CN106066143A - 弧面缺陷测量卡 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及对弧面缺陷的尺寸进行检测的检测工具,特别涉及对灭弧室喷口的缺陷尺寸进行检测的弧面缺陷测量卡。弧面缺陷测量卡包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体,所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。使用时,根据所测量缺陷的类型,将卡片本体的长度刻度、宽度条系列、圆圈系列或圆孔系列与缺陷对照,并对卡片本体用力使卡片本体弯曲变形以与待测弧面贴合,即可方便地实现对缺陷尺寸的测量,由于卡片本体为片状结构,因此很容易伸入内孔中,并且不需要移动卡爪,有利于检测效率高。
Description
技术领域
本发明涉及对弧面缺陷的尺寸进行检测的检测工具,特别涉及对灭弧室喷口的缺陷尺寸进行检测的弧面缺陷测量卡。
背景技术
喷口是断路器上灭弧装置的主要组成部分,一般为外径具有粗细变化的筒体结构,并且中心设有轴向通孔。断路器动作时电弧在喷口处燃烧,喷口喷出的气流能够对弧柱起到散热作用来熄灭电弧。因此,喷口为灭弧室装置的核心零部件之一,其质量的好坏直接关系到灭弧室装置的性能优劣,特别是外观质量的好坏,例如喷口成型中混入异物或出现工艺问题时,会在内外表面产生具有一定长度、宽度或径向尺寸的缺陷,从而对电弧及气流产生影响。
在对喷口的外观进行检查的过程中,如果发现内外表面存在缺陷,则需要通过测量缺陷的外形尺寸,进而判断缺陷的等级。现有技术中对缺陷的测量是采用游标卡尺进行,但是,由于喷口形状为不规则状,需要进行测量的位置大部分为弧面,例如喷口的外表面、内表面或圆角过渡面,而游标卡尺的读数为卡爪之间的直线距离,因此如果缺陷的长度、宽度或径向尺寸偏离喷口的轴向,游标卡尺测量出的尺寸就并非缺陷的实际尺寸,测量值往往小于实际值,准确性低,容易造成检测合格品实际上为废品或者在使用时出现异物放电。另外,由于喷口尺寸的限制,游标卡尺很难进入喷口内的轴向通孔中进行测量,即使能够进入,由于视线的问题也很难将卡爪对准缺陷及读取游标卡尺显示的数值,操作十分不便,检测效率低。
发明内容
本发明的目的是提供一种弧面缺陷测量卡,以解决现有的检测工具测量不便、检测效率低的问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:弧面缺陷测量卡,包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体,所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。
进一步地:
所述卡片本体由透明材质制成。
所述卡片本体由透明亚克力板制成。
所述长度刻度设置在卡片本体的边缘处。
所述宽度条系列分为两列以上排列,各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直。
所述宽度条系列设有两列,两列宽度条系列分别设置在卡片本体的两个相邻侧边的边缘处。
所述圆圈系列设有两列,分别为空心圆圈系列和实心圆圈系列。
所述空心圆圈系列和实心圆圈系列并列设置,两列之间设有圆圈直径值标识。
所述卡片本体为长方形,并且四角为倒圆角。
所述卡片本体的厚度为0.1mm~0.2mm。
本发明采用上述技术方案,弧面缺陷测量卡包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体,所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。使用时,根据所测量缺陷的类型,将卡片本体的长度刻度、宽度条系列、圆圈系列或圆孔系列与缺陷对照,并对卡片本体用力使卡片本体完弯曲变形以与待测弧面贴合,即可方便地实现对缺陷尺寸的测量,由于卡片本体为片状结构,因此很容易伸入内孔中,并且不需要移动卡爪,有利于提高检测效率。
进一步地,所述卡片本体由透明材质制成,能够很容易地将弧面缺陷测量卡与缺陷对准,使操作更便捷。
进一步地,将长度刻度或宽度条系列设置在卡片本体边缘处,能够方便地将缺陷与长度刻度或宽度条系列进行比对,避免被测对象的其他部位对卡片本体产生干涉。
进一步地,宽度条系列分为两列以上排列,各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直,能够减小卡片本体的尺寸,减小卡片本体发生弯曲变形所需的作用力,使卡片本体能够更好地与弧面贴合,提高测量精度。
进一步地,圆圈系列设有两列,分别为实心圆圈系列和空心圆圈系列,实心圆圈系列用于深色基体上浅色缺陷外圆尺寸的测量,空心圆圈系列用于浅色基体上深色缺陷外圆尺寸的测量。
附图说明
图1是本发明中弧面缺陷测量卡的一个实施例的结构示意图。
图2是被测喷口的剖视图;
图3是测量缺陷长度时的示意图(图中未示出喷口表面);
图4是测量缺陷宽度时的示意图(图中未示出喷口表面);
图5是测量缺陷径向尺寸时的示意图(图中未示出喷口表面)。
图中各附图标记对应的名称为:1-卡片本体,2-长度刻度,3-第一宽度条系列,4-第二宽度条系列,5-实心圆圈系列,6-空心圆圈系列,7-圆圈直径值标识,8-喷口表面,9-缺陷。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施方式作进一步说明。
本发明弧面缺陷测量卡的一个实施例如图1~图5所示,是一种检测喷口外观缺陷大小的尺寸测量量具,包括卡片本体1和设置在卡片本体1上的测量标识。卡片本体1为长方形,四角设有倒圆角,采用柔软的透明亚克力板制成,厚度为0.1mm~0.2mm,便于折弯变形,长度为90mm~100mm,宽度为50mm~60mm,携带方便。
以图1所显示的方位进行观察,长方形卡片本体1的右部内侧设有用于测量缺陷9的长度的长度刻度2,长度刻度2与常用直尺上的刻度类型相同,具有0-80mm的量程。
长方形卡片本体1的左部内侧和上部内侧设有用于比对缺陷宽度的宽度条系列,分别为设置在长方形卡片本体1的左部内侧的第一宽度条系列3和设置在长方形卡片本体1的上部内侧的第二宽度条系列4。各宽度条系列均包括多条宽度线条,多条宽度线条分别具有一系列的宽度,能够作为缺陷宽度值的比对基础。为便于测量,各宽度线条的内侧设有宽度值标识。
长度刻度2、第一宽度条系列3、第二宽度条系列4所围成的区域内设有两列用于比对缺陷9的径向尺寸的圆圈系列,分别为空心圆圈系列6和实心圆圈系列5,空心圆圈系列6即具有一系列直径的空心圆圈,实心圆圈系列5即具有一系列直径的实心圆点,空心圆圈系列6和实心圆圈系列5并列设置,两列之间设有表示圆圈的直径值的圆圈直径值标识7。
当喷口内部或者圆角过渡面有缺陷,游标卡尺无法进入测量时,可以用此弧面缺陷测量卡对比测量。如果此时缺陷的大小在规定的公差范围内,则说明此件喷口合格,反之,因为缺陷较大为不合格。当然,当喷口外弧面上具有缺陷时,也可以用此弧面缺陷测量卡对比测量,并且本弧面缺陷测量卡在不受外力作用的情况下为平面结构,也可以用于测量平面缺陷。
使用时,如图3—图5所示,根据要检测的缺陷的类型,相应地将弧面缺陷测量卡上设有长度刻度2、宽度条系列或圆圈系列的位置按压到喷口表面8的相应的缺陷上,使弧面缺陷测量卡发生变形与待测弧面贴合,即可进行缺陷长度的测量或缺陷宽度或径向尺寸的比对。如图3所示,缺陷长度可以直接通过长度刻度2读出。如图4所示,将将测量卡上的宽度条系列与喷口上的黑线缺陷的宽度进行比对,如果某宽度条的宽度刚好与黑线的宽度吻合或最接近,即可判定该缺陷的宽度为该宽度条的宽度值。如图5所示,将测量卡上的空心圆圈系列6与喷口上的黑点缺陷进行比对,如果某空心圆圈系列6刚好能够包括住黑点,即可判定该缺陷的径向尺寸大小为该空心圆圈的直径。
该弧面缺陷测量卡在检测时准确、快捷、方便,极大地提高了缺陷判定效率。同时,检测时不受喷口尺寸的限制,不受作业环境和零部件放置状态的限制,可以适应工程实际的多种状况。
在上述实施例中,卡片本体1采用透明亚力克板制成,在本发明的其他实施例中,卡片本体1也可以采用其他材料制作,例如聚碳酸酯,而卡片本体1也可以是不透明材质,但是优选透明材质,以使测量更加方便。在上述实施例中,卡片本体1上设置有长度刻度2、宽度条系列和圆圈系列,在其他实施例中,卡片本体1上也可以仅设置长度刻度2、宽度条系列和圆圈系列的一种或两种,并且圆圈系列也可以替换为圆孔系列,而长度刻度2、宽度条系列的设置位置也以进行调整。另外,在其他实施例中,卡片本体1也可以替换为其他形状,例如三角形、半圆形等,而长方形卡片本体1是非必须结构,在其他实施例中也可以省去。
Claims (10)
1.弧面缺陷测量卡,其特征在于:包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体,所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。
2.根据权利要求1所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体由透明材质制成。
3.根据权利要求2所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体由透明亚克力板制成。
4.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述长度刻度设置在卡片本体的边缘处。
5.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述宽度条系列分为两列以上排列,各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直。
6.根据权利要求5所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述宽度条系列设有两列,两列宽度条系列分别设置在卡片本体的两个相邻侧边的边缘处。
7.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述圆圈系列设有两列,分别为空心圆圈系列和实心圆圈系列。
8.根据权利要求7所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述空心圆圈系列和实心圆圈系列并列设置,两列之间设有圆圈直径值标识。
9.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体为长方形,并且四角为倒圆角。
10.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡,其特征在于:所述卡片本体的厚度为0.1mm~0.2mm。
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