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CN109313099B - 测试装置和校准方法 - Google Patents

测试装置和校准方法 Download PDF

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CN109313099B CN201880000879.6A CN201880000879A CN109313099B CN 109313099 B CN109313099 B CN 109313099B CN 201880000879 A CN201880000879 A CN 201880000879A CN 109313099 B CN109313099 B CN 109313099B
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/007Leak detector calibration, standard leaks

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

公开的是一种测试装置及其校准方法。用于校准测试电子器件的防水等级的测试设备的测试装置包括:堆叠在一起的至少两个板,孔形成于板的对应位置中;和至少一层防水网布,其夹置在两个相邻板之间且覆盖所述孔。

Description

测试装置和校准方法
技术领域
本发明涉及测试电子器件的防水等级的技术领域,且更特别地涉及用于校准测试设备的测试装置和用于校准待校准测试设备的方法。
背景技术
防水变成电子器件的重要特征,电子器件诸如是智能手表、智能手机等等。概括而言,电子器件在测试设备中测试以确定电子器件的防水等级。防水等级可以通过由测试设备获取的漏水值指示。
在防水测试或泄漏测试中,可以使用来自不同供应商的测试设备。例如,可以在测试电子器件的防水等级中使用来自公司A和公司B的两种测试设备。如果来自公司A的测试设备被认为是标准测试设备,而来自公司B的设备可能具有不同性能并因此具有不同测试准则。在这种情况下,难于确定来自公司B的设备的结果是否准确且来自两种设备的测试结果是否一致。
现有技术中,由于不同待测试装置的性能可能变化,相同待测试装置被用于在两个设备中测试。获取来自两个设备的结果以确定两个设备之间的差异且校准两个设备。然而,相同待测试装置在校准期间会重复经历高水压,这将导致装置的泄漏性能变化。因此,对两种设备的校准将不准确。
因此,在本领域中需要的是提出一种用于校准测试设备的新的解决方案,以解决现有技术中的问题中的至少一个。
发明内容
本发明的一个目的在于提供用于校准测试设备的新的技术方案。
根据本发明的第一方面,提供用于校准测试设备的测试装置,测试设备用于测试电子器件的防水等级,测试装置包括:堆叠在一起的至少两个板,孔形成于板的对应位置中;以及至少一层防水网布,其夹置在两个相邻板之间且覆盖所述孔。
优选地,板是金属板。
优选地,通过利用硅树脂将防水网布密封在两个相邻板之间。
优选地,通过改变防水网布的厚度和材料中的至少之一来调节测试装置的防水等级。
优选地,通过改变孔的尺寸来调节测试装置的防水等级。
优选地,通过改变防水网布层数和板的数量来调节测试装置的防水等级。
优选地,防水等级是漏水值。
根据本发明的第二方面,提供用于校准待校准测试设备的方法,测试设备用于测试电子器件的防水等级,包括:通过利用标准测试设备测试根据本公开的测试装置,以获取标准防水等级值;通过利用待校准测试设备测试相同测试装置以获取校准防水等级值;且通过利用标准防水等级值和校准防水等级值之间的差异来校准待校准测试设备。
优选地,所述方法还包括:通过利用根据本公开的测试装置执行测试和校准过程,其中所述测试装置具有至少一个变化特性,所述至少一个变化特性从包括下述特性的组中选出:防水网布的厚度和材料、孔的尺寸和防水网布层数及板的数量。
根据本公开的实施方式,测试装置设置为使得测试设备的校准将更准确。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述,本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例,并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1是示出根据本公开的第一实施方式的测试装置的示意图。
图2是示出根据本公开的第二实施方式的测试装置的示意图。
图3是示出根据本公开的第三实施方式的测试装置的示意图。
图4是示出根据本公开的第四实施方式的测试装置的示意图。
图5是示出根据本公开的第五实施方式的测试装置的示意图。
图6是根据本公开的实施方式的用于校准待校准测试设备的方法的示意性流程图。
图7示出在测试设备中测试一测试装置的示例。
图8示出沿图7的线A-A’的剖视图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
为了测试电子器件的防水能力,电子器件可以放置在高水压的环境中。电子器件可以是智能手机、智能手表或诸如麦克风单元的换能器。例如,可以模仿智能手表放置在水下50米处的环境。概括而言,测试设备用于通过感测电子器件的泄漏而测试电子器件。
在利用或开发新的测试设备的情况下,新的测试设备刻度可能偏离于标准刻度。所以,我们提出的是,开发中的或由不同供应商供应的测试设备被标准设备校准。
在校准时,在标准设备中测试标准测试装置且获取标准泄漏值。然后,在待校准测试设备中测试标准测试装置且获取校准泄漏值。理想地,校准泄漏值应该与标准泄漏值相同。但是在实践中,两者有差异。所述差异用于调节待校准测试设备,以接近标准设备的刻度或值。
测试装置是用于校准测试设备的关键问题。在待测试产品用作测试装置的情况下,存在数个不利之处。首先,成本可能成为问题。第二,待测试产品的性能可能变化。例如,在高水压中测试之后,产品的防水网布可能改变(扩大),这导致多变的结果。第三,通常难于调节产品的漏水并因此难于通过利用相同产品以数个等级校准待校准测试设备。
在此,我们提出的是测试设备应该在使用之前校准。本文中提出用于校准的测试装置,测试装置可以形成可控且持久的非常小的泄漏,且符合成本效益且制造简单。
图1示出根据本公开的第一实施方式的测试装置的示意图。
如图1所示,测试装置包括至少两个板11、12和至少一层防水网布13。在图1中示出两个板和一层防水网布。板11、12被堆叠在一起。孔14、15形成于板11、12的对应位置中。
防水网布13夹置在两个相邻板11、12之间且覆盖孔。防水网布可以是市售的,防水网布是防水的且用于保护装置免于被水或湿气影响。
测试装置可以用于校准测试设备。如上文说明的,测试设备用于测试电子器件的防水等级。防水等级可以指示装置的漏水值的范围的值、或可以是漏水值自身。
板11、12可以是金属板,诸如铝板。替换性地,板可以是树脂片材。
图2是示出根据本公开的第二实施方式的测试装置的示意图。在图2中,板11、12、防水网布层13和孔14、15如上文描述,且省略对其的重复描述。
在图2中,通过利用硅树脂26将防水网布13密封在两个相邻板11、12之间。在这方面,可以确保漏水从入口14流到出口15,而非从网布和板之间的界面流入。
图3-5示出测试装置的变化的漏水的数个实施方式。省略对已经说明的元件的重复描述。
可以通过改变防水网布的厚度和材料中的至少之一来调节测试装置的防水等级。图3示出增加防水网布33厚度的实施方式。
可以通过改变孔44、45的尺寸来调节测试装置的防水等级。如图4所示,孔的尺寸扩大。
通过改变防水网布层数和板的数量来调节测试装置的防水等级。如图5所示,附加防水网布层53和板52在板12下方堆叠。防水网布层53通过硅树脂56密封在板12和板52之间。
在本公开中,测试装置简单且容易制造。在测试期间,测试装置可以提供稳定的性能。可以方便地调节测试装置的漏水。
图6是根据本公开的实施方式的用于校准待校准测试设备的方法的示意性流程图。待校准测试设备用于测试电子器件的防水等级。
如图6所示,在步骤S1100处,通过利用标准测试设备测试如上文所述的测试装置,以获取标准防水等级值。
图7示出在测试设备中测试所述测试装置的示例。图8示出沿图7的线A-A’的剖视图。标准测试设备的布置方式可以在图7、8中示出。
如图7所示,测试装置可以放置在标准测试设备的基部66的测试位置61、62、63、64中。可以在测试中使用多个测试装置。基部66可以包括可以用于控制测试水压的水出口65。
如图8所示,测试装置放置在测试位置61、63中,其中入口朝下且出口朝上。加压水来自沿箭头指示的方向。传感器(未示出)设置在测试装置上方,以感测在测试装置(或基部66)上方的漏水或湿气,从而获取标准防水等级值。
在步骤S1200处,通过利用待校准测试设备测试相同测试装置,以获取校准防水等级值。
待校准测试设备的布置方式也可以在图7和8中示出。
在步骤S1300处,通过利用标准防水等级值和校准防水等级值之间的差异来校准待校准测试设备。例如,待校准测试设备的刻度可以通过加上差异而被调节。
在一些情况下,可以通过利用如上文所述的测试装置执行测试和校准过程,其中,测试装置具有至少一个变化特性,所述至少一个变化特性从包括下述特征的组中选出:防水网布的厚度和材料、孔的尺寸和防水网布层数以及板的数量。在这种情况下,校准可以更准确。
虽然已经通过示例详细阐述本发明的一些特定实施例,但是本领域技术人员将理解到上述示例仅旨在是示意性的而非限制本发明的范围。

Claims (6)

1.一种用于校准测试设备的测试装置,测试设备用于测试电子器件的防水等级,测试装置包括:
堆叠在一起的至少两个板,孔形成于板的对应位置中;和
至少一层防水网布,其夹置在两个相邻板之间且覆盖所述孔,通过改变所述孔的尺寸来调节测试装置的防水等级;
通过改变防水网布的厚度和材料中的至少之一来调节测试装置的防水等级;
通过利用硅树脂将防水网布密封在两个相邻板之间。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其中,板是金属板。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其中,通过改变所述防水网布的层数和所述板的数量来调节测试装置的防水等级。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其中,防水等级是漏水值。
5.一种用于校准待校准测试设备的方法,该测试设备用于测试电子器件的防水等级,所述方法包括:
通过利用标准测试设备测试根据权利要求1所述的测试装置,以获取标准防水等级值;
通过利用待校准测试设备测试相同测试装置以获取校准防水等级值;且
通过利用标准防水等级值和校准防水等级值之间的差异来校准待校准测试设备。
6.根据权利要求5所述的方法,还包括:
通过利用根据权利要求1所述的测试装置执行测试和校准过程,其中测试装置具有至少一个变化特性,所述至少一个变化特性从包括下述特性的组中选出:防水网布的厚度和材料、孔的尺寸和防水网布层数以及板的数量。
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