维或三维的第一驱动组件102在空间上进行二维或三维的运动,从而样本针101可以移动去吸取样本供应装置20所承载的样本。
第一移液驱动部103用以通过样本针101定量吸取样本,例如,待测样本为待测血液样本,样本针101在第一驱动组件102的驱动下移动到承载于样本供应装置20上装有血液样本的样本管中,并在第一移液驱动部103的驱动下吸取待测血液样本,并将该待测血液样本输送至反应装置40的反应容器4011内,从而由分注装置10所吸取的待测血液样本与由试剂供应装置20提供的试剂在反应容器4011混合,以制备成待测试样。
如图3所示,在一些实施方式中,第一驱动组件102包括支撑架1021,支撑架1021固定在支撑杆1022上,支撑杆1022可垂直移动和旋转,支撑架1021在支撑杆1022的带动下,实现垂直移动和水平旋转。样本针101设置在支撑架1021上,在支撑架1021的带动下可到达目标位置。示例性的,第一驱动组件102还包括用于驱动支撑杆1022运动的驱动器1023,如驱动器为步进电机,当然也不限于此。可选的,样本针101与第一驱动组件102可拆卸连接,或者固定连接。
在一些实施方式中,第一移液驱动部103包括管路1031及动力组件1033,其中,管路1031,用于输运流体介质,管路1031的一端与样本针101连通,另一端与动力组件1033连通,以便在动力组件1033的作用下改变管路1031内流体介质的流动方向,使得样本针101可以进行样本的移送。
在一些实施方式中,分注装置10包括试剂分注机构10b,试剂供应装置30包括用于承载试剂的试剂承载部件301,分注装置10的试剂分注机构10b吸取试剂供应装置30所承载的试剂后提供给反应装置40,其中,试剂包括但不限于发色试剂、稀释液、底物液、酶标试剂等。
在一些实施方式中,试剂承载部件301可以为试剂盘,试剂盘呈圆盘状结构设置,具有多个用于承载试剂容器的位置,试剂承载部件301能够转动并带动其承载的试剂容器转动,用于将试剂容器转动到特定的位置,例如被试剂分注机构10b吸取试剂的位置。其中,试剂承载部件301的数量可以为一个或多个。
在一些实施方式中,试剂分注机构10b可以包括试剂针、第二驱动组件、及第二移液驱动部。试剂针通过二维或三维的第二驱动组件来在空间上进行二维或三维的运动,从而试剂针可以移动并配合去第二移液驱动部吸取试剂承载部件301所承载的试剂,以及移动到待加试剂的反应容器4011,并向反应容器4011排放试剂。
在一些实施方式中,第二驱动组件和第一驱动组件102具有相同的结构,在此不做赘述。
在一些实施方式中,第二移液驱动部和第一移液驱动部103具有相同的结构,在此不做赘述。
在一些实施方式中,试剂分注机构10b不通过试剂针的方式添加试剂,而是通过专用管路将试剂管中的试剂添加到反应容器4011中。这类实施例中,只有样本针101,没有试剂针。
可以理解,根据检测体液的不同和检测项目的不同,样本和试剂有不同的添加方式,例如,样本和试剂都可以采用样本针101进行添加,或者样本采用样本针101进行添加、试剂采用试剂针进行添加,或者只有样本采用样本针101进行添加、试剂采用其它方式进行添加。也即,分注装置10的样本分注机构10a既用于进行样本的移送,又用于进行试剂的移;或者分注装置10的样本分注机构10a用于进行样本移送、试剂分注机构10b用于进行试剂移送;或者分注装置10的样本分注机构10a用于进行样本移送,试剂则是通过专用管路与承载试剂的试剂容器连接以将试剂添加到反应容器4011中。因此,样本针101和/或试剂针也称为移液针,即,移液针至少包括样本针101和试剂针中任一者。
在一些实施方式中,反应装置40具有支撑部401,并且该支撑部401具有至少一个反应位,反应位用于放置反应容器4011,反应容器4011于接收由样本供应装置20供应的样本和由试剂供应装置30供应的试剂,以混合形成反应液,从而由反应液孵育形成待测试样。
例如,反应装置40可以为反应盘,例如图2所示,其呈圆盘状结构设置,具有一个或多个用于放置反应容器4011的反应位,反应盘能够转动并带动其反应位中的反应容器4011转动,用于在反应盘内调度反应容器4011以及孵育反应容器4011中的反应液从而得到待测试样。检测装置60用于对反应杯内的反应液或由反应液孵育的待测试样进行测定,得到样本的反应数据。例如检测装置60对待测试样的发光强度进行检测,通过定标曲线,计算样本中待测成分的浓度等。可选地,检测装置60分离设置于反应装置40的周侧。
在另外的实施方式中,检测装置60还可以是电检测装置(例如阻抗测定机构)或其它原理的检测装置(例如成像测定机构)。
请参阅图4,在一些实施方式中,样本分析仪100还包括温控组件501及加热组件504,温控组件501设置有多个相间隔并用于承载反应容器4011的放置位,且温控组件501为可旋转结构,加热组件504与温控组件501间隔设置,并用于对温控组件501进行加热。
示例性地,由于分离清洗装置50的温控组件501在使用过程中需要旋转,基于制造成本和操作可靠性考虑,在温控组件501上没有设置加热装置及温度传感器,即温控组件501无法被直接加热,且温控组件501的自身温度无法被直接获取,也即,温控组件501通过加热组件504进行间接加热,温控组件501的温度通过加热组件504的加热温度和加热时间间接获取。
例如,样本分析仪100还包括传感器组件505,传感器组件505用于感测加热组件504的自身温度,即,样本分析仪100通过传感器组件505可以获取到加热组件504的温度,利用传感器组件505所获取的温度分析出在当前温度下,温控组件501在加热组件504的间接加热下经预设时间T可以达到预设温度,从而可以间接分析出温控组件501的温度。
在一些实施方式中,温控组件501及加热组件504设置于用于对孵育后的反应容器4011内的反应液进行磁分离清洗的分离清洗装置50,即,分离清洗装置50包括温控组件501、吸附组件502、吸注组件503及加热组件504,温控组件501设置有多个相间隔并用于承载反应容器4011的放置位,且温控组件501为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;吸附组件502设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;吸注组件503用于向移动至注液位的反应容器4011执行注液操作、及向移动至吸液位的反应容器4011执行吸液操作;加热组件504与温控组件501间隔设置,并用于对温控组件501进行加热。
在一些实施方式中,传感器组件505设置于分离清洗装置50,并用于检测加热组件504的加热温度。
示例性地,温控组件501为磁分离盘,加热组件504包括与磁分离盘间隔设置的磁分离锅及用于加热磁分离锅的加热器,其中,加热器对磁分离锅进行加热,以使得磁分离锅的温度达到预设温度,并利用磁分离锅对磁分离盘进行间接加热,使得磁分离盘的温度在一定时间内达到预设温度。
在磁分离盘的温度达到预设温度后,将孵育后的反应容器4011通过抓取装置转移到温控组件501的放置位内,并通过吸附组件502吸附反应容器4011内提取物结合性载体,待测物依附在提取物结合性载体上,在反应容器4011内的提取物结合性载体被吸附后,通过吸注组件503向反应容器4011进行注液和吸液,以清洗反应容器4011内提取物结合性载体,在清洗完成后,向反应容器4011注入底物,并将反应容器4011内的溶液进行孵育并光测,从而得到对应的样本检测结果。
控制装置70与分注装置10、样本供应装置20、试剂供应装置30、反应装置40、分离清洗装置50、混匀装置80、检测装置60通信连接,以控制分注装置10、样本供应装置20、试剂供应装置30、反应装置40、分离清洗装置50、混匀装置80、检测装置60中至少一者完成预设操作,如,完成样本的混匀操作,或样本的检测工作。
在一些实施方式中,控制装置70至少包括处理器701、存储器702、通信接口(图未示)和I/O接口(图未示)。处理器701、存储器702、通信接口、和I/O接口通过总线进行通信。处理器701可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中,通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器702中装有操作系统和应用程序等供处理器701执行的各种计算机程序及执行该计算机程序所需的数据。在待测样本分析过程中或待测样本的搅拌混匀过程中,如有需要本地存储的数据,均可以存储到存储器702中。I/O接口包括但不限定于USB、IEEE1394或RS-232C等串行接口、SCSI、IDE或IEEE1284等并行接口以及由D/A转换器和转换器等组成的模拟信号接口。I/O接口上连接有输入装置,用户可以用输入装置直接向控制装置70输入数据,该输入装置包括但不限定于键盘、鼠标、触摸屏或控制按钮。显示装置可以通过I/O接口与控制装置70通信连接,以进行相关信息提示。通信接口是可以是目前已知的任意通信协议的接口,通信接口通过网络与外界进行通信,控制装置70可以通过通信接口以预设的通信协议,与通过该网连接的任意装置之间传输数据。
在一些实施方式中,控制装置70至少用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间;
控制加热组件504对温控组件501至少持续加热预热时间,并在预热时间之后,控制样本分析仪100启动样本检测操作。
示例性地,在进行特定项目检测时,为了确保检测结果的精准性,需要样本分析仪100内对应的装置或组件的工作温度在对应的预设温度条件下方可启动样本检测。本申请实施例中,温控组件501的温度达到预设温度后,表征其他装置或组件的工作温度已达对应的预设温度,可以启动样本检测操作。
为了精准获取温控组件501的温度,在接收到测试请求时,通过获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间,然后,控制加热组件504对温控组件501至少持续加热预热时间,在加热组件504持续加热预设时间后,加热组件504通过间距加热使得温控组件501的温度可以达到预设温度,从而,在预热时间之后,控制样本分析仪100启动样本检测操作。
如图5所示,加热组件504启动t1时间后,温度可达预设温度,并在加热组件504达预设温度的持续时间为t3后,温控组件501可以被加热至预设温度。
可选地,环境温度的获取方式可以是,样本分析仪100设置有传感器组件,通过传感器组件可以获取到环境温度。或者,环境温度可以通过设置有温度传感器的电子设备获取,或者通过可以连接互联网的通信设备获取。
在一些实施方式中,控制装置70在根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间时,包括:
根据环境温度和预热时间模型确定加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间,其中,预热时间模型设置有预热时间和环境温度之间的关联关系。
可选的,预热时间和环境温度成线性函数关联关系。
示例性地,样本分析仪100在不同的环境温度下,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的时间不同,并且通过实验可以得出不同的环境温度和对应的预热时间之间的关联关系,从而根据该关联关系确定出在不同的温度条件下,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需时间的预热时间模型。
在确定预热时间模型后,根据环境温度和预热时间模型即可计算出温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间。
例如,预热时间模型可以表示为,t=kTen+b,其中,t为预热时间,Ten环境温度,k和b为已知数,k的取值范围0~5,b的取值范围0~30。
通过预热时间模型可知,环境温度表示为Ten,Ten≥30时,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间为15s。环境温度30>Ten≥25时,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间为20s。环境温度25>Ten≥20时,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间为30s。环境温度20>Ten≥15时,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间为40s。环境温度Ten<15时,温控组件501被加热组件504加热到预设温度所需的预热时间为60s。
在一些实施方式中,在获取环境温度之后,及获取预热时间之前,控制装置70还用于:
判断加热组件504的加热温度是否可以达到预设温度,并当加热组件504的加热温度可以达到预设温度时,根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间。
示例性地,基于温控组件501是通过加热组件504进行间接加热,因此,通过预先判断加热组件504的加热温度是否可以达到预设温度,可以提前分析出温控组件501是否可以被加热温度到预设温度。
在一些实施方式中,控制装置70在判断加热组件504的加热温度是否可以达到预设温度时,包括:
控制加热组件504执行加热操作,并在加热组件504执行加热操作过程中,获取加热组件504在预设时间段内多个时间点的第一温度数据;
判断各个第一温度数据与预设温度的差值是否均在预设差值的范围内;
当各个第一温度数据与预设温度的差值均在预设差值的范围内时,判断加热组件504的加热温度可以达到预设温度;
当各个温度数据与预设温度的差值中任一者不在预设差值的范围内时,判断加热组件504的加热温度不可以达到预设温度。
示例性地,已知加热组件504启动加热预设时长后的加热温度,则,在控制加热组件504执行加热操作,并在加热组件504执行加热预设时长后,获取加热组件504在预设时间段内多个时间点的第一温度数据,当各个第一温度数据与预设温度的差值均在预设差值的范围内时,判断加热组件504的加热温度可以达到预设温度;当各个温度数据与预设温度的差值中任一者不在预设差值的范围内时,判断加热组件504的加热温度不可以达到预设温度。
在一些实施方式中,样本分析仪100还包括显示装置,当加热组件504的加热温度不可以达到预设温度时,控制装置70控制显示装置输出对应的警报信息。
示例性地,当加热组件504的加热温度无法到达预设温度,表征加热组件504或者样本分析仪100可能出现故障,则控制装置70控制显示装置输出对应的警报信息。
在一些实施方式中,在加热组件504的加热温度可以达到预设温度之后,控制装置70还用于:
获取加热组件504在预设时间段内多个时间点的第二温度数据,并根据多个第二温度数据和预设温度判断样本分析仪100是否异常;
当样本分析仪100异常时,重新判断加热组件504的加热温度是否可以达到预设温度,并当加热组件504的加热温度可以达到预设温度时,根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间;
当加热组件504的加热温度不可以达到预设温度时,控制样本分析仪100的显示装置输出对应的警报信息,和/或控制加热组件504关闭。
示例性地,在加热组件504的加热温度可以达到预设温度表征样本分析仪100在加热组件504的加热阶段可以正常工作,则在加热组件504的加热温度可以达到预设温度之后,持续监控样本分析仪100是否可以正常工作。
其中,监控样本分析仪100是否可以正常工作包括获取加热组件504在预设时间段内多个时间点的第二温度数据,并根据多个第二温度数据和预设温度判断样本分析仪100是否异常;例如,一个或多个第二温度数据与预设温度之间的差值均大于预设值时,判断样本分析仪100出现异常。
当样本分析仪100异常时,重新判断加热组件504的加热温度是否可以达到预设温度,并当加热组件504的加热温度可以达到预设温度时,根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间;当加热组件504的加热温度不可以达到预设温度时,控制样本分析仪100的显示装置输出对应的警报信息,和/或控制加热组件504关闭。
在一些实施方式中,控制装置70用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间;
控制加热组件504对温控组件501至少持续加热预热时间。
示例性地,在样本分析仪中,在进行预设操作时,温控组件501需要达到预设温度后,方可执行下一步操作,为了精准获取温控组件501的温度,在接收到测试请求时,通过获取环境温度,并根据环境温度获取加热组件504对温控组件501加热到预设温度所需要的预热时间,然后,控制加热组件504对温控组件501至少持续加热预热时间,在加热组件504持续加热预设时间后,加热组件504通过间距加热使得温控组件501的温度可以达到预设温度,进而可以样本分析仪可以执行对应的下一步操作。
以下将结合样本分析仪100的工作原理,对本申请实施例提供的一种检测启动方法进行说明。
请参阅图6,图6为本申请实施例提供的一种检测启动方法,应用于样本分析仪,样本分析仪包括分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;分离清洗装置,用于对孵育后的所述反应杯内的反应液进行磁分离清洗,其中,所述分离清洗装置包括温控组件、吸附组件、吸注组件及加热组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位,且所述温控组件为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;所述吸附组件设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;所述吸注组件用于向移动至所述注液位的所述反应杯执行注液操作、及向移动至所述吸液位的所述反应杯执行吸液操作;所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;所述方法包括,步骤S101至步骤S102。
步骤S101:在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
步骤S102:控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
在一些实施方式中,所述样本分析仪还包括传感器组件,所述环境温度通过所述传感器组件获取。
在一些实施方式中,所述根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间,包括:
根据所述环境温度和预热时间模型确定所述加热组件对所述温控组件加热到所述预设温度所需要的预热时间,其中,所述预热时间模型设置有所述预热时间和所述环境温度之间的关联关系。
可选地,所述预热时间和所述环境温度成线性函数关联关系。
在一些实施方式中,在获取环境温度之后,所述方法还包括:
判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度,并当所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度时,根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间。
在一些实施方式中,所述判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度,包括:
控制所述加热组件执行加热操作,并在所述加热组件执行加热操作过程中,获取所述加热组件在预设时间段内多个时间点的第一温度数据;
判断各个所述第一温度数据与所述预设温度的差值是否均在预设差值的范围内;
当各个所述第一温度数据与所述预设温度的差值均在所述预设差值的范围内时,判断所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度;
当各个所述温度数据与所述预设温度的差值中任一者不在所述预设差值的范围内时,判断所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度。
在一些实施方式中,所述样本分析仪还包括显示装置,所述方法还包括:当所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度时,控制所述显示装置输出对应的警报信息。
在一些实施方式中,在所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度之后,所述方法还包括:
获取所述加热组件在预设时间段内多个时间点的第二温度数据,并根据多个所述第二温度数据和所述预设温度判断所述样本分析仪是否异常;
当所述样本分析仪异常时,重新判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度,并当所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度时,根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
当所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度时,控制所述样本分析仪的显示装置输出对应的警报信息,和/或控制所述加热组件关闭。
在一些实施例中,所述方法包括,
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间。
需要说明的是,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,上述描述的检测启动方法的具体工作过程,可以参考前述样本分析仪的对应工作过程,在此不再赘述。
应当理解,在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。以上所述,仅是本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种样本分析仪,其特征在于,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
分离清洗装置,用于对孵育后的所述反应杯内的反应液进行磁分离清洗,其中,所述分离清洗装置包括温控组件、吸附组件、吸注组件及加热组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位,且所述温控组件为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;所述吸附组件设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;所述吸注组件用于向移动至所述注液位的所述反应杯执行注液操作、及向移动至所述吸液位的所述反应杯执行吸液操作;所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
2.一种样本分析仪,其特征在于,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
温控组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位;
加热组件,所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;及
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;及
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
3.根据权利要求1或2所述的样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪还包括传感器组件,所述环境温度通过所述传感器组件获取。
4.根据权利要求3所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间,包括:
根据所述环境温度和预热时间模型确定所述加热组件对所述温控组件加热到所述预设温度所需要的预热时间,其中,所述预热时间模型设置有所述预热时间和所述环境温度之间的关联关系。
5.根据权利要求4所述的样本分析仪,其特征在于,所述预热时间和所述环境温度成线性函数关联关系。
6.根据权利要求1或2所述的样本分析仪,其特征在于,在获取环境温度之后,所述控制装置还用于:
判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度,并当所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度时,根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间。
7.根据权利要求6所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置在判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度时,包括:
控制所述加热组件执行加热操作,并在所述加热组件执行加热操作过程中,获取所述加热组件在预设时间段内多个时间点的第一温度数据;
判断各个所述第一温度数据与所述预设温度的差值是否均在预设差值的范围内;
当各个所述第一温度数据与所述预设温度的差值均在所述预设差值的范围内时,判断所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度;
当各个所述温度数据与所述预设温度的差值中任一者不在所述预设差值的范围内时,判断所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度。
8.根据权利要求6所述的样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪还包括显示装置,当所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度时,所述控制装置控制所述显示装置输出对应的警报信息。
9.根据权利要求6所述的样本分析仪,其特征在于,在所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度之后,所述控制装置还用于:
获取所述加热组件在预设时间段内多个时间点的第二温度数据,并根据多个所述第二温度数据和所述预设温度判断所述样本分析仪是否异常;
当所述样本分析仪异常时,重新判断所述加热组件的加热温度是否可以达到所述预设温度,并当所述加热组件的加热温度可以达到所述预设温度时,根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
当所述加热组件的加热温度不可以达到所述预设温度时,控制所述样本分析仪的显示装置输出对应的警报信息,和/或控制所述加热组件关闭。
10.根据权利要求1或2所述的样本分析仪,其特征在于,所述温控组件为磁分离盘,所述加热组件包括与所述磁分离盘间隔设置的磁分离锅及用于加热所述磁分离锅的加热器。
11.一种样本分析仪,其特征在于,包括:
分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;
混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;
反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;
温控组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位;
加热组件,所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;及
控制装置,用于:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间。
12.一种检测启动方法,应用于样本分析仪,其特征在于,样本分析仪包括分注装置,所述分注装置至少用于移送样本和/或试剂;混匀装置,所述混匀装置设置有至少一个混匀位,并用于对放置于所述混匀位的反应杯内的反应液执行混匀操作,所述反应液至少由所述样本和所述试剂混合而得;反应装置,所述反应装置设置有至少一个反应位,并用于对放置于所述反应位的所述反应杯内的反应液进行孵育;分离清洗装置,用于对孵育后的所述反应杯内的反应液进行磁分离清洗,其中,所述分离清洗装置包括温控组件、吸附组件、吸注组件及加热组件,所述温控组件设置有多个相间隔并用于承载反应杯的放置位,且所述温控组件为可旋转结构,并沿其旋转途径上设置有至少一个注液位和至少一个吸液位;所述吸附组件设置有至少一个可吸附提取物结合性载体的吸附性部件;所述吸注组件用于向移动至所述注液位的所述反应杯执行注液操作、及向移动至所述吸液位的所述反应杯执行吸液操作;所述加热组件与所述温控组件间隔设置,并用于对所述温控组件进行加热;
检测装置,用于对分离清洗后的所述反应杯内的待测物进行发光检测;
所述方法包括:
在接收到测试请求时,获取环境温度,并根据所述环境温度获取所述加热组件对所述温控组件加热到预设温度所需要的预热时间;
控制所述加热组件对所述温控组件至少持续加热所述预热时间,并在所述预热时间之后,控制所述样本分析仪启动样本检测操作。
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