CN116096660A - 样品输运装置、样品分析系统和样品前处理装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种样品停止时的位置精度较高、能够调整停止时的精细位置的样品输运装置、样品分析系统和样品前处理装置。本发明的样品输运装置(1a)包括设置有永磁体(10)的样品、利用永磁体(10)输运样品的输运路径、设置在输运路径的与输运样品的面相反一侧的面上的多个线圈、和对线圈供给电流的驱动电路,驱动电路利用位于要使永磁体(10)停止的位置的正下方的第一线圈(30B)中流动的电流,来调整永磁体的垂直方向上作用的力,利用与第一线圈相邻的第二线圈(30C)中流动的电流,来调整永磁体(10)的水平方向上作用的力,调整永磁体(10)的停止位置。
Description
技术领域
本发明涉及样品输运装置、样品分析系统和样品前处理装置。
背景技术
在用于临床检查的样品分析系统中,对血液、血浆、血清、尿、其他体液等样品(样本)执行所指示的分析项目的检查。该样品分析系统能够将多种功能的装置连接,自动地对各工序进行处理。即,为了使检查室的业务更加合理,将生物化学和免疫等多个分析领域的分析部和进行分析所需的前处理的前处理部用输运流水线连接,作为1个系统加以运用。
现有的样品分析系统中使用的输运流水线主要是传动带驱动方式的。在这样的传动带驱动方式下,存在若输运途中因某种异常导致输运停止,则不再能够向其下游一侧的装置供给样品的问题。因此,需要充分地关注传动带的磨损。
近年来,随着医疗的进步和老龄化社会的发展,样品处理的重要性越来越高。于是,为了提高样品分析系统的分析处理能力,要求能够实现样品的高速输运、大量同时输运以及多个方向上的输运。作为实现这种输运的技术之一例,有专利文献1中记载的技术。
专利文献1记载了一种研究室试样发送系统,其包括:若干容器载架(1),其分别具有至少1个磁活性器件——优选为至少1个永磁体,并且适合输运包含试样的试样容器;输运平面,其适合输运多个容器载架;若干电磁致动器,其静止地配置在输运平面的下方,适合通过对容器载架施加磁力来使容器载架在输运平面上移动;和至少一个转移装置,其被配置成在输运平面与研究室站点——优选为分析前站点、分析站点和/或分析后站点——之间转移试样品,试样品是容器载架、试样容器、试样的一部分和/或一套试样。专利文献2公开了利用磁力来对搭载了试样容器的容器载架进行输运的结构。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2017-227648号公报
发明内容
发明要解决的技术问题
上述专利文献1所述的技术记载了,按照容器载架的位置来阶梯状地使电磁致动器启动。然而,专利文献2的系统中,仅按照容器载架的位置来切换要启动的电磁致动器。即,对位于想要将容器载架的永磁体输运到的位置处的电磁致动器施加电流,使容器载架因永磁体与电磁致动器的吸引力而停止于目标位置,电磁致动器的吸引力中产生了想要输运永磁体的方向的力(推力)和将永磁体向输运面按压的力(垂直力)。但是,在永磁体来到电磁致动器的正上方的情况下,推力变得大致为零,但垂直力并不减小。即存在这样的问题,永磁体越接近目标位置,使永磁体在横向上移动的力即推力越小、而永磁体与输运面之间的摩擦力则因垂直力而相对增大,永磁体的停止位置精度降低。
进而,在要从永磁体静止的状态起略微改变位置的情况下,存在相对于推力发生较大的摩擦力、摩擦力的状态从静摩擦变为动摩擦、难以获得精细的永磁体的位置精度的问题。
本发明鉴于上述情况,提供一种样品停止时的位置精度较高、能够调整停止时的精细位置的样品输运装置、样品分析系统和样品前处理装置。
解决问题的技术手段
解决上述问题的本发明的第一方面提供一种样品输运装置,其特征在于,包括:样品,其设置有永磁体;输运路径,其利用永磁体输运样品;多个线圈,其设置在输运路径的与输运样品的面相反一侧的面上;和驱动电路,其对线圈供给电流,其中,驱动电路利用位于要使永磁体停止的位置的正下方的第一线圈中流动的电流,来调整永磁体的垂直方向上作用的力,利用与第一线圈相邻的第二线圈中流动的电流,来调整永磁体的水平方向上作用的力,调整永磁体的停止位置。
本发明的第二方面提供一种包括上述本发明的样品输运装置的样品分析系统。
本发明的第三方面提供一种包括上述本发明的样品输运装置的样品前处理装置。
本发明的更具体的结构记载在要求保护的技术方案中。
发明效果
根据本发明,能够提供一种样品停止时的位置精度较高、能够调整停止时的精细位置的样品输运装置、样品分析系统和样品前处理装置。
上述以外的技术问题、技术特征和技术效果将通过以下实施方式的说明而明确。
附图说明
图1是表示实施例1的输运装置的概略结构的立体图。
图2是表示实施例1的输运装置的概略结构的截面图。
图3是表示实施例1的输运装置的概略结构的截面图。
图4是表示B位置附近的Z轴方向上作用的力的曲线图。
图5是表示使永磁体从A位置移动至B位置的情况下的各位置处的推力(X方向上作用的力)的曲线图。
图6是表示实施例2的输运装置的概略结构的截面图。
图7是表示实施例3的输运装置的概略结构的截面图。
图8是表示实施例4的输运装置的概略结构的截面图。
图9是表示实施例4的输运装置的概略结构的截面图。
图10是表示实施例5的永磁体10和磁芯20的形状的示意图。
图11是表示实施例6的输运装置的概略结构的截面图。
图12是表示实施例7的样品输运装置的概略结构示意图。
图13是表示实施例8的样品分析系统的概略结构的示意图。
图14是表示实施例9的样品前处理系统的概略结构的示意图。
具体实施方式
下面使用附图说明本发明的输运装置、样品分析系统和样品前处理装置的实施例。
实施例1
图1是表示实施例1的输运装置的概略结构的立体图,图2和图3是表示实施例1的输运装置的概略结构的截面图。如图1~图3所示,本实施例的样品输运装置1a包括设置有永磁体10的样品(未图示)、通过永磁体10来输运样品的输运路径15(图2)、设置在输运路径15的与输运样品的面相反一侧的面上的多个线圈、和对线圈提供电流的驱动电路(未图示)。永磁体10被设置在被输运体即样品的容器等上,样品与永磁体10一同在输运路径15上移动。线圈包括由磁性体构成的磁芯20和在磁芯20的外周卷绕的绕组30。
图1是配置了5个线圈的输运装置的例子,其中线圈通过在由磁性体构成的磁芯20的周围配置绕组30而得。利用因绕组30中流动的电流而产生的磁极,来对样品上设置的永磁体10进行输运。即,使想要移动到的方向(行进方向)的磁芯20产生磁极,利用该磁极牵引永磁体10在行进方向上输运被输运体。
本实施例中,5个磁芯20在搭载了被输运体的永磁体10即样品10的一侧的相反侧(-Z轴方向一侧),被磁性体的磁轭40磁耦合。由此,能够保持多个磁芯20并且获得磁芯20的位置精度,同时具有也能够增大对永磁体10作用的磁通的优点。本实施例中,使5个磁芯20十字状地排列,能够使永磁体10在X轴方向和Y轴方向上移动。另外,本实施例的磁芯20的数量是5个,但不限定于该数量。通过在要输运到的区域铺设磁芯20,能够实现广范围的输运。
图1中,永磁体10在磁芯20的Z轴方向上与磁芯20对置地配置,在输运路径上移动。在要行进到的方向的绕组30中供给电流,使要行进到的方向的磁芯20产生对永磁体10的磁极进行吸引的磁极,将永磁体10移动至其位置。本实施例中,在磁芯20的永磁体一侧配置了平板状的输运路径15。设置在被输运体上的永磁体10以在输运面上滑动的方式移动。
使用图3说明使永磁体10在X轴方向上从A位置移动至B位置并在B位置停止的情况下的永磁体10的停止方法。本图中未图示输运路径。例如,在为了在B位置滴加试剂或进行分注作业而要由机器人等保持样品的情况下、在输运面上进行分注或试剂滴加的情况下,若作为被输运体的样品等的位置产生偏差,则存在样品或试剂洒出的情况,取决于情况的不同,还存在已开栓的样品倾倒、样品洒在输运面上的情况。即,因输运面上的位置精度的误差会产生作业失误。
本发明的目的在于使样品精度良好地停止于磁芯20的目标位置。在要使永磁体10停止于B位置的情况下,在X方向的B位置附近,吸引力对永磁体10和永磁体10正下方的磁芯20B作用。即,在永磁体10上在-Z方向上产生力。该-Z方向上产生的力是将永磁体10向输运面按压的力,成为永磁体10移动时的摩擦力。于是,通过在永磁体10正下方的磁芯20B上卷绕的绕组30B中供给产生与永磁体10的磁极相斥的磁极的电流,能够减轻该-Z方向的力。
图4是表示B位置附近的Z轴方向上作用的力的曲线图。图4中,示出了使绕组30B产生与永磁体10的磁极相斥的磁极的电流,和作用在永磁体10上的Z方向的力。随着产生相斥磁极的电流的增加,Z方向的力减小,利用大致0.3A~0.35A程度的电流能够使Z方向的力接近0(图4的位置0是永磁体10位于B位置的情况下在Z方向上作用的力)。此处,在不对绕组30B供给产生相斥磁极的电流的情况下,-Z方向上会产生1.7N以上的力,这会产生将永磁体10压紧在输运面上的摩擦力。
图5是表示使永磁体从A位置移动至B位置的情况下的各位置处的推力(X方向上作用的力)的曲线图。图5表示对绕组30B供给了吸引永磁体10的电流的情况下,永磁体10的X方向的位置从A(位置-1.0)移动至B(位置0.0)时作用于永磁体10上的X方向的力(推力)。现有的方法中,在要移动至该目标场所并停止的情况下,如果永磁体10位于位置A,则以使磁芯20B产生吸引的磁极的方式对B位置的绕组30B供给电流,由此将永磁体牵引至B位置并停止。但是,该情况下的推力与位置的特性是,随着永磁体10从A位置移动至B位置,推力先逐渐增大,但从超过中间后的附近起逐渐减小,并在B位置推力大致成为零。即,当永磁体10靠近作为目标的B位置的附近时,能够使其向X方向移动的推力大致变成0。因此,在目标即B位置附近的定位精度恶化。
进而,如图4所示,作用于永磁体10上的-Z方向的力并不大幅地变化,所以相对于推力而言摩擦力相对增大,不再能够产生克服摩擦力的推力,因此难以准确地停止于B位置。另外,若一旦停止于偏离目标即B位置的场所,将产生静摩擦力导致无法产生足以再次运动的推力,而在利用邻接的磁芯进行吸引的情况下,被输运体会在从静摩擦变为动摩擦的时刻急剧地运动,因此难以进行精细的定位。
为此,设置至少2个以上线圈,在要使永磁体停止的位置处的与永磁体对置的第一线圈(磁芯20B上卷绕的第一绕组30B)、和与卷绕在磁芯20B上的第一线圈的绕组30B相邻的第二线圈(线圈20C上卷绕的绕组30C)中供给电流,利用第一线圈(第一绕组30B)主要调整Z方向的力(摩擦力),并利用第二线圈(第二绕组)30C主要调整X方向的力(推力),由此能够减轻摩擦力的影响,提高定位的精度。通过在绕组中供给电流会产生X方向和Z方向双方的力,但在使永磁体10正下方的第一绕组30B励磁的情况下,推力<吸引力,在使与第一绕组30B相邻的第二绕组30C励磁的情况下,推力>吸引力,因此通过在至少2个绕组中同时供给电流,能够调整推力和吸引力,使其在目标位置停止的精度提高。
实施例2
图6是表示实施例2的输运装置的概略结构的截面图。实施例6的样品输运装置1b的基本结构与图1所示的样品输运装置1a相同。
设永磁体10的目标停止位置即磁芯20B的X轴方向的中心到永磁体10的距离为x1。此处,设永磁体10的直径为D、磁芯20B的直径为d。
如果要停止的位置即磁芯中心到永磁体10的距离x1比永磁体10的半径D/2、磁芯20B的半径d/2短的情况下,永磁体10与磁芯20B隔着输运路径15对置。若该对置(面对面)的面积增大,则-Z方向的力增大。即,永磁体10与磁芯20B之间的摩擦力增大。从而,在该范围中,通过使第一线圈(磁芯20B上卷绕的绕组30B)产生与永磁体10相斥的磁极,能够减小摩擦力。此时,使位于永磁体10的输运方向前方的第二线圈20产生吸引永磁体10的磁极,或者利用永磁体10的惯性力使其在X方向上移动。即,在x1≤(D/2+d/2)的区间中,通过在上述第一绕组20B中供给产生与永磁体的极性相斥的磁通的电流,能够减轻摩擦力,提高定位的精度。
另外,在永磁体10以某速度移动时,也可以是,通过被输运体的惯性力进行X方向的移动,仅在x1≤(D/2+d/2)的区间使正下方的绕组20B中产生斥力来减轻摩擦力。
实施例3
图7是表示实施例3的输运装置的概略结构的截面图。本实施例7的样品输运装置1c的基本结构与图1所示的样品输运装置1a相同。
图7中,设永磁体10的直径为D、磁芯20B的直径为d。当永磁体10的中心相对于要使上述永磁体停止的位置处的与永磁体对置的磁芯20B的中心处于±d/2的范围内时,永磁体10受磁芯20B在-Z方向上作用的力增大,摩擦力急剧增大。进而,从永磁体10对磁芯20B的磁通流入量的变化量并不大幅变化,而推力由磁通的变化量决定,所以是推力也较小的区域。从而,该区域是摩擦力增大、推力减小的范围,通过在第一绕组20B中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力与摩擦力的比即推力/摩擦力,因此有效的推力得到提高,停止位置的精度得到提高。
实施例4
图8和图9是表示实施例4的输运装置的概略结构的截面图。本实施例8的样品输运装置1d的基本结构与图1所示的输运装置1相同。
图8中,设永磁体10的直径为D、磁芯20B的直径为d。图8中,永磁体10的直径D大于要使永磁体10停止的位置处的与永磁体10对置的磁芯20B的直径d。此时,当永磁体10的中心相对于要使永磁体10停止的位置处的与永磁体10对置的磁芯的中心处于±(D-d)/2的范围内时,直径较小一方的磁芯20B始终与永磁体10对置,对置面积较大,并且在该范围内移动时对置面积的变化较小。即,是永磁体10和磁芯20B的-Z方向的力较大、推力较小的范围。此时,通过在第一绕组20B中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
此处,永磁体10和磁芯20的形状不限定于圆柱状,只要能够获得同样的效果即可。
图9中,设永磁体10的直径为D、磁芯20B的直径为d。图9中,永磁体10的直径D小于要使永磁体10停止的位置处的与永磁体10对置的磁芯20B的直径d。此时,当永磁体10的中心相对于要使永磁体10停止的位置处的与永磁体10对置的磁芯的中心处于±(d-D)/2的范围内时,直径较小一方的磁芯20B始终与永磁体10对置,对置面积较大,并且在该范围内移动时对置面积的变化较小。即,是永磁体10和磁芯20B的-Z方向的力较大、推力较小的范围。此时,通过在第一绕组20B中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
实施例5
图10是表示永磁体10和磁芯20的形状的示意图。本实施例说明磁芯20和设置在样品上的永磁体10的形状例。图10的(a)、(b)、(c)和(d)各图是将永磁体10和磁芯20投影到输运面(XY平面)上的图。
图10中(a)是圆柱的永磁体10和圆柱的磁芯20的情况,是永磁体10的直径小于圆柱的磁芯20的直径的事例。该情况下,在永磁体10的XY面投影区域容纳在圆柱的磁芯20的XY面投影区域内的范围中,通过在第一绕组20中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
图10中(b)是圆柱的永磁体10和圆柱的磁芯20的情况,是永磁体10的直径大于圆柱的磁芯20的直径的事例。该情况下,在圆柱的磁芯20的XY面投影区域容纳在永磁体10的XY面投影区域内的范围中,通过在第一绕组20中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
图10中(c)是矩形的永磁体10和矩形的磁芯20的情况,是永磁体10的面积小于圆柱的磁芯20的面积的事例,该情况下,在矩形的永磁体10的XY面投影区域容纳在矩形的磁芯20的XY面投影区域内的范围中,通过在第一绕组20中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
图10中(d)是圆柱的永磁体10和矩形的磁芯20的情况,是永磁体10的面积小于圆柱的磁芯20的面积的事例,该情况下,在圆柱的永磁体10的XY面投影区域容纳在矩形的磁芯20的XY面投影区域内的范围中,通过在第一绕组20中供给产生与永磁体10的极性相斥的磁通的电流,能够增大作用在永磁体10上的推力、减小摩擦力。
实施例6
图11是表示实施例6的输运装置的概略结构的截面图。基本的结构、作用与其他实施例相同,但磁芯20的与永磁体10相对的一侧的形状增大,比绕组30内侧的磁芯截面更大(呈T字形状)。此时,因绕组中供给的电流而产生的磁通增大,另外也能够增大永磁体10与磁芯20的对置面积,所以能够增大输运区间中作用在永磁体10上的推力的峰值(图5所示的推力的峰值增大)。但是,因为磁芯20正上方处推力为零,所以在磁芯20的X方向附近推力大致为零。另一方面,永磁体10与磁芯20的对置面积增大,-Z方向的力增大即摩擦力增大。这样,通过使磁芯20的形状成为T字形状而获得较大的峰值推力、减小磁芯20正上方的摩擦力,由此能够提供一种输运能力高且输运用的推力较大、摩擦力较小的输运装置。
实施例7
图12是实施例7的样品输运装置的示意图。本实施例更详细地说明实施例1~6中说明的样品输运装置的周边的结构。实施例7的样品输运装置100具有3个磁芯20A、20B、20C,绕各磁芯配置了绕组30A、30B、30C。对各绕组分别设置了驱动电路50,能够单独地控制各绕组的电流值。针对该电流值,具有检测永磁体10的位置的位置或速度检测部60,基于其信息利用电流指令运算部55计算上述电流值。采用该结构,通过基于永磁体10的位置调整各绕组的电流值,能够进行精细的定位,提高输运位置的精度。
实施例8
图13是实施例8的样品分析系统的示意图。本实施例对具备本发明的样品输运装置的样品分析系统进行说明。
如图13所示,样品分析系统200a是将样品和试剂分别分注到反应容器中使之反应,并对该反应后的液体进行测定的装置,包括送入部101、紧急样品架投入口113、输运流水线102、缓冲区104、分析部105、收纳部103、显示部118和控制部120。
送入部101是设置样品架111的场所,其中样品架111收纳多个用于容纳血液或尿等活体样本的样品容器122。紧急样品架投入口113是用于对装置内投入搭载了标准液的样品架(校准架)和收纳了容纳有需要紧急分析的样品的样品容器122的样品架111的场所。
缓冲区104以能够改变样品架111中的样品的分注顺序的方式,保持被输运流水线102输运的多个样品架111。
分析部105对从缓冲区104经由传送带流水线106输运的样品进行分析。其详情后述。
收纳部103用于收纳样品架111,该样品架中容纳的是保持经过分析部105完成分析后的样品的样品容器122。
输运流水线102是对设置在送入部101的样品架111进行输运的流水线,具有上述实施例1~实施例6中说明的本发明的样品输运装置的结构。本实施例中,将磁性体优选永磁体设置在样品架111的背面一侧。
分析部105由传送带流水线106、反应盘108、样品分注喷嘴107、试剂盘110、试剂分注喷嘴109、清洗机构112、试剂托盘114、试剂ID读取器115、试剂加载器116、分光光度计121等构成。
传送带流水线106是将缓冲区104中的样品架111送入至分析部105的流水线,具有上述实施例1~实施例6中说明的本发明的样品输运装置的结构。
反应盘108包括多个反应容器。样品分注喷嘴107通过旋转驱动和上下驱动,将样品从样品容器122分注到反应盘108的反应容器中。试剂盘110架设多个试剂。试剂分注喷嘴109将试剂从试剂盘110内的试剂瓶分注到反应盘108的反应容器中。清洗机构112对反应盘108的反应容器进行清洗。分光光度计121通过测定从光源(省略图示)透过反应容器的反应液得到的透射光,来测定反应液的吸光度。
试剂托盘114是在向样品分析系统200a内登记试剂时用于设置试剂的部件。试剂ID读取器115是通过读取设置于试剂托盘114上的试剂上附加的试剂ID来取得试剂信息的设备。试剂装载器116是将试剂送入试剂盘110的设备。
显示部118是用于显示血液或尿等液体样本中的规定成分的浓度的分析结果的显示设备。
控制部120由计算机等构成,控制样品分析系统200a内的各机构的动作,并进行求取血液或尿等样品中的规定成分的浓度的运算处理。
以上是样品分析系统200a的整体结构。
上述样品分析系统200a进行的样品的分析处理,一般而言按照以下顺序执行。
首先,样品架111被设置在送入部101或紧急样品架投入口113,通过输运流水线102送入可随机进出的缓冲区104。
样品分析系统200a从保存在缓冲区104的样品架中,按照优先级的规则,将优先级最高的样品架111用传送带流水线106送入分析部105。
到达分析部105后的样品架111进而被传送带流水线106移动至反应盘108附近的样品分取位置,由样品分注喷嘴107将样品分取至反应盘108的反应容器。利用样品分注喷嘴107按照对该样品委托的分析项目来相应地进行必要次数的样品分取。
利用样品分注喷嘴107对搭载在样品架111上的全部样品容器122进行样品分取。将全部样品容器122已结束分取处理的样品架111再次移动至缓冲区104。进而,将包括自动再检测在内已全部结束样品分取处理的样品架111利用传送带流水线106和输运流水线102移动至收纳部103。
另外,利用试剂分注喷嘴109将分析中要使用的试剂从试剂盘110上的试剂瓶分取到之前已分取了样品的反应容器中。接着,使用搅拌机构(省略图示)进行反应容器内的样品与试剂的混合液的搅拌。
之后,使光源产生的光透过装有搅拌后的混合液的反应容器,利用分光光度计121测定透射光的光度。将分光光度计121测定的光度经由A/D转换器和接口发送至控制部120。然后通过控制部120进行运算,求出血液或尿等液体样本中的规定成分的浓度,将结果显示在显示部118等上,或存储在存储部(省略图示)中。
另外,样品分析系统200a不需要如图13所示地具备上述全部结构,能够适当追加前处理用的单元,或删除一部分单元或一部分结构。另外,分析部105不限于用于生物化学分析,也可以用于免疫分析,而且也不需要是1个,能够具备2个以上。该情况下也将分析部105与送入部101之间用输运流水线102连接,从送入部101输运样品架111。
实施例9
图14是样品前处理系统的示意图。本实施例使用图14对样品前处理装置150的整体结构进行说明。
图14中,样品前处理装置150是执行样品分析所需的各种前处理的装置。图14中从左侧向右侧包括:以闭栓单元152、样品收纳单元153、空支架叠放部154、样品投入单元155、离心分离单元156、液量测定单元157、开栓单元158、子样品容器准备单元159、分注单元165、移载单元161为基本要素的多个单元,和控制该多个单元的动作的操作部PC163。
作为经过样品前处理装置150处理后的样品的移动目标,连接了用于进行样品成分的定性/定量分析的样品分析系统200a。
样品投入单元155是用于将容纳有样品的样品容器122投入到样品前处理装置150内的单元。离心分离单元156是用于对已投入的样品容器122进行离心分离的单元。液量测定单元157是对收纳在样品容器122中的样品进行液量测定的单元。开栓单元158是将已投入的样品容器122的栓打开的单元。子样品容器准备单元159是进行为了将已投入的样品容器122中收纳的样品在后续的分注单元165中分注所需要的准备的单元。分注单元165是为了使用样品分析系统等对经过离心分离后的样品进行分析而将其细分,并在细分后的样品容器122、子样品容器122上粘贴条形码等的单元。移载单元161是进行分注后的子样品容器122的分类,并进行移动至样品分析系统的准备的单元。闭栓单元152是对样品容器122和子样品容器122将栓关闭的单元。样品收纳单元153是收纳闭栓后的样品容器122的单元。
作为在这些各单元之间以及样品前处理装置150与样品分析系统200a之间输运保持样品容器122的样品保持器和样品架的机构,使用实施例1至实施例6的任一个输运装置。
另外,样品前处理装置150无需具备上述全部结构,能够进一步追加单元,或删除一部分单元或一部分结构。
另外,本实施例的样品分析系统可以是由如图14所示的样品前处理装置150和样品分析系统200a构成的样品分析系统200。该情况下,不仅能够在各系统内也能够将系统与系统之间用上述实施例1~实施例3的样品输运装置连接,输运样品容器122。
本发明的实施例7的样品分析系统200a和样品前处理装置150具备上述实施例1的输运装置1a,由此能够高效率地将样品容器122输运至输运目标,能够缩短获得分析结果所需的时间。另外,输运故障也较少,能够减轻化验师的负担。
另外,本实施例举例表示了将保持5个容纳有样品的样品容器122的样品架111作为输运对象进行输运的情况,但除了保持5个样品容器122的样品架111以外,也能够将保持2个样品容器122的样品保持器作为输运对象进行输运。
另外,本发明不限定于上述实施例,包括各种变形例。
上述实施例为了使本发明易于理解而进行了详细说明,但并不限定于必须具备所说明的全部结构。
另外,也能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构,也能够在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。另外,对于各实施例的结构的一部分,也能够追加、删除、置换其他结构。
例如,实施例1~实施例8对输运装置所输运的被输运物是样品架111和样品保持器的情况进行了说明,但被输运物不限于保持样品容器122的样品架、保持器等,能够以需要大规模输运的各种物体作为输运对象。
附图标记说明
1a、1b、1c、1d、1e……样品输运装置,10……永磁体,15……输运路径,20、20A、20B、20C……磁芯(磁极),30、30A、30B、30C……绕组,40……磁轭,50……驱动电路,55……电流指令运算部,60……位置或速度检测部,100……样品分析系统,101……送入部,102……输运流水线,103……收纳部,104……缓冲区,105……分析部,106……传送带流水线,107……样品分注喷嘴,108……反应盘,109……试剂分注喷嘴,110……试剂盘,111……样品架(被输运物),112……清洗机构,113……紧急样品架投入口,114……试剂托盘,115……读取器,116……试剂加载器,118……显示部,120……控制部,121……分光光度计,122……样品容器,150……样品前处理装置,152……闭栓单元,153……样品收纳单元,154……保持器叠放部,155……样品投入单元,156……离心分离单元,157……液量测定单元,158……开栓单元,159……子样品容器准备单元,161……移载单元,163……操作部PC,165……分注单元,200a……样品分析系统。
Claims (14)
1.一种样品输运装置,其特征在于,包括:
样品,其设置有永磁体;
输运路径,其利用所述永磁体输运所述样品;
多个线圈,其设置在所述输运路径的与输运所述样品的面相反一侧的面上;和
驱动电路,其对所述线圈供给电流,其中,
所述驱动电路利用位于要使所述永磁体停止的位置的正下方的第一线圈中流动的电流,来调整所述永磁体的垂直方向上作用的力,
利用与所述第一线圈相邻的第二线圈中流动的电流,来调整所述永磁体的水平方向上作用的力,调整所述永磁体的停止位置。
2.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述驱动电路对所述第一线圈供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,来调整所述永磁体的停止位置。
3.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
由所述第一线圈和所述第二线圈产生的磁通满足:在与所述永磁体相对的面一侧产生的磁通的极性不同。
4.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
当令所述永磁体的中心与所述第一线圈的中心之间的距离为x1,
从所述永磁体的中心到所述永磁体的端部的距离为D/2,并且
从所述第一线圈的中心到所述永磁体的端部的距离为d/2时,
在x1≤(D/2+d/2)的区间中,所述驱动电路对所述第一线圈供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,来调整所述永磁体的停止位置。
5.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
当令所述永磁体的中心与所述第一线圈的中心的距离为d/2时,
在所述永磁体的中心位于±d/2的区间时,所述驱动电路对所述第一线圈供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,来调整所述永磁体的停止位置。
6.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述线圈包括由磁性体构成的磁芯和卷绕于所述磁芯的外周的绕组,
所述永磁体的直径D大于所述第一线圈的磁芯的直径d,
在所述永磁体的中心处于±(D-d)/2的范围内时,所述驱动电路对所述第一线圈供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,来调整所述永磁体的停止位置。
7.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述线圈包括由磁性体构成的磁芯和卷绕于所述磁芯的外周的绕组,
所述永磁体的直径D小于所述第一线圈的磁芯的直径d,
在所述永磁体的中心处于±(d-D)/2的范围内时,所述驱动电路对所述第一线圈供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,来调整所述永磁体的停止位置。
8.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述线圈包括由磁性体构成的磁芯和卷绕于所述磁芯的外周的绕组,
所述永磁体投影到输运面上的面积小于所述磁芯投影到输运面上的面积。
9.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述线圈包括由磁性体构成的磁芯和卷绕于所述磁芯的外周的绕组,
所述磁芯投影到输运面上的面积包含在所述永磁体投影到输运面上的面积内。
10.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
所述第一线圈的磁芯的形状为T字形,与所述永磁体相对的面一侧的截面积大。
11.如权利要求1所述的样品输运装置,其特征在于:
包括以隔着所述第一线圈的绕组的方式配置的所述第二线圈的绕组和第三线圈的绕组,对所述第一线圈的绕组供给产生与所述永磁体的极性相斥的磁通的电流,对所述第二线圈的绕组和所述第三线圈的绕组供给产生与所述永磁体的极性相吸的磁通的电流。
12.如权利要求1~11中任意一项所述的样品输运装置,其特征在于:
包括检测所述永磁体的位置的单元。
13.一种样品分析系统,其特征在于:
包括权利要求1~11中任意一项所述的样品输运装置。
14.一种样品前处理装置,其特征在于:
包括权利要求1~11中任意一项所述的样品输运装置。
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